JP2014232113A - レーザトラッカによる寸法データの自動計測方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】より簡易に計測できる方法を提供する。【解決手段】再帰反射ターゲット及びレーザトラッカを備えるシステムでの計測に際し、3個あるターゲット及び1個又は複数個ある補助点の定格座標をリスト化保存し、光源出射光のうち3個あるターゲットで反射された部分をトラッカに備わるカメラの感光アレイで受光し、3個あるターゲットでの反射光がその感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測し、感光アレイ上での三通りのスポット位置と三通りあるターゲットの定格座標との対応関係を特定し、スポット位置及びターゲット定格座標に少なくとも部分的に基づきトラッカ出射光ビームを3個あるターゲットに差し向け、3個あるターゲットの三次元座標をトラッカで計測し、3個あるターゲットについての三次元座標計測結果並びに1個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の三次元座標を求める。【選択図】図5A
Description
本願は、2011年3月14日付米国暫定特許出願第61/452314号に基づく利益を享受する出願であるので、この参照を以てその出願の全内容を本願に繰り入れることにする。本願は、また、2011年12月30日付米国特許出願第13/340730号、その基礎となる2011年4月20日付米国特許出願第13/090889号、並びにその基礎となる2010年4月21日付米国暫定特許出願第61/326294号に基づく利益を享受する出願であるので、この参照を以てそれら出願の全内容を本願に繰り入れることにする。本願は、更に、2011年4月15日付米国暫定特許出願第61/475703号に基づく利益を享受する出願であるので、この参照を以てその出願の全内容を本願に繰り入れることにする。また、本願は、2012年1月30日付米国暫定特許出願第61/592049号に基づく利益を享受する出願であるので、この参照を以てその出願の全内容を本願に繰り入れることにする。そして、本願は、2012年2月29日付米国特許出願第13/407983号、並びにその基礎となる2011年3月3日付米国暫定特許出願第61/448823号に基づく利益を享受する出願であるので、この参照を以て両出願の全内容を本願に繰り入れることにする。
本発明はレーザトラッカ等の度量衡装置、特に対象物上に複数個配置された再帰反射ターゲットそれぞれを自トラッカに係る1個又は複数個のロケータカメラ、例えば自トラッカの一部となっている1個又は複数個のロケータカメラで自動識別するレーザトラッカに関する。
レーザトラッカは、計測対象点に接触している再帰反射ターゲットにレーザ光ビームを送りその点の座標を計測する装置の一種として知られている。トラッカによる計測対象点座標計測は、再帰反射ターゲットまでの距離及びそのターゲットに対する二通りの角度を計測することで行われる。その距離計測には絶対距離計(ADM)、干渉計等の距離計測装置が用いられる。角度計測には角度エンコーダ等の角度計測装置が用いられる。光ビームを計測対象点に差し向ける動作には、そのトラッカに備わるジンバル式光ビームステアリング機構が用いられる。
レーザトラッカは、1本又は複数本の光ビームを発しその光ビームで再帰反射ターゲットを追尾する範疇の座標計測装置に属している。座標計測装置としては、再帰反射器や散光面上の点を計測対象とするトータルステーション、タキメータ(視距儀)等、別の範疇に属する装置もある。トラッカの精度は一般に1mil(1000分の1インチ、約2.54×10−5m)オーダ、状況によっては1〜2μm以下の良好さであり、トータルステーションに比べかなり秀逸である。本願では、トータルステーションを包含する広い意味で「レーザトラッカ」の語を用いることにする。
レーザトラッカは、通常、計測対象物の表面に配置された再帰反射ターゲットにその光ビームを入射させる。再帰反射ターゲットの代表例は、再帰反射用キューブコーナを金属球に埋め込んだ構成の球実装再帰反射器(SMR)である。再帰反射用キューブコーナは互いに直交する3個の鏡面で構成される。その頂点、即ち3個の鏡面で共有される交差点は金属球のほぼ中心にある。球内キューブコーナ配置がこのような配置であるため、キューブコーナ頂点から計測対象物の表面に下ろした垂線の長さは、計測対象物上のどの面でもまたSMRが転がっていてもほぼ一定に保たれる。従って、SMRを面沿いに移動させつつその位置をトラッカで追尾することで、その面に沿い三次元座標を計測することができる。言い換えれば、トラッカを用い高々1動径自由度+2角度自由度=3自由度に亘る計測を行うだけで、面の三次元的位置を全面的に特定することができる。
レーザトラッカのなかには、3並進量自由度(例えばx、y及びz)+3回動角自由度(例えばピッチ、ロール及びヨー)=6自由度に亘る計測が可能なものもある。その一例は特許文献8(発明者:Bridges et al.,この参照を以て本願に繰り入れる)に記載の6自由度レーザトラッカシステムである。同文献では、プローブによって保持される再帰反射用キューブコーナにマーキングが施されている。6自由度再帰反射器と呼称されているのがそのキューブコーナである。このマーキング付キューブコーナにはトラッカ出射光ビームが入射し、そのマーキングの像がトラッカ側のカメラで捉えられる。カメラで捉えられた像からは3自由度分の回動角(例えばピッチ、ロール及びヨー角)が算出される。トラッカでは、キューブコーナ頂点までの距離及びその点に対する二通りの角度も計測される。それらの距離及び角度はキューブコーナ頂点に関する三通りの並進量を示唆しているので、それらをカメラ捕捉像から得られる三通りの回動角と併用し、キューブコーナ頂点に対し所定の位置関係にあるプローブ端の位置を求めることが可能である。求まったプローブ端位置は、トラッカに発する光ビームの光路外にある隠面特徴の座標計測等に用いうる。
レーザトラッカの典型的な利用形態は、大きな物体の実寸をトラッカで計測し、CAD(コンピュータ支援作図)データ等で与えられる設計寸法と比べる、というものである。計測対象物の用途が同一である場合、通常、それらの物体には幾何学的な同一性が期待される。初期的なものであれ事後的に生じたものであれ、幾何学的な歪みがあると、その物体が組み込まれているシステム全体の動作に影響が及びかねない。例えば、どのような形態であれその物体に湾曲や捻転があると、そのことが製造欠陥や製品品質低下の発生原因になりうる。
自明な通り、レーザトラッカとそうした計測対象物との関係を特定するには、原則として3個以上の計測対象点が必要である。本件技術分野で既知の通り、オペレータには、それらの点の初期位置を十分な精度でマニュアル計測可能な力量が求められる。
Maekynen, A.J.et al., Tracking Laser Radar for 3-D Shape Measurements of Large Industrial Objects Based on Time-of-Flight Laser Rangefinding and Position-Sensitive DetectionTechniques, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol.43,No.1, February 1, 1994, pp.40-48,XP000460026, ISSN:0018-9456, DOI 10.1109/19.286353, the whole document.
Leica Geosystems AG ED - "Leica Laser Tracker System", Internet Citation, Retrievedon 28 June 2012, XP002678836, [online] Internet URL http://www.a-solution.com.au/pages/downloads/LTD500_Brochure_EN.pdf
Leica Geosystems: "TPS1100 Professional Series",1999,Retrieved on July 2012, [online] InternetURL http://www.estig.ipbeja.pt/~legvm/top_civil/TPS1100%20-%20A%20New%20Generation%20of%20Total%20Stations.pdf, the whole document
このように、ターゲット例えばSMRの位置をレーザトラッカ又はそれに類する計測装置のオペレータがマニュアル計測する必要をなくすことが求められている。更には、オペレータの許でトラッカ内カメラシステムが作動し、想定用途下で必要な計測対象点全てについて自動計測が行われるようにすることで、計測プロセスでオペレータの過誤が生じる余地を大きく減らし特殊な能力や訓練を不要化することが望まれている。
より広義には、従来はマニュアル操作で実行させる必要があった諸動作をレーザトラッカに自動実行させる方法及びシステムが求められている。その計測を実行するオペレータが未熟であっても首尾一貫した計測結果をトラッカで迅速に取得できるようにすることが望まれている。その典型はツールの検査、例えば車体骨格組立ライン内キャリッジの検査・監視である。板金スタンピング治具、航空機骨格構成部分組立ツール等のツールも対象となりうる。総じて、自動車分野や航空機分野で製造される大概の部品で、それに対応するツールが対象となりうる。そのため、トラッカを使用した諸ツール計測プロセスの改良が望まれている。そして、その計測プロセスを仕上がり部品にも同様に適用可能とすることも望まれている。
ここに、本発明の計測方法は、第1、第2及び第3ターゲットをはじめ非共線的に配置された3個以上の再帰反射ターゲットを含む一群の再帰反射ターゲット、並びに自トラッカ周辺に対し固定的な第1座標系に準拠するレーザトラッカを備え、そのトラッカに、第1軸周り及び第2軸周りで可回動な構造体、第1光ビームを発する第1光源、第1光源と連携する絶対距離計(ADM)、第1軸周り回動角たる第1回動角を計測する第1角度トランスデューサ、第2軸周り回動角たる第2回動角を計測する第2角度トランスデューサ、再帰反射ターゲットのうちいずれかの中心に向かうよう第1光ビームの方向を操作する追尾システム、第1レンズ系及び第1感光アレイを有する第1カメラ、第2光ビームを発する第2光源、並びに自トラッカを動作させるプロセッサが備わるシステムを準備するステップと、第1、第2及び第3ターゲット並びに1個又は複数個ある補助点の第2座標系準拠三次元座標たる定格座標をリスト化保存するステップと、第2光源出射光のうち第1、第2又は第3ターゲットで反射された部分を第1感光アレイで捉えるステップと、第1、第2及び第3ターゲットそれぞれでの反射光が第1感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測するステップと、第1感光アレイ上での第1、第2及び第3スポット位置と第1、第2及び第3ターゲットの定格座標との対応関係を特定するステップと、第1スポット位置及び第1ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第1光ビームを第1ターゲットに差し向けるステップと、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用い第1ターゲットの三次元座標を計測するステップと、第2スポット位置及び第2ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第1光ビームを第2ターゲットに差し向けるステップと、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用い第2ターゲットの三次元座標を計測するステップと、第3スポット位置及び第3ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第1光ビームを第3ターゲットに差し向けるステップと、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用い第3ターゲットの三次元座標を計測するステップと、第1、第2及び第3ターゲットについての三次元座標計測結果並びに1個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の第1座標系準拠三次元座標を求める補助点座標導出ステップと、補助点についての第1座標系準拠三次元座標導出結果を保存するステップと、を有する。
以下、別紙図面を参照しつつ諸実施形態について説明するが、これは例示であり本発明の技術的範囲を規定するものではないので了解されたい(諸部材には諸図を通じて同様の符号を付してある)。
図1に一実施形態に係るレーザトラッカ10を示す。このトラッカ10では、ジンバル式光ビームステアリング機構12を構成するゼニスキャリッジ14が、アジマス軸20周りで回動させうるようアジマスベース16に搭載されている。そのゼニスキャリッジ14には、ゼニス軸18周りで回動させうるようペイロード15が搭載されている。図示しないが、軸18,20に係る機構はトラッカ10内で相直交し、距離計測原点として利用可能な交点即ちジンバル点22が生じている。レーザ光ビーム46の出射方向はそのジンバル点22を通りゼニス軸18に直交する仮想的な線に沿っている。言い換えれば、ビーム46はゼニス軸18に直交する平面内を伝搬する。ビーム46は、トラッカ10に備わる図示しないモータ群を用い軸18,20周りでペイロード15を回動させることで、所要方向に差し向けることができる。図示しないが、トラッカ10に備わるゼニス角エンコーダがゼニス機械軸、アジマス角エンコーダがアジマス機械軸に装着されているので、それらの角度エンコーダで回動角を高精度計測することができる。ビーム46は外部にある再帰反射ターゲット26、例えば上掲のSMRへと伝搬していく。従って、ジンバル点22・ターゲット26間動径距離並びに軸18,20周り回動角の計測を通じ、トラッカ界座標系におけるターゲット26の球座標を計測することができる。
レーザトラッカ10の準拠座標系は装置座標系30である。この座標系30の原点はジンバル点22である。装置座標系30はアジマスベース16、ひいてはその周囲に対し概ね固定的である。装置座標系30は様々な表現形態を採りうる。その一種は、直交三軸x、y及びzを有するデカルト座標である。別種としては球座標がある。球座標の場合、装置座標系30における点74の座標が動径距離73(r)、第1角(ゼニス角)72(θ)及び第2角(アジマス角)71(φ)で表現される。第1角θはz軸に対する点74の投射角である。第2角φはxy平面に対する点74の投射角である。従って、トラッカ10による座標計測は球座標系準拠で実行するのが自然であるが、球座標で計測された点座標をデカルト座標系による座標に換算するのは容易なことである。
再帰反射ターゲット26は計測対象物61に接触させる。計測対象物61の準拠座標系は計測対象物座標系40である。この座標系40では表現にデカルト座標x、y及びz等が用いられる。計測対象物61と共に運動するので、計測対象物座標系40のx、y及びz軸が装置座標系30のそれに対し平行に保たれるわけではない。ターゲット26を配置する際には計測対象物61の表面に点接触させる。レーザトラッカでは、接触点63の三次元座標を計測すべく、まずその点63までの距離及びその点63に対する二通りの角度が計測される。ターゲット26に備わる球状接触面(ターゲット表面)の中心(ターゲット中心)からそのターゲット26に備わる基準点例えばキューブコーナ頂点に至るずれベクトルも反映させる。ターゲット中心と計測対象物61の表面との間にはずれがあり、そのずればターゲット表面の曲率半径に等しい量となっている。そのずれの方向は、例えば、計測対象点63近傍にある数個の点について計測を行い、その点63における面法線を特定することで計測される。
レーザ光ビーム46には一通り又は複数通りの波長成分が含まれている。以下の説明では、そのステアリング機構として図1に示すものを想定するが、これは明瞭化及び単純化のためである。従って、他種ステアリング機構を用いることもできる。例えば、アジマス軸及びゼニス軸周りで可回動なミラーを用いビーム46を反射させるようにしてもよい。或いは、ガルバノメータモータ等のアクチュエータで駆動される2個のステアリングミラーを用い、光ビーム方向を操作するようにしてもよい。後者の場合、アジマス軸やゼニス軸を駆動する機構無しに光ビーム方向を操作することができる。本願記載の技術は、ステアリング機構のタイプ如何によらず適用することができる。
この例のレーザトラッカ10ではペイロード15にカメラ52及び光源54が設けられている。光源54は、1個又は複数個ある再帰反射ターゲット26例えばSMRを照明する。この例における光源54は、電気的駆動で反復的にパルス発光させうるLEDである。個々のカメラ52は感光アレイにレンズを前置した構成である。感光アレイとしてはCMOS、CCDアレイ等を用いる。レンズとしては、その視野が30又は40°と広い広視野レンズ等を用いる。このレンズの役目は、その視野内にある物体の像を感光アレイ上に発現させることである。原則としては、光源54から発せられた光が個別の再帰反射ターゲット26で反射された後にそのカメラ52に到達しうるよう、カメラ52付近に1個又は複数個の光源54を配置しておく。これは、照明されているターゲット26がカメラ52側から見えるようカメラ52の付近に光源54を配設しないと、反射光の入射角が過大になりカメラ52で反射光を捉えられなくなるからである。こうした構成の許では、ターゲット26の像が背景物体の像よりも明るいスポット状の像となり、またそれを明滅させることができるので、ターゲット26の像を感光アレイの背景から容易に弁別することができる。また、この例では、レーザ光ビーム46の光路を挟みカメラ52及び光源54が2個ずつ設けられている。そうした形態で2個設けられているので、カメラ52の視野内にあるどのターゲット26についてもその三次元座標を三角測量法で計測することができる。更には、点から点へと移動していくターゲット26の三次元座標を監視することもできる。そうした目的でのカメラ対の利用については特許文献9(発明者:Bridges et al.,この参照を以てその内容を本願に繰り入れる)の記載を参照されたい。
レーザトラッカ10には補助ユニット50が備わっている。このユニット50の役目はトラッカ本体への電力供給であるが、情報処理機能及びシステム内クロック供給機能を持たせることもできる。その機能をトラッカ本体に移し、補助ユニット50を廃止することもできる。補助ユニット50は汎用コンピュータ60に付随する形態で設けるのが望ましい。然るべきアプリケーションソフトウェアをロードすることで、そのコンピュータ60に、リバースエンジニアリング等といったアプリケーション機能を持たせることができる。その情報処理能力をトラッカ本体に移し、コンピュータ60を廃止することもできる。その場合は、ユーザインタフェース(UI)、例えばキーボードやマウスの機能もトラッカ本体に組み込むのが望ましい。補助ユニット50・コンピュータ60間接続は無線接続でも導電ワイヤのケーブルを介した接続でもかまわない。コンピュータ60や補助ユニット50をネットワークにつなぐことも可能である。コンピュータ60や補助ユニット50を介し、複数個の機器例えば計測装置乃至アクチュエータを相互接続することも可能である。補助ユニット50を省略し、トラッカ本体とコンピュータ60を直結するようにしてもよい。
本発明の他の実施形態としては、レーザトラッカ10に広視野カメラ52及び狭視野カメラを併載してそれらを利用する形態がある。次に示すように、そうしたカメラ併用形態には様々なものがある。
第1の形態は、図1に示したカメラ52のうち1個を狭視野カメラ、他の1個を広視野カメラとする形態である。この形態では、カメラ52のうち広視野な方で広角に亘り再帰反射ターゲット26が識別される。次いで、カメラ52のうち狭視野な方の視野内にそのターゲット26が収まるまで、レーザトラッカ10で、レーザ光ビーム46の方向を注目ターゲット26寄りに変化させる。更に、自トラッカ10に2個備わるカメラ52で捉えられた像に基づきターゲットの位置を計測する手順(後述)がトラッカ10内で実行される。これにより、ターゲット26の位置に関する最尤推定値が得られる。
図2に示す第2の形態は、両カメラ52を共に広視野カメラとする形態である。加えて、互いに近接した位置に光源56及び狭視野カメラ58が設けられている。再帰反射ターゲット26の三次元位置はそれら2個の広視野カメラ52で求まり、レーザ光ビーム46の方向はそのターゲット26寄りに変更される。そのターゲット26の像が狭視野カメラ58でも捉えられるに至ったら、都合3個あるカメラ52,58からの情報に基づきそのターゲット26の三次元座標が算出される。
第3の形態は、図1に示した2個のカメラ52を共に広視野カメラとし、それを用いて導出したターゲット位置寄りにビーム方向を変更する形態である。照明されている再帰反射ターゲット26を取り巻く小領域の撮影には方向決めカメラ、例えば上掲の特許文献8にて図2及び図7に記載されているカメラ210に類するそれが使用される。レーザトラッカ10では、そのカメラ210内の感光アレイ上でターゲット26の像が占める位置を監視し、レーザ光ビーム46の出射方向をターゲット26の中心寄りへと即応的に変化させる。
次に、図1及び図2中でレーザトラッカ10の前面に位置している2個のカメラ52で捉えた像に基づき再帰反射ターゲットの位置を計測する手順について説明する。
まず、レーザトラッカ10に関連する座標系には、ペイロード15と共に回動するペイロード座標系、ゼニスキャリッジ14と共に回動するアジマス座標系、アジマスベース16に固定されたトラッカ界座標系、並びに二種類のカメラ座標系を併せ五種類がある。アジマスベース16はその周囲に対し固定的である。図示しないが、カメラ52はレンズ系及び感光アレイを備えている。レンズ系及び感光アレイを備えるカメラの例については図4A及び図4Bに図示がある。
ペイロード座標系としては、アジマス軸沿いにあるジンバル点22を原点とし、且つゼニス軸に対し平行なy軸、y軸に対し垂直でレーザ光ビームに対しほぼ平行なx軸、並びにx軸及びy軸に対し垂直なz軸を有するものを想定する。カメラ52はこのペイロード座標系に対し固定されている。
アジマス座標系としては、ジンバル点22を原点とし、アジマス軸沿いに延びるz軸、ゼニス軸に対し平行でz軸に対し垂直なy軸、並びにy軸及びz軸に対し垂直なx軸を有するものを想定する。
トラッカ界座標系としては、ジンバル点22を原点とし、アジマス軸沿いに延びるz軸、z軸に対し垂直で(アジマス軸の角度が0°のときに)ゼニス軸に対し平行になるy軸、並びにy軸及びz軸に対し垂直なx軸を有するものを想定する。
カメラ座標系としては、カメラ52内レンズ系の光軸をx軸とするものを想定する。そのy軸及びz軸がx軸に対しても互いに対しても垂直で、カメラ52内感光アレイの画素で形成されるローに対しy軸、カラムに対しz軸が整列しているものとする。
レーザトラッカ10におけるゼニス軸周り回動角即ちゼニス角はゼニス角エンコーダ、アジマス軸周り回動角即ちアジマス角はアジマス角エンコーダで計測される。ゼニス角及びアジマス角がわかれば、ペイロード座標系におけるカメラ光軸の等式に則り、前述した五種類の座標系(ペイロード座標系、アジマス座標系、トラッカ界座標系及び二種類のカメラ座標系)間で座標変換を実行することができる。これは一般に4×4サイズの変換行列、即ち回動操作を示す3×3行列成分及び並進操作を示すスケーリング成分を含む行列によって実行される。変換行列の使用は、本件技術分野で習熟を積まれた方々(いわゆる当業者)にとり周知のことである。
カメラ52及び光源54は、1個又は複数個の再帰反射ターゲット26がペイロード座標系等の座標系で占める位置の計測に用いられる。ターゲット26の位置がわかれば、必要に応じそのターゲット26をレーザトラッカ10に自動追尾させることができる。
次に、再帰反射ターゲット26がペイロード座標系にて占める位置を計測する手順について説明する。この手順の第1ステップでは、光源54でターゲット26を照らしカメラ52でその像を捕捉する。その照明を一時中断して照明時・非照明時間画像差分を判別するようにしてもよい。それにより、背景物体の像を除去してターゲット26の像をより明瞭に浮かび上がらせることができる。第2ステップでは、カメラ52内感光アレイで捉えられたスポットの中心点をプロセッサ例えば補助ユニット50にてターゲット26毎に算出する。中心点とされるのは例えば重心である。第3ステップでは、カメラ座標系における中心点の方向をスポット毎に算出する。この方向算出は、スポットの中心点とカメラ52の視野中心とを直線で結ぶ手法で簡便に実行可能である。レンズ系の収差を踏まえつつ方向を判別する高度な解析手法でも実行可能である。第4ステップでは、各スポットの中心点の方向及び視野中心の座標をペイロード座標系へと座標変換する。第5ステップでは、次に示す如く連立方程式を解いてペイロード座標系におけるターゲット26の位置に関し最尤推定値を求める。
まず、2個あるカメラ52それぞれの感光アレイ上には再帰反射ターゲット26毎に中心点が生じ、その中心点によって、個々のカメラ52からそのターゲット26に至る方向を示す直線が特定される。原理的には、同じターゲット26に係る2本の直線が一点で交差するはずであるが、実際には捻れがあるため厳密に一点で交差するわけではない。そこで、最接近線分の特定を通じ直線間最接近位置が最尤推定される。最接近線分とは、両直線に直交する線分のうち両直線間を最短距離で結ぶ線分のことである。ターゲット26の位置に関する最尤推定値とされるのは、通常はその最接近線分の中点である。
図3に三次元ベクトルを二次元的な表現で示す。レーザトラッカ及び再帰反射ターゲットを見下ろす形態で鳥瞰し、上面図を描くとこのような表現になろう。点Oはトラッカにおけるペイロード座標系の原点である。ベクトルPは原点Oを基準にした第1カメラの位置ベクトル、ベクトルRは第2カメラの位置ベクトルである。ベクトルUは第1カメラの視野中心を通る直線に沿ったベクトルであり、その方向は本手順の第3ステップで導出済である。ベクトルVは第2カメラの視野中心を通る直線に沿ったベクトルであり、その方向は本手順の第3ステップで導出済である。ベクトルCは、ベクトルU上の第1点からベクトルV上の第2点に至る線分に対応している。ベクトルCはベクトルU及びVに対し垂直である。
ベクトルCの先端点は、スカラー量u、c及びv並びにベクトル量P、U、C、R及びVを含む等式
P+uU+cC=R+vV (1)
から求めることができる。
P+uU+cC=R+vV (1)
から求めることができる。
更に、ベクトルCには、外積演算子「×」で表される条件
C=U×V (2)
が課される。ベクトル式(1)を成分毎に分解すると、x成分に関する第1の等式、y成分に関する第2の等式及びz成分に関する第3の等式が得られる。ベクトルCを成分毎に分解すると、周知の外積公式に従い、ベクトルU及びVのx、y及びz成分を使用した諸式が得られる。そのベクトルCのx、y及びz成分を第1、第2及び第3の等式に代入する。その結果得られるのは3個の等式、即ちベクトルU及びVのx、y及びz成分を使用した等式であり、ベクトル量がいずれも既知であるため三通りのスカラー量u、v及びcのみが未知となる。三通りの等式に対し三通りの未知数であるので、これらの式からスカラー量u、v及びcの値を求めることが可能である。
C=U×V (2)
が課される。ベクトル式(1)を成分毎に分解すると、x成分に関する第1の等式、y成分に関する第2の等式及びz成分に関する第3の等式が得られる。ベクトルCを成分毎に分解すると、周知の外積公式に従い、ベクトルU及びVのx、y及びz成分を使用した諸式が得られる。そのベクトルCのx、y及びz成分を第1、第2及び第3の等式に代入する。その結果得られるのは3個の等式、即ちベクトルU及びVのx、y及びz成分を使用した等式であり、ベクトル量がいずれも既知であるため三通りのスカラー量u、v及びcのみが未知となる。三通りの等式に対し三通りの未知数であるので、これらの式からスカラー量u、v及びcの値を求めることが可能である。
ベクトルUとベクトルVを最接近線分に沿って結ぶ直線の先端点三次元座標Q1,Q2は
Q1=P+uU (3)
Q2=R+vV (4)
で与えられる。
Q1=P+uU (3)
Q2=R+vV (4)
で与えられる。
直線間最接近位置の最尤推定値Qは
Q=(Q1+Q2)/2 (5)
に従い求まる。
Q=(Q1+Q2)/2 (5)
に従い求まる。
所望なら、直線間最接近位置の最尤推定値Qを他の数学的手法で求めることも可能である。例えば、最適化手順で値Q1,Q2を特定してもよい。
なお、上の説明では、レーザトラッカ10から出射されたレーザ光ビーム46がペイロード15のゼニス軸18周り回動でステアリングされることを想定している。しかしながら、他の仕組みによるステアリング機構を用いることも可能である。例えば、ペイロード15をステアリングミラーに置き換えてもよい。その場合、アジマスベース16から上方に向けてビーム46を伝搬させる。そのビーム46は入射先のステアリングミラーで反射されトラッカ筐体外へと出射される。ビーム46を所要方向に向ける動作は、ゼニス機械軸に付随するモータによりステアリングミラーを回動させることで実行する。ペイロード座標系ではなくミラー座標系となるものの、この構成でも上掲の手順を用いることができる。
レーザトラッカのペイロード以外にカメラ乃至カメラ群を実装しそれを用いることも可能である。例えば、カメラの実装先をゼニスキャリッジ14とすることもトラッカ外とすることも可能である。カメラ座標系・トラッカ界座標系間関係を特定する手順は、上掲のものと同様の要領で制定すればよい。その手順は、幾つかの点についてカメラやトラッカで計測を行い、その結果を利用して相応の変換行列を求める手順となろう。
更に、図2に示した構成では、狭視野カメラ58の個別画素でカバーされる角度域が往々にして狭くなるため、カメラ58の出力に大きな荷重を課すのが有益である。これを簡便に実行するには上掲の式(5)を修正すればよい。例えば、狭視野カメラ58の視野が広視野カメラ58のそれに対し1/4の広さなら、上掲の式(5)に代え
Q=0.2Q1+0.8Q2 (6)
を用いるのが妥当であろう。
Q=0.2Q1+0.8Q2 (6)
を用いるのが妥当であろう。
このほか、最小自乗法による最適化を通じ、再帰反射ターゲット26に関し最尤推定すると共に、広視野カメラ52の出力に課される荷重に比べ大きい荷重を狭視野カメラ58の出力に課す、という数学的手法も用いることができる。
図4A及び図4Bに、レーザトラッカ10用のロケータカメラ400として、再帰反射ターゲット複数個の概略位置を広視野に亘り且つ迅速に判別可能なものを示す。複数個ある光源401は互いに同一の構成であり、レンズ402を取り巻きリング状に配置されている。光源401をより少数にすることや1個にすることも可能である。個々の光源401に発する略非コヒーレント光440の光円錐は互いに重なり単一の光円錐を形成している。再帰反射ターゲットではその光円錐を形成している光のうち幾ばくかが反射され、その光束がこのカメラ400へと戻される。図4B中の457がその光束の一つである。レンズ402はその光束457を背後に向けて合焦させ、感光アレイ404の表面にスポットを発生させる。レンズ402の前方主面403からそのアレイ404までの間隔はレンズ402の焦点距離fに等しい。
導電線441は、レーザトラッカ10に備わる電源例えば補助ユニット50から光源401及び感光アレイ404への給電に使用される。導電線441は、感光アレイ404から汎用コンピュータ60への解析対象画素データ伝送等にも使用される。コンピュータ60では、アレイ404上に生じる光パターンの解析により、そのパターンの中心点がアレイ404上で占める位置が計測される。コンピュータ60では、再帰反射ターゲットから戻ってきた他の光束で形成されるパターンについても同様の解析が実行される。即ち、レンズ402の働きで反射光束がアレイ404上に合焦され、コンピュータ60による解析で各パターンの中心点が特定される。そして、特定された中心点の位置に基づき、各再帰反射ターゲットに対する概略角度即ちそのターゲットの概略方向が導出される。
次いで、その再帰反射ターゲット(複数個ある場合はそのうちいずれか)が注目ターゲットとして選定される。注目ターゲットの像をレーザトラッカで捕捉し位置を計測することが目的である場合は、これに続き次の手順が実行される。即ち、モータを作動させることでペイロードを回動させ、レーザ光ビームを注目ターゲットの概略方向に差し向ける手順である。ターゲット位置の推定結果が十分良好な場合には、これにより光ビームが注目ターゲット直上にロックオンしてそのターゲットの追尾が始まる。ターゲット位置の推定結果が十分良好でない場合は、一策として、光ビーム方向がシステマティックに変化する形態でのサーチが開始される。例えば、螺旋パターン沿いに光ビームをステアリングしてのサーチである。光ビームが注目ターゲットに入射すると、トラッカに備わる位置検出器(PSD)で反射光が検知される。PSDから得られる信号には十分な情報が含まれているので、それに基づきモータひいてはペイロードを駆動し、光ビームを注目ターゲットの中心直上に差し向けることができる。また、他の策としては、トラッカに備わる機構、例えばペイロードをオペレータが直に把持し、光ビームをマニュアル操作で注目ターゲットに差し向ける策もある。例えば、オペレータによる操作で光ビームの入射先を変化させ、注目ターゲットの中心に十分近づいたらトラッカ前部のLEDを点灯させる策である。光ビームの入射先が注目ターゲットの中心に十分近づいていれば、その光ビームが注目ターゲット上にロックオンする。ロックオンするほど近づいていなければ、そのターゲットの位置を特定すべく短時間サーチ手順が実行される。
レーザトラッカ10に備わるロケータカメラ52の個数が複数個の場合は、通常、カメラ52の感光アレイで捉えたターゲット中心の像それぞれを、前述したカメラ立体視計算のみで遺漏なく、個々の再帰反射ターゲット26と一対一に対応付けることができる。同様に、トラッカ10に備わるカメラ52の個数が1個の場合でも、ターゲット26による反射光がトラッカ10の光軸沿いにカメラ52に達しうる配置であれば、カメラ52間視差を消去する演算を通じ、カメラ52の感光アレイで捉えたターゲット中心の像それぞれを、個々の再帰反射ターゲット26と一対一に対応付けうるのが普通である。ターゲット中心の像とターゲット26の間の一対一対応関係を単一のカメラ52で特定可能な手法はこれだけではない。例えば、アジマス角を幾通りかに変化させつつカメラ52内感光アレイにおけるターゲット中心の位置変化を観察する、という手法でも特定可能である。この手法では、アジマス角を変化させたときに感光アレイ上のターゲット中心に生じる位置変化の量が、トラッカ10からターゲット26までの距離に依存することを利用する。即ち、アジマス角の変化量が同一の場合、ターゲット26までの距離が増すほど、感光アレイ上で2個のターゲット中心間に生じる距離変化が小さくなることを利用する。トラッカ10のアジマス角ではなくゼニス角の変化に関し同様の手法を実行してもよい。この手法の詳細については特許文献7(この参照を以て本願に繰り入れる)の図18を参照されたい。
レーザトラッカに備わる1個又は複数個のカメラが十分に高精度で、トラッカ出射光ビームを再帰反射ターゲットの中心至近に差し向けること及びそこからの反射光をトラッカ内PSDで捉えターゲット追尾を始めることが可能な場合もあろう。そうした場合には、トラッカから個々のターゲットへと光ビームを差し向け、トラッカに備わる距離計測装置や角度エンコーダから比較的高精度な情報を得て三次元座標値に変換する、という動作を、ソフトウェア的な制御を通じトラッカに自動実行させればよい。また、1個又は複数個備わるトラッカ側カメラが十分に高精度でなく、トラッカ出射光ビームを再帰反射ターゲットの中心至近に迅速に差し向けること及びそこからの反射光をトラッカ内PSDで迅速に捉え追尾することが不可能な場合もあろう。そうした場合には、いずれかのターゲットに狙いを定め、相応のサーチパターンに従いトラッカ出射光ビームでターゲットの位置を調べる、という前述の動作を実行すればよい。計測対象空間内にてターゲット毎にこの動作を繰り返すことで、計測対象点毎に比較的正確な三次元座標を得ることができる。計測対象点毎に比較的正確な三次元座標を得ることは、ソフトウェア的な制御を通じ計測対象点についての計測を自動的且つ効率的に実行させる上で、また中間的なターゲットサーチを不要化する上で重要なことである。
これまでの説明から推察頂けるように、本発明を好適に実施するには、再帰反射ターゲット所在点の三次元座標をリスト化し、レーザトラッカに1個又は複数個備わるカメラで捉えた計測対象点の像それぞれをそのリスト上の個々の座標と一対一に対応付けることが必要になる。次に示すように、再帰反射ターゲット所在点の三次元座標をリスト化する手法は幾通りかある。リスト化される三次元座標即ち定格座標は、実際の三次元座標に対し大きめな差を呈する場合もあれば、比較的正確な三次元座標になる場合もある。
第1の手法は、計測対象物上でのターゲット位置を示すCADデータを利用し、計測対象物上における再帰反射ターゲット所在点間位置関係に関しリストを作成する、という手法である。
第2の手法は、個々の再帰反射ターゲット所在点についてカメラによる三次元計測を行い、それらの点の三次元座標に関しリストを作成する、という手法である。この三次元計測や、その結果と再帰反射ターゲット所在点との対応付けは、目下の計測セッションに先立ち行っておく。
1個又は複数個のカメラで捉えた再帰反射ターゲットの像同士が位置的に近すぎ、カメラ捕捉像上でのスポット位置それぞれを個々のターゲット所在点と速やかに対応付けることができない場合もあろう。その場合、それらの点についての計測を、レーザトラッカを用い且つ前述した手法に従い行えばよい。例えば、トラッカからそのターゲットへとレーザ光ビームを差し向け、ターゲット位置をそのトラッカで直に計測すればよい。必要なら、サーチ手順を併用して計測してもよい。
本発明を実施する上で重要なことの一つは、トラッカ界座標系・計測対象物座標系間の関係を特定することである。別の言い方をすると、トラッカ界座標系から計測対象物座標系へ、またその逆への変換手法を準備することが重要となる。
例えば次の三手法がその関係特定に適している。第1に、3個以上の再帰反射ターゲットについてその所在点をレーザトラッカで検出する手法である。第2に、複数個の再帰反射ターゲットについてその所在点をトラッカで検出する一方、トラッカ及び計測対象物それぞれに配置された傾斜計で都合複数通りの傾斜角を計測する手法である。第3に、6自由度計測能力のあるトラッカを用い単体の6自由度カメラについて計測する手法である。これら三手法のうちいずれかで得た情報を適宜組み合わせれば、計測対象物座標系におけるトラッカの座標を特定することができる。翻って、トラッカ界座標系における計測対象物の座標を特定することもできる。
前段落に述べた手法でもたらされる情報に基づきトラッカ界座標系における計測対象物の座標を特定する際には、次に概記する手法を使用することができる。まず、3個の再帰反射ターゲットについてレーザトラッカから所在点検出結果が得られる場合は、それらの点のうち第1の被検出点を原点に設定した上で、第2の被検出点に基づきx軸、第3の被検出点に基づきy軸を設定することで、計測対象物ローカルな座標系を設定することができる。y軸は、原点を通り且つx軸に直交するよう設定する。z軸は、原点を通り且つx軸及びy軸に直交するよう、またその方向がいわゆる当業者にとり既知の右手則に準拠するよう設定する。他方、計測対象物にはCADデータで規定される計測対象物座標系が付随している。例えばその原点、x軸、y軸及びz軸がCADデータ中の情報によって規定されうる。従って、CADデータをトラッカ界座標系準拠のデータに変換する際や、その逆にトラッカの座標をCADデータ準拠座標系での座標に変換する際には、都合三種類の変換行列が導出されるのが普通である。変換行列としては、一般に、回転を表す3×3行列部分と座標系間並進を表すスケーリング成分とを含む4×4行列が使用される。ここで扱っている状況下では、そうした変換行列三種類を特定の順序で互いに乗ずることで、計測結果やCADデータ中の数値を所要座標系での値に変換可能な総変換行列を求めることができる。変換行列の用法はいわゆる当業者にとり周知であるのでここでは説明を省くことにする。
複数個の再帰反射ターゲットについてレーザトラッカから所在点検出結果が得られ、且つトラッカ及び計測対象物について傾斜角計測結果が得られる場合は、再帰反射ターゲット所在点のうち第1の点を原点に設定した上で、その点から第2の再帰反射ターゲット所在点に至る方向をx軸とすることで、計測対象物ローカルな座標系を設定することができる。トラッカ側傾斜計及び計測対象物側傾斜計にて各二通りの縦傾斜角が重力ベクトル基準で計測されるのであれば、いわゆる当業者にとり周知の回動手法に従い計測対象物の座標を回転変換することで、両傾斜計間の重力ベクトル方向差を補償することができる。計測対象物ローカルな座標系のx軸とCADデータで規定されるx軸との間を適正に関連づけうる重力ベクトル周り回転変換が一通りしかないため、重力ベクトル周り回動角における曖昧さも排除することができる。この手法は、トラッカで検出された再帰反射ターゲット所在点の三次元座標同士を結ぶ直線が重力ベクトルと平行にならない限りは、好適に使用することができる。
座標系間変換に関しては、計測によって拘束がかかる自由度の個数に着眼する考察法もある。例えば、1個目の再帰反射ターゲット所在点をレーザトラッカで検出すると、その計測対象物上のある一点に関しx、y及びz座標が特定される結果、それに対応する3自由度の分、計測対象物の位置・姿勢に関する不明性が減少することとなる。物理的には、これによって被検出点の空間的位置が特定される一方、その点を中心にした計測対象物回動角が全て不明のまま残される、ということである。次に、2個目の再帰反射ターゲット所在点をトラッカで検出すると、三通りある計測対象物回動角についての不明性が、1個目の再帰反射ターゲット所在点と2個目の再帰反射ターゲット所在点とを結ぶ直線を中心にした計測対象物回動角についての不明性に置き換わる結果、計測対象物の位置・姿勢が更に2自由度に亘り特定されることとなる。即ち、回動角自由度の個数が3から1に減少する。1個目の再帰反射ターゲット所在点に関する計測で三通りの並進量自由度、2個目の再帰反射ターゲット所在点に関する計測で二通りの回動角自由度、合計では5自由度に拘束がかかる。残る自由度の個数が1であるため、拘束がかかった自由度の個数との合計は6となる。
例えば、レーザトラッカ側傾斜計及び計測対象物側傾斜計にて各二通りの縦傾斜角が重力ベクトル基準で計測される一方、トラッカでその所在点三次元座標が計測される再帰反射ターゲットの個数が1に留まる場合には、計測対象物の自由度を全て拘束するに足る情報を得ることができない。これは、2個ある傾斜計でもたらされるのが各二通りの縦傾斜角についての情報のみで、計測対象物の重力ベクトル周り回動に関する情報がもたらさないからである。言い換えれば、2個ある傾斜計の働きで拘束される自由度の個数は2に留まる。1個のターゲットに関しトラッカで所在点の三次元座標を計測することで拘束される3自由度と併せ、拘束される自由度の個数は5となる。6自由度に亘り拘束をかけないと位置・姿勢が完全に特定されないため、これらの計測結果だけでは不明性が残り、計測対象物の重力ベクトル周り回動角が特定されずに残ってしまう。
これに対し、レーザトラッカ側傾斜計及び計測対象物側傾斜計にて各二通りの縦傾斜角が重力ベクトル基準で計測される一方、トラッカでその所在点三次元座標が計測される再帰反射ターゲットの個数が2である場合には、それらターゲット所在点間を結ぶ直線が重力ベクトルと平行にならない限り、計測対象物の位置・姿勢を全自由度に亘り特定するに足る情報が得られる。即ち、ターゲット所在点間を結ぶ直線が重力ベクトルと平行にならない限り、この計測によって、6自由度に亘り計測対象物の状態を特定することができる。
傾斜計で検出されるベクトルがいずれも重力ベクトルと平行な場合は、計測対象物の重力ベクトル周り回動を判別するに足る情報が得られないため、計測対象物の位置・姿勢を5自由度分しか特定することができない。なお、個別計測で拘束される自由度の個数を単純加算しても自由度拘束総数が求まらないことに留意されたい。例えば、一点計測で3自由度が拘束されるけれども、2点計測で拘束されるのは5自由度であり6自由度ではない。同様に、2個の再帰反射ターゲット所在点に関するレーザトラッカ利用計測で5自由度が拘束された後、トラッカ側傾斜計及び計測対象物側傾斜計にて各二通りの回動角を計測したとしても、更に2自由度が拘束されて自由度拘束総数が6や7になることもない。これは、傾斜計によって拘束される2自由度の基本設定が、トラッカで検出される2個の再帰反射ターゲット所在点の基本設定から独立していないためである。言い換えれば、個別剛体の位置・姿勢を完全に特定するには、三通りの並進量自由度(例.x,y,z)及び三通りの回動角自由度(例.ピッチ角、ロール角及びヨー角)に亘る拘束が必要となる。例えば、重力ベクトル周り回動角(いわゆるヨー角)に拘束がかからない前掲の例では完全な特定ができない。本願における「自由度」の語は独立自由度を意味するものと理解されたい。
レーザトラッカに備わるカメラを同トラッカのアジマス軸及びゼニス軸周りで回動させると、そのカメラでターゲットの像を捉えうる範囲が同カメラの視野を超え拡がることも、ご理解頂きたい。例えば、トラッカに備わるカメラのうち一つで、アジマス方向に沿った視野拡がりが30°であったとする。この場合、そのトラッカにおけるアジマス軸周り可回動範囲が360°であれば、そのカメラの実効視野は360°まで拡がる。
本発明の諸実施形態によれば、レーザトラッカ、ターゲット配置用エフェクタ、トラッカ用ターゲット例えばSMR、コンピュータシステム、計測用ソフトウェア、そのソフトウェアと連携するリモートコントローラ乃至ハンドヘルドデバイス等からなる計測システムに関し、さほど訓練を受けていないオペレータでも、コンピュータ例えば汎用コンピュータ60との一連のやりとりを通じトラッカをセットアップすることや、計測対象物上の狙ったエフェクタ内にターゲットを配置することや、所望の領域を計測対象領域に指定することができる。計測システム側では、これに応じターゲット所在点に係る計測を自動実行してその結果を出力する。
本発明の一実施形態に係る方法によれば、また、オペレータの許で計測が簡便且つ迅速に進むよう、レーザトラッカ出射光ビームを計測対象物上の計測所要位置に差し向け、オペレータにターゲット配置所要位置を示唆することができる。例えば、計測対象物上の磁気ネスト内にSMR等の再帰反射ターゲットを配置するよう、トラッカ出射光ビームでオペレータに示唆することができる。また、誤った位置に配置された再帰反射ターゲットを正しい位置に動かすようオペレータに示唆することもできる。正しい位置は、例えば、まず再帰反射ターゲットが存する誤った位置、次いでそのターゲットを配置すべき別の位置、という順で光ビーム方向を動かし示唆すればよい。
SMR等のターゲットをオペレータが所定位置に配置しレーザトラッカでその所在点の三次元座標を計測するセットアップ段階にて、トラッカ出射光ビームによる案内を供与することもできる。その有益性は、CADデータ上での定格寸法が計測対象物の実寸から隔たっているときに顕著となる。セットアップ段階でターゲット所在点の三次元座標が正確に特定されれば、実計測時間が短縮されまた実計測時の誤差・過誤発生が抑制されることとなろう。
レーザ光ビームの向きでオペレータに所要行為を示唆し誤差・過誤を防ぐこともできる。例えば、レーザトラッカ検査用ソフトウェアに組み込まれている検査計画に従い、計測対象点及びその計測順序をオペレータに示唆することができる。その計測の結果を保存しておき所要関係の導出、例えば座標系間関係、直線間距離、平面間交差角等の導出に使用することができる。オペレータが計測対象点や計測順序を誤らない限り、トラッカ検査用ソフトウェアによる所要関係の導出に失敗や過誤が生じることはなかろう。
上掲の諸場面では、磁気ネスト、エフェクタ孔等といった特定の位置にSMR等の再帰反射ターゲットを配置するようオペレータに示唆が与えられる。その他の重要な場面としては、オペレータの許で表面輪郭が計測される場面がある。その一例は、面の平坦さ、球面の直径或いは面同士の交差角を表面輪郭計測で求める場面である。別例としては、自動車又は航空機の組立に使用されるツールの構成部分についてオペレータの許で表面輪郭計測を実行する場面がある。この場面では、レーザトラッカを用い表面輪郭を計測し、その結果が設計公差内に収まっているか否かを判別する。収まっていない場合、オペレータは相応の手段でツールに改修(例えば該当部位からのツール形成素材切除)を施すよう示唆を受ける。これを含め、ターゲットを用い表面輪郭計測を行う場面では、相応のトラッカ制御プログラム下で走査対象領域を示唆することによって、オペレータによる作業を大きく単純化・高速化することができる。オペレータには、トラッカに発する光ビームの方向を変化させることで、走査対象領域の範囲を示唆すればよい。走査途上で辿られるべき実際の経路を光ビームでなぞることで示唆してもよい。
複雑な構造物を組み立てる際にもレーザトラッカからの示唆が手助けになる。例えば、航空機のコクピットに多数の部品を装着する際にはほぼ必須となろう。光ビームを差し向け作業者に穿孔対象部位その他の処置対象部位を示唆することで、大概、部品装着コストを抑えることができる。装着部品の輪郭を走査し装着が適正に行われたことを確認するよう、部品装着後にオペレータに示唆することもできる。その走査に際しては、例えば、仕掛品上に配した再帰反射ターゲットが1個又は複数個のカメラで識別される。その識別結果は、仕掛品の準拠座標系におけるトラッカの座標を求め、トラッカ出射光ビームで作業者に所要行為を示唆する、といった具合に利用することができる。
アジマス軸周り回動及びゼニス軸周り回動によって拡がるため、レーザトラッカに備わるカメラ乃至カメラ群の実効視野が広く、様々な方向にある再帰反射ターゲットを像として捉えうることについては、前述の通りである。自トラッカから見えるターゲット全てが目下の計測対象物上にあるものだけなら、それらのターゲットをトラッカで調べ計測対象空間乃至領域を自動特定することができる。しかし、目下の計測対象物でない物体を含め複数個の物体にターゲットが散在しているとなると、往々にして、計測対象領域をオペレータが指定しなければならなくなる。本発明の一実施形態では、再帰反射ターゲットを動かし注目領域の輪郭を指定する操作で、オペレータがこの指定を行うことができる。例えば、ターゲットを次から次へと4回動かし注目領域の上下左右端を指定する操作である。オペレータは、同様の指定を、トラッカ上のペイロード又はそれに相応する構造体をマニュアル操作で動かし、レーザ光ビームの向きで計測対象領域の上下左右辺を指定する操作で行うこともできる。トラッカ制御プログラムからの示唆に応じオペレータがこうした操作を行うようにすることも、或いはトラッカ制御プログラムからの示唆を待たずオペレータが自分の所作で計測対象領域指定の通知を発するようにすることも可能である。その所作の一例としては、再帰反射ターゲットの位置を所定パターンに従い所定時間以内に変更する所作を挙げうる。別例としては、ペイロードを把持しトラッカ出射光ビームを直下に向けることで計測対象領域指定の意向を示す所作を挙げうる。その所作の後は、ペイロードを動かし所望領域の上辺、下辺、左辺及び右辺を指定することで計測対象領域を指定すればよい。トラッカ制御プログラムの許でターゲットマッチング手順を実行し、ターゲットの三次元座標に係るリスト又はCADデータに対し対応関係にある一群の再帰反射ターゲットを識別するようにしてもよい。
以上の説明で強調した効果は、オペレータの許での計測をレーザトラッカ出射光ビームで支援できる、という効果である。それに加え、これから説明する通り、計測を完全に自動で実行できるという効果もある。その全自動計測を通じ計測が高速化されるため、計測時間延長を伴うことなく計測対象物上のターゲット数を増やすことができる。これにより各データセット内の計測点数が増すため、狙いとする幾何学的特性に関するより正確な情報をより迅速に、ソフトウェア的な処理で計測対象物から得ることができる。また、複数個の計測対象点に関し計測を行う際に、オペレータがSMR等のターゲットをマニュアル操作で動かす機会が減るので、計測セッション中に計測対象物の位置がずれる機会も減ることとなる。ひいては、計測誤差の発生を抑えることができる。
全自動計測には、計測順序が最適になるという長所が潜んでいる。まず、計測対象物上に配置された多数のターゲットをマニュアル計測する場合、オペレータは、互いに近い位置関係にあるターゲットを計測対象にすることで、計測を最短時間ですまそうとするであろう。これに対し、全自動計測時には、最も正確且つ安定な計測結果が得られるような順序で計測を実行することができる。例えば、基準線上のある2点が大型の計測対象物を挟み対峙しているとする。全自動計測時には、互いに大きく離れているこれらの基準点を相次いで計測すること、ひいてはドリフトを排除して正確な計測結果を得ることができる。
全自動計測には、自動修正が可能になるという長所も潜んでいる。例えば、商品生産ラインで使用されるツールについては、往々にして定期的な特性計測が求められる。この計測は、ツールが曲がっていないこと、ターゲットの位置が変わっていないこと等々の確認に役立つ。計測対象物にがたつきが生じたこと等は、その定期計測中にトラッカ制御プログラムによって発見される。従って、その通知に応じトラッカ制御プログラムが自動修正手順を呼び出すようにすれば、がたつきで変化したターゲット位置をその手順に従い再計測することが可能となる。自動修正手順は、また、ツールによる計測対象物の堅固保持を求める堅固実装条件の緩和にもつながる。堅固実装条件が緩くなれば、顕著な正確性及び再現性が不要となるため、ツールの作成・稼働に関わるコストが低減されることとなる。
自動修正の別例としては、組立ライン上にある計測対象物に適用する例を挙げうる。組立ライン上にある物体は、そのラインを一巡する間に位置が多少変化しているものである。従って、検査用のレーザトラッカに戻ってきた物体に関し基準点計測を行い、トラッカ界座標系・計測対象物座標系間関係の変化を自動修正するのが有益である。
上述した自動計測でもたらされる能力の一つに、所定の動作及び警報・警告設定しきい値が組み込まれるよう、オペレータに代わり精度値を好適値に設定することができる、という能力がある。例えば、一群の精度値を好適値に設定することで、(1)安定性チェックの実行頻度及び公差、(2)総指向誤差補償分に占める自己補償分についての条件、(3)自己補償の実行頻度及び公差、(4)計測対象点1個当たり計測サンプル数のしきい値、(5)補償チェック前周囲温度変化の限度、(6)整列結果及び位置移動に関する許容公差、並びに(7)ドリフトチェックの実行頻度及び公差を組み込むことができる。
そうした値それぞれを個別設定することもできる。用途や動作条件の違いに基づき行列化した値を、後に呼び出せるよう計測プロファイルとして保存するのが望ましい。
これから例示説明するように、そのセットアップ段階は、オペレータとの連携が含まれていて全自動ではない手順でも実行することができる。レーザトラッカ10の出射光ビームで計測対象物上のターゲット配置所要位置を個々の計測対象点毎に指し示す、といった手順である。その一例は、SMR等の再帰反射ターゲットをオペレータが手にとり、光ビームで指し示された位置にそのターゲットを配置することで、そのターゲットに光ビームをロックオンさせる、という手順である。トラッカ10では、その計測対象物上(例えば磁気ネスト内)にあるターゲットの三次元座標を計測した後、光ビームの行く手を次のターゲット配置所要位置へと移動させる。第2の例としては、計測対象物上(例えば磁気ネスト内)にターゲットを配置したらオペレータがすぐさま合図を送る、という手順がある。例えば、そのターゲット上に光ビームが直ちにロックオンしない場合に、ターゲットの面前に手をかざしカメラ視野内でターゲットの像を明滅させる、といった合図を送る手順である。トラッカ10では、ターゲットをサーチし速やかにその位置を計測する。トラッカ10では、その後、次の計測対象点へと光ビームを移動させることで、計測対象物上のどこにターゲットを配置すべきかをオペレータに伝える。第3の例としては、第2の例と似ているが、ターゲットがすぐに見つからなくてもトラッカがサーチを行わない手順がある。この手順では、その代わりに、オペレータがターゲットの前に手をかざすとトラッカ10が光ビームの行く手を次の計測対象点に移動させるようにする。初期段階であるセットアップ段階にて、計測対象点1個当たり計測時間を例えば約0.1秒に抑え、計測全体を比較的迅速に終えうることは、歓迎されうることであろう。
ツール等の上に多数の再帰反射ターゲット、例えば100個超のターゲットを配置し計測を実行することもある。ターゲット購入費用を抑えるため、オペレータによっていちどきに配置されるターゲットの個数がより少数、例えば25個とされる場合もあろう。そこで、使用可能な個数(例えば25個)のターゲットがツール上に配置されレーザトラッカによる計測が行われる期間のことを「計測サイクル」と呼ぶことにする。
最初はSMR等のターゲットが未固定であるので、オペレータは、マニュアル操作で又はレーザトラッカ10による案内を受けつつ、その計測対象物上にターゲットを配置する。トラッカ10はこれに続き安定性チェック(基準システムチェック)を実行する。このチェックは、1個又は複数個の点についての計測を通じ実行することができる。例えば、計測対象空間の両端を占める都合複数個の点並びにその空間の中心に最も近い一点について、トラッカ10に計測を実行させればよい。トラッカ10は、計測継続時間を当初の短時間から徐々に延ばしつつ(採取されるサンプルの個数を増やしつつ)一連の点について自動的なサンプル採取を行い、その結果に基づき最適なサンプル数、即ちオペレータから指示された精度を計測システム側で実現しうるサンプル数を判別する。その判別結果が計測対象点1個当たりサンプル数に係るシステム設定値となる。更に、この安定性チェックは、所定期間経過時点、所定点数計測終了時点、各計測サイクル始期・終期等の時点で、計測システム側に再実行させることができる。初回の安定性チェックで計測対象とされた点(基準点)が3個以上あるので、それらの点に関する再計測を計測サイクル終期に実行して動きをチェックすることや、ターゲット移動中にオペレータが原因で計測対象物に生じた動きが補償されるよう、各計測サイクルの始期に実行してトラッカ出射光ビームを相応部位に差し向けることができる。また、計測対象物の動きをより簡便且つ高速に検知できるよう、計測対象物上の一点及び計測対象物外(例えば床上)の一点にターゲットを配置してもよい。それらの位置にターゲットを常時配置しておき、計測セッション継続中に計測システム側で定期チェックを行うようにしてもよい。各サイクルの始期・終期に再チェックを行うのに加え、計測セッション継続中に所定周期でチェックを行うようにしてもよい。最も小規模な構成となるのは、こうした基準点に係る計測を各計測セッションの始期及び終期に実行する構成であろう。
計測システムによる自動計測はシステム設定毎に所要点全てに関し実行される。レーザトラッカは、その計測が一点進むたびに、オペレータ向けの光源54たるLED群の出射光を明滅させることで、その点に係る計測の合否をオペレータに通知する。否即ち公差範囲外と通知された場合、オペレータは、トラッカ視野内にある任意のターゲット例えばSMRの面前に手をかざすことで、その自動計測を一時停止させることができる。即ち、光源出射光の明滅に応じたターゲット反射光の明滅を遮ることで、カメラシステム経由で自動計測を一時停止させることができる。オペレータは、更に、公差範囲外とされた点の面前で手を止め調整手順を開始させることができる。その際、トラッカは、ターゲットが本来あるべき点に光ビームを差し向ける。オペレータは、ディジタル出力による案内に従い、ツール等のうち公差範囲外とされた部位に調整を施す。オペレータは、調整完了後に何らかの所作をすること、例えばターゲット面前で手を振ることでトラッカに指令し、その点に関する再計測及び残りの点に関する後続計測を実行させることができる。ターゲットの操作や計測システム側でのアジマス軸乃至ゼニス軸周り回動によって全計測プロセスを完遂できるので、オペレータは、リモートコントローラ、マウス、キーボード等を操作する必要がない。
図5A及び図5Bに、図1や図2に示したレーザトラッカ10、特に計測対象物500に対し第1方向(図5A)又は第2方向(図5B)をなしている状態でその計測対象物500上にある幾つかの再帰反射ターゲット26(例えばSMR)につき自動計測を行っているトラッカ10の斜視外観を示す。計測対象物500とされているのは、自動車組立ラインに備わるキャリッジをはじめ、割合に大きめの物体である。但し、これは一例であり、様々な種類のツールや製品が計測対象物500となりうる。また、ここで例示している計測対象物500上には、本発明の諸実施形態に従い様々な位置に都合複数個のターゲット26が配置されている。計測対象物500によって保持されているアセンブリ上にターゲット26を配置することもできる。
図5Aでは、計測対象物500上の諸部位に都合複数個の再帰反射ターゲット26例えばSMRが配置されている。図中のレーザトラッカ10からは、そのターゲット26のうち幾つかへとレーザ光ビーム46が差し向けられている。更に、トラッカ10に備わる1個又は複数個のカメラ52,58は円錐510の如き視野を有しており、その視野内には計測対象物500のうち一部が収まっている。
図5Bでは、図5Aに比べ、計測対象物500に対するレーザトラッカ10の向き、並びに計測対象物500における再帰反射ターゲット26例えばSMRの配置個所が変化している。計測対象物500に対するカメラ52,58の視野円錐方向も変化している。従って、計測対象物500上の別位置にあるターゲット26がカメラ52,58の視野内に入ることとなる。カメラ52,58で狙う位置を複数通りに亘り変化させる手法は二通りある。第1に、組立ライン等では、キャリッジを小幅に動かすことで図5A及び図5Bの如くトラッカ10の視野を変化させることができる。第2に、固定されたツール等に関しては、それまで視野外にあった点が視野に入るようトラッカ10を動かすことで、その点についての計測を行えるようになる。
計測対象物500のサイズや必要とされる精度によっては、その計測対象物500の周囲温度に起因する誤差への対処も必要になる。例えば、金属質の物体はその温度が高まるにつれて膨張する。その一方で、CADデータ上での寸法等、計測対象物500の定格寸法は一般に華氏68°即ち20℃域の管理室温を基準にしている。従って、温度がそれより高いと計測対象物500の寸法が定格寸法よりも大きくなる。こうした寸法変化の補償手法としては、一般に、計測ジョブにスケーリング係数を適用し形成素材情報・温度情報に従い基準温度での値に逆換算する手法や、基準点に関し計測し計測ジョブ実行時にスケーリング係数を適用する手法を採りうる。
自動計測セッション、特に基準点に位置する再帰反射ターゲット26が使用・計測対象となるセッションでは、計測ジョブ実行時にスケーリング係数が必ず適用されるよう、ソフトウェアに対するセッティングを通じオペレータが指示を与えることができる。この手法には、計測ジョブ実行時にスケーリング係数が自動的に変化するため、計測対象物の幾何学的変化例えば屈曲が小さめに見える、という問題がある。もう一方の手法は、計測対象物上に配置したセンサで素材温度を検出すること、オペレータに膨張係数又は素材種別を入力させること、並びにセンサやオペレータからの入力に基づき計測システム側でスケーリング係数を決定することで実行可能である。しかしながら、自動化されたシステムを稼働させる上で望ましいのは、これら二手法を対比的に実行・利用し、所望のシステム精度を超過する差分が見つかった場合にオペレータに通知することであろう。オペレータは計測対象物上に任意個数の素材温度センサを配置することができる。計測システムにおける周囲温度判別は、レーザトラッカ内部センサからの入力に基づき行っても外部センサからの入力に基づき行ってもよい。計測システム側では、計測対象物に膨張又は収縮が生じかねないほど差分が大きくなった場合にオペレータに通知し、計測対象物が周囲環境になじみその温度が安定するまで計測時期を遅らせる。計測ジョブに素材種別や膨張係数を組み込んでもよい。計測システム側では、計測対象物上の基準点に関し計測を行い、その結果を定格値又は所望値と比較する。
その換算処理に際し、計測システム側では、定格値に対する計測結果の差分に基づくスケーリング係数、並びに素材種別及び素材温度センサ出力に基づくスケーリング係数を算出する。それら二種類のスケーリング係数間に許容できないほどの差分がある場合は、オペレータに通知して計測セッションを中止する。スケーリング係数間差分が大きく計測システム出力が信じられない状況としては、(1)素材温度センサ、周囲温度センサ又はその双方が不調で出力が狂っているという状況も考えうるが、(2)計測対象物が幾何学的に変形しターゲット26の位置が計測対象物上の基準点から外れている、といった状況の方が生じやすい。ただ、スケーリング係数の自動決定を通じその誤差が小さめに見え、計測ジョブ全体に亘り不確定性・誤差が入り込む傾向があるため、進行中の計測セッションで後者の状況を検出するのは割合に難しい。基準点に誤差があれば、一般に、計測ジョブ全体が定格値から僅かにずれて幾つかの点が不正常となる。これに克ち高精度化するには、計測セッション実行中にシステム側で付加的なチェックを行い、計測対象物の膨張・収縮分を補償すればよい。
また、こうした高度な自動計測システムでは、そのレーザトラッカ10に備わる立体視型の測位・測距用カメラ52を利用し、再帰反射ターゲット26例えばSMRの位置を推定することができる。例えば、計測システムに対し計測対象空間を指定する際、オペレータは、計測対象物500上にターゲット26を複数個配置し、それらターゲット26からトラッカ10が見えることを確かめた上で、計測システム側ソフトウェアによる示唆に応じアジマス軸及びゼニス軸をマニュアル操作し、トラッカ10のヘッドを所望の計測対象空間の端点付近に向ければよい。即ち、ソフトウェアからの示唆に応じヘッドを動かし、レーザ光ビーム46を計測対象空間の右端点付近に差し向ければよい。計測システム側では、ヘッドが同じ向きに所定時間例えば2秒に亘り留まったときに、その向きにある点を記憶する。ソフトウェアからオペレータには、計測対象空間の左端点付近、上端点付近及び下端点付近へとヘッドを向けよとの示唆も与えられる。
指定された計測対象空間が広すぎ、自トラッカ10に搭載されているカメラ52の視野からはみ出している場合、レーザトラッカ10は、再帰反射ターゲット26例えばSMRを探すべく、全空間を対象とした掃引探査プログラムを実行する。このプログラムは、計測セッション全体を通し、ターゲット26の状態や計測システムへのユーザの入力を監視すべく所要回数に亘り反復実行される。トラッカ10は、計測対象空間内にありターゲット26とおぼしき点それぞれのXYZ座標を、立体視型のカメラ52を利用し推定する。即ち、計測システム側ソフトウェアに従い、自トラッカ10・諸点間位置関係の一次近似値を算出する。トラッカ10はそれらのうちいずれかの点へとレーザ光ビームを差し向ける。差し向けてはみたが点が見当たらない場合、トラッカ10は、自トラッカ10の前面にあるLED(図示せず)を点灯させることでエラーメッセージを発し、更にターゲット26を見失った位置、狙いが外れた位置又は他物体で遮られた位置へと光ビームの入射先を移動させる。トラッカ10は、オペレータが容易に追いかけられるようこの移動を例えば固定的なパターンに従い実行する。オペレータは、入射先が修正された後にターゲット26の面前で手を振ることで、位置計測その他の処理を実行するよう計測システムに対し指示を与えることができる。これを受け、トラッカ10は、カメラ52又は従来型のサーチシステムで個々のターゲット26上にロックオンして自動計測を実行する。
前段落で述べた通り、レーザ光ビームをターゲット方向に差し向けるときには、その光ビームの方向を固定するのではなく何らかのパターンに従い変化させる方がよい。例えば、計測対象物の頂部付近に磁気ネストがあり、そのネスト内に再帰反射ターゲット例えばSMRが配置されているとする。この場合、ターゲット中心の所在方向へと光ビームをまっすぐ差し向けたとしても、何にもぶつかることなく計測対象物のそばを通り抜けてしまい、オペレータが光ビームの入射先を見失う可能性がある。光ビームの方向を何らかのパターンに従い変化させれば、様々な位置のターゲットにそれを入射させることができる。
自トラッカ10に1個又は複数個の広視野カメラと1個又は複数個の狭視野カメラが備わっている計測システムでは、広視野カメラを用い再帰反射ターゲット26例えばSMRの概略方向を調べ、その方向にレーザ光ビームを差し向けることができる。ビーム46の入射先がターゲット26の中心から若干ずれているため追尾システムがターゲット26上にロックオンしない場合には、次に示す処理のうち一通り又は複数通りを実行すればよい。(1)広視野カメラで調べた方向を自トラッカ10内で再評価しビーム46の入射先を修正する。(2)使用するカメラを狭視野カメラに切り替える一方、自トラッカ10内でターゲット26の光学的中心点を再算出し、その点を狙いと定め追尾システムによるターゲット26上へのロックオンを試みる。(3)使用するカメラを広視野カメラから光学ズーム機能付の狭視野カメラに切り替え、その狭視野カメラの視野内にターゲット26があるか否かを調べ(広視野カメラを使用しトラッカ10内で算出される方向には誤差が多いのでその方向に狭視野カメラを向けてもターゲット26が見えないことがある)、視野内にないならターゲット26が視野内に入る点までその狭視野カメラをズームアウトさせ、自トラッカ10内でそのターゲット26の光学的中心点を算出してそこを狙う。
これらの処理は、いずれも、再帰反射ターゲットの像が再捕捉されるに至るまで反復することが可能であり、また広視野カメラ及び狭視野カメラを併有するカメラシステムの方がレーザ光ビーム及び位置センサを併有する従来型の標的サーチシステムに比べ高速な点で有益なものである。
本発明は、更なる計測手順として、ソフトウェア的な処理で計測結果を許容公差と比較する手順を伴う形態でも実施することができる。計測結果とされるのは、CADデータ等で与えられる定格寸法と、ツール等におけるターゲット所在点間距離をレーザトラッカ10で計測した寸法との間の差分である。その差分が許容公差を上回った場合、トラッカ10はそれに応じた動作を実行する。実行されるのは、例えば、それらの点についての再計測、それらの点についての長時間計測等といった単純な動作である。トラッカ精度が損なわれないようにするためトラッカ10に二面計測を実行させてもよい。このほか、トラッカ10に実行させうる動作としては、オペレータ向けにエラーメッセージを発する、ビープ音を鳴らす、光を明滅させる、オペレータが安定性チェック、調整又は不備ターゲット交換を実行するまで生産ラインを停止させる等といった動作がある。
特許文献1(発明者:Cramer et al.,この参照を以てその全体を本願に繰り入れる)には二面計測の諸例が記載されている。レーザトラッカ10は、再帰反射ターゲット26が存する1個又は複数個の点に関し二面計測を実行可能である。二面計測で判明した誤差が所定値、例えば製造者側データシートで指定されている値を上回っている場合には、トラッカ10に更なる処理、例えばトラッカ性能向上につながる補償手順を実行させればよい。他の手順でもかまわないが、広く使用されている補償手順は二種類ある。一方は特許文献1記載の自己補償手順、他方は指向補償手順である。指向補償手順では、床、ペデスタル、計測対象物等の上に配置されたターゲット26に関し複数回に亘る二面計測を実行する。その二面計測でデータを収集した後は、そのトラッカ10で内部パラメタを自動修正して計測精度を向上させる。
更なる計測手順として、経時的な計測安定性をチェックする手順を実行してもよい。この手順では、例えば、床等の上にある再帰反射ターゲットとツール等の上にある再帰反射ターゲットに関しレーザトラッカで計測を実行する。それらターゲット所在点間の位置関係が計測の度重なりにつれ変わってきたら、レーザトラッカからオペレータに通知するようにすればよい。或いは、ツール等の上にある3個のターゲット間の距離をレーザトラッカで計測してから本計測を開始し、本計測が終了してからそれら3ターゲット間の距離を再計測するようにしてもよい。それら3ターゲット間の位置関係に変化があり、計測全体の有効性が問われるような状況であれば、本計測を再実行すればよい。
以上の説明では、レーザトラッカ10のペイロード上に1個又は複数個のカメラが存する例を主たる題材としてきたが、いわゆる当業者にはご理解頂けるように、そうしたカメラの位置はトラッカ10の内部(例えばトラッカ光軸沿い)でも、トラッカ10のアジマスキャリッジ14上でも、或いはトラッカ10の外部でもかまわない。
図6に寸法計測用電子処理システム、特にレーザトラッカ用電子処理システム1510、周辺部材1582、1584及び1586、並びにコンピュータ1590を備え、ネットワーク構成部材1600のクラウドに接続されているもの1500のブロック構成を示す。この例ではトラッカ用電子処理システム1510にマスタプロセッサ1520、ペイロード機能用電子回路1530、アジマスエンコーダ用電子回路1540、ゼニスエンコーダ用電子回路1550、表示兼UI用電子回路1560、リムーバブルストレージ装置1565、無線周波数識別(RFID)用電子回路及びアンテナ1572等が設けられている。ペイロード機能用電子回路1530には複数個のサブ機能が備わっており、そのなかには6自由度用電子回路1531、カメラ用電子回路1532、ADM用電子回路1533、PSD用電子回路1534及び傾斜計用電子回路1535が含まれている。これらサブ機能の大半は1個又は複数個のプロセッサユニット、例えばディジタル信号プロセッサ(DSP)やフィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)で構成できる。図中で電子回路1530,1540,1550が別体に描かれているのはそのトラッカ内位置が異なるためである。即ち、ペイロード機能用電子回路1530がペイロード内にあるのに対しアジマスエンコーダ用電子回路1540はアジマスアセンブリ内、ゼニスエンコーダ用電子回路1550はゼニスアセンブリ内にある。
周辺部材としては様々なデバイスを用いうるが、ここでは温度センサ1582、6自由度プローブ1584及びスマートフォン等の携帯情報端末(PDA)1586の三部材が例示されている。レーザトラッカ・周辺部材間の連携は様々な手段、例えばアンテナ1572経由無線通信、カメラ等の視覚システムの働き、並びに6自由度プローブ1584その他の協調性ターゲットに関するトラッカでの距離,角度計測を通じて行われる。
この例ではマスタプロセッサ1520から個別の電子回路1530、1540、1550、1560、1565及び1570へと個別に通信バスが延びている。各バスは、例えば、データライン、クロックライン及びフレームラインなる3組のシリアルラインを有している。フレームラインは電子回路にクロックラインの参照を促すラインであり、このライン経由でクロックライン参照が指示されている間、電子回路は、対応するデータライン上の最新情報をクロック信号毎に読み取る。そのクロック信号としてはクロックパルスの立ち上がりエッジ等が用いられる。データライン上の情報は、この例では、それぞれ「アドレス」、「数値」、「データメッセージ」及び「チェックサム」を含むパケットの形態を採っている。「アドレス」は対応する電子回路内のどこにデータメッセージを送るべきかを表している。送られる場所の例としては、その電子回路内のプロセッサ上で稼働するサブルーチン等がある。「数値」は対応するデータメッセージの長さ、「データメッセージ」はその電子回路で実行すべき命令又はデータを表すものである。「チェックサム」は対応する通信ラインでのエラー伝送確率を抑えるのに用いられる。
図示例のマスタプロセッサ1520は諸情報パケットをバス1610を介しペイロード機能用電子回路1530に、バス1611を介しアジマスエンコーダ用電子回路1540に、バス1612を介しゼニスエンコーダ用電子回路1550に、バス1613を介し表示兼UI用電子回路1560に、バス1614を介しリムーバブルストレージ装置1565に、またバス1616を介しRFID兼無線用電子回路1570へと送信する。
この例では、マスタプロセッサ1520が、更に、各電子回路に同期バス1630経由で同期パルスを同時供給し、その同期パルスに従いレーザトラッカ内計測機能間で計測動作を同期させる。例えば、アジマスエンコーダ用電子回路1540やゼニスエンコーダ用電子回路1550は、同期パルスを受信するとすぐさま対応するエンコーダの出力をラッチする。同様に、ペイロード機能用電子回路1530は、そのペイロードに備わる機能によって集められたデータをラッチする。6自由度用、ADM用及びPSD用の各電子回路は同期パルス受領に応じデータをラッチする。多くの場合、カメラ用や傾斜計用の電子回路は同期パルスより低い速度(但し同期パルスに比し周期が数倍程度の速度)でデータをラッチする。
レーザトラッカ用電子処理回路1510は、外部のコンピュータ1590と通信しながら、或いはそれ自身で、トラッカ内情報処理、表示及びUI機能を提供する。トラッカ・コンピュータ1590間通信用の通信リンク1606としては、イーサネット(登録商標)ライン、無線通信チャネル等が用いられる。トラッカ・ネットワーク接続部材1600(クラウド)間通信用の通信リンク1602としては、1本又は複数本の電気ケーブル例えばイーサネット(登録商標)ケーブル、1本又は複数本の無線通信チャネル等が用いられる。部材1600の一例は他の三次元試験装置、例えばその姿勢を本トラッカで変更可能な関節腕付座標計測機である。コンピュータ1590・部材1600間通信用の通信リンク1604としては、イーサネット(登録商標)等の有線リンクのほか無線リンクも用いうる。オペレータは、別の場所にあるコンピュータ1590からイーサネット(登録商標)や無線でインターネットその他のクラウドに接続し、そこからイーサネット(登録商標)や無線でマスタプロセッサ1520にアクセスすることができる。オペレータはこうしてトラッカの動作をリモート制御することができる。
図7に、一実施形態に係る計測システム動作手順700の流れを示す。ステップ705では、一群の再帰反射ターゲット及びレーザトラッカを備えるシステムを準備する。準備する再帰ターゲットのうち、第1、第2及び第3ターゲットをはじめとする3個以上のターゲットは非共線的に、即ち一直線上に並ばないように配置する。トラッカの準拠座標系は自トラッカ周辺に対し固定的な第1座標系、例えば図1、図5A、図5B及び図6に記載の装置座標系30である。これは、トラッカのジンバル点22を原点としそのx軸、y軸及びz軸がトラッカ周辺に対し固定的な座標系であり、回動方向等といったトラッカ特性の表現によく用いられる。また、トラッカは構造体、第1及び第2光源、ADM、第1及び第2角度トランスデューサ、追尾システム、第1カメラ並びにプロセッサを備える。構造体は第1軸(例えばアジマス軸)周り及び第2軸(例えばゼニス軸)周りで可回動であり、その例としては、光学部品を保持するペイロード、光を転向させ所要方向に沿いトラッカ外に出射させるミラー等を挙げうる。第1光源は第1光ビームを発する光源であり、その例はレーザ、高輝度ダイオードその他の光源である。ADMはその第1光ビームを利用して距離を計測する部材であり、その距離計測には、第1光源出射光が光速伝搬を通じ再帰反射ターゲットに入射しトラッカへと返戻されるまでにかかる時間を計測する手法等が使用される。こうした飛行時間計測による絶対距離計測法には、位相計測法、パルス飛行時間法等の種類がある。第1及び第2角度トランスデューサの例は、アジマス角及びゼニス角を計測する角度エンコーダである。追尾システムは、再帰反射ターゲットの中心に向かうよう第1光ビームの方向を操作する。再帰反射ターゲットの中心とは、その点を挟み光ビームが折り返される点のことである。例えば再帰反射用キューブコーナでは、3個の反射面が互いに直交する点即ちキューブコーナ頂点を挟み、光が対称的に反射される。そこを挟み光が対称的に反射される点は、球の中心に位置することが多い。例えば、外気開放型キューブコーナの頂点が鋼球の中心に位置するタイプのSMRがある。そうしたSMRでは、トラッカ内追尾システムの働きで、第1光ビームの方向がターゲット中心方向に保たれる。但し、ターゲット中心が球の中心に重なることは必要でない。例えば、球付でない再帰反射ターゲットを直に計測対象物に装着してもよい。即ち、ここでいう「中心」とは、ターゲット内諸点のうち、その点を挟み第1光ビームが対称的に反射される点のことであり、何かの物体の中心を指しているわけではない。トラッカ内追尾システムは、その反射光の一部を自トラッカ内PSD、例えば半導***置検出デバイスや感光アレイで継続的に捉える。トラッカ内第1カメラは、例えば、第1軸周り及び第2軸周りで回動させうるよう自トラッカのペイロード外面に実装する、自トラッカの光軸に対し点対称なトラッカ外光景を捉えるようトラッカ内に配置する等、自トラッカの内外を問わず、様々な位置に配置することができる。第1カメラを構成する第1レンズ及び第1感光アレイのうち第1レンズは、トラッカ外にある計測対象物の像を第1感光アレイ上に発現させる。第2光源即ち第2光ビームを発する光源は、原則として第1カメラのそばに配置する。第2光ビームは、幾つかある再帰反射ターゲットのうちいずれかへと送られる。第2光ビームのうち一部は、そこでの反射によって第1カメラに戻され、第1カメラ内の第1感光アレイ上に像を形成する。そして、プロセッサは、トラッカ内、補助ユニット50内、外部ユニット(60)内等のうち一個所又は複数個所に設ける。プロセッサ内では、例えば、処理素子例えばマイクロプロセッサ、ディジタル処理ユニット、FPGA、メモリ等を併用する。トラッカはこのプロセッサの許で動作する。
ステップ710では、第1、第2及び第3ターゲット並びに1個又は複数個ある補助点の定格座標をリスト化して保存する。定格座標としては第2座標系準拠の三次元座標を用いる。第2座標系としては、計測対象物又はその装着先計測対象物に係る座標系を用いる。第2座標系の例は図1、図5A、図5B及び図6に示した座標系40である。一般に、第2座標系のx軸、y軸及びz軸は第1座標系のそれに対し可回動である。
ステップ715では、第2光源出射光のうち第1、第2又は第3ターゲットで反射された部分を第1感光アレイで捉える。
ステップ720では、第1、第2及び第3ターゲットそれぞれでの反射光が第1感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測する。例えば、第1、第2及び第3ターゲットに係るスポットにおける重心の位置をスポット位置として検出する。
ステップ725では、第1感光アレイ上での第1、第2及び第3スポット位置と第1、第2及び第3ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定する。この対応関係特定は種々の手法、例えば別紙特許請求の範囲に記載の諸手法で実行可能である。その一例は、第1座標系に対する第2座標系の許容方向差を踏まえ対応関係候補を絞る手法である。レーザトラッカ上のカメラ対(ステレオカメラ)で三角測量する手法も採りうる。トラッカ側に備わるカメラのうち1個を様々に回動させその方向を様々に変化させる手法も採りうる。この手法では、カメラ内の感光アレイ上に生じる2個の像に基づき対応関係を特定する。第1カメラをフロントサイトモード及びバックサイトモードで動作させ、第1感光アレイで捉えられる諸像に基づき対応関係を特定することもできる。第1・第2座標系間位置関係の変化、ひいては第1感光アレイ上でスポットが描くパターンに基づき対応関係を特定することも可能である。例えば、図5A、図5B及び図6に示す例では可動キャリッジに第2座標系が固定されているので、第1・第2座標系間位置関係の変化に伴う像の移動を第1カメラで察知することができる。感光アレイ上の第1、第2及び第3スポットと第1、第2及び第3ターゲットの定格座標との間の対応関係を好適に特定可能な数学的手法としては、例えば、前述の要領及び別紙特許請求の範囲に記載した要領に従い、一方の座標系から他方の座標系へ又はその逆への変換を担う変換行列を求める手法がある。この手法では、第1感光アレイで捉えた像毎に、アレイ上の諸点がそのアレイ上での位置からレンズの視野中心を通り物空間内へと投射される。これによって、第1感光アレイ上のスポットから角度が求まる。また、第2感光アレイを利用でき且つ第1・第2感光アレイ間距離が判明している場合は、いわゆる当業者にとり周知の諸手法に従い三角測量することで、3個あるターゲットそれぞれの位置を特定することができる。利用可能なカメラが1個しかない場合でも、フロントサイトモード・バックサイトモード間でトラッカ光軸沿いカメラ位置が逆になるので、フロントサイトモード像及びバックサイトモード像の捕捉を通じ、やはり三角測量を実行することができる。フロントサイトモード・バックサイトモード間カメラ位置差が既知であるので、この手法はステレオカメラによる三角測量と同等であるといえよう。同様に、前述の通りまた特許文献7記載の通り、トラッカの構造体を第1軸、第2軸又はその双方の周りで二通りの角度に亘り回動させ、個々の角度で都合二通りの像を捉え、三角測量類似の手順を適用することも可能である。第1座標系での方向と第2座標系での方向との間の関係が大まかにしかわからない場合、第1、第2及び第3ターゲットそれぞれの三次元座標をはっきりと求めることは難しいが、3個生じるスポットと第1、第2及び第3ターゲットの定格座標との間の対応関係を位置的に特定することは総じて難しくない。
ステップ730では、第1スポット位置及び第1ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づき第1光ビームを第1ターゲットに差し向け、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用い第1ターゲットの三次元座標を計測する。ステップ725との関連で既述の通り、対応関係の特定を通じ第1座標系での三次元座標が与えられる場合、レーザ光ビームを第1、第2及び第3ターゲットに差し向けるのは容易なことである。第1座標系での方向と第2座標系での方向との間の関係が大まかにしかわからない場合、第1、第2及び第3ターゲットの像を捉えうる方向を高い精度で知ることはできないが、ターゲットまでの距離を措定することで方向を知ることができる。その方向は、別紙特許請求の範囲に記載の手法等に従いターゲット像を捉えうる最適な方向に十分近いことが多い。三次元座標の計測結果は第1座標系、即ちそのレーザトラッカが準拠する座標系に準拠した値となる。
ステップ735は、第1ターゲットではなく第2ターゲットが対象とされる点を除きステップ730と同じ内容である。ステップ740は、第1ターゲットではなく第3ターゲットが対象とされる点を除きステップ730と同じ内容である。
ステップ745では、第1、第2及び第3ターゲットについての三次元座標計測結果並びに1個又は複数個ある補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づき補助点の第1座標系準拠三次元座標を求める。これは数学的な処理に係るステップ、例えば第2座標系準拠三次元座標たる任意の定格座標を第1座標系(トラッカ界座標系)準拠三次元座標へと変換するための変換行列を求めるステップである。ステップ730、735及び740にて求めた三次元座標から変換行列を求める処理は、いわゆる当業者にとり周知の手法で十分に実行することができる。
ステップ750では、その又はそれら補助点についての三次元座標導出結果を保存する。保存先となるのは、電子可読媒体、コンピュータ用メモリ、マイクロプロセッサ等である。そして、ステップ755で手順700が終了する。
図8に、一実施形態に係る計測システム動作手順800の流れを示す。この手順800は図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ805では、第1光ビームを1個又は複数個の補助点へと差し向ける。この動作はレーザトラッカにより自動実行される。
ステップ810では、第1光ビーム又はその一部が反射されるよう相応の再帰反射ターゲットを配置する。これは、例えば、その再帰反射ターゲットを自ら操り第1光ビームを受光可能な位置へと動かす、計測対象物に実装されているネスト例えば磁気ネスト上にその再帰反射ターゲットを配置する等といった形態で実行する。1個又は複数個ある補助点の三次元座標が十分正確にわかっていれば、第1光ビームの方向を好適に制御し、少なくともその一部を相応する再帰反射ターゲットの透明開口に入射させることができる。
ステップ815では、その再帰反射ターゲットの中心へと第1光ビームを差し向ける。この動作はレーザトラッカ内追尾システムによって実行される。ステップ820では、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用いその再帰反射ターゲットの三次元座標を計測する。そして、ステップ825で手順800が終了する。
図9に、一実施形態に係る計測システム動作手順900を示す。この手順900は図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ905では、第1光ビームを1個又は複数個の補助点へと差し向ける。
ステップ910では、その又はそれらの補助点に近在する第1パターンに従い空間内で第1光ビームを動かす。第1パターンはいわゆるサーチパターンに該当する。第1光ビームは、例えば始点から螺旋沿いに外側へと動かされる。
ステップ915では、第1光ビームの所在をそのレーザトラッカに備わる追尾システムで検出する。この動作は、第1光ビームの一部が再帰反射ターゲットで反射されPSDに入射したときに実行される。PSDにて光ビームが検出されたことは、第1光ビームが再帰反射ターゲットの透明開口に入射したことを意味している。
ステップ920では、相応の再帰反射ターゲットの中心へと第1光ビームを差し向ける。前述の通り、ここでいう「中心」とは、再帰反射ターゲットに付随する諸点のうちその点を挟み光ビームが対称的に反射される点のことである。再帰反射ターゲットの物理的な中心と一致している必要はない。
ステップ925では、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用いその再帰反射ターゲットの三次元座標を計測する。そして、ステップ930で手順900が終了する。
図10に、一実施形態に係る計測システム動作手順1000の流れを示す。この手順1000は図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ1005では、第3レンズ系及び第3感光アレイを有し第1カメラに比べ狭視野な第3カメラ並びに第4光ビームを発する第4光源を準備する。
ステップ1010では、第4光源出射光のうち第1、第2又は第3ターゲットで反射された部分を第3感光アレイで捉える。即ち、先に第1カメラで実行したのと同じ要領で、第1、第2ターゲット及び第3ターゲットの像を捉える。用いるカメラが第3カメラであるので、この捕捉を通じ更なる計測結果を集めることができる。第1カメラから得た情報に基づきレーザトラッカを駆動し、第1、第2又は第3ターゲットの像を第2カメラで捉えることによって、同様の動作を実行してもよい。
ステップ1015では、第1、第2及び第3ターゲットそれぞれでの反射光が第3感光アレイ上にもたらすスポットの位置を計測する。例えば各スポットにおける重心の位置をスポット位置として検出する。
ステップ1020では、第3感光アレイ上での第1、第2及び第3スポット位置と第1、第2及び第3ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定する。その特定手法は、第3カメラが第1カメラより狭視野であるため正確な情報が得られる点を除き、前述したものと同様のものである。そして、ステップ1025で手順1000が終了する。
図11に、一実施形態に係る計測システム動作手順1100の流れを示す。この手順1100は、図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ1105では、第1補助点を含め複数個ある補助点へと第1光ビームを差し向けることで、所要行為をオペレータに示唆する。オペレータは、レーザトラッカから示唆された行為を実行すればよい。
図12に、一実施形態に係る計測システム動作手順1200の流れを示す。この手順1200は図8中のステップ825(ポイントB)から始まる。ステップ1205では検査計画に従い計測を実行する。検査計画では計測対象点を複数個指定するのが原則である。計測対象点としては、計測対象物の表面に所在する点やネスト上にある点が指定される。それらの点のうち幾つかは個別的に計測され、他の点は所定面上のスキャンパターンに従い計測される。
図13に、一実施形態に係る計測システム動作手順1300の流れを示す。この手順1300は、図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ1305では、第1光ビームを1個又は複数個の補助点へと差し向ける。ステップ1310では、第1光ビームの位置にて加工動作を実行する。例えば、穿孔、圧搾、研磨、パテ、型押し等、計測対象物に改変・付加を施す動作である。第1光ビームで指定された位置に従い計測対象物に穿孔する、といった具合である。
図14に、一実施形態に係る計測システム動作手順1400の流れを示す。この手順1400は図8中のステップ825(ポイントB)から始まる。ステップ1405では、レーザトラッカで計測すべき計測対象点を指定する検査計画を準備する。ステップ1410では、計測対象物に1個又は複数個の再帰反射ターゲットを装着する。例えば、実質的にシステム安定性チェック用の浮標として機能するよう再帰反射ターゲットを装着する。ステップ1415では、計測対象物に装着された再帰反射ターゲットの三次元座標に関し最大許容変化量を設定する。この最大許容変化量は、必要とされる安定性に鑑みオペレータが設定する数値である。ステップ1420では、計測対象物に装着された再帰反射ターゲットの三次元座標を第1及び第2時点で計測する。ステップ1425では、第1時点から第2時点にかけて再帰反射ターゲットの三次元座標に生じた変化たる第1変化を特定する。システムが高度に安定しているときには、再帰反射ターゲットの三次元座標はほとんど変化しない。しかし、計測対象物又はトラッカに衝撃が加わっているときには、その衝撃で計測結果が大きく変化し誤差が発生する。同様に、周囲温度が大きく変化すると、計測対象物の寸法変化、トラッカ性能の低下又は第1光ビーム伝搬媒体たる空気の特性変化が生じる。これらはいずれも計測精度の低下につながる。そこで、ステップ1430では、第1変化が最大許容変化量を超過した場合に相応の動作を実行する。実行されうる動作の一つは、計測対象物に都合3個以上の再帰反射ターゲットを装着して計測を行い計測対象点の三次元座標を再特定する動作である。第1変化が最大許容変化量を超過したことをオペレータに通知する動作を実行してもよい。オペレータは、この通知に応じ、トラッカの再補償、計測対象物及びトラッカの安定性チェック等の措置を執ることができる。そして、ステップ1435で手順1400が終了する。
図15に、一実施形態に係る計測システム動作手順1700の流れを示す。この手順1700は、図7中のステップ755(ポイントA)から始まる。ステップ1705では最大許容乖離幅を設定する。この値はオペレータから与えられる。ステップ1710では、計測対象物の熱膨張係数(CTE)を調べ基準温度を設定する。素材が例えば鋼ならばCTEは例えば11.5μm/m/℃となる。基準温度としては、多くの素材で20℃を使用可能である。ステップ1715では、計測対象物上に第1及び第2基準再帰反射器を配置し基準温度における第1基準再帰反射器・第2基準再帰反射器間距離を第1距離と定義する。ステップ1720では、計測対象物の温度を計測する。ステップ1725では、計測対象物温度の計測結果から基準温度を減ずることで第1温度差を算出する。ステップ1730では、第1温度差に熱膨張係数を乗ずることでスケーリング係数を算出する。その単位は例えばμm/mとなる。言い換えれば、スケーリング係数は無名数である。ステップ1735では、ADM並びに第1及び第2角度トランスデューサを用い第1及び第2基準再帰反射器の三次元座標を計測する。ステップ1740では、計測結果に基づき第1基準再帰反射器から第2基準再帰反射器までの第2距離を算出する。ステップ1745では、第2距離から第1距離を減ずることで第3距離を算出する。ステップ1750では、第1距離にスケーリング係数を乗ずることで第4距離を算出する。ステップ1755では、第4距離から第3距離を減ずることで乖離幅を算出する。ステップ1760では、乖離幅が最大許容乖離幅を超過した場合に、警報を発する動作、或いは幾つかの再帰反射ターゲットについて三次元座標を計測しその結果に基づき計測対象物向け座標系を再特定する動作を実行する。この手順1700の目的は、熱による長さ変化の補償幅が長さ変化実測値と整合しているか否かをチェックすることである。長さ変化補償幅が長さ変化実測値と整合していない場合は、温度計測がうまくいっていない、CTE値が正確に与えられていない等、何らかの問題が生じている可能性がある。そのことがわかれば相応の対処を採ることができる。
いわゆる当業者には自明な通り、本発明は、システム、手順、コンピュータ向けプログラム等の諸形態で実施可能である。即ち、本発明は、ハードウェア的形態、ソフトウェア的形態(ファームウェア、レジデントソフトウェア、マイクロコード等)及びハードウェア・ソフトウェア併用的形態を含め、「回路」「モジュール」「システム」と呼称可能な諸形態で実施可能である。更に、本発明は、1個又は複数個のコンピュータ可読媒体にコンピュータ可読なプログラムコードを載せたコンピュータ向けプログラムの形態でも実施可能である。
コンピュータ可読媒体としては様々なものを様々な組合せで使用可能である。使用可能なコンピュータ可読媒体としてはコンピュータ可読信号媒体やコンピュータ可読記録媒体がある。使用可能なコンピュータ可読記録媒体としては、電子式、磁気式、光学式、電磁式、赤外線式若しくは半導体式の装置又はデバイスや、それらを任意且つ相応に組み合わせたものがある。より具体的には、導線を1本又は複数本有する電気回路網、ポータブルなコンピュータ用ディスケット、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリメモリ(ROM)、イレーザブルプログラマブルROM(EPROM乃至フラッシュメモリ)、光ファイバ、ポータブルなコンパクトディスクROM(CD−ROM)、光記録装置、磁気記録装置等をはじめ、様々な種類のコンピュータ可読媒体を、単独で又は任意且つ相応に組み合わせて使用することができる。本願でいうところの「コンピュータ可読記録媒体」には、命令実行システム、装置若しくはデバイスで使用され又はそれらと連携するプログラムを提供又は保存可能なあらゆる有形媒体が包含される。
コンピュータ可読媒体としては様々なものを様々な組合せで使用可能である。使用可能なコンピュータ可読媒体としてはコンピュータ可読信号媒体やコンピュータ可読記録媒体がある。使用可能なコンピュータ可読記録媒体としては、電子式、磁気式、光学式、電磁式、赤外線式又は半導体式の装置又はデバイスや、それらを任意且つ相応に組み合わせたものがある。より具体的には、導線を1本又は複数本有する電気回路網、ポータブルなコンピュータ用ディスケット、ハードディスク、ランダムアクセスメモリ(RAM)、リードオンリメモリ(ROM)、イレーザブルプログラマブルROM(EPROM乃至フラッシュメモリ)、光ファイバ、ポータブルなコンパクトディスクROM(CD−ROM)、光記録装置、磁気記録装置等をはじめ、様々な種類のコンピュータ可読媒体を、単独で又は任意且つ相応に組み合わせて使用することができる。本願でいうところの「コンピュータ可読記録媒体」には、命令実行システム、装置若しくはデバイスで使用され又はそれらと連携するプログラムを提供又は保存可能なあらゆる有形媒体が包含される。
コンピュータ可読信号媒体としては、コンピュータ可読なプログラムコードが例えばベースバンドで又は搬送波の一部として埋め込まれた伝搬性データ信号を使用することができる。そうした伝搬性信号が採りうる形態としては、電磁的形態、光学的形態等や、それらを任意且つ相応に組み合わせた形態がある。「コンピュータ可読信号媒体」には、命令実行システム、装置若しくはデバイスで使用され又はそれらと連携するプログラムを伝達、搬送又は移転可能で、コンピュータ可読記録媒体に該当しないあらゆるコンピュータ可読媒体が包含される。
コンピュータ可読媒体上に存するプログラムコードの送信には、無線媒体、優先媒体、光ファイバケーブル、無線周波数媒体等のうち相応の媒体や、それらを任意且つ相応に組み合わせたものを使用することができる。
本発明の諸実施形態に係る動作を指令するコンピュータプログラムのコードは、Java(登録商標)、Smalltalk(登録商標)、C++、C#等のオブジェクト指向型プログラミング言語やC等の旧来式手続き型プログラミング言語をはじめ、一種類若しくは複数種類のプログラミング言語又はその任意の組合せで記述することができる。プログラムコード全体をユーザコンピュータ上で実行する形態でも、プログラムコードの一部をスタンドアロンソフトウェアパッケージ化してユーザコンピュータ上で実行する形態でも、プログラムコードの一部をユーザコンピュータ上、他の一部をリモートコンピュータ上で実行する形態でも、或いはプログラムコード全体をリモートコンピュータ又はサーバ上で実行する形態でもよい。リモートコンピュータやサーバを利用する場合、それらとユーザコンピュータとの間は、ローカルエリアネットワーク(LAN)、ワイドエリアネットワーク(WAN)等のネットワークを介し、或いはインターネットサービスプロバイダによって提供されるインターネット接続等の対外部コンピュータ接続を介し、接続すればよい。また、前述の通り、本発明の諸実施形態に係る手順、装置、システム及びコンピュータプログラムの構成はフローチャートやブロック図で表すことができる。ご理解頂けるように、フローチャートを構成する個々のステップ、ブロック図を構成するブロック又はそれらの組合せはコンピュータプログラム向けの命令で実現することができる。
それらのコンピュータプログラム向け命令を、汎用コンピュータ、専用コンピュータその他のプログラマブルなデータ処理装置に備わるプロセッサに供給してマシンを構築すること、ひいてはそのプロセッサにその命令群を実行させることを通じ、フローチャート又はブロック図上のステップ、ブロック又はその組合せに係る機能又は動作の体現又は実行手段を提供することができる。また、プログラマブルなデータ処理装置例えばコンピュータ等の装置を相応の形態で機能させる命令群を、コンピュータ可読媒体に保存することによって、フローチャート又はブロック図上のステップ、ブロック又はその組合せに係る機能又は動作を体現し又は実行させる命令群が格納されたコンピュータ可読媒体を製造することができる。
更に、それらのコンピュータプログラム向け命令をプログラマブルなデータ処理装置例えばコンピュータ等の装置にロードし、その装置上で一連の動作ステップを実行させることによって、フローチャート又はブロック図上のステップ、ブロック又はその組合せに係る機能又は動作に対応した処理を含むコンピュータ利用型プロセスを、その装置上で実行させることができる。
図面のうちフローチャート及びブロック図は、本発明の諸実施形態に係るシステム、手順及びコンピュータプログラム製品で採用されうる構成、機能及び動作を示すためのものである。この点に関しては、フローチャート上の各ステップやブロック図上の各ブロックのなかに、モジュール、セグメント又はコード構成部分で表せるもの、例えば特定の論理的機能乃至機能群を体現する1個又は複数個の可実行命令で表せるものがあることに留意されたい。また、実施形態によっては、ステップ又はブロックで表現されている機能の発現順序が図中の順序と異なる順序になることにも留意されたい。例えば、図上では相次いで実行されている2個のステップが、他の機能との兼ね合いで、ほぼ同時に実行されることもあろうし、逆の順序で実行されることもあろう。更に、フローチャート又はブロック図上のステップ、ブロック又はその組合せを、特定の機能や動作しか担わない専用ハードウェア型システムで実行又は体現できることや、専用ハードウェアコンピュータ向け命令との組合せで実行又は体現できることにも留意されたい。
以上説明した好適な実施形態に関しては、本発明の技術的範囲内で様々に変形、置換等を施すことができる。即ち、本発明に関する以上の説明は例示であり限定ではないので、その点に留意されたい。
従って、本願記載の諸実施形態はあらゆる意味において例示的且つ非限定的なものであり、本発明の技術的範囲は以上の説明にではなく別紙特許請求の範囲に従い認定されるべきものであり、また別紙特許請求の範囲での記載に対し有意な相違がない変更や均等範囲に属する変更はいずれも本発明の技術的範囲に包含されるものである。
Claims (26)
- システムを用いて計測する方法であって、
一群の再帰反射ターゲット及びレーザトラッカを備えるシステムであって、前記一群の再帰反射ターゲットが、対象物上に配置されるよう構成された、少なくとも2つの再帰反射ターゲットを含み、前記少なくとも2つの再帰反射ターゲットが、第1ターゲットと第2ターゲットとを含み、レーザトラッカは第1座標系に準拠し、レーザトラッカ周辺に対して固定的であり、第1傾斜計と、構造体と、第1光源と、絶対距離計と、第1角度トランスデューサと、第2角度トランスデューサと、追尾システムと、第1カメラと、第2光源と、プロセッサと、メモリと、を備え、前記メモリは、前記プロセッサに機能的に結合され、前記第1傾斜計は、前記第1座標系の重力ベクタに対する第1傾斜角及び第2傾斜角を計測するよう構成され、前記構造体は第1軸周り及び第2軸周りで回動でき、前記第1光源は、前記絶対距離計と連携する第1光ビームを発し、前記第1角度トランスデューサは、前記第1軸周りの第1回転角を計測し、前記第2角度トランスデューサは、前記第2軸周りの第2回転角を計測し、前記追尾システムが、前記一群の再帰反射ターゲットのうちいずれかの再帰反射ターゲットの中心に向かうよう前記第1光ビームを移動させるよう構成され、前記第1カメラが第1レンズ系と第1感光アレイとを有し、前記第2光源が、第2光ビームを発し、前記プロセッサが、前記レーザトラッカを操作するよう構成されているシステム、を準備するステップと、
前記プロセッサを用いて、前記第1ターゲット、前記第2ターゲット、及び少なくとも1つの補助点の、第2座標系準拠の三次元座標である定格座標のリストを前記メモリに保存するステップと、
第2傾斜計を用いて、前記第2座標系の重力ベクトルに対する第3傾斜角及び第4傾斜角を計測するステップと、
前記第2光ビームのうち前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットで反射された部分を前記第1感光アレイで捉えるステップと、
前記プロセッサによって、前記第2光ビームの前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットで反射された部分に基づき、前記第1感光アレイ上の第1スポット位置及び第2スポット位置を特定するステップと、
前記プロセッサによって、前記第1スポット位置及び前記第2スポット位置と前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの保存された定格座標とのそれぞれの対応関係を特定するステップと、
前記第1ターゲットの保存された定格座標、前記第1スポット位置、前記第1傾斜角、前記第2傾斜角、前記第3傾斜角、及び前記第4傾斜角に少なくとも部分的に基づき、前記プロセッサによって、前記第1光ビームを前記第1ターゲットに向けるステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記第1ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
前記第2ターゲットの保存された定格座標、前記第2スポット位置、前記第1傾斜角、前記第2傾斜角、前記第3傾斜角、及び前記第4傾斜角に少なくとも部分的に基づき、前記プロセッサによって、前記第1光ビームを前記第2ターゲットに向けるステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記第2ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
前記プロセッサによって、前記第1光ビームを、前記少なくとも1つの補助点を含み、オペレータによって実行すべき動作を示す、複数の補助点へ向けるステップと、
前記第1ターゲットの計測された三次元座標と、前記第2ターゲットの計測された三次元座標と、前記少なくとも1つの補助点の保存された定格座標と、前記第1傾斜角と、前記第2傾斜角と、前記第3傾斜角と、前記第4傾斜角と、に少なくとも部分的に基づき、前記第1座標系に準拠した前記少なくとも1つの補助点の三次元座標を特定するステップと、
前記プロセッサによって、前記少なくとも1つの補助点の特定された三次元座標を前記メモリに保存するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、更に、
前記第1光ビームが前記少なくとも1つの補助点に向けられたことに応答して、前記オペレータにより、選択した再帰反射ターゲットを配置して、前記第1光ビームの少なくとも一部を捕捉するステップであって、前記選択された再帰反射ターゲットは、前記一群の再帰反射ターゲットのうちから選ばれるいずれかの再帰反射ターゲットである、ステップと、
前記プロセッサによって、前記第1光ビームを前記選択された再帰反射ターゲットの中心へと向けるステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記選択された再帰反射ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項2記載の計測方法であって、前記選択された再帰反射ターゲットを配置して前記第1光ビームの少なくとも一部を捕捉するステップが、
前記選択された再帰反射ターゲットを移動させて前記第1光ビームの少なくとも一部を捕捉するステップと、
前記選択された再帰反射ターゲットを、前記第1光ビームの少なくとも一部を捕捉する位置にある固定型ネストに配置するステップと、のうちから選択されるいずれか1つのステップ、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、更に、
前記プロセッサによって、前記少なくとも1つの補助点に近在する第1パターンに従い空間内で第1光ビームを移動させるステップと、
前記第1光ビームの選択された再帰反射ターゲットによる反射を前記追尾システムによって検出するステップであって、前記選択された再帰反射ターゲットは、前記一群の再帰反射ターゲットのうちのいずれかの再帰反射ターゲットであるステップと、
前記プロセッサによって、前記第1光ビームを選択された前記再帰反射ターゲットの中心に向けるステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、選択された前記再帰反射ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、更に、
前記レーザトラッカに第2カメラ及び第3光源を準備するステップであって、前記第2カメラは、第2レンズ系と第2感光アレイとを備え、前記第1カメラの第1視野よりも狭い第2視野を有し、前記第3光源は、第3光ビームを発する、第2カメラ及び第3光源を準備するステップと、
前記第2感光アレイで、前記第3光ビームのうち前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットで反射された部分を捉えるステップと、
前記プロセッサによって、前記第3光ビームの前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットで反射された部分に基づき前記第2感光アレイ上の第3スポット位置及び第4スポット位置を特定するステップと、
前記プロセッサによって、前記第3スポット位置及び前記第4スポット位置と前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの保存された定格座標との対応関係をそれぞれ特定するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、前記第1感光アレイで、前記第2光ビームの前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットで反射された部分を捉えるステップが更に、
前記第1感光アレイが前記第1スポット位置と前記第2スポット位置とを同時に取得するように、スタンド上に前記レーザトラッカを配置するステップと、
前記第1カメラ及び前記第2光源を前記第1軸周りに複数の向きに回転させて、前記第1感光アレイが前記複数の向きのうちの第1の向きで前記第1スポット位置を取得し、前記複数の向きのうちの第2の向きで前記第2のスポット位置を取得するようにするステップと、
前記一群の再帰反射ターゲットから選択された再帰反射ターゲットを移動させて、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットを含む空間領域の境界を定めるステップであって、前記空間領域が、前記追尾システムによって前記選択された再帰反射ターゲットを追尾すること又は前記第1感光アレイ上の前記選択された再帰反射ターゲットの移動を追尾することによって、前記レーザトラッカによって特定される、ステップと、から選択されるいずれか1つのステップ、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、前記システムを準備するステップが更に、前記トラッカに第3カメラ及び第4光源を準備するステップであって、前記第3カメラが第3レンズ系と第3感光アレイを備え、前記第4光源が第4光ビームを発する、第3カメラ及び第4光源を準備するステップを有し、前記プロセッサが、前記一群の再帰反射ターゲットのうちのいずれかの再帰反射ターゲットの三次元座標を算出するよう構成され、前記三次元座標は、前記第1感光アレイ上の第1画像と、前記第3感光アレイ上の第3画像とに少なくとも部分的に基づいて算出され、前記第1画像及び前記第3画像はいずれかの再帰反射ターゲットで反射された前記第2光ビーム及び前記第4光ビームに応答して得られる、システムを用いて計測する方法。
- 請求項1記載の計測方法であって、前記プロセッサによって前記第1スポット位置及び前記第2スポット位置と、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの保存された定格座標との対応関係を特定するステップが、
前記第1座標系と前記第2座標系との間の許容相対向きの範囲及び前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づいて前記対応関係を特定するステップと、
第1時点で、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットへの前記第2光ビームの照射に応答した前記第1感光アレイ上の第1像群を収集し、前記第1回転角及び前記第2回転角の1つを変更し、第2時点に、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットへの前記第2光ビームの照射に応答した前記第1感光アレイ上の第2像群を収集し、前記第1像群及び前記第2像群に少なくとも部分的に基づいて前記第1スポット位置及び前記第2スポット位置と、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの定格座標との対応関係を特定するステップと、
第3時点に、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットへの前記第2光ビームの照射に応答して前記第1感光アレイ上の第3像群を収集し、前記第1座標系に対する前記第2座標系の位置を変更し、第4時点に、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットへの前記第2光ビームの照射に応答して前記第1感光アレイ上の第4像群を収集し、前記第3像群及び前記第4像群に少なくとも部分的に基づいて、前記第1スポット位置及び前記第2スポット位置と、前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの定格座標との間の対応関係を特定するステップと、から選択されるいずれか1つのステップを含む、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、前記第1ターゲットと、前記第2ターゲットと、前記少なくとも1つの補助点と、の定格座標のリストを保存するステップが、
コンピュータ援用設計(CAD)モデルから定格座標を抽出するステップと、
3D計測装置で定格座標を計測するステップと、から選択されるいずれか1つのステップを含む、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、更に、
前記複数の補助点により指定された、選択された再帰反射ターゲットを摘取する動作と、
前記複数の補助点によって示された方向に前記選択された再帰反射ターゲットを移動させ、前記選択された再帰反射ターゲットによって前記第1光ビームを捉え、前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて前記少なくとも1つの補助点の三次元座標を計測する動作と、
前記複数の補助点により形成されたパターンを観察し、前記選択された再帰反射ターゲットによって前記第1光ビームを捉え、前記パターンに沿った三次元点を計測する動作と、
前記複数の補助点により形成されたパターンを観察し、前記点をジェスチャコマンドとして解釈し、前記ジェスチャコマンドにより示された動作を行う動作と、から選択される、オペレータが実行する動作を含む、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、前記少なくとも1つの補助点の三次元座標を特定するステップが、
前記第1ターゲット及び前記第2ターゲットの定格座標に少なくとも部分的に基づいて、任意の前記第2座標系準拠の三次元座標から任意の前記第1座標系準拠の三次元座標へ変換する変換行列を算出するステップと、
前記変換行列と前記少なくとも1つの補助点の定格座標に少なくとも部分的に基づいて、前記少なくとも1つの補助点の三次元座標を算出するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、前記システムを準備するステップが、3つの互いに垂直な反射表面を有するキューブコーナを備えた再帰反射器を、前記一群の再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの再帰反射ターゲットとして準備するステップ、を含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項1記載の計測方法であって、前記システムを準備するステップが、球面に埋め込まれたキューブコーナ再帰反射器を有する球実装再帰反射器を、前記一群の再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの再帰反射ターゲットとして準備するステップ、を含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項1記載の計測方法であって、前記システムを準備するステップが、球面に中心を有する反射点を、前記一群の再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの再帰反射ターゲットとして準備するステップ、を含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項2記載の計測方法であって、更に、検査計画に従って計測を実行するステップを有する、システムを用いて計測する方法。
- 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を実行するステップが更に、オペレータの介入なく自動的に計測を行うステップを含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を実行するステップが更に、前記第1光ビームを移動させ、オペレータに前記選択された再帰反射ターゲットを移動させて前記検査計画に従って計測を実行するように示唆するステップ、を含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を実行するステップが更に、前記オペレータが前記選択された再帰反射ターゲットを誤った位置に配置したことを検出し、前記オペレータに前記選択された再帰反射ターゲットを正しい位置に移動させるよう示唆するステップであって、前記レーザトラッカが前記第1光ビームを移動させて前記選択された再帰反射ターゲットの正しい位置を前記オペレータに示す、ステップを含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項1記載の計測方法であって、更に、
前記第1光ビームを前記少なくとも1つの補助点に向けるステップと、
前記第1光ビームの位置において加工動作を実行するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項19記載の方法であって、前記加工動作を実行するステップが、前記第1光ビームの位置にある前記対象物に穿孔するステップを含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項2記載の方法であって、更に、
前記レーザトラッカで計測すべき検査点を含む検査計画を準備するステップと、
少なくとも1つの再帰反射ターゲットを試験中の前記対象物に固定するステップと、
試験中の前記対象物に固定された前記少なくとも2つの再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの最大許容移動量を設定するステップと、
試験中の前記対象物に固定された前記少なくとも2つの再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの三次元座標を、第1時点と第2時点で計測するステップと、
前記少なくとも2つの再帰反射ターゲットのうちの少なくとも1つの前記三次元座標の、前記第1時点から前記第2時点までの第1変化を特定するステップと、
前記第1変化が前記最大許容移動量を超過する場合に、
試験中の前記対象物上の前記一群の再帰反射ターゲットのうちの少なくとも3つの再帰反射ターゲットを計測し、前記検査点の三次元座標を再確立する動作と、
前記オペレータに、前記第1変化が前記最大許容移動量を超過したことを通知する動作と、のうちの1つの動作を行うステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項1記載の計測方法であって、更に、
最大許容乖離幅を設定するステップと、
試験中の前記対象物の熱膨張計数を取得するステップと、
基準温度を取得するステップと、
試験中の前記対象物上に、前記基準温度において、第1の距離をおいて、第1基準再帰反射器と第2基準反射器とを配置するステップと、
試験中の前記対象物の温度を計測するステップと、
試験中の前記対象物の計測された前記温度から前記基準温度を減ずることで第1の温度差を算出するステップと、
前記第1温度差に前記熱膨張係数を乗ずることでスケーリング係数を算出するステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記第1基準再帰反射器の三次元座標を計測するステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記第2基準再帰反射器の三次元座標を計測するステップと、
前記第1基準再帰反射器の計測された前記三次元座標から前記第2基準再帰反射器の計測された前記三次元座標へと伸びる第2距離を算出するステップと、
前記第2距離から前記第1距離を減ずることで第3距離を算出するステップと、
前記第1距離に前記スケーリング係数を乗ずることで第4距離を算出するステップと、
前記第4距離から前記第3距離を減ずることで乖離値を算出するステップと、
前記乖離値が前記最大許容乖離幅を超過する場合に、警告を発する動作か前記一群の再帰反射ターゲットのうちの少なくともいくつかの再帰反射ターゲットの三次元座標を計測し試験中の前記対象物の座標系を再確立する動作のいずれかの動作を行うステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を実行するステップが、
コンピュータ援用設計(CAD)により得られ、前記第1座標系に変換されたデータからの導出によりターゲット点の定格座標を取得するステップと、
第1半径を有する球面に埋め込まれたキューブコーナ再帰反射器を備える球実装再帰反射器を前記選択された再帰反射ターゲットとして準備するステップと、
前記ターゲット点に保持する又は前記ターゲット点を示す磁気ネスト上に配置することにより、前記選択された再帰反射ターゲットを前記ターゲット点の位置に配置するステップと、
前記絶対距離計、前記第1角度トランスデューサ、及び前記第2角度トランスデューサを用いて、前記選択された再帰反射ターゲットの三次元座標を計測するステップと、
前記選択された再帰反射ターゲットの計測された前記三次元座標と前記第1半径とに少なくとも部分的に基づいて前記計測されたターゲット点の三次元座標を算出するステップと、
前記計測されたターゲット点の三次元座標と前記ターゲット点の前記定格座標との間の第1差分を算出するステップと、
第1差分の指標を提示するステップと、
を有する、システムを用いて計測する方法。 - 請求項23記載の計測方法であって、前記第1差分の指標を提示するステップが、前記第1差分が第1許容差分を超過する場合に警報を発するステップを含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を行うステップが、二面計測を実行して二面誤差を求めるステップと、前記二面誤差が最大許容二面誤差値を超過する場合に警報を発するステップと、を含む、システムを用いて計測する方法。
- 請求項15記載の計測方法であって、前記検査計画に従って計測を行うステップが、2つのターゲット点の三次元座標を計測するステップと、前記2つのターゲット点の相対位置が最大許容ターゲット変化値を超過する場合に警報を発するステップと、を含む、システムを用いて計測する方法。
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---|---|---|---|
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---|---|
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DE (4) | DE112012006681A5 (ja) |
GB (4) | GB2516528B (ja) |
WO (1) | WO2012125671A1 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016133508A (ja) * | 2015-01-21 | 2016-07-25 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | 大型構造用の自動予測シミングのためのシステム、方法及び装置 |
US11084171B2 (en) | 2017-11-22 | 2021-08-10 | Fanuc Corporation | Tool posture control apparatus |
WO2024100738A1 (ja) * | 2022-11-07 | 2024-05-16 | 株式会社ニコン | 計測システム、工作機械、光学装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
Families Citing this family (203)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7444752B2 (en) * | 2005-09-28 | 2008-11-04 | Hunter Engineering Company | Method and apparatus for vehicle service system optical target |
DE102006031580A1 (de) | 2006-07-03 | 2008-01-17 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Erfassen eines Raumbereichs |
US9482755B2 (en) | 2008-11-17 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker |
EP2226610A1 (de) * | 2009-03-06 | 2010-09-08 | Leica Geosystems AG | Geodätisches Vermessungssystem und Verfahren zum Identifizieren einer Zieleinheit mit einem geodätischen Vermessungsgerät |
US9551575B2 (en) | 2009-03-25 | 2017-01-24 | Faro Technologies, Inc. | Laser scanner having a multi-color light source and real-time color receiver |
DE102009015920B4 (de) | 2009-03-25 | 2014-11-20 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US9113023B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-08-18 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with spectroscopic energy detector |
US9210288B2 (en) | 2009-11-20 | 2015-12-08 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with dichroic beam splitters to capture a variety of signals |
US9529083B2 (en) | 2009-11-20 | 2016-12-27 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional scanner with enhanced spectroscopic energy detector |
DE102009057101A1 (de) | 2009-11-20 | 2011-05-26 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US9879976B2 (en) | 2010-01-20 | 2018-01-30 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine that uses a 2D camera to determine 3D coordinates of smoothly continuous edge features |
US9163922B2 (en) | 2010-01-20 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter and camera to determine dimensions within camera images |
US9607239B2 (en) | 2010-01-20 | 2017-03-28 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations |
US8898919B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-12-02 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machine with distance meter used to establish frame of reference |
US8875409B2 (en) | 2010-01-20 | 2014-11-04 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
US9628775B2 (en) | 2010-01-20 | 2017-04-18 | Faro Technologies, Inc. | Articulated arm coordinate measurement machine having a 2D camera and method of obtaining 3D representations |
US8832954B2 (en) * | 2010-01-20 | 2014-09-16 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
DE112011100300T5 (de) | 2010-01-20 | 2013-03-07 | Faro Technologies, Inc. | Integriertes Temperaturmesssystem für Teile |
US9377885B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-06-28 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9772394B2 (en) | 2010-04-21 | 2017-09-26 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker |
US9400170B2 (en) | 2010-04-21 | 2016-07-26 | Faro Technologies, Inc. | Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker |
DE102010020925B4 (de) | 2010-05-10 | 2014-02-27 | Faro Technologies, Inc. | Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US8943701B2 (en) * | 2010-06-28 | 2015-02-03 | Trimble Navigation Limited | Automated layout and point transfer system |
DE102010041330A1 (de) * | 2010-09-24 | 2012-03-29 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Optische Positionsmessvorrichtung |
US12025807B2 (en) | 2010-10-04 | 2024-07-02 | Gerard Dirk Smits | System and method for 3-D projection and enhancements for interactivity |
US9168654B2 (en) | 2010-11-16 | 2015-10-27 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measuring machines with dual layer arm |
CN102096069B (zh) * | 2010-12-17 | 2012-10-03 | 浙江大学 | 一种相控阵三维声学摄像声纳实时处理***和方法 |
JP5797282B2 (ja) | 2011-03-03 | 2015-10-21 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | ターゲット装置及び方法 |
US9164173B2 (en) | 2011-04-15 | 2015-10-20 | Faro Technologies, Inc. | Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light |
US9686532B2 (en) | 2011-04-15 | 2017-06-20 | Faro Technologies, Inc. | System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices |
US9482529B2 (en) | 2011-04-15 | 2016-11-01 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
WO2012141868A1 (en) | 2011-04-15 | 2012-10-18 | Faro Technologies, Inc. | Enhanced position detector in laser tracker |
EP2602641B1 (de) * | 2011-12-06 | 2014-02-26 | Leica Geosystems AG | Lasertracker mit positionssensitiven Detektoren zur Suche eines Ziels |
DE102012100609A1 (de) * | 2012-01-25 | 2013-07-25 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
GB2515922A (en) | 2012-01-27 | 2015-01-07 | Faro Tech Inc | Inspection method with barcode identification |
CN103376058A (zh) * | 2012-04-28 | 2013-10-30 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 温度补偿***及方法 |
US9383753B1 (en) * | 2012-09-26 | 2016-07-05 | Google Inc. | Wide-view LIDAR with areas of special attention |
US10067231B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-09-04 | Faro Technologies, Inc. | Registration calculation of three-dimensional scanner data performed between scans based on measurements by two-dimensional scanner |
DE102012109481A1 (de) | 2012-10-05 | 2014-04-10 | Faro Technologies, Inc. | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
US9513107B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-12-06 | Faro Technologies, Inc. | Registration calculation between three-dimensional (3D) scans based on two-dimensional (2D) scan data from a 3D scanner |
DE102012021274B4 (de) * | 2012-10-29 | 2016-06-02 | Audi Ag | Vorrichtung zum Vermessen eines Karosseriebauteils eines Kraftfahrzeugs |
US20140132729A1 (en) * | 2012-11-15 | 2014-05-15 | Cybernet Systems Corporation | Method and apparatus for camera-based 3d flaw tracking system |
US9746560B2 (en) | 2013-02-12 | 2017-08-29 | Faro Technologies, Inc. | Combination scanner and tracker device having a focusing mechanism |
US8842273B2 (en) | 2013-02-14 | 2014-09-23 | United Sciences, Llc | Optical measurement of drilled holes |
CZ310064B6 (en) * | 2013-02-27 | 2024-07-10 | České vysoké učení technické v Praze | A method of increasing an accuracy of optical measurement of position of a point in space using redundant measurement |
US9188430B2 (en) | 2013-03-14 | 2015-11-17 | Faro Technologies, Inc. | Compensation of a structured light scanner that is tracked in six degrees-of-freedom |
US9041914B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-05-26 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate scanner and method of operation |
EP2806248B1 (de) * | 2013-04-12 | 2018-09-12 | Leica Geosystems AG | Verfahren zur Kalibrierung einer Erfassungseinrichtung und Erfassungseinrichtung |
US9234742B2 (en) * | 2013-05-01 | 2016-01-12 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker |
EP2801841B1 (de) | 2013-05-10 | 2018-07-04 | Leica Geosystems AG | Lasertracker mit einer Zielerfassungseinheit für eine Zielverfolgung und eine Orientierungserkennung |
US9789462B2 (en) * | 2013-06-25 | 2017-10-17 | The Boeing Company | Apparatuses and methods for accurate structure marking and marking-assisted structure locating |
CN103345269B (zh) * | 2013-06-30 | 2017-08-25 | 湖南农业大学 | 一种激光发射装置及自动追踪方法 |
US9113154B2 (en) | 2013-07-10 | 2015-08-18 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional measurement device having three-dimensional overview camera |
US9157795B1 (en) * | 2013-07-16 | 2015-10-13 | Bot & Dolly, Llc | Systems and methods for calibrating light sources |
US9188775B2 (en) | 2013-08-28 | 2015-11-17 | United Sciences, Llc | Optical scanning and measurement |
US9753049B1 (en) * | 2013-09-06 | 2017-09-05 | Non-Inertial Technology, LLC | Collinear system to determine its own displacement from its own motion |
US20150098079A1 (en) * | 2013-10-09 | 2015-04-09 | Hilti Aktiengesellschaft | System and method for camera based position and orientation measurement |
EP2881704B1 (en) * | 2013-12-04 | 2018-05-09 | Hexagon Technology Center GmbH | Systems and methods for automated measurement of an object and corresponding computer programme product |
US9121689B2 (en) | 2013-12-11 | 2015-09-01 | Faro Technologies, Inc. | Method for correcting a spherically mounted retroreflector when resetting a distance meter |
US9347767B2 (en) | 2013-12-11 | 2016-05-24 | Faro Technologies, Inc. | Spherically mounted retroreflector and method to minimize measurement error |
US8947678B2 (en) * | 2013-12-11 | 2015-02-03 | Faro Technologies, Inc. | Method for correcting three-dimensional measurements of a spherically mounted retroreflector |
US9329028B2 (en) * | 2013-12-11 | 2016-05-03 | Faro Technologies, Inc. | Spherically mounted retroreflector having an embedded temperature sensor and socket |
US9239238B2 (en) | 2013-12-11 | 2016-01-19 | Faro Technologies, Inc. | Method for correcting a 3D measurement of a spherically mounted retroreflector on a nest |
US9423492B2 (en) | 2013-12-11 | 2016-08-23 | Faro Technologies, Inc. | Method for finding a home reference distance using a spherically mounted retroreflector |
US9074869B2 (en) | 2013-12-11 | 2015-07-07 | Faro Technologies, Inc. | Method for measuring 3D coordinates of a spherically mounted retroreflector from multiple stations |
US9594250B2 (en) | 2013-12-18 | 2017-03-14 | Hexagon Metrology, Inc. | Ultra-portable coordinate measurement machine |
JP6284268B2 (ja) * | 2014-03-18 | 2018-02-28 | スターテクノ株式会社 | ワーク加工装置 |
JP2015184279A (ja) * | 2014-03-24 | 2015-10-22 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | 基準フレームを確立するために使用される距離計を備える座標測定機 |
US9395174B2 (en) | 2014-06-27 | 2016-07-19 | Faro Technologies, Inc. | Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit |
EP2980599A1 (de) * | 2014-08-01 | 2016-02-03 | Hilti Aktiengesellschaft | Trackingverfahren und Trackingsystem |
EP2980528A1 (de) * | 2014-08-01 | 2016-02-03 | HILTI Aktiengesellschaft | Trackingverfahren und Trackingsystem |
CN104315983B (zh) * | 2014-10-16 | 2017-02-15 | 天津大学 | 利用空间多长度约束增强坐标测量场精度的方法 |
US9396554B2 (en) | 2014-12-05 | 2016-07-19 | Symbol Technologies, Llc | Apparatus for and method of estimating dimensions of an object associated with a code in automatic response to reading the code |
EP3032277B1 (de) * | 2014-12-12 | 2021-04-07 | Leica Geosystems AG | Lasertracker |
US10126415B2 (en) * | 2014-12-31 | 2018-11-13 | Faro Technologies, Inc. | Probe that cooperates with a laser tracker to measure six degrees of freedom |
CN104697487B (zh) * | 2015-04-02 | 2017-06-06 | 北京天源科创风电技术有限责任公司 | 一种平面法线方位角测量方法及其应用 |
DE102016107312A1 (de) * | 2015-04-28 | 2016-11-03 | Faro Technologies Inc. | Kombiniertes Scanner- und Trackergerät mit einem Fokussiermechanismus |
DE102016108587A1 (de) | 2015-05-20 | 2016-11-24 | Faro Technologies, Inc. | Automatische Messung von Dimensionsdaten in einer Akzeptanzregion durch einen Lasertracker |
US10408922B2 (en) * | 2015-07-10 | 2019-09-10 | Ams Sensors Singapore Pte. Ltd. | Optoelectronic module with low- and high-power illumination modes |
US9645012B2 (en) | 2015-08-17 | 2017-05-09 | The Boeing Company | Rapid automated infrared thermography for inspecting large composite structures |
JP6498568B2 (ja) | 2015-08-27 | 2019-04-10 | 三菱重工業株式会社 | 組立体製造装置及び組立体製造方法 |
DE102016205139B4 (de) * | 2015-09-29 | 2022-10-27 | Volkswagen Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Charakterisierung von Objekten |
CN105423955B (zh) * | 2015-11-26 | 2017-11-21 | 江苏理工学院 | 碳纤维复合材料车身构件测量装置 |
US9753126B2 (en) | 2015-12-18 | 2017-09-05 | Gerard Dirk Smits | Real time position sensing of objects |
DE102015122844A1 (de) | 2015-12-27 | 2017-06-29 | Faro Technologies, Inc. | 3D-Messvorrichtung mit Batteriepack |
US10352689B2 (en) * | 2016-01-28 | 2019-07-16 | Symbol Technologies, Llc | Methods and systems for high precision locationing with depth values |
US10145955B2 (en) | 2016-02-04 | 2018-12-04 | Symbol Technologies, Llc | Methods and systems for processing point-cloud data with a line scanner |
US10591593B2 (en) | 2016-03-19 | 2020-03-17 | Hipscience, Llc | Point of reference displacement and motion sensor |
US10721451B2 (en) * | 2016-03-23 | 2020-07-21 | Symbol Technologies, Llc | Arrangement for, and method of, loading freight into a shipping container |
US10578719B2 (en) | 2016-05-18 | 2020-03-03 | James Thomas O'Keeffe | Vehicle-integrated LIDAR system |
WO2017200896A2 (en) | 2016-05-18 | 2017-11-23 | James O'keeffe | A dynamically steered lidar adapted to vehicle shape |
WO2018128655A2 (en) | 2016-09-25 | 2018-07-12 | Okeeffe James | Distributed laser range finder with fiber optics and micromirrors |
US11340338B2 (en) | 2016-08-10 | 2022-05-24 | James Thomas O'Keeffe | Distributed lidar with fiber optics and a field of view combiner |
WO2018031830A1 (en) | 2016-08-10 | 2018-02-15 | Okeeffe James | Laser range finding with enhanced utilization of a remotely located mirror |
US10444368B2 (en) | 2016-08-18 | 2019-10-15 | Rosemount Aerospace Inc. | Measuring cloud metrics using diverging quasi-optical radar |
DE102017118671B4 (de) | 2016-08-19 | 2019-06-13 | National Research Council Of Canada | Verfahren, Kit und Target für Multimodales 3D-Bildgebungssystem |
US10776661B2 (en) | 2016-08-19 | 2020-09-15 | Symbol Technologies, Llc | Methods, systems and apparatus for segmenting and dimensioning objects |
WO2018126248A1 (en) | 2017-01-02 | 2018-07-05 | Okeeffe James | Micromirror array for feedback-based image resolution enhancement |
WO2018044958A1 (en) | 2016-08-29 | 2018-03-08 | Okeeffe James | Laser range finder with smart safety-conscious laser intensity |
CN106441090B (zh) * | 2016-08-30 | 2018-12-28 | 博众精工科技股份有限公司 | 一种基于镭射引导式测量的产品测量点位自动计算***及方法 |
US10408940B2 (en) | 2016-09-25 | 2019-09-10 | James Thomas O'Keeffe | Remote lidar with coherent fiber optic image bundle |
US20180095174A1 (en) | 2016-09-30 | 2018-04-05 | Faro Technologies, Inc. | Three-dimensional coordinate measuring device |
US11042161B2 (en) | 2016-11-16 | 2021-06-22 | Symbol Technologies, Llc | Navigation control method and apparatus in a mobile automation system |
US10451405B2 (en) | 2016-11-22 | 2019-10-22 | Symbol Technologies, Llc | Dimensioning system for, and method of, dimensioning freight in motion along an unconstrained path in a venue |
US10354411B2 (en) | 2016-12-20 | 2019-07-16 | Symbol Technologies, Llc | Methods, systems and apparatus for segmenting objects |
US11002855B2 (en) | 2016-12-27 | 2021-05-11 | Microvision, Inc. | Occlusion-based height estimation |
US10761188B2 (en) * | 2016-12-27 | 2020-09-01 | Microvision, Inc. | Transmitter/receiver disparity for occlusion-based height estimation |
CN110226184B (zh) * | 2016-12-27 | 2023-07-14 | 杰拉德·迪尔克·施密茨 | 用于机器感知的***和方法 |
US10866320B2 (en) | 2017-01-13 | 2020-12-15 | Faro Technologies, Inc. | Remote control of a laser tracker using a mobile computing device |
ES2676050A1 (es) * | 2017-01-13 | 2018-07-16 | Tecnatom, S.A. | Celda y procedimiento de inspección con posicionamiento visual |
TWI616646B (zh) * | 2017-02-24 | 2018-03-01 | 財團法人工業技術研究院 | 雷射測距裝置 |
US10318822B2 (en) * | 2017-04-06 | 2019-06-11 | GM Global Technology Operations LLC | Object tracking |
US11093896B2 (en) | 2017-05-01 | 2021-08-17 | Symbol Technologies, Llc | Product status detection system |
US11367092B2 (en) | 2017-05-01 | 2022-06-21 | Symbol Technologies, Llc | Method and apparatus for extracting and processing price text from an image set |
US11449059B2 (en) | 2017-05-01 | 2022-09-20 | Symbol Technologies, Llc | Obstacle detection for a mobile automation apparatus |
US10591918B2 (en) | 2017-05-01 | 2020-03-17 | Symbol Technologies, Llc | Fixed segmented lattice planning for a mobile automation apparatus |
US10663590B2 (en) | 2017-05-01 | 2020-05-26 | Symbol Technologies, Llc | Device and method for merging lidar data |
WO2018204308A1 (en) | 2017-05-01 | 2018-11-08 | Symbol Technologies, Llc | Method and apparatus for object status detection |
US10726273B2 (en) | 2017-05-01 | 2020-07-28 | Symbol Technologies, Llc | Method and apparatus for shelf feature and object placement detection from shelf images |
US10949798B2 (en) | 2017-05-01 | 2021-03-16 | Symbol Technologies, Llc | Multimodal localization and mapping for a mobile automation apparatus |
US11600084B2 (en) | 2017-05-05 | 2023-03-07 | Symbol Technologies, Llc | Method and apparatus for detecting and interpreting price label text |
US10690498B2 (en) * | 2017-05-10 | 2020-06-23 | Trimble, Inc. | Automatic point layout and staking system |
CN106989660B (zh) * | 2017-05-24 | 2019-04-23 | 大连理工大学 | 一种复杂位置金属平面的空间三维信息获取方法 |
US10625427B2 (en) | 2017-06-14 | 2020-04-21 | The Boeing Company | Method for controlling location of end effector of robot using location alignment feedback |
US10814480B2 (en) | 2017-06-14 | 2020-10-27 | The Boeing Company | Stabilization of tool-carrying end of extended-reach arm of automated apparatus |
CN107300685B (zh) * | 2017-06-30 | 2020-04-28 | 电子科技大学 | 一种用激光对目标物进行定位的装置及方法 |
CN109282750B (zh) * | 2017-07-21 | 2020-10-16 | 镱钛科技股份有限公司 | 光学量测***、光学量测装置及其量测方法 |
US10495421B2 (en) | 2017-08-25 | 2019-12-03 | Aurora Flight Sciences Corporation | Aerial vehicle interception system |
US11064184B2 (en) | 2017-08-25 | 2021-07-13 | Aurora Flight Sciences Corporation | Aerial vehicle imaging and targeting system |
US10521914B2 (en) | 2017-09-07 | 2019-12-31 | Symbol Technologies, Llc | Multi-sensor object recognition system and method |
US10572763B2 (en) | 2017-09-07 | 2020-02-25 | Symbol Technologies, Llc | Method and apparatus for support surface edge detection |
US10791275B2 (en) * | 2017-09-25 | 2020-09-29 | The Boeing Company | Methods for measuring and inspecting structures using cable-suspended platforms |
CN107765236B (zh) * | 2017-09-30 | 2023-04-14 | 西安科技大学 | 一种综采工作面液压支架绝对位置和姿态检测装置及方法 |
CN108286997B (zh) * | 2018-01-16 | 2024-05-10 | 广东省特种设备检测研究院珠海检测院 | 一种激光跟踪测量***及方法 |
US10823572B2 (en) | 2018-04-05 | 2020-11-03 | Symbol Technologies, Llc | Method, system and apparatus for generating navigational data |
US10809078B2 (en) | 2018-04-05 | 2020-10-20 | Symbol Technologies, Llc | Method, system and apparatus for dynamic path generation |
US11327504B2 (en) | 2018-04-05 | 2022-05-10 | Symbol Technologies, Llc | Method, system and apparatus for mobile automation apparatus localization |
US10740911B2 (en) | 2018-04-05 | 2020-08-11 | Symbol Technologies, Llc | Method, system and apparatus for correcting translucency artifacts in data representing a support structure |
US10832436B2 (en) | 2018-04-05 | 2020-11-10 | Symbol Technologies, Llc | Method, system and apparatus for recovering label positions |
US10634632B2 (en) | 2018-04-25 | 2020-04-28 | The Boeing Company | Methods for inspecting structures having non-planar surfaces using location alignment feedback |
CN108917612B (zh) * | 2018-05-18 | 2024-05-17 | 山西新日升昌电子科技有限公司 | 跟踪式位移传感器及其测量方法 |
CN109115191B (zh) * | 2018-08-03 | 2020-07-31 | 华南农业大学 | 全站仪多方位坐标测量方法 |
US11010920B2 (en) | 2018-10-05 | 2021-05-18 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for object detection in point clouds |
US11506483B2 (en) | 2018-10-05 | 2022-11-22 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for support structure depth determination |
CN109540109B (zh) * | 2018-10-30 | 2021-06-22 | 司会敏 | 建筑施工用测绘仪器保护装置 |
US11003188B2 (en) | 2018-11-13 | 2021-05-11 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for obstacle handling in navigational path generation |
US11090811B2 (en) | 2018-11-13 | 2021-08-17 | Zebra Technologies Corporation | Method and apparatus for labeling of support structures |
US11416000B2 (en) | 2018-12-07 | 2022-08-16 | Zebra Technologies Corporation | Method and apparatus for navigational ray tracing |
US11079240B2 (en) | 2018-12-07 | 2021-08-03 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for adaptive particle filter localization |
US11100303B2 (en) | 2018-12-10 | 2021-08-24 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for auxiliary label detection and association |
US11015938B2 (en) | 2018-12-12 | 2021-05-25 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for navigational assistance |
US10731970B2 (en) | 2018-12-13 | 2020-08-04 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for support structure detection |
CA3028708A1 (en) | 2018-12-28 | 2020-06-28 | Zih Corp. | Method, system and apparatus for dynamic loop closure in mapping trajectories |
CN109631771B (zh) * | 2018-12-29 | 2024-01-16 | 西安联创兴科测控科技有限公司 | 基于多靶标图像处理的裂缝动态变化传感器及裂缝测量方法 |
CN109884658B (zh) * | 2019-03-04 | 2020-11-27 | 北京工业大学 | 基于激光追踪仪多站位测量***的激光追踪仪站位方法 |
EP3938801A1 (en) * | 2019-03-12 | 2022-01-19 | Beotop Innovation Ab | A method for locating a retro-reflecting object on a tool |
JP7534330B2 (ja) * | 2019-05-12 | 2024-08-14 | マジック アイ インコーポレイテッド | 3次元深度マップデータの2次元画像上へのマッピング |
US11200677B2 (en) | 2019-06-03 | 2021-12-14 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for shelf edge detection |
US11662739B2 (en) | 2019-06-03 | 2023-05-30 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for adaptive ceiling-based localization |
US11151743B2 (en) | 2019-06-03 | 2021-10-19 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for end of aisle detection |
US11341663B2 (en) | 2019-06-03 | 2022-05-24 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for detecting support structure obstructions |
US11960286B2 (en) | 2019-06-03 | 2024-04-16 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for dynamic task sequencing |
US11402846B2 (en) | 2019-06-03 | 2022-08-02 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for mitigating data capture light leakage |
US11080566B2 (en) | 2019-06-03 | 2021-08-03 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for gap detection in support structures with peg regions |
CN110160460B (zh) * | 2019-06-13 | 2024-06-11 | 广东省特种设备检测研究院东莞检测院 | 一种基于数字摄影的金属结构变形测量装置及方法 |
US11776153B2 (en) * | 2019-10-08 | 2023-10-03 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for mobile dimensioning |
US11507103B2 (en) | 2019-12-04 | 2022-11-22 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for localization-based historical obstacle handling |
US11107238B2 (en) | 2019-12-13 | 2021-08-31 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for detecting item facings |
CN111999700B (zh) * | 2019-12-13 | 2024-06-11 | 广东海洋大学 | 一种激光定位装置和方法 |
US11372320B2 (en) | 2020-02-27 | 2022-06-28 | Gerard Dirk Smits | High resolution scanning of remote objects with fast sweeping laser beams and signal recovery by twitchy pixel array |
US11822333B2 (en) | 2020-03-30 | 2023-11-21 | Zebra Technologies Corporation | Method, system and apparatus for data capture illumination control |
CN113538553B (zh) * | 2020-04-15 | 2023-10-24 | 深圳市光鉴科技有限公司 | 基于规则箱体的体积测量装置 |
CN111721197B (zh) * | 2020-05-14 | 2022-02-01 | 南京工程学院 | 一种基于双目立体的身体模型测量装置及方法 |
US20210379670A1 (en) * | 2020-06-09 | 2021-12-09 | Seurat Technologies, Inc. | Additive Manufacturing With Photo-Acoustic Tomography Defect Testing |
CN111913167B (zh) * | 2020-06-17 | 2022-04-08 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种用于激光雷达测量***的反射镜及其使用方法 |
JP7523970B2 (ja) * | 2020-07-01 | 2024-07-29 | 京セラ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
US20220018940A1 (en) * | 2020-07-16 | 2022-01-20 | Comotomo Corporation | Vision first light detection and ranging system |
US11450024B2 (en) | 2020-07-17 | 2022-09-20 | Zebra Technologies Corporation | Mixed depth object detection |
CN112067127B (zh) * | 2020-08-26 | 2021-07-27 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种狭缝型光谱仪实时定标装置 |
CN112082522A (zh) * | 2020-09-01 | 2020-12-15 | 广船国际有限公司 | 一种沉管隧道钢壳外形尺寸测量方法 |
CN112254682B (zh) * | 2020-09-23 | 2022-07-01 | 重庆邮电大学 | 一种大量程光电自准直仪的三维测角方法 |
US11593915B2 (en) | 2020-10-21 | 2023-02-28 | Zebra Technologies Corporation | Parallax-tolerant panoramic image generation |
CN112857795A (zh) * | 2020-10-28 | 2021-05-28 | 库卡机器人(广东)有限公司 | 一种减速器传动误差测试装置及方法 |
US11392891B2 (en) | 2020-11-03 | 2022-07-19 | Zebra Technologies Corporation | Item placement detection and optimization in material handling systems |
US11847832B2 (en) | 2020-11-11 | 2023-12-19 | Zebra Technologies Corporation | Object classification for autonomous navigation systems |
US20220207759A1 (en) | 2020-12-29 | 2022-06-30 | Faro Technologies, Inc. | Automatic registration of multiple measurement devices |
CN113009454B (zh) * | 2021-03-08 | 2023-10-13 | 福建汇川物联网技术科技股份有限公司 | 一种激光测距靶标及测距方法 |
CN113518214B (zh) * | 2021-05-25 | 2022-03-15 | 上海哔哩哔哩科技有限公司 | 全景视频数据处理方法及装置 |
US11954882B2 (en) | 2021-06-17 | 2024-04-09 | Zebra Technologies Corporation | Feature-based georegistration for mobile computing devices |
CN113625756A (zh) * | 2021-08-11 | 2021-11-09 | 长春理工大学 | 一种基于大地水平的飞机调平方法 |
CN113945204B (zh) * | 2021-10-26 | 2022-11-29 | 西北工业大学 | 空间点云测量***及标定、重建方法 |
CN114543767B (zh) * | 2022-02-22 | 2023-05-12 | 中国商用飞机有限责任公司 | 用于飞机水平测量的***和方法 |
DE102022108368A1 (de) | 2022-04-07 | 2023-10-12 | Bundesrepublik Deutschland (Physikalisch-Technische Bundesanstalt) | Messsystem und Messverfahren |
CN114719790B (zh) * | 2022-04-08 | 2024-01-30 | 包头钢铁(集团)有限责任公司 | 一种使用激光跟踪仪调整分体设备水平直线度的方法 |
EP4345412A1 (en) | 2022-06-09 | 2024-04-03 | Faro Technologies, Inc. | On-site compensation of measurement devices |
CN114964103A (zh) * | 2022-07-13 | 2022-08-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种光学元件表面钢块位置坐标的定位调试与测量方法 |
CN115601824B (zh) * | 2022-10-19 | 2023-05-26 | 华中科技大学 | 一种二维图像中人眼凝视方向的标注装置、***和方法 |
CN116165673B (zh) * | 2022-12-12 | 2023-09-22 | 深圳市中图仪器股份有限公司 | 基于反向跟踪的六维探头 |
CN116718108A (zh) * | 2023-02-10 | 2023-09-08 | 深圳市中图仪器股份有限公司 | 双目相机 |
CN115979231B (zh) * | 2023-03-20 | 2023-07-18 | 广东工业大学 | 一种基于虚拟点位的无量纲运动学标定方法及其相关装置 |
CN116612306B (zh) * | 2023-07-17 | 2023-09-26 | 山东顺发重工有限公司 | 基于计算机视觉的法兰盘智能对位方法及*** |
CN116673796B (zh) * | 2023-08-03 | 2023-11-10 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种用于机器人制孔***的标定工具与标定方法 |
CN118129608B (zh) * | 2024-05-08 | 2024-08-06 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种靶球旋转微调支架、靶球结构及微调测量方法 |
Family Cites Families (417)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2484641A (en) | 1945-10-12 | 1949-10-11 | Western Electric Co | Method of separating adhering sheets by an air blast |
US2612994A (en) | 1949-10-20 | 1952-10-07 | Norman J Woodland | Classifying apparatus and method |
US2682804A (en) | 1950-09-26 | 1954-07-06 | Taylor Taylor & Hobson Ltd | Optical micrometer for alignment telescopes |
US2784641A (en) | 1952-06-20 | 1957-03-12 | Keuffel & Esser Co | Alignment telescope |
US3497695A (en) | 1961-12-11 | 1970-02-24 | Raytheon Co | Radiant energy transmitting device |
GB1104021A (en) | 1963-11-11 | 1968-02-21 | Nat Res Dev | Distance measuring apparatus |
LU46404A1 (ja) | 1964-06-26 | 1972-01-01 | ||
DE1210360B (de) | 1964-11-07 | 1966-02-03 | Leitz Ernst Gmbh | Mit einem Laser-Entfernungsmesser gekoppelte Visiervorrichtung |
US3365717A (en) | 1965-09-03 | 1968-01-23 | South African Inventions | Method of and apparatus for providing a measure of the distance between two spaced points |
US3627429A (en) | 1968-08-14 | 1971-12-14 | Spectra Physics | Laser optical surveying instrument and method |
US3658426A (en) | 1968-09-11 | 1972-04-25 | Itek Corp | Alignment telescope |
US3619058A (en) | 1969-11-24 | 1971-11-09 | Hewlett Packard Co | Distance measuring apparatus |
US3779645A (en) | 1970-05-20 | 1973-12-18 | Nippon Kogaku Kk | Distance measuring device |
US3728025A (en) | 1971-03-08 | 1973-04-17 | Cubic Corp | Optical distance measuring equipment |
US3740141A (en) | 1971-09-20 | 1973-06-19 | Laser Systems & Electronics | Timing and measuring methods and means for laser distance measurements |
US3813165A (en) | 1971-09-20 | 1974-05-28 | Laser Syst & Electronics Inc | Digital distance measuring apparatus employing modulated light beam |
US3832056A (en) | 1972-03-13 | 1974-08-27 | Aga Corp | Distance measuring device using electro-optical techniques |
DE2553691C2 (de) | 1975-11-28 | 1986-10-30 | MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn | Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung zwischen einem Meß- und einem Zielpunkt und Entfernungsmeßgerät zur Durchführung dieses Verfahrens |
DE2235318C3 (de) | 1972-07-19 | 1980-02-14 | Ito-Patent Ag, Zuerich (Schweiz) | Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung und der Höhendifferenz und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens |
FR2206510A1 (ja) | 1972-11-15 | 1974-06-07 | Aga Ab | |
US4113381A (en) | 1976-11-18 | 1978-09-12 | Hewlett-Packard Company | Surveying instrument and method |
US4178515A (en) | 1978-05-12 | 1979-12-11 | Lockheed Electronics Co., Inc. | Optical signal communicating apparatus |
GB2066015B (en) | 1979-10-23 | 1984-02-15 | South African Inventions | Distance measurment |
US4453825A (en) | 1979-12-07 | 1984-06-12 | Hewlett-Packard Company | Distance transducer |
US4413907A (en) | 1980-11-07 | 1983-11-08 | Robert F. Deike | Remote control surveying |
DE3103567A1 (de) | 1981-02-03 | 1982-08-12 | MITEC Moderne Industrietechnik GmbH, 8012 Ottobrunn | Entfernungsmessverfahren nach dem prinzip der laufzeitmessung eines messlichtimpulses und vorrichtung zu seiner durchfuehrung |
JPS6318960Y2 (ja) | 1981-03-12 | 1988-05-27 | ||
US4498764A (en) | 1981-06-09 | 1985-02-12 | Ludwig Bolkow | Dynamic control arrangement for a distance measuring apparatus |
DE3219423C2 (de) | 1981-06-09 | 1986-04-30 | MTC, Meßtechnik und Optoelektronik AG, Neuenburg/Neuchâtel | Entfernungsmeßverfahren und Vorrichtung zu seiner Durchführung |
ZA824061B (en) | 1981-06-09 | 1983-04-27 | L Bolkow | Distance measurement method and apparatus for its performance |
SE450975B (sv) | 1981-08-07 | 1987-09-07 | Geotronics Ab | Anordning for operatorskommunikation i ett system for elektronisk distansmetning |
JPS5838880A (ja) | 1981-08-31 | 1983-03-07 | Tokyo Optical Co Ltd | 光波距離計 |
DE3371561D1 (en) | 1982-08-26 | 1987-06-19 | Shell Int Research | A method and apparatus for tank gauging using diode lasers and optical fibres |
US4537475A (en) | 1983-04-01 | 1985-08-27 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Scattering apodizer for laser beams |
US4692023A (en) | 1983-07-30 | 1987-09-08 | Tokyo Kagaku Kikai Kabushiki Kaisha | Optical adapter for a light-wave rangefinder |
DE3328335C2 (de) | 1983-08-05 | 1987-01-22 | Messerschmitt-Bölkow-Blohm GmbH, 8012 Ottobrunn | Datenfernüberwachungssystem |
EP0146768B1 (de) | 1983-12-22 | 1989-02-01 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V | Interferometer |
JPS60237307A (ja) | 1984-05-11 | 1985-11-26 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | レ−ザ測長器 |
DE3530922A1 (de) | 1984-08-29 | 1986-04-30 | Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München | Projektionseinrichtung fuer einen leitstrahl |
US4777660A (en) | 1984-11-06 | 1988-10-11 | Optelecom Incorporated | Retroreflective optical communication system |
SE448199B (sv) | 1985-05-09 | 1987-01-26 | Ericsson Telefon Ab L M | Anleggning med flera berbara, snorlosa telefonapparater |
US4632547A (en) | 1985-09-10 | 1986-12-30 | Broomer Research Corporation | Autocollimating alignment telescope |
US4767257A (en) | 1985-12-23 | 1988-08-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Industrial robot |
JPH0697288B2 (ja) | 1986-02-14 | 1994-11-30 | 松下電器産業株式会社 | 光結合部品 |
US4714339B2 (en) | 1986-02-28 | 2000-05-23 | Us Commerce | Three and five axis laser tracking systems |
US4790651A (en) | 1987-09-30 | 1988-12-13 | Chesapeake Laser Systems, Inc. | Tracking laser interferometer |
US4839507A (en) | 1987-11-06 | 1989-06-13 | Lance May | Method and arrangement for validating coupons |
SE464782B (sv) | 1987-12-22 | 1991-06-10 | Geotronics Ab | Anordning vid ett avstaandsmaetningsinstrument saasom hjaelpmedel vid utsaettning |
US5069524A (en) | 1988-03-07 | 1991-12-03 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Robot hand optical fiber connector coupling assembly |
JP2717408B2 (ja) | 1988-03-16 | 1998-02-18 | 株式会社トプコン | 直線性誤差補正機能を有する光波測距装置 |
US4983021A (en) | 1988-08-10 | 1991-01-08 | Fergason James L | Modulated retroreflector system |
DE3827458C3 (de) | 1988-08-12 | 1998-04-09 | Michael H Dipl Ing Korte | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der Raumkoordinaten eines beliebigen Meßpunktes |
SE500856C2 (sv) | 1989-04-06 | 1994-09-19 | Geotronics Ab | Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete |
GB8909357D0 (en) | 1989-04-25 | 1989-06-14 | Renishaw Plc | Position determining apparatus |
JPH0331715A (ja) * | 1989-06-29 | 1991-02-12 | Hazama Gumi Ltd | 測点の変位自動計測方法及びその装置 |
GB9003221D0 (en) | 1990-02-13 | 1990-04-11 | Optical Measuring Systems Limi | Electronic distance measurement |
US5440326A (en) | 1990-03-21 | 1995-08-08 | Gyration, Inc. | Gyroscopic pointer |
US5138154A (en) | 1990-04-04 | 1992-08-11 | Gyration Inc. | Shaft angle encoder with rotating off-axis interference pattern |
JP3004030B2 (ja) | 1990-04-23 | 2000-01-31 | 住友大阪セメント株式会社 | 炭化珪素ヒーター及びその製造方法 |
JPH068733B2 (ja) | 1990-07-05 | 1994-02-02 | 佐藤工業株式会社 | レーザーポジショナー及びこれを用いた定点マーキング方法 |
EP0468677B1 (en) | 1990-07-18 | 1996-05-15 | Spectra Precision, Inc. | Three dimensional position sensing system and method |
US5082364A (en) | 1990-08-31 | 1992-01-21 | Russell James T | Rf modulated optical beam distance measuring system and method |
US5198877A (en) | 1990-10-15 | 1993-03-30 | Pixsys, Inc. | Method and apparatus for three-dimensional non-contact shape sensing |
US5198868A (en) * | 1990-11-16 | 1993-03-30 | Sato Kogyo Co., Ltd. | Laser surveying system having a function of marking reference points |
US5121242A (en) | 1991-02-04 | 1992-06-09 | Martin Marietta Corporation | Retro-reflective optical transceiver |
JPH05257005A (ja) | 1992-02-06 | 1993-10-08 | Nec Corp | 光反射器 |
DE9205427U1 (de) | 1992-04-21 | 1992-06-25 | Bodenseewerk Gerätetechnik GmbH, 7770 Überlingen | Reflektoreinheit und Einrichtung zur kontaktlosen Messung der Orientierung eines beweglichen Meßobjektes im Raum |
JP3132894B2 (ja) | 1992-04-24 | 2001-02-05 | 工業技術院長 | 距離測定装置 |
JP2584875Y2 (ja) | 1992-05-26 | 1998-11-11 | 株式会社ニコン | 光波測距装置 |
US5263103A (en) | 1992-11-16 | 1993-11-16 | At&T Bell Laboratories | Apparatus comprising a low reflection optical fiber termination |
US5331468A (en) | 1992-11-27 | 1994-07-19 | Eastman Kodak Company | Intensity redistribution for exposure correction in an overfilled symmetrical laser printer |
JP3300998B2 (ja) * | 1992-12-08 | 2002-07-08 | 株式会社ソキア | 三次元座標測定装置 |
US5319434A (en) | 1992-12-30 | 1994-06-07 | Litton Systems, Inc. | Laser rangefinder apparatus with fiber optic interface |
US5301005A (en) * | 1993-02-10 | 1994-04-05 | Spectra-Physics Laserplane, Inc. | Method and apparatus for determining the position of a retroreflective element |
JP3268608B2 (ja) | 1993-02-12 | 2002-03-25 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
JPH0785016B2 (ja) | 1993-03-12 | 1995-09-13 | 株式会社愛工社 | 測量ターゲットおよび送電用鉄塔 |
US5416321A (en) | 1993-04-08 | 1995-05-16 | Coleman Research Corporation | Integrated apparatus for mapping and characterizing the chemical composition of surfaces |
US5455670A (en) | 1993-05-27 | 1995-10-03 | Associated Universities, Inc. | Optical electronic distance measuring apparatus with movable mirror |
US5392521A (en) | 1993-06-10 | 1995-02-28 | Allen; Michael P. | Surveyor's prism target |
JPH074967A (ja) | 1993-06-15 | 1995-01-10 | Nikon Corp | 測量装置 |
US5724264A (en) | 1993-07-16 | 1998-03-03 | Immersion Human Interface Corp. | Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object |
US5500737A (en) | 1993-07-21 | 1996-03-19 | General Electric Company | Method for measuring the contour of a surface |
US5402193A (en) | 1993-08-30 | 1995-03-28 | Optical Gaging Products, Inc. | Method and means for projecting images in a contour projector |
JP3307730B2 (ja) | 1993-08-30 | 2002-07-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光学測定装置 |
US5448505A (en) | 1993-11-24 | 1995-09-05 | Tbe Boeing Company | Feed through dimensional measurement system |
US5347306A (en) | 1993-12-17 | 1994-09-13 | Mitsubishi Electric Research Laboratories, Inc. | Animated electronic meeting place |
US5532816A (en) | 1994-03-15 | 1996-07-02 | Stellar Industries, Inc. | Laser tracking wheel alignment measurement apparatus and method |
SE9402047L (sv) | 1994-06-13 | 1995-12-14 | Contractor Tools Ab | Förfarande och anordning för fjärrstyrning av en eller flera arbetsmaskiner |
DE4438955C2 (de) | 1994-10-31 | 1996-09-26 | Swarovski Optik Kg | Zielfernrohr |
US5594169A (en) | 1994-11-04 | 1997-01-14 | Gyration,Inc. | Optically sensed wire gyroscope apparatus and system, and methods for manufacture and cursor control |
JP2627871B2 (ja) | 1994-11-25 | 1997-07-09 | 日本鉄道建設公団 | 三次元測量用ターゲット |
JP3599805B2 (ja) | 1994-12-09 | 2004-12-08 | 株式会社トプコン | 測量機 |
US5926388A (en) | 1994-12-09 | 1999-07-20 | Kimbrough; Thomas C. | System and method for producing a three dimensional relief |
JPH08220232A (ja) | 1995-02-08 | 1996-08-30 | Asahi Optical Co Ltd | 光波測距装置および光波測距装置における光路切り換え方法 |
JP3523368B2 (ja) | 1995-05-12 | 2004-04-26 | ペンタックス株式会社 | 光波距離計 |
US6262801B1 (en) | 1995-05-25 | 2001-07-17 | Kabushiki Kaisha Topcon | Laser reference level setting device |
US5671160A (en) * | 1995-06-05 | 1997-09-23 | Gcs Properties | Position sensing system |
JPH0914965A (ja) | 1995-06-27 | 1997-01-17 | Nikon Corp | 測量用ターゲット |
SE504941C2 (sv) | 1995-09-14 | 1997-06-02 | Geotronics Ab | Förfarande och anordning för inriktning |
NO301999B1 (no) | 1995-10-12 | 1998-01-05 | Metronor As | Kombinasjon av laser tracker og kamerabasert koordinatmåling |
JPH09113223A (ja) | 1995-10-18 | 1997-05-02 | Fuji Xerox Co Ltd | 非接触距離姿勢測定方法及び装置 |
USD378751S (en) | 1995-10-19 | 1997-04-08 | Gyration, Inc. | Graphic display controller |
DE19542490C1 (de) | 1995-11-15 | 1997-06-05 | Leica Ag | Elektro-optisches Meßgerät für absolute Distanzen |
US5742379A (en) | 1995-11-29 | 1998-04-21 | Reifer; Michael H. | Device and method for electronically measuring distances |
US5698784A (en) | 1996-01-24 | 1997-12-16 | Gyration, Inc. | Vibratory rate gyroscope and methods of assembly and operation |
DE19602327C2 (de) | 1996-01-24 | 1999-08-12 | Leica Geosystems Ag | Meßkugel-Reflektor |
JPH09236662A (ja) | 1996-02-29 | 1997-09-09 | Ushikata Shokai:Kk | 光波距離計 |
US5825350A (en) | 1996-03-13 | 1998-10-20 | Gyration, Inc. | Electronic pointing apparatus and method |
JP3741477B2 (ja) | 1996-03-18 | 2006-02-01 | 株式会社トプコン | 測量システム |
JP3837609B2 (ja) | 1996-03-19 | 2006-10-25 | 株式会社トプコン | レーザー照射装置 |
DE19614108C1 (de) | 1996-04-10 | 1997-10-23 | Fraunhofer Ges Forschung | Anordnung zur Vermessung der Koordinaten eines an einem Objekt angebrachten Retroreflektors |
US5892575A (en) | 1996-05-10 | 1999-04-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Method and apparatus for imaging a scene using a light detector operating in non-linear geiger-mode |
US6681145B1 (en) | 1996-06-06 | 2004-01-20 | The Boeing Company | Method for improving the accuracy of machines |
JPH102722A (ja) * | 1996-06-18 | 1998-01-06 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 三次元位置計測装置 |
US5754284A (en) | 1996-10-09 | 1998-05-19 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Optical time domain reflectometer with internal reference reflector |
DE19643287A1 (de) | 1996-10-21 | 1998-04-23 | Leica Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten |
DE19647152A1 (de) | 1996-11-14 | 1998-05-28 | Sick Ag | Laserabstandsermittlungsvorrichtung |
US6624916B1 (en) | 1997-02-11 | 2003-09-23 | Quantumbeam Limited | Signalling system |
US5886775A (en) | 1997-03-12 | 1999-03-23 | M+Ind | Noncontact digitizing imaging system |
US5957559A (en) | 1997-04-29 | 1999-09-28 | Virtek Vision Corporation | Laser scanned menu |
JP2965938B2 (ja) * | 1997-05-23 | 1999-10-18 | マック株式会社 | 自動削孔システム |
US5861956A (en) | 1997-05-27 | 1999-01-19 | Spatialmetrix Corporation | Retroreflector for use with tooling ball |
DE19733491B4 (de) | 1997-08-01 | 2009-04-16 | Trimble Jena Gmbh | Verfahren zur Zielsuche für geodätische Geräte |
CA2299498A1 (en) | 1997-08-01 | 1999-02-11 | Akzo Nobel Nv | Cascaded optical switch comprising at least one gate |
US6720949B1 (en) | 1997-08-22 | 2004-04-13 | Timothy R. Pryor | Man machine interfaces and applications |
US6052190A (en) | 1997-09-09 | 2000-04-18 | Utoptics, Inc. | Highly accurate three-dimensional surface digitizing system and methods |
US6017125A (en) | 1997-09-12 | 2000-01-25 | The Regents Of The University Of California | Bar coded retroreflective target |
US6111563A (en) | 1997-10-27 | 2000-08-29 | Hines; Stephen P. | Cordless retroreflective optical computer mouse |
US6344846B1 (en) | 1997-10-27 | 2002-02-05 | Stephen P. Hines | Optical retroreflective remote control |
US6034722A (en) | 1997-11-03 | 2000-03-07 | Trimble Navigation Limited | Remote control and viewing for a total station |
US6171018B1 (en) | 1997-11-10 | 2001-01-09 | Kabushiki Kaisha Topcon | Automatic control system for construction machinery |
JP3784154B2 (ja) | 1997-11-14 | 2006-06-07 | 株式会社トプコン | 測量機の通信システム |
EP0919906B1 (en) | 1997-11-27 | 2005-05-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Control method |
JP3569426B2 (ja) | 1997-12-05 | 2004-09-22 | ペンタックス株式会社 | 測量用反射部材 |
TW367407B (en) | 1997-12-22 | 1999-08-21 | Asml Netherlands Bv | Interferometer system with two wavelengths, and lithographic apparatus provided with such a system |
US6317954B1 (en) | 1998-05-11 | 2001-11-20 | Vought Aircraft Industries, Inc. | System and method for aligning aircraft coordinate systems |
US6433866B1 (en) | 1998-05-22 | 2002-08-13 | Trimble Navigation, Ltd | High precision GPS/RTK and laser machine control |
JPH11337642A (ja) | 1998-05-26 | 1999-12-10 | Nikon Corp | 光波測距装置 |
US6347290B1 (en) | 1998-06-24 | 2002-02-12 | Compaq Information Technologies Group, L.P. | Apparatus and method for detecting and executing positional and gesture commands corresponding to movement of handheld computing device |
US6573883B1 (en) | 1998-06-24 | 2003-06-03 | Hewlett Packard Development Company, L.P. | Method and apparatus for controlling a computing device with gestures |
US6351483B1 (en) | 1998-06-29 | 2002-02-26 | Quarton, Inc. | Laser optical axis correcting method |
US6681031B2 (en) | 1998-08-10 | 2004-01-20 | Cybernet Systems Corporation | Gesture-controlled interfaces for self-service machines and other applications |
US6369794B1 (en) | 1998-09-09 | 2002-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Operation indication outputting device for giving operation indication according to type of user's action |
JP2000111340A (ja) | 1998-10-08 | 2000-04-18 | Topcon Corp | 測量機の光通信装置 |
DE19855296C1 (de) | 1998-12-01 | 2000-08-31 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zur Entfernungsmessung mittels eines Halbleiterlasers im sichtbaren Wellenlängenbereich nach dem Laufzeitverfahren |
US6222465B1 (en) | 1998-12-09 | 2001-04-24 | Lucent Technologies Inc. | Gesture-based computer interface |
JP4088906B2 (ja) | 1998-12-16 | 2008-05-21 | 株式会社トプコン | 測量機の受光装置 |
JP2000234930A (ja) | 1999-02-16 | 2000-08-29 | Topcon Corp | 反射プリズム装置 |
US6100540A (en) | 1999-02-22 | 2000-08-08 | Visidyne, Inc. | Laser displacement measurement system |
JP2000266540A (ja) | 1999-03-17 | 2000-09-29 | Topcon Corp | 電子レベル |
USD427087S (en) | 1999-03-19 | 2000-06-27 | Asahi Seimitsu Kabushiki Kaisha | Measurement surveying device |
JP4320099B2 (ja) | 1999-03-26 | 2009-08-26 | 株式会社トプコン | 測量装置 |
JP4236326B2 (ja) | 1999-03-26 | 2009-03-11 | 株式会社トプコン | 自動測量機 |
JP2000284169A (ja) | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Olympus Optical Co Ltd | 測距装置 |
US7800758B1 (en) | 1999-07-23 | 2010-09-21 | Faro Laser Trackers, Llc | Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates |
AT407202B (de) | 1999-06-10 | 2001-01-25 | Perger Andreas Dr | Kombinierte fernrohr- und entfernungsmessvorrichtung |
US6766036B1 (en) | 1999-07-08 | 2004-07-20 | Timothy R. Pryor | Camera based man machine interfaces |
JP2001021354A (ja) | 1999-07-09 | 2001-01-26 | Topcon Corp | 光学位置検出装置 |
US6490027B1 (en) | 1999-07-27 | 2002-12-03 | Suzanne K. Rajchel | Reduced noise optical system and method for measuring distance |
DE50001460C5 (de) | 1999-07-28 | 2018-12-20 | Leica Geosystems Ag | Verfahren und anordnung zur bestimmung von räumlichen positionen und orientierungen |
US6567101B1 (en) | 1999-10-13 | 2003-05-20 | Gateway, Inc. | System and method utilizing motion input for manipulating a display of data |
JP2001165662A (ja) | 1999-12-08 | 2001-06-22 | Toshiyasu Kato | 反射プリズム等の正対装置 |
DE10006493C2 (de) | 2000-02-14 | 2002-02-07 | Hilti Ag | Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung |
SE0000850D0 (sv) | 2000-03-13 | 2000-03-13 | Pink Solution Ab | Recognition arrangement |
US6193371B1 (en) | 2000-03-27 | 2001-02-27 | Richard Snook | Keratometer/pachymeter |
JP2001272468A (ja) | 2000-03-27 | 2001-10-05 | Nikon Corp | 光導波路デバイス及びこれを用いた光波測距装置 |
JP3658269B2 (ja) | 2000-03-29 | 2005-06-08 | 株式会社ルネサステクノロジ | 固体表面及び半導体製造装置の処理方法並びにそれを用いた半導体装置の製造方法 |
GB0008303D0 (en) | 2000-04-06 | 2000-05-24 | British Aerospace | Measurement system and method |
JP3881498B2 (ja) | 2000-05-25 | 2007-02-14 | ペンタックス株式会社 | 光波測距儀 |
JP2001353112A (ja) | 2000-06-15 | 2001-12-25 | Sanyo Electric Co Ltd | 電気掃除機 |
JP4416925B2 (ja) | 2000-07-19 | 2010-02-17 | 株式会社トプコン | 位置測定設定システム及びそれに使用する受光センサ装置 |
US6754370B1 (en) | 2000-08-14 | 2004-06-22 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Real-time structured light range scanning of moving scenes |
EP1311873B1 (de) | 2000-08-25 | 2011-08-10 | Leica Geosystems AG | Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung |
GB0022444D0 (en) | 2000-09-13 | 2000-11-01 | Bae Systems Plc | Positioning system and method |
US6563569B2 (en) | 2000-09-25 | 2003-05-13 | Agency Of Industrial Science & Technology, Ministry Of International Trade & Industry | Laser tracking interferometric length measuring instrument and method of measuring length and coordinates using the same |
JP2002098762A (ja) | 2000-09-26 | 2002-04-05 | Nikon Corp | 光波測距装置 |
AU7953301A (en) | 2000-09-27 | 2002-04-08 | Kurt Giger | System and method for signal acquisition in a distance meter |
JP4432246B2 (ja) | 2000-09-29 | 2010-03-17 | ソニー株式会社 | 観客状況判定装置、再生出力制御システム、観客状況判定方法、再生出力制御方法、記録媒体 |
JP4916899B2 (ja) | 2000-10-18 | 2012-04-18 | シャープ株式会社 | 発光型表示素子 |
US6668466B1 (en) | 2000-10-19 | 2003-12-30 | Sandia Corporation | Highly accurate articulated coordinate measuring machine |
CN1290850A (zh) | 2000-10-31 | 2001-04-11 | 上海交通大学 | 非接触式六自由度运动测量与分析*** |
WO2002037466A1 (en) | 2000-11-02 | 2002-05-10 | Essential Reality, Inc | Electronic user worn interface device |
CN1304851C (zh) | 2000-11-30 | 2007-03-14 | 莱卡地球***公开股份有限公司 | 在测距设备中实现频率合成的方法和装置及测距设备 |
JP2002209361A (ja) | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Canon Electronics Inc | モーター |
US7031875B2 (en) | 2001-01-24 | 2006-04-18 | Geo Vector Corporation | Pointing systems for addressing objects |
EP1734426B1 (en) | 2001-02-02 | 2008-07-02 | Renishaw plc | Machine tool probe configured by stylus deflection |
WO2002063241A1 (fr) | 2001-02-08 | 2002-08-15 | Nkk Corporation | Procede de mesure de coordonnees tridimensionnelles, dispositif de mesure de coordonnees tridimensionnelles et procede permettant la construction d"une structure de grande dimension |
US7030861B1 (en) | 2001-02-10 | 2006-04-18 | Wayne Carl Westerman | System and method for packing multi-touch gestures onto a hand |
US6964113B2 (en) | 2001-03-06 | 2005-11-15 | Faro Laser Trackers, Llc | Scale-bar artifact and methods of use |
EP1241436B1 (fr) | 2001-03-14 | 2014-11-19 | Tesa Sa | Colonne de mesure de dimensions, et procédé permettant d'introduire une commande de changement de mode de mesure dans une telle colonne. |
AUPR402501A0 (en) | 2001-03-29 | 2001-04-26 | Connolly, Michael | Laser levelling apparatus |
CN1531659A (zh) | 2001-04-10 | 2004-09-22 | �����ɷ� | 遮光器稳定型绝对距离计 |
DE10118392A1 (de) | 2001-04-13 | 2002-11-07 | Zeiss Carl | System und Verfahren zum Bestimmen einer Position oder/und Orientierung zweier Objekte relativ zueinander sowie Strahlführungsanordnung, Interferometeranordnung und Vorrichtung zum Ändern einer optischen Weglänge zum Einsatz in einem solchen System und Verfahren |
US7505119B2 (en) | 2001-04-13 | 2009-03-17 | Optical Air Data Systems, Llc | Multi-function optical system and assembly |
US6598306B2 (en) | 2001-04-17 | 2003-07-29 | Homer L. Eaton | Self-loading spatial reference point array |
KR100421428B1 (ko) | 2001-04-24 | 2004-03-09 | 한국과학기술원 | 반사체를 이용한 미소 6자유도 운동 측정 장치 |
US20030014212A1 (en) | 2001-07-12 | 2003-01-16 | Ralston Stuart E. | Augmented vision system using wireless communications |
US6922599B2 (en) | 2001-08-13 | 2005-07-26 | The Boeing Company | System and method for producing an assembly by directly implementing three-dimensional computer-aided design component definitions |
JP5037765B2 (ja) | 2001-09-07 | 2012-10-03 | 株式会社トプコン | オペレータ誘導システム |
US7372558B2 (en) | 2001-10-11 | 2008-05-13 | Laser Projection Technologies, Inc. | Method and system for visualizing surface errors |
US6868194B2 (en) | 2001-12-19 | 2005-03-15 | General Electric Company | Method for the extraction of image features caused by structure light using image reconstruction |
DE10200366A1 (de) | 2002-01-08 | 2003-07-17 | Zeiss Optronik Gmbh | Mehrkanalempfängersystem für winkelaufgelöste Laserentfernungsmessung |
EP1466136B1 (en) | 2002-01-16 | 2011-08-03 | Faro Technologies, Inc. | Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates |
US7535496B2 (en) | 2002-01-30 | 2009-05-19 | Intel Corporation | Audio-based attention grabber for imaging devices |
CN1160654C (zh) | 2002-02-07 | 2004-08-04 | 天津大学 | 六自由度测量功能的激光扫描跟踪仪 |
US6957496B2 (en) * | 2002-02-14 | 2005-10-25 | Faro Technologies, Inc. | Method for improving measurement accuracy of a portable coordinate measurement machine |
US7881896B2 (en) | 2002-02-14 | 2011-02-01 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
CN100473942C (zh) | 2002-02-14 | 2009-04-01 | Faro科技有限公司 | 带有一体形成的线激光扫描仪的便携式坐标测量机 |
US7246030B2 (en) | 2002-02-14 | 2007-07-17 | Faro Technologies, Inc. | Portable coordinate measurement machine with integrated line laser scanner |
US7248374B2 (en) * | 2002-02-22 | 2007-07-24 | Faro Laser Trackers Llc | Spherically mounted light source with angle measuring device, tracking system, and method for determining coordinates |
JP4589007B2 (ja) | 2002-04-12 | 2010-12-01 | ヘンリー ケイ. オバーマイヤー, | 多軸ジョイスティックおよびそのためのトランスデューサー手段 |
WO2003089949A2 (en) | 2002-04-15 | 2003-10-30 | Toolz, Ltd. | Distance measurement device with short distance optics |
AU2003239354A1 (en) | 2002-05-06 | 2003-11-11 | Automated Precision, Inc. | Nine dimensional laser tracking system and method |
DE10235562A1 (de) | 2002-08-03 | 2004-02-19 | Robert Bosch Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Distanzmessung |
EP1388739A1 (de) | 2002-08-09 | 2004-02-11 | HILTI Aktiengesellschaft | Laserdistanzmessgerät mit Phasenlaufzeitmessung |
US7230689B2 (en) | 2002-08-26 | 2007-06-12 | Lau Kam C | Multi-dimensional measuring system |
US20040041996A1 (en) | 2002-08-28 | 2004-03-04 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Range finder and method |
DE10239448A1 (de) | 2002-08-28 | 2005-06-16 | Robert Bosch Gmbh | Entfernungsmessgerät |
JP2004108939A (ja) | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Pentax Precision Co Ltd | 測量機の遠隔操作システム |
SE524329C8 (sv) | 2002-09-20 | 2004-10-20 | Trimble Ab | Ett positionsstyrarrangemang, speciellt för ett geodektiskt instrument, samt ett geodetiskt instrument |
US7765084B2 (en) | 2002-09-20 | 2010-07-27 | Trimble A.B. | Position control arrangement, especially for a surveying instrument, and a surveying instrument |
JP2004144629A (ja) | 2002-10-25 | 2004-05-20 | Pentax Precision Co Ltd | 測量機 |
JP4127503B2 (ja) | 2002-11-22 | 2008-07-30 | 株式会社トプコン | 反射体自動追尾装置 |
JP4255682B2 (ja) | 2002-11-22 | 2009-04-15 | 株式会社トプコン | 反射体自動追尾装置 |
JP2004170355A (ja) | 2002-11-22 | 2004-06-17 | Topcon Corp | 反射体自動追尾装置 |
SE525290C2 (sv) | 2002-12-20 | 2005-01-25 | Trimble Ab | Geodetiskt system för mätning/utsättning och metod för användning av detsamma |
ATE525638T1 (de) | 2003-01-09 | 2011-10-15 | Orbotech Ltd | Verfahren und vorrichtung zur gleichzeitigen 2d- und topographischen untersuchung |
JP4104991B2 (ja) | 2003-01-16 | 2008-06-18 | 株式会社トプコン | 光波距離計 |
EP1588552A1 (en) | 2003-01-22 | 2005-10-26 | Nokia Corporation | Image control |
ITTO20030139A1 (it) | 2003-02-27 | 2004-08-28 | Comau Spa | Robot industriale |
US7286246B2 (en) | 2003-03-31 | 2007-10-23 | Mitutoyo Corporation | Method and apparatus for non-contact three-dimensional surface measurement |
US7233316B2 (en) | 2003-05-01 | 2007-06-19 | Thomson Licensing | Multimedia user interface |
DE10321749B4 (de) | 2003-05-09 | 2018-05-30 | Trimble Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Bestimmung der räumlichen Lage und Position eines Reflektorstabes in Bezug zu einem Aufhaltepunkt |
JP2004340880A (ja) | 2003-05-19 | 2004-12-02 | Soatec Inc | レーザ測定装置 |
JP4301863B2 (ja) | 2003-05-21 | 2009-07-22 | 株式会社トプコン | 測距装置 |
JP2005010585A (ja) | 2003-06-20 | 2005-01-13 | Tdk Corp | ホログラフィック光学素子、その製造方法、及びホログラフィック記録システム |
ATE542151T1 (de) | 2003-09-05 | 2012-02-15 | Faro Tech Inc | Selbstkompensierender laser-tracker |
US7583375B2 (en) | 2003-09-05 | 2009-09-01 | Faro Technologies, Inc. | Self-compensating laser tracker |
EP1682936B1 (en) | 2003-09-10 | 2016-03-16 | Nikon Metrology NV | Laser projection systems and method |
DE10344922B4 (de) | 2003-09-25 | 2008-06-26 | Siemens Audiologische Technik Gmbh | Rundum-Scanner |
US7384220B2 (en) | 2004-01-06 | 2008-06-10 | The Boeing Company | Laser-guided coordination hole drilling |
JP4832720B2 (ja) | 2004-01-29 | 2011-12-07 | 株式会社トプコン | パルス信号の処理装置、パルス信号の処理方法およびプログラム |
JP4177765B2 (ja) | 2004-01-30 | 2008-11-05 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測量システム |
DE602005027180D1 (de) | 2004-02-24 | 2011-05-12 | Faro Tech Inc | Durch ein fenster abgedeckter retroreflektor |
KR100631834B1 (ko) | 2004-03-03 | 2006-10-09 | 삼성전기주식회사 | 버튼 조작없이 번호입력이 가능한 휴대폰 및 상기 휴대폰의 번호 입력 방법 |
DE102004024171A1 (de) | 2004-03-09 | 2005-09-29 | Thorsten Beckmann | System zum Vermessen und Einrichten von Räumen |
JP4438467B2 (ja) | 2004-03-19 | 2010-03-24 | アイシン精機株式会社 | 3次元測定機におけるワーク温度補正方法 |
DE202004004945U1 (de) | 2004-03-26 | 2004-10-21 | Aua-Map Gmbh | Lotstab für Vermessungssysteme |
US8320708B2 (en) | 2004-04-02 | 2012-11-27 | K-Nfb Reading Technology, Inc. | Tilt adjustment for optical character recognition in portable reading machine |
WO2005102202A1 (en) | 2004-04-26 | 2005-11-03 | Orthosoft Inc. | Method for permanent calibration based on actual measurement |
JP4177784B2 (ja) | 2004-05-14 | 2008-11-05 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測量システム |
JP2005326317A (ja) | 2004-05-14 | 2005-11-24 | Sokkia Co Ltd | 測量システム |
JP3935897B2 (ja) | 2004-06-15 | 2007-06-27 | 北陽電機株式会社 | 光波測距装置 |
US7111783B2 (en) | 2004-06-25 | 2006-09-26 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Automated dimensional inspection |
US20060009929A1 (en) | 2004-07-06 | 2006-01-12 | Boyette Roger L Jr | In-service insulated tank certification |
US6996914B1 (en) | 2004-08-09 | 2006-02-14 | Project Consulting Services, Inc. | Method and apparatus for best fitting two or more items |
US7325326B1 (en) | 2004-08-09 | 2008-02-05 | Project Consulting Services, Inc. | Method and apparatus for best fitting two or more items |
JP2006084460A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-30 | Tomohisa Oumoto | 指示装置、指示方法、設置情報算出装置、及び設置情報算出方法 |
WO2006029214A2 (en) | 2004-09-08 | 2006-03-16 | Tru Tech Systems, Inc. | Automated inspection comparator/shadowgraph system |
US7761814B2 (en) | 2004-09-13 | 2010-07-20 | Microsoft Corporation | Flick gesture |
WO2006030727A1 (ja) | 2004-09-14 | 2006-03-23 | Nikon Corporation | 補正方法及び露光装置 |
JP4446850B2 (ja) | 2004-09-27 | 2010-04-07 | 株式会社トプコン | 測量装置用ターゲット |
JP4830096B2 (ja) | 2004-09-30 | 2011-12-07 | 国立大学法人名古屋大学 | 距離測定装置および距離測定方法 |
EP1794620B1 (en) | 2004-09-30 | 2014-01-01 | Faro Technologies Inc. | Absolute distance meter that measures a moving retroreflector |
JP4707363B2 (ja) | 2004-10-20 | 2011-06-22 | 株式会社 ソキア・トプコン | 光波距離計 |
US7268893B2 (en) | 2004-11-12 | 2007-09-11 | The Boeing Company | Optical projection system |
EP1659417A1 (de) | 2004-11-19 | 2006-05-24 | Leica Geosystems AG | Verfahren zur Bestimmung der Ausrichtung eines Ausrichtungsindikators |
US8989897B2 (en) | 2004-11-19 | 2015-03-24 | Dynalog, Inc. | Robot-cell calibration |
CN1290850C (zh) | 2004-12-07 | 2006-12-20 | 王敬勉 | 银杏叶中银杏内酯b和白果内酯的提取方法 |
TWM269538U (en) | 2004-12-15 | 2005-07-01 | Enhance Prec Electronic Co Ltd | Maneuverable multi-media audio/video karaoke device |
US7701592B2 (en) | 2004-12-17 | 2010-04-20 | The Boeing Company | Method and apparatus for combining a targetless optical measurement function and optical projection of information |
DE102004061338B4 (de) | 2004-12-20 | 2011-12-29 | Steinbichler Optotechnik Gmbh | Automatische Bauteilprüfung |
US8396329B2 (en) | 2004-12-23 | 2013-03-12 | General Electric Company | System and method for object measurement |
US7388658B2 (en) | 2005-01-12 | 2008-06-17 | Trimble Jena Gmbh | Inclination detection methods and apparatus |
CN1815212B (zh) | 2005-02-05 | 2010-06-16 | 香港中文大学 | 金属冲压过程中的诊断方法及其设备 |
JP4648025B2 (ja) | 2005-02-09 | 2011-03-09 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測量システム |
DE102005007916A1 (de) | 2005-02-10 | 2006-08-17 | Hensoldt Ag | Zielfernrohr mit einem Entfernungsmesser |
WO2006088822A2 (en) | 2005-02-14 | 2006-08-24 | Digital Signal Corporation | Laser radar system and system and method for providing chirped electromagnetic radiation |
JP2006242755A (ja) | 2005-03-03 | 2006-09-14 | Sokkia Co Ltd | 測量システム |
US7751654B2 (en) | 2005-03-04 | 2010-07-06 | Cornell Research Foundation, Inc. | Electro-optic modulation |
US7168174B2 (en) | 2005-03-14 | 2007-01-30 | Trimble Navigation Limited | Method and apparatus for machine element control |
EP1703300A1 (de) | 2005-03-17 | 2006-09-20 | Leica Geosystems AG | Verfahren und System zur Bestimmung von Position und Orientierung eines Objekts |
JP5016245B2 (ja) | 2005-03-29 | 2012-09-05 | ライカ・ゲオジステームス・アクチェンゲゼルシャフト | 物体の六つの自由度を求めるための測定システム |
US7869944B2 (en) | 2005-04-18 | 2011-01-11 | Roof Express, Llc | Systems and methods for recording and reporting data collected from a remote location |
JP4427486B2 (ja) | 2005-05-16 | 2010-03-10 | 株式会社東芝 | 機器操作装置 |
JP4737668B2 (ja) | 2005-05-30 | 2011-08-03 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 3次元計測方法および3次元計測システム |
JP4819403B2 (ja) | 2005-06-06 | 2011-11-24 | 株式会社トプコン | 距離測定装置 |
JP2006344136A (ja) | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Fanuc Ltd | ロボット制御装置 |
EP1734336A1 (de) | 2005-06-13 | 2006-12-20 | Leica Geosystems AG | Geodätisches Zielobjekt und Vermessungssystem |
JP4828167B2 (ja) | 2005-06-16 | 2011-11-30 | 株式会社 ソキア・トプコン | 距離測定装置及びその方法 |
WO2006138643A2 (en) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Nomos Corporation | System, tracker, and program product to facilitate and verify proper target alignment for radiation delivery, and related methods |
DE602006013626D1 (de) | 2005-06-23 | 2010-05-27 | Faro Tech Inc | Gerät und verfahren zur zurücksetzung einer gelenkarmkoordinatenmessmaschine |
US7285793B2 (en) | 2005-07-15 | 2007-10-23 | Verisurf Software, Inc. | Coordinate tracking system, apparatus and method of use |
US7392592B2 (en) | 2005-10-07 | 2008-07-01 | Milwaukee Electric Tool Corporation | Ruggedized laser level |
US7301165B2 (en) | 2005-10-24 | 2007-11-27 | General Electric Company | Methods and apparatus for inspecting an object |
US7830501B2 (en) * | 2005-10-26 | 2010-11-09 | Trimble Jena Gmbh | Surveying method and surveying instrument |
CA2629319C (en) | 2005-11-10 | 2012-01-03 | Optical Air Data Systems, Llc | Single aperture multiple optical waveguide transceiver |
US7511800B2 (en) | 2005-11-28 | 2009-03-31 | Robert Bosch Company Limited | Distance measurement device with short range optics |
EP1955015B1 (en) | 2005-12-02 | 2013-06-19 | Trimble AB | Surveying instrument and surveying method |
US7480037B2 (en) | 2005-12-02 | 2009-01-20 | The Boeing Company | System for projecting flaws and inspection locations and associated method |
US20080297808A1 (en) | 2005-12-06 | 2008-12-04 | Nabeel Agha Riza | Optical Sensor For Extreme Environments |
EP1958045B1 (en) | 2005-12-09 | 2018-07-18 | Thomson Licensing | System including a hand-held wireless graphical input device and a computer device. |
EP1806643B1 (en) | 2006-01-06 | 2014-10-08 | Drnc Holdings, Inc. | Method for entering commands and/or characters for a portable communication device equipped with a tilt sensor |
WO2007079601A1 (de) | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Leica Geosystems Ag | Tracking-verfahren und messsystem mit laser-tracker |
WO2007091949A1 (en) | 2006-02-07 | 2007-08-16 | Astrazeneca Ab | Device and method for spectrometric system |
JP5196725B2 (ja) | 2006-02-09 | 2013-05-15 | 株式会社 ソキア・トプコン | 測量機の自動視準装置 |
TWI287622B (en) | 2006-03-02 | 2007-10-01 | Asia Optical Co Inc | Phase measurement method and application |
JP4904861B2 (ja) | 2006-03-14 | 2012-03-28 | ソニー株式会社 | 体動検出装置、体動検出方法および体動検出プログラム |
DE102006013185A1 (de) | 2006-03-22 | 2007-09-27 | Refractory Intellectual Property Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Ermittlung der Position und Orientierung einer Meß- oder Reparatureinrichtung und eine nach dem Verfahren arbeitende Vorrichtung |
DE102006013290A1 (de) | 2006-03-23 | 2007-09-27 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur optischen Distanzmessung sowie Verfahren zum Betrieb einer solchen Vorrichtung |
JP2007256872A (ja) | 2006-03-27 | 2007-10-04 | Hitachi Ltd | プラズマディスプレイ装置 |
US7976387B2 (en) | 2006-04-11 | 2011-07-12 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Free-standing input device |
US7576836B2 (en) | 2006-04-20 | 2009-08-18 | Faro Technologies, Inc. | Camera based six degree-of-freedom target measuring and target tracking device |
CN101427155B (zh) | 2006-04-21 | 2011-09-28 | 法罗技术股份有限公司 | 具有能够旋转的反射镜的基于摄影机的六自由度标靶测量和标靶跟踪设备 |
JP5028475B2 (ja) | 2006-04-27 | 2012-09-19 | スリーディー スキャナーズ リミテッド | 光学走査プローブ |
DE202006020299U1 (de) | 2006-05-16 | 2008-04-24 | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V. | 3D-Vermessungsanordnung |
JP4380663B2 (ja) | 2006-06-08 | 2009-12-09 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 三次元形状測定方法、装置、及びフォーカス調整方法 |
JP2008002995A (ja) | 2006-06-23 | 2008-01-10 | Konica Minolta Sensing Inc | 三次元形状測定装置 |
JP4910507B2 (ja) | 2006-06-29 | 2012-04-04 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 顔認証システム及び顔認証方法 |
JP2008014653A (ja) | 2006-07-03 | 2008-01-24 | Pentax Industrial Instruments Co Ltd | 測量機 |
JP4238891B2 (ja) | 2006-07-25 | 2009-03-18 | コニカミノルタセンシング株式会社 | 三次元形状測定システム、三次元形状測定方法 |
TWI288230B (en) | 2006-08-10 | 2007-10-11 | Asia Optical Co Inc | Laser ranging system with a shutter mechanism |
DE202006014576U1 (de) | 2006-08-21 | 2008-01-03 | STABILA Messgeräte Gustav Ullrich GmbH | Schutzeinrichtung |
CN101511529B (zh) | 2006-08-31 | 2013-01-30 | 法罗技术股份有限公司 | 可去除智能探针、组合***以及使用坐标测量机的方法 |
US7565216B2 (en) | 2006-09-11 | 2009-07-21 | Innovmetric Logiciels Inc. | Clearance measurement of manufactured parts |
JP5020585B2 (ja) | 2006-09-27 | 2012-09-05 | 株式会社トプコン | 測定システム |
US7256899B1 (en) | 2006-10-04 | 2007-08-14 | Ivan Faul | Wireless methods and systems for three-dimensional non-contact shape sensing |
US8087315B2 (en) | 2006-10-10 | 2012-01-03 | Honeywell International Inc. | Methods and systems for attaching and detaching a payload device to and from, respectively, a gimbal system without requiring use of a mechanical tool |
WO2008052348A1 (en) | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Northern Digital Inc. | Integrated mapping system |
GB0622451D0 (en) | 2006-11-10 | 2006-12-20 | Intelligent Earth Ltd | Object position and orientation detection device |
WO2008089480A2 (en) | 2007-01-19 | 2008-07-24 | Associated Universities, Inc. | Fiber optically coupled, multiplexed, and chopped laser rangefinder |
JP2008210732A (ja) | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子ビーム装置 |
KR101477481B1 (ko) | 2007-03-05 | 2014-12-30 | 이노스 오토메이션스소프트웨어 게엠베하 | 위치 결정 장치 및 방법 |
US8330942B2 (en) | 2007-03-08 | 2012-12-11 | Trimble Ab | Methods and instruments for estimating target motion |
JP5137104B2 (ja) | 2007-03-22 | 2013-02-06 | 株式会社 ソキア・トプコン | 光波距離計 |
US20080246974A1 (en) | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Jean Laurent Wilson | Portable Optical Measurement Assembly |
WO2008121919A1 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-09 | Faro Technologies, Inc. | Absolute distance meter |
CN101652626B (zh) | 2007-04-05 | 2011-07-13 | 株式会社尼康 | 形状测定装置及形状测定方法 |
US8578581B2 (en) | 2007-04-16 | 2013-11-12 | Pratt & Whitney Canada Corp. | Method of making a part and related system |
US7835012B1 (en) | 2007-05-01 | 2010-11-16 | Lockheed Martin Corporation | Alignment interferometer telescope apparatus and method |
EP1990607A1 (de) | 2007-05-10 | 2008-11-12 | Leica Geosystems AG | Positionsbestimmungsverfahren für ein geodätisches Vermessungsgerät |
US8364312B2 (en) | 2007-06-06 | 2013-01-29 | Cycogs, Llc | Modular rotary multi-sensor sensor ring |
US7876457B2 (en) | 2007-06-13 | 2011-01-25 | Nikon Metrology Nv | Laser metrology system and method |
JP5244339B2 (ja) | 2007-06-20 | 2013-07-24 | 株式会社ミツトヨ | 追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法 |
JP2009014639A (ja) | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Sanyo Electric Co Ltd | ビーム照射装置およびレーザレーダ |
EP2977719A1 (en) | 2007-08-17 | 2016-01-27 | Renishaw plc | Non-contact measurement apparatus and method |
WO2009062153A1 (en) | 2007-11-09 | 2009-05-14 | Wms Gaming Inc. | Interaction with 3d space in a gaming system |
JP2009156772A (ja) | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Topcon Corp | 測量システム |
KR100832696B1 (ko) | 2008-01-18 | 2008-05-28 | 임권현 | 진공척 |
US8384997B2 (en) | 2008-01-21 | 2013-02-26 | Primesense Ltd | Optical pattern projection |
US7738083B2 (en) | 2008-02-05 | 2010-06-15 | Asia Optical Co., Inc. | Distant measurement method and distant measurement system |
CN101946156B (zh) | 2008-02-12 | 2012-09-19 | 特林布尔公司 | 确定觇标相对于具有摄影机的勘测仪器的坐标 |
EP2247923B1 (en) | 2008-02-29 | 2019-06-12 | Trimble AB | Automated calibration of a surveying instrument |
EP2247922B1 (en) | 2008-02-29 | 2015-03-25 | Trimble AB | Determining coordinates of a target in relation to a survey instrument having at least two cameras |
CN101970980B (zh) | 2008-03-11 | 2014-04-09 | 株式会社尼康 | 基准球检测装置、基准球位置检测装置和三维坐标测量装置 |
ES2384245B9 (es) | 2008-03-21 | 2013-07-08 | Brett BORDYN | Sistema externo para mejora de la precisión robótica. |
US8220329B2 (en) | 2008-03-21 | 2012-07-17 | Analog Devices, Inc. | Management system for MEMS inertial sensors |
US20090239581A1 (en) | 2008-03-24 | 2009-09-24 | Shu Muk Lee | Accelerometer-controlled mobile handheld device |
US8520930B2 (en) | 2008-04-18 | 2013-08-27 | 3D Scanners Ltd. | Method and computer program for improving the dimensional acquisition of an object |
DE102008020772A1 (de) | 2008-04-21 | 2009-10-22 | Carl Zeiss 3D Metrology Services Gmbh | Darstellung von Ergebnissen einer Vermessung von Werkstücken |
USD605959S1 (en) | 2008-07-23 | 2009-12-15 | Leica Geosystems Ag | Land surveying total station measuring device |
US20100025746A1 (en) | 2008-07-31 | 2010-02-04 | Micron Technology, Inc. | Methods, structures and systems for interconnect structures in an imager sensor device |
TW201009650A (en) | 2008-08-28 | 2010-03-01 | Acer Inc | Gesture guide system and method for controlling computer system by gesture |
US7908757B2 (en) | 2008-10-16 | 2011-03-22 | Hexagon Metrology, Inc. | Articulating measuring arm with laser scanner |
US8525983B2 (en) | 2008-11-17 | 2013-09-03 | Faro Technologies, Inc. | Device and method for measuring six degrees of freedom |
US8740396B2 (en) | 2011-02-14 | 2014-06-03 | Faro Technologies, Inc. | Cube corner retroreflector for measuring six degrees of freedom |
US9739595B2 (en) | 2008-12-11 | 2017-08-22 | Automated Precision Inc. | Multi-dimensional measuring system with measuring instrument having 360° angular working range |
US8803055B2 (en) | 2009-01-09 | 2014-08-12 | Automated Precision Inc. | Volumetric error compensation system with laser tracker and active target |
EP2219011A1 (de) | 2009-02-11 | 2010-08-18 | Leica Geosystems AG | Geodätisches Vermessungsgerät |
US8861833B2 (en) | 2009-02-18 | 2014-10-14 | International Press Of Boston, Inc. | Simultaneous three-dimensional geometry and color texture acquisition using single color camera |
AU2010257107B2 (en) | 2009-02-20 | 2015-07-09 | Digital Signal Corporation | System and method for generating three dimensional images using lidar and video measurements |
US8786682B2 (en) | 2009-03-05 | 2014-07-22 | Primesense Ltd. | Reference image techniques for three-dimensional sensing |
EP2226610A1 (de) | 2009-03-06 | 2010-09-08 | Leica Geosystems AG | Geodätisches Vermessungssystem und Verfahren zum Identifizieren einer Zieleinheit mit einem geodätischen Vermessungsgerät |
WO2010103482A2 (en) | 2009-03-13 | 2010-09-16 | Primesense Ltd. | Enhanced 3d interfacing for remote devices |
US8082673B2 (en) | 2009-11-06 | 2011-12-27 | Hexagon Metrology Ab | Systems and methods for control and calibration of a CMM |
US8339616B2 (en) | 2009-03-31 | 2012-12-25 | Micrometric Vision Technologies | Method and apparatus for high-speed unconstrained three-dimensional digitalization |
US8717417B2 (en) | 2009-04-16 | 2014-05-06 | Primesense Ltd. | Three-dimensional mapping and imaging |
USD629314S1 (en) | 2009-04-23 | 2010-12-21 | Nikon-Trimble Co., Ltd. | Electronic tacheometer |
EP2259013B1 (de) | 2009-05-25 | 2013-11-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Topographische Messung eines Objekts |
CA2766424C (en) | 2009-06-23 | 2017-08-29 | Leica Geosystems Ag | Coordinate measuring device |
EP2446300B1 (de) | 2009-06-23 | 2016-10-12 | Leica Geosystems AG | Tracking-verfahren und messsystem mit lasertracker |
US8079428B2 (en) | 2009-07-02 | 2011-12-20 | Baker Hughes Incorporated | Hardfacing materials including PCD particles, welding rods and earth-boring tools including such materials, and methods of forming and using same |
DE102009035336B3 (de) | 2009-07-22 | 2010-11-18 | Faro Technologies, Inc., Lake Mary | Vorrichtung zum optischen Abtasten und Vermessen einer Umgebung |
WO2011013079A1 (en) | 2009-07-30 | 2011-02-03 | Primesense Ltd. | Depth mapping based on pattern matching and stereoscopic information |
US8659749B2 (en) | 2009-08-07 | 2014-02-25 | Faro Technologies, Inc. | Absolute distance meter with optical switch |
US7903237B1 (en) | 2009-08-13 | 2011-03-08 | Nen-Tsua Li | Laser rangefinder with a voice control function |
US8565479B2 (en) | 2009-08-13 | 2013-10-22 | Primesense Ltd. | Extraction of skeletons from 3D maps |
JP2011039005A (ja) | 2009-08-18 | 2011-02-24 | Topcon Corp | 測定装置 |
DE102009040837A1 (de) | 2009-09-10 | 2011-03-17 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtungen und Verfahren zur Positionsbestimmung und Oberflächenvermessung |
US8379224B1 (en) | 2009-09-18 | 2013-02-19 | The Boeing Company | Prismatic alignment artifact |
US20110069322A1 (en) | 2009-09-21 | 2011-03-24 | Faro Technologies, Inc. | Laser pointing mechanism |
US8610761B2 (en) | 2009-11-09 | 2013-12-17 | Prohectionworks, Inc. | Systems and methods for optically projecting three-dimensional text, images and/or symbols onto three-dimensional objects |
US7894079B1 (en) | 2009-11-09 | 2011-02-22 | Mitutoyo Corporation | Linear displacement sensor using a position sensitive photodetector |
US20110109502A1 (en) | 2009-11-09 | 2011-05-12 | Sullivan Steven J | Apparatus, system and method for displaying construction-related documents |
US8606540B2 (en) | 2009-11-10 | 2013-12-10 | Projectionworks, Inc. | Hole measurement apparatuses |
US8237934B1 (en) | 2009-11-18 | 2012-08-07 | The Boeing Company | Center marking nest for method of precision locating |
WO2011090892A2 (en) | 2010-01-20 | 2011-07-28 | Faro Technologies, Inc. | Coordinate measurement machines with removable accessories |
US20110179281A1 (en) | 2010-01-20 | 2011-07-21 | Apple Inc. | Hash function using a quasi-group operation |
DE112011100300T5 (de) | 2010-01-20 | 2013-03-07 | Faro Technologies, Inc. | Integriertes Temperaturmesssystem für Teile |
JP5538929B2 (ja) * | 2010-02-02 | 2014-07-02 | 新菱冷熱工業株式会社 | 三次元位置計測及び墨出しシステムとその使用方法 |
GB201003363D0 (en) | 2010-03-01 | 2010-04-14 | Renishaw Plc | Measurement method and apparatus |
US8422034B2 (en) | 2010-04-21 | 2013-04-16 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker |
US8537371B2 (en) | 2010-04-21 | 2013-09-17 | Faro Technologies, Inc. | Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker |
US8583392B2 (en) | 2010-06-04 | 2013-11-12 | Apple Inc. | Inertial measurement unit calibration system |
EP2400261A1 (de) | 2010-06-21 | 2011-12-28 | Leica Geosystems AG | Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche |
US9021344B2 (en) | 2010-08-31 | 2015-04-28 | New River Kinematics, Inc. | Off-line graphical user interface system and method for three-dimensional measurement |
US9204129B2 (en) | 2010-09-15 | 2015-12-01 | Perceptron, Inc. | Non-contact sensing system having MEMS-based light source |
EP2431708A1 (de) | 2010-09-16 | 2012-03-21 | Leica Geosystems AG | Geodätisches Vermessungssystem mit in einer Fernbedieneinheit integrierter Kamera |
US8319979B2 (en) | 2010-10-26 | 2012-11-27 | Advanced Measurement Systems | Single laser beam measurement system |
US8938099B2 (en) | 2010-12-15 | 2015-01-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, method of controlling the same, distance measurement apparatus, and storage medium |
US8902408B2 (en) | 2011-02-14 | 2014-12-02 | Faro Technologies Inc. | Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector |
JP5797282B2 (ja) | 2011-03-03 | 2015-10-21 | ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド | ターゲット装置及び方法 |
US9074884B2 (en) | 2011-03-22 | 2015-07-07 | Leica Geosystems Ag | Electro-optical distance measuring device with a gesture-based measurement trigger that functions without contacting the measuring device |
WO2012141868A1 (en) | 2011-04-15 | 2012-10-18 | Faro Technologies, Inc. | Enhanced position detector in laser tracker |
US9686532B2 (en) | 2011-04-15 | 2017-06-20 | Faro Technologies, Inc. | System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices |
US9222771B2 (en) | 2011-10-17 | 2015-12-29 | Kla-Tencor Corp. | Acquisition of information for a construction site |
JP5764077B2 (ja) * | 2012-02-20 | 2015-08-12 | 株式会社大都技研 | 遊技台 |
-
2012
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2013
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- 2014-12-10 US US14/565,624 patent/US9146094B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016133508A (ja) * | 2015-01-21 | 2016-07-25 | ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company | 大型構造用の自動予測シミングのためのシステム、方法及び装置 |
US11084171B2 (en) | 2017-11-22 | 2021-08-10 | Fanuc Corporation | Tool posture control apparatus |
WO2024100738A1 (ja) * | 2022-11-07 | 2024-05-16 | 株式会社ニコン | 計測システム、工作機械、光学装置、計測方法、コンピュータプログラム及び記録媒体 |
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