JP2014160016A - 検査装置 - Google Patents

検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2014160016A
JP2014160016A JP2013030766A JP2013030766A JP2014160016A JP 2014160016 A JP2014160016 A JP 2014160016A JP 2013030766 A JP2013030766 A JP 2013030766A JP 2013030766 A JP2013030766 A JP 2013030766A JP 2014160016 A JP2014160016 A JP 2014160016A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
inspected
inspection object
conveyance path
conveyance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013030766A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6067407B2 (ja
Inventor
Koichi Sasaki
浩一 佐々木
Shinya Matsuda
晋也 松田
Akihisa Kato
秋久 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd
Original Assignee
Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd filed Critical Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd
Priority to JP2013030766A priority Critical patent/JP6067407B2/ja
Priority to KR1020157023911A priority patent/KR102148965B1/ko
Priority to PCT/JP2013/084577 priority patent/WO2014129082A1/ja
Priority to CN201380073441.8A priority patent/CN105008852B/zh
Publication of JP2014160016A publication Critical patent/JP2014160016A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6067407B2 publication Critical patent/JP6067407B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)

Abstract

【課題】被検査物の端面の外観性状をより高精度に検査することができる検査装置を提供する。
【解決手段】この検査装置1は、被搬送物Wを搬送する搬送機構2と、検査位置Pにおいて、搬送機構2によって搬送される被検査物Wの被検査面Waを照明する第1の照明機構5と、被検査面Waを撮像する撮像カメラ4とを備える。第1の照明機構5は、被検査面Waを照明する複数の発光器12,20と、この発光器12,20を支持する支持体6,13とを備え、支持体13は、少なくとも、搬送路に最も近い発光器20を、他の一群の発光器12よりも検査位置Pから離隔した位置で支持する。離隔した発光器20と他の一群の発光器12との間に、検査位置Pとは反対側の背面から被検査面Waを観察できる空間18が形成され、撮像カメラ4は、この空間18を通して被検査面Waを撮像する。
【選択図】図2

Description

本発明は、電子部品など微小な被検査対象物の端面の外観性状を精度よく検査可能な検査装置に関する。
電子部品等の外観的な性状を検査する装置の一つとして、従来、特開平5−288527号公報に開示されるような検査装置が知られている。この検査装置は、テーブル上に載置されたプリント基板をXY方向に移動させる手段と、ドーム状に配設された複数のLEDを有し、前記プリント基板上の被検査部を照明する照明手段と、照明手段の頂部に形成された穴からプリント基板上の被検査部を撮像するテレビカメラとを備えている。
この検査装置によれば、前記照明手段によってプリント基板上の被検査部が照明され、当該被検査部の画像が前記テレビカメラによって撮像される。そして、このようにして撮像された画像データを解析することにより、前記被検査部の外観的な性状の良否が判別される。
そして、従来、このような検査装置は、被検査物を移動させる手段、被検査物を照明する手段、並びに被検査物の画像を撮像する手段を備えるという点で、その基本的な構成は変わらないものの、検査対象物である被検査物の形状や検査部位に応じて設計、変形された態様が採用されている。
例えば、図6に示すような、6面体をした電子部品(例えば、コンデンサなど)Wの端面(矢視D方向端面)Waを検査する場合、図7に示すように、この電子部品Wを適宜搬送機構100によって所定の搬送方向(矢示E方向)に搬送し、その搬送途中の所定位置に設定された検査位置Pで、電子部品Wの前端面Waを搬送方向前方から照明機構102によって照明するとともに、適宜撮像カメラ101により、斜め前方から前記電子部品Wの前端面Waを撮像するといった態様が採られる。尚、図6(a)は、電子部品Wの平面図であり、(b)は、(a)における矢視D方向の側面図である。
この場合、照明機構102としては、上述したLEDがドーム状に配設される照明手段を、搬送機構100の搬送方向と直交する垂直面で分割した態様が採られ、その搬送方向前側の部分で電子部品Wの前端面Waを照明するように構成される。
また、照明機構102は、LED103が配置されない個所に、貫通孔102aが穿孔されており、撮像カメラ101はこの貫通孔102aを通して、前記電子部品Wの前端面Waを撮像する。
特開平5−288527号公報
ところで、上述のように電子部品Wの前端面Waの外観性状を検査する場合、これを高精度に検査するには、図8に示すように、搬送方向(矢示E方向)と撮像カメラ101の撮像光軸とのなす角度(仰角)が可能な限り小さくなるように撮像カメラ101を配設して、電子部品Wの前端面Waをでき得る限りその正面から撮像するのが好ましい。前端面Waを正面から撮像することで、得られる画像データが最大のものとなり、より高精度な解析を行うことができる。
また、前記照明機構102は、電子部品Wの前端面Waに対し、その照明光軸ができるだけ直角に近いものとなるような位置、言い換えれば、可能な限り搬送機構100の搬送路に近い位置にもLED103が配設されているが好ましい。このように、搬送路に近い位置にLED103を設けることで、上記のように、撮像光軸の仰角が可能な限り小さくなるように配設された撮像カメラ101に、前記前端面Waからより多くの反射光を取り込むことができ、これにより当該撮像カメラ101によって撮像される画像がより鮮明なものとなる。かくして、このように鮮明な画像が得られることで、この画像を基にした解析の精度を高めることができる。
近年では、前記電子部品Wはその微小化が加速し、従前、断面が3mm×2mmであったものが、0.4mm×0.2mmの断面のものまで小型化が進んでおり、このような微小化に対応するためにも、上述したような、撮像カメラ101とLED102の配置が好ましい。
ところが、上記図7に示した構成において、撮像カメラ101の撮像光軸の仰角をできるだけ小さく設定し、LED103を可能な限り搬送機構100の搬送路に近い位置に配設した構成を採用すると、図8に示すように、撮像カメラ101の撮像光軸とLED103とが干渉しあう位置関係となり、電子部品Wを撮像するための貫通孔を照明機構に設けることができない、即ち、電子部品Wを撮像することができないという問題があった。
本発明は、以上の実情に鑑みなされたものであって、被検査物の端面の外観性状をより高精度に検査することができる検査装置の提供を、その目的とする。
上記課題を解決するための本発明は、設定された搬送方向に被検査物を搬送し、該被検査物の少なくとも前記搬送方向前端面又は後端面を被検査面として検査する検査装置であって、
前記搬送方向に沿った搬送路を有し、該搬送路上の前記被検査物を前記搬送方向に搬送する搬送機構と、前記搬送路を境として前記被検査物と同じ側に配設され、前記搬送路上の予め設定された検査位置において、前記搬送機構によって搬送される前記被検査物の前記被検査面を照明する第1の照明機構と、同じく前記被検査物と同じ側に配設され、前記検査位置にある前記被検査物の前記被検査面を撮像する撮像カメラとを少なくとも備えた検査装置において、
前記第1の照明機構は、前記被検査物の被検査面を照明する複数の発光器と、該複数の発光器を支持する支持体とを備え、
前記支持体は、少なくとも、前記搬送路に最も近い発光器を、他の一群の発光器よりも前記検査位置から離隔した位置で支持するように構成されるとともに、前記離隔した発光器と他の一群の発光器との間に、前記検査位置とは反対側の背面から前記被検査物の被検査面を観察できる空間を備え、
前記撮像カメラは、前記支持体の前記背面側に配設され、前記支持体の空間を通して前記被検査物の被検査面を撮像するように構成され検査装置に係る。
この検査装置によれば、被検査物は、搬送機構によってその搬送路上を搬送され、当該搬送路上の検査位置において、第1の照明機構によってその被検査面が照明された状態で、前記撮像カメラによって当該被検査面が撮像される。
そして、前記第1の照明機構は、少なくとも、前記搬送路に最も近い発光器を、他の一群の発光器よりも前記検査位置から離隔した位置に配設したので、当該搬送路に最も近い発光器を可能な限り前記搬送機構の搬送路に近づけた状態で、これと前記他の一群の発光器との間に適切な間隔を設定することができ、この部分に、前記被検査物の被検査面を撮像するための空間を設けることができる。
そして、このような構成とすることで、前記撮像カメラを、その撮像光軸と前記搬送路とのなす角度(仰角)が可能な限り小さくなるように、即ち、可能な限り前記搬送路に近づけた状態に配置することができ、この撮像カメラによって、でき得る限りその正面から前記被検査物の被検査面を撮像することができる。これにより、前記撮像カメラによって撮像される前記被検査面の画像をより大きな画像としてとらえることができ、この結果、前記被検査面の外観性状を高精度に検査することができる。
また、上述のように、前記搬送路に最も近い発光器を可能な限り前記搬送路に近づけた状態に配置することができるので、前記被検査面からより多くの反射光を前記撮像カメラに取り込むことができ、これにより当該撮像カメラによって撮像される画像をより鮮明なものとすることができる。かくして、被検査面の鮮明な画像を得ることで、当該被検査面の外観性状を高精度に検査することができる。
尚、前記発光器としてはLEDを代表的に例示することができるが、前記被検査面を検査に必要な十分な光量で照明できるものであれば、何らLEDに限定されるものではない。
以上のように、上記構成を備えた本発明の検査装置によれば、被検査物の外観性状を高精度に検査することができる。
また、上記検査装置において、前記撮像カメラは、その撮像光軸が、前記搬送路と直交する面内にあり、且つ前記搬送路と10°〜35°の範囲の角度で交差するように配設されるとともに、前記第1の照明機構の前記離隔した発光器は、その照明光軸が、前記搬送路と3°〜15°の範囲の角度で交差するように配設されているのが好ましい。
前記撮像カメラの撮像光軸と、前記第1の照明機構の照明光軸とを、それぞれ上記範囲の角度に設定することで、前記撮像カメラによって撮像される前記被検査物の画像をより適切なものとすることができ、前記被検査物の被検査面を高精度に検査することができる。
また、上記検査装置において、前記第1の照明機構は、前記離隔した発光器と、前記他の一群の発光器とを別々に調光可能に構成されているのが好ましい。
前記離隔した発光器と、前記他の一群の発光器との強度(照度)を別々に調整可能にすることで、前記撮像カメラによって撮像される前記被検査物画像の輝度をその全域において均一にすることができる。即ち、前記離隔した発光器は、前記他の一群の発光器よりも前記検査位置から遠ざかっているため、この離隔した発光器によって照明される部分の前記被検査面の輝度は、前記他の一群の発光器によって照明される部分の輝度よりも低くなるが、離隔した発光器の強度を高めることで、被検査面全域の輝度をほぼ均一にすることができる。また、被検査面の形状によっては、これに起因して被検査面の輝度が不均一になることがあるが、被検査面の形状に応じて発光器の強度を調節することで、被検査面全域の輝度をほぼ均一にすることができる。
また、上記検査装置は、前記搬送路を境として前記被検査物とは反対側に配設され、前記検査位置にある前記被検査物の被検査面を照明する第2の照明機構を更に備えているのが好ましい。
この第2の照明機構によって前記被検査面を照明することで、当該被検査面のより鮮明な画像を得ることができ、より高精度な検査を行うことができる。
以上詳述したように、本発明に係る検査装置によれば、前記被検査物の外観性状を高精度に検査することができる。
本発明の一実施形態に係る検査装置を示した正面図である。 図1の拡大図であって、第1及び第2の照明機構を断面で示した拡大図である。 図2における矢視B−B方向の側面図である。 図2における矢視C−C方向の側面図である。 本実施形態の変形例に係る検査装置を示した正面図である。 (a)は被検査物の平面図であり、(b)はその矢視D方向の側面図である。 従来例に係る検査装置を示した正面図である。 従来の検査装置における問題点を説明するための説明図である。
以下、本発明の具体的な実施の形態について、図面を参照しながら説明する。尚、図1は、本発明の一実施形態に係る検査装置を示した正面図であり、図2は、図1の拡大図である。また、図3は、図2における矢視B−B方向の側面図であり、図4は、図2における矢視C−C方向の側面図である。
図1及び図2に示すように、本例の検査装置1は、被検査物Wを搬送方向である矢示A方向に搬送する搬送機構2と、この搬送機構2によって搬送される被検査物Wの前端面(搬送方向前側の端面)Waを検査位置Pにおいて照明する第1の照明機構5及び第2の照明機構25と、検査位置Pにある被検査物Wの前端面Waを撮像する撮像カメラ4とを備える。
尚、本例では、図6に示した6面体形状の電子部品を被検査物Wとし、その前端面Waを被検査面としている。
[搬送機構]
前記搬送機構2は、透明又は半透明の硝子板から構成される円板状をした回転テーブル3と、この回転テーブル3を矢示A方向に水平回転させる駆動モータ(図示せず)とを備えており、前端面Waが搬送方向に向くように回転テーブル3上に供給された被検査物Wを前記回転テーブル3の回転によって前記搬送方向に搬送する。尚、当然のことながら、回転テーブル3によって搬送される被検査物Wの搬送路は円弧状の経路となる。
[撮像カメラ]
前記撮像カメラ4は、被検査物Wの前端面Waの2次元画像を撮像するカメラであり、前記検査位置Pにおいて、その撮像光軸が、前記搬送経路の接線を含む垂直面内に位置し、且つ回転テーブル3の上面、即ち搬送路となす角度が10°〜35°の範囲の角度となるように配設されている。
[第1の照明機構]
図2〜図4に示すように、前記第1の照明機構5は、第1の支持体6と、この第1の支持体6の前記搬送方向下流側の端面9に固設された第2の支持体13と、前記第1の支持体6に支持される複数のLED12と、前記第2の支持体13に支持される同じく複数のLED20とから構成され、前記検査位置Pより搬送方向下流側、且つ前記回転テーブル3の上方に配設される。
前記第1の支持体6は、その前記搬送方向上流側の端面7から下面8にかけて形成された凹曲面10を備えており、この凹曲面10上に前記複数のLED12が固設されている。これらLED12は、図4に示すように、ほぼ同心円の3円弧列上に位置するように前記凹曲面10上に配設され、本例では最外周の円弧列に17個のLED12が配設され、これより中心側の円弧列に13個のLED12が配設され、最も中心側の円弧列に9個のLED12が配設されている。
また、第1の支持体6の下面8には、その前記端面9及び前記凹曲面10に開口する凹溝11が形成されており、前記第2の支持体13が、端面9側の開口部の上部側を残してこれを塞ぐように、当該端面9に固設されている。
一方、前記第2の支持体13の前記搬送方向上流側の端面14には、複数(本例では6個)のLED20が固設されており、このLED20は、前記LED12よりも前記回転テーブル3の搬送経路に近い位置にあり、しかも、前記LED12よりも前記検査位置Pから前記搬送方向に離隔した位置に配置されている。
また、前記第2の支持体13の上面には、前記搬送方向上流側の端面14及び下流側の端面16に開口する凹溝17が形成されており、この凹溝17と前記第1の支持体6の凹溝11によって、前記撮像カメラ4により前記被検査物Wの前端面Waを撮像するための空間が形成される。即ち、撮像光軸の角度が上記角度に設定された前記撮像カメラ4により、前記空間を通して、前記被検査物Wの前端面Waを撮像することができるようになっている。
かくして、前記回転テーブル3の搬送経路と近い位置に配設される前記LED20を、他の一群のLED12よりも前記検査位置Pから前記搬送方向に離隔した位置に配置したので、LED20とLED12との間に間隔を設けることができ、前記第1の支持体に形成した凹溝11と前記第2の支持体13に形成した凹溝17とによって、前記被検査物Wの前端面Waを撮像するための空間を形成することが可能となった。
尚、前記回転テーブル3の搬送路の直上に当たる前記第2の支持体の下面15には、凹溝19が形成されており、前記回転テーブル3によって搬送される被検査物Wがこの凹溝19を通過可能になっている。
また、前記回転テーブル3の搬送経路に対し最も近い位置に配設される前記LED20は、その照明光軸が前記搬送路と3°〜15°の範囲の角度で交差するように配設されている。
また、前記LED12の内、最外周の円弧列に配列される一群(LED群G1)と、他の円弧列に配置される一群(LED群G2)と、更にLED20の一群(LED群G3)とは、それぞれその発光強度を別々に調光可能となっている。
[第2の照明機構]
前記第2の照明機構25は、支持体26と、この支持体26に支持される複数のLED30、31とから構成され、前記回転テーブル3を挟み、前記第1の照明機構6の直下に配設される。
前記支持体26は、その前記搬送方向上流側の端面27から上面28にかけて形成された凹曲面29を備えており、この凹曲面29上に前記複数のLED30,31が固設される。LED30は、図4に示すように、ほぼ同心円の3円弧列上に位置するように前記凹曲面29上に配設され、本例では最外周の円弧列に17個のLED30が配設され、これより中心側の円弧列に13個のLED30が配設され、最も中心側の円弧列に9個のLED30が配設されている。また、最も中心側の円弧列のLED30より更に中心よりに、2個のLED31が配設されている。
また、前記LED30の内、最外周の円弧列に配列される一群(LED群G4)と、他の円弧列に配置される一群及びLED31の一群(LED群G5)とは、それぞれその発光強度を別々に調光可能となっている。
以上の構成を備えた本例の検査装置1によれば、前記駆動モータ(図示せず)により駆動されて回転する回転テーブル3上に、複数の被検査物Wが、その前端面Waを搬送方向に向けた姿勢で順次所定間隔をあけて供給され、供給された被検査物Wは、前記回転テーブル3によって、前記検査位置Pを経由するように搬送される。
前記検査位置Pに達した被検査物Wは、被検査面であるその前端面Waが、前記第1の照明機構5のLED12,20から照射される光によって照明されるとともに、前記第2の照明機構25のLED30,31から照射され、回転テーブル3を透過した光によって照明される。かくして、このように上下に配置された第1及び第2の照明機構5,25によって前記前端面Waを照明しているので、被検査面たる前記前端面Waは、高い照度で均質に照明される。
そして、このように均質に照明された被検査物Wの前端面Waが前記撮像カメラ4によって撮像され、撮像された画像データが、図示しない判別装置によって解析され、当該前端面Waの外観性状の良否が判別される。
尚、本例の検査装置1では、第1の照明機構5のLED20を、その照明光軸が前記搬送路と3°〜15°の範囲の角度で交差するように配設したので、前記被検査物Wの前端面Waをほぼ正面から照明することができる。
また、第1の照明機構5のLED20を、LED12よりも前記検査位置Pから離隔した位置に設けたので、LED20とLED12との間に適切な間隔を設定することができ、この部分に、前記被検査物Wの前端面Waを撮像するための空間を形成することができる。そして、このような空間を形成することによって、前記撮像カメラ4を、その撮像光軸と前記搬送路とのなす角度(仰角)が10°〜35°の範囲の角度となるように配設することができ、これを可能な限り前記搬送路に近づけた状態に配置することができる。
かくして、このように配設した撮像カメラ4によれば、前記被検査物Wの前端面Waをでき得る限りその正面から撮像することができ、前記撮像カメラ4によって撮像される前記前端面Waの画像をより大きな画像としてとらえることができ、この結果、前記前端面Waの外観性状を高精度に検査することができる。
また、上述したように、前記LED20によって、前記被検査物Wの前端面Waをほぼ正面から照明するようにしたので、前記前端面Waからより多くの反射光を前記撮像カメラ4に取り込むことができ、これにより当該撮像カメラ4によって撮像される画像をより鮮明なものとすることができる。かくして、前記前端面Waの鮮明な画像を得ることで、当該前端面Waの外観性状をより高精度に検査することができる。
また、本例の前記第1の照明機構5及び第2の照明機構25では、前記LED群G1,G2,G3,G4,G5をそれぞれ別々に調光することができるようになっているので、前記LED群G1,G2,G3,G4,G5を適宜適切に調光することで、当該前端面Waを均質に照明することができる。また、被検査面である前記前端面Waの形状に応じて調光することもでき、被検査面の形状により、これに起因して被検査面の輝度が不均一になる場合には、当該被検査面の形状に応じて各LED群G1,G2,G3,G4,G5の強度を調節することで、被検査面全域の輝度をほぼ均一にすることができる。
このように、本例の検査装置1によれば、前記被検査物Wの前端面Waの外観性状を高精度に検査することができる。
以上、本発明の具体的な実施形態について説明したが、本発明が採り得る具体的な態様は、何らこれに限定されるものではない。例えば、上例では、被検査物Wの搬送方向前端面Waを検査するようにしたが、図5に示すように、被検査物Wの後端面を検査するようにしてもよい。この検査装置50は、前記搬送装置1を、その検査位置Pを中心として搬送方向前後に反転させたものである。このため、図5において、検査装置1と同じ構成要素については同一の符号を付しており、各構成要素の構成及び作用については、検査装置1のものと同一であるのでその説明は省略する。
1 検査装置
2 搬送機構
3 回転テーブル
4 撮像カメラ
5 第1の照明機構
6 第1の支持体
9 LED
12 第2の支持体
30 LED
25 第2の照明機構
26 支持体
30 LED
31 LED

Claims (4)

  1. 設定された搬送方向に被検査物を搬送し、該被検査物の少なくとも前記搬送方向前端面又は後端面を被検査面として検査する検査装置であって、
    前記搬送方向に沿った搬送路を有し、該搬送路上の前記被検査物を前記搬送方向に搬送する搬送機構と、前記搬送路を境として前記被検査物と同じ側に配設され、前記搬送路上の予め設定された検査位置において、前記搬送機構によって搬送される前記被検査物の前記被検査面を照明する第1の照明機構と、同じく前記被検査物と同じ側に配設され、前記検査位置にある前記被検査物の前記被検査面を撮像する撮像カメラとを少なくとも備えた検査装置において、
    前記第1の照明機構は、前記被検査物の被検査面を照明する複数の発光器と、該複数の発光器を支持する支持体とを備え、
    前記支持体は、少なくとも、前記搬送路に最も近い発光器を、他の一群の発光器よりも前記検査位置から離隔した位置で支持するように構成されるとともに、前記離隔した発光器と他の一群の発光器との間に、前記検査位置とは反対側の背面から前記被検査物の被検査面を観察できる空間を備え、
    前記撮像カメラは、前記支持体の前記背面側に配設され、前記支持体の空間を通して前記被検査物の被検査面を撮像するように構成されていることを特徴とする検査装置。
  2. 前記撮像カメラは、その撮像光軸が、前記搬送路と直交する面内にあり、且つ前記搬送路と10°〜35°の範囲の角度で交差するように配設されるとともに、
    前記第1の照明機構の前記離隔した発光器は、その照明光軸が、前記搬送路と3°〜15°の範囲の角度で交差するように配設されていることを特徴とする請求項1記載の検査装置。
  3. 前記第1の照明機構は、前記離隔した発光器と、前記他の一群の発光器とを別々に調光可能に構成されていることを特徴とする請求項1又は2記載の検査装置。
  4. 前記搬送路を境として前記被検査物とは反対側に配設され、前記検査位置にある前記被検査物の被検査面を照明する第2の照明機構を更に備えていることを特徴とする請求項1乃至3記載のいずれかの検査装置。
JP2013030766A 2013-02-20 2013-02-20 検査装置 Active JP6067407B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013030766A JP6067407B2 (ja) 2013-02-20 2013-02-20 検査装置
KR1020157023911A KR102148965B1 (ko) 2013-02-20 2013-12-25 검사 장치
PCT/JP2013/084577 WO2014129082A1 (ja) 2013-02-20 2013-12-25 検査装置
CN201380073441.8A CN105008852B (zh) 2013-02-20 2013-12-25 检查装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013030766A JP6067407B2 (ja) 2013-02-20 2013-02-20 検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014160016A true JP2014160016A (ja) 2014-09-04
JP6067407B2 JP6067407B2 (ja) 2017-01-25

Family

ID=51390893

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013030766A Active JP6067407B2 (ja) 2013-02-20 2013-02-20 検査装置

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP6067407B2 (ja)
KR (1) KR102148965B1 (ja)
CN (1) CN105008852B (ja)
WO (1) WO2014129082A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200090092A (ko) 2019-01-18 2020-07-28 다이이치지쯔교 비스위루 가부시키가이샤 검사 장치
JP7504643B2 (ja) 2020-03-30 2024-06-24 第一実業ビスウィル株式会社 検査装置

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102368707B1 (ko) * 2021-09-07 2022-02-28 주식회사 하이브비젼 라인 스캔용 논-램버시안 표면 검사 시스템

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6334523A (ja) * 1986-07-30 1988-02-15 Maki Seisakusho:Kk 果実・そ菜類の撮像用照明装置
JPH01166740A (ja) * 1987-11-25 1989-06-30 Taunton Technol Inc 輪郭測定方法とその装置
JPH05231837A (ja) * 1991-12-25 1993-09-07 Toshiba Corp 形状測定方法及び装置
JPH09210653A (ja) * 1996-01-31 1997-08-12 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 面方向検出装置
JP2008002848A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Tateyama Machine Kk 棒状回転工具の欠陥検査装置と欠陥検査方法
JP2008241342A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Tdk Corp 外観検査装置
JP2010249513A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Tdk Corp 外観検査装置
JP2011100341A (ja) * 2009-11-06 2011-05-19 Kanto Auto Works Ltd エッジ検出方法及び画像処理装置
JP2011154038A (ja) * 2006-02-23 2011-08-11 Kobe Steel Ltd 形状測定装置、形状測定方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05288527A (ja) 1992-04-10 1993-11-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装基板外観検査方法およびその装置
JPH0921755A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Suinku:Kk 検査用搬送装置および検査装置
CN1296288A (zh) * 1999-10-20 2001-05-23 奎比克视频株式会社 检查半导体器件的外观的***及其方法
AU2003278163A1 (en) * 2002-06-21 2004-01-06 Pressco Technology Inc. Patterned illumination method and apparatus for machine vision systems
JP4713279B2 (ja) * 2005-08-31 2011-06-29 第一実業ビスウィル株式会社 照明装置及びこれを備えた外観検査装置
JP4740826B2 (ja) * 2006-02-23 2011-08-03 株式会社神戸製鋼所 形状測定装置、形状測定方法
JP2008145300A (ja) * 2006-12-11 2008-06-26 Sharp Corp 蛍光体層厚み判定方法および発光装置の製造方法
JP5060808B2 (ja) * 2007-03-27 2012-10-31 オリンパス株式会社 外観検査装置
JP4493048B2 (ja) 2007-08-03 2010-06-30 第一実業ビスウィル株式会社 検査装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6334523A (ja) * 1986-07-30 1988-02-15 Maki Seisakusho:Kk 果実・そ菜類の撮像用照明装置
JPH01166740A (ja) * 1987-11-25 1989-06-30 Taunton Technol Inc 輪郭測定方法とその装置
JPH05231837A (ja) * 1991-12-25 1993-09-07 Toshiba Corp 形状測定方法及び装置
JPH09210653A (ja) * 1996-01-31 1997-08-12 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 面方向検出装置
JP2011154038A (ja) * 2006-02-23 2011-08-11 Kobe Steel Ltd 形状測定装置、形状測定方法
JP2008002848A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Tateyama Machine Kk 棒状回転工具の欠陥検査装置と欠陥検査方法
JP2008241342A (ja) * 2007-03-26 2008-10-09 Tdk Corp 外観検査装置
JP2010249513A (ja) * 2009-04-10 2010-11-04 Tdk Corp 外観検査装置
JP2011100341A (ja) * 2009-11-06 2011-05-19 Kanto Auto Works Ltd エッジ検出方法及び画像処理装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200090092A (ko) 2019-01-18 2020-07-28 다이이치지쯔교 비스위루 가부시키가이샤 검사 장치
JP2020115110A (ja) * 2019-01-18 2020-07-30 第一実業ビスウィル株式会社 検査装置
JP7246938B2 (ja) 2019-01-18 2023-03-28 第一実業ビスウィル株式会社 検査装置
JP7504643B2 (ja) 2020-03-30 2024-06-24 第一実業ビスウィル株式会社 検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN105008852A (zh) 2015-10-28
JP6067407B2 (ja) 2017-01-25
WO2014129082A1 (ja) 2014-08-28
KR20150119884A (ko) 2015-10-26
CN105008852B (zh) 2017-09-26
KR102148965B1 (ko) 2020-08-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6287360B2 (ja) 検査装置
US8670031B2 (en) High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator
JP4713279B2 (ja) 照明装置及びこれを備えた外観検査装置
KR101295760B1 (ko) 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
US8681211B2 (en) High speed optical inspection system with adaptive focusing
WO2011037903A1 (en) High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator
KR101969378B1 (ko) 조명 유닛, 결함 검사 장치, 및 조명 방법
JP7246938B2 (ja) 検査装置
JP2016050864A (ja) 半田付外観検査装置
KR101363520B1 (ko) 광조사 각도 조절가능한 조명부를 포함하는 비전검사장치
JP6067407B2 (ja) 検査装置
CN210269638U (zh) 检测模块及检测机台
TWI747365B (zh) 外觀檢查裝置
KR101361537B1 (ko) 적외선패턴조사부를 구비하는 비전검사장치
JP6546079B2 (ja) 外観検査装置及び外観検査方法
JP2005308623A (ja) 光学部材検査装置
JP2011222239A (ja) 照明装置および検査装置
JP4244696B2 (ja) 部品実装機
JP2018179789A (ja) 検査装置、検査方法、および物品製造方法
KR101442666B1 (ko) 복수 행의 조명부재를 포함하는 비전검사장치
JP7504643B2 (ja) 検査装置
KR20120086333A (ko) 적응 초점을 갖는 고속 광학 검사 시스템
US11575814B2 (en) Image capturing device and appearance inspecting device including the same
KR20200119208A (ko) 다이의 방향을 결정하기 위한 장치
JP2020204470A (ja) 照明装置及びこれを備えた外観検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151214

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20161125

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20161221

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6067407

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250