JP2010040063A - 光情報記録装置及び記録位置補償方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光ディスクの一様な記録層内形成する記録マークの位置精度を高め得るようにする。
【解決手段】一様な記録層を有する光情報記録媒体としての光ディスクに対し、情報を表す記録マークＲＭを形成するための情報光ビームＬＭを対物レンズによって集光して光ディスクに照射する。光ディスク装置は、対物レンズを光ディスクに対して近接又は離隔させるフォーカス方向に駆動する。このとき光ディスク装置は、記録層における吸収係数変化量に応じて、当該記録層において記録マークＲＭが形成されるべき目標マーク位置ＰＲＭからフォーカス方向に所定の加算距離だけずらした目標位置ＰＧに情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを位置させる。
【選択図】図２０

Description

本発明は光情報記録装置及び記録位置補償方法に関し、例えば光ディスクに複数層の記マーク層を形成する光ディスク装置に適用して好適なものである。

従来、光ディスク装置においては、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）及びＢｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ（登録商標、以下ＢＤと呼ぶ）等、光ディスクに対して光ビームを照射し、その反射光を読み取ることにより情報を再生するようになされたものが広く普及している。

またかかる従来型の光ディスク装置では、当該光ディスクが有する信号記録面に対して光ビームを照射し、当該信号記録面の局所的な反射率等を変化させることにより、情報の記録を行うようになされている。

この光ディスクに関しては、当該光ディスク上に形成される光スポットの大きさは、およそλ／ＮＡ（λ：光ビームの波長、ＮＡ:開口数）で与えられ、解像度もこの値に比例することが知られている。例えば、ＢＤ方式では、直径１２０［ｍｍ］の光ディスクにおよそ２５［ＧＢ］のデータを記録することができる。

ところで光ディスクには、音楽コンテンツや映像コンテンツ等の各種コンテンツ、或いはコンピュータ用の各種データ等のような種々の情報が記録されるようになされている。特に近年では、映像の高精細化や音楽の高音質化等により情報量が増大し、また１枚の光ディスクに記録するコンテンツ数の増加が要求されているため、当該光ディスクのさらなる大容量化が要求されている。

ここで、１枚の光ディスクに複数の記録層を設けることを検討する。光ディスクは、仮に従来のＤＶＤ方式及びＢＤ方式のように信号記録面として種類の異なる材料を積層する構成とした場合、その製造工程が複雑化し製造コストの上昇等を招いてしまう。

そこで光ディスク装置のなかには、光ディスクの一様な記録層内において、光ビームの焦点近傍における屈折率を変化させて記録マークを形成し、当該記録マークの層（以下、これをマーク層と呼ぶ）を複数積層しながら記録することにより大容量化を図ったものが提案されている（例えば、特許文献１参照）。
特開２００７−２２０２０６公報（第１図、第４図及び第５図）

ところで特許文献１に記載の光ディスク装置では、平面である信号記録面における反射率を変化させる従来型の光ディスク装置と異なり、３次元的な空間である記録層内における任意の目標マーク位置に記録マークを形成する。このため記録マークの位置を光ビームの光軸方向であるフォーカス方向においても精密に制御する必要がある。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクの一様な記録層内に形成する記録マークのフォーカス方向に関する位置精度を高め得る光情報記録装置及び記録位置補償方法を提案しようとするものである。

かかる課題を解決するため本発明の光情報記録装置においては、一様な記録層を有する光情報記録媒体に対し、情報を表す記録マークを形成するための情報光ビームを集光する対物レンズと、情報光ビームの焦点位置を光情報記録媒体に対して近接又は離隔させるフォーカス方向に移動させる焦点移動部と、記録層において記録マークが形成されるべき目標マーク位置から上記フォーカス方向に、記録層における吸収係数変化量に応じた加算距離だけずらした目標位置に情報光ビームの焦点を位置させるよう焦点移動部を制御する駆動制御部とを設けるようにした。

これにより本発明の光情報記録装置は、記録層における吸収係数変化量に応じて生じる記録マークと情報光ビームの焦点とのずれ量を加算距離によって相殺することができ、目標マーク位置に対して記録マークを形成することができる。

また本発明の記録位置補償方法においては、一様な記録層を有する光情報記録媒体に対し、情報を表す記録マークを形成するための情報光ビームを集光する集光ステップと、対物レンズを光情報記録媒体に対して近接又は離隔させるフォーカス方向に駆動する際、記録層において記録マークが形成されるべき目標マーク位置から上記フォーカス方向に、記録層における吸収係数変化量に応じた加算距離だけずらした目標位置に情報光ビームの焦点を位置させるよう駆動部を制御する駆動制御ステップとを設けるようにした。

これにより本発明の記録位置補償方法では、記録層における吸収係数変化量に応じて生じる記録マークと情報光ビームの焦点とのずれ量を加算距離によって相殺することができ、目標マーク位置に対して記録マークを形成することができる。

本発明によれば、記録層における吸収係数変化量に応じて生じる記録マークと情報光ビームの焦点とのずれ量を加算距離によって相殺することができるため、目標マーク位置に対して記録マークを形成することができる。かくして本発明によれば、光ディスクの一様な記録層内に形成する記録マークのフォーカス方向に関する位置精度を高め得る光情報記録装置及び記録位置補償方法を実現できる。

以下、図面について、本発明の一実施の形態を詳述する。

（１）第１の実施の形態
（１−１）焦点位置制御の基本原理
まず第１の実施の形態による焦点位置制御の基本原理について説明する。第１の実施の形態では、光ディスク装置１０から光ディスク１００へ情報光ビームＬＭを照射することにより光ディスク１００に情報を記録し、また当該情報光ビームＬＭが反射されてなる情報反射光ビームＬＭｒを検出することにより当該光ディスク１００から情報を読み出すようになされている。

実際上光ディスク１００は、図１に外観図を示すように、全体として略円板状に構成され、中心にチャッキング用の孔部１００Ｈが設けられている。また光ディスク１００は、図２に断面図を示すように、情報を記録するための記録層１０１の両面を基板１０２及び１０３により挟んだような構成を有している。

光ディスク装置１０は、所定の光源から出射された情報光ビームＬＭを対物レンズ１８により光ディスク１００の記録層１０１内に集光する。この情報光ビームＬＭが比較的強い記録用の強度であった場合、記録層１０１内における焦点ＦＭの位置には、記録マークＲＭが形成される。

因みに記録層１０１は、例えば樹脂材料に所定の光重合開始剤が混合され硬化された後、情報光ビームＬＭが集光されるとその焦点ＦＭを中心に温度が急激に上昇され、光重合開始剤残渣などの気化材料が気化することにより、気泡を形成するようになされている。このときの気泡は、情報光ビームＬＭの照射終了後もそのまま空洞として残り、記録マークＲＭとなる。

この記録層１０１では、記録マークＲＭの空洞内と記録層１０１を構成する樹脂材料とで屈折率が大きく相違しているため、当該記録マークＲＭの光ビームの反射率が比較的高くなる。

このため情報光ビームＬＭが比較的弱い再生用の強度であった場合、記録層１０１内における焦点ＦＭの位置に記録マークＲＭが形成されていれば、当該情報光ビームＬＭは反射され、情報反射光ビームＬＭｒとなる。

また光ディスク装置１０は、光ディスク１００に対する対物レンズ１８の相対的な位置を制御することにより、記録層１０１内の様々な箇所に記録マークＲＭを形成し得るようになされている。

実際上、光ディスク装置１０は、光ディスク１００の記録層１０１内に螺旋状のトラックを形成しながら複数の記録マークＲＭを順次形成するようになされている。このようにして形成された記録マークＲＭは、光ディスク１００の円板面とほぼ平行な平面状に配置され、当該記録マークＲＭによる層（以下これをマーク層Ｙと呼ぶ）を形成する。

さらに光ディスク装置１０は、情報光ビームＬＭにおける焦点ＦＭの位置を光ディスク１００の厚さ方向に変化させることにより、記録層１０１内に複数のマーク層Ｙを形成する。例えば光ディスク装置１０は、光ディスク１００の入射側にある一面１００Ａ側から所定の層間隔ｒごとにマーク層Ｙを順次形成するようになされている。

かかる構成に加えて光ディスク装置１０は、図３に示すように、対物レンズ１８により、情報光ビームＬＭを照射すべき目標位置ＰＧを含むマーク層Ｙ（以下、これを目標マーク層ＹＧと呼ぶ）における当該目標位置ＰＧよりも１トラック内周側に形成されているトラック（以下、これを参照トラックＴＥと呼ぶ）に対し、情報光ビームＬＭと異なる参照光ビームＬＥを集光するようになされている。

因みに光ディスク装置１０は、光ディスク１００の内周側から記録マークＲＭを螺旋状に順次記録していくため、目標トラックＴＧに新たに記録マークＲＭを形成して情報を記録する際、当該目標トラックＴＧよりも１トラック内周側には必ずトラックが形成されていることになる。このため光ディスク装置１０は、目標位置ＰＧの１トラック内周側のトラックを参照トラックＴＥとするようになされている。

参照光ビームＬＥは、参照トラックＴＥを構成する記録マークＲＭにより反射され、参照反射光ビームＬＥｒとなる。光ディスク装置１０は、この参照反射光ビームＬＥｒを検出すると共に、その検出結果を基に参照光ビームＬＥを参照トラックＴＥに合焦させるよう、対物レンズ１８の位置制御を行う。

具体的に光ディスク装置１０は、非点収差法に従い対物レンズ１８を光ディスク１００に近接又は離隔させる方向であるフォーカス方向に駆動する位置制御と、プッシュプル法に従い当該対物レンズ１８を光ディスク１００の半径方向であるトラッキング方向に駆動する位置制御とを行うようになされている。

また光ディスク装置１０は、対物レンズ１８へ入射する参照光ビームＬＥ及び情報光ビームＬＭの光路や発散角等をそれぞれ適宜調整することにより、当該対物レンズ１８により当該参照光ビームＬＥを集光する際、その焦点ＦＥを情報光ビームＬＭの焦点ＦＭよりもちょうど１トラック分内周側に位置させるようになされている。

すなわち光ディスク１００の目標マーク層ＹＧでは、図３に示したように、情報光ビームＬＭによるビームスポットＰＭが目標トラックＴＧ上に形成され、参照光ビームＬＥによるビームスポットＰＥが参照トラックＴＥ上に形成される。

このため光ディスク装置１０は、既に形成されている参照トラックＴＥに参照光ビームＬＥをほぼ合焦させるよう対物レンズ１８の位置制御を行うことにより、参照トラックＴＥよりも１トラック外周側となる目標トラックＴＧ上の記録マークＲＭを形成すべき目標マーク位置ＰＲＭに情報光ビームＬＭをほぼ合焦させることができる。

また光ディスク装置１０は、参照トラックＴＥと目標トラックＴＧとの間隔をちょうど１トラックに合わせることができる。このため光ディスク装置１０は、誤って既存のトラックに上書きする危険性を格段に低減することができ、仮に光ディスク１００に傾きや反りが生じていたとしても、トラック同士の間隔を一定に保ちながら新たなトラックを記録することができる。

このように光ディスク装置１０は、光ディスク１００の記録層１０１内に既に形成されている参照トラックＴＥに参照光ビームＬＥをほぼ合焦させるよう対物レンズ１８の位置制御を行うことにより、目標トラックＴＧ上の目標マーク位置ＰＲＭに情報光ビームＬＭをほぼ合焦させ得るようになされている。

ところで光ディスク１００には、図２に示したように、記録層１０１内に形成される各マーク層Ｙにおける内周側の部分（以下、これをリードインエリアと呼ぶ）に、リードインマークＩＭがあらかじめ形成されるようになされている。

このリードインマークＩＭは、内周側から例えば幅ｗでなる数トラックにわたって形成されており、各マーク層Ｙの情報を記録する部分（以下、これをデータエリアと呼ぶ）に初めて記録マークＲＭを記録する際、当該リードインマークＩＭの終端部分に続けて当該記録マークＲＭを記録するためのものである。

実際上、各マーク層ＹのリードインマークＩＭは、例えば工場出荷前等に、専用の記録装置等により、高精度に層間隔ｒ（図２（Ｂ））を設けながら形成されるようになされている。

このため光ディスク装置１０は、光ディスク１００に情報を記録する際、リードインマークＩＭを参照トラックＴＥとしながら、リードインマークＩＭの終端部分に続けて記録マークＲＭを形成することにより、各マーク層Ｙにおけるデータエリアの開始位置を適切に決定し得ると共に、各マーク層Ｙ同士の間隔を精度良く層間隔ｒに揃え得るようになされている。

このように光ディスク１００では、記録層１０１の最内側となるリードインエリアに予めリードインマークＩＭを形成しておくことにより、情報の記録の際、目標トラックＴＧよりも１トラック前の参照トラックＴＥを常に参照して目標トラックＴＧ上の目標マーク位置ＰＲＭに情報光ビームＬＭをほぼ合焦させ得るようになされている。

（１−２）光ディスク装置の構成
次に、具体的な光ディスク装置１０の構成について説明する。

図４に示すように、光ディスク装置１０は制御部１１を中心に構成されている。制御部１１は、図示しないＣＰＵ(Central Processing Unit)と、各種プログラム等が格納されるＲＯＭ(Read Only Memory)と、当該ＣＰＵのワークメモリとして用いられるＲＡＭ(Random Access Memory)とによって構成されている。

制御部１１は、光ディスク１００に情報を記録する場合、駆動制御部１２を介してスピンドルモータ１５を回転駆動させ、ターンテーブル（図示せず）に載置された光ディスク１００を所望の速度で回転させる。

また制御部１１は、駆動制御部１２を介してスレッドモータ１６を駆動させることにより、光ピックアップ１７を移動軸Ｇ１及びＧ２に沿ってトラッキング方向、すなわち光ディスク１００の内周側又は外周側へ向かう方向へ大きく移動させるようになされている。

光ピックアップ１７は、対物レンズ１８等の複数の光学部品が取り付けられており、制御部１１の制御に基づいて光ディスク１００へ情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥを照射し、参照光ビームＬＥが反射されてなる参照反射光ビームＬＥｒを検出するようになされている。

光ピックアップ１７は、参照反射光ビームＬＥｒの検出結果に基づいた複数の検出信号を生成し、これらを信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、供給された検出信号を用いた所定の演算処理を行うことにより、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１及びトラッキングエラー信号ＳＴＥ１をそれぞれ生成し、これらを駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、供給されたフォーカスエラー信号ＳＦＥ１及びトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基に、対物レンズ１８を駆動するためのフォーカス駆動信号及びトラッキング駆動信号を生成し、これを光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９へ供給する。

光ピックアップ１７の２軸アクチュエータ１９は、このフォーカス駆動信号及びトラッキング駆動信号に基づいて対物レンズ１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該対物レンズ１８により集光される参照光ビームＬＥの焦点ＦＥを目標マーク層ＹＧの参照トラックＴＥに追従させる。

このとき制御部１１は、外部から供給される情報に基づき、情報光ビームＬＭの強度を信号処理部１３によって変調することにより目標マーク層ＹＧの目標トラックＴＧに記録マークＲＭを形成し、当該情報を記録し得るようになされている。

また光ピックアップ１７は、光ディスク１００から情報を再生する場合、記録時と同様に参照光ビームＬＥの焦点ＦＥを目標マーク層ＹＧの参照トラックＴＥに追従させると共に、比較的弱い一定強度の情報光ビームＬＭを目標マーク層ＹＧの目標トラックＴＧへ照射し、記録マークＲＭが形成されている箇所において当該情報光ビームＬＭが反射されてなる情報反射光ビームＬＭｒを検出する。

光ピックアップ１７は、情報反射光ビームＬＭｒの検出結果に基づいた検出信号を生成し、これを信号処理部１３へ供給する。信号処理部１３は、検出信号に対し所定の演算処理、復調処理及び復号化処理等を施すことにより、目標マーク層ＹＧの目標トラックＴＧに記録マークＲＭとして記録されている情報を再生し得るようになされている。

（１−３）光ピックアップの構成
次に、光ピックアップ１７の構成について説明する。この光ピックアップ１７は、図５に示すように、多数の光学部品の組み合わせにより構成されており、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥを光路形成部２０及び対物レンズ１８を介して光ディスク１００に照射するようになされている。

光ピックアップ１７のレーザダイオード３１は、波長約４０５[ｎｍ]の青紫色レーザ光でなる光ビームＬＡを出射させ、コリメータレンズ３２へ入射させる。実際上レーザダイオード３１は、制御部１１（図４）の制御に基づき発散光でなる所定光量の光ビームＬＡを出射する。コリメータレンズ３２は、光ビームＬＡを発散光から平行光に変換し、１／２波長板３３へ入射させる。

光ビームＬＡは、１／２波長板３３によって偏光方向が所定角度回転されることにより例えばＰ偏光に調整され、グレーティング３４へ入射される。

グレーティング３４は、光ビームＬＡを回折させることにより、０次の回折光でなる情報光ビームＬＭ及び１次の回折光でなる参照光ビームＬＥに分離し、それぞれを偏光ビームスプリッタ３５へ入射させる。

なお光ピックアップ１７内では、実際には情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥが互いの光軸を僅かに離隔させた状態で進行するが、いずれもほぼ同様の光路を進行する。このため図５等においては、説明の都合上、情報光ビームＬＭの光路及び参照光ビームＬＥの光路を同一の光路として示している。

偏光ビームスプリッタ３５は、入射される光ビームの偏光方向により異なる割合で当該光ビームを反射又は透過する反射透過面３５Ｓを有している。例えば反射透過面３５Ｓは、Ｐ偏光の光ビームをほぼ全て透過し、Ｓ偏光の光ビームをほぼ全て反射するようになされている。

実際上偏光ビームスプリッタ３５は、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥをそれぞれ透過して液晶パネル３６へ入射させる。

液晶パネル３６は、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥの球面収差等を補正し、それぞれ１／４波長板３７へ入射させる。１／４波長板３７は、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥをそれぞれＰ偏光から円偏光に変換してリレーレンズ３８へ入射させる。

リレーレンズ３８は、可動レンズ３９により情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥをそれぞれ平行光から収束光に変換し、収束後に発散光となった当該情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥをそれぞれ固定レンズ４０により再度収束光に変換し、ミラー４１へ入射させる。

ここで可動レンズ３９は、図示しないアクチュエータにより情報光ビームＬＭの光軸方向に移動されるようになされている。実際上、リレーレンズ３８は、制御部１１（図４）の制御に基づき当該アクチュエータによって可動レンズ３９を移動させることにより、固定レンズ４０から出射される情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥの収束状態をそれぞれ変化させ得るようになされている。

ミラー４１は、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥを反射してその進行方向を偏向し、対物レンズ１８へ入射させる。

対物レンズ１８は、情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥをそれぞれ集光する。ここで対物レンズ１８から情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ及び参照光ビームＬＥの焦点ＦＥまでのフォーカス方向に関する距離は、当該情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥがリレーレンズ３８から出射されるときの発散角に応じて定まることになる。

因みに光ピックアップ１７では、当該可動レンズ３９の移動距離と情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ及び参照光ビームＬＥの焦点ＦＥの移動距離とを比例させるようになされている。

実際上、リレーレンズ３８は、制御部１１の制御に基づき可動レンズ３９を移動させることにより、焦点ＦＭ及びＦＥを記録層１０１内における目標マーク層ＹＧにおおよそ合わせるようになされている。

対物レンズ１８は、既存の参照トラックＴＥ付近に参照光ビームＬＥを集光する。このとき参照光ビームＬＥは、図２に示したように、参照トラックＴＥ上に形成されている記録マークＲＭにより反射され、参照反射光ビームＬＥｒとなる。

参照反射光ビームＬＥｒは、元の参照光ビームＬＥの光路を反対方向へ進行する。すなわち参照反射光ビームＬＥｒは、対物レンズ１８により発散角が変換され、ミラー４１により反射され、リレーレンズ３８により平行光に変換され、１／４波長板３７及び液晶パネル３６を順次透過し、Ｓ偏光として偏光ビームスプリッタ３５へ入射される。

偏光ビームスプリッタ３５は、Ｓ偏光でなる参照反射光ビームＬＥｒを反射透過面３５Ｓによって反射し、集光レンズ４３へ入射させる。集光レンズ４３は、参照反射光ビームＬＥｒを集光し、非点収差を加えた上でピンホール板４４を介してフォトディテクタ４５へ照射させる。

ここで図６に示すように、ピンホール板４４は、集光レンズ４３（図５）により集光される参照反射光ビームＬＥｒの焦点を孔部４４Ｈ２内に位置させるよう配置されているため、当該参照反射光ビームＬＥｒをそのまま通過させることになる。

一方、ピンホール板４４は、例えば光ディスク１００における基板１０２の表面や、目標位置ＰＧとは異なるマーク層Ｙに存在する記録マークＲＭなどから反射されるような焦点の異なる光（以下、これを迷光ＬＮと呼ぶ）をほぼ遮断することになる。

フォトディテクタ４５は、図７に示すように、参照反射光ビームＬＥｒを受光するための検出領域４５ＳＡ、４５ＳＢ、４５ＳＣ及び４５ＳＤ（以下、これらをまとめて検出領域４５ＳＡ〜４５ＳＤとする）が設けられている。

検出領域４５ＳＡ〜４５ＳＤは、参照光ビームＬＥが目標マーク層ＹＧ（図３）に照射されるときにおけるトラックの走行方向と対応する矢印ａ１方向及びその直交方向に沿って、それぞれ２分割されたような形状となっている。

フォトディテクタ４５は、検出領域４５ＳＡ〜４５ＳＤにより参照反射光ビームＬＥｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号Ｕ１Ａ、Ｕ１Ｂ、Ｕ１Ｃ及びＵ１Ｄをそれぞれ生成して、これらを信号処理部１３（図４）へ送出する。

信号処理部１３は、いわゆる非点収差法によるフォーカス制御を行うようになされており、次に示す（１）式に従ってフォーカスエラー信号ＳＦＥ１を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

このフォーカスエラー信号ＳＦＥ１は、参照光ビームＬＥの焦点ＦＥと参照トラックＴＥ（すなわち目標マーク層ＹＧ）とのフォーカス方向に関するずれ量を表すことになる。

また信号処理部１３は、いわゆるプッシュプル法によるトラッキング制御を行うようになされており、次に示す（２）式に従ってトラッキングエラー信号ＳＴＥ１を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

このトラッキングエラー信号ＳＴＥ１は、参照光ビームＬＥの焦点ＦＥと参照トラックＴＥとのトラッキング方向に関するずれ量を表すことになる。

さらに信号処理部１３は、次に示す（３）式に従い参照トラックＴＥの参照再生信号ＳＲＦｅを生成する。

信号処理部１３は、参照トラックＴＥの参照再生信号ＳＲＦｅに対し所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより、情報と共に記録されているアドレス情報を読み出し、当該アドレス情報を参照トラックアドレス情報として駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１を基にフォーカス駆動信号を生成し、当該フォーカス駆動信号を２軸アクチュエータ１９へ供給することにより、参照光ビームＬＥが参照トラックＴＥ、すなわち目標マーク層ＹＧに合焦するよう、対物レンズ１８のフォーカス制御を行う。

また駆動制御部１２は、トラッキングエラー信号ＳＴＥ１を基にトラッキング駆動信号を生成し、当該トラッキング駆動信号を２軸アクチュエータ１９へ供給することにより、参照光ビームＬＥが参照トラックＴＥに合焦するよう、対物レンズ１８のトラッキング制御を行う。

さらに駆動制御部１２は、参照トラックアドレス情報を基に、参照光ビームＬＥが現在合焦しているトラックが正しい参照トラックＴＥ、すなわち目標トラックＴＧの１トラック内周のトラックであるか否かを判別する。駆動制御部１２は、ここで正しい参照トラックＴＥでなかった場合、当該正しい参照トラックＴＥに合焦させるよう、対物レンズ１８のトラック単位での位置制御を行う。

かくして光ピックアップ１７は、参照光ビームＬＥを用いた対物レンズ１８のフォーカス制御及び参照光ビームＬＥを用いた対物レンズ１８のトラッキング制御を行うことにより、当該参照光ビームＬＥを目標マーク層ＹＧの参照トラックＴＥに合焦させる。

一方、情報光ビームＬＭは、光路形成部２０を介して対物レンズ１８へ入射されることにより、上述したように、その焦点ＦＭが参照光ビームＬＥの焦点ＦＥからちょうど１トラック分外周側に位置することになる。

すなわち情報光ビームＬＭの焦点ＦＭは、目標マーク層ＹＧにおける参照トラックＴＥからちょうど１トラック分外周側となる位置に合焦される。このとき目標マーク層ＹＧには、図３に示したようなビームスポットＰＥ及びＰＭが形成される。

このため光ピックアップ１７は、光ディスク１００に情報を記録する場合、既存のトラックからトラッキング方向に一定の間隔を高精度に保ちながら、新たなトラックとして記録マークＲＭを記録することができる。

実際上、信号処理部１３は、記録すべき情報に対し符号化及び変調等の処理を行うことにより符号「０」及び「１」の組み合わせでなる２値の記録データを生成する。さらに信号処理部１３は、例えば当該記録データの符号「１」に対応して記録マークＲＭを形成する一方、符号「０」に対応して当該記録マークＲＭを形成しないよう、情報光ビームＬＭ（すなわち光ビームＬＡ）を出射制御するようになされている。

ところで光ピックアップ１７では、光ディスク１００から情報を再生する際、目標トラックＴＧの目標位置ＰＧに記録マークＲＭが形成されていたときに、情報光ビームＬＭが当該記録マークＲＭにより反射され、情報反射光ビームＬＭｒとなる。

この情報反射光ビームＬＭｒは、参照反射光ビームＬＥｒとほぼ同様の光路を辿り、集光レンズ４３（図５）により集光されピンホール板４４の孔部４４Ｈ１（図６）を通過しフォトディテクタ４５に照射される。

フォトディテクタ４５は、検出領域４５Ｍにより情報反射光ビームＬＭｒを検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号Ｕ２を生成して、これを信号処理部１３（図４）へ送出する。

信号処理部１３は、検出信号Ｕ２を基に、記録マークＲＭが形成されているか否かを検出し、例えば記録マークＲＭが形成されていれば符号「１」に、当該記録マークＲＭが形成されていなければ符号「０」に割り当てることにより情報再生信号を生成する。信号処理部１３は、当該情報再生信号に所定の復調処理及び復号化処理等を施すことにより、記録されている情報を再生することができる。

このように光ピックアップ１７は、参照光ビームＬＥを用いた対物レンズ１８のフォーカス制御及びトラッキング制御を行い、当該参照光ビームＬＥを目標マーク層ＹＧの参照トラックＴＥに合焦させることにより、情報光ビームＬＭを当該目標マーク層ＹＧにおける当該参照トラックＴＥよりも１トラック分外周側の目標トラックＴＧ上に合焦させるようになされている。

（１−４）屈折率と電場の変化
ところで光ディスク１００では、上述したように、情報光ビームＬＭの照射に応じて記録層１０１が含有する気化材料を気化させることにより、空洞でなる記録マークＲＭを形成する。

この記録マークＲＭが形成される過程において、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭが位置する目標位置ＰＧ近傍の屈折率ｎが変化することが確認されている。これは、情報光ビームＬＭの照射に応じて目標位置ＰＧ近傍が加熱され軟化することにより、当該目標位置ＰＧ近傍の密度が変化するためと考えられる。

本願発明人は、この屈折率ｎの変化が情報光ビームＬＭの電場の強度分布（以下、これを電場分布と呼ぶ）に与える影響について、シミュレーションにより考察を行った。なおこのシミュレーションにおける情報光ビームＬＭの波長λは４０５［ｎｍ］、対物レンズの開口数ＮＡ（Numerical Aperture）は０．５、解像度は１２０×１２０×２００ｐｔｓ、１ｐｔｓ＝３０×３０×３０［ｎｍ］とした。

図８（Ａ）に、記録層１０１の屈折率ｎが変化しないと仮定した場合において、情報光ビームＬＭが破線上の目標位置ＰＧに集光されたときの電場の強度をパターンごとに示している。左側の図では、紙面下方向から情報光ビームＬＭが入射された場合を、右側の図では左側の図においてフォーカス方向の焦点位置を示す破線での断面図を示している。図からわかるように、目標位置ＰＧにおいて電場が最も大きく、外側にいくにつれて電場が小さくなっている。

図８（Ｂ）に、この電場分布に比例して屈折率が変化した場合の目標位置ＰＧ近傍における屈折率ｎの大きさを示している。左側の図は図８（Ａ）の左側の図に、右側の図は図８（Ｂ）における右側の図にそれぞれ対応するものである。以下、図９〜図１６についても同様に、図８（Ａ）における左側及び右側の図が図９〜図１６における（Ａ）及び（Ｂ）にそれぞれ対応している。

図８（Ｂ）では、記録層１０１の屈折率ｎが１．５であり、情報光ビームＬＭの照射により屈折率ｎが最大で１．５だけ変化した場合について示している。なお図８では、屈折率ｎの変化量（以下、これを屈折率変化量Δｎと呼ぶ）をパターンごとに示している。

すなわち屈折率変化量Δｎ＝０の場合、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標位置ＰＧに位置させることにより、図８（Ａ）に示すように目標位置ＰＧに電場の中心を位置させることができる。この結果図８（Ｂ）に示すように記録層１０１における目標位置ＰＧを中心に屈折率ｎを変化させることができ、当該目標位置ＰＧにマーク中心ＣＲＭを有する記録マークＲＭを形成し得ることが期待される。

次に、情報光ビームＬＭの照射に応じて焦点ＦＭ近傍における屈折率ｎが変化した場合について考察する。屈折率変化量Δｎが−０．１、０、＋０．０５及び＋０．１と変化した場合の電場分布を図９〜図１２にそれぞれ示している。

図９に示すように、屈折率変化量Δｎが負の値を有する場合、屈折率変化量Δｎが０の場合（図１０）と比較して、電場が全体的に大きく広がり、電場が最も大きくなる最大電場値も０．３未満と小さくなることが確認された。

図１１及び図１２に示すように、屈折率変化量Δｎが正の値（＋０．０５及び＋０．１）を有する場合、屈折率変化量Δｎが０の場合（図１０）と比較して、電場が全体的に小さく集中し、最大電場値も０．０４〜０．０４５と大きくなることが確認された。

次に、屈折率変化量Δｎが虚数値を有する場合、すなわち吸収係数ｋが変化する場合について考察する。屈折率変化量Δｎが０．０１ｉ、０．０３ｉ、０．０５ｉ及び０．０７ｉと変化した場合の電場分布を図１３〜図１６にそれぞれ示している。

図からわかるように、屈折率変化量Δｎの虚数値（以下、これを吸収係数変化量と呼ぶ）が大きくなるに従い、電場分布が焦点位置よりも入射側に移動していることがわかる。また吸収係数変化量が大きくなるに従い、最大電場値も徐々に小さくなっており、電場分布の移動に伴って電場が分散していることがわかる。

すなわち図１７（Ａ）に示すように、光ディスク１００では、記録マークＲＭを形成すべき位置（以下、これを目標マーク位置と呼ぶ）ＰＲＭに情報光ビームＬＭの焦点ＦＭが位置する場合、図１７（Ｂ）に示すように、吸収係数変化量に応じてマーク中心ＣＲＭが入射側にずれて記録マークＲＭが形成されることになる。

ここで上述したように、光ディスク装置１０では、１トラック内周側の参照トラックＴＥに対して参照光ビームＬＥを照射することによりフォーカス制御及びトラッキング制御を実行するようになされている。

仮に光ディスク装置１０が参照トラックＴＥにおける記録マークＲＭ（以下、これを参照マークＲＭｅと呼ぶ）のマーク中心ＣＲＭに対して参照光ビームＬＥを合焦させるようフォーカス制御を実行した場合について着目する。

例えば図１８に示すように、光ディスク装置１０が目標マーク位置ＰＲＭから入射側にずれて形成された記録マークＲＭに対してフォーカス制御を実行すると、参照マークＲＭｅのマーク中心ＣＲＭとフォーカス方向におけるほぼ同位置に情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを位置させることになる。

この場合光ディスク装置１０は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭよりもマーク中心ＣＲＭが入射側にさらにずれた状態で、目標トラックＴＧにおいて形成される記録マークＲＭ（以下、これを情報マークＲＭｍと呼ぶ）を形成することになる。

すなわち図１９に示すように、入射側にずれて形成された参照マークＲＭｅを参照し、マーク中心ＣＲＭに合致するよう情報光ビームＬＭを照射すると、情報マークＲＭｍが累積的に入射側にずれて形成されてしまう。この結果、外周側にいくにつれて記録マークＲＭのずれが大きくなり、目標マーク位置ＰＲＭから離隔してしまうことになる。なお図１９では、目標マーク位置ＰＲＭ同士を結ぶ直線ＰＲＭａを破線で示している。

そこで本実施の形態の光ディスク装置１０では、目標マーク位置ＰＲＭよりも裏側に目標位置ＰＧを設定し、当該目標位置ＰＧに対して情報光ビームＬＭを照射するようになされている。

（１−５）記録補償処理
光ディスク１００のリードインエリアには、工場出荷の際、吸収係数情報として記録層１０１の吸収係数変化量が記録されている。

光ディスク装置１０の制御部１１（図４）は、吸収係数変化量と対応する加算値が対応付けられたテーブルをＲＯＭに記憶している。

光ディスク装置１０は、情報記録処理の際、リードインエリアから吸収係数変化量を読み出し、対応する加算値を選択してＲＡＭに一時記憶すると共に、外部機器から供給される情報の記録を開始する。

このとき光ディスク装置１０は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１が加算値に応じた任意の目標値になるように、フォーカス制御を実行する。

具体的に駆動制御部１２は、信号処理部１３からフォーカスエラー信号ＳＦＥ１が供給されると、当該フォーカスエラー信号ＳＦＥ１に対して所定のゲインを乗算すると共に、加算値を加算することにより、フォーカス駆動信号を生成する。

２軸アクチュエータ１９は、対物レンズ１８をフォーカス駆動信号に応じた位置に変位させるようになされている。すなわち２軸アクチュエータ１９は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１が加算値になるように対物レンズ１８を制御することになる。

このため２軸アクチュエータ１９は、図２０（Ａ）に示すように、参照光ビームＬＥの焦点ＦＥを目標マーク位置ＰＲＭよりも加算値に応じた加算距離だけ、入射側と反対となる裏側（すなわち反対面１００Ｂ（図２）側）に位置させることになる。

ここで加算値は、記録層１０１の吸収係数変化量に応じて選択されており、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭと情報マークＲＭｍのマーク中心ＣＲＭとのずれ量（以下、これを焦点マークずれ量Ｄｔと呼ぶ）だけ対物レンズ１８を裏側に変位させるような値が選択されている。すなわち焦点マークずれ量Ｄｔと加算距離とがほぼ同一になるように加算値が設定されている。

この結果光ディスク装置１０は、図２０（Ｂ）に示すように、参照マークＲＭｅにおけるマーク中心ＣＲＭより焦点マークずれ量Ｄｔだけ裏側に目標位置ＰＧを設定する。そして光ディスク装置１０は、入射側への焦点マークずれ量Ｄｔの発生により、目標マーク位置ＰＲＭに情報マークＲＭｍのマーク中心ＣＲＭを位置させ得るようになされている。

このように光ディスク装置１０では、参照マークＲＭｅのマーク中心ＣＲＭよりも焦点マークずれ量Ｄｔだけ裏側に当該参照トラックＴＥの焦点ＦＥが位置するよう対物レンズ１８をフォーカス制御するようにした。

これにより光ディスク装置１０は、同様に対物レンズ１８を介して照射される情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを参照マークＲＭｅにおけるマーク中心ＣＲＭ（すなわち目標マーク位置ＰＲＭとフォーカス方向に同一な位置）よりも加算距離だけ裏側に位置させる。この結果光ディスク装置１０は、加算距離によって焦点マークずれ量Ｄｔを相殺することができ、目標マーク位置ＰＲＭにマーク中心ＣＲＭが位置するよう記録マークＲＭを形成し得るようになされている。

（１−６）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１０は、一様な記録層１０１を有する光情報記録媒体としての光ディスク１００に対し、情報を表す記録マークＲＭを形成するための情報光ビームＬＭを対物レンズ１８によって集光して光ディスク１００に照射する。

光ディスク装置１０は、対物レンズ１８を光ディスク１００に対して近接又は離隔させるフォーカス方向に駆動する。このとき光ディスク装置１０は、記録層１０１における吸収係数変化量に応じて、当該記録層１０１において記録マークＲＭが形成されるべき目標マーク位置ＰＲＭからフォーカス方向に所定の加算距離だけずらした目標位置ＰＧに情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを位置させるようにした。

これにより光ディスク装置１０は、記録層１０１の吸収係数変化量に応じて発生する焦点マークずれ量Ｄｔとほぼ同一となる加算距離だけ目標マーク位置ＰＲＭより裏側に焦点ＬＭを位置させることができる。この結果光ディスク装置１０は、焦点マークずれ量Ｄｔの発生により情報マークＲＭｍのマーク中心ＣＲＭが入射側にずれることにより、目標マーク位置ＰＲＭにマーク中心ＣＲＭが位置するよう情報マークＲＭｍを形成することができる。

また光ディスク装置１０は、光ディスク１００を回転させることにより記録マークＲＭからなる同心円状又は螺旋状のトラックを形成させる。光ディスク装置１０は、情報光ビームＬＭの光軸方向に関し、対物レンズ１８から参照光ビームＬＥの焦点ＦＥまでの距離及び対物レンズ１８から情報光ビームＬＭの焦点ＦＭまでの距離を同等に揃える一方、半径方向に関し、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭと参照光ビームＬＥの焦点ＦＥとを所定トラック数だけ離隔させる。これにより光ディスク装置１０は、対物レンズ１８へ入射される情報光ビームＬＭ及び光ディスク１００に形成済の参照トラックＴＥに照射するための参照光ビームＬＥの光路を形成するようにした。

この結果光ディスク装置１０は、参照トラックＴＥを参照してフォーカス制御を実行する場合であっても、焦点マークずれ量Ｄｔが累積的に大きくなることなく、記録マークＲＭを目標マーク位置ＰＲＭに形成することができる。また光ディスク装置１０は、参照トラックＴＥを参照してフォーカス制御を実行できるため、サーボ層を基準として所定の深さｄだけ離隔させた位置に目標位置ＰＧを設定する方法と比較して、光ディスク１００が傾いた場合であっても、正確な目標マーク位置ＰＲＭに記録マークＲＭを形成することができる。

さらに光ディスク装置１０は、参照光ビームＬＥを参照トラックＴＥにおいて形成された記録マークＲＭの中心からフォーカス方向に加算距離だけずらした位置に参照光ビームＬＥを合焦させることにより、目標マーク位置ＰＲＭからフォーカス方向に所定の加算距離だけずらした目標位置ＰＧに情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを位置させる。

これにより光ディスク装置１０は、参照マークＲＭｅのマーク中心ＣＲＭから加算距離だけずらした位置に焦点ＦＭを位置させることができる。この加算距離は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭと形成される情報マークＲＭｍのマーク中心ＣＲＭとのマーク焦点ずれ量とほぼ同一に設定されている。また情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥはフォーカス方向にほぼ同一の位置に照射される。このため光ディスク装置１０は、焦点ＦＭから加算距離だけ離隔した目標マーク位置ＰＲＭに記録マークＲＭを形成することができる。

また光ディスク装置１０は、レーザダイオード３１から出射される光ビームＬＡをグレーティング３４により回折させたときの０次回折光を情報光ビームＬＭとすると共に１次以上の高次回折光を参照光ビームＬＥとする。

これにより光ディスク装置１０は、簡易な構成で情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥを光ディスク１００に対して照射することができる。

さらに光ディスク１００の記録層１０１には、記録マークＲＭにより形成されるマーク層Ｙが複数積層される際における、情報光ビームＬＭの光軸方向に関するマーク層Ｙそれぞれの位置を示すリードインマークＩＭが予め形成されている。光ディスク装置１０は、リードインマークＩＭの近傍を目標位置ＰＧとする場合、リードインマークＩＭを参照トラックＴＥとして参照光ビームＬＭを合焦させるようにした。

これにより光ディスク装置１０は、リードインマークＩＭを基準にフォーカス制御を開始できるため、光ディスク１００に基準となるサーボ層を設ける必要がない。このため光ディスク１００としての構成を簡易にすることができる。

また光ディスク装置１０は、情報を読み出すための読出光ビーム（読出用の情報光ビームＬＭ）の記録層１０１からの戻り光ビームである情報反射光ビームＬＭｒを受光して記録層１０１に記録された情報を読み出す。そして光ディスク装置１００は、記録層１０１に記録された吸収係数変化量に関する吸収係数情報に基づいて、加算距離を決定する。

これにより光ディスク装置１０は、光ディスク１００ごとの吸収係数情報を簡易に取得することができる。

光ディスク装置１０は、参照トラックＴＥに形成された記録マークＲＭの中心であるマーク中心ＣＲＭと参照光ビームＬＥの焦点ＦＥとのずれ量を表すフォーカスエラー信号ＳＦＥ１が加算距離に応じた任意の目標値になるように、対物レンズ１８を駆動するようにした。

これにより光ディスク装置１０は、目標値を任意の値に設定する簡易な動作だけで、記録マークＲＭを目標マーク位置ＰＲＭに形成することができる。

以上の構成によれば、光ディスク装置１０は、記録マークＲＭを形成すべき目標マーク位置ＰＲＭから記録層１０１の吸収係数変化量に応じた加算距離だけフォーカス方向に離隔した位置を目標位置ＰＧとし、当該目標位置ＰＧに焦点ＦＭを合致させるよう情報光ビームＬＭを照射するようにした。

これにより光ディスク装置１０は、吸収係数変化量に応じて記録マークＲＭの形成される位置がずれてしまう記録層１０１においても、当該ずれを補償して目標マーク位置ＰＲＭにほぼ正確に記録マークＲＭを形成することができる。かくして、光ディスクの一様な記録層内に形成する記録マークのフォーカス方向に関する位置精度を高め得る光情報記録装置及び記録位置補償方法を実現できる。

（２）第２の実施の形態
図２１〜図２５は第２の実施の形態を示すもので、図１〜図２０に示す第１の実施の形態に対応する部分を同一符号で示している。第２の実施の形態における光ピックアップ１１７では、焦点位置制御の方法が第１の実施の形態における光ピックアップ１７とは異なっている。なお光ディスク装置１１０としての構成は、第１の実施の形態と同様であるため、説明を省略する。

（２−１）焦点位置制御の基本原理
次に、第２の実施の形態による焦点位置制御の基本原理について説明する。第２の実施の形態では、図２と対応する図２１に示すように、光ディスク１００に対応する光ディスク２００の記録層１０１に記録マークＲＭを形成するようになされている。

また光ディスク２００は、図２１に断面図を示すように、情報を記録するための記録層１０１の両面を基板１０２及び１０３により挟んだような構成を有しており、さらに記録層１０１と基板１０２との間にサーボ層２０４が設けられている。

サーボ層２０４には、サーボ用の案内溝が形成されており、具体的には、一般的なＢＤ−Ｒ（Recordable）ディスク等と同様のランド及びグルーブにより螺旋状のトラック（以下、これを基準トラックと呼ぶ）ＳＴＲを形成している。

この基準トラックＳＴＲには、所定の記録単位ごとに一連の番号でなるアドレスが付されており、情報を記録又は再生する際にサーボ光ビームＬＳが照射されるべき基準トラック（以下、これを目標基準トラックＴＳＧと呼ぶ）を当該アドレスにより特定し得るようになされている。

なおサーボ層２０４（すなわち記録層１０１と基板１０２との境界面）には、案内溝に代えてピット等が形成され、或いは案内溝とピット等とが組み合わされていても良い。またサーボ層２０４のトラックは、螺旋状でなく同心円状であっても良い。

またサーボ層２０４は、例えば波長約６６０［ｎｍ］の赤色光ビームを高い反射率で反射する一方、波長約４０５［ｎｍ］の青紫色光ビームを高透過率で透過するようになされている。

光ディスク装置１１０は、光ディスク２００に対して波長約６６０［ｎｍ］でなるサーボ光ビームＬＳを照射する。このときサーボ光ビームＬＳは、光ディスク２００のサーボ層２０４により反射されサーボ反射光ビームＬＳｒとなる。

光ディスク装置１１０は、サーボ反射光ビームＬＳｒを受光し、その受光結果を基に対物レンズ１８と対応する対物レンズ１４０を光ディスク２００に近接又は離隔させるフォーカス方向へ位置制御することにより、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳをサーボ層２０４に合わせるようになされている。

このとき光ディスク装置１１０は、サーボ光ビームＬＳと情報光ビームＬＭとの光軸ＸＬを互いにほぼ一致させている。これにより光ディスク装置１１０は、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを、記録層１０１内における目標基準トラックＴＳＧに対応した箇所に、すなわち目標基準トラックＴＳＧを通りサーボ層２０４に垂直な法線上に位置させる。

記録層１０１は、比較的強い強度でなる情報光ビームＬＭが当該記録層１０１内に照射されると、例えば気泡を形成することにより、焦点ＦＭの位置に記録マークＲＭを記録する。

またこのようにして形成された記録マークＲＭは、光ディスク２００の第１面２００Ａ及びサーボ層２０４等の各面とほぼ平行な平面状に配置され、当該記録マークＲＭによるマーク層Ｙを形成する。

一方、光ディスク装置１１０は、光ディスク２００から情報を再生する際、例えば第１面２００Ａ側から情報光ビームＬＭを集光する。ここで焦点ＦＭの位置（すなわち目標位置ＰＧ）に記録マークＲＭが形成されている場合、当該情報光ビームＬＭが記録マークＲＭによって反射され、当該記録マークＲＭから情報反射光ビームＬＭｒが出射される。

光ディスク装置１１０は、情報反射光ビームＬＭｒの検出結果に応じた検出信号を生成し、当該検出信号を基に記録マークＲＭが形成されているか否かを検出する。

このように第２の実施の形態では、光ディスク装置１１０により光ディスク２００から情報を再生する場合、サーボ光ビームＬＳを併用しながら情報光ビームＬＭを目標位置ＰＧに照射することにより、所望の情報を再生するようになされている。

（２−２）光ピックアップの構成
次に、光ピックアップ１１７の構成について説明する。この光ピックアップ１１７では、図２２に示すように、サーボ制御のためのサーボ光学系１３０と、情報の再生又は記録のための情報光学系１５０を有している。

光ピックアップ１１７は、レーザダイオード３１から出射したサーボ光としてのサーボ光ビームＬＳ及びレーザダイオード５１から出射した情報光ビームＬＭをそれぞれサーボ光学系１３０及び情報光学系１５０を介して同一の対物レンズ１４０へ入射し、光ディスク２００にそれぞれ照射するようになされている。

（２−２−１）サーボ光ビームの光路
図２２に示すように、サーボ光学系１３０では、対物レンズ１４０を介してサーボ光ビームＬＳを光ディスク２００に照射すると共に、当該光ディスク２００によって反射されてなるサーボ反射光ビームＬＳｒをフォトディテクタ１４３で受光するようになされている。

すなわちレーザダイオード１３１は、制御部１１（図４）の制御に基づいて発散光でなる所定光量のサーボ光ビームＬＳを発射し、コリメータレンズ１３３へ入射させる。コリメータレンズ１３３は、サーボ光ビームＬＳを発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ１３４へ入射させる。

偏光ビームスプリッタ１３４は、Ｐ偏光でなるサーボ光ビームＬＳのほぼ全てをその偏光方向により透過させ、１／４波長板１３６へ入射する。

１／４波長板１３６は、Ｐ偏光でなるサーボ光ビームＬＳを円偏光に変換し、ダイクロイックプリズム１３７へ入射する。ダイクロイックプリズム１３７は、反射透過面１３７Ｓによって光ビームの波長に応じてサーボ光ビームＬＳを反射して対物レンズ１４０へ入射する。

対物レンズ１４０は、サーボ光ビームＬＳを集光し、光ディスク２００のサーボ層２０４へ向けて照射する。このときサーボ光ビームＬＳは、図２２に示したように、基板１０２を透過しサーボ層２０４において反射されて、サーボ光ビームＬＳと反対方向へ向かうサーボ反射光ビームＬＳｒとなる。

この後、サーボ反射光ビームＬＳｒは、対物レンズ１４０によって平行光に変換された後、ダイクロイックプリズム１３７へ入射される。ダイクロイックプリズム１３７は、サーボ反射光ビームＬＳｒを波長に応じて反射し、これを１／４波長板１３６へ入射する。

１／４波長板１３６は、円偏光でなるサーボ反射光ビームＬＳｒをＳ偏光に変換し、偏光ビームスプリッタ１３４へ入射する。偏光ビームスプリッタ１３４は、Ｓ偏光でなるサーボ反射光ビームＬＳｒを反射させ、集光レンズ１４１へ入射する。

集光レンズ１４１は、サーボ反射光ビームＬＳｒを収束させ、シリンドリカルレンズ１４２により非点収差を持たせた上で当該サーボ反射光ビームＬＳｒをフォトディテクタ１４３へ照射する。

ところで光ディスク装置１１０では、回転する光ディスク２００における面ブレ等が発生する可能性があるため、対物レンズ１４０に対する目標基準トラックＴＳＧの相対的な位置が変動する可能性がある。

このため、サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳ（図２１）を目標基準トラックＴＳＧに追従させるには、当該焦点ＦＳを光ディスク２００に対する近接方向又は離隔方向であるフォーカス方向及び光ディスク２００の内周側又は外周側であるトラッキング方向へ移動させる必要がある。

そこで対物レンズ１４０は、２軸アクチュエータ１４０Ａにより、フォーカス方向及びトラッキング方向の２軸方向へ駆動され得るようになされている。

またサーボ光学系１３０（図２３）では、対物レンズ１４０によりサーボ光ビームＬＳが集光され光ディスク２００のサーボ層２０４へ照射されるときの合焦状態が、集光レンズ１４１によりサーボ反射光ビームＬＳｒが集光されフォトディテクタ１４３に照射されるときの合焦状態に反映されるよう、各種光学部品の光学的位置が調整されている。

フォトディテクタ１４３は、サーボ反射光ビームＬＳｒの光量に応じた検出信号を生成し、信号処理部１３（図４）へ送出する。

フォトディテクタ１４３は、図２４に示すように、サーボ反射光ビームＬＳｒを受光するための検出領域１４３Ａ、１４３Ｂ、１４３Ｃ及び１４３Ｄ（以下、これらをまとめて検出領域１４３Ａ〜１４３Ｄとする）が設けられている。

フォトディテクタ１４３は、検出領域１４３Ａ〜１４３Ｄによりサーボ反射光ビームＬＳｒの一部をそれぞれ検出し、このとき検出した光量に応じて検出信号Ｕ２Ａ、Ｕ２Ｂ、Ｕ２Ｃ及びＵ２Ｄをそれぞれ生成して、これらを信号処理部１３（図４）へ送出する。

信号処理部１３は、いわゆる非点収差法によるフォーカス制御を行うようになされており、次に示す（４）式に従ってサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳと光ディスク２００のサーボ層２０４とのずれ量を表すフォーカスエラー信号ＳＦＥ２を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

また信号処理部１３は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ２及び焦点ＦＳと光ディスク２００のサーボ層２０４における目標基準トラックＴＳＧとのずれ量を表すトラッキングエラー信号を算出し、これを駆動制御部１２へ供給する。

駆動制御部１２は、フォーカスエラー信号ＳＦＥ２を基にフォーカス駆動信号を生成し、当該フォーカス駆動信号を２軸アクチュエータ１９と対応する２軸アクチュエータ１４０Ａへ供給することにより、サーボ光ビームＬＳが光ディスク２００のサーボ層２０４に合焦するよう、対物レンズ１４０をフィードバック制御（すなわちフォーカス制御）する。

また駆動制御部１２は、トラッキングエラー信号を基にトラッキング駆動信号を生成し、当該トラッキング駆動信号を２軸アクチュエータ１４０Ａへ供給することにより、サーボ光ビームＬＳが光ディスク２００のサーボ層２０４における目標基準トラックＴＳＧに合焦するよう、対物レンズ１４０をフィードバック制御（すなわちトラッキング制御）する。

このようにサーボ光学系１３０は、サーボ光ビームＬＳを光ディスク２００のサーボ層２０４に照射し、その反射光であるサーボ反射光ビームＬＳｒの受光結果を信号処理部１３へ供給するようになされている。これに応じて駆動制御部１２は、当該サーボ光ビームＬＳを当該サーボ層２０４の目標基準トラックＴＳＧに合焦させるよう、対物レンズ１４０のフォーカス制御及びトラッキング制御を行うようになされている。

（２−２−２）情報光ビームの光路
一方情報光学系１５０では、図２２と対応する図２５に示すように、対物レンズ１４０を介してレーザダイオード１５１から出射した情報光ビームＬＭを光ディスク２００に照射すると共に、当該光ディスク２００に反射されてなる情報反射光ビームＬＭｒをフォトディテクタ１６２で受光するようになされている。

すなわちレーザダイオード１５１は、制御部１１（図４）の制御に基づいて発散光でなる所定光量の情報光ビームＬＭを発射し、コリメータレンズ１５２へ入射する。コリメータレンズ１５２は、情報光ビームＬＭを発散光から平行光に変換し、偏光ビームスプリッタ１５４へ入射する。

偏光ビームスプリッタ１５４は、Ｐ偏光でなる情報光ビームＬＭをその偏光方向により透過させ、球面収差などを補正するＬＣＰ（Liquid Crystal Panel）１５６を介して１／４波長板１５７へ入射する。

１／４波長板１５７は、情報光ビームＬＭをＰ偏光から円偏光に変換してリレーレンズ１５８へ入射する。

リレーレンズ１５８は、可動レンズ１５８Ａにより情報光ビームＬＭを平行光から収束光に変換し、収束後に発散光となった当該情報光ビームＬＭを固定レンズ１５８Ｂにより再度収束光に変換し、ミラー１５９へ入射させる。

ミラー１５９は、情報光ビームＬＭを反射することによりその進行方向を偏向させ、ダイクロイックプリズム１３７へ入射する。ダイクロイックプリズム１３７は、反射透過面１３７Ｓにより当該情報光ビームＬＭを透過させ、これを対物レンズ１４０へ入射する。

対物レンズ１４０は、情報光ビームＬＭを集光し、光ディスク２００へ照射する。このとき情報光ビームＬＭは、図２１に示したように、基板１０２を透過し、記録層１０１内に合焦する。

ここで当該情報光ビームＬＭの焦点ＦＭの位置は、リレーレンズ１５８の固定レンズ１５８Ｂから出射される際の収束状態により定められることになる。すなわち焦点ＦＭは、可動レンズ１５８Ａの位置に応じて記録層１０１内をフォーカス方向に移動することになる。

実際上、情報光学系１５０は、制御部１１（図４）により可動レンズ１５８Ａの位置が制御されることにより、光ディスク２００の記録層１０１内における情報光ビームＬＭの焦点ＦＭ（図２１）の深さｄ（すなわちサーボ層２０４からの距離）を調整し、目標位置ＰＧに焦点ＦＭを合致させるようになされている。

ここで上述したように、記録マークＲＭは、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭから入射側にずれて形成される。このため光ディスク装置１１０は、情報記録処理の際、記録マークＲＭを形成すべき目標マーク位置ＰＲＭから裏側に加算距離だけずれた位置を目標位置ＰＧに設定する。

すなわち駆動制御部１３（図４）は、光ディスク２００から読み出した吸収係数変化量に対し所定の係数を乗算して乗算値を算出し、これを目標マーク位置ＰＲＭの深さｄに応じた電流値に対して加算することにより、加算電流値を算出する。そして駆動制御部１３は、当該加算電流値を可動レンズ１５８Ａに対して供給することにより、情報光ビームＬＭの深さｄを目標マーク位置ＰＲＭから加算距離だけずれた目標位置ＰＧに合致させることができる。

このように情報光学系１５０は、サーボ光学系１３０によるサーボ制御された対物レンズ１４０を介して情報光ビームＬＭを照射することにより、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭのトラッキング方向を目標マーク位置ＰＲＭに合致させる。さらに情報光学系１５０は、リレーレンズ１５８における可動レンズ１５８Ａの位置に応じて当該焦点ＦＭの深さｄを調整することにより、焦点ＦＭのフォーカス方向を目標マーク位置ＰＲＭから裏側に加算距離だけずれた目標位置ＰＧに合致させるようになされている。

そして情報光ビームＬＭは、対物レンズ１４０によって焦点ＦＭに集光され、目標マーク位置ＰＲＭに対して記録マークＲＭを形成し得るようになされている。

一方情報光ビームＬＭは、光ディスク２００に記録された情報を読み出す再生処理の際、目標位置ＰＧに記録マークＲＭが記録されていた場合には、焦点ＦＭに集光した情報光ビームＬＭが当該記録マークＲＭによって情報反射光ビームＬＭｒとして反射され、対物レンズ１４０へ入射される。

他方情報光ビームＬＭは、焦点ＦＭに記録マークＲＭが記録されていない場合には、光ディスク２００を透過するため、情報反射光ビームＬＭｒが生成されない。

ここで記録マークＲＭは、情報記録処理の際、目標マーク位置ＰＲＭに形成されている。このため光ディスク装置１１０は、目標トラックＴＧの深さｄをそのまま目標位置ＰＧに設定することにより、情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを目標マーク位置ＰＲＭに位置させることができる。

対物レンズ１４０は、情報反射光ビームＬＭｒをある程度収束させ、ダイクロイックプリズム１３７、ミラー１５９を介してリレーレンズ１５８へ入射する。

リレーレンズ１５８は、情報反射光ビームＬＭｒを平行光に変換し、１／４波長板１５７へ入射する。１／４波長板１５７は、円偏光でなる情報反射光ビームＬＭｒをＳ偏光に変換し、ＬＣＰ１５６を介して偏光ビームスプリッタ１５４に入射する。

偏光ビームスプリッタ１５４は、Ｓ偏光でなる情報反射光ビームＬＭｒを偏光面１５４Ｓによって反射し、マルチレンズ１６０へ入射させる。マルチレンズ１６０は、情報反射光ビームＬＭｒを集光し、ピンホール板１６１を介してフォトディテクタ１６２へ照射させる。

ピンホール板１６１は、マルチレンズ１６０により集光される情報反射光ビームＬＭｒの焦点を孔部（図示せず）内に位置させるよう配置されており、当該情報反射光ビームＬＭｒをそのまま通過させる。

この結果、フォトディテクタ１６２は、迷光の影響を受けることなく、情報反射光ビームＬＭｒの光量に応じた検出信号ＳＤｂを生成し、これを信号処理部１３（図４）へ供給する。

信号処理部１３は、再生検出信号ＳＤｂに対して所定の復調処理や復号化処理等を施すことにより再生情報を生成し、この再生情報を制御部１１へ供給するようになされている。

このように情報光学系１５０は、光ディスク２００から対物レンズ１４０へ入射される情報反射光ビームＬＭｒを受光し、その受光結果を信号処理部１３へ供給するようになされている。

（２−３）動作及び効果
以上の構成において、光ディスク装置１１０は、光ディスク２００に対して、情報光ビームＬＭ及びサーボ制御のためのサーボ光ビームＬＳを集光して照射し、光ディスク２００に形成されサーボ光ビームＬＳの少なくとも一部を反射させる反射層としてのサーボ層２０４に対し、サーボ光ビームＬＳを合焦させるよう対物レンズ１４０を駆動する。

光ディスク装置１１０は、情報光ビームＬＭの収束状態を変化させることにより、フォーカス方向にサーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳから情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを任意の距離だけ離隔させ、情報光ビームＬＭを照射するべき目標位置ＰＧに当該情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを合わせるようにした。

このとき光ディスク装置１１０は、目標マーク位置ＰＲＭから加算距離だけずらした位置を目標位置ＰＧに設定する。これにより光ディスク装置１１０は、記録層１０１の吸収係数変化量に応じて目標位置ＰＧを予め加算距離だけずらすだけの簡易な処理で、目標マーク位置ＰＲＭに記録マークＲＭを形成することができる。この結果光ディスク装置１１０は、情報の再生時に単に目標トラックＴＧを目標位置ＰＧとして情報光ビームＬＭを照射すれば、情報を再生することができる。

その他、光ディスク装置１１０は、第１の実施の形態における光ディスク装置１０と同様の作用効果を奏し得る。

以上の構成によれば、光ディスク装置１１０は、サーボ層２０４にサーボ光ビームＬＳを合焦させると共に、当該サーボ光ビームＬＳの焦点ＦＳから任意の距離だけ離隔した目標位置ＰＧに情報光ビームＬＭの焦点ＦＭを位置させる。光ディスク装置１１０は、当該任意の距離を調整することにより、吸収係数変化量に応じた加算距離だけ目標マーク位置ＰＲＭからフォーカス方向にずれた目標位置ＰＧに情報光ビームＬＭを照射する。

これにより光ディスク装置１１０は、吸収係数変化量に応じて発生する焦点マークずれ量を相殺することができ、目標マーク位置ＰＲＭに記録マークＲＭを形成することができる。この結果光ディスク装置１１０は、情報の記録時に目標マーク位置ＰＲＭからずれて記録マークＲＭが形成されたことにより、情報の再生処理において、目標トラックＴＧの深さｄを目標位置ＰＧとして情報光ビームＬＭを照射したにも拘らずデフォーカスしてしまうような事態を未然に防止することができる。

（３）他の実施の形態
なお上述した第１及び第２の実施の形態においては、記録層１０１に吸収係数情報として吸収係数変化量が記録されているようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えばテーブルにおいて加算値に対応する番号や、加算値自体が記録されているようにしても良い。

また上述した第１及び第２の実施の形態においては、記録層１０１から吸収係数情報を読み出すようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば光ディスク装置１０が記録層１０１における吸収係数変化量又はこれに相当する値を測定又は算出するようにしても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、螺旋状又は同心円上にトラックが形成されるようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えばキューブ上でなる光情報記録媒体に格子状にトラックが形成されるようにしても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、参照トラックＴＥを参照してフォーカス制御を実行するようにした場合について述べた。また第２の実施の形態においては、サーボ層２０４を基準としてフォーカス制御を実行するようにした場合について述べた。

本発明はこれに限らず、例えば記録層１０１内に予めサーボ制御のためのサーボマークが点在して形成されており、当該サーボマークにほぼ合焦するように対物レンズを変位した後、次のサーボマークまでの間対物レンズを移動させずに記録マークＲＭを形成するような焦点位置制御方法を用いる場合にも適用することができる。これによりサーボマークとフォーカス方向にほぼ同一となる位置に記録マークＲＭを形成することが可能となる。

さらに上述した第１の実施の形態においては、参照トラックＴＥと目標トラックＴＧとの間隔を１トラックとするようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、他の任意のトラック数としても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においてはグレーティング３４により光ビームＬＡから回折された０次光及び１次光をそれぞれ情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥとするようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、他の種々の光学部品を用いて光ビームを分離することにより情報光ビームＬＭ及び参照光ビームＬＥを生成するようにし、或いは情報光ビームＬＭの光源と異なる他の光源から参照光ビームＬＥを出射させる等しても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１に係数を乗算すると共に加算値を加算することによりフォーカス駆動信号を生成するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば記録マークＲＭのマーク中心ＣＲＭではなく、当該マーク中心ＣＲＭよりも入射側を基準位置とし、当該基準位置から裏側に加算距離だけ離隔する場合には、フォーカスエラー信号ＳＦＥ１に係数を乗算すると共に加算値を加算し、さらにマーク中心ＣＲＭと基準位置との距離に応じた減算値を減算するようにする。

さらに上述した第１の実施の形態においては、レーザダイオード３１、コリメータレンズ３２、グレーティング３４及びリレーレンズ３８の組み合わせを用いて光路形成部２０（図１０）を構成するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各種レンズや各種ビームスプリッタを適宜組み合わせたものを用いて当該光路形成部２０を構成するようにしても良い。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、情報光ビームＬＭ及びサーボ光ビームＬＳの波長を約４０５［ｎｍ］又は約６６０［ｎｍ］とするようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、他の任意の波長であっても良い。この場合、当該波長でなる情報光ビームにより記録層１０１内に記録マークＲＭを形成でき、且つ当該光ビームが当該記録マークＲＭにより反射された反射光ビームを検出し得れば良い。また当該波長でなるサーボ光ビームＬＳがサーボ層２０４により反射されたサーボ反射光ビームＬＳｒを検出し得れば良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、リードインエリアを光ディスク１００の最内周側に設けるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光ディスク１００の外周側からデータを順次記録する場合に、リードインエリアを最外周側に設けるようにしても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、参照反射光ビームＬＥｒのみを基に対物レンズ１８をフォーカス方向及びトラッキング方向に関し位置制御するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば第２の実施の形態のようにトラッキング用の案内溝を形成した反射面を光ディスクに設け、対物レンズ１８を介して別途サーボ用の光ビームを当該反射面に照射し、その反射光に基づく位置制御と、参照反射光ビームＬＥｒに基づく位置制御とを適宜組み合わせるようにしても良い。また、他の点においても第１の実施の形態と第２の実施の形態の構成を適宜組み合わせることが可能である。

さらに上述した第１の実施の形態においては、光ディスク１００の記録層１０１を樹脂材料に所定の気化材料が混合されたものとするようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば記録層１０１を光重合型フォトポリマーにより構成し、その内部にモノマーが均一に分散している構成であっても良い。この場合、記録層１０１は、光が照射されると照射箇所においてモノマーが光重合や光架橋等を生じることによりポリマ化し、これに伴い屈折率が変化する。記録層１０１は、このように屈折率が変化した箇所が記録マークＲＭとなる。また本発明は、記録層１０１全体にホログラムが形成され、当該ホログラムを破壊することにより記録マークＲＭを形成する場合にも適用することができる。

さらに上述した第１及び第２の実施の形態においては、戻り光ビームとして記録マークＲＭによって反射されてなる情報反射光ビームＬＭｒを基に情報を再生するようにした場合について述べた。本発明はこれに限らず、例えば戻り光ビームとして記録マークＲＭを透過した透過光ビームを基に情報を再生しても良い。

さらに上述した第１の実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ１８と、焦点移動部としての２軸アクチュエータ１９と、駆動制御部としての駆動制御部１２によって光ディスク装置としての光ディスク装置１０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる対物レンズと、焦点移動部と、駆動制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。

さらに上述した第２の実施の形態においては、対物レンズとしての対物レンズ１４０と、焦点移動部としてのリレーレンズ１５８と、駆動制御部としての駆動制御部１２によって光ディスク装置としての光ディスク装置１１０を構成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、その他種々の構成でなる対物レンズと、焦点移動部と、駆動制御部とによって光ディスク装置を構成するようにしても良い。

本発明は、映像や音声、或いはコンピュータ用のデータ等の情報を光ディスクに記録し、また当該光ディスクから当該情報を再生する光ディスク装置でも利用できる。

光ディスクの外観構成を示す略線図である。 第１の実施の形態による光ビームの集光の説明に供する略線図である。 第１の実施の形態による目標マーク層への光ビームの照射の説明に供する略線図である。 第１の実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示す略線図である。 第１の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。 ピンホールによる光ビームの選別の説明に供する略線図である。 第１の実施の形態によるフォトディテクタにおける検出領域の構成を示す略線図である。 電場と屈折率との関係を示す略線図である。 屈折率変化による電場分布（１）を示す略線図である。 屈折率変化による電場分布（２）を示す略線図である。 屈折率変化による電場分布（３）を示す略線図である。 屈折率変化による電場分布（４）を示す略線図である。 吸収係数の変化による電場分布（１）を示す略線図である。 吸収係数の変化による電場分布（２）を示す略線図である。 吸収係数の変化による電場分布（３）を示す略線図である。 吸収係数の変化による電場分布（４）を示す略線図である。 記録マークのずれの説明に供する略線図である。 参照トラックを基準とした記録マークのずれの説明に供する略線図である。 記録マークのずれの累積の説明に供する略線図である。 記録位置の補償の説明に供する略線図である。 第２の実施の形態による光ディスクの構成を示す略線図である。 第２の実施の形態による光ピックアップの構成を示す略線図である。 サーボ光の光路を示す略線図である。 第２の実施の形態によるフォトディテクタの構成を示す略線図である。 情報光ビームの光路を示す略線図である。

符号の説明

１０、１１０……光ディスク装置、１１……制御部、１２……駆動制御部、１３３……信号処理部、１７、１１７……光ピックアップ、１８、１４０……対物レンズ、１９、４０Ａ……２軸アクチュエータ、２０……光路形成部、３１、１３１、１５１……レーザダイオード、３４……グレーティング、３５、１３４、１５４……偏光ビームスプリッタ、１００、２００……光ディスク、１０１……記録層、１０２、１０３……基板、２０４……サーボ層、ＬＭ……情報光ビーム、ＬＥ……参照光ビーム、ＦＭ、ＦＥ、ＦＳ……焦点、ＲＭ……記録マーク、ＲＭｍ……情報マーク、ＲＭｅ……参照マーク、Ｙ……マーク層、ＹＧ……目標マーク層、ＴＧ……目標トラック、ＴＥ……参照トラック、ＰＧ……目標位置、ＰＲＭ……目標マーク位置、ＩＭ……リードインマーク。

Claims (10)

1. 一様な記録層を有する光情報記録媒体に対し、情報を表す記録マークを形成するための情報光ビームを集光する対物レンズと、
   上記情報光ビームの焦点位置を上記光情報記録媒体に対して近接又は離隔させるフォーカス方向に移動させる焦点移動部と、
   上記記録層において記録マークが形成されるべき目標マーク位置から上記フォーカス方向に、上記記録層における吸収係数変化量に応じた加算距離だけずらした目標位置に上記情報光ビームの焦点を位置させるよう上記焦点移動部を制御する駆動制御部と
   を有する光情報記録装置。
2. 上記光情報記録媒体を回転させることにより上記記録マークからなる同心円状又は螺旋状のトラックを形成させる回転部と、
   上記対物レンズへ入射される上記情報光ビーム及び上記光情報記録媒体に形成済の参照トラックに照射するための参照光ビームの光路を形成し、上記情報光ビームの光軸方向に関し、上記対物レンズから上記参照光ビームの焦点までの距離及び上記対物レンズから上記情報光ビームの焦点までの距離を同等に揃えると共に、上記半径方向に関し、上記情報光ビームの焦点と上記参照光ビームの焦点とを所定トラック数だけ離隔させる光路形成部と
   を有する請求項１に記載の光情報記録装置。
3. 上記駆動制御部は、
   上記参照光ビームを上記参照トラックにおいて形成された上記記録マークの中心から上記フォーカス方向に上記加算距離だけずらした位置に上記参照光ビームを合焦させることにより、上記目標マーク位置から上記フォーカス方向に所定の加算距離だけずらした目標位置に上記情報光ビームの焦点を位置させる
   を有する請求項２に記載の光情報記録装置。
4. 上記光路形成部は、
   上記光ビームをグレーティングにより回折させたときの０次回折光を上記情報光ビームとすると共に１次以上の高次回折光を上記参照光ビームとする
   を有する請求項２に記載の光情報記録装置。
5. 上記光情報記録媒体の上記記録層には、
   上記記録マークにより形成されるマーク層が複数積層される際における、上記情報光ビームの光軸方向に関する上記マーク層それぞれの位置を示すリードインマークが予め形成され、
   上記駆動制御部は、
   上記リードインマークの近傍を上記目標位置とする場合、上記リードインマークを上記参照トラックとして上記参照光ビームを合焦させる
   を有する請求項２に記載の光情報記録装置。
6. 情報を読み出すための読出光ビームの上記記録層からの戻り光ビームを受光して上記記録層に記録された情報を読み出す読出部
   を有し、
   上記駆動制御部は、
   上記記録層に記録された上記吸収係数変化量に関する吸収係数情報に基づいて、上記加算距離を決定する
   請求項１に記載の光情報記録装置。
7. 上記駆動制御部は、
   上記参照トラックに形成された上記記録マークと上記参照光ビームの焦点とのずれ量を表すフォーカスエラー信号が上記加算距離に応じた任意の目標値になるように、上記対物レンズを駆動する
   請求項１に記載の光情報記録装置。
8. 上記駆動制御部は、
   上記目標マーク位置から上記加算距離だけずらした位置を上記目標位置に設定する
   請求項１に記載の光情報記録装置。
9. 上記対物レンズは、
   上記光情報記録媒体に対して、上記情報光ビーム及びサーボ制御のためのサーボ光ビームを集光して照射し、
   上記駆動制御部は、
   上記光情報記録媒体に形成され上記サーボ光ビームの少なくとも一部を反射させる反射層に対し、上記サーボ光ビームを合焦させるよう上記対物レンズを駆動し、
   上記焦点移動部は、
   上記情報光ビームの収束状態を変化させることにより、上記フォーカス方向に上記サーボ光ビームの焦点から上記情報光ビームの焦点を任意の距離だけ離隔させ、上記情報光ビームを照射するべき目標位置に当該情報光ビームの焦点を合わせる
   請求項１に記載の光情報記録装置。
10. 一様な記録層を有する光情報記録媒体に対し、情報を表す記録マークを形成するための情報光ビームを集光する集光ステップと、
    上記対物レンズを上記光情報記録媒体に対して近接又は離隔させるフォーカス方向に駆動する際、上記記録層において記録マークが形成されるべき目標マーク位置から上記フォーカス方向に、上記記録層における吸収係数変化量に応じた加算距離だけずらした目標位置に上記情報光ビームの焦点を位置させるよう上記駆動部を制御する駆動制御ステップと
    を有する記録位置補償方法。

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