JP2009198291A - 半導体試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ネットワークライセンス方式でライセンス管理を行う半導体試験装置において、テストデバッグおよび半導体の連続テスト機能をライセンス管理対象の制限機能の利用として判別する制限機能利用判別手段と、この制限機能利用判別手段で判別されたテスト機能実行中には各テスト単位が終わった時点でライセンスサーバーにライセンス使用状態を問い合わせるライセンス確保状態成立確認手段、が設けられたことを特徴とするもの。
【選択図】 図1
Description
21〜2X 半導体試験装置
4 ライセンスサーバー
5 ライセンスファイル
a 制限機能利用確認部
b 使用機能ライセンス確保部
c テストエンド確認部
d ライセンス確保状態成立確認部
e ライセンス不要確認部
f ラスセンスサーバー異常処理部
Claims (3)
- ネットワークライセンス方式でライセンス管理を行う半導体試験装置において、
テストデバッグおよび半導体の連続テスト機能をライセンス管理対象の制限機能の利用として判別する制限機能利用判別手段と、
この制限機能利用判別手段で判別されたテスト機能実行中には各テスト単位が終わった時点でライセンスサーバーにライセンス使用状態を問い合わせるライセンス確保状態成立確認手段、
が設けられたことを特徴とする半導体試験装置。 - 前記制限機能利用判別手段で制限機能利用と判別されたテスト機能に関連する診断機能および校正機能についてはその利用範囲が任意に選択できることを特徴とする請求項1記載の半導体試験装置。
- 前記制限機能判別手段は、制限機能利用と判別されたテスト機能に関連する診断機能および校正機能以外の他の診断機能および校正機能を非制限機能利用と判別することを特徴とする請求項1記載の半導体試験装置。
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