JP2009264852A - 格子画像の位相解析方法およびそれを用いた物体の変位測定方法ならびに物体の形状測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 簡単な構成で材料および構造物などの物体の変位や形状やひずみを高精度で検出することができる位相解析方法を提供する。
【解決手段】 撮影された画像の元の輝度値(a)の左もしくは右から(縦方向の場合、上もしくは下から)1番目のスタート点から整数倍画素N(Nは3以上)毎に間引き(b)、左から2番目のスタート点からN画素毎に間引き(c)、左から3番目のスタート点からN画素毎に間引き(d)、抜けた画像データを線形補間することによって、元の画像を同じ解像度の画像を得る。
【選択図】 図5
Description
前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めることを特徴とする格子画像の位相解析方法である。
撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めるステップと、
変形前後の位相分布から得られる位相差分布から、物体の変位を検出するステップとを含むことを特徴とする物体の変位測定方法である。
さらに本発明は、2次元の位相分布を使って、異なる位置に設置された複数台のカメラの撮影画像内での対応点を検出することを特徴とする。
物体の表面に投影された格子模様の所定の領域を光学式カメラで撮影し、
前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布から物体の形状を求めることを特徴とする物体の形状測定方法である。
図5は変位応力分布の測定原理を説明するための図である。左側は画像、右側は横1ラインの断面データを示している。まず、図5(a)に変位前後のそれぞれの格子画像を示す。変形前に比べてわずかに右に変位している。図5(b)は間引き数Nが4のときに間引き処理を行い、抜けたデータを線形補間して得られた4枚の位相シフトされた変位前のモアレ縞画像である。同様に図5(c)は変位後の4枚の位相シフトされたモアレ縞画像である。図5(d)は図4(b)の変位前の位相分布φ0であり、図5(e)は変位後の位相分布φ1である。位相値が変わっていることがわかる。図5(f)は変位前後の位相差分布Δφである。この値を式(4)と式(5)に代入すると、変位分布およびひずみ応力分布が得られる。
図6および図7に実験装置の光学系を示す。ここでは、単純な3点曲げを受ける板のたわみ測定を行った。試験片5は長さ1000mm、幅30mm、厚さ2.0mmのアルミ板である。表面に間隔が2mmの格子が印刷された測定用テープ1を貼付けた。この試験片5を支点間距離800mmの支点6,7上に設置し、中央部におもり8を載せて荷重を加えた。実際の変位量を知るために、荷重を加えた場所の真下にレーザ式変位センサ9を設置し、荷重を加えた前後の変位量を測定した。また、図7の平面図に示すように、カメラ11を被測定物(本実施例では、試験片5)の真正面に設置することが難しい場合、シフトレンズ12を用いたあおり系の配置で参照符11aのように、カメラ11を設置して実験を行えばよい。それでも困難な場合は、カメラを斜めに設置して撮影を行ってもよい。
図10に実験装置を示す。面内変位の検出精度を確認するために、150mm×150mmの基準格子(格子間隔1.016mm)を予め貼り付けた試料を1軸の移動ステージ上に設置し、x方向に1μmずつ20回移動させながら、それぞれの位置において画像撮影を行った。移動ステージの移動分解能は0.1μmである。
これまで測定対象物の表面に測定用テープを直接貼付けてから測定を行ったが、測定対象物の表面に始めから規則正しい模様がある場合、その模様をうまく利用することができる。その一例として高層ビルの揺れを検出する方法について述べる。
次に、本発明のサンプリングモアレ法による位相解析方法について説明する。サンプリングモアレ法の特徴は、1枚の画像で解析可能であり、撮影・解析ともに高速化が可能であり、格子間隔の1/100〜1/1000の高精度化を図ることができ、これらを低コストで実現することができることである。
位相シフトモアレ法により得られたx,y方向のモアレパターンの位相分布から格子画像のx方向、y方向の位相分布を求める方法について述べる。N画素毎にサンプリングすることによって得られたモアレ縞は、撮影した格子画像と1間隔がN画素である格子画像とを重ね合わすことにより得られるモアレ縞に相当する、またその位相値は変形前後の格子の位相値の差から求まる。よってモアレパターンの位相分布は、撮影した格子画像の位相分布と、N画素で1間隔を成す格子の位相分布との差から求めることができる。
θm=θg−θR …(6)
θg=θm+θR …(7)
θg1−θg0=(θm1−θR)−(θm0−θR)
=θm1−θm0 …(8)
複数台のカメラの撮影画像内の対応点の検出結果を用いることで、以下のようにして物体の3次元形状と物体の表面のひずみ分布を求めることができる。
z=0の基準面をR0、基準面からz方向に距離zだけ移動させた基準面をR1とする。x−y平面を基準面と平行にとり、被測定物の高さ方向をz軸とする。この空間座標は、(x,y,z)で表される。まず、物体上の任意の点(x,y,z)と、カメラの同一画素に撮影されるR0,R1上の点(x0,y0,0),(x1,y1,z1)の位相値を、位相解析法を用いて求める。その後、(x,y,z)の位相値を求める。図19に示す2枚の基準面R0,R1を用いたときの関係から、次の式(9)が得られる。
前述の解析原理を用いて実際に図19に示す被測定対象物を測定する手順について説明する。この実験では、カメラと投影面の距離hは960mm、プロジェクタと投影面の距離は650mm、基準板間隔は2.0mmで行った。実験環境は、図14の場合と同様である。被測定対象物は、縦幅a1=50mm、横幅b1=40mm、厚みt1=1mmの第1板体、縦幅a2=100mm、横幅b2=80mm、厚みt2=1mmの第2板体、縦幅a3=150mm、横幅b3=120mm、厚みt3=1mmの第3板体、および縦幅a4=200mm、横幅b4=150mm、厚みt4=3mmの第4板体が、この順序に同心上に積層された構成である。
2 格子パターン
3 物体の表面
Claims (13)
- 物体の表面に存在する格子模様の所定の領域を光学式カメラで撮影し、
前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めることを特徴とする格子画像の位相解析方法。 - 物体の表面に存在する規則正しい模様を基準格子とし、力を加える前と後のそれぞれの所定の領域を光学式カメラで撮影するステップと、
撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布を求めるステップと、
変形前後の位相分布から得られる位相差分布から、物体の変位を検出するステップとを含むことを特徴とする物体の変位測定方法。 - 物体の表面に存在する規則正しい模様は、測定したい精度に応じたピッチ間隔の矩形波形または正弦状波形の明るさ分布を有する格子パターンが描かれたシート体を貼付けることによって形成され、このシート体に描かれた格子パターンを基準格子として測定を行うことを特徴とする請求項2に記載の物体の変位測定方法。
- 前記位相差分布に基づいて、変位量分布を算出することを特徴とする請求項2または3に記載の物体の変位測定方法。
- 前記変位量分布に基づいて、ひずみまたは応力分布を算出することを特徴とする請求項4に記載の物体の変位測定方法。
- 請求項1の方法により得られたモアレ縞の位相分布と、そのとき用いたサンプリング間隔で決められる位相分布とによって、演算処理により格子の位相分布を求めることを特徴とする位相解析方法。
- 2次元状の格子を用いて、横方向および縦方向の各位相分布を求めることを特徴とする請求項2〜5のいずれか1つに記載の物体の変位測定方法。
- 物体の表面に格子パターンが描かれたシート体を貼付けることによって、前記物体の表面に格子パターンを形成し、この格子パターンを基準格子として測定することを特徴とする請求項2に記載の物体の変位測定方法。
- 物体の変位を3次元的に検出することを特徴とする請求項8に記載の物体の変位測定方法。
- 2次元の位相分布を使って、異なる位置に設置された複数台のカメラの撮影画像内での対応点を検出することを特徴とする請求項8に記載の物体の変位測定方法。
- 前記複数台のカメラの撮影画像内の対応点の検出結果を用いて、物体の3次元形状を測定することを特徴とする請求項10に記載の物体の変位測定方法。
- 前記測定された物体の3次元形状を用いて、物体の表面のひずみ分布を求めることを特徴とする請求項11に記載の物体の変位測定方法。
- 物体の表面に投影機によって格子状のパターンを投影し、
物体の表面に投影された格子模様の所定の領域を光学式カメラで撮影し、
前記撮影された画像に対して、等間隔の画素ごとのサンプリングを、起点の画素を変えながら3回以上の複数回実行し、このサンプリング処理によって得られた間引き画像を補間処理することによってモアレ縞画像を生成し、位相シフト法によって得られるモアレ縞の位相分布から物体の形状を求めることを特徴とする物体の形状測定方法。
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---|---|
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Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011027509A (ja) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | タイヤ解析システムおよびタイヤ解析方法 |
JP2011174874A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Wakayama Univ | 変位計測装置、方法およびプログラム |
JP2011227080A (ja) * | 2010-04-16 | 2011-11-10 | Koh Young Technology Inc | オブジェクト領域とグラウンド領域とを区別する方法及び3次元形状測定方法。 |
JP2012107896A (ja) * | 2010-11-15 | 2012-06-07 | Chubu Electric Power Co Inc | 高温配管の応力測定方法 |
WO2013019992A1 (en) | 2011-08-02 | 2013-02-07 | The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | System and method for remote full field three-dimensional displacement and strain measurements |
JP2013221801A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Motoharu Fujigaki | 三次元変位計測方法とその装置 |
JP5466325B1 (ja) * | 2013-07-19 | 2014-04-09 | 元治 藤垣 | 物体に取り付けた格子の画像から物体の物理量を測定する方法 |
JP2014130084A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | タイヤ解析システムおよび解析方法 |
JP2014153177A (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-25 | Evolve Technology Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
JP2014178208A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 形状解析装置および形状解析方法 |
JP2015184043A (ja) * | 2014-03-20 | 2015-10-22 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | シート及び建造物変形評価用物品 |
JP2015210081A (ja) * | 2014-04-23 | 2015-11-24 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤ形状解析装置およびタイヤ形状解析方法 |
WO2016001986A1 (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-07 | 4Dセンサー株式会社 | 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US9423243B1 (en) | 2015-02-26 | 2016-08-23 | Konica Minolta, Inc. | Strain sensor and method of measuring strain amount |
WO2018061321A1 (ja) * | 2016-09-27 | 2018-04-05 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 周期模様を利用した三次元形状・変位・ひずみ測定装置、方法およびそのプログラム |
JP2018109593A (ja) * | 2017-01-06 | 2018-07-12 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | モアレによる材料の欠陥分布の可視化方法およびその自動検出方法、プログラム、装置 |
WO2018155115A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 変形測定方法、変形測定装置、及びそのプログラム |
JP2018136273A (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 残留熱ひずみ測定方法、残留熱ひずみ測定装置、及びそのプログラム |
JP2018205430A (ja) * | 2017-05-31 | 2018-12-27 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 位相シフトデジタルホログラフィ装置及びそのプログラム |
JP2019007910A (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社東芝 | 結晶解析装置及び結晶解析方法 |
US10267626B2 (en) | 2014-06-30 | 2019-04-23 | 4D Sensor Inc. | Measurement method, measurement apparatus, measurement program and computer readable recording medium in which measurement program has been recorded |
JP2019066369A (ja) * | 2017-10-03 | 2019-04-25 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 汚れの影響を受けにくいひずみ分布測定方法とそのプログラム |
CN109682289A (zh) * | 2019-01-31 | 2019-04-26 | 武汉联航机电有限公司 | 一种认面机构 |
JP2019152498A (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-12 | 株式会社共和電業 | 2次元格子パターンを用いる面外変位計測方法およびその装置 |
EP3425325A4 (en) * | 2016-02-10 | 2020-01-08 | National Institute Of Advanced Industrial Science | DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND PROGRAM THEREFOR |
JP2020016092A (ja) * | 2018-07-26 | 2020-01-30 | 東洋建設株式会社 | 打設杭の打ち止め管理方法及び打設杭の打ち止め管理補助システム |
US10551177B2 (en) | 2016-04-06 | 2020-02-04 | 4D Sensor Inc. | Apparatus and method for measuring 3D form or deformation of an object surface using a grid pattern and reference plane |
JP2020030071A (ja) * | 2018-08-21 | 2020-02-27 | 凸版印刷株式会社 | 情報検出方法及び情報検出シート、並びに対象物体 |
JP2020076629A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | 鹿島建設株式会社 | 変位計測方法及び変位計測システム |
KR102161452B1 (ko) * | 2019-07-24 | 2020-10-05 | (주)칼리온 | 스캐너 움직임에 따른 모션 유효성 검출 장치 및 그 방법 |
WO2022162898A1 (ja) * | 2021-01-29 | 2022-08-04 | 日本電信電話株式会社 | Uボルト、施工方法及び検出装置 |
KR20220117109A (ko) * | 2021-02-15 | 2022-08-23 | 인하대학교 산학협력단 | 모아레 현상을 이용한 시설물 변위 측정 모니터링 장치 및 그 방법 |
CN117804349A (zh) * | 2024-03-01 | 2024-04-02 | 中国科学技术大学 | 一种基于莫尔条纹相关计算的光栅位移传感器调试方法 |
JP7498651B2 (ja) | 2020-02-21 | 2024-06-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 三次元計測装置 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5818218B2 (ja) | 2012-03-14 | 2015-11-18 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 高次元輝度情報を用いた縞画像の位相分布解析方法、装置およびそのプログラム |
WO2015008404A1 (ja) | 2013-07-18 | 2015-01-22 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 規則性模様による変位分布のための測定方法、装置およびそのプログラム |
JP6404070B2 (ja) * | 2014-10-01 | 2018-10-10 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | マルチスケール変形計測用格子パターンとその製作方法 |
CN106407153B (zh) * | 2016-11-23 | 2019-08-23 | 一诺仪器(中国)有限公司 | 一种高分辨率数据采集方法及装置 |
JP7315936B2 (ja) * | 2021-04-09 | 2023-07-27 | 株式会社共和電業 | 変位量計測方法、変位量計測装置、変位量計測システム、および、変位量計測プログラム |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0587541A (ja) * | 1991-05-20 | 1993-04-06 | Suezo Nakatate | 2次元情報測定装置 |
JPH0921620A (ja) * | 1995-07-05 | 1997-01-21 | Fuji Facom Corp | 物体の三次元形状計測方法 |
JP2000121335A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-04-28 | Canon Inc | モアレ測定方法及びそれを用いたモアレ測定装置 |
JP2002013918A (ja) * | 2000-06-29 | 2002-01-18 | Fuji Xerox Co Ltd | 3次元画像生成装置および3次元画像生成方法 |
JP2002286415A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Olympus Optical Co Ltd | 距離情報取得装置又はシステム、パターン投影装置、及び、距離情報取得方法 |
JP2003185507A (ja) * | 2001-12-19 | 2003-07-03 | Yukio Fujimoto | 応力分布測定テープおよび応力分布測定方法 |
JP2004317316A (ja) * | 2003-04-16 | 2004-11-11 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | ゴム製品の表面ひずみ測定用シート及びゴム製品の表面ひずみ測定方法、並びにタイヤの表面ひずみ測定用シート及びタイヤの表面ひずみ測定方法 |
JP2005202945A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-28 | United Technol Corp <Utc> | Cadモデリングシステム及び方法 |
JP2006329628A (ja) * | 2005-05-23 | 2006-12-07 | Hitachi Zosen Corp | 構造物における変形量計測方法 |
JP2007071769A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Wakayama Univ | モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法 |
-
2008
- 2008-04-23 JP JP2008113236A patent/JP4831703B2/ja active Active
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0587541A (ja) * | 1991-05-20 | 1993-04-06 | Suezo Nakatate | 2次元情報測定装置 |
JPH0921620A (ja) * | 1995-07-05 | 1997-01-21 | Fuji Facom Corp | 物体の三次元形状計測方法 |
JP2000121335A (ja) * | 1998-10-08 | 2000-04-28 | Canon Inc | モアレ測定方法及びそれを用いたモアレ測定装置 |
JP2002013918A (ja) * | 2000-06-29 | 2002-01-18 | Fuji Xerox Co Ltd | 3次元画像生成装置および3次元画像生成方法 |
JP2002286415A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Olympus Optical Co Ltd | 距離情報取得装置又はシステム、パターン投影装置、及び、距離情報取得方法 |
JP2003185507A (ja) * | 2001-12-19 | 2003-07-03 | Yukio Fujimoto | 応力分布測定テープおよび応力分布測定方法 |
JP2004317316A (ja) * | 2003-04-16 | 2004-11-11 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | ゴム製品の表面ひずみ測定用シート及びゴム製品の表面ひずみ測定方法、並びにタイヤの表面ひずみ測定用シート及びタイヤの表面ひずみ測定方法 |
JP2005202945A (ja) * | 2003-12-17 | 2005-07-28 | United Technol Corp <Utc> | Cadモデリングシステム及び方法 |
JP2006329628A (ja) * | 2005-05-23 | 2006-12-07 | Hitachi Zosen Corp | 構造物における変形量計測方法 |
JP2007071769A (ja) * | 2005-09-08 | 2007-03-22 | Wakayama Univ | モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法 |
Cited By (55)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011027509A (ja) * | 2009-07-23 | 2011-02-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | タイヤ解析システムおよびタイヤ解析方法 |
JP2011174874A (ja) * | 2010-02-25 | 2011-09-08 | Wakayama Univ | 変位計測装置、方法およびプログラム |
JP2011227080A (ja) * | 2010-04-16 | 2011-11-10 | Koh Young Technology Inc | オブジェクト領域とグラウンド領域とを区別する方法及び3次元形状測定方法。 |
US8855403B2 (en) | 2010-04-16 | 2014-10-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of discriminating between an object region and a ground region and method of measuring three dimensional shape by using the same |
JP2012107896A (ja) * | 2010-11-15 | 2012-06-07 | Chubu Electric Power Co Inc | 高温配管の応力測定方法 |
WO2013019992A1 (en) | 2011-08-02 | 2013-02-07 | The Government Of The United States Of America, As Represented By The Secretary Of The Navy | System and method for remote full field three-dimensional displacement and strain measurements |
EP2740075A1 (en) * | 2011-08-02 | 2014-06-11 | The Government of the United States of America as represented by the Secretary of the Navy | System and method for remote full field three-dimensional displacement and strain measurements |
US9046353B2 (en) | 2011-08-02 | 2015-06-02 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | System and method for remote full field three-dimensional displacement and strain measurements |
EP2740075A4 (en) * | 2011-08-02 | 2014-12-31 | Us Gov Sec Navy | SYSTEM AND METHOD FOR THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENTS OF REMOTE FIELD TRANSPORTATION AND DISPLACEMENT |
JP2013221801A (ja) * | 2012-04-13 | 2013-10-28 | Motoharu Fujigaki | 三次元変位計測方法とその装置 |
JP2014130084A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | タイヤ解析システムおよび解析方法 |
JP2014153177A (ja) * | 2013-02-08 | 2014-08-25 | Evolve Technology Co Ltd | 検査装置および検査方法 |
JP2014178208A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Yokohama Rubber Co Ltd:The | 形状解析装置および形状解析方法 |
JP5466325B1 (ja) * | 2013-07-19 | 2014-04-09 | 元治 藤垣 | 物体に取り付けた格子の画像から物体の物理量を測定する方法 |
JP2015021870A (ja) * | 2013-07-19 | 2015-02-02 | 藤垣 元治 | 物体に取り付けた格子の画像から物体の物理量を測定する方法 |
JP2015184043A (ja) * | 2014-03-20 | 2015-10-22 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | シート及び建造物変形評価用物品 |
US10962352B2 (en) | 2014-03-20 | 2021-03-30 | 3M Innovative Properties Company | Sheet and structural deformation-evaluating article |
JP2015210081A (ja) * | 2014-04-23 | 2015-11-24 | 横浜ゴム株式会社 | タイヤ形状解析装置およびタイヤ形状解析方法 |
WO2016001986A1 (ja) * | 2014-06-30 | 2016-01-07 | 4Dセンサー株式会社 | 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
CN105593635A (zh) * | 2014-06-30 | 2016-05-18 | 4维传感器有限公司 | 测量方法、测量装置、测量程序以及记录有测量程序的计算机可读记录介质 |
JPWO2016001986A1 (ja) * | 2014-06-30 | 2017-04-27 | 4Dセンサー株式会社 | 計測方法、計測装置、計測プログラム及び計測プログラムを記録した、コンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US9891042B2 (en) | 2014-06-30 | 2018-02-13 | 4D Sensor Inc. | Measurement method, measurement apparatus, measurement program and computer readable recording medium in which measurement program has been recorded |
US10267626B2 (en) | 2014-06-30 | 2019-04-23 | 4D Sensor Inc. | Measurement method, measurement apparatus, measurement program and computer readable recording medium in which measurement program has been recorded |
US9423243B1 (en) | 2015-02-26 | 2016-08-23 | Konica Minolta, Inc. | Strain sensor and method of measuring strain amount |
EP3425325A4 (en) * | 2016-02-10 | 2020-01-08 | National Institute Of Advanced Industrial Science | DISPLACEMENT MEASURING DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD AND PROGRAM THEREFOR |
US10551177B2 (en) | 2016-04-06 | 2020-02-04 | 4D Sensor Inc. | Apparatus and method for measuring 3D form or deformation of an object surface using a grid pattern and reference plane |
US10655954B2 (en) | 2016-09-27 | 2020-05-19 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Three-dimensional shape, displacement, and strain measurement device and method using periodic pattern, and program therefor |
WO2018061321A1 (ja) * | 2016-09-27 | 2018-04-05 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 周期模様を利用した三次元形状・変位・ひずみ測定装置、方法およびそのプログラム |
JPWO2018061321A1 (ja) * | 2016-09-27 | 2019-04-18 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 周期模様を利用した三次元形状・変位・ひずみ測定装置、方法およびそのプログラム |
JP2018109593A (ja) * | 2017-01-06 | 2018-07-12 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | モアレによる材料の欠陥分布の可視化方法およびその自動検出方法、プログラム、装置 |
KR102521925B1 (ko) * | 2017-02-23 | 2023-04-17 | 나믹스 코포레이션 | 잔류 열변형 측정 방법, 잔류 열변형 측정 장치, 및 그 프로그램 |
WO2018155115A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 変形測定方法、変形測定装置、及びそのプログラム |
US11674793B2 (en) | 2017-02-23 | 2023-06-13 | Namics Corporation | Residual thermal strain measurement method, residual thermal strain measurement device, and program therefor |
KR20190121342A (ko) * | 2017-02-23 | 2019-10-25 | 나믹스 코포레이션 | 잔류 열변형 측정 방법, 잔류 열변형 측정 장치, 및 그 프로그램 |
JPWO2018155115A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2019-11-07 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 変形測定方法、変形測定装置、及びそのプログラム |
JP2018136273A (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 残留熱ひずみ測定方法、残留熱ひずみ測定装置、及びそのプログラム |
WO2018155378A1 (ja) * | 2017-02-23 | 2018-08-30 | ナミックス株式会社 | 残留熱ひずみ測定方法、残留熱ひずみ測定装置、及びそのプログラム |
JP2018205430A (ja) * | 2017-05-31 | 2018-12-27 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 位相シフトデジタルホログラフィ装置及びそのプログラム |
JP2019007910A (ja) * | 2017-06-28 | 2019-01-17 | 株式会社東芝 | 結晶解析装置及び結晶解析方法 |
JP2019066369A (ja) * | 2017-10-03 | 2019-04-25 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 | 汚れの影響を受けにくいひずみ分布測定方法とそのプログラム |
JP2019152498A (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-12 | 株式会社共和電業 | 2次元格子パターンを用いる面外変位計測方法およびその装置 |
JP7078928B2 (ja) | 2018-03-01 | 2022-06-01 | 株式会社共和電業 | 2次元格子パターンを用いる面外変位計測方法およびその装置 |
JP2020016092A (ja) * | 2018-07-26 | 2020-01-30 | 東洋建設株式会社 | 打設杭の打ち止め管理方法及び打設杭の打ち止め管理補助システム |
JP2020030071A (ja) * | 2018-08-21 | 2020-02-27 | 凸版印刷株式会社 | 情報検出方法及び情報検出シート、並びに対象物体 |
JP2020076629A (ja) * | 2018-11-07 | 2020-05-21 | 鹿島建設株式会社 | 変位計測方法及び変位計測システム |
JP7009346B2 (ja) | 2018-11-07 | 2022-01-25 | 鹿島建設株式会社 | 変位計測方法及び変位計測システム |
CN109682289B (zh) * | 2019-01-31 | 2024-04-09 | 武汉联航机电有限公司 | 一种认面机构 |
CN109682289A (zh) * | 2019-01-31 | 2019-04-26 | 武汉联航机电有限公司 | 一种认面机构 |
KR102161452B1 (ko) * | 2019-07-24 | 2020-10-05 | (주)칼리온 | 스캐너 움직임에 따른 모션 유효성 검출 장치 및 그 방법 |
JP7498651B2 (ja) | 2020-02-21 | 2024-06-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 三次元計測装置 |
WO2022162898A1 (ja) * | 2021-01-29 | 2022-08-04 | 日本電信電話株式会社 | Uボルト、施工方法及び検出装置 |
KR20220117109A (ko) * | 2021-02-15 | 2022-08-23 | 인하대학교 산학협력단 | 모아레 현상을 이용한 시설물 변위 측정 모니터링 장치 및 그 방법 |
KR102657541B1 (ko) * | 2021-02-15 | 2024-04-16 | 인하대학교 산학협력단 | 모아레 현상을 이용한 시설물 변위 측정 모니터링 장치 및 그 방법 |
CN117804349A (zh) * | 2024-03-01 | 2024-04-02 | 中国科学技术大学 | 一种基于莫尔条纹相关计算的光栅位移传感器调试方法 |
CN117804349B (zh) * | 2024-03-01 | 2024-04-30 | 中国科学技术大学 | 一种基于莫尔条纹相关计算的光栅位移传感器调试方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4831703B2 (ja) | 2011-12-07 |
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