JP2011082340A - 光半導体封止材 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】無機粒子を含有する第一樹脂層と、その上に直接又は間接的に積層されてなる、蛍光体を含有する第二樹脂層を含んでなる、シート状光半導体封止材。
【選択図】なし
Description
〔1〕 無機粒子を含有する第一樹脂層と、その上に直接又は間接的に積層されてなる、蛍光体を含有する第二樹脂層を含んでなる、シート状光半導体封止材、
〔2〕 無機粒子を含有する第一樹脂層を含むシート状成形体と、蛍光体を含有する第二樹脂層を含むシート状成形体とを含んでなる、光半導体封止用キット。
〔3〕 前記〔1〕記載のシート状光半導体封止材を、第一樹脂層が光半導体素子に対向するように、光半導体素子搭載基板上に載置し、加圧成型して封止してなる、光半導体装置、ならびに
〔4〕 前記〔2〕記載の光半導体封止用キットを用いて封止してなる光半導体装置であって、第一樹脂層を含むシート状成形体を光半導体素子搭載基板上に載置し、さらに、第二樹脂層を含むシート状成形体を積層後、加圧成型して封止してなる、光半導体装置に関する。
本発明のシート状光半導体封止材を、第一樹脂層が光半導体素子に対向するように、光半導体素子搭載基板上に載置し、加圧成型して封止した光半導体装置、
本発明の光半導体封止用キットを用いて、第一樹脂層を含むシート状成形体を光半導体素子搭載基板上に載置し、さらに、第二樹脂層を含むシート状成形体を積層後、加圧成型して封止した光半導体装置
が挙げられる。
本明細書において、金属酸化物微粒子の平均粒子径とは一次粒子の平均粒子径を意味し、金属酸化物微粒子の粒子分散液について動的光散乱法で測定して算出される体積中位粒径(D50)のことである。
<第一樹脂層>
シリコーンエラストマー(旭化成ワッカーシリコーン社製、ELASTOSIL LR-7665)9.95gに、二酸化珪素(電気化学合成社製、FB-7SDC、平均粒子径5.8μm、球状)を0.05g(無機粒子含有量:0.5重量%)加え、手攪拌により均一に分散し、液状の二酸化珪素含有樹脂を得た。
シリコーンエラストマー(LR-7665)8.4gに、YAGを1.6g(蛍光体含有量:16重量%)加え、手攪拌により均一に分散し、液状の蛍光体含有樹脂を得た。
蛍光体含有樹脂を、アプリケーターを用いてPC上に100μmの厚みに塗工し、90℃で4分30秒乾燥して、蛍光体含有樹脂シートを得た。得られた蛍光体含有樹脂シートの上に、同様にして、二酸化珪素含有樹脂を500μmの厚みに塗工し、125℃で9分乾燥して、光半導体封止用シートを得た。
光半導体素子(波長域450nm)を実装した平板の基板上に、シリコーンエラストマー(LR-7665)を適量のせ、その上に、第一樹脂層が基板に対向するよう、光半導体封止用シートをのせた。その上に、大きさ8mmφ、高さ500μmの金型を載せて、真空プレス装置(ニチゴーモートン社製、V-130)を用いて、0.1MPa、160℃の条件下で5分プレスすることにより、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における、シリコーンエラストマー(LR-7665)の量を9.5gに、二酸化珪素(FB-7SDC)の量を0.5g(無機粒子含有量:5重量%)に変更する以外は、実施例1と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における、シリコーンエラストマー(LR-7665)の量を7.0gに、二酸化珪素(FB-7SDC)の量を3.0g(無機粒子含有量:30重量%)に変更する以外は、実施例1と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における、シリコーンエラストマー(LR-7665)の量を5.0gに、二酸化珪素(FB-7SDC)の量を5.0g(無機粒子含有量:50重量%)に変更する以外は、実施例1と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における、シリコーンエラストマー(LR-7665)の量を3.0gに、二酸化珪素(FB-7SDC)の量を7.0g(無機粒子含有量:70重量%)に変更する以外は、実施例1と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における二酸化珪素の種類を、二酸化珪素(電気化学合成社製、FB-40S、平均粒子径39.8μm、球状)に変更する以外は、実施例3と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における二酸化珪素の種類を、二酸化珪素(電気化学合成社製、SFP-20M、平均粒子径0.3μm、球状)に変更する以外は、実施例3と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における二酸化珪素の種類を、二酸化珪素(龍森社製、クリスタライト 5X、平均粒子径1.5μm、破砕状)に変更する以外は、実施例3と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における無機粒子の種類を、硫酸バリウム(竹原化学工業社製、W-6、平均粒子径5.0μm、破砕状)に変更する以外は、実施例2と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における二酸化珪素の種類を、二酸化珪素(FB-40S)に変更する以外は、実施例4と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層において無機粒子を添加しない以外は、実施例1と同様にして、光半導体装置を得た。
第一樹脂層における無機粒子の種類を、アルミナ(AS-50)に変更する以外は、実施例2と同様にして、光半導体装置を得た。
ヒートシンク(材質:銅)の上に、放熱用シリコーン(サンハヤト社製、SCH-30、熱伝導率0.96W/mK)を適量垂らし、その上に光半導体装置を固定し、点灯開始から10秒までは、100mA/秒で電流値を上げ、500mAに達してから3分後の第二樹脂層の最高温度を測定する。なお、温度測定は、サーモグラフィ(チノー社製、CPA1000)を用いて、点灯中の光半導体装置の上方よりフォーカスを合わせて行う。また、樹脂温度は低いほど好ましい。
各光半導体装置を50mAで点灯させ、その際の発光輝度を全天輝度計測に従って測定する。なお、輝度測定には積分球を使用し、マルチ測光システム(大塚電子社製、MCPD-3000)を用いて行う。また、発光輝度(Y値)は2000以上がより好ましい。
2 無機粒子
3 蛍光体を含有する第二樹脂層
4 第三封止材
5 金型
6 基板
7 LEDチップ
Claims (10)
- 無機粒子を含有する第一樹脂層と、その上に直接又は間接的に積層されてなる、蛍光体を含有する第二樹脂層を含んでなる、シート状光半導体封止材。
- 第一樹脂層の構成樹脂がシリコーン樹脂を含有してなる、請求項1記載のシート状光半導体封止材。
- 無機粒子が、二酸化珪素及び硫酸バリウムからなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでなる、請求項1又は2記載のシート状光半導体封止材。
- 第二樹脂層の構成樹脂がシリコーン樹脂を含有してなる、請求項1〜3いずれか記載のシート状光半導体封止材。
- 無機粒子を含有する第一樹脂層を含むシート状成形体と、蛍光体を含有する第二樹脂層を含むシート状成形体とを含んでなる、光半導体封止用キット。
- 第一樹脂層の構成樹脂がシリコーン樹脂を含有してなる、請求項5記載の光半導体封止用キット。
- 無機粒子が、二酸化珪素及び硫酸バリウムからなる群より選ばれる少なくとも1種を含んでなる、請求項5又は6記載の光半導体封止用キット。
- 第二樹脂層の構成樹脂がシリコーン樹脂を含有してなる、請求項5〜7いずれか記載の光半導体封止用キット。
- 請求項1〜4いずれか記載のシート状光半導体封止材を、第一樹脂層が光半導体素子に対向するように、光半導体素子搭載基板上に載置し、加圧成型して封止してなる、光半導体装置。
- 請求項5〜8いずれか記載の光半導体封止用キットを用いて封止してなる光半導体装置であって、第一樹脂層を含むシート状成形体を光半導体素子搭載基板上に載置し、さらに、第二樹脂層を含むシート状成形体を積層後、加圧成型して封止してなる、光半導体装置。
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