JP2010269465A - 記録装置、制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することが可能な記録装置を提供する。
【解決手段】プラテン板（31）上の副走査方向に配列された複数のマーク（101,102）から構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターン（100）を、読取センサ（30）を用いて検出する。そして、読取センサ（30）が各テストパターン（100）を検出して得られる複数のマーク（101,102）間の計測距離；Ln'と、予め定められた複数のマーク（101,102）間の理論上の距離；Lnと、の関係から得られるキャリッジ（5）の副走査方向の傾き量；θを算出する。そして、各テストパターン（100）毎に算出したキャリッジ（5）の副走査方向の傾き量；θの主走査方向の位置による変動量（Δθ）が、所定の閾値（α）以上の場合に、キャリッジ（5）の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なると判断する。
【選択図】図５

Description

本発明は、インクジェットプリンタ等の記録装置に関する。

インクジェット方式の記録装置は、主走査方向の往復移動時にキャリッジに搭載された記録ヘッドからインクを吐出し、記録媒体上にインクを付着させ、記録媒体上に一ラインの画像を形成する。そして、搬送ローラ等を用いて記録媒体を副走査方向に搬送し、一ラインの画像の形成を繰り返し、記録媒体上に画像を形成する。

しかし、搬送ローラを用いて記録媒体を搬送すると、搬送ローラの取り付け状態や、搬送ローラの偏芯等が原因で記録媒体の搬送量（送り量）が変動してしまう問題がある。記録媒体の搬送量が変動すると、記録媒体上に一ラインの画像を形成する本来の形成位置（理想位置）とは異なる位置に画像を形成してしまうことになる。

このようなことから、本発明より先に出願された技術文献として、キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上にテストパターンを記録し、そのテストパターンを基に、記録媒体の搬送方向の位置ずれ量を検出し、搬送ローラの回転量を補正する技術について開示された文献がある（例えば、特許文献１参照）。

上記特許文献１の技術では、キャリッジに搭載された記録ヘッド201の上流ノズルを用いて基準パターン（第１のパターン）を用紙（記録媒体）に記録し（例えば、図２１（A））、記録ヘッド201の下流ノズルを用いて調整パターン（第２のパターン）を用紙に記録し（例えば、図２１（B））、搬送ローラの１番目の位置（位相）での調整用パッチを形成する。そして、反射型光学センサ130を用いて調整用パッチを測定し、１番目の位置（位相）でのドットのずれ量を導出する。また、上記と同様な処理を行い、２番目の位置（位相）でのドットのずれ量を導出する。次に、１番目の位置（位相）でのドットのずれ量と２番目の位置（位相）でのドットのずれ量とから平均ずれ量を算出し、その算出した平均ずれ量に対応するパルス調整値と理論上の指令パルス値から正しい指令パルス値を導出する。そして、搬送ローラの回転量として、その導出した正しい指令パルス値を設定し、該設定したパルス値に基いて搬送ローラを駆動することにしている。このように、上記特許文献１の技術では、キャリッジに搭載された記録ヘッド201を主走査方向に移動させながら、調整用パッチを用紙に形成し、また、反射型光学センサ（検出手段）130も記録ヘッド201と同様に主走査方向に移動させながら、調整用パッチを測定し、ドットのずれ量を導出している。

上記特許文献１の技術は、インクを吐出するノズルの位置が副走査方向に変動しないことを前提としている。しかし、キャリッジが副走査方向に傾くと、ノズルの角度が副走査方向に動いてしまう。キャリッジが副走査方向に傾いていても、その副走査方向に傾いたキャリッジの角度（キャリッジの副走査方向の傾き量）が主走査方向の位置で常に一定であれば特許文献１の技術でも問題はない。しかし、キャリッジの副走査方向の傾き量がキャリッジの主走査方向の位置に応じて変動すると、キャリッジに搭載された記録ヘッドの副走査方向の記録位置も変動してしまい、テストパターン（第１のパターン、第２のパターン）そのものが正確でなくなってしまう。正確でないテストパターンから得られるドットのずれ量を基に、搬送ローラの回転量を調整しても、誤った調整が行われることになり、結果として、搬送ローラの回転量を正しく調整できないことになる。

このため、キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、キャリッジの副走査方向の傾き量を人手操作で調整したり、キャリッジやガイドロッド等を取り替えたりする必要がある。

このようなことから、キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出するための仕組みの開発が必要視されることになる。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することが可能な記録装置、制御方法及びプログラムを提供することを目的とする。

かかる目的を達成するために、本発明は、以下の特徴を有することとする。

＜記録装置＞
本発明にかかる記録装置は、
キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置であって、
前記キャリッジに搭載され、該キャリッジを主走査方向に走査することで、テストチャート上またはプラテン上の副走査方向に配列された複数のマークから構成されるテストパターンを複数検出する検出手段と、
前記検出手段が各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出手段と、
前記算出手段が各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断手段と、
を備えることを特徴とする。

＜制御方法＞
本発明にかかる制御方法は、
キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置で行う制御方法であって、
テストチャート上、または、プラテン板上の副走査方向に配列された複数のマークから構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターンを、前記キャリッジに搭載された検出手段を用いて検出する検出工程と、
前記検出工程で各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出工程と、
前記算出工程で各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断工程と、
を有することを特徴とする。

＜プログラム＞
本発明にかかるプログラムは、
キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置に実行させるプログラムであって、
テストチャート上、または、プラテン板上の副走査方向に配列された複数のマークから構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターンを、前記キャリッジに搭載された検出手段を用いて検出する検出処理と、
前記検出処理で各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出処理と、
前記算出処理で各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断処理と、
を、コンピュータに実行させることを特徴とする。

本発明によれば、キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することができる。

本実施形態の記録装置の機構部の概略構成例を示す図である。 搬送ローラ一周期における搬送量の変動を示す図である。 搬送ローラの形状による搬送量の違いを示す図である。 搬送ローラの位置（位相）による搬送量の変化を示す図である。 本実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第１の図である。 本実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第２の図である。 読取センサ30の構成例を示す図である。 マーク101,102間の距離；Ln'の算出例を説明するための図である。 本実施形態の記録装置の制御機構の構成例を示す図である。 キャリッジ5が傾いていない状態を示す図である。 キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いている状態を示す図である。 本実施形態の記録装置の第１の処理動作例を示す図である。 キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する際の処理動作例を説明するための図である。 本実施形態の記録装置の第２の処理動作例を示す図である。 第２の実施形態の記録装置の処理動作例を示す図である。 第３の実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第１の図である。 第３の実施形態の記録装置の印字機構の概略構成例を示す第２の図である。 キャリッジ5が傾いていない状態を示す図である。 キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いている状態を示す図である。 テストチャート300の構成例を示す図である。 従来技術を説明するための図である。

（本実施形態の記録装置の概要）
まず、図５、図６、図１０、図１１、図１２を参照しながら、本実施形態の記録装置の概要について説明する。

本実施形態の記録装置は、図５、図６に示すように、キャリッジ5を主走査方向に走査し、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド6を用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置である。

本実施形態の記録装置は、図１２に示すように、プラテン板31上の副走査方向に配列された複数のマーク101,102から構成されるテストパターン100を、キャリッジ5に搭載された読取センサ30を用いて検出する（ステップA2）。そして、テストパターン100を検出して得られる複数のマーク101,102間の計測距離；Ln'（図１１に示すLn'）と、予め定められた複数のマーク101,102間の理論上の距離；Ln（図１０に示すLn）と、の関係（Ln'＝Ln×cosθ）から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する（ステップA3）。

本実施形態の記録装置は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θをプラテン板31上の主走査方向に配置されたテストパターン100毎に算出し（ステップA1〜A5）、そのテストパターン100毎に算出したキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの主走査方向の位置による変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上の場合に（ステップA6/Yes）、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なると判断する。これにより、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することができる。

なお、本実施形態の記録装置は、図２０に示すテストチャート300上の副走査方向に配列された複数のマーク101,102から構成されるテストパターン100を、キャリッジ5に搭載された読取センサ30を用いて検出し、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θをテストチャート300上の主走査方向に配置されたテストパターン100毎に算出することでも、上述した図１２に示す処理と同様に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することができる。以下、添付図面を参照しながら、本実施形態の記録装置について詳細に説明する。

（第１の実施形態）
＜記録装置の機構部の概略構成例＞
まず、図１を参照しながら、本実施形態の記録装置の機構部の概略構成例について説明する。

本実施形態の記録装置は、両側の側板1，2間に主支持ガイドロッド3及び従支持ガイドロッド4を略水平な位置関係で横架し、主支持ガイドロッド3及び従支持ガイドロッド4でキャリッジ5を主走査方向に摺動自在に支持するように構成している。

キャリッジ5は、イエロー（Y）インク、マゼンタ（M）インク、シアン（C）インク、ブラック（Bk）インクを吐出する4個の記録ヘッド6y，6m，6c，6kを、その吐出面（ノズル面）を下方に向けて搭載している。また、キャリッジ5は、記録ヘッド6（符号「6」は、「6y，6m，6c，6k」の何れか又は総称を意味する）の上側に4個のインクカートリッジ7（符号「7」は、「7y，7m，7c，7k」の何れか又は総称を意味する）を交換可能に搭載している。インクカートリッジ7は、4個の記録ヘッド6にインクを供給するための各色のインク供給体である。キャリッジ5は、主走査モータ8で回転する駆動プーリ（駆動タイミングプーリ）9と、従動プーリ（アイドラプーリ）10と、の間に張装したタイミングベルト11に連結し、主走査モータ8を駆動制御することで、主走査方向に移動するように構成している。主走査方向への移動は、キャリッジ5にエンコーダセンサ41を設け、そのエンコーダセンサ41がエンコーダシート40のマークを検知して得られるエンコーダ値を基に制御する。

また、本実施形態の記録装置は、側板1，2を繋ぐ底板12上にサブフレーム13，14を立設し、このサブフレーム13，14間に搬送ローラ15を回転自在に保持して構成している。そして、サブフレーム14側に副走査モータ17を配設し、この副走査モータ17の回転を搬送ローラ15に伝達するために、副走査モータ17の回転軸に固定したギヤ18と搬送ローラ15の軸に固定したギヤ19とを有して構成している。

また、側板1とサブフレーム12との間には、記録ヘッド6の信頼性維持回復機構（以下、「サブシステム」と称する）21を配置している。サブシステム21は、記録ヘッド6の吐出面をキャッピングする4個のキャップ手段22をホルダ23で保持し、このホルダ23をリンク部材24で揺動可能に保持して構成している。そして、キャリッジ5が主走査方向に移動し、ホルダ23に設けた係合部25にキャリッジ5が当接した場合に、ホルダ23がリフトアップし、キャップ手段22で記録ヘッド6の吐出面をキャッピングするようにしている。また、キャリッジ5が印字領域側に移動した場合に、ホルダ23がリフトダウンし、キャップ手段22が記録ヘッド6の吐出面から離れるようにしている。

なお、キャップ手段22は、吸引チューブ26を介して吸引ポンプ27に接続すると共に、大気開放口を形成し、大気開放チューブ及び大気開放バルブを介して大気に連通するようにしている。また、吸引ポンプ27は、吸引した廃液（廃インク）を廃液貯留槽に排出するようにしている。

また、ホルダ23の側方には、記録ヘッド6の吐出面をワイピングするワイパブレード30をブレードアーム31に取り付け、このブレードアーム31は、揺動可能に軸支し、図示しない駆動手段で回動されるカムの回転によって揺動するようにしている。

上述した図１に示す本実施形態の記録装置は、主走査方向の往復移動時に記録ヘッド6からインクを吐出し、記録媒体16上にインクを付着させ、記録媒体16上に像（ドット）を記録する。そして、搬送ローラ15を回転させ、記録媒体16を副走査方向に搬送し、主走査方向の記録を繰り返し、記録媒体16上に画像を形成する。

但し、搬送ローラ15を回転させて記録媒体16を搬送すると、僅かながら搬送量のずれが生じる。その結果、記録媒体16を所定量搬送しても、記録媒体16の記録位置（記録媒体16上に像を実際に記録する記録位置）が本来の理想位置（記録媒体16上に像を記録したい本来の記録位置）からずれてしまう。

搬送量のずれが生じる原因としては、大きく分けて、記録媒体16に起因するものと、搬送ローラ15に起因するものと、が挙げられる。

まず、記録媒体16に起因するものについて説明する。

記録媒体16に起因するものとしては、搬送ローラ15との接触状態や摩擦状態が変動する条件が挙げられる。例えば、記録媒体16の幅（A0〜A5サイズなど）、厚み、摩擦係数等が挙げられる。記録媒体16の搬送量の位置ずれ補正は、記録装置における搬送ローラ15の条件が固定であるため、使用する記録媒体16のサイズ、厚さ、種類、紙質などの条件毎に行うことが好ましい。

次に、搬送ローラ15側の要因について説明する。

図２は、搬送ローラ15の搬送量の変動を模式的に示す図である。図２において、縦軸は、送り変動量であり、横軸は、搬送量である。図２から分かるように、記録媒体16の搬送量は、大きく以下の２つの成分により表現できる。

１つ目は、記録媒体16の種類、記録装置及び環境に依存するローラ一回転内における固定成分（図２におけるＡ）である。

２つ目は、ローラ精度、ローラのたわみ、ローラ支持部材の取り付けに依存するローラ一回転の周期を持つ変動成分（図２におけるＢ）である。つまり、記録媒体16の搬送量は、これら２つの成分の足し合わせで近似が可能である。

ところで、固定成分（図２におけるＡ）は、使用環境に依存するため、レジスト調整は、実際に記録動作を行う環境下で行う必要がある。一方、変動成分（図２におけるＢ）は、個体に依存するため、調整は出荷時などに一度行えばよい。

図３は、搬送ローラ15の断面形状による媒体搬送量の違いを表す模式図である。但し、記録媒体16を搬送するための搬送ローラ15の回転角度が一様であると仮定する。

搬送ローラ15の断面形状が真円である場合、角度“R”だけ搬送ローラ15を回転させたときの搬送量は、図３（Ａ）に示すようにどの位置においても同一のL0である。ところが、搬送ローラ15の断面が異形状である場合、角度“R”だけ搬送ローラ15を回転させたときの搬送量は、搬送ローラ15の回転位置により異なる。例えば、図３（Ｂ）に示すように搬送ローラ15の断面形状が楕円である場合、ある位置においてはL1だけ記録媒体16が搬送される。また、異なる位置においてはL2だけ記録媒体16が搬送される。この場合、L1＞L0＞L2の関係を持ち、ローラ周期に依存した搬送変動が生じる。なお、この搬送量L0、L1、L2は、角度“R”のときの円弧の長さとほぼ一致している。

このようなローラ周期に依存した搬送量の変動がある場合、実画像に影響を与えることになる。ローラ周期に依存した搬送量の変動がある場合、搬送ローラ15の回転位置により液滴の着弾位置に偏りを生じることを意味する。

図３では、搬送ローラ15の断面形状が、真円であるか、楕円であるかの違いを用いて、搬送ローラ15一回転内の搬送量変動成分の発生について説明した。変動成分の発生要因としては、搬送ローラ15の断面形状だけでなく、例えば、搬送ローラ15の回転軸のずれ（偏芯）、搬送ローラ15のたわみ、あるいは周辺の温度または湿度の影響による搬送ローラ15の膨張など他の発生要因も考えられる。

次に、ローラ周期に依存した搬送量の変動による記録への影響を考える。

まず、搬送ローラ15の位置が図３（Ｂ）のL1にある場合、記録媒体16の搬送量が通常より大きくなるため、実際に記録したい位置よりも下部（搬送方向後方）に記録されることになる。

一方、搬送ローラ15の位置が図３（Ｂ）のL2にある場合、記録媒体16の搬送量が通常より小さくなるため、記録したい画像は、理想位置よりも上部（搬送方向方）に記録されることになる。そのため、均一な濃度の画像を記録した場合などにおいて、濃淡差が発生することになる。このムラは、風景画の背景など、単一な画像では顕著に確認されてしまい、高画質プリントの弊害となる。

通常は、搬送量を調整する場合、記録媒体16の種類、記録装置及び環境に依存する固定成分（図２におけるＡ）を調整することを意味する。そして、従来の技術においては、調整パターンを用いて搬送量のずれ量を導出し、搬送の調整値として用いていた。しかし、上述した変動成分の存在による影響で、固定成分の調整値を取得する位置が、レジスト調整動作を行うタイミングによって変化してしまうことになる。

図４は、搬送ローラ15の位置（位相）による搬送量の変化を模式的に示す図である。図４の（１）の位置でレジスト調整を行った場合、固定成分より大きな調整値を取得し、（３）の位置では固定成分より小さな調整値を取得してしまう。図４の（２）の位置で搬送量調整値を導出することにより固定成分に相当する量をほぼ正しく導出可能である。しかし、変動成分は、前述の通り搬送ローラ15におけるローラ精度、ローラのたわみ、ローラ支持部材の取り付けに依存するものであるため、この位置を特定することは一般に困難である。

しかし、上述したように搬送量の変動は、搬送ローラ15の一回転に対応する周期を持って変動している。特に、図２に示すように、その変動周期がsin関数一周期分で近似可能な場合は、搬送ローラ15の1/2回転に対応する２点の位置における変動量は、絶対値が同一で正負が逆の変動量となることが理解できる。

このため、本実施形態の記録装置は、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド6を用いて記録媒体16上に複数のテストパターンを形成する。そして、キャリッジ5に搭載された読取センサ30を用いて記録媒体16上に形成された複数のテストパターンを検出し、そのテストパターンの間隔を基に、搬送ローラ15の搬送量の変動を検出する。そして、その検出結果を基に、搬送ローラ15の駆動を制御し、搬送ローラ15による副走査方向の搬送量の変動を調整する。これにより、搬送ローラ15による副走査方向の搬送量の変動を低減することができる。

しかし、キャリッジ5が副走査方向に傾くと、ノズルの角度が副走査方向に動いてしまう。キャリッジ5が副走査方向に傾いていても、その副走査方向に傾いたキャリッジ5の角度（キャリッジ5の副走査方向の傾き量）が主走査方向の位置で常に一定であれば特に問題はない。しかし、キャリッジ5の副走査方向への傾き量がキャリッジ5の主走査方向の位置に応じて変動すると、キャリッジ5に搭載された記録ヘッド6の副走査方向の記録位置も変動してしまい、テストパターンそのものが正確でなくなってしまう。正確でないテストパターンから得られるドットのずれ量を基に、搬送ローラ15による副走査方向の搬送量の変動を調整しても、誤った調整が行われることになり、結果として、搬送量の変動を正しく調整できないことになる。

このため、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を人手操作で調整したり、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等を取り替えたりする必要がある。

キャリッジ5の副走査方向の傾き量が変動する要因としては、キャリッジ5の組み付け誤差、主支持ガイドロッド3の削れ等の経年変化等が挙げられる。その結果、その誤差を含んだテストパターンを検出して得られた検出結果を基に、搬送ローラ15の駆動を制御したとしても、搬送ローラ15による副走査方向の搬送量の変動を低減することができない。また、誤差を含んだテストパターンを検出して得られた検出結果を基に、搬送ローラ15の駆動を制御してしまうと、逆に、搬送量の変動が増大してしまう虞がある。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、画像形成を行ったとしても本来の形成位置（理想位置）とは異なる位置に画像を形成してしまうことになる。このため、本実施形態の記録装置は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、画像形成を行わないように制御する。これにより、誤った画像形成を未然に回避することができる。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を調整する必要がある。このため、本実施形態の記録装置は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる場合には、その旨を報知し、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を人手操作で調整したり、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等を取り替えたりするようにユーザに促すように制御する。これにより、キャリッジ5の副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なる旨をユーザに通知し、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を人手操作で調整したり、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等を取り替えたりすることができる。以下、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を検出する際の具体的な仕組みについて詳細に説明する。

＜記録装置の印字機構の構成例＞
まず、図５、図６を参照しながら、本実施形態の記録装置の印字機構の構成例について説明する。図５は、キャリッジ5の上面図を示し、図６は、キャリッジ5の側面図を示す。図６（a）は、主走査方向からのキャリッジ5の側面図を示し、図６（b）は、副走査方向からのキャリッジ5の側面図を示す。

本実施形態の記録装置の印字機構は、キャリッジ5と、主支持ガイドロッド3と、エンコーダシート40と、プラテン板31と、を有して構成する。キャリッジ5は、記録ヘッド6と、読取センサ30と、エンコーダセンサ41と、を有して構成する。

本実施形態のプラテン板31上には、図５、図６に示すように、複数のテストパターン100が主走査方向に配置さている。テストパターン100は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量を測定する際に使用するものである。本実施形態で使用する１つのテストパターン100は、複数のマーク101,102で構成し、そのマーク101,102は、プラテン板31上の副走査方向に配列され、第１のマーク101と第２のマーク102との間の距離；Lnが、例えば、10000［um］程度となるように構成している。Lnは、マーク101,102間の理論上の距離であり、記録装置に予め設定される値である。

記録ヘッド6は、複数のノズル列を備えておりプラテン板31上に搬送された記録媒体16にインクを吐出し、記録媒体16に像（ドット）を印字する。記録ヘッド6を装填したキャリッジ5は、主走査方向に移動する。本実施形態の印字機構は、キャリッジ5を主走査方向に移動し、所定の印字タイミング信号に従って記録ヘッド6のノズル列から記録媒体16にインクを吐出し、記録媒体16に像（ドット）を印字する。

読取センサ30は、プラテン板31上に設けられたテストパターン100を検出し、テストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を測定する。Ln'は、読取センサ30で測定したマーク101,102間の計測距離であり、記録装置が読取センサ30を用いて動的に測定される値である。本実施形態の印字機構は、キャリッジ5を主走査方向に移動させながら、プラテン板31上の主走査方向に配置された複数のテストパターン100を読取センサ30で検出し、各テストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'をテストパターン100毎に測定する。

読取センサ30は、例えば、反射型光学センサで構成し、図７に示すように、発光部301と受光部302と結像部303とを含んで構成する。

発光部301は、光を発光し、その発光部301から発光された光は、プラテン板31上に配置されたテストパターン100を構成するマーク101,102の表面で反射する。

受光部302は、テストパターン100を構成するマーク101,102の表面で反射した反射光（反射光強度）を検出する。受光部302は、マーク101,102の反射光を同時に検出するために、一次元の位置情報の取得可能なラインセンサや、CCD等を用いることが好ましい。本実施形態では、受光部302にラインセンサを設けて構成した場合を例に説明する。

受光部302は、マーク101,102の表面で反射した反射光（反射光強度）を検出するため、その検出した反射光量（反射光強度）を基に、テストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を測定することができる。マーク101,102間の距離；Ln'は、例えば、図８に示すように、マーク101,102のエッジ部分を検出し、その検出したマーク101,102のエッジ部分の間の画素数を基に、マーク101,102間の距離；Ln'を測定することができる。ラインセンサを1200［dpi］の分解能とすると、１画素あたりの検出間隔は約21［um］となるため、マーク101,102のエッジ部分の間の画素数が6になった場合は、マーク101,102間の距離；Ln'は、21［um］×6＝126［um］となる。

結像部303は、マーク101,102の表面で反射した反射光が受光部302に入射するようにする。結像部303は、縮小光学系や、ラインセンサを構成するそれぞれの画素にマイクロレンズを取り付ける態様で構成することも可能である。

なお、読取センサ30の構成やその検出方法は、プラテン板31に配置されたテストパターン100を構成する複数のマーク101,102を同時に検出し、マーク101,102間の距離；Ln'を測定することが可能であれば特に限定するものではなく、あらゆる構成や検出方法が適用可能である。また、読取センサ30の配置位置についても同様に、テストパターン100を構成する複数のマーク101,102を同時に検出することが可能であれば特に限定するものではなく、任意の位置に配置することが可能である。

また、テストパターン100を構成する各マーク101,102は、プラテン板31の色と区別された色で構成することが好ましい。また、各マーク101,102は、発光部301から発光された光を反射することが可能な材料で構成することが好ましい。これにより、読取センサ30は、テストパターン100を構成する各マーク101,102を同時に検出し易くすることが可能となる。本実施形態で使用する各マーク101,102は、プラテン板31の上面からみて40［um］×40［um］程度の大きさで構成する。

＜記録装置の制御機構の構成例＞
次に、図９を参照しながら、本実施形態の記録装置の制御機構の構成例について説明する。

本実施形態の記録装置の制御機構は、CPU107、ROM118、RAM119、記憶部120、キャリッジ5、主走査ドライバ109、記録ヘッド6、記録ヘッドドライバ111、エンコーダセンサ41、読取センサ30、紙搬送部112、副走査ドライバ113、を含んで構成している。

CPU107は、記録データや駆動制御信号（パルス信号）を、記憶部120および各ドライバに供給し、記録装置全体の制御を司る。CPU107は、主走査ドライバ109を介して、キャリッジ5の主走査方向の駆動を制御する。また、記録ヘッドドライバ111を介して、記録ヘッド6によるインクの吐出タイミングを制御する。また、副走査ドライバ113を介して、紙搬送部112（搬送ベルトなど）の副走査方向の駆動を制御する。本実施形態のCPU107は、キャリッジ5の傾き量；θを算出するプログラムを実行し、読取センサ30を用いて測定したマーク101,102間の距離；Ln'を基にキャリッジ5の副走査方向の傾き量;θを算出し、その算出した傾き量；θの値を記憶部120に記憶する。

エンコーダセンサ41は、エンコーダシート40のマークを検知して得られるエンコーダ値をCPU107に出力する。CPU107は、そのエンコーダ値を基に、主走査ドライバ109を介して、キャリッジ5の主走査方向の駆動を制御する。

読取センサ30は、プラテン板31上に設けられたテストパターン100を検出し、テストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を測定する。CPU107は、読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離；Ln'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出し、その算出した傾き量；θの値を記憶部120に記憶する。

CPU107は、キャリッジ5が傾いてない状態時に測定したマーク101,102間の理論上の距離；Lnと、読取センサ30で測定したマーク101,102間の計測距離；Ln'と、を基にキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する。

図１０は、キャリッジ5が傾いていない状態を示し、図１１は、キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いている状態を示す。図１０に示すように、キャリッジ5が傾いていない状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離をLnと仮定する。このLnは、CPU107が予め把握できるように記憶部120に記憶しておく。図１１に示すように、キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いた状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離をLn'とすると、Ln'は、Ln'＝Ln×cosθとなる。

このため、CPU107は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θをCOSθ＝Ln'/Lnで算出できる。

例えば、Ln＝10000［um］とし、Ln'＝9962［um］とした場合、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θは5［deg］となる。

このように、CPU107は、キャリッジ5が傾いていない図１０に示す状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の理論上の距離；Lnと、図１１に示す状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の計測距離；Ln'と、を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量：θを算出することができる。

ROM118は、所要の情報を保存しておくものである。例えば、CPU107で実行する処理手順等のプログラムが格納される。RAM119は、ワーキングメモリ等として使用するものである。

＜キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの算出処理＞
次に、図１２を参照しながら、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する際の処理動作について説明する。

CPU107は、キャリッジ5を初期位置に移動させ、プラテン板31上に配置された複数のテストパターン100の検出を開始する。初期位置とは、キャリッジ5の移動方向（主走査方向）で、プラテン板31に配置されたテストパターン100を検出する開始位置（往路走査開始位置）を示す。

まず、CPU107は、読取センサ30を搭載したキャリッジ5を主走査方向に走査し、プラテン板31に配置された初期値n=0から始まるn＝n+1番目のテストパターン100上にキャリッジ5を停止し（ステップA1）、n番目のテストパターン100を読取センサ30で検出し、そのn番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を測定する（ステップA2）。

プラテン板31の主走査方向に配置された複数のテストパターン100の位置は、エンコーダセンサ41がエンコーダシート40のマークを検知して得られるエンコーダ値と対応付けて記憶部120に管理することで、各テストパターン100の位置でキャリッジ5を停止するように制御することができる。

CPU107は、読取センサ30で測定したn番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を基に、そのLn'に応じたキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する（ステップA3）。

CPU107は、上記算出したキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを記憶部120に記憶する（ステップA4）。

CPU107は、プラテン板31上の主走査方向に配置されたＮ個のテストパターン100の検出処理が完了したか否かを判定し（n=N?）（ステップA5）、Ｎ個のテストパターン100の検出処理が完了するまで、ステップA1〜ステップA4の処理を繰り返し、各テストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；Ln'を算出し、その算出したマーク101,102間の距離；Ln'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを各テストパターン100毎に算出することになる（ステップA5/No→ステップA1〜A4）。

これにより、CPU107は、図１３に示すように、１番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；L1'から順番に、２番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；L2'、３番目、・・・、Ｎ番目のテストパターンを構成するマーク101,102間の距離；LN'を算出し、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを各テストパターン100毎に算出することになる。

例えば、１番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；L1'から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'は、Cosθ_L1'＝L1’/Lnから算出できる。同様に、２番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；L2'から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L2'は、Cosθ_L2'＝L2’/Lnから算出でき、N番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；LN'から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_LN'は、Cosθ_LN'＝LN’/Lnから算出できる。

CPU107は、Ｎ個のテストパターン100の検出処理が完了した場合に（ステップA5/Yes）、記憶部120に記憶したＮ個のキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上か否かを判定する（ステップA6）。

キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）は、例えば、以下の方法を用いて算出する。

各テストパターン100毎に算出したキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の中で最大値の傾き量（θ_Max）と最小値の傾き量（θ_Min）とを特定し、その最大値の傾き量（θ_Max）と最小値の傾き量（θ_Min）との差分（｜θ_Max−θ_Min｜）を変動量（Δθ）とする。
Δθ＝｜θ_Max−θ_Min｜
これにより、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの変動量（Δθ）を算出することができる。なお、上述したキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの変動量（Δθ）の算出方法は、一例であり、様々な手法を用いて変動量（Δθ）を算出するように構築することは可能である。

CPU107は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上である場合（Δθ≧α）は（ステップA6/Yes）、報知動作を行い（ステップA7）、キャリッジ5の変動量が発生した旨を、記録装置を使用するユーザに知らせ、処理を終了する（End）。報知動作の方法は、特に限定せず、音や光で報知したり、記録装置の表示部上に報知したり、記録装置とネットワークを介して接続された情報処理装置（図示せず）にメールで報知したりする方法等が適用可能である。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの変動量（Δθ）が所定の閾値（α）未満である場合（Δθ＜α）は（ステップA6/No）、報知動作を行わず、そのまま処理を終了する（End）。

なお、上記処理動作では、CPU107は、Ｎ個のテストパターン100の検出処理が完了した場合に（ステップA5/Yes）、記憶部120に記憶したＮ個のキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上か否かを判定することにした（ステップA6）。

しかし、図１４に示すように、1つのテストパターン100の検出処理が完了する毎に、それまでの検出処理で得られた複数のキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_Ln'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_Ln'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上か否かを判定するように構築することも可能である（ステップA'5）。例えば、４番目のテストパターン100を構成するマーク101,102間の距離；L4'から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L4'を算出した場合は、それまでの１番目〜４番目のテストパターン100を検出して得られた複数のキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_L4'を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_L4'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上か否かを判定することになる。そして、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_L4'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上の場合は（ステップA'5/Yes）、報知動作を行い（ステップA７）、処理を終了する（End）。また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_L4'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）未満の場合は（ステップA'5/No）、プラテン板31上の主走査方向に配置されたＮ個のテストパターン100の検出処理が完了したか否かを判定し（n=N?）（ステップA'6）、Ｎ個のテストパターン100の検出処理が完了していないため（ステップA'6/No）、５番目のテストパターン100の検出処理を開始する（ステップA1〜A4）。

これにより、Ｎ個のテストパターン100の検出処理が完了しなくとも、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_Ln'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上か否かを判定することができる。

＜本実施形態の記録装置の作用・効果＞
このように、本実施形態の記録装置は、プラテン板31上の副走査方向に配列された複数のマーク101,102から構成されるテストパターン100を、キャリッジ5に搭載された読取センサ30で検出し、テストパターン100を検出して得られる複数のマーク101,102間の計測距離；Ln'と、予め定められた複数のマーク101,102間の理論上の距離；Lnと、の関係（Ln'＝Ln×cosθ）から得られるキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する。

本実施形態の記録装置は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θをプラテン板31上の主走査方向に配置されたテストパターン100毎に算出し、そのテストパターン100毎に算出したキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの主走査方向の位置による変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上の場合に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なると判断する。これにより、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なる状態を検出することができる。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なる場合には、画像形成を行わないように制御し、誤った画像形成を未然に回避することができる。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θが主走査方向の位置に応じて異なる場合には、その旨を報知し、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを人手操作で調整したり、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等を取り替えたりするようにユーザに促すように制御することができる。

（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。

第１の実施形態では、図１２に示すように、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が所定の閾値（α）以上と判断した場合に（ステップA6/Yes）、報知動作を行い（ステップA7）、キャリッジ5の変動量が発生した旨を、記録装置を使用するユーザに知らせることにした。

第２の実施形態では、図１５に示すように、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が第１の閾値（α１）以上と判断した場合に（ステップB1/Yes）、サービスマンに対する第１の報知動作を行い（ステップB2）、キャリッジ5の変動量が発生した旨を、記録装置と接続されたサービスマンが使用する情報処理装置に通知する。第１の報知動作を行う際に通知する情報処理装置は、記録装置に予め設定しておくことになる。また、第１の閾値（α１）は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が発生しても、搬送ローラ15の搬送量の変動調整や、画像形成処理に支障が発生しない程度の値で設定する。

また、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が第２の閾値（α２；但し、α２＞α１）以上と判断した場合に（ステップB3/Yes）、記録装置を使用するユーザに対する第２の報知動作を行い（ステップB4）、キャリッジ5の変動量が発生した旨を、記録装置を使用するユーザに通知する。第２の報知動作は、上述した第１の実施形態の報知動作と同様な処理を行うことになる。なお、第２の閾値（α２）は、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θ_L1'〜θ_LN'の変動量（Δθ）が発生した場合に、搬送ローラ15の搬送量の変動調整や、画像形成処理に支障が発生してしまう値で設定する。

これにより、サービスマンは、キャリッジ5の変動量が発生した旨を予め把握することができるため、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの調整操作や、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等の取替操作に迅速に対応することができる。

キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの調整操作や、キャリッジ5や主支持ガイドロッド3等の取換操作を行う場合には、記録装置を取り扱うサービスマンに行ってもらうことになる。このため、キャリッジ5の変動量が発生した旨を予めサービスマンが把握しておくことで、記録装置を使用するユーザからの調整依頼や取替依頼にも迅速に対応することができる。

（第３の実施形態）
次に、第３の実施形態について説明する。

第１の実施形態は、テストパターン100を構成する複数のマーク101,102をプラテン板31上の平面上に配置することにした。

第３の実施形態は、テストパターン100を構成する複数のマーク101,102の一部のマーク101をプラテン板31に設けられた溝200に配置する。一部のマーク101を、受光部302からの距離が他のマーク102とは異なる溝200のような面に配置し、キャリッジ5が傾いていないときのマーク101とマーク102との受光部302からの距離が異なるように構成する。これにより、第１の実施形態よりもマーク101,102間の距離；Ln'を明確に算出することができる。その結果、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを高精度に算出することができる。以下、第３の実施形態について詳細に説明する。

＜記録装置の印字機構の構成例＞
まず、図１６、図１７を参照しながら、本実施形態の記録装置の印字機構の構成例について説明する。図１６は、キャリッジ5の上面図を示し、図１７は、キャリッジ5の側面図を示す。図１７（a）は、主走査方向からのキャリッジ5の側面図を示し、図１７（b）は、副走査方向からのキャリッジ5の側面図を示す。

本実施形態のプラテン板31は、第１の実施形態とは異なり、溝200が設けられている。記録ヘッド6から記録媒体16にインクが吐出された際に、記録媒体16が水分を吸収することにより記録媒体16が波打つコックリングが発生する。このため、本実施形態のプラテン板31には記録媒体16を逃がすために1mmほどの溝200が設けられている。本実施形態では、このプラテン板31に予め設けられた溝200の中にテストパターン100を構成する一部のマーク101を配置する。

＜キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θの算出処理＞
次に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出する際の処理動作について説明する。

本実施形態の算出処理は、図１２に示す第１の実施形態と同様な処理を行うことになる。但し、本実施形態では、テストパターン100を構成する一部のマーク101を溝200に配置しているため、読取センサ30で測定したマーク101,102間の距離；Ln'の値が第１の実施形態とは異なる。

図１８は、キャリッジ5が傾いていない状態を示し、図１９は、キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いている状態を示す。図１８に示すように、キャリッジ5が傾いていない状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離をLnと仮定する。このLnは、CPU107が予め把握できるように記憶部120に記憶しておく。図１９に示すように、キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いた状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離をLn'とすると、Ln'は、Ln'＝Ln×cosθ＋h×sinθとなる。但し、hは、キャリッジ5が傾いていないときの受光部302とマーク101の距離と、受光部302とマーク102の距離と、の差分に相当する。

本実施形態では、テストパターン100を構成する一部のマーク101を、溝200のような受光部302からの距離がマーク102とは異なる面に配置しているため、キャリッジ5が所定の角度（θ）だけ傾いた状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の距離Ln'を第１の実施形態よりもh×sinθだけ大きくさせることができる。このため、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを高精度に算出することができる。

例えば、Ln＝10000［um］とし、Ln'＝10400[um]とし、h＝5000[um]とした場合、キャリッジ5の副走査方向の傾き量；θは5［deg］となる。

このように、CPU107は、キャリッジ5が傾いていない図１８に示す状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の理論上の距離；Lnと、図１９に示す状態時に読取センサ30が測定したマーク101,102間の計測距離；Ln'と、を基に、キャリッジ5の副走査方向の傾き量：θを算出することができる。

なお、上述する実施形態は、本発明の好適な実施形態であり、上記実施形態のみに本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更を施した形態での実施が可能である。

例えば、上記実施形態では、テストパターン100をプラテン板31上に配置し、そのプラテン板31に配置したテストパターン100を検出することにした。しかし、第１、第２の実施形態の態様の場合には、上述したテストパターン100を形成した図２０に示すテストチャート300を用意し、その図２０に示すテストチャート300上に配列されたテストパターン100を検出するように構築することも可能である。この場合、テストチャート300をプラテン板31上に積載したり、搬送したりすることになる。

また、上記実施形態では、テストパターン100の検出処理を往路移動時に行うことにした。しかし、復路移動時にも検出処理を行うように構築することも可能である。この場合は、往路移動時に測定したマーク101,102間の距離；Ln'＝L1'〜LN'と、復路移動時に測定したマーク101,102間の距離；Ln'＝LN'〜L1'と、を平均化することになる。これにより、読取センサ30で測定したマーク101,102間の距離；Ln'の誤差を低減し、往復移動時に測定したマーク101,102間の距離；Ln'を基にキャリッジ5の副走査方向の傾き量；θを算出することが可能となる。

また、上述した本実施形態の記録装置で行う搬送ローラ15の搬送量の変動調整は、特に限定せず、あらゆる調整方法を適用することが可能である。

また、上述した本実施形態の記録装置を構成する各部の制御動作は、ハードウェア、または、ソフトウェア、あるいは、両者の複合構成を用いて実行することも可能である。

なお、ソフトウェアを用いて処理を実行する場合には、処理シーケンスを記録したプログラムを、専用のハードウェアに組み込まれているコンピュータ内のメモリにインストールして実行させることが可能である。あるいは、各種処理が実行可能な汎用コンピュータにプログラムをインストールして実行させることが可能である。

例えば、プログラムは、記録媒体としてのハードディスクやROM（Read Only Memory）に予め記録しておくことが可能である。あるいは、プログラムは、リムーバブル記録媒体に、一時的、あるいは、永続的に格納（記録）しておくことが可能である。このようなリムーバブル記録媒体は、いわゆるパッケージソフトウエアとして提供することが可能である。なお、リムーバブル記録媒体としては、フロッピー（登録商標）ディスク、CD-ROM（Compact Disc Read Only Memory）、MO（Magneto optical）ディスク、DVD（Digital Versatile Disc）、磁気ディスク、半導体メモリなどが挙げられる。

なお、プログラムは、上述したようなリムーバブル記録媒体からコンピュータにインストールすることになる。また、ダウンロードサイトから、コンピュータに無線転送することになる。また、ネットワークを介して、コンピュータに有線で転送することになる。

また、本実施形態における記録装置は、上記実施形態で説明した処理動作に従って時系列的に実行されるのみならず、処理を実行する装置の処理能力、あるいは、必要に応じて並列的にあるいは個別に実行するように構築することも可能である。

本発明は、インクジェット方式の記録装置に好適である。

５ キャリッジ
６ 記録ヘッド
１６ 記録媒体
３０ 読取センサ
３１ プラテン板
４１ エンコーダセンサ
４０ エンコーダシート
１００ テストパターン
１０１ 第１のマーク
１０２ 第２のマーク
１０７ CPU
１０９ 主走査ドライバ
１１１ 記録ヘッドドライバ
１１２ 紙搬送部
１１３ 副走査ドライバ
１１８ ROM
１１９ RAM
１２０ 記憶部
２００ 溝
３００ テストチャート

特開２００７−２６１２６２号公報

Claims (8)

1. キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置であって、
   前記キャリッジに搭載され、該キャリッジを主走査方向に走査することで、テストチャート上またはプラテン上の副走査方向に配列された複数のマークから構成されるテストパターンを複数検出する検出手段と、
   前記検出手段が各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出手段と、
   前記算出手段が各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断手段と、
   を備えることを特徴とする記録装置。
2. 前記変動量が所定の閾値以上の場合に、その旨を報知する報知手段を有することを特徴とする請求項１記載の記録装置。
3. 前記報知手段は、
   前記変動量が第１の閾値以上の場合に、その旨を前記記録装置とネットワークを介して接続した情報処理装置に報知する第１の報知手段と、
   前記変動量が第２の閾値（但し、第２の閾値＞第１の閾値）以上の場合に、その旨を前記記録装置を使用するユーザに報知する第２の報知手段と、
   を有することを特徴とする請求項２記載の記録装置。
4. 前記プラテン板上の副走査方向に配列された複数のマークの一部は、前記検出手段からの距離が前記複数のマークの他の一部と異なる面に配列されていることを特徴とする請求項１から３の何れか１項に記載の記録装置。
5. 前記複数のマークの一部は、前記プラテン板上に設けられた溝に配列されていることを特徴とする請求項４に記載の記録装置。
6. 前記検出手段は、
   １つのテストパターンを構成する複数のマークを同時に検出することを特徴とする請求項１から５の何れか１項に記載の記録装置。
7. キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置で行う制御方法であって、
   テストチャート上、または、プラテン板上の副走査方向に配列された複数のマークから構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターンを、前記キャリッジに搭載された検出手段を用いて検出する検出工程と、
   前記検出工程で各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出工程と、
   前記算出工程で各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断工程と、
   を有することを特徴とする制御方法。
8. キャリッジを主走査方向に走査し、前記キャリッジに搭載された記録ヘッドを用いて記録媒体上に画像を記録する記録装置に実行させるプログラムであって、
   テストチャート上、または、プラテン板上の副走査方向に配列された複数のマークから構成され、主走査方向に複数配置されるテストパターンを、前記キャリッジに搭載された検出手段を用いて検出する検出処理と、
   前記検出処理で各テストパターンを検出して得られる前記複数のマーク間の計測距離と、予め定められた複数のマーク間の理論上の距離と、の関係から得られる前記キャリッジの副走査方向の傾き量を算出する算出処理と、
   前記算出処理で各テストパターン毎に算出した前記キャリッジの副走査方向の傾き量の主走査方向の位置による変動量が、所定の閾値以上の場合に、前記キャリッジの副走査方向の傾き量が主走査方向の位置に応じて異なると判断する判断処理と、
   を、コンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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