JP2010101893A - 確定成分モデル判定装置、判定方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、標準偏差およびスペクトルに基づいて、確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部と、確定成分の種類毎に算出した理論値のうち、測定値に最も近い理論値に対応する確定成分の種類を、確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定するモデル判定部とを備える確定成分モデル判定装置を提供する。
【選択図】図1
Description
Claims (17)
- 与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の種類を判定する確定成分モデル判定装置であって、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、
前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、および、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部と、
前記理論値算出部が前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値算出部が算出した前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定するモデル判定部と
を備える確定成分モデル判定装置。 - 前記ヌル周波数検出部は、前記スペクトルの第1ヌル周波数を検出する
請求項1に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記理論値算出部は、前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差に更に基づいて、複数種類の前記確定成分のそれぞれのスペクトルの理論値を算出する
請求項2に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記理論値算出部および前記測定値算出部は、予め定められた同一の周波数における前記スペクトルの値を、前記理論値および前記測定値として算出する
請求項2に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記理論値算出部および前記測定値算出部は、0より大きく、且つ、前記第1ヌル周波数より小さい周波数の範囲において、前記スペクトルの値を算出する
請求項4に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記測定値算出部は、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルを、前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差を有するガウス分布のスペクトルで除算することで、前記確率密度関数に含まれる確定成分のスペクトルを算出する
請求項2に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記測定値算出部は、前記第1ヌル周波数で周波数を正規化した前記スペクトルを算出する
請求項6に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記理論値算出部は、前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差を有するガウス分布のスペクトルで正規化された前記スペクトルの理論値を、前記確定成分の種類毎に算出する
請求項7に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記理論値算出部は、前記第1ヌル周波数で周波数を正規化した前記スペクトルの理論値を、前記確定成分の種類毎に算出する
請求項8に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記モデル判定部が判定した前記確定成分の種類と、前記ヌル周波数検出部が検出した前記第1ヌル周波数とに基づいて、前記確率密度関数に含まれる前記確定成分を算出する確定成分算出部を更に備える
請求項2に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記確定成分算出部が算出した前記確定成分を、前記確率密度関数から除去することで、前記確率密度関数に含まれるランダム成分を算出するランダム成分算出部を更に備える
請求項10に記載の確定成分モデル判定装置。 - 前記ヌル周波数検出部は、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルを、周波数で2階微分した波形のピークに基づいて、前記スペクトルの前記第1ヌル周波数を検出する
請求項2に記載の確定成分モデル判定装置。 - 与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の種類を判定する判定方法であって、
前記確率密度関数の標準偏差を算出し、
前記確率密度関数のスペクトルを算出し、
前記スペクトルのヌル周波数を検出し、
前記ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出し、
前記標準偏差および前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出し、
前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定する判定方法。 - コンピュータを、与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の種類を判定する確定成分モデル判定装置として機能させるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、
前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、および、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部と、
前記理論値算出部が前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値算出部が算出した前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定するモデル判定部と
して機能させるプログラム。 - 請求項14に記載のプログラムを記憶した記憶媒体。
- 被試験デバイスを試験する試験システムであって、
前記被試験デバイスの所定の特性を複数回測定する測定部と、
前記測定部が測定した特性値の確率密度関数に含まれる確定成分の種類を判定し、前記確定成分を算出する確定成分モデル判定装置と、
前記確定成分モデル判定装置が算出した前記確定成分に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する良否判定部と
を備え、
前記確定成分モデル判定装置は、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、
前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、および、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部と、
前記理論値算出部が前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値算出部が算出した前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定するモデル判定部と、
前記確定成分モデル判定装置が判定した前記確定成分の種類に基づいて、前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数とに基づいて、前記確率密度関数に含まれる前記確定成分を算出する確定成分算出部と
を有する試験システム。 - 所定の信号を生成する電子デバイスであって、
前記所定の信号を生成して出力する動作回路と、
前記所定の信号における所定の特性を複数回測定する測定部と、
前記測定部が測定した特性値の確率密度関数に含まれる確定成分の種類を判定し、前記確定成分を算出する確定成分モデル判定装置と
を備え、
前記確定成分モデル判定装置は、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数に基づいて、予め定められた複数種類の確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部と、
前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、および、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部と、
前記理論値算出部が前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値算出部が算出した前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定するモデル判定部と
を有する電子デバイス。
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