JP2010060498A - 自己診断回路 - Google Patents

Abstract

【課題】同一回路を複数備えることなく自己診断を実施することができる自己診断回路を提供する。
【解決手段】クロック信号に従って第１スイッチ３０および第２スイッチ５０の切り替えを行う構成とすることで、信号処理回路４０に処理信号と基準信号とが交互に入力されるようにする。そして、基準信号が信号処理回路４０で処理されることで生成された判定信号に基づいて異常を判定する。これにより、自己診断のための信号処理回路４０を余分に設ける必要がなくても、自己診断を行うことが可能となる。
【選択図】図１

Description

本発明は、外部から入力された信号の処理と共に該処理が正しく行われたか否かを自己診断する機能を備えた自己診断回路に関する。

従来より、外部のセンサから入力されたセンサ信号を信号処理すると共に、該信号処理が正しく行われたか否かを自己診断する機能を備えた装置が、例えば特許文献１で提案されている。具体的に、特許文献１では、センサ信号を入力して信号処理する信号処理回路と、この信号処理回路と同一回路である診断用回路と、信号処理回路の出力と診断用回路の出力とを比較する比較器とを備えた装置が提案されている。

診断用回路は、センサ信号を入力して信号処理回路とまったく同じ信号処理を行ってその結果を出力する。また、比較器は、信号処理回路の出力と診断用回路の出力とを比較して各出力の差が設定値を超えた場合、信号処理回路および診断用回路のいずれかに異常が発生したと判定して異常信号を出力する。
特許第４００８０４４号公報

しかしながら、上記従来の技術では、センサ信号を処理する信号処理回路に加え、該信号処理回路と同一の診断用回路が必要になり、装置に２系統の回路構成を用意しなければならない。このため、信号処理回路の回路規模が小さければ、部品・面積も許容できる範囲であるが、回路規模が増大するにつれ、部品・面積共に許容できないレベルとなり問題となる。

また、比較器は、信号処理回路の出力と診断用回路の出力とを比較してその判定結果を出力するだけである。このため、信号処理回路または診断用回路のどちらの回路が故障したかを判別することができなかった。したがって、診断用回路が故障していた場合、本来の信号処理回路は正常であるにもかかわらず、異常信号が出力されている限りはいずれかの回路が異常であると判断せざるを得ず、自己診断機能を持つ装置全体を交換しなければならないという問題もある。

本発明は、上記点に鑑み、同一回路を複数備えることなく自己診断を実施することができる自己診断回路を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明では、前半周期と後半周期とで一周期が構成されたクロック信号に従って、前半周期のクロック信号を入力したときに処理信号の通過を許可する一方、後半周期のクロック信号を入力したときに基準信号の通過を許可する第１切替手段（３０）と、第１切替手段（３０）から処理信号および基準信号を入力し、処理信号が入力されたときには処理信号の信号処理を行って出力信号を生成する一方、基準信号が入力されたときには処理信号の信号処理と同じ信号処理を基準信号に対して行って判定信号を生成する信号処理回路手段（４０）と、クロック信号に従って、前半周期のクロック信号を入力したときに信号処理回路手段（４０）から出力された出力信号の通過を許可する一方、後半周期のクロック信号を入力したときに信号処理回路手段（４０）から出力された判定信号の通過を許可する第２切替手段（５０）と、第２切替手段（５０）から出力信号を入力してサンプルホールドし、該サンプルホールドした出力信号を外部に出力するサンプルホールド回路手段（６０）と、第２切替手段（５０）から判定信号を入力し、判定信号が許容値を超えたときに信号処理回路手段（４０）が故障していることを示す異常信号を外部に出力する判定回路手段（７０）とを備えていることを特徴とする。

このように、第１切替手段（３０）および第２切替手段（５０）による信号の通過の許可を切り替えることによって、一つの信号処理回路手段（４０）で処理信号の処理と基準信号の処理とを行うことができる。したがって、自己診断のための信号処理回路手段（４０）を余分に設けることなく自己診断を実施することができる。

請求項２に記載の発明では、判定回路手段（７０）は、クロック信号に従って、後半周期のクロック信号と異常信号とが共に入力されたときに、異常信号の外部への出力を許可する出力許可回路手段（７５）を備えていることを特徴とする。

これにより、信号処理回路手段（４０）で基準信号が信号処理されているときに判定回路手段（７０）から異常信号が出力されないようにすることができる。したがって、異常信号の誤出力を防止することができる。

請求項３に記載の発明のように、信号処理回路手段（４０）は、信号処理として、前記信号の増幅処理を行うことができる。

請求項４に記載の発明では、第１切替手段（３０）および前記第２切替手段（５０）は、外部から入力されたクロック信号に従って信号の通過を許可することを特徴とする。このように、自己診断回路内でクロック信号を発生させずに外部から取り込むことができる。

請求項５に記載の発明では、第１切替手段（３０）は外部で生成された基準信号を入力し、クロック信号に従って基準信号の通過を許可することを特徴とする。このように、自己診断回路で基準信号を生成しなくても外部から取り込むことができる。

請求項６に記載の発明のように、基準信号として、電源電圧を抵抗にて分割した電圧を用いることができる。

請求項７に記載の発明のように、基準信号として、電源電圧を定電圧回路に入力し生成した電圧を用いることができる。

請求項８に記載の発明では、出力許可回路手段（７５）は、クロック信号に従って、後半周期のクロック信号と異常信号とが共に入力されたときに異常信号の外部への出力を許可する一方、前半周期のクロック信号が入力されたときに異常信号の外部への出力を停止する論理回路であることを特徴とする。

このように、出力許可回路手段（７５）を論理回路で構成することができる。論理回路としては、例えばＮＯＲ回路を採用することができ、ＡＮＤ回路等によって構成された回路も採用することができる。

請求項９に記載の発明では、第１切替手段（３０）は複数の基準信号を入力し、クロック信号に従って複数の基準信号それぞれの通過を切り替え、信号処理回路手段（４０）は、第１切替手段（３０）から入力される複数の基準信号を、順次、信号処理することを特徴とする。

これにより、複数の基準信号それぞれに対して信号処理された結果を判定でき、より正確な判定を行うことができる。

請求項１０に記載の発明では、クロック信号の前半周期と後半周期との比率は、信号処理回路手段（４０）の起動後に１度だけ第１切替手段（３０）にて基準信号の通過が許可される比率になっていることを特徴とする。

これにより、自己診断回路への電源投入後に１度だけ自己診断を行うようにすることができ、他の時間すべてで信号処理を行うようにすることができる。

請求項１１に記載の発明では、クロック信号の前半周期と後半周期との比率は、第１切替手段（３０）における基準信号の１回の通過に対して処理信号の通過が複数回許可される比率になっていることを特徴とする。これにより、一定時間ごとに自己診断を行うようにすることができる。

請求項１２に記載の発明では、サンプルホールド回路手段（６０）の後段にローパスフィルタが設けられていることを特徴とする。これにより、第２切替手段（５０）の切り替え時に発生する切り替えノイズを減衰させることができる。

なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、図中、同一符号を付してある。

（第１実施形態）
図１は、本発明の第１実施形態に係る自己診断回路の全体構成図である。この図に示されるように、自己診断回路は、クロック１０と、基準電圧源２０と、第１スイッチ３０と、信号処理回路４０と、第２スイッチ５０と、サンプルホールド回路６０と、判定回路７０とを備えている。

クロック１０は、前半周期と後半周期とで一周期が構成されたクロック信号を発生させるものである。例えば、クロック信号の前半周期がハイ、後半周期がローの場合、クロック信号はハイ／ローを繰り返す信号となる。クロック１０で発生させられたクロック信号は、第１スイッチ３０、第２スイッチ５０、サンプルホールド回路６０、判定回路７０にそれぞれ入力される。以下では、クロック信号の前半周期をハイ、後半周期をローと定義する。なお、この定義は自己診断回路の設計に応じて自由に変更可能である。

基準電圧源２０は、一定の基準電圧を発生させる電源である。この基準電圧は基準信号として第１スイッチ３０に入力される。

第１スイッチ３０は、クロック１０から入力されたクロック信号に従って、外部から入力した処理信号と基準電圧源２０から入力した基準信号とのいずれかを通過させる手段である。処理信号は、例えばセンサから出力されたセンサ信号等である。

具体的に、第１スイッチ３０は、クロック１０からハイのクロック信号を入力したときに自己診断回路の入力端子８０と信号処理回路４０とを接続し、入力端子８０に入力された処理信号の通過を許可する。また、第１スイッチ３０は、後半周期のクロック信号を入力したときに基準電圧源２０と信号処理回路４０とを接続し、基準電圧源２０から出力された基準信号の通過を許可する。第１スイッチ３０を通過した処理信号または基準信号は信号処理回路４０に入力される。このような第１スイッチ３０は、例えばＭＯＳトランジスタで構成される。

信号処理回路４０は、第１スイッチ３０から処理信号および基準信号を入力し、入力された各信号の信号処理を行う回路である。信号処理回路４０は処理信号および基準信号に対してそれぞれ同じ信号処理を行う。

すなわち、信号処理回路４０は、処理信号が入力されたときには処理信号の信号処理を行って出力信号を生成する。また、信号処理回路４０は、基準信号が入力されたときには処理信号の信号処理と同じ信号処理を基準信号に対して行って判定信号を生成する。信号処理としては、例えば、一定の増幅率で信号を増幅する処理を行う。信号処理回路４０で生成された出力信号または判定信号は電圧値であり、それぞれ第２スイッチ５０に入力される。

第２スイッチ５０は、クロック１０から入力されたクロック信号に従って、信号処理回路４０から入力した出力信号と判定信号とのいずれかを通過させる手段である。具体的に、第２スイッチ５０は、クロック１０からハイのクロック信号を入力したときに信号処理回路４０とサンプルホールド回路６０とを接続し、信号処理回路４０から出力された出力信号の通過を許可する。第２スイッチ５０を通過した出力信号は、サンプルホールド回路６０に入力される。また、第２スイッチ５０は、クロック１０からローのクロック信号を入力したときに信号処理回路４０と判定回路７０とを接続し、信号処理回路４０から出力された判定信号の通過を許可する。第２スイッチ５０を通過した判定信号は、判定回路７０に入力される。

すなわち、第１スイッチ３０および第２スイッチ５０にハイのクロック信号が入力される間、入力端子８０に入力された処理信号を信号処理回路４０で処理してサンプルホールド回路６０に入力する経路が形成される。一方、第１スイッチ３０および第２スイッチ５０にローのクロック信号が入力される間、基準電圧源２０から出力された基準信号を信号処理回路４０で処理して判定回路７０に入力する経路が形成される。このような第２スイッチ５０は、第１スイッチ３０と同様に、例えばＭＯＳトランジスタで構成される。

サンプルホールド回路６０は、第２スイッチ５０から出力信号を入力してサンプルホールドし、該サンプルホールドした出力信号を出力端子８１を介して外部に出力するものである。このサンプルホールド回路６０には、ＮＯＴ回路９０を介してクロック１０からクロック信号が入力されるようになっている。

したがって、サンプルホールド回路６０は、クロック１０からハイのクロック信号が出力されている間に出力信号のサンプリングを行い、クロック１０からローのクロック信号が出力されている間に一時的保持（ホールド）を行う。サンプルホールド回路６０はスイッチ・コンデンサ・オペアンプ等により構成される。

第１スイッチ３０および第２スイッチ５０の切り替えにより基準信号が信号処理回路４０で信号処理される間、信号処理回路４０では判定信号が生成されるため信号処理回路４０からの出力が正常な出力でなくなる。このため、サンプルホールド回路６０は、基準信号が処理されるように第１スイッチ３０および第２スイッチ５０が切り替わった後でも、処理信号が信号処理された正常な出力信号が常に出力端子８１から出力されるようにする役割を果たす。

判定回路７０は、第２スイッチ５０から判定信号を入力し、該判定信号が許容値を超えたときに信号処理回路４０が故障していることを示す異常信号を外部に出力するものである。この判定回路７０は、サンプルホールド回路７１と、第１比較電圧源７２と、第２比較電圧源７３と、比較器７４とを備えている。

サンプルホールド回路７１は、クロック１０から入力されたクロック信号に従って、第２スイッチ５０を介して信号処理回路４０から入力された判定信号をサンプルホールドし、該サンプルホールドした判定信号を比較器７４に出力するものである。このサンプルホールド回路７１は、クロック１０からローのクロック信号が出力されている間に判定信号のサンプリングを行い、クロック１０からハイのクロック信号が出力されている間に一時的保持（ホールド）を行う。サンプルホールド回路７１は、サンプルホールド回路６０と同様にスイッチ・コンデンサ・オペアンプ等により構成される。

第１比較電圧源７２は、一定の第１比較電圧を発生させる電源である。この第１比較電圧は第１比較信号として比較器７４に入力される。例えば、この第１比較電圧が許容値の上限値である。

第２比較電圧源７３は、一定の第２比較電圧を発生させる電源である。この第２比較電圧は第２比較信号として比較器７４に入力される。例えば、この第２比較電圧が許容値の下限値である。

比較器７４は、サンプルホールド回路７１から入力された判定信号が、上限値としての第１比較信号と下限値としての第２比較信号との間の範囲内であるかを判定するものである。予め設定された基準電圧が信号処理回路４０にて増幅処理されると、期待される処理結果が予想できるため、上限値と下限値との間の許容値は、基準信号が信号処理回路４０で正常に信号処理されたならば当然に含まれるであろう範囲に設定される。

そして、判定信号が示す電圧値が上限値である第１比較電圧を上回る場合、または下限値である第２比較電圧を下回る場合、比較器７４は上記異常信号を生成し、異常出力端子８２を介して該異常信号を外部に出力する。このような比較器７４はコンパレータ等により構成される。

以上が、本実施形態に係る自己診断回路の全体構成である。この自己診断回路は、例えばセンサやＥＣＵ等の電子回路に組み込まれて用いられる。

次に、図１に示される自己診断回路の作動について説明する。まず、クロック１０でクロック信号が生成され、第１スイッチ３０、第２スイッチ５０、サンプルホールド回路６０、判定回路７０のサンプルホールド回路７１にそれぞれ入力される。

そして、第１スイッチ３０および第２スイッチ５０がハイのクロック信号により駆動されると、自己診断回路は通常モードとなる。すなわち、第１スイッチ３０によって入力端子８０と信号処理回路４０とが接続され、第２スイッチ５０によって信号処理回路４０とサンプルホールド回路６０とが接続される。

これにより、入力端子８０に入力された処理信号が第１スイッチ３０を介して信号処理回路４０に入力される。そして、信号処理回路４０にて増幅処理されて出力信号が生成され、該出力信号が第２スイッチ５０を介してサンプルホールド回路６０に入力される。該出力信号はサンプルホールド回路６０を通じて出力端子８１から外部に出力される。

続いて、第１スイッチ３０および第２スイッチ５０がローのクロック信号により駆動されると、自己診断回路は自己診断モードとなる。すなわち、第１スイッチ３０によって基準電圧源２０と信号処理回路４０とが接続され、第２スイッチ５０によって信号処理回路４０と判定回路７０のサンプルホールド回路７１とが接続される。

これにより、基準電圧源２０から出力された予め設定された基準電圧を示す基準信号が、第１スイッチ３０を介して信号処理回路４０に入力される。そして、信号処理回路４０にて処理信号と同様に増幅処理されて判定信号が生成され、該判定信号が第２スイッチ５０を介してサンプルホールド回路７１に入力され、該サンプルホールド回路７１を通過して比較器７４に入力される。

比較器７４では、判定信号を示す電圧値が第１比較電圧と第２比較電圧との間の許容値に含まれるか否かが判定される。該電圧値が許容値の範囲内であると判定されると、信号処理回路４０は正常に機能していることを示す正常信号を出力する。一方、該電圧値が許容値を超えると判定されると、比較器７４では異常信号が生成され、異常出力端子８２を介して外部に出力される。

このように自己診断モードが機能している間、すなわち第１スイッチ３０および第２スイッチ５０にローのクロック信号が入力されている間、サンプルホールド回路６０の出力はクロック信号がハイのときにサンプリングされた出力信号が保持されている。これは、自己診断を行う際に信号処理回路４０の出力が自己診断出力（判定信号）となって正常な出力でなくなるため、自己診断回路から外部への正常な処理出力を保つためである。

また、サンプルホールド回路７１では、自己診断モードが機能している間では判定信号がサンプリングされ、処理信号を信号処理する間では該判定信号が保持される。これにより、正規入力（処理信号）に対する異常判定の防止を図っている。

上記のようにして、自己診断回路は通常モードと自己診断モードとが繰り返されることにより、継続して出力信号が出力され、信号処理回路４０に異常が発生した際には異常信号が出力される。

以上説明したように、本実施形態では、自己診断の対象となる信号処理回路４０に、診断用の基準信号と本来の処理信号を時分割して入力し、得られた判定信号が設定された判定範囲に入っているかを判定することで信号処理回路４０の異常を診断することを特徴とする。

これにより、自己診断のための信号処理回路４０を余分に設ける必要がなくなり、一つの信号処理回路４０で処理信号の処理と基準信号の処理とを行うことができる。したがって、部品点数と回路面積の削減を実現することができる。

また、異常信号が出力された際には、信号処理回路４０の故障であると確実に判断できる。このため、自己診断回路全体を交換する必要はなく、場合によっては信号処理回路４０のみを交換することも可能である。

なお、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、信号処理回路４０が特許請求の範囲の信号処理回路手段に対応し、サンプルホールド回路６０が特許請求の範囲のサンプルホールド回路手段に対応する。また、第１スイッチ３０が特許請求の範囲の第１切替手段に対応し、第２スイッチ５０が特許請求の範囲の第２切替手段に対応する。さらに、判定回路７０が特許請求の範囲の判定回路手段に対応する。

（第２実施形態）
本実施形態では、第１実施形態と異なる部分についてのみ説明する。図２は、判定回路７０において比較器７４と異常出力端子８２との間の一部構成図を示したものである。この図に示されるように、判定回路７０は、比較器７４と異常出力端子８２との間に出力許可回路７５を備えている。

この出力許可回路７５は、ローのクロック信号（ＣＬＫ）と異常信号とが共に入力されたときに、異常信号の外部への出力を許可するＮＯＲ回路である。つまり、出力許可回路７５は、ハイのクロック信号が入力される間すなわち自己診断回路の通常モードの際には比較器７４から入力された信号の通過を停止し、自己診断モードの際にのみ比較器７４の出力の通過を許可する。

これにより、自己診断モードの際にのみ異常信号が外部に出力されることになり、通常モードの際の判定回路７０の誤出力を防止することができる。したがって、自己診断回路の信頼性を向上させることができる。

なお、本実施形態の記載と特許請求の範囲の記載との対応関係については、出力許可回路７５が特許請求の範囲の出力許可回路手段に対応する。

（他の実施形態）
上記各実施形態では、信号処理回路４０では信号処理として信号の増幅処理を行っていたが、信号処理の内容は信号の増幅処理に限らず、他の処理でも良い。

上記各実施形態では、自己診断回路にクロック１０が備えられた構成が示されているが、クロック信号は外部から入力するようにしても良い。

上記各実施形態では、自己診断回路に基準電圧源２０が備えられた構成が示されているが、外部から基準信号を第１スイッチ３０に入力する構成でも良い。また、基準信号の生成方法に制限はなく、自己診断回路の内部で電源電圧を抵抗分割して作成しても良いし、バンドギャップ定電圧回路に代表される電子回路を用いて作成しても良い。第１比較信号および第２比較信号についても同様である。すなわち、基準信号は、電源電圧を抵抗にて分割した電圧であっても良いし、電源電圧を定電圧回路に入力し生成した電圧であっても良い。

上記各実施形態で示された判定回路７０の構成は一例を示すものであり、他の構成によって判定回路７０が実現されるようにしても良い。例えば、判定回路７０で用いられるサンプルホールド回路７１は必須ではなく、通常モード時に異常判定を行わない論理回路を構築することで、通常モード時に異常の出力を防止する構成としても良い。

第２実施形態で示された出力許可回路７５はＮＯＲ回路で構成されているが、ＮＯＲ回路に限らず、ＡＮＤ回路等で構成された論理回路で構成されていても良い。すなわち、論理回路は、クロック信号に従って、ローのクロック信号と異常信号とが共に入力されたときに異常信号の外部への出力を許可する一方、ハイのクロック信号が入力されたときに異常信号の外部への出力を停止する構成であれば良い。

第２実施形態で示された出力許可回路７５を用いる場合は、自己診断モード時のみ異常信号を出力するため、通常動作時の異常信号出力について考慮する必要が無くなり、サンプルホールド回路７１を省略することもできる。

基準信号は１つに限らず、複数用いても良い。この場合、複数の基準電圧を信号処理回路４０に入力できるスイッチを用いて順次切り替えて異常を判定するようにすれば良い。もちろん、第１スイッチ３０によって切り替えができるようにしても良い。この場合、信号処理回路４０は、第１スイッチ３０から入力される複数の基準信号を、順次、信号処理することとなる。

通常モードと自己診断モードとの時間的比率は、クロック信号のハイ／ローのタイミングで決まるが、通常モード（例えばクロック信号の前半周期）と自己診断モード（例えばクロック信号の後半周期）との時間的比率は１：１である必要はなく、自由に設定して良い。例えば、電源投入時（すなわち信号処理回路４０の起動後）に１度だけ、自己診断モードを実施するようにしても良いし、通常動作を複数回実施した後で、自己診断を１回実施する動作を繰り返し行ってもよい。この場合、前者のクロック信号のハイとローとの比率は、信号処理回路４０の起動後に１度だけ第１スイッチ３０にて基準信号の通過が許可される比率となる。一方、後者のクロック信号のハイとローとの比率は、第１スイッチ３０における基準信号の１回の通過に対して処理信号の通過が複数回許可される比率となる。

出力信号の出力切り替え時に切り替えノイズが出力信号にのる可能性がある。そのため、サンプルホールド回路６０の後段にローパスフィルタを設けて切り替えノイズを減衰させても良い。また、出力信号の移動平均を取り、ノイズ成分を減少させても良い。

本発明の第１実施形態に係る自己診断回路の全体構成図である。 本発明の第２実施形態に判定回路において、比較器と異常出力端子との間の一部構成図である。

符号の説明

３０ 第１スイッチ
４０ 信号処理回路
５０ 第２スイッチ
６０ サンプルホールド回路
７０ 判定回路
７５ 出力許可回路

Claims (12)

1. 前半周期と後半周期とで一周期が構成されたクロック信号に従って、前記前半周期のクロック信号を入力したときに処理信号の通過を許可する一方、前記後半周期のクロック信号を入力したときに基準信号の通過を許可する第１切替手段（３０）と、
   前記第１切替手段（３０）から前記処理信号および前記基準信号を入力し、前記処理信号が入力されたときには前記処理信号の信号処理を行って出力信号を生成する一方、前記基準信号が入力されたときには前記処理信号の信号処理と同じ信号処理を前記基準信号に対して行って判定信号を生成する信号処理回路手段（４０）と、
   前記クロック信号に従って、前記前半周期のクロック信号を入力したときに前記信号処理回路手段（４０）から出力された前記出力信号の通過を許可する一方、前記後半周期のクロック信号を入力したときに前記信号処理回路手段（４０）から出力された前記判定信号の通過を許可する第２切替手段（５０）と、
   前記第２切替手段（５０）から前記出力信号を入力してサンプルホールドし、該サンプルホールドした出力信号を外部に出力するサンプルホールド回路手段（６０）と、
   前記第２切替手段（５０）から前記判定信号を入力し、前記判定信号が許容値を超えたときに前記信号処理回路手段（４０）が故障していることを示す異常信号を外部に出力する判定回路手段（７０）とを備えていることを特徴とする自己診断回路。
2. 前記判定回路手段（７０）は、前記クロック信号に従って、前記後半周期のクロック信号と前記異常信号とが共に入力されたときに、前記異常信号の外部への出力を許可する出力許可回路手段（７５）を備えていることを特徴とする請求項１に記載の自己診断回路。
3. 前記信号処理回路手段（４０）は、前記信号処理として、前記信号の増幅処理を行うことを特徴とする請求項１または２に記載の自己診断回路。
4. 前記第１切替手段（３０）および前記第２切替手段（５０）は、外部から入力されたクロック信号に従って前記信号の通過を許可することを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１つに記載の自己診断回路。
5. 前記第１切替手段（３０）は外部で生成された前記基準信号を入力し、前記クロック信号に従って前記基準信号の通過を許可することを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の自己診断回路。
6. 前記基準信号は、電源電圧を抵抗にて分割した電圧であることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の自己診断回路。
7. 前記基準信号は、電源電圧を定電圧回路に入力し生成した電圧であることを特徴とする請求項１ないし４のいずれか１つに記載の自己診断回路。
8. 前記出力許可回路手段（７５）は、前記クロック信号に従って、前記後半周期のクロック信号と前記異常信号とが共に入力されたときに前記異常信号の外部への出力を許可する一方、前記前半周期のクロック信号が入力されたときに前記異常信号の外部への出力を停止する論理回路であることを特徴とする請求項２に記載の自己診断回路。
9. 前記第１切替手段（３０）は複数の基準信号を入力し、前記クロック信号に従って前記複数の基準信号それぞれの通過を切り替え、
   前記信号処理回路手段（４０）は、前記第１切替手段（３０）から入力される複数の基準信号を、順次、信号処理することを特徴とする請求項１ないし８のいずれか１つに記載の自己診断回路。
10. 前記クロック信号の前記前半周期と前記後半周期との比率は、前記信号処理回路手段（４０）の起動後に１度だけ前記第１切替手段（３０）にて前記基準信号の通過が許可される比率になっていることを特徴とする請求項１ないし９のいずれか１つに記載の自己診断回路。
11. 前記クロック信号の前記前半周期と前記後半周期との比率は、前記第１切替手段（３０）における前記基準信号の１回の通過に対して前記処理信号の通過が複数回許可される比率になっていることを特徴とする請求項１ないし９のいずれか１つに記載の自己診断回路。
12. 前記サンプルホールド回路手段（６０）の後段にローパスフィルタが設けられていることを特徴とする請求項１ないし１１のいずれか１つに記載の自己診断回路。

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