JP2008046019A - 試験装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】出力信号を中間周波数に周波数変換したIF信号を出力する周波数変換部と、IF信号をサンプリングしてデジタル化したデジタル信号を出力するアナログデジタル変換部と、デジタル信号と当該デジタル信号の期待値信号とを比較する比較部と、周波数変換部、アナログデジタル変換部および比較部のうちの少なくとも一つの動作設定値を、複数の試験のそれぞれに対応させて記憶する設定値メモリと、制御部からの試験開始の指示を受けたことに応じて、複数の試験のそれぞれについて順次に動作設定値を設定値メモリから読み出し、読み出した動作設定値を周波数変換部、アナログデジタル変換部および比較部に設定し、複数の試験を順次に実行するシーケンサとを有する試験モジュールを備える試験装置を提供する。
【選択図】図1
Description
20 試験モジュール
30 制御部
42 周波数変換部
44 アナログデジタル変換部
46 比較部
48 設定値メモリ
50 シーケンサ
52 ローカル信号発生器
54 増幅器
56 乗算器
58 ローパスフィルタ
62 AD変換回路
64 記憶部
72 期待値メモリ
74 FFT演算部
76 比較器
78 比較結果メモリ
82 スロット
84 接続部
100 被試験デバイス
Claims (4)
- ベースバンド信号がキャリア信号により変調された出力信号を出力する被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験装置本体のスロットに装着される試験モジュールと、
当該試験装置を制御する制御部と
を備え、
前記試験モジュールは、
前記被試験デバイスから出力された前記出力信号をベースバンド周波数に周波数変換したベースバンド信号、または、前記被試験デバイスから出力された前記出力信号を中間周波数に周波数変換したIF信号を出力する周波数変換部と、
前記周波数変換部が出力した前記ベースバンド信号または前記IF信号をサンプリングしてデジタル化したデジタル信号を、出力するアナログデジタル変換部と、
前記デジタル信号と、当該デジタル信号の期待値信号とを比較する比較部と、
前記周波数変換部、前記アナログデジタル変換部および前記比較部のうちの少なくとも一つの動作設定値を、複数の試験のそれぞれに対応させて記憶する設定値メモリと、
前記制御部からの試験開始の指示を受けたことに応じて、複数の試験のそれぞれについて順次に前記動作設定値を前記設定値メモリから読み出し、読み出した前記動作設定値を前記周波数変換部、前記アナログデジタル変換部および前記比較部に設定し、前記複数の試験を順次に実行するシーケンサと
を有する試験装置。 - 前記試験モジュールは、前記試験装置本体の第1スロットに装着される第1試験モジュールと、前記試験装置本体の第2スロットに装着される第2試験モジュールとを含み、
前記第1試験モジュールは、前記周波数変換部および前記アナログデジタル変換部を含み、
前記第2試験モジュールは、前記比較部、期待値メモリおよび前記シーケンサを含み、
前記第1試験モジュールと前記第2試験モジュールとの間を接続する接続部を更に備える
請求項1に記載の試験装置。 - 前記周波数変換部は、
互いに異なる周波数帯域内の周波数を有するローカル信号を出力する複数のローカル信号発生器と、
前記複数のローカル信号発生器のうち、前記シーケンサによる設定に応じて選択された1つの前記ローカル信号発生器から出力されたローカル信号と、前記被試験デバイスから出力された前記出力信号とを乗算する乗算器とを有し、
前記シーケンサは、第1の試験中に、当該第1の試験後の第2の試験において前記出力信号に乗算されるローカル信号を出力する前記ローカル信号発生器に対して当該第2の試験に用いる周波数を設定し、設定した周波数を有するローカル信号を前記第2の試験に先立って安定して出力させる
請求項1に記載の試験装置。 - 前記シーケンサは、第1の試験における前記比較部による比較結果に基づいて当該第1の試験の次の第2の試験を選択し、選択した前記第2の試験における前記動作設定値を前記設定値メモリから読み出して、読み出した前記動作設定値を前記周波数変換部、前記アナログデジタル変換部および前記比較部に設定し、前記第2の試験を実行する
請求項1に記載の試験装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006222592A JP4782640B2 (ja) | 2006-08-17 | 2006-08-17 | 試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2006222592A JP4782640B2 (ja) | 2006-08-17 | 2006-08-17 | 試験装置 |
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JP4782640B2 JP4782640B2 (ja) | 2011-09-28 |
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
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JP (1) | JP4782640B2 (ja) |
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