JP2015010880A - 絶縁検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
4 電源部
4a 出力端子
6 電流検出部
7 スイッチ部
8 スパーク検出部
9 処理部
11 プローブピン
21 容量測定部
I1 直流電流
P 導体パターン
PG 導体パターン群
S1 検出信号
V1 直流電圧
Vt 目標電圧値
α 上昇率
Claims (4)
- 直流電圧を出力端子から検査対象に出力することによって当該検査対象に規定の直流電圧値の検査用電圧を供給する電源部と、前記検査用電圧の供給時に前記検査対象に流れる直流電流を検出する電流検出部と、前記検査用電圧の供給時に前記検査対象にスパークが発生したか否かを検出するスパーク検出部と、前記規定の直流電圧値および検出された前記直流電流の電流値に基づいて前記検査対象の抵抗値を測定すると共に測定した当該抵抗値および前記スパーク検出部での前記スパークの検出の有無に基づいて当該検査対象の絶縁状態を検査する絶縁検査処理を実行する処理部とを備え、
前記処理部は、前記規定の直流電圧値に達するまでの前記直流電圧の上昇率を前記出力端子に接続されている静電容量の容量値が大きくなるに従い低下させる制御を前記電源部に対して実行することにより、前記直流電圧の供給開始時において前記静電容量を充電する前記直流電流の前記電流値を予め規定された電流しきい値未満に抑制する絶縁検査装置。 - 回路基板に形成されている複数の導体パターンに規定された複数の検査ポイントに同時に接触させられる複数のプローブピンと、
前記複数の導体パターンのうちから前記検査対象として選択された一対の導体パターン群を当該一対の導体パターン群間に前記検査用電圧を供給可能に前記電源部の前記出力端子に接続すると共に、前記直流電流の電流経路内に前記電流検出部を接続するスイッチ部とを備え、
前記処理部は、前記検査対象として選択されて前記出力端子に接続される前記一対の導体パターン群間の静電容量の容量値を前記容量値として前記上昇率についての前記制御を前記電源部に対して実行し、前記絶縁検査処理において、前記一対の導体パターン群間の抵抗値を前記抵抗値として測定する請求項1記載の絶縁検査装置。 - 前記出力端子に接続されている前記静電容量の前記容量値を測定する容量測定部を備え、
前記処理部は、前記一対の導体パターン群が新たに選択される都度、前記容量測定部に対して前記容量値を測定させる請求項2記載の絶縁検査装置。 - 前記処理部は、前記一対の導体パターン群が新たに選択される都度、当該一対の導体パターン群に接触させられている前記プローブピンの本数を検出すると共に、検出した当該本数が多くなるに従い前記静電容量の前記容量値が大きくなっているとして前記上昇率についての前記制御を前記電源部に対して実行する請求項2記載の絶縁検査装置。
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