JP2010027597A - 有機電界発光表示装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】駆動回路が基板に実装される構造において、点灯検査及びエージング検査のためのショートバーを容易に形成及び除去できる有機電界発光表示装置を提供する。
【解決手段】本発明の有機電界発光表示装置は、画素領域20及び非画素領域40を含む基板100と、画素領域20の第1方向に形成されたアノード電極12と、アノード電極12と連結されて非画素領域40に形成されたデータライン62と、画素領域20の第2方向に形成されたカソード電極14と、カソード電極14と連結されて非画素領域40に形成された走査ライン64と、データライン62及び走査ライン64に連結された駆動回路90と、データライン62及び走査ライン64の少なくとも1つの一部が露出するように開口部80cが形成された保護膜80とを備えていることを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は有機電界発光表示装置に関し、より詳しくは、駆動回路が基板に実装された有機電界発光表示装置に関する。
通常、有機電界発光表示装置(Organic Light Emitting Display Device)は自ら発光する特性を有する次世代表示装置であって、液晶表示装置(Liquid Crystal Display Device;LCD)に比べて視野角、コントラスト、応答速度、消費電力などの面で優れた特性を有している。
このような有機電界発光表示装置は、走査ラインと信号ラインとの間にマトリクス方式で連結されて画素を構成するパッシブマトリクス方式と、各画素の動作がスイッチの役割をする薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor;TFT)によって制御されるアクティブマトリクス方式とから構成されている。
画素を構成する有機電界発光素子は、アノード電極、有機薄膜層及びカソード電極から構成されている。このような有機電界発光素子のアノード電極とカソード電極に所定の電圧が印加されると、アノード電極を介して注入される正孔と、カソード電極を介して注入される電子とが発光層で再結合することになり、この過程で発生するエネルギー差によって光が放出される。
一般に、有機電界発光表示装置は、製造過程において点灯検査及びエージング(aging)検査を通じて不良画素及び信頼性を検査する。このとき、走査ラインや信号ラインに一定の検査用信号を供給するために、ショートバーを用いる。
下記の特許文献1及び特許文献2には、データラインと連結されるデータパッド及びスキャンラインと連結されるスキャンパッドに形成される正極性ショートバー及び負極性ショートバーについて開示されている。ショートバーに検査ピンが接触して点灯検査が行われ、点灯検査が完了すると、基板を切断するスクライビング(Scribing)過程でショートバーが除去される。
しかしながら、製造過程で駆動回路(Drive circuit)が基板に形成されていたり、半導体チップ状の駆動回路がチップオングラス(Chip On Glass)又はワイヤーボンディング(wirebonding)方法で基板に実装されていたりする構造では、駆動回路の入力端子と連結されるパッドが、スクライブラインに隣接する基板の縁部に形成されているため、前記のような方法でショートバーを構成し難いという問題点がある。
韓国特許公開10−2006−0029086号公報 韓国特許公開10−2006−0127561号
上述したように、本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、駆動回路が基板に実装される構造であっても、点灯検査及びエージング検査のためのショートバーを容易に形成及び除去できる有機電界発光表示装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、走査ライン及びデータラインの抵抗値を減少させるために、補助電極を採用した構造であっても、点灯検査及びエージング検査のためのショートバーを容易に形成及び除去できる有機電界発光表示装置を提供することにある。
前記目的を達成するために、本発明の一側面に係る有機電界発光表示装置は、画素領域及び非画素領域を含む基板と、前記基板の画素領域に第1方向に形成された第1電極と、前記第1電極と連結されるように、前記基板の非画素領域に形成された第1配線と、前記基板の画素領域に第2方向に形成された第2電極と、前記第2電極と連結されるように、前記基板の非画素領域に形成された第2配線と、前記第1電極と前記第2電極との間に形成された有機薄膜層と、前記第1配線及び前記第2配線に連結された駆動回路と、前記画素領域及び前記非画素領域を含む前記基板上に形成され、前記第1配線及び前記第2配線のうちの少なくとも1つの一部が露出するように、開口部が形成された保護膜とを備えていることを特徴とする。
駆動回路を基板に実装する場合、基板の大きさを増加させなければならないので、配線長の増加に伴う抵抗値の増加によって輝度及び性能が低下する場合がある。従って、駆動回路が基板に実装される構造では低抵抗の金属を用いた補助電極の採用が必須である。
本発明は、駆動回路が基板に実装され、補助電極を採用した構造において、点灯検査及びエージング検査のためのショートバーを容易に形成及び除去できるようにしたものであり、ショートバーの除去時に補助電極への被害が発生しないようにしたものである。このようにショートバーを容易に形成及び除去できる構造にしたことにより、製造工程を簡便にすることができ、補助電極への被害を防止したことにより、低い駆動電圧で高い輝度及び性能を実現できるという顕著な作用効果を発揮することができる。
本発明に係る有機電界発光表示装置の一実施形態の構成を示す平面図である。 図1のI1−I2部分の断面を概略的に示す断面図である。 図1のI11−I12部分の断面を概略的に示す断面図である。 図1のI11−I12部分の断面を概略的に示す断面図である。 本発明に係る有機電界発光表示装置の他の実施形態のショートバーの部分を示す断面図である。 アノード電極とカソード電極との間に配置された保護膜を示す断面図である。
下記の詳細な説明は、本発明の特定の実施形態だけを詳細に記載して示したものである。本発明の技術分野において通常の知識を有する者は、本発明の技術的思想から逸脱しない範囲内で下記の実施形態を多様に変形することができる。従って、添付した図面と説明は、本発明を説明しただけであって、これに限定されるものではない。また、1つの構成要素が他の構成要素と「接触している(on)」という記載は、1つの構成要素がその他の構成要素と直接接触するか、あるいは1つ以上の要素が2つの構成要素の間に介在して間接的に接触していることを意味する。また、ある要素が他の要素に「結合されている」という記載は、ある要素がその他の要素に直接的に連結されているか、あるいは1つ以上の要素が2つの要素の間に介在して間接的に連結されていることを意味する。以下において同じ参照番号は同じ構成要素を意味する。
以下、添付した図面を参照して本発明の好適な実施形態を詳細に説明する。以下の実施形態は、この技術分野において通常の知識を有する者が本発明を十分に理解できるように提供したものであって、様々な形態に変形することができ、本発明の範囲を後述する実施形態に限定するものではない。
図1及び図2は、本発明に係る有機電界発光表示装置の一実施形態を示した平面図及び断面図であって、図2は、図1のI1−I2部分の断面を概略的に示したものである。
基板100はガラスやプラスチックのような絶縁物又は金属から形成され、画素領域20と非画素領域40とに区分されている。非画素領域40は画素領域20の周辺領域であって、画素領域20を取り囲む領域とすることができる。
基板100の画素領域20には、アノード電極12とカソード電極14との間にマトリクス方式で連結された有機電界発光素子110がアレイ状に形成されている。また、基板100の非画素領域40には、画素領域20のアノード電極12及びカソード電極14から延びたデータライン62及び走査ライン64と、有機電界発光素子110を動作させるための電源供給ライン(図示せず)と、入力パッド66を介して外部から提供される信号を処理してデータライン62及び走査ライン64に供給する駆動回路90とが配置されている。
有機電界発光素子110は、互いに交差するように形成されたアノード電極12及びカソード電極14と、アノード電極12及びカソード電極14の間に形成された有機薄膜層(図示せず)から形成されている。有機薄膜層は、正孔輸送層、有機発光層及び電子輸送層が積層された構造で形成され、正孔注入層と電子注入層を更に含むことができる。
駆動回路90は、有機電界発光素子110の製造過程で基板100の非画素領域40に形成されるか、または別途の集積回路半導体チップで製造された後に、チップオングラス又はワイヤーボンディング方法などでデータライン62及び走査ライン64と連結されるように、基板100に実装することができる。
また、画素領域20と非画素領域40を含む基板100上にはポリイミド(polyimide)系、フェノール樹脂(phenol resin)系、アクリル樹脂(acrylic resin)系の絶縁物で保護膜80が形成されている。そして、保護膜80には、駆動回路90が実装される領域と入力パッド66を露出させるための開口部80a、80bと、データライン62及び走査ライン64の一部を露出させるための開口部80cとが形成されている。このとき、データライン62及び走査ライン64の一部を露出させるための開口部80cは点灯検査及びエージング検査のためにデータライン62や走査ライン64を共通して連結するショートバーが形成される領域である。開口部80cの位置はデータライン62や走査ライン64を最小の大きさで露出させることができるように適切に選択することができる。図面には走査ライン64を露出させる開口部80cのみを示したが、データライン62を露出させる開口部を更に形成できることはもちろんである。
図3A及び図3Bは、図1のI11−I12部分の概略的な断面図である。ここで、図3Aは走査ライン64の一部を露出させる開口部80cが保護膜80に形成された状態を示し、図3Bは開口部80cに走査ライン64を共通に連結するショートバー400が形成された状態を示す。
点灯検査及びエージング検査のために、ショートバー400に検査ピンが接触することにより、外部からデータライン62や走査ライン64を介して有機電界発光素子110に検査用信号が供給される。
点灯検査及びエージング検査が完了すれば、ショートバー400を除去する。従って、ショートバー400は酸溶液などで除去が容易なアルミニウム(Al)のような金属で形成することが好ましい。このとき、保護膜80は画素領域20と非画素領域40を含む基板100の全体面に形成されているので、ショートバー400を除去するために基板100を酸溶液に浸漬させる方法を用いたとしてもデータライン62及び走査ライン64へ被害が発生することはない。
前記した実施形態は、ショートバー400が1つの開口部80cを介して走査ライン64を共通に連結する構造を説明したが、他の実施形態として、図4に示すように、それぞれの走査ライン64が個別に露出するように、保護膜80に複数の開口部80cを形成し、ショートバー400が複数の開口部80cを介して走査ライン64を共通に連結するようにすることもできる。
データライン62及び走査ライン64は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)及びITZO(Indium Tin Zinc Oxide)からなる群より選択された透明電極物質で形成されている。しかし、透明電極物質は高い抵抗値を有するため、データライン及び走査ラインの抵抗値を減少させるためには抵抗値の低い物質で補助電極を形成することが好ましい。例えば、図4に示すように、走査ライン64は透明電極64aと補助電極64bの積層構造で形成することができる。補助電極64bは、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、モリブデン(Mo)、銅(Cu)、クロム(Cr)などの金属であるが、金属の積層構造、例えば、モリブデン(Mo)、アルミニウム(Al)及びモリブデン(Mo)の積層構造で形成することができる。
このようにして製造工程が完了した基板100の上部には有機電界発光素子100を封止するために封止基板200が配置される。基板100と封止基板200は、エポキシ、フリットシールのような封止材300によって互いに貼り合わされる。
前記のように、本発明の有機電界発光表示装置は、画素領域20及び非画素領域40を含む基板100上に形成され、データライン62及び走査ライン64のうちの少なくとも1つの一部が露出するように、開口部80cが形成された保護膜80を備えている。保護膜80は、図3A及び図3Bに示すように、有機電界発光素子110が形成された画素領域20及び非画素領域40の上部全体に配置することができるが、有機電界発光素子110の製造過程でアノード電極12とカソード電極14との間に配置することもできる。
図5は、アノード電極12とカソード電極14との間に配置された保護膜80を説明する断面図であり、図1に示すI1−I2部分の画素領域20における断面を概略的に示したものである。
図1及び図5を参照すれば、基板100の画素領域20には一方向にアノード電極12が形成され、非画素領域40にはアノード電極12から延びたデータライン62及びカソード電極14と連結される走査ライン64が形成されている。このとき、データライン62及び走査ライン64上には補助電極が形成されている。
画素領域20及び非画素領域40の上部全体に保護膜80が形成され、発光領域のアノード電極12が露出するように、保護膜80をパターニングする。このとき、駆動回路90が実装される領域と入力パッド66を露出させるための開口部80a、80bと、データライン62及び走査ライン64の一部を露出させるための開口部80cとが形成される。
画素領域20の保護膜80上にアノード電極12と交差する方向に隔壁(図示せず)が形成される。隔壁は、保護膜80上に形成される有機薄膜層及びカソード電極の間を分離するためのものであり、上部の幅が下部より広いオーバーハング構造で形成されている。
画素領域20の上部全体に有機薄膜層13が形成された後、アノード電極12と交差するようにカソード電極14が形成される。カソード電極14が形成される過程でショートバー400を形成することができる。
以上説明したように、本発明の最も好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記記載に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載され、又は明細書に開示された発明の要旨に基づき、当業者において様々な変形や変更が可能であることはもちろんであり、このような変形や変更が、本発明の範囲に含まれることは言うまでもない。
12 アノード電極
14 カソード電極
20 画素領域
62 データライン
64 走査ライン
66 入力パッド
80 保護膜
80a、80b、80c 開口部
90 駆動回路
100 基板
110 有機電界発光素子
200 封止基板
300 封止材
400 ショートバー

Claims (8)

  1. 画素領域及び非画素領域を含む基板と、
    前記基板の画素領域に第1方向に形成された第1電極と、
    前記第1電極と連結されるように、前記基板の非画素領域に形成された第1配線と、
    前記基板の画素領域に第2方向に形成された第2電極と、
    前記第2電極と連結されるように、前記基板の非画素領域に形成された第2配線と、
    前記第1電極と前記第2電極との間に形成された有機薄膜層と、
    前記第1配線及び前記第2配線に連結された駆動回路と、
    前記画素領域及び前記非画素領域を含む前記基板上に形成され、前記第1配線及び前記第2配線のうちの少なくとも1つの一部が露出するように、開口部が形成された保護膜と
    を備えていることを特徴とする有機電界発光表示装置。
  2. 前記開口部に、前記第1配線又は前記第2配線と接触するショートバーを形成することを特徴とする請求項1に記載の有機電界発光表示装置。
  3. 前記第1配線及び前記第2配線は、透明電極及び補助電極の積層構造からなることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の有機電界発光表示装置。
  4. 前記透明電極は、ITO(Indium Tin Oxide)、IZO(Indium Zinc Oxide)及びITZO(Indium Tin Zinc Oxide)からなる群より選択された物質で形成され、前記補助電極は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、モリブデン(Mo)、銅(Cu)及びクロム(Cr)を含む群より選択された物質で形成されていることを特徴とする請求項3に記載の有機電界発光表示装置。
  5. 前記補助電極は、アルミニウム(Al)、銀(Ag)、モリブデン(Mo)、銅(Cu)及びクロム(Cr)を含む群より選択された金属の積層構造で形成されていることを特徴とする請求項4に記載の有機電界発光表示装置。
  6. 前記保護膜は、ポリイミド、フェノール樹脂及びアクリル樹脂からなる群より選択された物質で形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の有機電界発光表示装置。
  7. 前記保護膜は、前記第1電極と前記第2電極との間に配置されていることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の有機電界発光表示装置。
  8. 前記駆動回路の入力端子と連結されるように、前記基板の非画素領域に形成された入力パッドを更に備え、前記入力パッドが露出するように、前記保護膜に開口部が形成されていることを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載の有機電界発光表示装置。
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