JP2010045125A - 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 - Google Patents
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Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 96
- 238000011161 development Methods 0.000 title claims description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 127
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 95
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 102
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 97
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 48
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 47
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 12
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 147
- 101150034399 CPH1 gene Proteins 0.000 description 18
- 101100222708 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) CPR1 gene Proteins 0.000 description 18
- 101150096424 CPH2 gene Proteins 0.000 description 10
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 10
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 102100026437 Branched-chain-amino-acid aminotransferase, cytosolic Human genes 0.000 description 4
- 101000766268 Homo sapiens Branched-chain-amino-acid aminotransferase, cytosolic Proteins 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 102100026413 Branched-chain-amino-acid aminotransferase, mitochondrial Human genes 0.000 description 2
- 101000766294 Homo sapiens Branched-chain-amino-acid aminotransferase, mitochondrial Proteins 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 101100496169 Arabidopsis thaliana CLH1 gene Proteins 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 1
- 238000012552 review Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67098—Apparatus for thermal treatment
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/41815—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by the cooperation between machine tools, manipulators and conveyor or other workpiece supply system, workcell
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/418—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM]
- G05B19/4189—Total factory control, i.e. centrally controlling a plurality of machines, e.g. direct or distributed numerical control [DNC], flexible manufacturing systems [FMS], integrated manufacturing systems [IMS] or computer integrated manufacturing [CIM] characterised by the transport system
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67276—Production flow monitoring, e.g. for increasing throughput
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/31—From computer integrated manufacturing till monitoring
- G05B2219/31002—Computer controlled agv conveys workpieces between buffer and cell
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/45—Nc applications
- G05B2219/45031—Manufacturing semiconductor wafers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Automation & Control Theory (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
【解決手段】先発ロットAの最後の基板を前記処理部に受け渡した後、前記後発ロットBの最初の基板を前記処理部に受け渡すまでに、前記整定処理に要する時間を一の搬送サイクルを実行するときに要する最大時間であるサイクル時間で除して得られる遅延サイクル数だけサイクルを空けるように搬送スケジュールを作成し、前記所定の実行サイクルを終了後次のサイクルを開始する前に、整定対象モジュール毎に次のサイクルを実行するための適正時間を求め、これらのうち最も長い適正時間と前記実行サイクルの実行時間とを比較して前記適正時間が長い場合には、前記適正時間と前記実行時間との差に相当する時間だけ前記実行サイクルの次のサイクルの開始を待機するようにメインアームを制御する。
【選択図】図5
Description
T1=P+Q−R・・・(2)
P:先発ロットAのウエハがモジュールM4から搬出されるまでの時間
Q:温調時間
R:後発ロットBのウエハが当該モジュールM4へ搬入されるまでの時間
ここで前記Pは(モジュールM1でのプロセス残時間)+(モジュールM2までの移動時間+モジュールM2でのプロセス時間)+(モジュールM2までの移動時間+モジュールM2でのプロセス時間)+(モジュールM3までの移動時間+モジュールM3でのプロセス時間)+(モジュールM4までの移動時間+モジュールM4でのプロセス時間)で求められ、例えば15秒である。
前記処理部では、基板搬送手段により、基板を温調する温調モジュール、塗布液を基板に塗布する塗布モジュール、基板を加熱する加熱モジュール、基板に対して現像処理を行う現像モジュールに対して基板を搬送し、
前記基板が置かれる個所をモジュールと呼ぶとすると、予め設定した搬送スケジュールに基づいて、基板搬送手段により順番の小さい基板が順番の大きい基板よりも下流側のモジュールに位置する状態を形成し、これにより一つの搬送サイクルを実行し、当該搬送サイクルを終了した後、次の搬送サイクルを実行することで、基板の搬送が行われる塗布、現像装置において、
前記塗布モジュール及び加熱モジュールの少なくとも一方からなり、一のキャリアから払い出された先発ロットの基板に対して当該モジュールにて処理を終了した後、後発ロットの基板が当該モジュールに搬送される前に、当該モジュールにおいて整定処理が行われる整定対象モジュールと、
前記搬送スケジュールにおいて、先発ロットの最後の基板を前記処理部に受け渡した後、前記後発ロットの最初の基板を前記処理部に受け渡すまでに、前記整定処理に要する時間を一の搬送サイクルを実行するときに要する最大時間であるサイクル時間で除して得られる遅延サイクル数だけサイクルを空けるように搬送スケジュールを作成する手段と、
前記作成された搬送スケジュールにおいて、前記整定対象モジュールにて整定処理が行われたサイクルであり、かつ当該整定対象モジュールにて整定処理の残時間があるサイクルである実行サイクルを終了し、次のサイクルを開始する前に、整定対象モジュール毎に次のサイクルを実行するための適正時間を求め、これらのうち最も長い適正時間と前記実行サイクルを実行するための実行時間とを比較して前記適正時間が長い場合には、前記適正時間と前記実行時間との差に相当する時間だけ前記実行サイクルの次のサイクルの開始を待機するように基板搬送手段を制御する手段と、を備えたことを特徴とする。
前記処理部では、基板搬送手段により、基板を温調する温調モジュール、塗布液を基板に塗布する塗布モジュール、基板を加熱する加熱モジュール、基板に対して現像処理を行う現像モジュールに対して基板を搬送し、
前記基板が置かれる個所をモジュールと呼ぶとすると、予め設定した搬送スケジュールに基づいて、基板搬送手段により順番の小さい基板が順番の大きい基板よりも下流側のモジュールに位置する状態を形成し、これにより一つの搬送サイクルを実行し、当該搬送サイクルを終了した後、次の搬送サイクルを実行することで、基板の搬送が行われる塗布、現像方法において、
前記塗布モジュール及び加熱モジュールの少なくとも一方からなり、一のキャリアから払い出された先発ロットの基板に対して当該モジュールにて処理を終了した後、後発ロットの基板が当該モジュールに搬送される前に、当該モジュールにおいて整定処理が行われる整定対象モジュールを備え、
前記搬送スケジュールにおいて、先発ロットの最後の基板を前記処理部に受け渡した後、前記後発ロットの最初の基板を前記処理部に受け渡すまでに、前記整定処理に要する時間を一の搬送サイクルを実行するときに要する最大時間であるサイクル時間で除して得られる遅延サイクル数だけサイクルを空けるように搬送スケジュールを作成する工程と、
前記作成された搬送スケジュールにおいて、前記整定対象モジュールにて整定処理が行われたサイクルであり、かつ当該整定対象モジュールにて整定処理の残時間があるサイクルである実行サイクルを終了し、次のサイクルを開始する前に、整定対象モジュール毎に次のサイクルを実行するための適正時間を求め、これらのうち最も長い適正時間と前記実行サイクルを実行するための実行時間とを比較して前記適正時間が長い場合には、前記適正時間と前記実行時間との差に相当する時間だけ前記実行サイクルの次のサイクルの開始を待機するように基板搬送手段を制御する工程と、を備えたことを特徴とする。
この際、前記適正時間は、{(当該整定対象モジュールにおける整定処理残時間)+(前記実行サイクルの前記実行時間)−(当該整定対象モジュールに後発ロットの基板が搬入されるサイクルにおいて、基板搬送手段が当該基板の受け渡しを行うために要する時間)}÷(前記実行サイクルから当該整定対象モジュールへ後発ロットのウエハが搬入されるサイクルまでのサイクル数)により演算される。
前記メインアームAについて説明する。このメインアームAは、前記処理部B2内の全てのモジュール(ウエハWが置かれる場所)、例えば棚モジュールU1〜U3の各処理モジュール、液処理モジュールU4,U5の各モジュールとの間でウエハの受け渡しを行うように構成されている。このために進退自在、昇降自在、鉛直軸回りに回転自在、Y軸方向に移動自在に構成されると共に、ウエハWの裏面側周縁領域を支持するための2本の保持アームを備えており、これら保持アームが互いに独立して進退できるように構成されている。
整定処理部43は、一のキャリアから払い出された複数の同種の基板の集合である一のロット(以下「ロットA」という)のウエハAが整定対象モジュールにて所定のプロセスを終了した後、当該モジュールに対して整定処理を行う旨の指令を出力する手段である。前記整定処理とは、温度変更処理や、塗布モジュールCOTにおけるダミーディスペンス処理等の調整処理等の、モジュールの状態を調整する処理をいう。この例では整定対象モジュールが加熱モジュールCPHであり、このモジュールにおける整定処理とは、加熱温度を、後続の他のロット(以下「ロットB」という)のウエハBに応じた温度に変更する処理である。従って加熱モジュールCPHに対して、ロットAのウエハAの当該加熱モジュールCPHにおける加熱処理が終了した後に加熱プレートの温度変更を行う指令を出力する。
搬送制御部46は、前記搬送スケジュールを参照し、搬送サイクルデータに書き込まれているウエハを、そのウエハに対応するモジュールに搬送するように、受け渡し手段24やメインアームA1,A2を制御し、これにより搬送サイクルを実行する手段である。
このとき、ロットAとロットBとの間は、次式(2)により求められる遅延サイクル数分、キャリア載置部B1から受け渡しモジュールTRSAへのウエハの払い出しを遅らせるように搬送スケジュールを作成する。
遅延サイクル数=整定処理時間÷サイクル時間・・・(2)
前記整定処理時間とは、整定処理に要する時間であって、この例では加熱モジュールCPHの温度整定処理に要する時間をいい、例えば90秒である。またサイクル時間とは、搬送スケジュールの一つの搬送サイクルを実行するために要する最大時間をいい、この例では22.8秒である。従って遅延サイクル数=90秒÷22.8秒=3.95となり、繰り上げられて4となる。
前記搬送スケジュールの一例を図6に示す。この図では、縦軸がサイクルであり、横軸に各モジュールがウエハWの搬送経路に沿った順番に記載されていて、異なる種類のモジュールでは、図6中左側のモジュールは、搬送経路の上流側のモジュールであり、右隣りに行くほど搬送経路の下流側のモジュールとなる。また搬送スケジュール中BCT1,BCT2とは2個の反射防止膜形成モジュールを使用することを意味し、CPH1〜CPH5とは5個の加熱モジュールを使用することを意味する。
条件(2) 整定処理の残時間が存在していること
ここで条件(1)について説明すると、ある整定対象モジュールにて整定処理が行われたという過去の経緯があるということは、整定対象モジュールにて整定処理が行われたということであり、この例では加熱モジュールCPH1ではサイクル22で整定処理である温度整定処理を開始しているので、サイクル22を終了した時点で、当該加熱モジュールCPH1では整定処理が行われたという過去の経緯があるということになる。従って図に示す搬送スケジュールでは、条件(1)を満たすサイクルの終了時は、サイクル22〜サイクル29の終了時ということになる。
I:当該整定対象モジュールにおける整定処理残時間
II:実行サイクルの実行時間
III:当該整定対象モジュールへ後続のロットBのウエハBが搬入されるサイクルにおけるメインアームAの移載時間
IV:実行サイクルから当該整定対象モジュールへ後続のロットBのウエハBが搬入されるまでのサイクル数
具体的にサイクル22が終了し、サイクル23が開始されようとするときのメインアームAの適正時間T2の演算について説明する。この場合、実行サイクルはサイクル23、整定対象モジュールは加熱モジュールCPH1であり、I〜IVは以下の通りである。なお実行サイクルの実行時間(II)とは、当該実行サイクルを実際に実行したときに要した時間であり、この実行時間が変化するのは一定間隔で搬送する制御を実施していないためである。
I:73秒
II:実行サイクル20の実行時間は26秒
III:当該加熱モジュールCPH1へウエハB01が搬入されるサイクルはサイクル26であり、このサイクル26において移載されるウエハWはB05,B02,B01であって、その移載時間は9.5秒
IV:実行サイクル22から当該加熱モジュールCPH1へウエハB01が搬入されるサイクル26までのサイクル数は、(26−22)で4
これによって、前記適正時間T2は、(3)式より、T2=(73+26−9.5)÷4=22.375秒→22.4秒と演算される(ステップS5)。
そしてメインアームAの待機制御を行うか否かは、この適正時間T2と実行サイクル22の実行時間(26秒)と比較し、適正時間T2の方が長い場合には、メインアームAの待機制御を実行し、短い場合には前記待機制御を実行しないと判断する。この例では適正時間T2<実行時間であるので、前記待機制御を実行しないと判断し、メインアームAの待機制御を行わずに次のサイクル23を実行する(ステップS6)。
I:53秒
II:実行サイクル23の実行時間は20秒
III:当該加熱モジュールCPH1へはサイクル26にてウエハB01が搬入されるので、既述のようにその移載時間は9.5秒
IV:実行サイクル23から、当該加熱モジュールCPH1へウエハB01が搬入されるサイクル26までのサイクル数は(26−23)で3
これによって、適正時間T2は、(3)式より、T2=(53+20−9.5)÷3=21.167秒→21.2秒と演算される。
同様に加熱モジュールCPH2については、I〜IVは以下の通りである。
I:77秒
II:実行サイクル23の実行時間は20秒
III:当該加熱モジュールCPH2へはサイクル27にてウエハB02が搬入され、このサイクル27において移載されるウエハWはB02,B03であって、その移載時間は6秒
IV:実行サイクル23から、当該加熱モジュールCPH2へウエハB02が搬入されるサイクル27までのサイクル数は(27−23)で4
これによって、適正時間T2は、(3)式より、T2=(77+20−6)÷4=秒→22.75秒→22.8秒と演算される。
このように加熱モジュールCPH1における適正時間T2は21.2秒、加熱モジュールCPH2における適正時間T2は22.8秒であるので、長い方の適正時間T2(22.8秒)と実行サイクル23の実行時間(20秒)と比較する。この場合には適正時間T2>実行時間であるので、適正時間T2―実行時間によりメインアームの待機時間T3を求める。この場合では、待機時間T3は22.8秒−20秒=2.8秒と求められ、例えば切り上げて3秒分メインアームAの待機制御を行う。つまりこの例では実行サイクル23が終了してから、次のサイクル24を開始しようとするときに、メインアームAがサイクルの開始点である受け渡しモジュールTRSAに臨む位置にて、待機時間に相当する時間(3秒)タイマーにより待機調整されてから、受け渡しモジュールTRSAからウエハB01を受け取り、こうしてサイクル24を開始する(ステップS8)。
先ず加熱モジュールCPH1については、I〜IVは以下の通りである。
I:33秒
II:実行サイクル24の実行時間は20秒
III:当該加熱モジュールCPH1へはサイクル26にてウエハB01が搬入され、このサイクル26における移載時間は既述のように9.5秒
IV:実行サイクル24から、当該加熱モジュールCPH1にウエハB01が搬入されるサイクル26までのサイクル数は(26−24)で2
これによって、適正時間T2は、(3)式より、T2=(33+20−9.5)÷2=21.75秒→21.8秒と求められる。
次いで加熱モジュールCPH2については、I〜IVは以下の通りである。
I:57秒
II:実行サイクル24の実行時間は20秒
III:当該加熱モジュールCPH2へはサイクル27にてウエハB02が搬入され、このサイクル27において移載時間は既述のように6秒
IV:実行サイクル24から、当該加熱モジュールCPH2にウエハB02が搬入されるサイクル27までのサイクル数は(27−24)で3
これによって、適正時間T2は、(3)式より、T2=(57+20−6)÷3=23.67秒→23.7秒と求められる。
最後に加熱モジュールCPH3については、I〜IVは以下の通りである。
I:76秒
II:実行サイクル24の実行時間は20秒
III:当該加熱モジュールCPH3へはサイクル28でウエハB03が搬入され、このサイクル28において移載されるウエハWはB04,B03であって、その移載時間は6秒
IV:実行サイクル24から、当該加熱モジュールCPH3にウエハB03が搬入されるサイクル28までのサイクル数は(28−24)で4
これによって、適正時間T2は、(3)式より、T2=(76+20−6)÷4=22.5秒と求められる。
このようなレジストパターン形成装置では、先発のロットAのウエハAと、後発のロットBのウエハBとに対して処理部S2において連続して処理を行う場合であり、ロットAのウエハAに対する処理と、ロットBのウエハBに対する処理との間で、整定対象モジュールにおける整定処理を行う場合であっても、当該モジュールへのウエハBの搬送タイミングが早まったり、遅れたりという事態の発生を抑えることができる。
C キャリア
B1 キャリア載置部
B2 処理部
B3 インターフェイス部
B4 露光部
A1,A2 メインアーム
24 受け渡し手段
4 制御部
43 整定処理部
44 搬送スケジュール作成部
45 待機制御部
46 搬送制御部
Claims (7)
- 複数枚の基板を収納したキャリアが載置され、キャリアとの間で基板の受け渡しを行う受け渡し手段を備えたキャリア載置部と、このキャリア載置部から受け渡された基板に塗布膜を形成すると共に、露光後の基板に対する現像を行うための処理部と、を有し、
前記処理部では、基板搬送手段により、基板を温調する温調モジュール、塗布液を基板に塗布する塗布モジュール、基板を加熱する加熱モジュール、基板に対して現像処理を行う現像モジュールに対して基板を搬送し、
前記基板が置かれる個所をモジュールと呼ぶとすると、予め設定した搬送スケジュールに基づいて、基板搬送手段により順番の小さい基板が順番の大きい基板よりも下流側のモジュールに位置する状態を形成し、これにより一つの搬送サイクルを実行し、当該搬送サイクルを終了した後、次の搬送サイクルを実行することで、基板の搬送が行われる塗布、現像装置において、
前記塗布モジュール及び加熱モジュールの少なくとも一方からなり、一のキャリアから払い出された先発ロットの基板に対して当該モジュールにて処理を終了した後、後発ロットの基板が当該モジュールに搬送される前に、当該モジュールにおいて整定処理が行われる整定対象モジュールと、
前記搬送スケジュールにおいて、先発ロットの最後の基板を前記処理部に受け渡した後、前記後発ロットの最初の基板を前記処理部に受け渡すまでに、前記整定処理に要する時間を一の搬送サイクルを実行するときに要する最大時間であるサイクル時間で除して得られる遅延サイクル数だけサイクルを空けるように搬送スケジュールを作成する手段と、
前記作成された搬送スケジュールにおいて、前記整定対象モジュールにて整定処理が行われたサイクルであり、かつ当該整定対象モジュールにて整定処理の残時間があるサイクルである実行サイクルを終了し、次のサイクルを開始する前に、整定対象モジュール毎に次のサイクルを実行するための適正時間を求め、これらのうち最も長い適正時間と前記実行サイクルを実行するための実行時間とを比較して前記適正時間が長い場合には、前記適正時間と前記実行時間との差に相当する時間だけ前記実行サイクルの次のサイクルの開始を待機するように基板搬送手段を制御する手段と、を備えたことを特徴とする塗布、現像装置。 - 前記適正時間は、{(当該整定対象モジュールにおける整定処理残時間)+(前記実行サイクルの前記実行時間)−(当該整定対象モジュールに後発ロットの基板が搬入されるサイクルにおいて、基板搬送手段が当該基板の受け渡しを行うために要する時間)}÷(前記実行サイクルから当該整定対象モジュールへ後発ロットのウエハが搬入されるサイクルまでのサイクル数)により演算されることを特徴とする請求項1記載の塗布、現像装置。
- 前記次のサイクルの開始とは、キャリア載置部から処理部に受け渡された基板を基板搬送手段が受け取ることであることを特徴とする請求項1又は2に記載の塗布、現像装置。
- 整定対象モジュールは加熱モジュールであり、前記整定処理は加熱温度の変更処理であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一に記載の塗布、現像装置。
- 複数枚の基板を収納したキャリアが載置され、キャリアとの間で基板の受け渡しを行う受け渡し手段を備えたキャリア載置部と、このキャリア載置部から受け渡された基板に塗布膜を形成すると共に、露光後の基板に対する現像を行うための処理部と、を有し、
前記処理部では、基板搬送手段により、基板を温調する温調モジュール、塗布液を基板に塗布する塗布モジュール、基板を加熱する加熱モジュール、基板に対して現像処理を行う現像モジュールに対して基板を搬送し、
前記基板が置かれる個所をモジュールと呼ぶとすると、予め設定した搬送スケジュールに基づいて、基板搬送手段により順番の小さい基板が順番の大きい基板よりも下流側のモジュールに位置する状態を形成し、これにより一つの搬送サイクルを実行し、当該搬送サイクルを終了した後、次の搬送サイクルを実行することで、基板の搬送が行われる塗布、現像方法において、
前記塗布モジュール及び加熱モジュールの少なくとも一方からなり、一のキャリアから払い出された先発ロットの基板に対して当該モジュールにて処理を終了した後、後発ロットの基板が当該モジュールに搬送される前に、当該モジュールにおいて整定処理が行われる整定対象モジュールを備え、
前記搬送スケジュールにおいて、先発ロットの最後の基板を前記処理部に受け渡した後、前記後発ロットの最初の基板を前記処理部に受け渡すまでに、前記整定処理に要する時間を一の搬送サイクルを実行するときに要する最大時間であるサイクル時間で除して得られる遅延サイクル数だけサイクルを空けるように搬送スケジュールを作成する工程と、
前記作成された搬送スケジュールにおいて、前記整定対象モジュールにて整定処理が行われたサイクルであり、かつ当該整定対象モジュールにて整定処理の残時間があるサイクルである実行サイクルを終了し、次のサイクルを開始する前に、整定対象モジュール毎に次のサイクルを実行するための適正時間を求め、これらのうち最も長い適正時間と前記実行サイクルを実行するための実行時間とを比較して前記適正時間が長い場合には、前記適正時間と前記実行時間との差に相当する時間だけ前記実行サイクルの次のサイクルの開始を待機するように基板搬送手段を制御する工程と、を備えたことを特徴とする塗布、現像方法。 - 前記適正時間は、{(当該整定対象モジュールにおける整定処理残時間)+(前記実行サイクルの前記実行時間)−(当該整定対象モジュールに後発ロットの基板が搬入されるサイクルにおいて、基板搬送手段が当該基板の受け渡しを行うために要する時間)}÷(前記実行サイクルから当該整定対象モジュールへ後発ロットのウエハが搬入されるサイクルまでのサイクル数)により演算されることを特徴とする請求項5記載の塗布、現像方法。
- 処理部にて、複数枚の基板を収納したキャリアが載置されるキャリア載置部から受け取った基板に塗布膜を形成すると共に、露光後の基板に対する現像を行う塗布、現像装置に用いられるコンピュータプログラムを格納した記憶媒体であって、前記プログラムは、請求項5又は6記載の塗布、現像方法を実行するようにステップ群が組まれていることを特徴とする記憶媒体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008207325A JP4640469B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 |
TW098125744A TWI401543B (zh) | 2008-08-11 | 2009-07-30 | 塗佈、顯影裝置及方法與記憶媒體 |
KR1020090073070A KR101410592B1 (ko) | 2008-08-11 | 2009-08-10 | 도포, 현상 장치, 그 방법 및 기억 매체 |
CN2009101610954A CN101650530B (zh) | 2008-08-11 | 2009-08-11 | 涂布和显影装置以及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008207325A JP4640469B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010045125A true JP2010045125A (ja) | 2010-02-25 |
JP4640469B2 JP4640469B2 (ja) | 2011-03-02 |
Family
ID=41672789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008207325A Active JP4640469B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4640469B2 (ja) |
KR (1) | KR101410592B1 (ja) |
CN (1) | CN101650530B (ja) |
TW (1) | TWI401543B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107479339B (zh) * | 2017-09-01 | 2019-11-05 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显影装置及其显影方法 |
KR102207311B1 (ko) * | 2019-05-08 | 2021-01-27 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004193597A (ja) * | 2002-11-28 | 2004-07-08 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム及び塗布、現像装置 |
JP2004311511A (ja) * | 2003-04-02 | 2004-11-04 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システムおよびその制御方法、制御プログラム |
JP2005101028A (ja) * | 2003-09-22 | 2005-04-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2007158110A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2008034746A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Tokyo Electron Ltd | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002184671A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-28 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム及び基板処理方法 |
JP4509820B2 (ja) * | 2005-02-15 | 2010-07-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
-
2008
- 2008-08-11 JP JP2008207325A patent/JP4640469B2/ja active Active
-
2009
- 2009-07-30 TW TW098125744A patent/TWI401543B/zh active
- 2009-08-10 KR KR1020090073070A patent/KR101410592B1/ko active IP Right Grant
- 2009-08-11 CN CN2009101610954A patent/CN101650530B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004193597A (ja) * | 2002-11-28 | 2004-07-08 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システム及び塗布、現像装置 |
JP2004311511A (ja) * | 2003-04-02 | 2004-11-04 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理システムおよびその制御方法、制御プログラム |
JP2005101028A (ja) * | 2003-09-22 | 2005-04-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2007158110A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2008034746A (ja) * | 2006-07-31 | 2008-02-14 | Tokyo Electron Ltd | 塗布、現像装置、その方法及び記憶媒体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101650530B (zh) | 2012-05-09 |
CN101650530A (zh) | 2010-02-17 |
JP4640469B2 (ja) | 2011-03-02 |
KR101410592B1 (ko) | 2014-06-20 |
TW201013334A (en) | 2010-04-01 |
TWI401543B (zh) | 2013-07-11 |
KR20100019968A (ko) | 2010-02-19 |
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