JP2010147638A - 撮像素子及び撮像装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】暗電流が非常に大きくても、画像の垂直方向のシェーディングを抑えて、好適な画像を出力することができる撮像素子及び撮像装置を提供する。
【解決手段】撮像装置は、光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック領域とを有する撮像素子1101を備える、CPU1105は、オプティカルブラック領域の第1の領域からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする。また、CPU1105は、第1のクランプ手段の動作終了後に、オプティカルブラック領域の第2の領域からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、第1のクランプモードより低速にクランプする。
【選択図】図11

Description

本発明は、撮像素子(固体撮像素子)及びその撮像素子を備えるビデオカメラ、デジタルカメラ等の撮像装置及に関し、特に、映像信号の画質の改善技術に特徴のある撮像素子及び撮像装置に関する。
デジタルカメラやビデオカメラ等の撮像装置においては、撮像素子としてCCD及びCMOSイメージセンサ等が使用されている。
通常、撮像素子は、信号レベルの基準信号となる信号(黒基準信号)を得るために、光に反応しないように遮光されたオプティカルブラック領域を備えており、有効画素信号はそのオプティカルブラック領域で得たレベルを基準として演算処理される。このような画素を“OB画素(オプティカルブラック画素)”と呼ぶ。
このような撮像素子を撮像装置に用い、長時間露光モードで撮影を行った場合、画素に蓄積された暗電流が増加し、OB画素の出力も増加する。このとき、撮像素子の内部回路や外部の信号処理回路のダイナミックレンジは固定であるので、開口画素から得られる光信号は少なくなってしまう。
このことを解決するために、OB画素出力を所定のレベルにクランプした後、開口画素からの信号を得るようにすることは良く知られている。
後述する図1に示すように、撮像素子のOB画素は、画面上部のVOB部と画面左のHOB部がある。画素からの信号は同図の左上から矢印で示すように読み出される。
OB画素出力を所定のレベルにクランプする動作を簡単に説明する。
まず、VOB領域の信号出力をモニタしながら、出力信号が高速に所定のレベルになるよう、大きなゲインでフィードバックしてクランプ動作(以下、高速クランプ)を行う。そして、目標レベルまでクランプできたところで、モニタする領域をHOB領域に移して出力信号が低速で所定のレベルになるよう、小さなゲインでフィードバックしてクランプ動作を継続して行う(以下、低速クランプ)。
最初にVOB領域で高速クランプを行うのは、クランプに使用する領域を大きく取ることで、暗電流が非常に大きくてもOB画素出力を所定のレベルに高速にクランプできるようにするためである。
また、HOB領域で低速クランプを行うのは、暗時信号の垂直方向のシェーディングを補正するためである。
このように、OB画素出力を所定のレベルにクランプする動作(以下、OBクランプ動作)を行う撮像素子において、暗時信号に水平方向のシェーディングがある場合について考えてみる。
一般的なCMOS型撮像素子における水平シェーディングは、読み出し回路に起因する場合が多く、画像の撮影条件によらず一定のシェーディング量であり、また、垂直方向に読み出し画素が変わっても水平シェーディングの形状は変化しない。
そのため、水平方向に一次元の補正値を持ち、得られた画像から一次元補正値を減算することで容易に補正が可能である。
図14は、暗時信号に水平シェーディングがある場合の画像を説明する図で、奇数列(CH1)の画素信号と偶数列(CH2)の画素信号を別々の回路で読み出すとともに、CH1、CH2で別々にクランプ動作を行う撮像素子を示す。
画面全体の画素部レイアウトの上に示した右上がりの直線が画面左から右上がりに暗時出力がシェーディングしている様子を示している。
VOB領域で高速クランプを行うと、水平方向のどこかの位置でVOB画素出力は目標レベルに達する。その後、HOB領域の低速クランプに移行するが、高速クランプが終わったときのVOB領域とHOB領域とは水平方向の位置に差があるため、水平シェーディングによってそれぞれの出力に差が生じている。
例えば、CH1は、水平方向位置Pで高速クランプを終了したため、HOBとのレベル差はa、CH2は、水平方向位置Qで高速クランプを終了したため、HOBとのレベル差はbである。
即ち、CH1のHOB領域低速クランプは、OB画素出力の目標レベルよりaだけ低いレベルから、CH2のHOB領域低速クランプは、OB画素出力の目標レベルよりbだけ低いレベルから目標レベルに対してクランプが開始される。そのため、画面垂直方向にシェーディングを起こしてしまうことになる。
また、その時のHOBレベルを示したのが、画面全体の画素部レイアウトの左に示した段差のある線で、CH1(実線)とCH2(破線)をそれぞれ示している。この段差のある線を見てわかるように、垂直方向n行目までは、CH1とCH2の差が大きいため、出力された画像(CH1の出力とCH2の出力を合成した画像)は上部に縦縞のある画像になってしまう。
尚、上記技術に関連するものとしては特許文献1に記載のものがある。
特開2007−6538号公報
図14で説明した通り、水平方向にシェーディングを持つ出力の場合、VOB領域の高速クランプを終了して、そのままHOB領域の低速クランプを行うと、垂直方向のシェーディングを引き起こしてしまう。そして、CH1とCH2の差が大きい場合は、出力された画像は上部に縦縞のある画像になってしまう。
このような垂直方向のシェーディングを起こしてしまった画像を正しく補正するためには、得られた画像出力に対して、再度、CH毎にHOB領域のみでクランプ処理を行う必要があり、非効率的である。
本発明の目的は、暗電流が非常に大きくても、画像の垂直方向のシェーディングを抑えて、好適な画像を出力することができる撮像素子及び撮像装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、請求項1記載の撮像素子光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック領域とを有する撮像素子において、前記オプティカルブラック領域の第1の領域からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする第1のクランプモードと、前記第1のクランプモードの動作終了後に、前記オプティカルブラック領域の第2の領域からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、前記第1のクランプモードより低速にクランプする第2のクランプモードとを有することを特徴とする。
請求項5記載の撮像装置は、光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック領域とを有する撮像素子を備える撮像装置において、前記オプティカルブラック領域の第1の領域からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする第1のクランプ手段と、前記第1のクランプ手段の動作終了後に、前記オプティカルブラック領域の第2の領域からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、前記第1のクランプモードより低速にクランプする第2のクランプ手段とを有することを特徴とする。
本発明の撮像素子によれば、暗電流が非常に大きくても、画像の垂直方向のシェーディングを抑えて、好適な画像を出力することができる。
以下、本発明を図面を参照しながら詳細に説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係る撮像素子(CMOS型撮像素子)の画面全体の画素部レイアウトを示す図である。
撮像素子は、光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック(OB)領域とを有する。
OB画素は、画面上部のVOB部と画面左のHOB部がある。画素からの信号は同図の左上から矢印で示すように読み出される。
図2は、図1の撮像素子の画素セルPixelの構成例を示すブロック図である。
光信号電荷を発生するフォトダイオード201は、この例ではアノード側が接地されている。フォトダイオード201のカソード側は、転送MOSトランジスタMOSトランジスタ202を介して増幅MOSトランジスタMOSトランジスタ204のゲートに接続されている。
また、増幅MOSトランジスタMOSトランジスタ204のゲートには、これをリセットするためのリセットMOSトランジスタMOSトランジスタ203のソースが接続されている。リセットMOSトランジスタMOSトランジスタ203のドレインは電源電圧VDDに接続されている。
さらに、増幅MOSトランジスタ204は、ドレインが電源電圧VDDに接続され、ソースが選択MOSトランジスタ205のドレインに接続されている。
図3は、図1の撮像素子の構成例を示すブロック図である。説明を簡略化するために、3×3画素で構成されるものとする。
垂直シフトレジスタ301は、第1〜第3の行選択線Pres1、Ptx1、Psel1の信号を画素領域308に出力する。画素領域308は、図1の構成を有し、複数の画素セルPixelを有する。各画素セルPixelは、偶数列と奇数列で各々CH1、CH2の垂直信号線に画素信号を出力する。
電流源307は、各垂直信号線に接続される。読み出し回路302は、垂直信号線上の画素信号を入力し、画素信号を、nチャネルMOSトランジスタ303を介して差動増幅器305に出力する。また、読み出し回路302は、ノイズ信号を、nチャネルMOSトランジスタ304を介して差動増幅器305に出力する。
水平シフトレジスタ306は、トランジスタ303及び304のオン/オフを制御する。差動増幅器305は、画素信号とノイズ信号との差分を出力する。
上記、図2の転送MOSトランジスタ202のゲートは、横方向に延長して配置される第1の行選択線(垂直走査線)Ptx1(図3)に接続される。同じ行に配置された他の画素セルPixelの同様の転送MOSトランジスタ202のゲートも、上記第1の行選択線Ptx1に共通に接続される。
上記リセットMOSトランジスタ203のゲートは、横方向に延長して配置される第2の行選択線(垂直走査線)Pres1(図3)に接続される。同じ行に配置された他の画素セルPixelの同様のリセットMOSトランジスタ203のゲートも、上記第2の行選択線Pres1に共通に接続される。
上記選択MOSトランジスタ205のゲートは、横方向に延長して配置される第3の行選択線(垂直走査線)Psel1に接続される。同じ行に配置された他の画素セルPixelの同様の選択MOSトランジスタ205のゲートも、上記第3の行選択線Psel1に共通に接続される。
これら第1〜第3の行選択線Ptx1、Pres1、 Psel1は、垂直シフトレジスタ301に接続され、信号電圧が供給される。
図3に示されている残りの行においても同様の構成の画素セルPixelと、行選択線が設けられる。これらの行選択線には、垂直シフトレジスタ301により形成された行選択線Ptx2〜Ptx3、Pres2〜Pres3、Psel2〜Psel3が供給される。
図2の選択MOSトランジスタ205のソースは、縦方向に延長して配置される垂直信号線の端子に接続される。同じ列に配置される画素セルPixelの同様の選択MOSトランジスタ205のソースも、垂直信号線の端子に接続される。
図3において、垂直信号線の端子OUTは負荷手段である定電流源307に接続される。
図4は、図3における読み出し回路302のブロック1列分の回路例を示す図である。
破線で囲った部分がCH1、CH2の方向に各々列分だけあり、各垂直信号線には端子OUTが接続される。
図5は、図2〜図4の撮像素子の動作例を示すタイミングチャートである。
フォトダイオード201からの光信号電荷の読み出しに先立って、リセットMOSトランジスタ203のゲート線Pres1がハイレベルとなる。これによって、増幅MOSトランジスタ204のゲートがリセット電源電圧にリセットされる。
リセットMOSトランジスタ203のゲート線Pres1がローレベルに復帰すると同時に、クランプスイッチのゲート線PC0r(図4)がハイレベルになった後に、選択MOSトランジスタ205のゲート線Psel1がハイレベルとなる。
これによって、リセットノイズが重畳されたリセット信号(ノイズ信号)が垂直信号線OUTに読み出され、各列のクランプ容量C0(図4)にクランプされる。
次に、クランプスイッチのゲート線PC0rがローレベルに復帰した後、ノイズ信号側転送スイッチのゲート線PCtn(図4)がハイレベルからローレベルになることで、各列に設けられたノイズ保持容量Ctnにリセット信号が保持される。
次に、画素信号側転送スイッチのゲート線pcts(図4)がハイレベルになった後、転送MOSトランジスタ202のゲート線Ptx1がハイレベルとなり、フォトダイオード201の光信号電荷が、増幅MOSトランジスタ204のゲートに転送されると同時に、光信号が垂直信号線OUTに読み出される。
次に、転送MOSトランジスタ202のゲート線Ptx1がローレベルに復帰した後、画素信号側転送スイッチのゲート線Pctsがローレベルとなる。これによって、リセット信号からの変化分(光信号)が各列に設けられた信号保持容量Cts(図4)に読み出される。
ここまでの動作で、第1行目に接続された画素セルPixelの光信号が、それぞれの列に接続された信号保持容量Ctn、Ctsに保持される。
この後、水平シフトレジスタ306から供給される信号PHによって、各列の水平転送スイッチのゲートが順次ハイレベルとなる。信号保持容量Ctn、Ctsに保持されていた電圧は、順次水平出力線Chn、Chsに読み出され、差動増幅器305で差分処理されて出力端子OUTに順次出力される。
各列の信号読み出しの合間で、リセットスイッチによって水平出力線Chn、Chsがリセット電圧VCHRN、VCHRSにリセットされる。以上で、第1行目に接続された画素セルPixelの読み出しが完了する。
以下同様に、垂直シフトレジスタ301からの信号によって第2行目以降に接続された画素セルPixelの信号が順次読み出され、全画素セルPixelの読み出しが完了する。
図6は、図2〜図4の撮像素子において、暗電流の比較的多い高温化で動作させた場合の出力波形(a)、(b)と、そのときの画像(c)を示す図である。
図6(c)には、開口画素領域101、HOB領域102、VOB領域103が示される。図6(a)のVOB出力は、VOB領域103の出力波形を示し、図6(b)のHOB+開口画素出力は、HOB領域102と開口画素領域101の出力波形を示していて、それぞれ図6(c)と水平方向の位置関係を同じにしている。
VOB領域103とHOB領域102は遮光画素であるにもかかわらず出力が出ているのは、暗電流成分によるものである。また、開口画素領域101には各画素に均一な光量の光が入射しているものとする。
図6(a)、(b)のCLMP信号は、ハイレベルの状態でそれぞれ対応するVOB領域103とHOB領域102の信号が所定のレベルになるようにクランプ動作を行う。
図7は、図2〜図4の撮像素子において、暗時の水平方向のシェーディングがある場合の出力波形(a)、(b)と、そのときの画像(c)を示す図である。
図6との違いは、出力が左から右上がりになっている点(破線)である。CLMP信号によりVOB領域103は高速クランプ、HOB領域102は低速クランプ動作している。VOB領域103の高速クランプ動作とHOB領域102の低速クランプ動作により、VOB領域103とHOB領域102の境界より下側で垂直方向のシェーディングが起きている。
ここで、本実施の形態の撮像素子は、オプティカルブラック領域の第1の領域(VOB領域103)からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする第1のクランプモード(高速クランプモード)を有する。
また、本実施の形態の撮像素子は、第1のクランプモードの動作終了後に、オプティカルブラック領域の第2の領域(HOB領域102)からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、第1のクランプモードより低速にクランプする第2のクランプモード(低速クランプモード)を有する。
図8は、図2〜図4の撮像素子を備える撮像装置の信号処理回路のブロック図である。
撮像素子から出力されたセンサ信号は、プログラマブルゲインアンプ(PGA)801にて増幅される。この際、基準信号は、OBクランプ部803により生成されたデジタル信号がデジタルアナログ変換器(DAC)804によってアナログ信号に変換されて供給される。
アナログデジタル変換器(ADC)802は、プログラマブルゲインアンプ801の出力信号をアナログ形式からデジタル形式に変換し出力する。
OBクランプ部803では、目標レベル設定部805からクランプ目標値が入力され、ADC802から出力信号が入力される。
そして、そのセンサ信号と目標値との差分がゼロになる方向、即ち、図6、図7に示した撮像素子のオプティカルブラック領域(VOB領域、HOB領域)の出力信号が、前述の差分に対して所定のゲインを掛けた値だけクランプ目標値に近づくような基準信号を生成する。この動作は、クランプ信号発生部806の信号が入力されている間行われる。
尚、所定のゲインとは、高速クランプの場合1/4〜1/2倍、低速クランプの場合1/64〜1/32倍である。
DAC804は、OBクランプ部803で生成された基準信号をデジタル形式からアナログ形式に変換し、PGA801に出力する。これにより、PGA801に入力される信号の基準電圧が決定する。ADC802では、増幅されたセンサ信号をデジタル信号に変換する。
目標レベル設定部805は、上述の通り、OB領域のクランプ目標値をOBクランプ部803に入力するが、その値を任意に設定することができる。
上記OBクランプ部803は、図6(a)、(b)、図7(a)、(b)のようなCLAMP信号によって動作させられる。
CLAMP信号が所定の時間より長く(例えば、10クロック以上)入力されると、高速クランプを行い、所定の時間より短く(例えば、10クロック未満)入力されると、低速クランプを行う。CLAMP信号が入力されていない場合はクランプ動作を行わない。
また、高速クランプ中においては、クランプ目標値と出力信号の差分が所定の範囲内になるとクランプ動作を停止するとともに、クランプ信号発生部806よりクランプ停止信号を出力する。
図8において、クランプ目標値を常に固定の状態でクランプ動作を続けると、図16のように、高速クランプが終わったときのVOB領域とHOB領域とは水平方向の位置に差があるため、水平シェーディングによってそれぞれの出力に差が生じている。例えば、CH1は、水平方向位置Pで高速クランプを終了したため、HOBとのレベル差はa、CH2は、水平方向位置Qで高速クランプを終了したため、HOBとのレベル差はbである。
即ち、CH1のHOB領域低速クランプは、OB画素出力の目標レベルよりaだけ低いレベルから、CH2のHOB領域低速クランプは、OB画素出力の目標レベルよりbだけ低いレベルから目標レベルに対してクランプが開始される。そのため、画面垂直方向にシェーディングを起こしてしまうことになる。
ここで、HOB領域低速クランプ動作を行うときのクランプ目標値を変更する。
具体的には、
CH1のHOB領域低速クランプ目標値=VOB領域のクランプ目標値−a (式1)
CH2のHOB領域低速クランプ目標値=VOB領域のクランプ目標値−b (式2)
図9は、図8の信号処理回路において、クランプ目標値を変更したときの画像(画像信号)を示す図である。
図9においては、VOB領域とHOB領域を含む有効部で段差はあるものの、図16で示したような垂直方向のシェーディングが発生しないことがわかる。但し、クランプ目標値に対してはCH1では−a、CH2では−bだけオフセットがずれているため、さらに後段の信号処理回路でCH毎にオフセット補正をする必要がある。
図10は、図9の画像にオフセット補正を施した画像を示す図である。
図10では、VOB領域にはCH1とCH2のオフセットずれがあるものの、HOB領域を含む有効部は、CH毎のオフセットや垂直シェーディングの無い理想的な画像となっていることがわかる。
また、図9、10では、説明を簡略化させるために、水平方向のシェーディングが無いようにしているが、実際には水平方向のシェーディングはある。しかし、予め水平方向のシェーディングを測定しておくことで補正可能である。具体的には、撮像素子の水平シェーディングを予め決められた水平シェーディング補正値で補正する。
図11は、本発明の実施の形態に係る撮像装置の構成を示すブロック図である。
図11において、撮像素子1101は、図1〜図4に示すものであり、CCDまたはCMOSセンサが使用される。信号処理回路1102は、図8で示した通り、撮像素子1101からの信号を増幅し、OBクランプ等を行う。
信号処理回路1102は、後述するタイミング発生回路1104からOBクランプタイミングやOBクランプ目標レベル等を受け取り、それに従って動作する。
DSP(DigitalSignalProseCCer)1103は、信号処理回路1102からのデータに対して各種補正処理(撮像素子1101の読み出し回路に起因する水平シェーディングを補正するための一次元補正値を予め記憶し、信号から減算する等)を行う。また、DSP1103は、OBクランプ停止信号を受けて各種信号処理制御を行う。
また、DSP1103では、ROM1106、RAM1107等、各種メモリの制御、記録媒体1108への映像データの書き込み処理が行われる。
タイミング発生回路1104は、撮像素子1101、信号処理回路1102、DSP1103にクロック信号や制御信号を供給するものであり、CPU1105により制御される。図3の駆動パルスは、タイミング発生回路1104から撮像素子1101に対して出力される。
CPU1105は、DSP1103、タイミング発生回路1104の制御、及び測光・測距等、不図示の各部を使ったカメラ(撮像装置)機能の制御を行う。また、CPU1105は、各スイッチ1109〜1111が接続され、それぞれの状態に応じた処理を実行する。
ROM1106は、カメラの制御プログラムや補正テーブル等を記憶する。RAM1107は、DSP1103で処理される映像データや補正データを一時的に記憶する。RAM1107は、ROM1106より高速のアクセスが可能である。
コンパクトフラッシュ(登録商標)カード(CF)等の記録媒体1108は、撮影された映像を保存するメモリであり、不図示のコネクタを介してカメラと接続される。
電源スイッチ1109は、カメラを起動させるためのスイッチである。シャッタースイッチ(SW1)1110は、測光処理、測距処理、被写体映像をリアルタイムに外部に表示する、所謂EVF動作等の撮影準備動作開始を指示するスイッチである。
シャッタースイッチ(SW2)1111は、不図示のミラー及びシャッターを駆動し、撮像素子1101から読み出した信号を信号処理回路1102、DSP1103を介して記録媒体1108に書き込む一連の撮影動作の開始を指示するスイッチである。
モードダイアル1112は、カメラの撮影モード(例えば、連続撮影モード、単写モード、ストロボ発光モード等)を指示するためのスイッチである。
測距回路1113は、被写体までの距離を測定するためのものである。測光回路1114は、被写体輝度を測定するためのものである。表示装置1115は、撮影した映像を外部に表示するためのものである。
図12は、図11の撮像装置によって実行されるOBクランプ処理の第1の実施の形態の手順を示すフローチャートである。
本処理は、図11のCPU1105の制御の下に実行される。
ここで、撮像素子1101からの信号は、図7の暗時の水平方向のシェーディングがある場合について説明する。
ステップS101で、CPU1105は、読み出しを開始することで、撮像素子1101からの信号を順次、信号処理回路1102に取り込む。
ステップS102(第1のクランプ手段)で、CPU1105の指示により、信号処理回路1102は、タイミング発生回路1104から出力されるCLAMP信号によりVOB期間中高速クランプを開始する。
ステップS103で、信号処理回路1102は、VOB領域の信号レベルと、タイミング発生回路1104から出力されるクランプ目標レベルの差分を演算し、所定の範囲内であるかどうかを判定する。ここで、所定の範囲内でなければ、ステップS102に戻り、信号処理回路1102は、VOB期間中の高速クランプを継続する。
ステップS103で、信号処理回路1102は、VOB領域の信号レベルがクランプ目標レベルに対して所定の範囲内であると判定すると、ステップS104に移行し、VOB領域の高速クランプを停止するとともに、クランプ停止信号を発生する。
続いて、ステップS105で、信号処理回路1102は、VOB期間中の画素数を判定し、高速クランプ動作を停止した水平方向の座標をDSP1103が記憶する。
ステップS106で、CPU1105は、VOB領域とHOB領域との出力差を算出する。即ち、CPU1105は、予め取得していた撮像素子1101の読み出し回路302に起因する水平シェーディングを補正するための一次元補正値と高速クランプを停止した水平方向の座標とから、CH毎にVOB領域とHOB領域との出力差を算出する。
その後、ステップS107で、CPU1105は、(式1)、(式2)のように、HOB領域低速クランプ目標値をCH毎に決定し、その値を信号処理回路1102へ送る。
ステップS108(第2のクランプ手段)で、CPU1105は、HOB領域の低速クランプを開始し、ステップS109で、全画素の読み出しを終了する。
この後、後段の信号処理回路でCH毎のオフセット補正、水平シェーディング補正等を行うことで、理想的な画像を提供することが可能になる。
ここで、上記一次元補正値は、画像の水平シェーディングを補正するためのデータであるので、画像の水平シェーディング形状をほぼ忠実に再現している。この一次元補正値のHOB領域の値と高速クランプを停止した水平方向座標の値との差分をもとに、HOB領域の低速クランプ目標値を決めることができる。
また、ステップS106、で一次元補正値のHOB領域の値と高速クランプを停止した水平方向座標の値との差分が、予め決められた所定の値よりも小さかった場合は、以下のようにしても良い。即ち、上記の場合、水平シェーディングが少なくHOB領域の低速クランプ時に垂直方向のシェーディングが発生しないものとして、クランプの目標値の変更を行わないようにしても良い。
図13は、図11の撮像装置によって実行されるOBクランプ処理の第2の実施の形態の手順を示すフローチャートである。
本処理は、図11のCPU1105の制御の下に実行される。
また、撮像素子1101からの信号は、図7の暗時の水平方向のシェーディングがある場合について説明する。
図13において、ステップS201〜S205の処理は、図12のステップS101〜S105の処理と同じであるので、説明は省略する。また、図13において、ステップS208〜S210の処理は、図12のステップS107〜S109の処理と同じであるので、説明は省略する。
ステップS206で、CPU1105は、信号処理回路1102によるOBクランプ動作を停止した状態で、信号の読み出しを継続しながら、VOB領域の1行分の信号を記憶する。
ステップS207で、CPU1105は、VOB領域の1行分の信号と高速クランプを停止した水平方向の座標とから、CH毎にVOB領域とHOB領域との出力差を算出する。
ここで、ステップS207では、高速クランプを停止した水平方向の座標の信号レベルとして、VOB領域の1行分の信号を用いているが、これでは1列当たり1画素の信号しか得られていない。従って、ノイズの影響を受けやす。く画像の水平シェーディング形状をほぼ忠実に再現しているとは言いがたい。
この対策として、VOB領域の1行分の信号データをそのまま使用するのではなく、移動平均を求める等で、水平方向にローパスフィルタを掛けた後の信号データを使用する。このことにより、ノイズの影響を受けず、精度良くHOB領域の低速クランプ目標値を決めることができる。
この方法では、リアルタイムに水平シェーディング形状を測定できるので、暗電流起因による水平シェーディングが発生した場合等においても対応可能である。
本発明の実施の形態に係る撮像素子(CMOS型撮像素子)の画面全体の画素部レイアウトを示す図である。 図1の撮像素子の画素セルPixelの構成例を示すブロック図である。 図1の撮像素子の構成例を示すブロック図である。 図3における読み出し回路302のブロック1列分の回路例を示す図である。 図2〜図4の撮像素子の動作例を示すタイミングチャートである。 図2〜図4の撮像素子において、暗電流の比較的多い高温化で動作させた場合の出力波形(a)、(b)と、そのときの画像(c)を示す図である。 図2〜図4の撮像素子において、暗時の水平方向のシェーディングがある場合の出力波形(a)、(b)と、そのときの画像(c)を示す図である。 図2〜図4の撮像素子を備える撮像装置の信号処理回路のブロック図である。 図8の信号処理回路において、クランプ目標値を変更したときの画像(画像信号)を示す図である。 図9の画像にオフセット補正を施した画像を示す図である。 本発明の実施の形態に係る撮像装置の構成を示すブロック図である。 図11の撮像装置によって実行されるOBクランプ処理の第1の実施の形態の手順を示すフローチャートである。 図11の撮像装置によって実行されるOBクランプ処理の第1の実施の形態の手順を示すフローチャートである。 従来の撮像装置におけるOBクランプ動作を説明する図である。
符号の説明
1101 撮像素子
1102 信号処理回路
1103 DSP
1104 タイミング発生回路
1105 CPU
1106 ROM
1107 RAM
1108 記録媒体

Claims (5)

  1. 光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック領域とを有する撮像素子において、
    前記オプティカルブラック領域の第1の領域からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする第1のクランプモードと、
    前記第1のクランプモードの動作終了後に、前記オプティカルブラック領域の第2の領域からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、前記第1のクランプモードより低速にクランプする第2のクランプモードと、
    を有することを特徴とする撮像素子。
  2. 前記第2の所定のレベルは、前記第1のクランプモードの動作終了後に前記第1の領域と前記第2の領域の出力差に応じて決定することを特徴とする請求項1記載の撮像素子。
  3. 前記撮像素子の水平シェーディングの補正値を有し、
    前記第1の領域と前記第2の領域の出力差は、前記第1のクランプモードの動作が終了した時の水平方向座標と、前記水平シェーディングの補正値を基に算出することを特徴とする請求項2記載の撮像素子。
  4. 前記第2のクランプモードは、前記第1の領域と前記第2の領域の出力差が所定の量よりも小さいときには、前記第2の領域からの出力信号を前記第1の所定のレベルになるように、前記第1のクランプモードより低速にクランプするとを有することを特徴とする請求項2記載の撮像素子。
  5. 光電変換素子を二次元に配置し、開口画素領域と基準となる遮光されたオプティカルブラック領域とを有する撮像素子を備える撮像装置において、
    前記オプティカルブラック領域の第1の領域からの出力信号が第1の所定のレベルになるようにクランプする第1のクランプ手段と、
    前記第1のクランプ手段の動作終了後に、前記オプティカルブラック領域の第2の領域からの出力信号を第2の所定のレベルになるように、前記第1のクランプモードより低速にクランプする第2のクランプ手段と、
    を有することを特徴とする撮像装置。
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