JP2009049448A - 試験装置および試験方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成部と、合成信号をサンプリングして合成信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換部と、デジタル信号に基づいて、被試験デバイスが出力した複数の変調信号の良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。
【選択図】図1
Description
12 試験信号発生部
14 合成部
16 AD変換部
18 判定部
20 試験制御部
32 加算部
34 復調器
36 第1アンチエイリアシングフィルタ
38 第2アンチエイリアシングフィルタ
40 第1AD変換器
42 第2AD変換器
52 復調信号記憶部
54 期待値記憶部
56 演算部
60 スイッチ部
62 スイッチ
72 周波数変換部
74 第3アンチエイリアシングフィルタ
76 第3AD変換器
78 デジタル復調部
80 デシメーションフィルタ部
92 第1加算器
94 第2加算器
100 被試験デバイス
1900 コンピュータ
2000 CPU
2010 ROM
2020 RAM
2030 通信インターフェイス
2040 ハードディスクドライブ
2050 フレキシブルディスク・ドライブ
2060 CD−ROMドライブ
2070 入出力チップ
2075 グラフィック・コントローラ
2080 表示装置
2082 ホスト・コントローラ
2084 入出力コントローラ
2090 フレキシブルディスク
2095 CD−ROM
Claims (10)
- 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成部と、
前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換部と、
前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する判定部と
を備える試験装置。 - 前記AD変換部は、
前記合成部が出力する前記合成信号を直交復調して復調信号を出力する復調器と、
前記復調信号の同相成分をサンプリングして当該同相成分に応じた第1の前記デジタル信号を出力する第1AD変換器と、
前記復調信号の直交成分をサンプリングして当該直交成分に応じた第2の前記デジタル信号を出力する第2AD変換器と
を有し、
前記判定部は、前記第1のデジタル信号および前記第2のデジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記AD変換部は、
前記合成部が出力する前記合成信号に対して所定の周波数のローカル信号を乗じて、前記合成信号の周波数を低下させた中間信号を出力する周波数変換部と、
前記中間信号をサンプリングして前記中間信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換器と、
前記デジタル信号を直交復調して復調信号を出力する復調器と
を有し、
前記判定部は、前記復調信号の同相成分を示す第1の前記デジタル信号および直交成分を示す第2の前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する
請求項1に記載の試験装置。 - 前記AD変換部は、前記復調器が出力する前記第1のデジタル信号および前記第2のデジタル信号のそれぞれのデータ値を間引きすることにより、前記第1のデジタル信号および前記第2のデジタル信号のサンプリング周波数を低下させるデシメーションフィルタ部を更に有する請求項3に記載の試験装置。
- 前記被試験デバイスは、複数のベースバンド信号のそれぞれを直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成するものであり、
前記判定部は、前記復調信号の振幅および位相が、前記複数のベースバンド信号の組み合わせに応じて定められた振幅および位相の期待値の範囲内に含まれるか否かに基づいて、前記複数の変調信号の良否を判定する
請求項2または3に記載の試験装置。 - 前記被試験デバイスは、前記複数のベースバンド信号のそれぞれを略同一のゲインで直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成する第1モードと、異なるゲインで直交変調して前記複数の変調信号のそれぞれを生成する第2モードとのいずれで動作するかを切替可能であり、
前記被試験デバイスを前記第1モードで動作させた状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第1の試験を行い、前記第1の試験において前記複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として前記被試験デバイスを前記第2モードで動作させた状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第2の試験を行う試験制御部を更に備え、
前記試験制御部は、前記第1の試験および前記第2の試験のいずれにおいても前記複数の変調信号が正常であると判定されたことを条件として、前記被試験デバイスが良品であると判定する
請求項5に記載の試験装置。 - 前記複数の変調信号のそれぞれに対応して設けられ、対応する当該変調信号を前記合成部に供給するか否かをそれぞれ切り替える複数のスイッチと、
前記複数のスイッチをオンとした状態で前記判定部により前記複数の変調信号の良否を判定させる第1の試験を行い、前記第1の試験において前記複数の変調信号が異常であると判定されたことを条件として、前記複数の変調信号の中から選択した少なくとも1つの変調信号に対応する少なくとも1つのスイッチをオンとし他のスイッチをオフとした状態で前記判定部により前記少なくとも1つの変調信号の良否を判定させる第2の試験を行う試験制御部を更に備える
請求項5に記載の試験装置。 - 同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
前記複数の変調信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、
前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換段階と、
前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数の変調信号の良否を判定する判定段階と
を備える試験方法。 - 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成部と、
前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換部と、
前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号の良否を判定する判定部と
を備える試験装置。 - 複数のベースバンド信号を出力する被試験デバイスを試験する試験方法であって、
前記複数のベースバンド信号を合成した合成信号を出力する合成段階と、
前記合成信号をサンプリングして前記合成信号に応じたデジタル信号を出力するAD変換段階と、
前記デジタル信号に基づいて、前記被試験デバイスが出力した前記複数のベースバンド信号の良否を判定する判定段階と
を備える試験方法。
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