JP2009049448A - 試験装置および試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験する。
【解決手段】同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成部と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
【選択図】図１

Description

本発明は、試験装置および試験方法に関する。特に本発明は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置および試験方法に関する。

無線通信の空間多重伝送技術として、ＭＩＭＯ（Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ｉｎｐｕｔ Ｍｕｌｔｉｐｌｅ Ｏｕｔｐｕｔ）が知られている。ＭＩＭＯを利用した通信装置は、同一のキャリア周波数の複数の変調信号を同時に無線送信する。ＭＩＭＯは、例えば、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎ等への採用が予定されている。

なお、現時点で先行技術文献の存在を認識していないので、先行技術文献に関する記載を省略する。

ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する試験装置は、当該通信装置から複数の変調信号を同時に出力させ、これら複数の変調信号を同時に復調およびアナログデジタル変換して良否判定する。従って、当該試験装置は、複数の変調信号のそれぞれに対応した複数の復調器および複数のアナログデジタル変換器を備えなければならなかった。これにより、ＭＩＭＯを利用した通信装置を試験する従来の試験装置は、構成が大きくなり、高価となっていた。

そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置および試験方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成部と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。

ＡＤ変換部は、合成部が出力する合成信号を直交復調して復調信号を出力する復調器と、復調信号の同相成分をサンプリングして当該同相成分に応じた第１のデジタル信号を出力する第１ＡＤ変換器と、復調信号の直交成分をサンプリングして当該直交成分に応じた第２のデジタル信号を出力する第２ＡＤ変換器とを有し、判定部は、第１のデジタル信号および第２のデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定してよい。

ＡＤ変換部は、合成部が出力する合成信号に対して所定の周波数のローカル信号を乗じて、合成信号の周波数を低下させた中間信号を出力する周波数変換部と、中間信号をサンプリングして中間信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換器と、デジタル信号を直交復調して復調信号を出力する復調器とを有し、判定部は、復調信号の同相成分を示す第１のデジタル信号および直交成分を示す第２のデジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定してよい。

ＡＤ変換部は、復調器が出力する第１のデジタル信号および第２のデジタル信号のそれぞれのデータ値を間引きすることにより、第１のデジタル信号および第２のデジタル信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有してよい。

被試験デバイスは、複数のベースバンド信号のそれぞれを直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成するものであり、判定部は、復調信号の振幅および位相が、複数のベースバンド信号の組み合わせに応じて定められた振幅および位相の期待値の範囲内に含まれるか否かに基づいて、複数の変調信号の良否を判定してよい。

被試験デバイスは、複数のベースバンド信号のそれぞれを略同一のゲインで直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成する第１モードと、異なるゲインで直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成する第２モードとのいずれで動作するかを切替可能であり、試験装置は、被試験デバイスを第１モードで動作させた状態で判定部により複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行い、第１の試験において複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として被試験デバイスを第２モードで動作させた状態で判定部により複数の変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う試験制御部を更に備え、試験制御部は、第１の試験および第２の試験のいずれにおいても複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として、被試験デバイスが良品であると判定してよい。

複数の変調信号のそれぞれに対応して設けられ、対応する当該変調信号を合成部に供給するか否かをそれぞれ切り替える複数のスイッチと、複数のスイッチをオンとした状態で判定部により複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行い、第１の試験において複数の変調信号が異常であると判定されたことを条件として、複数の変調信号の中から選択した少なくとも１つの変調信号に対応する少なくとも１つのスイッチをオンとし他のスイッチをオフとした状態で判定部により少なくとも１つの変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う試験制御部を更に備えてよい。

本発明の第２形態においては、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定する判定段階とを備える試験方法を提供する。

本発明の第３形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成部と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号の良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。

本発明の第４形態においては、複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数のベースバンド信号の良否を判定する判定段階とを備える試験方法を提供する。

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

本発明によれば、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスまたは複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを、簡単な構成により試験することができる。

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。試験装置１０は、被試験デバイス１００を試験する。被試験デバイス１００は、同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する。本実施形態において、被試験デバイス１００は、複数の出力データを同一周波数のキャリア信号に対してそれぞれ直交変調して複数の変調信号を生成し、生成したこれら複数の変調信号を受信側の機器に対して出力する。被試験デバイス１００は、一例として、ＩＥＥＥ８０２．１１ｎにおいて採用されるＭＩＭＯ方式に対応した複数の変調信号を、それぞれ異なるアンテナから出力してよい。

試験装置１０は、試験信号発生部１２と、合成部１４と、ＡＤ変換部１６と、判定部１８と、試験制御部２０とを備える。試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数の変調信号を同時出力させる。合成部１４は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数の変調信号を入力する。そして、合成部１４は、入力した複数の変調信号を１つの信号に合成し、合成した合成信号を出力する。本実施形態において、合成部１４は、複数の変調信号を加算する加算部３２を有してよい。加算部３２は、複数の変調信号を加算することにより合成信号を生成する。

ＡＤ変換部１６は、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力する。本実施形態において、ＡＤ変換部１６は、合成信号を直交復調して、復調信号の同相成分および直交成分のデジタル信号を出力する。ＡＤ変換部１６は、一例として、復調器３４と、第１アンチエイリアシングフィルタ３６と、第２アンチエイリアシングフィルタ３８と、第１ＡＤ変換器４０と、第２ＡＤ変換器４２とを有してよい。

復調器３４は、合成部１４が出力する合成信号を直交復調して復調信号を出力する。より詳しくは、復調器３４は、キャリア信号ｆｃにより合成信号を直交復調して、復調信号の同相成分（Ｉ成分）及び直交成分（Ｑ成分）を出力する。第１アンチエイリアシングフィルタ３６は、復調器３４から出力された復調信号の同相成分をフィルタリングして、当該同相成分に含まれているエイリアスを除去する。第２アンチエイリアシングフィルタ３８は、復調器３４から出力された復調信号の直交成分をフィルタリングして、当該直交成分に含まれているエイリアスを除去する。第１アンチエイリアシングフィルタ３６および第２アンチエリアシングフィルタ２８は、一例として、ローパスフィルタにより構成されてよい。

第１ＡＤ変換器４０は、第１アンチエイリアシングフィルタ３６によりフィルタリングされた復調信号の同相成分をサンプリングして当該同相成分に応じた第１のデジタル信号を出力する。第２ＡＤ変換器４２は、第２アンチエイリアシングフィルタ３８によりフィルタリングされた復調信号の直交成分をサンプリングして当該直交成分に応じた第２のデジタル信号を出力する。

判定部１８は、ＡＤ変換部１６から出力されたデジタル信号に基づいて、被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号の良否を判定する。本実施形態において、判定部１８は、第１のデジタル信号および第２のデジタル信号に基づいて、被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号の良否を判定する。そして、判定部１８は、良否判定結果を外部に出力する。

本実施形態において、判定部１８は、復調信号記憶部５２と、期待値記憶部５４と、演算部５６とを有する。復調信号記憶部５２は、ＡＤ変換部１６から出力された第１のデジタル信号および第２のデジタル信号を記憶する。期待値記憶部５４は、復調信号として取得されるべき期待値を示す期待値信号を記憶する。演算部５６は、復調信号記憶部５２に記憶された第１のデジタル信号および第２のデジタル信号により特定される直交座標上の信号点と、期待値記憶部５４に記憶された期待値信号により特定される直交座標上の信号点とを比較して、被試験デバイス１００から出力された複数の変調信号の良否を判定する。

このような試験装置１０によれば、合成した複数の変調信号に対して良否判定をするので、復調およびアナログデジタル変換処理に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、復調およびアナログデジタル変換処理回路間の特性あわせを不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。

図２は、各ベースバンド信号を異なるゲインで送信するモードにより被試験デバイス１００を動作させた場合における、ベースバンド信号の信号点の一例および合成信号の信号点の一例を示す。図３は、各ベースバンド信号を同一のゲインで送信するモードにより被試験デバイス１００を動作させた場合における、ベースバンド信号の信号点の一例および合成信号の信号点の一例を示す。

本実施形態において、被試験デバイス１００は、位相同期した複数のベースバンド信号のそれぞれを、同一周波数のキャリア信号により直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成する。これら複数の変調信号を加算した合成信号を直交復調して得られる同相成分は、各ベースバンド信号の同相成分同士を加算した信号に一致する。同様に、これら複数の変調信号を加算した合成信号を直交復調して得られる直交成分は、各ベースバンド信号の直交成分同士を加算した信号と一致する。従って、判定部１８は、被試験デバイス１００により生成されるべき各ベースバンド信号の同相成分同士を加算した信号と、被試験デバイス１００により生成されるべき各ベースバンド信号の直交成分同士を加算した信号とを、期待値信号としてよい。

このような期待値信号を記憶した判定部１８は、復調信号の直交座標上における信号点と、期待値信号の直交座標上の信号点とを比較して、複数の変調信号の良否を判定してよい。より具体的には、判定部１８は、復調信号の振幅および位相が、複数のベースバンド信号の組み合わせに応じて定められた振幅および位相の期待値の範囲内に含まれるか否かに基づいて、複数の変調信号の良否を判定してよい。また、判定部１８は、一例として、第１デジタル信号および第２デジタル信号により表される信号点と最も近い理想的な信号点が、期待値信号により表される信号点と一致するか否かにより、良否を判定してよい。また、判定部１８は、一例として、第１デジタル信号および第２デジタル信号により表される信号点と、期待値信号により表される信号点との距離を算出して、当該距離が予め定められた値以下の場合には正常と判断し、当該距離が予め定められた値より大きい場合には、異常と判断してよい。

また、本実施形態において、被試験デバイス１００は、複数のベースバンド信号のそれぞれを略同一のゲインで直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成するモード（以下、第１モードと称する。）と、複数のベースバンド信号のそれぞれを異なるゲインで直交変調して複数の変調信号のそれぞれを生成するモード（以下、第２モードと称する。）とのいずれで動作するかを切替可能である。

ここで、被試験デバイス１００を第２モードで動作させた場合における合成信号の信号点は、当該被試験デバイス１００から出力される変調信号と、ベースバンド信号に含まれる信号点との組み合わせの数だけ、存在する。例えば、ベースバンド信号がＱＰＳＫで変調されている場合には、図２に示すように、被試験デバイス１００を第２モードで動作させた場合における合成信号の信号点は、１６点となる。

これに対して、被試験デバイス１００を第１モードで動作させた場合における合成信号の信号点の数は、信号点が共通する組み合わせが存在することから、当該被試験デバイス１００から出力される変調信号とベースバンド信号に含まれる信号点との組み合わせの数よりも、少ない。従って、被試験デバイス１００を第１モードで動作させた場合における合成信号の信号点は、第２モードで動作させた場合における合成信号の信号点よりも、少なくなる。例えば、ベースバンド信号がＱＰＳＫで変調されている場合には、図３に示すように、被試験デバイス１００を第１モードで動作させた場合における合成信号の信号点は、９点となる。

これにより、第１モードで動作させた場合における良否判定のための演算量は、第２モードで動作させた場合における良否判定のための演算量よりも少なくなる。よって、試験装置１０によれば、被試験デバイス１００を第１のモードで動作させることにより、良否判定処理をより高速に行うことができる。

また、ＭＩＭＯに対応した被試験デバイス１００のなかには、第２モードで動作する場合、変調信号中における例えばプリアンブルと呼ばれる所定の位置に各ベースバンド信号のゲインを示す情報を含めるものがある。このような被試験デバイス１００を第２のモードで動作させて試験をする場合、合成部１４は、各変調信号中における所定の位置からゲインの設定値を取得してよい。そして、合成部１４は、取得した設定値に応じて被試験デバイス１００から入力した各変調信号のレベルを調整して、それぞれの変調信号に対応するベースバンド信号のゲインを略一定としてよい。これにより、試験装置１０は、被試験デバイス１００を第２モードで動作させた場合であっても、第１モードで動作させた場合と同様に合成信号の信号点を少なくし、良否判定のための処理量を少なくすることができる。

図４は、試験装置１０の試験手順の一例を示す。まず、試験制御部２０は、被試験デバイス１００を第１モードにより動作させる試験信号を試験信号発生部１２により発生させる。そして、試験制御部２０は、被試験デバイス１００を第１モードで動作させた状態で判定部１８により複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行う（Ｓ１１）。

次に、試験制御部２０は、第１の試験において複数の変調信号が正常であると判定されたか否かを判断する（Ｓ１２）。判断の結果、第１の試験において複数の変調信号が異常であると判断する場合（Ｓ１２のＮｏ）、被試験デバイス１００が不良であるとして判定して、処理を終了する。

次に、試験制御部２０は、第１の試験において複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として（Ｓ１２のＹｅｓ）、被試験デバイス１００を第２モードにより動作させる試験信号を試験信号発生部１２により発生させる。そして、試験制御部２０は、被試験デバイス１００を第２モードで動作させた状態で判定部１８により複数の変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う（Ｓ１３）。

次に、試験制御部２０は、第２の試験において複数の変調信号が正常であると判定されたか否かを判断する（Ｓ１４）。判断の結果、第２の試験において複数の変調信号が異常であると判断する場合（Ｓ１４のＮｏ）、被試験デバイス１００が不良であるとして判定して、処理を終了する。

そして、試験制御部２０は、第１の試験および第２の試験のいずれにおいても複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として、被試験デバイス１００が良品であると判定する（Ｓ１４のＹｅｓ）。

以上の手順で試験することにより、試験装置１０によれば、第１モードで動作させた状態での試験で正常であると判定された被試験デバイス１００に対してだけ、処理量の多い第２モードで動作させた状態での試験を行うことができる。これにより、試験装置１０によれば、複数の被試験デバイス１００を効率よく試験することができる。

図５は、本実施形態の第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。第１変形例は、図１に示す試験装置１０と略同一の構成及び機能を採るので、図５中における図１と略同一の部材については同一の符号を付け、以下、本実施形態との相違点を除き説明を省略する。

本変形例において、試験装置１０は、スイッチ部６０を更に備える。スイッチ部６０は、被試験デバイス１００から出力される複数の変調信号のそれぞれに対応して設けられた複数のスイッチ６２を含む。スイッチ６２のそれぞれは、対応する当該変調信号を合成部１４に供給するか否かをそれぞれ切り替える。

このようなスイッチ部６０が設けられている場合、まず、試験制御部２０は、複数のスイッチ６２をオンとした状態で判定部１８により複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行う。次に、試験制御部２０は、第１の試験において複数の変調信号が異常であると判定されたことを条件として、複数の変調信号の中から選択した少なくとも１つの変調信号に対応する少なくとも１つのスイッチ６２をオンとし他のスイッチ６２をオフとした状態で判定部１８により少なくとも１つの変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う。

以上の手順で試験することにより、試験装置１０によれば、合成信号により被試験デバイス１００の良否判定をした結果、異常であると判定された被試験デバイス１００に対してだけ、変調信号のそれぞれを個別に試験することができる。これにより、試験装置１０によれば、複数の被試験デバイス１００を効率よく試験することができる。

図６は、第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。第２変形例は、図１に示す試験装置１０と略同一の構成及び機能を採るので、図６中における図１と略同一の部材については同一の符号を付け、以下、本実施形態との相違点を除き説明を省略する。

本変形例において、ＡＤ変換部１６は、周波数変換部７２と、第３アンチエイリアシングフィルタ７４と、第３ＡＤ変換器７６と、デジタル復調部７８と、デシメーションフィルタ部８０とを有する。周波数変換部７２は、合成部１４が出力する合成信号に対して所定の周波数のローカル信号を乗じて、合成信号の周波数を低下させた中間信号を出力する。周波数変換部７２は、一例として、キャリア周波数ｆｃに中間周波数Δｆを加えた周波数のローカル信号を、合成信号に乗じてよい。なお、この場合において、周波数変換部７２は、中間周波数Δｆを、変調信号の帯域幅の１／２の周波数より高い周波数とする。一例として、変調信号のキャリア周波数ｆｃが５．２ＧＨｚ、変調信号の帯域幅が４０ＭＨｚであれば、周波数変換部７２は、キャリア周波数ｆｃに、少なくとも２０ＭＨｚより高い中間周波数Δｆを加えた周波数のローカル信号を、合成信号に乗じる。

第３アンチエイリアシングフィルタ７４は、周波数変換部７２から出力された中間信号をフィルタリングして、当該中間信号に含まれているエイリアスを除去する。第３ＡＤ変換器７６は、第３アンチエイリアシングフィルタ７４によりフィルタリングされた中間信号をサンプリングして中間信号に応じたデジタル信号を出力する。デジタル復調部７８は、第３ＡＤ変換器７６から出力されたデジタル信号を直交復調して復調信号を出力する。より詳しくは、デジタル復調部７８は、中間周波数Δｆにより第３ＡＤ変換器７６から出力されたデジタル信号を直交復調して、復調信号の同相成分を示す第１のデジタル信号および直交成分を示す第２のデジタル信号を出力する。

デシメーションフィルタ部８０は、デジタル復調部７８が出力する第１のデジタル信号および第２のデジタル信号のそれぞれのデータ値を間引きすることにより、第１のデジタル信号および第２のデジタル信号のサンプリング周波数を低下させる。そして、判定部１８は、復調信号の同相成分を示す第１のデジタル信号および直交成分を示す第２のデジタル信号に基づいて、被試験デバイス１００が出力した複数の変調信号の良否を判定する。

本変形例に係る試験装置１０によれば、中間信号に対してフィルタリング及びアナログデジタル変換をするので、第３アンチエイリアシングフィルタ７４および第３ＡＤ変換器７６をそれぞれ一つずつ備えればよい。従って、試験装置１０によれば、復調およびアナログデジタル変換処理回路の規模を小さくすることができる。さらに、本変形例に係る試験装置１０によれば、デシメーションフィルタ部８０によりデータ値を間引きした後に良否判定をするので、良否判定のための処理量を少なくすることができる。

図７は、第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。第３変形例において、被試験デバイス１００は、複数の変調信号に代えて、同相成分（Ｉ）および直交成分（Ｑ）を含む複数のベースバンド信号を出力する。第３変形例に係る試験装置１０は、複数の変調信号に代えて複数のベースバンド信号を入力して、被試験デバイス１００を試験する。なお、図７に示す第３変形例に係る試験装置１０は、図１に示す試験装置１０と略同一の構成及び機能を採るので、図７中における図１と略同一の部材については同一の符号を付け、以下、相違点を除き説明を省略する。

試験信号発生部１２は、試験信号を被試験デバイス１００に対して供給して、当該被試験デバイス１００に複数のベースバンド信号を同時出力させる。合成部１４は、試験信号に応じて被試験デバイス１００により出力された複数のベースバンド信号を入力する。そして、合成部１４は、入力した複数のベースバンド信号の同相成分および直交成分をそれぞれ１つの信号に合成し、合成した合成信号を出力する。本変形例において、合成部１４は、複数のベースバンド信号の同相成分を加算して、合成信号の同相成分を出力する第１加算器９２と、複数のベースバンド信号の直交成分を加算して、合成信号の直交成分を出力する第２加算器９４とを有してよい。

ＡＤ変換部１６は、合成信号の同相成分および直交成分をそれぞれサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力する。本変形例において、ＡＤ変換部１６は、一例として、第１ＡＤ変換器４０と、第２ＡＤ変換器４２とを有してよい。第１ＡＤ変換器４０は、入力した合成信号の同相成分をサンプリングして当該同相成分に応じた第１のデジタル信号を出力する。第２ＡＤ変換器４２は、入力した合成信号の直交成分をサンプリングして当該直交成分に応じた第２のデジタル信号を出力する。

このような第３変形例に係る試験装置１０によれば、合成した複数のベースバンド信号に対して良否判定をするので、アナログデジタル変換処理に必要となる回路の規模を小さくして、コストを下げることができる。さらに、このような試験装置１０によれば、アナログデジタル変換処理回路の間の特性あわせを不要とするので、精度良く良否判定をすることができる。

図８は、本実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。本実施形態に係るコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。

ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。

入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。

また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。

ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供されるプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。

コンピュータ１９００にインストールされ、コンピュータ１９００を試験装置１０として機能させるプログラムは、試験信号発生部モジュールと、合成部モジュールと、ＡＤ変換部モジュールと、判定部モジュールと、試験制御部モジュールとを備える。これらのプログラム又はモジュールは、ＣＰＵ２０００等に働きかけて、コンピュータ１９００を、試験信号発生部１２、合成部１４、ＡＤ変換部１６、判定部１８および試験制御部２０としてそれぞれ機能させる。

以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤやＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。

本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 各ベースバンド信号を異なるゲインで送信するモードにより被試験デバイス１００を動作させた場合における、ベースバンド信号の信号点の一例および合成信号の信号点の一例を示す。 各ベースバンド信号を同一のゲインで送信するモードにより被試験デバイス１００を動作させた場合における、ベースバンド信号の信号点の一例および合成信号の信号点の一例を示す。 試験装置１０の試験手順の一例を示す。 第１変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 第２変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 第３変形例に係る試験装置１０の構成を、被試験デバイス１００とともに示す。 本発明の実施形態に係るコンピュータ１９００のハードウェア構成の一例を示す。

符号の説明

１０ 試験装置
１２ 試験信号発生部
１４ 合成部
１６ ＡＤ変換部
１８ 判定部
２０ 試験制御部
３２ 加算部
３４ 復調器
３６ 第１アンチエイリアシングフィルタ
３８ 第２アンチエイリアシングフィルタ
４０ 第１ＡＤ変換器
４２ 第２ＡＤ変換器
５２ 復調信号記憶部
５４ 期待値記憶部
５６ 演算部
６０ スイッチ部
６２ スイッチ
７２ 周波数変換部
７４ 第３アンチエイリアシングフィルタ
７６ 第３ＡＤ変換器
７８ デジタル復調部
８０ デシメーションフィルタ部
９２ 第１加算器
９４ 第２加算器
１００ 被試験デバイス
１９００ コンピュータ
２０００ ＣＰＵ
２０１０ ＲＯＭ
２０２０ ＲＡＭ
２０３０ 通信インターフェイス
２０４０ ハードディスクドライブ
２０５０ フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０ ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０ 入出力チップ
２０７５ グラフィック・コントローラ
２０８０ 表示装置
２０８２ ホスト・コントローラ
２０８４ 入出力コントローラ
２０９０ フレキシブルディスク
２０９５ ＣＤ−ＲＯＭ

Claims (10)

1. 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
   前記複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成部と、
   前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、
   前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する判定部と
   を備える試験装置。
2. 前記ＡＤ変換部は、
   前記合成部が出力する前記合成信号を直交復調して復調信号を出力する復調器と、
   前記復調信号の同相成分をサンプリングして当該同相成分に応じた第１の前記デジタル信号を出力する第１ＡＤ変換器と、
   前記復調信号の直交成分をサンプリングして当該直交成分に応じた第２の前記デジタル信号を出力する第２ＡＤ変換器と
   を有し、
   前記判定部は、前記第１のデジタル信号および前記第２のデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する
   請求項１に記載の試験装置。
3. 前記ＡＤ変換部は、
   前記合成部が出力する前記合成信号に対して所定の周波数のローカル信号を乗じて、前記合成信号の周波数を低下させた中間信号を出力する周波数変換部と、
   前記中間信号をサンプリングして前記中間信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換器と、
   前記デジタル信号を直交復調して復調信号を出力する復調器と
   を有し、
   前記判定部は、前記復調信号の同相成分を示す第１の前記デジタル信号および直交成分を示す第２の前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する
   請求項１に記載の試験装置。
4. 前記ＡＤ変換部は、前記復調器が出力する前記第１のデジタル信号および前記第２のデジタル信号のそれぞれのデータ値を間引きすることにより、前記第１のデジタル信号および前記第２のデジタル信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有する請求項３に記載の試験装置。
5. 前記被試験デバイスは、複数のベースバンド信号のそれぞれを直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成するものであり、
   前記判定部は、前記復調信号の振幅および位相が、前記複数のベースバンド信号の組み合わせに応じて定められた振幅および位相の期待値の範囲内に含まれるか否かに基づいて、前記複数の変調信号の良否を判定する
   請求項２または３に記載の試験装置。
6. 前記被試験デバイスは、前記複数のベースバンド信号のそれぞれを略同一のゲインで直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成する第１モードと、異なるゲインで直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成する第２モードとのいずれで動作するかを切替可能であり、
   前記被試験デバイスを前記第１モードで動作させた状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行い、前記第１の試験において前記複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として前記被試験デバイスを前記第２モードで動作させた状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う試験制御部を更に備え、
   前記試験制御部は、前記第１の試験および前記第２の試験のいずれにおいても前記複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として、前記被試験デバイスが良品であると判定する
   請求項５に記載の試験装置。
7. 前記複数の変調信号のそれぞれに対応して設けられ、対応する当該変調信号を前記合成部に供給するか否かをそれぞれ切り替える複数のスイッチと、
   前記複数のスイッチをオンとした状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第１の試験を行い、前記第１の試験において前記複数の変調信号が異常であると判定されたことを条件として、前記複数の変調信号の中から選択した少なくとも１つの変調信号に対応する少なくとも１つのスイッチをオンとし他のスイッチをオフとした状態で前記判定部により前記少なくとも１つの変調信号の良否を判定させる第２の試験を行う試験制御部を更に備える
   請求項５に記載の試験装置。
8. 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
   前記複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、
   前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、
   前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する判定段階と
   を備える試験方法。
9. 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
   前記複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成部と、
   前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換部と、
   前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号の良否を判定する判定部と
   を備える試験装置。
10. 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
    前記複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、
    前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するＡＤ変換段階と、
    前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号の良否を判定する判定段階と
    を備える試験方法。
    

Images