JP2009014392A - 回路基板検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査用信号S1を生成して回路基板10の一対の配線パターン11a,11bに印加する信号生成部、および検査用信号S1の印加によって配線パターン11a,11bに流れる電流I1の過渡応答信号波形を電流波形データDiとして検出する電流波形検出部を有する測定部5と、回路基板10が正常なときの過渡応答信号波形の前期波形についての許容範囲データDrを記憶するRAM7と、電流波形検出部によって検出された前期波形の電流波形データDiと許容範囲データDrとを比較して回路基板10の良否を判別する制御部6とを備えている。
【選択図】図1
Description
5 測定部
6 制御部
7 RAM
10 回路基板
21 信号生成部
22 電流検出部
23 A/D変換部
Di 電流波形データ
Dr 許容範囲データ
Ith 閾値
S1 検査用信号
t1 所定時間
Claims (2)
- 検査用信号を生成して回路基板に印加する信号生成部と、
前記検査用信号の印加によって前記回路基板に流れる電流信号の過渡応答信号波形を電流波形データとして検出する電流波形検出部と、
前記回路基板が正常なときの前記過渡応答信号波形の前期波形についての許容範囲データを記憶する記憶部と、
前記電流波形検出部によって検出された前記前期波形の前記電流波形データと前記許容範囲データとを比較して前記回路基板の良否を判別する判別部とを備えている回路基板検査装置。 - 前記記憶部は、前記検査用信号の印加開始時から所定時間を経過した時点における前記回路基板が正常なときの前記過渡応答信号波形の電流値を閾値として記憶し、
前記判別部は、前記前期波形の前記電流波形データが前記許容範囲データ外となったときには、検査対象の回路基板における前記所定時間経過時点の前記過渡応答信号波形の電流値と前記閾値とを比較して前記回路基板の良否を判別する請求項1記載の回路基板検査装置。
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JP2015045542A (ja) * | 2013-08-27 | 2015-03-12 | 日本電産リード株式会社 | 検査装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6020153A (ja) * | 1983-07-13 | 1985-02-01 | Mitsubishi Electric Corp | 絶縁抵抗測定器 |
JPH03154879A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-02 | Nec Corp | 基板検査装置 |
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JPH03154879A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-02 | Nec Corp | 基板検査装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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