JP2011023184A - 質量分析計及び質量分析方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】イオン源と、イオンガイドと、イオントラップとを有する質量分析装置において、イオントラップから質量選択的にイオンを排出している間に、イオンガイド部に、イオントラップにトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入する。
【選択図】 図1
Description
実施例5の構成では実施例1に比べて、構造が単純になり部品点数が減少するという利点がある。一方、トラップされたイオンの内質量選択的に排出されるイオンの割合(排出効率)は実施例1のほうが高い。
Claims (20)
- イオンを生成するイオン源と、
前記イオン源から導入される前記イオンを輸送するイオンガイド部と、
前記イオンガイド部から導入されるイオンをトラップし、質量選択的に排出するイオントラップ部と、
前記イオントラップ部から排出されたイオンを検出する検出器と、
制御部とを有し、
前記制御部は、前記イオンガイド部と前記イオントラップ部の電圧制御により、前記イオントラップ部から質量選択的にイオンを排出している時間に、前記イオンガイド部に、前記イオントラップ部にトラップされているイオンと逆極性のイオンを導入することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオンガイド部が、多重極ロッド電極を有する多重極イオンガイドであることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項2に記載の質量分析装置において、前記イオンガイド部が四重極ロッド電極を有し、対向するロッド電極間で同極性、隣接するロッド電極間で逆極性になるように静電圧が印加されることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項2に記載の質量分析装置において、前記多重極ロッド電極間にDC電圧が印加される羽電極を有し、前記羽電極の端面と前記多重極ロッド電極の中心軸との距離が、導入されるイオンの入口側よりも出口側の方が大きいことを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオンガイド部と前記イオントラップ部の間に、イオンの通過を制御する電極を有することを特徴とする質量分析装置
- 請求項5に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記イオンの通過を制御する電極の電位に対し、前記イオンガイド部の多重極ロッド電極のオフセット電位と、前記イオントラップのオフセット電位の極性を逆極性にすることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項5に記載の質量分析装置において、前記イオンの通過を制御する電極に交流電圧が印加されることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項7に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記交流電圧により前記イオンの通過を制御する電極に形成される擬ポテンシャルの高さを、前記イオンガイド部の前記イオンの通過を制御する電極に対するオフセット電位より低く、前記イオントラップ部の前記イオンの通過を制御する電極対するオフセット電位より高くすることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御部は、前記イオンガイド部と前記イオントラップ部との間であって、前記イオンガイド部に隣接する第1の電極の前記イオンガイド部のオフセット電位に対する電位と、前記イオントラップ部に隣接する第2の電極の前記イオントラップ部のオフセット電位に対する電位が逆極性となる電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1記載の質量分析装置において、前記イオントラップは多重極電極を有し、前記多重極ロッド電極には、ロッド電極の径方向にスロットが形成され、前記制御部は、前記ロッド電極に補助交流電圧を印加してイオンを径方向に励起することにより排出することを特徴とする質量分析装置。
- 前記イオントラップ部は四重極ロッド電極を有し、前記イオントラップ部のイオンの入口側と出口側に、前記四重極ロッド電極の隣り合うロッド電極間に設けられた羽電極を有し、前記羽電極は、それぞれ入口側と出口側の端部が中心部よりも前記四重極のロッド中心との距離が短く形成されていることを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記イオンガイド部が、複数のリング電極を有し、隣り合うリング電極の間で逆位相になるようにRF電圧が印加されることを特徴とする質量分析装置。
- 前記イオントラップ部と前記検出器との間に、イオン解離部を有することを特徴とする請求項1記載の質量分析装置。
- イオン源と、イオンを輸送するイオンガイドと、前記イオンガイドからのイオンをトラップするイオントラップとを備えた質量分析装置を用いた質量分析方法であって、
前記イオン源から前記イオンガイドに第1のイオンを導入する工程と、
前記第1のイオンを、前記イオンガイドから前記イオントラップに導入する工程と、
前記第1のイオンを前記イオントラップから排出して分析する分析工程と、
前記分析工程において、前記イオンガイドに前記第1のイオンとは逆極性の第2のイオンを蓄積する工程とを有することを特徴とする質量分析方法。 - 前記イオン源の極性の切り替えを、前記イオンガイドに導入されたイオンの冷却時に行うことを特徴とする請求項14に記載の質量分析方法。
- 前記イオントラップに前記第1のイオンを導入する工程と、さらに、前記イオントラップに前記イオン源からイオンを導入する工程とを有することを特徴する請求項14記載の質量分析方法。
- 前記イオンガイドと前記イオントラップとの間に設けられたイオンの通過を制御する電極を用い、前記イオンの通過を制御する電極の電位に対し、前記イオンガイド部のオフセット電位と、前記イオントラップのオフセット電位の極性を逆極性にして、前記第1のイオンを前記イオンガイドから前記イオントラップに導入することを特徴とする請求項14記載の質量分析方法。
- 前記イオンガイドと前記イオントラップとの間に設けられたイオンの通過を制御する電極に交流電圧を印加し、形成される擬ポテンシャルの高さを、前記イオンガイドの前記イオンの通過を制御する電極の電位に対するオフセット電位より低く、前記イオントラップの前記イオンの通過を制御する電極の電位に対するオフセット電位より高くすることにより、前記第1のイオンを前記イオンガイドから前記イオントラップに導入することを特徴とする請求項14記載の質量分析方法。
- 前記質量分析装置は、前記イオンガイドと前記イオントラップとの間に設けられ、前記イオンガイドに隣接する第1の電極と、前記イオントラップに隣接する第2の電極とを有し、前記第1の電極の前記イオンガイド部のオフセット電位に対する電位と、前記第2の電極の前記イオントラップ部のオフセット電位に対する電位が逆極性となる電圧を印加して、イオンを前記イオンガイドから前記イオントラップに導入することを特徴とする請求項14記載の質量分析方法。
- 前記イオントラップは、四重極ロッド電極とイオンが排出される出口端電極とを有し、前記出口端電極と前記四重極ロッド電極との間で形成されるフリンジングフィールドにより、径方向に共鳴励起したイオンを排出することを特徴とする請求項14記載の質量分析方法。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2634792A2 (en) | 2012-03-02 | 2013-09-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric system |
WO2014042037A1 (ja) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び方法 |
JP2016533012A (ja) * | 2013-08-13 | 2016-10-20 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
WO2018069982A1 (ja) * | 2016-10-11 | 2018-04-19 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP2022155565A (ja) * | 2021-03-30 | 2022-10-13 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオントラップ |
WO2024042908A1 (ja) * | 2022-08-23 | 2024-02-29 | 株式会社日立ハイテク | イオンガイド、およびそれを備える質量分析装置 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5771456B2 (ja) * | 2011-06-24 | 2015-09-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析方法 |
US8907272B1 (en) * | 2013-10-04 | 2014-12-09 | Thermo Finnigan Llc | Radio frequency device to separate ions from gas stream and method thereof |
CN105830197B (zh) * | 2013-12-24 | 2018-06-26 | Dh科技发展私人贸易有限公司 | 一种在质谱分析中使用的离子反应装置和质谱仪 |
US11728153B2 (en) * | 2018-12-14 | 2023-08-15 | Thermo Finnigan Llc | Collision cell with enhanced ion beam focusing and transmission |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001176444A (ja) * | 1999-12-15 | 2001-06-29 | Jeol Ltd | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 |
JP2005339812A (ja) * | 2004-05-24 | 2005-12-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2007095702A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-04-12 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP2007524202A (ja) * | 2004-01-23 | 2007-08-23 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 高速発振電気ポテンシャルを持った正及び負のイオンの閉じ込め |
JP2007232728A (ja) * | 2007-03-29 | 2007-09-13 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
WO2008071967A2 (en) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
JP2008542738A (ja) * | 2005-06-03 | 2008-11-27 | シマヅ リサーチ ラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド | イオントラップ内にイオンを導入する方法及びイオン蓄積装置 |
JP2009117388A (ja) * | 2005-10-31 | 2009-05-28 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5179278A (en) | 1991-08-23 | 1993-01-12 | Mds Health Group Limited | Multipole inlet system for ion traps |
US5420425A (en) | 1994-05-27 | 1995-05-30 | Finnigan Corporation | Ion trap mass spectrometer system and method |
US5783824A (en) | 1995-04-03 | 1998-07-21 | Hitachi, Ltd. | Ion trapping mass spectrometry apparatus |
US6177668B1 (en) | 1996-06-06 | 2001-01-23 | Mds Inc. | Axial ejection in a multipole mass spectrometer |
-
2009
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095702A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-04-12 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP2001176444A (ja) * | 1999-12-15 | 2001-06-29 | Jeol Ltd | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 |
JP2007524202A (ja) * | 2004-01-23 | 2007-08-23 | サーモ フィニガン リミテッド ライアビリティ カンパニー | 高速発振電気ポテンシャルを持った正及び負のイオンの閉じ込め |
JP2005339812A (ja) * | 2004-05-24 | 2005-12-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置 |
JP2008542738A (ja) * | 2005-06-03 | 2008-11-27 | シマヅ リサーチ ラボラトリー(ヨーロッパ)リミティド | イオントラップ内にイオンを導入する方法及びイオン蓄積装置 |
JP2009117388A (ja) * | 2005-10-31 | 2009-05-28 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
WO2008071967A2 (en) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer |
JP2007232728A (ja) * | 2007-03-29 | 2007-09-13 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2634792A2 (en) | 2012-03-02 | 2013-09-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric system |
US9287105B2 (en) | 2012-03-02 | 2016-03-15 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometric system |
WO2014042037A1 (ja) * | 2012-09-14 | 2014-03-20 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び方法 |
JP2014059989A (ja) * | 2012-09-14 | 2014-04-03 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置及び方法 |
JP2016533012A (ja) * | 2013-08-13 | 2016-10-20 | パーデュー・リサーチ・ファウンデーションPurdue Research Foundation | 小型質量分析器を用いたサンプル定量化 |
US10930481B2 (en) | 2013-08-13 | 2021-02-23 | Purdue Research Foundation | Sample quantitation with a miniature mass spectrometer |
WO2018069982A1 (ja) * | 2016-10-11 | 2018-04-19 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JPWO2018069982A1 (ja) * | 2016-10-11 | 2019-03-22 | 株式会社島津製作所 | イオンガイド及び質量分析装置 |
JP2022155565A (ja) * | 2021-03-30 | 2022-10-13 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオントラップ |
JP7354337B2 (ja) | 2021-03-30 | 2023-10-02 | サーモ フィッシャー サイエンティフィック (ブレーメン) ゲーエムベーハー | イオントラップ |
WO2024042908A1 (ja) * | 2022-08-23 | 2024-02-29 | 株式会社日立ハイテク | イオンガイド、およびそれを備える質量分析装置 |
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