JP2012068763A

JP2012068763A - 画像処理装置

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Publication number: JP2012068763A
Application number: JP2010211410A
Authority: JP
Inventors: Yasuaki Wada; 泰明和田; Yasunori Taguchi; 安則田口
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 2010-09-21
Filing date: 2010-09-21
Publication date: 2012-04-05
Anticipated expiration: 2030-09-21
Also published as: US20120070099A1; US9025903B2; JP5367667B2

Abstract

【課題】モスキートノイズを除去する際のエッジのボケを抑制する。
【解決手段】入力画像内で処理の対象とする注目画素とその周辺画素を含む第１の領域から第１のエッジ強度を算出し、第１の領域よりも狭い第２の領域から第２のエッジ強度を算出し、第１のエッジ強度が基準より高く、かつ、第２のエッジ強度が基準より低い場合の平滑化強度が、それ以外の場合の平滑化強度より高くなるようにフィルタを決定し、決定されたフィルタを用いてフィルタ処理を行う。
【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、画像処理装置、方法およびプログラムに関する。

デジタル画像の非可逆画像圧縮により、画質が劣化する。画質の劣化はノイズとして利用者の眼に知覚される。ノイズのうち、圧縮画像中のエッジの周囲に発生する輝度値の揺らぎはモスキートノイズと呼ばれる。

従来のモスキートノイズ除去の画像処理装置には、平滑化フィルタの強度を、エッジの領域で高くして、それ以外の領域では低くするように制御するものがある。これによって、モスキートノイズが発生するエッジの周囲で強く平滑化されるため、モスキートノイズを除去することができた。しかし、エッジ部も強く平滑化されるため、エッジがぼける。

特許第４０９７５８７号公報［第２４頁、図２０］（米国特許第７２９２７３３号）

実施形態は、モスキートノイズを除去する際のエッジのボケを抑制できる画像処理装置、画像処理方法および画像処理プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、実施形態の画像処理装置は、第１エッジ強度算出部、第２エッジ強度算出部及びフィルタ処理部を備える。第１エッジ強度算出部は、入力画像中の注目画素を含む第１の領域内の画素値に基づいて、前記注目画素に関する第１のエッジ強度を算出する。第２エッジ強度算出部は、第１の領域よりも狭く、かつ、前記注目画素を含む第２の領域内の画素値に基づいて、前記注目画素に関する第２のエッジ強度を算出する。フィルタ処理部は、フィルタを決定するとともに、決定されたフィルタを用いて前記入力画像をフィルタ処理する。第１のエッジ強度が第１の基準より高く、かつ、第２のエッジ強度が第２の基準より低い場合の平滑化強度がそれ以外の場合の平滑化強度よりも高くなるようにフィルタは決定される。

本発明の第１の実施形態に係わる画像処理装置１の構成を示すブロック図。本発明の実施形態における画素領域の定義を示す図。本発明の第１の実施形態の動作を示すフローチャート。本発明の第２の実施形態に係わる画像処理装置２の構成を示すブロック図。本発明の第２の実施形態に係わる画像処理装置２の動作を示すフローチャート。本発明の第３の実施形態に係わる画像処理装置３の構成を示すブロック図。本発明の第３の実施形態の動作を示すフローチャート。平坦度算出部の動作を示すフローチャート。平坦度算出部における画素領域の定義を示す図。エッジ部とモスキートノイズが発生するエッジ周辺部の輝度断面図。本発明の第２の実施形態に係わる画像処理装置２の信号の算出過程を示す図。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態の画像処理装置１のブロック図である。画像処理装置１は、入力画像１０６の画素毎にフィルタ処理を行うことにより、出力画像１０７を生成する。画像入力装置１は、注目画素とその周辺の第１の領域で第１のエッジ強度１０４を算出する第１のエッジ強度算出部１０１と、前記注目画素を含む第２の領域で第２のエッジ強度１０５を算出する第２のエッジ強度算出部１０２と、前記第１のエッジ強度と前記第２のエッジ強度に応じて平滑化を行って出力画像１０７を生成する平滑化フィルタ部１０３とを備えている。

図１０は圧縮された画像データの復号画像中のエッジ周辺領域の輝度断面図である。横軸は画像の座標を示し、縦軸は輝度値を示す。モスキートノイズはエッジの周囲６０２で発生する。本実施形態の画像処理装置は平滑化フィルタの強度を制御する。エッジ６０１での平滑化フィルタの強度は低くなるように制御され、エッジの周囲６０２での平滑化強度は高くなるように制御される。

図２を用いて、前記注目画素と前記第１の領域、前記第２の領域について説明する。注目画素２０１は画像を構成する画素の一つである。第１の領域２０２は注目画素２０１を含む領域である。注目画素２０１の位置にモスキートノイズを発生させる原因となるエッジを検出するために、第１の領域２０２が用いられる。第２の領域２０３は注目画素のエッジ強度を算出するための領域であって、第１の領域２０２よりも狭い領域である。図２では、第１の領域２０２は１５×１５画素の矩形の領域であり、第２の領域２０３は３×３画素の矩形の領域である場合を示しているが、本発明はこのサイズ及び形状に限定されるものではない。例えば、第１の領域および第２の領域の形状は、多角形、円、楕円であっても構わない。

図３は画像処理装置１の動作を示すフローチャートである。

以下の説明では、図２に示した注目画素２０１、第１の領域２０２及び第２の領域２０３を用いて、復号画像をＹＵＶ信号（輝度・色差信号）に分離したうちのＹ成分（輝度）についてノイズ除去処理を行う場合について説明する。

入力画像１０６上に注目画素２０１が設定される（Ｓ１１）。

第１のエッジ強度算出部１０１は、入力画像１０６のうち、第１の領域２０２に含まれる画素から第１のエッジ強度１０４を算出する（Ｓ１２）。第１のエッジ強度１０４は平滑化処理部１０３へ送られる。本実施形態の第１のエッジ強度１０４は第１の領域２０２内の各画素で算出された一階微分値の最大値である。なお、第１のエッジ強度１０４として、例えば、第１の領域２０２内の各画素で算出された二階微分値の最大値を利用しても構わないし、第１の領域２０２内の各画素で取得した輝度値の最大値と最小値の差分を利用しても構わない。

第２のエッジ強度算出部１０２は、入力画像１０６のうち、第２の領域２０３に含まれる画素から第２のエッジ強度１０５を算出する（Ｓ１３）。第２のエッジ強度１０５は平滑化処理部１０３へ送られる。本実施形態の第２のエッジ強度１０５は第２の領域２０３の各画素で算出された一階微分値の最大値である。なお、第２のエッジ強度１０５として、例えば、第２の領域２０３内の各画素で算出された二階微分値の最大値を利用しても構わないし、注目画素の一階微分値や二階微分値を利用しても構わないし、第２の領域２０３の各画素で取得した輝度値の最大値と最小値の差分値を利用しても構わない。

平滑化フィルタ処理部１０３は、第１のエッジ強度１０４と第２のエッジ強度１０５に従って、入力画像１０６の注目画素２０１のそれぞれに平滑化フィルタ処理を行う。平滑化フィルタ処理部１０３は、第１のエッジ強度１０４の値が第１の基準値より高いかどうか及び第２のエッジ強度１０５の値が第２の基準値より低いかどうかを判定する。第１のエッジ強度１０４が第１の基準値より高く、かつ、第２のエッジ強度１０５が第２の基準値より低い場合の平滑化強度が、それ以外の場合の平滑化強度よりも高くなるように、フィルタ処理部１０３はフィルタ係数を決定する（Ｓ１４）。なお、関数やテーブルを用いて、第１のエッジ強度１０４が高くなるほど平滑化強度が高くなり、かつ、第２のエッジ強度１０５が低くなるほど平滑化強度が高くなるように、フィルタ係数が設定されても構わない。

平滑化フィルタ処理部１０３は、決定されたフィルタを用いて、入力画像１０６にフィルタ処理を行って、出力画像１０７の画素Ｙ成分（輝度）を算出する（Ｓ１５）。以上のＳ１１からＳ１５の処理が全ての注目画素２０１に行われたら処理を終了する（Ｓ１６）。

上述したように、第１の実施形態の画像処理装置１では、平滑化フィルタ処理の強度がエッジの周囲６０２では高くなるとともにエッジ上６０１では低くなるように制御されるので、モスキートノイズを除去する際のエッジのボケを抑制することが可能となる。

（第２の実施形態）
図４は第２の実施形態の画像処理装置２のブロック図である。画像処理装置２は、第１のエッジ強度と第２のエッジ強度を算出し、算出された第１のエッジ強度と第２のエッジ強度に従ってフィルタ係数を設定して、εフィルタによる平滑化を行う。画像処理装置２は、第１の領域内での輝度値の最大値３０８を求める第１最大値取得部３０１と、第１の領域内での輝度値の最小値３０９を求める第１最小値取得部３０２と、最大値３０８と最小値３０９の差分１０４を求める差分値算出部３０３と、第２の領域内での輝度値の最大値３１０を求める第２最大値取得部３０４と、第２の領域内での輝度値の最小値３１１を求める第２最小値取得部３０５と、最大値３１０と最小値３１１の差分１０５を求める差分値算出部３０６と、差分１０４と差分１０５の差分３１２を求める差分値算出部３０７と、差分３１２に従って入力画像１０６に平滑化フィルタ処理を行う平滑化フィルタ処理部１０３とを備えている。

図５は本実施形態の画像処理装置２の動作を示すフローチャートである。図５では画像処理装置１の動作と対応するステップに図３と同じ番号が付されている。以下の説明では、そのステップの説明は省略されている。図１１は第１のエッジ強度と第２のエッジ強度、及び差分３１２の概念図である。

第１最大値取得部３０１は、入力画像１０６上の第１の領域２０２内の画素の輝度値の最大値３０８を取得する。第１最小値取得部３０２は、第１の領域２０２内の画素の輝度値の最小値３０９を取得する（Ｓ２１）。

差分値算出部３０３は、第１最大値取得部３０１で求められた最大値３０８と第１最小値取得部３０２で求められた最小値Ｓ３０９との差分値をである第１のエッジ強度１０４を算出する（Ｓ２２）。図１１（Ａ）の入力輝度値に対して、エッジ強度１０４は図１１（Ｂ）のようにエッジ部６０１とエッジの周囲６０２で値が高くなる。

第２最大値取得部３０４は、入力画像１０６上の第２の領域２０３内の画素の輝度値の最大値３１０を取得する。第２最小値取得部３０５は、第２の領域２０３内の画素の輝度値の最小値３１１を取得する（Ｓ２３）。

差分値算出部３０６は、第２最大値取得部３０４で求められた最大値３１０と第２最小値取得部３０５で求められた最小値３１１との差分値である第２のエッジ強度１０５を算出する（Ｓ２４）。図１１（Ａ）の入力輝度値に対して、エッジ強度１０５は図１１（Ｃ）のようにエッジ部６０１で値が高くなる。

差分値算出部３０７は、第１のエッジ強度１０４と第２のエッジ強度１０５との差分値であるエッジ強度差分値３１２を求める（Ｓ２５）。以下の説明では、ＤＭＧ（ｘ，ｙ）は、入力画像１０６上の位置（ｘ，ｙ）の注目画素２０１に関するエッジ強度差分値３１２を意味する。エッジ強度差分値３１２は図１１（Ｄ）のようにエッジの周囲６０２で値が高くなる。

平滑化フィルタ処理部１０３は、エッジ強度差分値３１２に従ってフィルタを決定する（Ｓ１４）。エッジ強度差分値３１２（ＤＭＧ（ｘ，ｙ））は注目画素２０１（ｘ，ｙ）の周囲に強いエッジが存在する場合は値が大きくなるが、注目画素２０１（ｘ，ｙ）がエッジ上の画素である場合には値が小さくなる性質を有する。例えば、フィルタとしてεフィルタを利用する。εフィルタは後で説明する。このフィルタのパラメータε（ｘ，ｙ）を次式で決定する。

数式１で、Ｋはあらかじめ設定された定数値を表す。本実施形態では、平滑化フィルタ処理部１０３はε（ｘ，ｙ）をエッジ強度差分値ＤＭＧ（ｘ，ｙ）に応じて線形に定めたが、線形に限られるものではない。例えば、エッジ強度差分値ＤＭＧ（ｘ，ｙ）を入力すると、その値が大きい程大きい値となるようにε（ｘ，ｙ）を出力するようなＬＵＴ（ルックアップテーブル）や関数を用いて、平滑化フィルタ処理部１０３のフィルタ決定処理を実現しても構わない。

平滑化フィルタ処理部１０３は、前述の通りに処理をする（Ｓ１５）。平滑化フィルタとしてεフィルタを利用する場合のフィルタ演算は、次式によって表される。

数式２で、ｆ（ｘ，ｙ）は入力画像の画素（ｘ，ｙ）の輝度値を表す。（ｉ，ｊ）は、注目画素（ｘ，ｙ）に対する各周辺画素の相対位置を表す。係数ａ_ｉｊは総和が１となる低域通過フィルタ係数を表す。ｇ（ｘ，ｙ）は出力画像の画素（ｘ，ｙ）の輝度値を表す。

数式１によると、エッジ強度差分値ＤＭＧ（ｘ，ｙ）が大きい値になるほどε（ｘ，ｙ）の絶対値が大きくなる。数式２によると、ε（ｘ，ｙ）の絶対値が大きくなるほど平滑化は強く行われる。よって、ＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほど強く平滑化が行われる。前述したようにＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値は、エッジの周囲では大きくなり、エッジ上では小さくなる。すなわち、エッジの周囲のみで平滑化の強度が高くなる。

本実施形態では、εフィルタを用いる場合について説明したが、ガウシアンフィルタやバイラテラルフィルタを用いても構わない。ガウシアンフィルタを用いる場合のフィルタ演算は、次式によって表される。

数式３で、Ｋ_ｇはあらかじめ設定された定数値である。ＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほどσ（ｘ，ｙ）の値が大きくなる。σ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほど強く平滑化が行われる。よって、ＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほど平滑化は強く行われる。前述したようにＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値は、エッジの周囲では大きくなり、エッジ上では小さくなるので、エッジの周囲のみで平滑化の強度が高くなる。

バイラテラルフィルタを用いる場合のフィルタ演算は、次式によって表される。

数式４で、Ｋ_ＢＦｄとＫ_ＢＦｒはあらかじめ設定された定数値である。σ_ｄはドメイン方向の標準偏差であり、σ_ｒはレンジ方向の標準偏差である。

ＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほどσ_ｒ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるため、ＤＭＧ（ｘ，ｙ）の値が大きくなるほど強く平滑化が行われる。これにより、エッジの周囲のみで平滑化の強度が高くなる。

上述したように、第２の実施形態の画像処理装置２は、平滑化フィルタ処理の強度を、エッジの周囲では高くなるとともにエッジ上では低くなるように制御する。これにより、モスキートノイズを除去する際のエッジのボケが抑制される。

（第３の実施の形態）
図６は、第３の実施形態の画像処理装置３のブロック図である。本実施形態の画像処理装置３は、第１のエッジ強度算出部１０１と、第２のエッジ強度算出部１０２と、注目画素とその周辺画素を含む第３の領域５０１で平坦度を算出する平坦度算出部４０１と、平滑化フィルタ処理部４０２とを備える。

本実施形態の画像処理装置３では、エッジの周囲のテクスチャにノイズが重畳されていた場合、その領域が過剰に平滑化されることを抑制する。本実施形態の画像処理装置３は、注目画素が平坦な領域にあるかどうかを判断する平坦度算出部４０１をさらに備える。

本実施形態の画像処理装置３は、平坦度算出部４０１で算出される平坦度Ｓ４０３が低くなるほど平滑化の強度が高くなるように、第１のエッジ強度が高くなるほど平滑化の強度が高くなるように、かつ、第２のエッジ強度が低い平滑化の強度が高くなるように、平滑化の強度を制御する。これにより、エッジ周囲のテクスチャのぼけが知覚されにくくなる。なお、画像処理装置３は、平坦度が第３の基準値より高く、前記第１のエッジ強度が第１の基準値より高く、かつ、前記第２のエッジ強度が第２の基準値より低い場合の平滑化強度を、それ以外の場合の平滑化強度よりも高くなるように制御しても構わない。

次に図６および図７を用いて、本実施形態の画像処理装置３の動作について説明する。図７は、本実施形態の画像処理装置３の動作を示すフローチャートである。図６及び図７では画像処理装置１の構成・動作と対応する部分に同じ番号が付されていて、以下では説明が省略される。

平坦度算出部４０１は、入力画像１０６のうち、第３の領域５０１に含まれる各画素の輝度値を用いて平坦度４０３を算出する（Ｓ３１）。平坦度４０３として、例えば、第３の領域５０１に含まれる各画素の微分値の絶対値の平均値に１を加えた値の逆数を用いても構わないし、第３の領域５０１に含まれる各画素の微分値の絶対値のうち閾値以下のものの個数を用いても構わない。

本実施形態の平坦度４０３について図９を用いて説明する。図９では図２と対応する部分に同じ番号が付されていて、その部分の説明は省略される。図９の第３の領域５０１は注目画素２０１及びその周辺画素を含む。図９は、第３の領域５０１が第１の領域２０２より広い場合の例である。第３の領域５０１のサイズは第１の領域２０２のサイズ以下であっても構わない。第３の領域５０１内に１つ以上の部分領域（第４の領域５０２）を設定し、それぞれの部分領域（第４の領域５０２）に関して平坦度を算出する。本実施形態では、平坦さの評価値として、一階微分値が閾値以下である画素の個数が用いられる。第４の領域５０２のそれぞれについて算出された平坦さの評価値のうちの最大値が、第３の領域５０１の平坦度４０３として用いられる。本実施形態の平坦度４０３は、第３の領域５０１内にエッジが存在する場合でも、注目画素がエッジの周囲の平坦領域にあれば、注目画素２０１の平坦度が低くなることを防ぐことができる。

以下、図８のフローチャートを参照しながら本実施形態の平坦度４０３の算出処理を説明する。

注目画素２０１及びその周辺画素を含む第３の領域５０１を設定する（Ｓ４１）。第３の領域５０１の中から、第３の領域５０１と同じ大きさかそれよりも狭い１つ以上の第４の領域５０２を設定する（Ｓ４２）。第３の領域５０１は平坦度を算出するために用いる注目画素２０１を含む領域である。第４の領域５０２は第３の領域５０１の中で設定される第３の領域５０１と同じかそれよりも狭い領域である。第４の領域５０２は注目画素２０１を必ずしも含む必要はない。また、複数の第４の領域５０２同士で重なる部分があっても構わない。

第４の領域５０２の各画素における縦方向と横方向の一階微分値を算出する（Ｓ４３）。一階微分値が閾値以下のものの個数を第４の領域５０２の平坦さの評価値として用いる（Ｓ４４）。第４の領域５０２の平坦さの評価値が高い程、その領域内での輝度値の変化が微小、すなわち平坦であることを表す。

以上のステップＳ４２からＳ４５の処理を、第３の領域５０１内の全ての第４の領域５０２について行う（Ｓ４５）。

各第４の領域５０２で算出した平坦さの評価値の最大値を注目画素の平坦度４０３として出力する。（Ｓ４６）。

これによって注目画素２０１の平坦度４０３が求まり、平滑化フィルタ処理部４０２に送られる。注目画素（ｘ，ｙ）とその周辺画素である第３の領域５０１の平坦度４０３を平坦度Ｆ（ｘ，ｙ）で表わす。平坦度Ｆ（ｘ，ｙ）は次式によって表される。

数式５でΔx（ｘ，ｙ）は画素（ｘ，ｙ）におけるｘ方向の一階微分値を表し、Δy（ｘ，ｙ）は画素（ｘ，ｙ）におけるｙ方向の一階微分値を表す。ｎは第３の領域５０１内に設定された第４の領域５０２の個数である。Ω（ｘ，ｙ）は画素（ｘ，ｙ）からの相対位置（ｋ，ｌ）の集合であり、Ｓ_Ω（ｘ，ｙ）は、全ての（ｋ，ｌ）∈Ω（ｘ，ｙ）に対しての（ｘ＋ｋ，ｙ＋ｌ）の集合である領域における平坦さの評価値である。Ω_ｊ（ｘ，ｙ）はｊ番目の第４の領域５０２に含まれる画素の注目画素（ｘ，ｙ）からの相対位置の集合である。ＴＨは閾値である。

平滑化フィルタ処理部４０２は、第１のエッジ強度１０４と第２のエッジ強度１０５と平坦度４０３を用いてフィルタを決定する（Ｓ３２）平坦度４０３が低くなるほど平滑化の強度が高くなり、第１のエッジ強度１０４が高くなるほど平滑化の強度が高くなり、かつ、第２のエッジ強度１０５が低くなるほど平滑化の強度が高くなるように、平滑化フィルタ処理４０２はフィルタ係数を決定する。εフィルタのε（ｘ，ｙ）は、例えば第１のエッジ強度１０４第２のエッジ強度１０５の差分値であるエッジ強度差分値ＤＭＧ（ｘ，ｙ）と平坦度Ｓ４０３（Ｆ（ｘ，ｙ））によって、次式によって計算できる。

数式６で、Ｌはあらかじめ設定された定数値を表す。

平滑化フィルタ処理部４０２は、決定されたフィルタで入力画像１０６をフィルタ処理することにより、出力画像１０７の画素のＹ成分を生成する（Ｓ１５）。

このように、本発明の第３の実施形態に係わる画像処理装置３によれば、エッジを除くエッジの周囲で平坦度の高い画素のみで平滑化強度を高くすることで、エッジとテクスチャをぼかさずに平坦部に目立つモスキートノイズを除去することが可能となる。

なお、この画像処理装置は、例えば、汎用のコンピュータ装置を基本ハードウェアとして用いることでも実現することが可能である。すなわち、第１のエッジ強度算出部１０１、第２のエッジ強度算出部１０２および平滑化フィルタ処理部１０３は、上記のコンピュータ装置に搭載されたプロセッサにプログラムを実行させることにより実現することができる。このとき、画像処理装置は、上記のプログラムをコンピュータ装置にあらかじめインストールすることで実現してもよいし、ＣＤ−ＲＯＭなどの記憶媒体に記憶して、あるいはネットワークを介して上記のプログラムを配布して、このプログラムをコンピュータ装置に適宜インストールすることで実現してもよい。また、上記のコンピュータ装置に内蔵あるいは外付けされたメモリ、ハードディスクもしくはＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒなどの記憶媒体などを適宜利用して実現することができる。

また、前記第１のエッジ強度を画素毎に算出したが、符号化時に分割されるＭ×Ｎ画素単位のブロック毎に算出してもよいし、Ｍ×Ｎ画素単位のブロックを含む広範囲な領域毎でもよい。

また、画像のＹ成分（輝度値）に対するノイズ除去処理を示したが、これに限られず、色差値、ＲＧＢ等の色値に対して上記のノイズ除去を行ってもよい。

なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。

１、２、３画像処理装置
１０１第１のエッジ強度算出部１０２第２のエッジ強度算出部
１０３平滑化フィルタ処理部１０４第１のエッジ強度
１０５第２のエッジ強度１０６入力画像
１０７出力画像３０１第１最大値取得部
３０２第１最小値取得部３０３差分値算出部
３０４第２最大値取得部３０５第２最小値取得部
３０６差分値算出部３０７差分値算出部
４０１平坦度算出部４０２平滑化フィルタ処理部

Claims

入力画像中の注目画素を含む第１の領域内の画素値に基づいて、前記注目画素に関する第１のエッジ強度を算出する第１エッジ強度算出部と、
前記第１の領域よりも狭く、かつ、前記注目画素を含む第２の領域内の画素値に基づいて、前記注目画素に関する第２のエッジ強度を算出する第２エッジ強度算出部と、
第１のエッジ強度が第１の基準より高く、かつ、第２のエッジ強度が第２の基準より低い場合の平滑化強度がそれ以外の場合の平滑化強度よりも高くなるようにフィルタを決定するとともに、前記フィルタを用いて前記入力画像をフィルタ処理するフィルタ処理部と、
を備える画像処理装置。
前記第１のエッジ強度と前記第２のエッジ強度の差分値が大きくなるほど前記平滑化強度が高くなるように、前記フィルタ処理部は前記フィルタを決定する、
請求項１に記載の画像処理装置。
前記第１のエッジ強度は、前記第１の領域に含まれる画素の値の最大値と最小値の差分値であり、
前記第２のエッジ強度は、前記第２の領域に含まれる画素の値の最大値と最小値の差分値である、
請求項２に記載の画像処理装置。
前記第１のエッジ強度は、前記第１の領域における各画素で算出された一階微分の最大値、二階微分の最大値、または、輝度勾配の最大値であり、
前記第２のエッジ強度は、前記第２の領域の各画素で算出された一階微分の最大値、二階微分の最大値、注目画素の一階微分の値、注目画素の二階微分の値、または、注目画素の輝度勾配の値である、
請求項２に記載の画像処理装置。
前記フィルタはεフィルタであり、前記平滑化強度は前記εフィルタの閾値εである、
請求項１に記載の画像処理装置。
前記フィルタはガウシアンフィルタであり、前記平滑化強度は前記ガウシアンフィルタの標準偏差σである、
請求項１に記載の画像処理装置。
前記フィルタはバイラテラルフィルタであり、前記平滑化強度は前記バイラテラルフィルタのドメイン方向の標準偏差σ_ｄ及びレンジ方向の標準偏差σ_ｒである、
請求項１に記載の画像処理装置。
前記注目画素及び周辺画素を含む第３の領域内の画素値の変化が小さいほど大きくなる平坦度を算出する平坦度算出部をさらに備え、
前記平坦度が第３の基準より高く、前記第１のエッジ強度が前記第１の基準より高く、かつ、前記第２のエッジ強度が前記第２の基準より低い場合の平滑化強度が、それ以外の場合の平滑化強度よりも高くなるように、前記フィルタ処理部は前記フィルタを決定する、
請求項１に記載の画像処理装置。