JP2009512000A - デバイスのテストデータ入手 - Google Patents
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Abstract
Description
本願は2005年8月4日に提出された米国仮出願第60/705,639号に対し優先権を主張するものであり、同出願の内容はここで参照により、あたかも全文がここに記載されているかのように、本願にて援用される。
Claims (20)
- テスト対象デバイスのテストデータを入手する方法であって、
漸進サンプリングを用いて一連のパラメータの第1の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第1の部分を入手するステップと、
適応サンプリングを用いて前記一連のパラメータの第2の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第2の部分を入手するステップと、
を備える方法。 - 前記第1の部分を入手するステップは、
第1の点のセットを識別するため前記テストデータで漸進サンプリングを遂行するステップと、
第1のテスト結果を出すため第1の点の前記セットで前記デバイスをテストするステップと、
前記テストデータの一部を生成するため前記第1のテスト結果を用いて補完を遂行するステップと、
を備える請求項1に記載の方法。 - 前記第1の部分を入手するステップはさらに、
前記セットに含まれる第1の点の数が閾値を超過するか否かを判定するステップと、
前記セットに含まれる第1の点の前記数が前記閾値を超過しない場合に、漸進サンプリングを遂行するステップと、テストするステップと、補完を遂行するステップとを繰り返すステップと、
を備える請求項2に記載の方法。 - 前記セットに含まれる第1の点の前記数が前記閾値を超過する場合には前記第2の部分を入手し、ここで前記第2の部分を入手するステップは、
第2の点のセットを識別するため前記テストデータで適応サンプリングを遂行するステップと、
第2のテスト結果を出すため第2の点の前記セットで前記デバイスをテストするステップと、
前記テストデータの一部を生成するため前記第2のテスト結果を用いて補完を遂行するステップと、
を備える請求項3に記載の方法。 - 前記第2の部分を入手するステップはさらに、
適応サンプリングに関係する基準を設定するステップと、
前記基準を満たす前記テストデータにさらなる点があるか否かを判定するステップと、
前記さらなる点から第2の点の別のセットを識別するため前記テストデータで適応サンプリングを遂行するステップと、
さらなる第2のテスト結果を出すため第2の点の前記別のセットで前記デバイスをテストするステップと、
前記テストデータの一部を生成するため前記さらなる第2のテスト結果を用いて補完を遂行するステップと、
を備える請求項4に記載の方法。 - さらに、
前記テストデータを規定するパラメータを指定するステップであって、前記テストデータは、第1の点の前記セットと第2の点の前記セットとを含む複数の点を備えるステップと、
所定の量を上回る前記複数の点がテストを受けたか否かを判定するステップと、
前記所定の量を上回る前記複数の点がテストを受けていない場合に、漸進サンプリングを用いて識別された前記テストデータの第3の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第3の部分を入手するステップと、
を備える請求項4に記載の方法。 - さらに、
前記テストデータの不在部分を入手するため前記テストデータの前記第1及び第2の部分を用いて補完を遂行するステップと、
前記第1及び第2の部分と前記不在部分とを用いて前記テストデータを表示するステップと、を備える請求項1に記載の方法。 - 漸進サンプリングは、前記第1の点を入手するため概ね均一な分布で前記テストデータをサンプリングするステップを備え、
適応サンプリングは、前記第2の点を入手するため前もってサンプリングされた前記テストデータの点に基づき前記テストデータをサンプリングするステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記テストデータは第1及び第2の次元を有するグリッドを備え、前記第1の次元は前記デバイスに関係する第1のパラメータに相当し、前記第2の次元は前記デバイスに関係する第2のパラメータに相当し、
テストするステップは、前記第2のパラメータを踏まえて前記第1のパラメータを入手するステップ、または前記第1のパラメータを踏まえて前記第2のパラメータを入手するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記デバイスは半導体デバイスを備え、前記テストデータはシュムープロットとして表現される、請求項1に記載の方法。
- テスト対象デバイスのテストデータを入手するにあたって使用される実行可能命令を格納するべく構成された1つ以上のマシン可読媒体であって、前記命令は機能、すなわち、
漸進サンプリングを用いて一連のパラメータの第1の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第1の部分を入手する機能と、
適応サンプリングを用いて前記一連のパラメータの第2の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第2の部分を入手する機能とを、少なくとも1つのマシンに遂行させる、1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記第1の部分を入手することは、
第1の点のセットを識別するため前記テストデータで漸進サンプリングを遂行することと、
第1のテスト結果を出すため第1の点の前記セットで前記デバイスをテストすることと、
前記テストデータの一部を生成するため前記第1のテスト結果を用いて補完を遂行することと、
を備える請求項11に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記第1の部分を入手することはさらに、
前記セットに含まれる第1の点の数が閾値を超過するか否かを判定することと、
前記セットに含まれる第1の点の前記数が前記閾値を超過しない場合に、漸進サンプリングを遂行することと、テストすることと、補完を遂行することとを繰り返すことと、
を備える請求項12に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記セットに含まれる第1の点の前記数が前記閾値を超過する場合には前記第2の部分を入手し、ここで前記第2の部分を入手することは、
第2の点のセットを識別するため前記テストデータで適応サンプリングを遂行することと、
第2のテスト結果を出すため第2の点の前記セットで前記デバイスをテストすることと、
前記テストデータの一部を生成するため前記第2のテスト結果を用いて補完を遂行することと、
を備える請求項13に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記第2の部分を入手することはさらに、
適応サンプリングに関係する基準を設定することと、
前記基準を満たす前記テストデータにさらなる点があるか否かを判定することと、
前記さらなる点から第2の点の別のセットを識別するため前記テストデータで適応サンプリングを遂行することと、
さらなる第2のテスト結果を出すため第2の点の前記別のセットで前記デバイスをテストすることと、
前記テストデータの一部を生成するため前記さらなる第2のテスト結果を用いて補完を遂行することと、
を備える請求項14に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記命令はまた、機能すなわち、
前記テストデータを規定するパラメータを指定する機能であって、前記テストデータは、第1の点の前記セットと第2の点の前記セットとを含む複数の点を備える機能と、
所定の量を上回る前記複数の点がテストを受けたか否かを判定する機能と、
前記所定の量を上回る前記複数の点がテストを受けていない場合に、漸進サンプリングを用いて識別された前記テストデータの第3の点で前記デバイスをテストすることにより前記テストデータの第3の部分を入手する機能とを、前記少なくとも1つのマシンに遂行させる、請求項14に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記命令はまた、機能すなわち、
前記テストデータの不在部分を入手するため前記テストデータの前記第1及び第2の部分を用いて補完を遂行する機能と、
前記第1及び第2の部分と前記不在部分とを用いて前記テストデータを表示する機能とを、前記少なくとも1つのマシンに遂行させる、請求項11に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 漸進サンプリングは、前記第1の点を入手するため概ね均一な分布で前記テストデータをサンプリングすることを備え、
適応サンプリングは、前記第2の点を入手するため前もってサンプリングされた前記テストデータの点に基づき前記テストデータをサンプリングすることを備える、請求項11に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記テストデータは第1及び第2の次元を有するグリッドを備え、前記第1の次元は前記デバイスに関係する第1のパラメータに相当し、前記第2の次元は前記デバイスに関係する第2のパラメータに相当し、
テストすることは、前記第2のパラメータを踏まえて前記第1のパラメータを入手すること、または前記第1のパラメータを踏まえて前記第2のパラメータを入手することを備える、請求項11に記載の1つ以上のマシン可読媒体。 - 前記デバイスは半導体デバイスを備え、前記テストデータはシュムープロットとして表現される、請求項11に記載の1つ以上のマシン可読媒体。
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