JP2010101894A - 確定成分識別装置、確定成分識別方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス - Google Patents
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Abstract
【解決手段】与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別する確定成分識別装置であって、確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、確率密度関数の標準偏差、および、スペクトルのヌル周波数に基づいて、確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する比算出部とを備える確定成分識別装置を提供する。
【選択図】図12
Description
Claims (15)
- 与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別する確定成分識別装置であって、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記確率密度関数の標準偏差、および、前記スペクトルのヌル周波数に基づいて、前記確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する比算出部と
を備える確定成分識別装置。 - 前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、および、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトルに基づいて、前記確率密度関数に含まれる確定成分に対して、スペクトルの測定値を算出する測定値算出部を更に備え、
前記比算出部は、前記確定成分の分布における前記上辺および底辺の比、および、前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数により定まる前記確定成分のスペクトルの理論値が、前記スペクトルの測定値で近似されるように、前記上辺および底辺の比を算出する
を有する請求項1に記載の確定成分識別装置。 - 前記測定値算出部は、前記確定成分のスペクトルの測定値として、予め定められた周波数における前記確定成分のスペクトルの値を算出し、
前記比算出部は、前記予め定められた周波数における、前記確定成分のスペクトルの理論値が、前記確定成分のスペクトルの測定値で近似されるように、前記上辺および底辺の比を算出する
請求項2に記載の確定成分識別装置。 - 予め定められた複数種類の前記上辺および底辺の比に対して、前記確定成分のスペクトルの理論値をそれぞれ算出する理論値算出部を更に備え、
前記比算出部は、前記確定成分のスペクトルのそれぞれの前記理論値と、前記測定値とを比較することで、前記上辺および底辺の比を算出する
請求項3に記載の確定成分識別装置。 - 予め定められた複数種類の前記上辺および底辺の比に対して、予め定められた周波数における前記確定成分のスペクトルの理論値をそれぞれ算出する理論値算出部を更に備え、
前記比算出部は、それぞれの前記上辺および底辺の比および前記理論値に基づいて、前記予め定められた周波数における前記確定成分のスペクトルの測定値を変数として前記上辺および底辺の比を求める式を生成し、当該式に前記測定値算出部が算出した前記確定成分のスペクトルの測定値を代入することで、前記上辺および底辺の比を算出する
請求項3に記載の確定成分識別装置。 - 前記ヌル周波数検出部は、前記スペクトルの第1ヌル周波数を検出する
請求項1に記載の確定成分識別装置。 - 前記確率密度関数に含まれる前記確定成分が台形分布か否かを判定するモデル判定部を更に備え、
前記比算出部は、前記モデル判定部において、前記確率密度関数に含まれる前記確定成分が前記台形分布と判定された場合に、前記上辺および底辺の比を算出する
請求項2に記載の確定成分識別装置。 - 前記モデル判定部は、前記標準偏差算出部が算出した前記標準偏差、前記スペクトル算出部が算出した前記スペクトル、および、前記ヌル周波数検出部が検出する前記ヌル周波数に基づいて、前記確率密度関数に含まれる前記確定成分が台形分布か否かを判定する
請求項7に記載の確定成分識別装置。 - 前記ヌル周波数検出部が検出した前記ヌル周波数に基づいて、前記台形分布を含む予め定められた複数種類の分布の前記確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出する理論値算出部を更に備え、
前記モデル判定部は、前記理論値算出部が前記確定成分の種類毎に算出した前記理論値のうち、前記測定値算出部が算出した前記測定値に最も近い前記理論値に対応する前記確定成分の種類を、前記確率密度関数に含まれる確定成分の種類と判定する
請求項8に記載の確定成分識別装置。 - 前記理論値算出部は、三角分布および一様分布を含む複数種類の分布の前記確定成分のそれぞれに対して、スペクトルの理論値を算出し、
前記モデル判定部は、前記測定値算出部が算出した前記測定値が、前記三角分布の前記確定成分の理論値と、前記一様分布の前記確定成分の理論値との間となる場合に、前記確率密度関数に前記台形分布の前記確定成分が含まれると判定する
請求項9に記載の確定成分識別装置。 - 与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別する確定成分識別方法であって、
前記確率密度関数の標準偏差を算出し、
前記確率密度関数のスペクトルを算出し、
前記スペクトルのヌル周波数を検出し、
前記確率密度関数の標準偏差、および、前記スペクトルのヌル周波数に基づいて、前記確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する確定成分識別方法。 - コンピュータを、与えられる確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別する確定成分識別装置として機能させるプログラムであって、
前記コンピュータを、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記確率密度関数の標準偏差、および、前記スペクトルのヌル周波数に基づいて、前記確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する比算出部と
して機能させるプログラム。 - 請求項12に記載のプログラムを記憶した記憶媒体。
- 被試験デバイスを試験する試験システムであって、
前記被試験デバイスの所定の特性を複数回測定する測定部と、
前記測定部が測定した特性値の確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別し、前記確定成分を算出する確定成分識別装置と、
前記確定成分識別装置が算出した前記確定成分に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する良否判定部と
を備え、
前記確定成分識別装置は、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記確率密度関数の標準偏差、および、前記スペクトルのヌル周波数に基づいて、前記確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する比算出部と
を有する試験システム。 - 所定の信号を生成する電子デバイスであって、
前記所定の信号を生成して出力する動作回路と、
前記所定の信号における所定の特性を複数回測定する測定部と、
前記測定部が測定した特性値の確率密度関数に含まれる確定成分の分布形状を識別し、前記確定成分を算出する確定成分識別装置と、
を備え、
前記確定成分識別装置は、
前記確率密度関数の標準偏差を算出する標準偏差算出部と、
前記確率密度関数のスペクトルを算出するスペクトル算出部と、
前記スペクトルのヌル周波数を検出するヌル周波数検出部と、
前記確率密度関数の標準偏差、および、前記スペクトルのヌル周波数に基づいて、前記確定成分の分布における上辺および底辺の比を算出する比算出部と
を有する電子デバイス。
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---|---|---|---|---|
JP2010103984A (ja) * | 2008-10-23 | 2010-05-06 | Advantest Corp | 算出装置、算出方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス |
JP2016133407A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 三菱電機株式会社 | ジッタ分離装置 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8000931B2 (en) * | 2008-10-23 | 2011-08-16 | Advantest Corporation | Deterministic component model judging apparatus, judging method, program, recording medium, test system and electronic device |
US10970417B1 (en) * | 2017-09-01 | 2021-04-06 | Workday, Inc. | Differential privacy security for benchmarking |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US7136773B2 (en) * | 2003-12-16 | 2006-11-14 | Advantest Corporation | Testing apparatus and testing method |
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US7809516B2 (en) * | 2006-08-10 | 2010-10-05 | Advantest Corporation | Probability density function separating apparatus, probability density function separating method, program, testing apparatus, bit error rate measuring apparatus, electronic device, and jitter transfer function measuring apparatus |
US20080077357A1 (en) * | 2006-08-10 | 2008-03-27 | Advantest Corporation | Noise separating apparatus, noise separating method, probability density function separating apparatus, probability density function separating method, testing apparatus, electronic device, program, and recording medium |
-
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007108493A1 (ja) * | 2006-03-21 | 2007-09-27 | Advantest Corporation | 確率密度関数分離装置、確率密度関数分離方法、試験装置、ビット誤り率測定装置、電子デバイス、及びプログラム |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010103984A (ja) * | 2008-10-23 | 2010-05-06 | Advantest Corp | 算出装置、算出方法、プログラム、記憶媒体、試験システム、および、電子デバイス |
JP2016133407A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 三菱電機株式会社 | ジッタ分離装置 |
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