JP2014145640A - 円形ワークの径測定方法および径測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】円形ワークWの周方向の複数位置で周面を直線的に横切る方向で円形ワークWの位置ずれE1〜E4を検出するステップと、検出された位置ずれE1〜E4のずれ量に基づいて前記円形ワークWの中心O位置を決定するステップと、決定された中心O位置を通る直線上で前記円形ワークWの内径D1及び外径D2の少なくとも一方を測定するステップとを備える。
【選択図】 図3
Description
X=(E1−E2)/2 …(1)
Y=(E3−E4)/2
Claims (4)
- 円形ワークの周方向の複数位置で周面を直線的に横切る方向で前記円形ワークの位置ずれを検出するステップと、検出された位置ずれのずれ量に基づいて前記円形ワークの中心位置を決定するステップと、決定された中心位置を通る直線上で前記円形ワークの内径及び外径の少なくとも一方を測定するステップとを備える円形ワークの径測定方法。
- 前記円形ワークを回転テーブル上に載置して当該回転テーブルの回転軸周りに旋回させることで前記円形ワークの周方向の複数位置で、前記回転テーブルの径方向での前記円形ワークの位置ずれを検出するようにした請求項1に記載の円形ワークの径測定方法。
- 前記回転テーブルの回転軸周りの周方向の一箇所に、回転テーブルの径方向において一定長さの直線上の各点の変位を検出する二次元変位センサを配設し、前記円径ワークの表面の特徴点位置の、前記直線の中央位置からのずれを前記径方向の位置ずれとする請求項2に記載の円形ワークの径測定方法。
- 円形ワークを載置してこれを旋回移動させる回転テーブルと、回転テーブルの周方向の一箇所に設けられて前記回転テーブルの径方向に沿う一定長さの直線上の各点の変位を検出する二次元変位センサと、前記円径ワークの表面の特徴点位置の、前記直線の中央位置からのずれを、前記回転テーブルの径方向での前記円形ワークの位置ずれとして、当該位置ずれのずれ量に基づいて前記円形ワークの中心位置を決定する演算器と、決定された中心位置を通る直線上で前記円形ワークの内径及び外径の少なくとも一方を測定する径測定器とを備える円形ワークの径測定装置。
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2013
- 2013-01-29 JP JP2013013982A patent/JP6131610B2/ja not_active Expired - Fee Related
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