JP2011033410A - コンタクトプローブ及びソケット - Google Patents
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Abstract
【解決手段】第1プランジャー1のうちコイルスプリング3の伸縮方向に関してコイルスプリング3の外側に位置する部分(フランジ部12及び先端側本体部13)の第2プランジャー2との摺動面は、部分的に傾斜部15となっている。コイルスプリング3が伸びている第1の状態(開放状態)からコイルスプリング3が縮んでいる第2の状態(圧縮状態)に遷移する過程で、第2プランジャー2の摺動部21が板バネ状に変形して第1プランジャー1の傾斜部15に乗り上げる。
【選択図】図1
Description
一方が検査対象物との接続用で他方が検査用基板との接続用である第1及び第2プランジャーと、前記第1及び第2プランジャーを互いに離れる方向に付勢するように前記第1及び第2プランジャーに対して設けられたスプリングとを備え、
前記第1プランジャーは、前記第2プランジャーとの摺動範囲の少なくとも一部が傾斜部となっていて、
前記スプリングが伸びている第1の状態から前記スプリングが縮んでいる第2の状態に遷移する過程で、前記第2プランジャーが前記傾斜部に乗り上げる構造である。
前記第2プランジャーは、前記第1プランジャーとの摺動範囲の少なくとも一部が傾斜部となっていて、
前記第1の状態から前記第2の状態に遷移する過程で、前記第1プランジャーが前記第2プランジャーの前記傾斜部に乗り上げる構造であるとよい。
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るコンタクトプローブ100の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。図2は、同コンタクトプローブ100の分解図である。図3は、同コンタクトプローブ100を複数本支持してなるソケット30の使用状態における正断面図である。
・絶縁支持体31の空洞部32の中間部35の径:0.22mm
・コンタクトプローブ100の外径(コイルスプリング3の外径):0.2mm
・コイルスプリング3の線径(線幅):0.04mm
・コイルスプリング3の内径:0.12mm
・第1プランジャー1の末端部11の厚さ:0.055mm
・第2プランジャー2の摺動部21の厚さ:0.055mm
・コンタクトプローブ100の自由長:4mm
・コンタクトプローブ100の使用長:3mm
図11は、本発明の第2の実施の形態に係るコンタクトプローブ200の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。図12は、図11(B)のXII-XII'断面図である。本実施の形態のコンタクトプローブ200は、第1の実施の形態と比較して、傾斜部225が第2プランジャー202(検査対象物との接続部品)に存在する点と、第2プランジャー202の末端部221が末端から所定長に渡って第1プランジャー201の存在する方向に傾いている点と、第1プランジャー201の摺動部211が第2プランジャー202の末端部221よりも小径である点とで主に相違する。
図13は、本発明の第3の実施の形態に係るコンタクトプローブ300の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。本実施の形態のコンタクトプローブ300は、第1の実施の形態と比較して、傾斜部15の存在範囲が小さくなっている(短くなっている)点と、第2プランジャー2の摺動部21が第1プランジャー1の末端部11よりも小径である点とで主に相違する。
図14は、本発明の第4の実施の形態に係るコンタクトプローブ400の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。本実施の形態のコンタクトプローブ400は、第1の実施の形態と比較して、傾斜部15が直線的な斜面からR面(末端側から見て傾斜が平坦から連続的に急になる斜面)になっている点で主に相違する。本実施の形態も、第1の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
図15は、本発明の第5の実施の形態に係るコンタクトプローブ500の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。本実施の形態のコンタクトプローブ500は、第1の実施の形態と比較して、傾斜部15が凸部515によって成されている点で主に相違する。凸部515の形状は、摺動部21が乗り上げ可能であれば特に限定されないが、図16に示すような三角錐形状や、四角錐形状あるいは楔形形状等である。本実施の形態も、第1の実施の形態と同様の効果を奏することができる。
図17は、本発明の第6の実施の形態に係るコンタクトプローブ600の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態の正面図、(B)は同状態の右側面図、(C)はスプリング圧縮状態の正面図、(D)は同状態の右側面図を示す。図18は、同コンタクトプローブ600の第1プランジャー1の部品図であり、(A)は正面図、(B)は右側面図、(C)は底面図である。
図19は、本発明の第7の実施の形態に係るコンタクトプローブ700の全体構成図であり、(A)はスプリング開放状態、(B)はスプリング圧縮状態を示す。本実施の形態のコンタクトプローブ700は、第1の実施の形態と比較して、第1プランジャー1と第2プランジャー2との双方に傾斜部が存在し、傾斜部が共にコイルスプリング3の長さ範囲内に存在する点で主に相違する。
2 第2プランジャー
3 コイルスプリング
5 検査対象物
5a 電極バンプ
6 検査用基板
11 末端部
12,23 フランジ部
13,24 先端側本体部
13a,24a 接触部
15 傾斜部
30 ソケット
100,200,・・・,700 コンタクトプローブ
Claims (9)
- 一方が検査対象物との接続用で他方が検査用基板との接続用である第1及び第2プランジャーと、前記第1及び第2プランジャーを互いに離れる方向に付勢するように前記第1及び第2プランジャーに対して設けられたスプリングとを備え、
前記第1プランジャーは、前記第2プランジャーとの摺動範囲の少なくとも一部が傾斜部となっていて、
前記スプリングが伸びている第1の状態から前記スプリングが縮んでいる第2の状態に遷移する過程で、前記第2プランジャーが前記傾斜部に乗り上げる構造である、コンタクトプローブ。 - 請求項1に記載のコンタクトプローブにおいて、前記傾斜部が前記スプリングの伸縮方向に関して前記スプリングの外側に存在する、コンタクトプローブ。
- 請求項2に記載のコンタクトプローブにおいて、前記第2プランジャーは、前記傾斜部に乗り上げた状態で、板バネ状に変形して末端が前記伸縮方向に垂直な方向に関して前記スプリングの内周幅範囲外に延在している、コンタクトプローブ。
- 請求項3に記載のコンタクトプローブにおいて、前記第2プランジャーは、前記傾斜部に乗り上げた状態で、長手方向の中間部が前記スプリングの伸縮方向の端部内周と当接し、かつ、前記中間部よりも末端側の一部と先端側の一部との双方が前記第1プランジャーと当接している、コンタクトプローブ。
- 請求項1から4のいずれかに記載のコンタクトプローブにおいて、前記第2プランジャーは長さ方向の中間部から末端側が2本に分かれた二股部となっていて、前記第1プランジャーの末端が前記二股部の間に位置し、前記傾斜部は前記二股部の一方及び他方の双方に対応して少なくとも1つずつ存在する、コンタクトプローブ。
- 請求項5に記載のコンタクトプローブにおいて、前記第1プランジャーの長さ方向の中間部のフランジ部は、前記摺動部分を切り欠いて溝状に形成していて、前記フランジ部の末端側端面が前記スプリングの一方の端部と当接している、コンタクトプローブ。
- 請求項1から6のいずれかに記載のコンタクトプローブにおいて、
前記第2プランジャーは、前記第1プランジャーとの摺動範囲の少なくとも一部が傾斜部となっていて、
前記第1の状態から前記第2の状態に遷移する過程で、前記第1プランジャーが前記第2プランジャーの前記傾斜部に乗り上げる構造である、コンタクトプローブ。 - 請求項1から7のいずれかに記載のコンタクトプローブにおいて、前記第1プランジャーの末端が前記第2プランジャーの存在する方向に傾いている、コンタクトプローブ。
- 請求項1から8のいずれかに記載のコンタクトプローブを複数本絶縁支持体で支持してなるソケット。
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Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012181948A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
WO2015068222A1 (ja) * | 2013-11-06 | 2015-05-14 | 理化電子株式会社 | コンタクトプローブ |
KR101525120B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2015-06-02 | (주)아이윈 | 공차가 확대된 인너브릿지 타입 스프링 프로 브 핀 |
CN105074475A (zh) * | 2013-07-19 | 2015-11-18 | 黄东源 | 弹簧触头 |
WO2016021723A1 (ja) * | 2014-08-08 | 2016-02-11 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
TWI559003B (zh) * | 2014-03-06 | 2016-11-21 | Omron Tateisi Electronics Co | 探針銷及使用此探針銷之電子裝置 |
JP2017146118A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | オムロン株式会社 | プローブピンおよびそれを用いた検査装置 |
KR20180038032A (ko) * | 2016-02-15 | 2018-04-13 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀 및 이것을 사용한 검사 장치 |
KR102094618B1 (ko) * | 2018-11-13 | 2020-03-30 | 주식회사 새한마이크로텍 | 마이크로 접촉 핀 |
WO2021140904A1 (ja) * | 2020-01-10 | 2021-07-15 | 日本電産リード株式会社 | 接触子、検査治具、検査装置、及び接触子の製造方法 |
CN113167816A (zh) * | 2018-12-03 | 2021-07-23 | 恩普乐股份有限公司 | 接触针及插座 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62157576A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-13 | オ−ガツト・インコ−ポレ−テツド | テストプロ−ブ |
JP2005069805A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Jst Mfg Co Ltd | コンタクトプローブおよびそれを用いたコンタクトアセンブリ |
JP2006310025A (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Chichibu Fuji Co Ltd | Icソケット用接触装置 |
JP2008032743A (ja) * | 2007-10-01 | 2008-02-14 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性接触子 |
JP2008516398A (ja) * | 2004-10-06 | 2008-05-15 | プラストロニックス・ソケット・パートナーズ, エルピー | 電子デバイスのためのコンタクト |
WO2008136396A1 (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子 |
-
2009
- 2009-07-30 JP JP2009178406A patent/JP5624740B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62157576A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-07-13 | オ−ガツト・インコ−ポレ−テツド | テストプロ−ブ |
JP2005069805A (ja) * | 2003-08-22 | 2005-03-17 | Jst Mfg Co Ltd | コンタクトプローブおよびそれを用いたコンタクトアセンブリ |
JP2008516398A (ja) * | 2004-10-06 | 2008-05-15 | プラストロニックス・ソケット・パートナーズ, エルピー | 電子デバイスのためのコンタクト |
JP2006310025A (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Chichibu Fuji Co Ltd | Icソケット用接触装置 |
WO2008136396A1 (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Nhk Spring Co., Ltd. | 導電性接触子 |
JP2008032743A (ja) * | 2007-10-01 | 2008-02-14 | Nhk Spring Co Ltd | 導電性接触子 |
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012181948A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Enplas Corp | コンタクトピン及び電気部品用ソケット |
CN105074475A (zh) * | 2013-07-19 | 2015-11-18 | 黄东源 | 弹簧触头 |
WO2015068222A1 (ja) * | 2013-11-06 | 2015-05-14 | 理化電子株式会社 | コンタクトプローブ |
KR101525120B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2015-06-02 | (주)아이윈 | 공차가 확대된 인너브릿지 타입 스프링 프로 브 핀 |
TWI559003B (zh) * | 2014-03-06 | 2016-11-21 | Omron Tateisi Electronics Co | 探針銷及使用此探針銷之電子裝置 |
WO2016021723A1 (ja) * | 2014-08-08 | 2016-02-11 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
JPWO2016021723A1 (ja) * | 2014-08-08 | 2017-05-25 | 日本発條株式会社 | 接続端子 |
US10411386B2 (en) | 2014-08-08 | 2019-09-10 | Nhk Spring Co., Ltd. | Connection terminal |
KR20180038032A (ko) * | 2016-02-15 | 2018-04-13 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀 및 이것을 사용한 검사 장치 |
CN108027391A (zh) * | 2016-02-15 | 2018-05-11 | 欧姆龙株式会社 | 探针销及使用探针销的检查装置 |
KR102001349B1 (ko) | 2016-02-15 | 2019-07-17 | 오므론 가부시키가이샤 | 프로브 핀 및 이것을 사용한 검사 장치 |
JP2017146118A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | オムロン株式会社 | プローブピンおよびそれを用いた検査装置 |
US10557867B2 (en) | 2016-02-15 | 2020-02-11 | Omron Corporation | Probe pin and inspection device including probe pin |
KR102094618B1 (ko) * | 2018-11-13 | 2020-03-30 | 주식회사 새한마이크로텍 | 마이크로 접촉 핀 |
CN113167816A (zh) * | 2018-12-03 | 2021-07-23 | 恩普乐股份有限公司 | 接触针及插座 |
WO2021140904A1 (ja) * | 2020-01-10 | 2021-07-15 | 日本電産リード株式会社 | 接触子、検査治具、検査装置、及び接触子の製造方法 |
EP4089721A4 (en) * | 2020-01-10 | 2024-02-14 | Nidec Read Corporation | CONTACTOR, INSPECTION TEMPLATE, INSPECTION DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAID CONTACTOR |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5624740B2 (ja) | 2014-11-12 |
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