JP2010101821A - Board inspecting device and board inspecting system - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、基板検査装置及び基板検査システムに係り、更に詳しくは、プリント配線基板を検査する基板検査装置、及び該基板検査装置を備える基板検査システムに関する。 The present invention relates to a board inspection apparatus and a board inspection system, and more particularly to a board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board and a board inspection system including the board inspection apparatus.
近年、電気・電子機器の小型化及び高機能化に伴い、電気・電子機器に搭載されるプリント配線基板では、実装部品及び配線の高密度化、線幅の縮小化などが図られている。 2. Description of the Related Art In recent years, with the miniaturization and high functionality of electrical / electronic devices, printed wiring boards mounted on electrical / electronic devices have been attempted to increase the density of mounted components and wiring, reduce the line width, and the like.
そこで、プリント配線基板に部品が正しく実装されているか、はんだ付けが正しくなされているか、配線に不良（断線やショート）はないか、実装されている部品に欠陥はないかといった検査を効率良く行うために、基板検査装置が用いられるようになった（例えば、特許文献１〜５参照）。
Therefore, it is possible to efficiently inspect whether the components are correctly mounted on the printed wiring board, soldered correctly, whether the wiring is defective (disconnection or short circuit), and whether the mounted components are defective. Therefore, a substrate inspection apparatus has been used (for example, see
ところで、コンタクト・プローブは、使用状況等によってその先端が摩耗したり変形したりして使用できなくなることがある。通常、すべてのコンタクト・プローブが同時に使用できなくなることはほとんどなく、一部のコンタクト・プローブのみが使用できなくなることが一般的である。 By the way, the contact probe may become unusable due to its tip being worn or deformed depending on the use condition or the like. Normally, all contact probes are rarely disabled at the same time, and it is common that only some contact probes are disabled.
しかしながら、特許文献１〜５に開示されている検査装置では、一つのコンタクト・プローブのみが使用できなくなっても、すべてのコンタクト・プローブを交換しなければならないという不都合があった。
However, the inspection apparatuses disclosed in
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、メンテナンス性に優れた基板検査装置を提供することにある。 The present invention has been made under such circumstances, and a first object thereof is to provide a substrate inspection apparatus having excellent maintainability.
また、本発明の第２の目的は、検査効率に優れた基板検査システムを提供することにある。 A second object of the present invention is to provide a substrate inspection system having excellent inspection efficiency.
本発明は、第１の観点からすると、プリント配線基板を検査する基板検査装置であって、検査の際に、検査対象のプリント配線基板における複数の所定位置にそれぞれ接触する複数のコンタクト・プローブと；前記複数のコンタクト・プローブを保持するとともに、該複数のコンタクト・プローブの少なくとも１つが着脱可能であるプローブ保持部材と；前記複数のコンタクト・プローブに対する電気信号の入出力を行い、前記検査対象のプリント配線基板の検査を行う制御装置と；を備える基板検査装置である。 According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate inspection apparatus for inspecting a printed wiring board, and a plurality of contact probes that respectively contact a plurality of predetermined positions on a printed wiring board to be inspected during inspection. A probe holding member that holds the plurality of contact probes and at least one of the plurality of contact probes is detachable; inputs and outputs electrical signals to and from the plurality of contact probes; And a control device that inspects the printed wiring board.
これによれば、メンテナンス性を従来よりも向上させることが可能となる。 According to this, it becomes possible to improve maintainability than before.
本発明は、第２の観点からすると、本発明の基板検査装置と；検査対象のプリント配線基板に関する情報を前記基板検査装置に入力するための入力装置と；前記基板検査装置での検査結果を表示する表示装置と；を備える基板検査システムである。 According to a second aspect of the present invention, there is provided a substrate inspection apparatus according to the present invention; an input device for inputting information relating to a printed wiring board to be inspected to the substrate inspection apparatus; and an inspection result obtained by the substrate inspection apparatus. And a display device for displaying.
これによれば、メンテナンス性に優れた本発明の基板検査装置を備えているため、その結果として検査効率を向上させることが可能となる。 According to this, since the substrate inspection apparatus of the present invention having excellent maintainability is provided, it is possible to improve inspection efficiency as a result.
以下、本発明の一実施形態を図１〜図３５に基づいて説明する。図１には、一実施形態に係る基板検査システム１の概略構成が示されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 shows a schematic configuration of a
この基板検査システム１は、パーソナルコンピュータ（パソコン）１０と、基板検査機２０とを有している。
The
パソコン１０は、表示装置１１、入力装置１２、ハードディスク装置（ＨＤＤ）１３、ＣＰＵ１５、ＲＡＭ１６、ＲＯＭ１７及びインターフェース１９等を備えている。
The
表示装置１１は、例えばＣＲＴ、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）及びプラズマ・ディスプレイ・パネル（ＰＤＰ）などを用いた表示部（図示省略）を備え、ＣＰＵ１５から指示された各種情報を表示する。
The
入力装置１２は、例えばキーボード、マウス、タブレット、ライトペン及びタッチパネルなどのうち少なくとも１つの入力媒体（図示省略）を備え、ユーザから入力された各種情報をＣＰＵ１５に通知する。なお、入力媒体からの情報はワイヤレス方式で入力されても良い。また、表示装置１１と入力装置１２とが一体化されたものとして、例えばタッチパネル付きＬＣＤなどがある。
The
ＨＤＤ１３は、ハードディスクと、該ハードディスクを駆動するための駆動装置などから構成されている。 The HDD 13 includes a hard disk and a drive device for driving the hard disk.
インターフェース１９は、基板検査機２０との双方向の通信インターフェース（例えば、ＵＳＢインターフェース、ＰＣＩインターフェースなど）である。
The
ＲＯＭ１７には、ＣＰＵ１５にて解読可能なコードで記述された基板検査管理プログラムや複数の検査プログラムを含む各種プログラム、及びプログラムの実行に用いられる各種データ等が格納されている。
The
ＣＰＵ１５は、ＲＯＭ１７に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御する。
The
ＲＡＭ１６は、作業用のメモリである。
The
基板検査機２０の外観が、一例として図２（Ａ）及び図２（Ｂ）に示されている。この基板検査機２０の筐体は３つの部分（上部２１Ａ、中間部２１Ｂ、下部２１Ｃ）からなっている。なお、本明細書では、ＸＹＺ３次元直交座標系において、基板検査機２０が設置される床面に直交する方向をＺ軸方向として説明する。
The appearance of the
上部２１Ａは、＋Ｙ側の端部が蝶番で中間部２１Ｂに固定されている。また、上部２１Ａの正面（−Ｙ側の面）には、取っ手が設けられている。そこで、該取っ手を持ち上げることにより、一例として図３（Ａ）に示されるように、上部２１Ａと中間部２１Ｂを分離することができるようになっている。
The
中間部２１Ｂは、＋Ｙ側の端部が蝶番で下部２１Ｃに固定されている。また、中間部２１Ｂの正面（−Ｙ側の面）には、取っ手が設けられている。そこで、該取っ手を持ち上げることにより、一例として図３（Ｂ）に示されるように、中間部２１Ｂと下部２１Ｃを分離することができるようになっている。
The
基板検査機２０の筐体内には、一例として図４に示されるように、基板押さえ部材２２、セットベース２３、ピンボード２４、治具基板２５、複数のコンタクト・プローブ２６、２つの電源装置（２７Ａ、２７Ｂ）などが収容されている。なお、図４では、配線部材は図示を省略している。
As shown in FIG. 4 as an example, in the housing of the
セットベース２３は、検査対象のプリント配線基板３１（以下では、便宜上「対象基板３１」ともいう）を支持する板状部材であり、中間部２１Ｂに固定されている。
The
セットベース２３は、一例として図５及び図６に示されるように、その＋Ｚ側の面に複数の第１突起部１２３Ａ及び第２突起部１２３Ｂを有している。複数の第１突起部１２３Ａは、対象基板３１に設けられている複数の取り付け穴に対応し、対象基板３１をガイドする。複数の第２突起部１２３Ｂは、対象基板３１を支持する。
As an example, as shown in FIGS. 5 and 6, the
また、セットベース２３には、複数のコンタクト・プローブ２６との干渉を避けるための開口部が設けられている。
The
複数のコンタクト・プローブ２６は、検査の際に、＋Ｚ側の先端が対象基板３１の複数の所定位置にそれぞれ接触する針状部材である。なお、先端の形状は、本実施形態に限定されるものではない。
The plurality of
複数のコンタクト・プローブ２６は、それらの位置に応じて複数のグループに分けられている。ここでは、一例として図７に示されるように、６つのグループ（Ｇ１〜Ｇ６）に分けられている。
The plurality of
各グループは、一例として図８及び図９に示されるように、そのグループを構成する複数のコンタクト・プローブ２６が所定の位置関係となるようにホルダ２６１に固定され、ユニット化されている。なお、図８及び図９は、グループＧ４を例にしている。
As shown in FIG. 8 and FIG. 9 as an example, each group is fixed to a
ここでは、各ホルダ２６１は、台形状の板状部材である。すなわち、Ｚ軸方向に平行な軸に対して回転対称性を有しない形状である。
Here, each
以下では、グループ（Ｇ１〜Ｇ６）がユニット化されたものをユニット（ＵＮ１〜ＵＮ６）という。 Below, what unitized the group (G1-G6) is called unit (UN1-UN6).
各ユニットは、それぞれを特定するためのＩＤ（ユニットＩＤ）を有している。ここでは、一例として、ＵＮ１のユニットＩＤをＩＤ０１、ＵＮ２のユニットＩＤをＩＤ０２、ＵＮ３のユニットＩＤをＩＤ０３、ＵＮ４のユニットＩＤをＩＤ０４、ＵＮ５のユニットＩＤをＩＤ０５、ＵＮ６のユニットＩＤをＩＤ０６としている。 Each unit has an ID (unit ID) for specifying the unit. Here, as an example, the unit ID of UN1 is ID01, the unit ID of UN2 is ID02, the unit ID of UN3 is ID03, the unit ID of UN4 is ID04, the unit ID of UN5 is ID05, and the unit ID of UN6 is ID06.
各ホルダ１２６は、フラッシュメモリ２６２を有しており、該フラッシュメモリ２６２にそのユニットＩＤ及び使用回数が記録されている。フラッシュメモリ２６２内の情報は、ＣＰＵ１５から読み出し、及び書き換えが可能である。
Each holder 126 has a
各ホルダ２６１には、ピンボード２４に取り付ける際のガイドとなる複数の貫通孔が形成されている。
Each
各ホルダ１２６には、ＬＥＤ２６４が設けられている。ＬＥＤ２６４は、ＣＰＵ１５から点灯／消灯が可能である。
Each holder 126 is provided with an
各コンタクト・プローブ２６の−Ｚ側端部には、配線部材２６２の一端が接続されている。なお、この接続は、（１）はんだ接続、（２）ラッピング接続、（３）はんだかしめ接続、（４）端子接続、のいずれであっても良い。
One end of a
各配線部材２６２の他端は、ユニット毎に１つのコネクタＣ１にまとめられている。
The other end of each
ピンボード２４は、一例として図１０〜図１２に示されるように、ユニットが着脱可能に保持される６つの保持部（ＡＤ１〜ＡＤ６）を有する板状部材であり、中間部２１Ｂに固定されている。なお、図１１は図１０のＡ−Ａ断面図であり、図１２は図１１の一部を拡大した図である。
As shown in FIGS. 10 to 12 as an example, the
各保持部は開口部を有し、該開口部の周囲は段付構造となっている。そして、段部にはユニットをガイドするための複数の突起部１２４が設けられている。また、各保持部の近傍には、ユニットのコネクタＣ１に対応するコネクタＣ２が配置されている。
Each holding portion has an opening, and the periphery of the opening has a stepped structure. The step portion is provided with a plurality of
各ユニットは、一例として図１３（Ａ）及び図１３（Ｂ）に示されるように、−Ｚ方向を装着方向として各保持部にセットされる。そして、コネクタＣ１とコネクタＣ２が接続される。 As an example, as shown in FIG. 13A and FIG. 13B, each unit is set in each holding portion with the −Z direction as the mounting direction. Then, the connector C1 and the connector C2 are connected.
６つのユニット（ＵＮ１〜ＵＮ６）が、各保持部に装着された状態が図１４に示されている。 FIG. 14 shows a state in which six units (UN1 to UN6) are attached to each holding portion.
なお、各保持部へのユニットの着脱は、上部２１Ａが持ち上げられた状態（図３（Ａ）参照）で行われる。
In addition, attachment / detachment of the unit to / from each holding portion is performed in a state where the
治具基板２５は、板状部材であり、下部２１Ｃに固定されている。この治具基板２５には、一例として図１５に示されるように、６つのコネクタ（ＣＮ１〜ＣＮ６）が実装されている。
The
ここでは、コネクタＣＮ１には、保持部ＡＤ１のコネクタＣ２からの配線部材が接続され、コネクタＣＮ２には、保持部ＡＤ２のコネクタＣ２からの配線部材が接続され、コネクタＣＮ３には、保持部ＡＤ３のコネクタＣ２からの配線部材が接続されている。また、コネクタＣＮ４には、保持部ＡＤ４のコネクタＣ２からの配線部材が接続され、コネクタＣＮ５には、保持部ＡＤ５のコネクタＣ２からの配線部材が接続され、コネクタＣＮ６には、保持部ＡＤ６のコネクタＣ２からの配線部材が接続されている。 Here, the wiring member from the connector C2 of the holding part AD1 is connected to the connector CN1, the wiring member from the connector C2 of the holding part AD2 is connected to the connector CN2, and the holding part AD3 is connected to the connector CN3. A wiring member from the connector C2 is connected. The connector CN4 is connected to the wiring member from the connector C2 of the holding portion AD4, the connector CN5 is connected to the wiring member from the connector C2 of the holding portion AD5, and the connector CN6 is connected to the connector of the holding portion AD6. A wiring member from C2 is connected.
なお、治具基板２５におけるコネクタの接続は、中間部２１Ｂが持ち上げられた状態（図３（Ｂ）参照）で行われる。
The connection of the connector on the
また、治具基板２５は複数のソケットを有しており、各ソケットには、デジタルＩＯボード、ＡＤ変換ボード、バッファボードなどが挿入されている。
The
治具基板２５は、パソコン１０のインターフェース１９とケーブル接続されている。
The
電源装置２７Ａは、治具基板２５に電力を供給するための電源装置であり、下部２１Ｃに設けられている電源スイッチでオンオフされる。
The
電源装置２７Ｂは、対象基板３１に電力を供給するための電源装置であり、ＣＰＵ１５からの信号によってオンオフされる。
The
基板押さえ部材２２は、板状部材であり、上部２１Ａに固定されている。そこで、上部２１Ａが持ち上げられると、同時に基板押さえ部材２２も持ち上がるようになっている（図１６参照）。
The
対象基板３１は、基板押さえ部材２２が持ち上げられている状態で、セットベース２３にセットされる（図１７参照）。
The
基板押さえ部材２２は、上部２１Ａが閉じられたときに、セットベース２３の複数の第２突起部１２３Ｂに対向する位置に複数の突起部が設けられている。そこで、上部２１Ａが閉じられると、対象基板３１は、基板押さえ部材２２の複数の突起部によって複数の第２突起部１２３Ｂに押しつけられる（図１８参照）。
The
中間部２１Ｂの＋Ｘ側には、レバー２８が設けられている。このレバー２８は、一例として図１９に示されるように、ピンボード２４に連結されている。そして、レバー２８を手前側（−Ｙ側）に倒すと、一例として図２０に示されるように、ピンボード２４が上昇（＋Ｚ側に移動）するような機構になっている。
A
次に、基板検査におけるＣＰＵ１５の動作について図２１〜図３４を用いて説明する。図２１及び図２２のフローチャートは、ＣＰＵ１５によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
Next, the operation of the
作業者が、入力装置１２を介して基板検査要求を入力すると、ＲＯＭ１７に格納されている基板検査管理プログラムの開始アドレスがプログラムカウンタにセットされ、検査処理がスタートする。
When the operator inputs a board inspection request via the
なお、ＲＯＭ１７には、一例として図２３に示されるように、基板検査システム１で検査可能なプリント配線基板の型番毎に、対応する検査プログラム及び対応するユニットのユニットＩＤがテーブルデータとして格納されている。
As shown in FIG. 23 as an example, the
最初のステップＳ４０１では、一例として図２４に示されるように、表示装置１１の表示部に、検査番号、作業者Ｎｏ、対象基板３１の型番などの検査情報の入力画面を表示させる。
In the first step S401, as shown in FIG. 24 as an example, an input screen for inspection information such as an inspection number, a worker number, and a model number of the
次のステップＳ４０３では、検査情報の入力が完了したか否かを判断する。未入力の項目があれば、ここでの判断は否定され、すべての項目が入力されるまで待機する。すべての項目が入力されると、ここでの判断は肯定され、ステップＳ４０５に移行する。 In the next step S403, it is determined whether or not the input of inspection information is completed. If there is an uninput item, the determination here is denied and the process waits until all items are input. When all items are input, the determination here is affirmed, and the process proceeds to step S405.
このステップＳ４０５では、上記テーブルデータを参照し、入力された対象基板３１の型番に対応した検査プログラムを選択する。ここでは、一例として、入力された対象基板３１の型番が「ＰＲＫ−００１」であるものとする。
In step S405, the table data is referred to, and an inspection program corresponding to the input model number of the
次のステップＳ４０７では、上記テーブルデータを参照し、入力された対象基板３１の型番に対応したユニットのユニットＩＤを取得する。
In the next step S407, the table data is referred to, and the unit ID of the unit corresponding to the input model number of the
次のステップＳ４０９では、選択された検査プログラム及び取得されたユニットＩＤを表示装置１１の表示部に表示させる（図２５参照）。 In the next step S409, the selected inspection program and the acquired unit ID are displayed on the display unit of the display device 11 (see FIG. 25).
次のステップＳ４１１では、各保持部に対してユニットＩＤの読み出しを行う。 In the next step S411, the unit ID is read from each holding unit.
次のステップＳ４１３では、全ての保持部に対してユニットＩＤの読み出しができたか否かを判断する。ユニットＩＤの読み出しができなかった保持部が１つでもあれば、ここでの判断は否定され、ステップＳ４１５に移行する。 In the next step S413, it is determined whether or not the unit IDs have been read from all the holding units. If there is even one holding unit from which the unit ID could not be read, the determination here is denied and the process proceeds to step S415.
このステップＳ４１５では、ユニットＩＤの読み出しができなかった保持部へのユニットの装着を要求するメッセージを表示部に表示させる（図２６参照）。そして、上記ステップＳ４１１に戻る。 In step S415, a message requesting mounting of the unit to the holding unit for which the unit ID could not be read is displayed on the display unit (see FIG. 26). Then, the process returns to step S411.
以降、ステップＳ４１３での判断が肯定されるまで、ステップＳ４１１〜Ｓ４１５の処理を繰り返し行う。 Thereafter, the processes in steps S411 to S415 are repeated until the determination in step S413 is affirmed.
全ての保持部に対してユニットＩＤの読み出しができていれば、ステップＳ４１３での判断は肯定され、ステップＳ４１７に移行する。 If the unit ID has been read from all the holding units, the determination in step S413 is affirmed, and the process proceeds to step S417.
このステップＳ４１７では、保持部毎に、テーブルデータから取得したユニットＩＤと装着されているユニットから読み出したユニットＩＤとが一致するか否かを判断する。一致しないユニットＩＤが１つでもあれば、ここでの判断は否定され、ステップＳ４１９に移行する。 In step S417, it is determined for each holding unit whether the unit ID acquired from the table data matches the unit ID read from the attached unit. If there is even one unit ID that does not match, the determination here is denied, and the routine goes to Step S419.
このステップＳ４１９では、ユニットＩＤが一致していない保持部を明示して、ユニットの交換を要求するメッセージを表示部に表示させる（図２７参照）。 In step S419, a holding unit that does not match the unit ID is clearly indicated, and a message for requesting unit replacement is displayed on the display unit (see FIG. 27).
次のステップＳ４２１では、ユニットＩＤが一致していない保持部に装着されているユニットのＬＥＤ２６４を点灯させる（図２８参照）。そして、上記ステップＳ４１１に戻る。
In the next step S421, the
以降、ステップＳ４１７での判断が肯定されるまで、ステップＳ４１１〜Ｓ４２１の処理を繰り返し行う。 Thereafter, the processes in steps S411 to S421 are repeated until the determination in step S417 is affirmed.
全ての保持部に関して、テーブルデータから取得したユニットＩＤと保持部に装着されているユニットから読み出したユニットＩＤとが一致すると、ステップＳ４１７での判断が肯定され、ステップＳ４２３に移行する。 When the unit ID acquired from the table data matches the unit ID read from the unit attached to the holding unit for all the holding units, the determination in step S417 is affirmed, and the process proceeds to step S423.
このステップＳ４２３では、対象基板３１がセットベース２３にセットされているか否かを判断する。例えば、電源装置２７Ｂから対象基板３１への電力供給をオンにしたときに、所定のコンタクト・プローブ２６から信号を得ることができなければ、ここでの判断は否定され、ステップＳ４２５に移行する。
In step S423, it is determined whether the
このステップＳ４２５では、対象基板３１のセットを要求するメッセージを表示部に表示させる（図２９参照）。そして、上記ステップＳ４２３に戻る。
In step S425, a message requesting to set the
以降、ステップＳ４２３での判断が肯定されるまで、ステップＳ４２３〜Ｓ４２５の処理を繰り返し行う。 Thereafter, the processes in steps S423 to S425 are repeated until the determination in step S423 is affirmed.
対象基板３１がセットベース２３にセットされていると、ステップＳ４２３での判断は肯定され、ステップＳ４２７に移行する。
If the
このステップＳ４２７では、基板検査の開始がＯＫであることを示すメッセージを表示部に表示させる（図３０参照）。 In step S427, a message indicating that the start of substrate inspection is OK is displayed on the display unit (see FIG. 30).
次のステップＳ５０１では、キャンセルボタンがクリックされたか否かを判断する。キャンセルボタンがクリックされたならば、ここでの判断は肯定され、上記ステップＳ４０１に戻る。一方、キャンセルボタンがクリックされていなければ、ここでの判断は否定され、ステップＳ５０３に移行する。 In the next step S501, it is determined whether or not the cancel button has been clicked. If the cancel button is clicked, the determination here is affirmed and the process returns to step S401. On the other hand, if the cancel button has not been clicked, the determination here is denied, and the routine goes to Step S503.
このステップＳ５０３では、検査開始ボタンがクリックされたか否かを判断する。検査開始ボタンがクリックされていなければ、ここでの判断は否定され、上記ステップＳ５０１に戻る。一方、検査開始ボタンがクリックされたならば、ここでの判断は肯定され、ステップＳ５０５に移行する。 In step S503, it is determined whether or not the inspection start button has been clicked. If the inspection start button is not clicked, the determination here is denied and the process returns to step S501. On the other hand, if the inspection start button is clicked, the determination here is affirmed, and the process proceeds to step S505.
このステップＳ５０５では、上記選択された検査プログラムの開始アドレスをプログラムカウンタにセットする。これにより、検査プログラムが起動する。 In step S505, the start address of the selected inspection program is set in the program counter. Thereby, an inspection program starts.
次のステップＳ５０７では、該検査プログラムに従って検査を行う（図３１参照）。 In the next step S507, inspection is performed according to the inspection program (see FIG. 31).
検査プログラムは、コンタクト・プローブ２６を介して、所定の信号等を対象基板３１に供給し、所望の出力（例えば、電圧レベル）が得られるか否かで合否を判断する。なお、検査は複数の項目（例えば、実装されているチップ毎）について行われ、項目毎に合否が判断される。そして、１つでも合格しない項目があると、検査は不合格とする。
The inspection program supplies a predetermined signal or the like to the
なお、検査中止ボタンがクリックされると、検査を中止し、上記ステップＳ４０１に戻る。 If the inspection stop button is clicked, the inspection is stopped and the process returns to step S401.
検査プログラムによる検査が終了するとステップＳ５０９に移行する。 When the inspection by the inspection program ends, the process proceeds to step S509.
このステップＳ５０９では、検査結果を表示部に表示させる（図３２及び図３３参照）。このとき、検査情報と検査結果をＨＤＤ１３に保存しても良い。また、検査情報と検査結果を不図示のプリンタで印刷しても良い。
In step S509, the inspection result is displayed on the display unit (see FIGS. 32 and 33). At this time, the inspection information and the inspection result may be stored in the
次のステップＳ５１１では、各ユニットのフラッシュメモリ２６２から使用回数を読み出す。
In the next step S511, the number of uses is read from the
次のステップＳ５１３では、読み出した使用回数の値をそれぞれ＋１する。ここで＋１された値は、各ユニットのフラッシュメモリ２６２に記録（上書き）される。
In the next step S513, the read use count value is incremented by one. The value incremented by 1 is recorded (overwritten) in the
次のステップＳ５１５では、使用回数が所定の値以上のユニットがあるか否かを判断する。使用回数が所定の値以上のユニットが１つでもあれば、ここでの判断は肯定され、ステップＳ５１７に移行する。なお、所定の値とは、例えば、コンタクト・プローブ２６の先端が摩耗したり、変形したりして対象基板３１との接触が担保できなくなるおそれがあると予想される使用回数であり、過去の経験等から決定される値（例えば、１５０００回）である。
In the next step S515, it is determined whether or not there is a unit whose usage count is equal to or greater than a predetermined value. If there is even one unit whose number of uses is equal to or greater than the predetermined value, the determination here is affirmed and the process proceeds to step S517. Note that the predetermined value is, for example, the number of times that the tip of the
このステップＳ５１７では、使用回数が所定の値以上のユニットの交換を要求するメッセージを表示部に表示させる（図３４参照）。 In step S517, a message requesting replacement of a unit whose number of uses is equal to or greater than a predetermined value is displayed on the display unit (see FIG. 34).
次のステップＳ５１９では、使用回数が所定の値以上のユニットのＬＥＤ２６４を点灯させる（図３５参照）。
In the next step S519, the
次のステップＳ５２１では、入力画面ボタンがクリックされたか否かを判断する。入力画面ボタンがクリックされていれば、ここでの判断は肯定され、上記ステップＳ４０１に戻る。一方、入力画面ボタンがクリックされていなければ、ここでの判断は否定され、ステップＳ５２３に移行する。 In the next step S521, it is determined whether or not the input screen button has been clicked. If the input screen button is clicked, the determination here is affirmed, and the process returns to step S401. On the other hand, if the input screen button is not clicked, the determination here is denied, and the routine goes to Step S523.
このステップＳ５２３では、再検査ボタンがクリックされたか否かを判断する。再検査ボタンがクリックされていれば、ここでの判断は肯定され、上記ステップＳ５０５に戻る。一方、再検査ボタンがクリックされていなければ、ここでの判断は否定され、ステップＳ５２５に移行する。なお、ここでは、検査結果が不合格のときのみ再検査ボタンは有効となる。 In step S523, it is determined whether or not the re-examination button is clicked. If the re-examination button is clicked, the determination here is affirmed and the process returns to step S505. On the other hand, if the re-examination button has not been clicked, the determination here is denied, and the routine goes to Step S525. Here, the re-inspection button is valid only when the inspection result is unacceptable.
このステップＳ５２５では、プログラム終了ボタンがクリックされたか否かを判断する。プログラム終了ボタンがクリックされていれば、ここでの判断は肯定され、検査処理を終了する。一方、プログラム終了ボタンがクリックされていなければ、ここでの判断は否定され、上記ステップＳ５２１に戻る。 In step S525, it is determined whether or not the program end button has been clicked. If the program end button is clicked, the determination here is affirmed and the inspection process is terminated. On the other hand, if the program end button has not been clicked, the determination here is denied and the processing returns to step S521.
ところで、続いて基板検査を行う場合に、例えば対象基板３１の型番が「ＰＲＫ−００３」であれば、保持部ＡＤ３に装着されているユニット（ここでは、ユニットＩＤがＩＤ０３のユニット）をユニットＩＤがＩＤ０７のユニットに交換することにより、同様にして基板検査を行うことが可能である。すなわち、基板検査システム１は、複数種類のプリント配線基板の検査が可能である。
By the way, when the substrate inspection is subsequently performed, for example, if the model number of the
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る基板検査システム１では、基板検査機２０とＣＰＵ１５とによって基板検査装置が構成されている。
As is clear from the above description, in the
そして、ピンボード２４によってプローブ保持部材が構成され、治具基板２５とＣＰＵ１５とによって制御装置が構成されている。
The
なお、上記のＣＰＵ１５によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
It should be noted that at least a part of each component realized by the processing by the
以上説明したように、本実施形態に係る基板検査機２０によると、複数のコンタクト・プローブ２６は、それらの位置に応じて６つのグループに分けられている。そして、各グループでは、そのグループの複数のコンタクト・プローブが所定の位置関係となるようにホルダ２６１に固定され、ユニット化されている。また、ピンボード２４は複数の保持部を有し、各保持部のそれぞれにユニットが装着されている。この場合、複数のコンタクト・プローブ２６のいずれかに不良（摩耗、変形）が発見されても、該不良のコンタクト・プローブ２６が含まれるユニットのみを交換すれば良いため、従来よりもメンテナンス性を向上させることができる。
As described above, according to the
また、本実施形態によると、複数のコンタクト・プローブ２６と治具基板２５との間の配線部材の配線チェック及び誤配線の修正を従来よりも容易に行うことが可能である。
Further, according to the present embodiment, it is possible to easily check the wiring members of the wiring members between the plurality of contact probes 26 and the
また、本実施形態によると、対象基板３１の型番が前回と異なっていても、その型番に応じたユニットに交換することにより、該対象基板３１の基板検査を行うことができる。すなわち、種類の異なる複数のプリント配線基板を検査することが可能である。
Further, according to the present embodiment, even if the model number of the
また、本実施形態によると、対象基板３１の型番に応じた検査プログラムが選択され、該検査プログラムに従って基板検査が行われている。これにより、例えば、対象基板３１の型番によって検査項目が異なる場合であっても、対応することができる。
Moreover, according to this embodiment, the inspection program according to the model number of the
また、本実施形態によると、ユニットの使用回数が所定の値以上になると、表示装置１１の表示部にメッセージを表示している。これにより、コンタクト・プローブ２６の不良に起因する誤検査を防止することができる。
Further, according to this embodiment, when the number of times the unit is used exceeds a predetermined value, a message is displayed on the display unit of the
また、本実施形態によると、ユニットの使用回数が所定の値以上になると、そのユニットのＬＥＤを点灯させている。これにより、交換対象のユニットを簡単に認識することができる。 Further, according to the present embodiment, when the number of times the unit is used exceeds a predetermined value, the LED of the unit is turned on. As a result, the replacement target unit can be easily recognized.
また、本実施形態によると、テーブルデータから取得したユニットＩＤと読み出したユニットＩＤとが一致するか否かをチェックし、一致しない場合には表示装置１１の表示部にメッセージを表示している。これにより、誤ったユニットが装着されるのを防止することができる。
Further, according to the present embodiment, it is checked whether or not the unit ID acquired from the table data matches the read unit ID. If they do not match, a message is displayed on the display unit of the
また、本実施形態によると、テーブルデータから取得したユニットＩＤと読み出したユニットＩＤとが一致するか否かをチェックし、一致しない場合には、そのユニットのＬＥＤを点灯させている。これにより、誤って装着されているユニットを簡単に認識することができる。 Further, according to the present embodiment, it is checked whether or not the unit ID acquired from the table data matches the read unit ID. If they do not match, the LED of the unit is turned on. As a result, it is possible to easily recognize a unit that is erroneously mounted.
また、本実施形態によると、ホルダ２６１が台形状の板状部材であるため、ピンボード２４の保持部に装着する際に、間違った姿勢で装着するのを防止することができる。なお、Ｚ軸方向に平行な軸に対して回転対称性を有しない形状であれば、台形状に限定されるものではない。
In addition, according to the present embodiment, since the
また、本実施形態によると、ピンボード２４の保持部に対するホルダ２６１の着脱方向がＺ軸方向に平行であるため、容易に確実に着脱することができる。
Moreover, according to this embodiment, since the attachment / detachment direction of the
また、本実施形態によると、ピンボード２４の保持部近傍にコネクタＣ２が設けられているため、ホルダ２６１の着脱を簡単に行うことができる。
Further, according to the present embodiment, since the connector C2 is provided in the vicinity of the holding portion of the
また、本実施形態によると、ユニットＩＤがホルダ２６１のフラッシュメモリ２６２に格納されているため、ＣＰＵ１５は保持部に装着されているユニットのユニットＩＤを確実に、そして容易に取得することができる。
According to the present embodiment, since the unit ID is stored in the
また、本実施形態によると、ユニットの使用回数がホルダ２６１のフラッシュメモリ２６２に格納されているため、ＣＰＵ１５は保持部に装着されているユニットの使用回数を確実に、そして容易に取得することができる。
Further, according to the present embodiment, since the number of times of use of the unit is stored in the
また、本実施形態によると、各保持部が、ユニットをガイドするための複数の突起部１２４を有しているため、ユニットを保持部に、確実にしかも容易に装着することができる。
In addition, according to the present embodiment, since each holding portion has the plurality of
そして、本実施形態に係る基板検査システム１によると、検査効率を向上させることができる。
And according to the board |
なお、上記実施形態では、ユニット及びピンボード２４の保持部が、ユニットを上（ここでは、＋Ｚ側）からピンボード２４の保持部に装着する構造となっている場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、図３６（Ａ）及び図３６（Ｂ）に示されるように、ユニット及びピンボード２４の保持部が、ユニットを下（ここでは、−Ｚ側）からピンボード２４の保持部に装着する構造となっていても良い。この場合に、ユニットをピンボード２４に固定するための機構（例えば、ねじ止め機構）を設けても良い。
In the above embodiment, the case where the unit and the holding unit of the
また、上記実施形態では、複数のコンタクト・プローブ２６が、６つのグループに分けられる場合について説明したが、これに限定されるものではない（図３７参照）。
Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the some
また、上記実施形態では、６つのグループ全てがユニット化される場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、交換することが予想されるグループが１つのときには、該グループのみをユニット化しても良い（図３８参照）。 Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where all six groups were unitized, it is not limited to this. For example, when one group is expected to be exchanged, only that group may be unitized (see FIG. 38).
また、上記実施形態では、各ユニットの外形が同じ場合について説明したが、これに限定されるものではない。 Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the external shape of each unit was the same, it is not limited to this.
また、上記実施形態では、検査終了後に使用回数のチェックを行っているが、検査開始前に使用回数のチェックを行っても良い。 Moreover, in the said embodiment, although the number of uses is checked after completion | finish of a test | inspection, you may check the number of uses before a test | inspection start.
また、上記実施形態では、全てのコンタクト・プローブ２６が、着脱可能な場合について説明したが、これに限定されるものではなく、例えば、１つのコンタクト・プローブ２６のみが着脱可能であっても良い。
In the above embodiment, the case where all the contact probes 26 are detachable has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, only one
また、上記実施形態では、ユニットＩＤがフラッシュメモリ２６２に格納されている場合について説明したが、これに限らず、例えば、ユニットにディップスイッチを設け、該ディップスイッチでユニットＩＤが設定されていても良い。
In the above embodiment, the case where the unit ID is stored in the
また、上記実施形態では、使用回数がフラッシュメモリ２６２に記録されている場合について説明したが、これに限らず、例えば、パソコン１０のＨＤＤ１３にユニットＩＤ毎に使用回数が記録されても良い。
Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where the frequency | count of use was recorded on the
また、上記実施形態では、ユニットの使用回数を＋１し、その値が所定の値以上の時を該ユニットの交換時期とする場合について説明したが、これに限定されるものではない。最初に使用回数として所定の値をフラッシュメモリ２６２に格納しておき、使用する度に使用回数を−１し、その値が０になった時を該ユニットの交換時期としても良い。
In the above embodiment, the case where the number of times the unit is used is incremented by 1 and the value is equal to or greater than a predetermined value is described as the replacement time of the unit. However, the present invention is not limited to this. First, a predetermined value as the number of times of use may be stored in the
また、上記実施形態において、ピンボード２４の各保持部近傍にＬＥＤを設け、装着されているユニットが適切なユニットでない場合や、装着されているユニットの使用回数が所定の値以上の場合に、対応するＬＥＤを点灯させても良い。
In the above embodiment, when the LED is provided in the vicinity of each holding portion of the
また、上記実施形態において、装着されているユニットの使用回数が所定の値以上のときに、該ユニットを交換したことをパソコン１０に通知するためのボタン（図３９参照）が基板検査機２０に設けられていても良い。この場合に、ＣＰＵ１５は、該ボタンが押されるまで次の処理に移行しないようにしても良い。また、パソコン１０側にこのボタンが設けられていても良い。
In the above embodiment, when the number of use of the mounted unit is equal to or greater than a predetermined value, a button (see FIG. 39) for notifying the
また、上記実施形態において、複数の検査項目があるときに、作業者が指定した項目のみを検査できるようにしても良い。 In the above embodiment, when there are a plurality of inspection items, only the items designated by the operator may be inspected.
また、上記実施形態におけるテーブルデータは一例であり、これに限定されるものではない。 Moreover, the table data in the said embodiment is an example, and is not limited to this.
また、上記実施形態における表示部の表示内容、表示レイアウトは一例であり、これに限定されるものではない。 Moreover, the display content and display layout of the display unit in the above embodiment are merely examples, and the present invention is not limited to this.
また、上記実施形態において、基板検査機２０に検査結果を示すためのＬＥＤが設けられても良い。例えば、合格時に緑色発光するＬＥＤと不合格時に赤色発光するＬＥＤとが設けられても良い。
Moreover, in the said embodiment, LED for showing a test result may be provided in the board |
また、上記実施形態において、ＣＰＵ１５によるプログラムに従う処理の少なくとも一部が、基板検査機２０側で行われても良い。この場合に、例えば、治具基板２５にＣＰＵとプログラム等が格納されたＲＯＭとが搭載されても良い。
Moreover, in the said embodiment, at least one part of the process according to the program by CPU15 may be performed by the board | substrate test |
また、上記実施形態において、基板検査機２０側の各種ボード（デジタルＩＯボード、ＡＤ変換ボード、バッファボードなど）の少なくとも一部が、パソコン１０側に設けられても良い。
In the above-described embodiment, at least a part of various boards (digital IO board, AD conversion board, buffer board, etc.) on the
また、上記実施形態において、対象基板３１が、組み込みソフト（ファームウエア）が搭載されたいわゆるＣＰＵ基板のときに、パソコン１０と対象基板３１とを例えばシリアル接続し、ＣＰＵ基板の動作チェックを行っても良い（図４０参照）。
In the above embodiment, when the
また、上記実施形態において、各ユニットのフラッシュメモリ２６２とパソコン１０との接続がＵＳＢ接続であっても良い。この場合、パソコン１０では、各フラッシュメモリ２６２をリムーバブルディスクとして認識し、それぞれに固有のドライブレターが付与される。
In the above embodiment, the connection between the
また、上記実施形態において、パソコン１０と基板検査機２０とが一体化されていても良い。
Further, in the above embodiment, the
以上説明したように、本発明の基板検査装置によれば、従来よりもメンテナンス性を向上させるのに適している。また、本発明の基板検査システムによれば、検査効率を向上させるのに適している。 As described above, according to the substrate inspection apparatus of the present invention, it is suitable for improving the maintainability as compared with the prior art. Further, the substrate inspection system of the present invention is suitable for improving inspection efficiency.
１…基板検査システム、１０…パソコン、１１…表示装置（表示手段）、１２…入力装置（入力手段）、１５…ＣＰＵ（制御装置の一部）、１７…ＲＯＭ（メモリ）、２０…基板検査機、２３…セットベース、２４…ピンボード（プローブ保持部材）、２５…治具基板（制御装置の一部）、２６…コンタクト・プローブ、３１…プリント配線基板、１２４…突起部、２６２…フラッシュメモリ（メモリ）、２６４…ＬＥＤ（発光部材）、Ｃ１…コネクタ、Ｃ２…コネクタ。
DESCRIPTION OF
Claims (21)
検査の際に、検査対象のプリント配線基板における複数の所定位置にそれぞれ接触する複数のコンタクト・プローブと；
前記複数のコンタクト・プローブを保持するとともに、該複数のコンタクト・プローブの少なくとも１つが着脱可能であるプローブ保持部材と；
前記複数のコンタクト・プローブに対する電気信号の入出力を行い、前記検査対象のプリント配線基板の検査を行う制御装置と；を備える基板検査装置。 A board inspection apparatus for inspecting a printed wiring board,
A plurality of contact probes that respectively contact a plurality of predetermined positions on a printed wiring board to be inspected during inspection;
A probe holding member that holds the plurality of contact probes and at least one of the plurality of contact probes is detachable;
A control device that inputs and outputs electrical signals to and from the plurality of contact probes and inspects the printed wiring board to be inspected.
該着脱可能な２以上のコンタクト・プローブは、少なくとも１つのユニットとされていることを特徴とする請求項１に記載の基板検査装置。 The detachable contact probe is two or more contact probes,
2. The substrate inspection apparatus according to claim 1, wherein the two or more detachable contact probes are at least one unit.
前記制御装置は、前記少なくとも１つのユニットの使用回数が所定の値以上であると判断すると、該ユニットの発光部材を点灯させることを特徴とする請求項３又は４に記載の基板検査装置。 The at least one unit has a light emitting member;
5. The substrate inspection apparatus according to claim 3, wherein the control device turns on the light emitting member of the unit when determining that the number of times the at least one unit is used is equal to or greater than a predetermined value. 6.
前記制御装置は、前記ＩＤ情報に基づいて、前記少なくとも１つのユニットが、前記検査対象のプリント配線基板に対して適切であるか否かを判断することを特徴とする請求項２〜６のいずれか一項に記載の基板検査装置。 The at least one unit has ID information for identifying the unit;
7. The control device according to claim 2, wherein the control device determines whether or not the at least one unit is appropriate for the printed wiring board to be inspected based on the ID information. The board inspection apparatus according to claim 1.
前記制御装置は、前記少なくとも１つのユニットが前記検査対象のプリント配線基板に対して不適切であると判断すると、該ユニットの発光部材を点灯させることを特徴とする請求項７又は８に記載の基板検査装置。 The at least one unit has a light emitting member;
9. The control device according to claim 7, wherein when the at least one unit is determined to be inappropriate for the printed wiring board to be inspected, the light emitting member of the unit is turned on. Board inspection equipment.
前記制御装置は、前記ＩＤ情報に基づいて、前記複数のユニットが正しい位置に装着されているか否かを判断することを特徴とする請求項７又は８に記載の基板検査装置。 The at least one unit is a plurality of units;
9. The substrate inspection apparatus according to claim 7, wherein the control device determines whether or not the plurality of units are mounted at correct positions based on the ID information.
前記制御装置は、正しい位置に装着されていないユニットがあると、該ユニットの発光部材を点灯させることを特徴とする請求項１１に記載の基板検査装置。 The plurality of units have a light emitting member,
12. The substrate inspection apparatus according to claim 11, wherein when there is a unit that is not mounted at a correct position, the control device turns on a light emitting member of the unit.
検査対象のプリント配線基板に関する情報を前記基板検査装置に入力するための入力装置と；
前記基板検査装置での検査結果を表示する表示装置と；を備える基板検査システム。 A substrate inspection apparatus according to any one of claims 1 to 19;
An input device for inputting information on the printed wiring board to be inspected to the board inspection device;
A substrate inspection system comprising: a display device that displays an inspection result obtained by the substrate inspection device.
前記基板検査装置の制御装置は、前記入力装置から入力された情報に基づいて、前記複数の検査プログラムの中から前記検査対象のプリント配線基板に対応した検査プログラムを選択することを特徴とする請求項２０に記載の基板検査システム。 A memory further storing a plurality of inspection programs;
The control device of the board inspection apparatus selects an inspection program corresponding to the printed wiring board to be inspected from the plurality of inspection programs based on information input from the input device. Item 21. The substrate inspection system according to Item 20.
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|---|---|---|---|
| JP2008275212A JP2010101821A (en) | 2008-10-27 | 2008-10-27 | Board inspecting device and board inspecting system |
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|---|---|
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