JP2008504979A - ナノ粒子注入 - Google Patents

ナノ粒子注入 Download PDF

Info

Publication number
JP2008504979A
JP2008504979A JP2007527821A JP2007527821A JP2008504979A JP 2008504979 A JP2008504979 A JP 2008504979A JP 2007527821 A JP2007527821 A JP 2007527821A JP 2007527821 A JP2007527821 A JP 2007527821A JP 2008504979 A JP2008504979 A JP 2008504979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
injection
nanoparticles
particles
beads
target surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007527821A
Other languages
English (en)
Inventor
ズビィ ヤニブ,
リチャード エル. フィンク,
モーシ ヤン,
Original Assignee
ナノプロプリエタリー,インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ナノプロプリエタリー,インコーポレイテッド filed Critical ナノプロプリエタリー,インコーポレイテッド
Publication of JP2008504979A publication Critical patent/JP2008504979A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/02Manufacture of electrodes or electrode systems
    • H01J9/022Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
    • H01J9/025Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/26Bombardment with radiation
    • H01L21/263Bombardment with radiation with high-energy radiation
    • H01L21/265Bombardment with radiation with high-energy radiation producing ion implantation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B1/00Nanostructures formed by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82BNANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
    • B82B3/00Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y30/00Nanotechnology for materials or surface science, e.g. nanocomposites
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2201/00Electrodes common to discharge tubes
    • H01J2201/30Cold cathodes
    • H01J2201/304Field emission cathodes
    • H01J2201/30446Field emission cathodes characterised by the emitter material
    • H01J2201/30453Carbon types
    • H01J2201/30469Carbon nanotubes (CNTs)

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)
  • Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)
  • Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)

Abstract

ナノ粒子の注入のためのマイクロ機械加工ビーズ破砕機械を用い、別の材料の表面上にナノサイズの材料のコーティングを形成するための方法が開示される。この方法は、広範な範囲のキャリアビーズサイズおよび材料を用い、またはキャリアビーズなくして、広範な範囲の標的材料、(カーボン−ナノチューブ、CNTのような)ナノ粒子、および環境条件とともに実施され得る。請求項に記載の注入方法は、電界放出デバイスにおける使用のための表面活性化CNT−カソードを製作するために用いられ得る。この注入方法はまた、互いとの衝撃の点の近傍に存在する任意の材料を化学的に反応するために用いられ得る。

Description

本発明は、一般に、材料コーティングに、そして詳細には、別の材料の表面にナノサイズの材料のコーティングを形成することに関する。
(背景情報)
別の材料の表面にナノサイズの材料のコーティングを形成するために多くのコーティング適用で重大な必要性が存在している。1つの例では、磁気記録は、より高い密度の磁気記録を達成するために、磁気ドメインの粒子サイズがナノメートルの次元である磁気材料のコーティングを必要とする。1つの例では、触媒は、化学反応速度を増加するためにより大きな表面積を達成するため、および触媒材料のコストを減少するためにナノサイズの粒子のコーティングを必要とする。1つの例では、ナノサイズの粒子の光学的コーティングは光学的に透明である。なぜなら、可視範囲にある光は、これら粒子から非常に弱く散乱するからである。これらの光学的コーティングは、この光学的表面の引っ掻き抵抗性および腐食抵抗性、ならびにその他のパラメーターを改善するために用いられ得、そして光学的透明性をなお維持する。1つの例では、カーボンナノチューブ(CNT)エミッターを用いるカソードは、2〜3ナノメートルの直径を有するカーボンナノチューブのコーティングを必要とする。これらCNTは基板に強固に結合され、それらが取り外されること、およびこれらCNTを電子供給源として用いるディスプレイのようなデバイスにおける電気的短絡またはその他の問題生じることを防ぐ。CNTを含む印刷ペーストは、この必要性に対する解決法であるが、必要であるより多くのCNTを必要とし;このペーストコンポジット中のCNT材料の多くは、ペースト中に埋められ、そして放出表面で利用可能ではない。しばしば、これらのペーストコンポジットは、電界放出のための材料を活性化するための堆積後プロセスを必要とする。このプロセスのための必要性をなくすることは有利であり得る。
これらコーティングのための必要性は、大きなセットの材料および適用にまたがるので、多くの異なる材料と適合する技法を用いてこれらコーティングを作製する必要性がある。
本発明は、前述の必要性を、ナノ粒子を宿主材料の表面上に、これらナノ粒子をこの宿主材料の表面中に注入する(implanting)ことによりコーティングするための方法および装置を提供することによって取り扱う。これらナノ粒子は、0.1nm〜100nmの範囲内のサイズの寸法を有する任意の材料であり得、カーボンナノチューブ(CNT)およびカーボンフラーレン(C60、C70)を含む。上記宿主材料もまた、広範な範囲の材料由来であり得、絶縁体、半導体、および導体を含む。この宿主材料は、化合物、ガラス、合金、ポリマー、これら材料のいずれかの混合物であり得るか、または単一元素からなり得る。
注入の方法は、これらナノ粒子を上記宿主材料の表面中に包埋するために高度に正確なマイクロマシンビーズ破砕(bead−blaster)を利用する。これらナノ粒子は、宿主表面上への次の注入のためにキャリアビーズと予備混合され得る。本発明の方法はまた、上記ナノ粒子をビーズまたはその他の大きな粒子の表面上にコーティングするために用いられ得る。注入のこの方法は、上記ナノ粒子の宿主材料との化学的結合を生じ得る。
先行する記載は、以下の本発明の詳細な説明がより良好に理解され得るために、本発明の特徴および技術的利点をむしろ広範に概説している。本発明の請求項の主題を形成する、本発明のさらなる特徴および利点は、本明細書で以下に説明される。
本発明およびその利点のより完全な理解のために、添付の図面と組合せて考慮される以下の説明への参照がここでなされる。
(詳細な説明)
以下の説明では、特定の基質材料のような多くの特定の詳細が、本発明の完全な理解を提供するために提示される。しかし、本発明がこのような特定の詳細なくして実施され得ることは当業者に明らかである。その他の例では、周知の回路が、本発明を不必要な詳細であいまいにしないためにブロック図で示されている。大部分のパーツについて、タイミング考慮などに関する詳細は、このような詳細は本発明の完全な理解を得るために必ずしも必要でないために省略されており、そして当該技術分野の当業者の職務能力の範囲内である。
ここで図面を参照して、ここで、描写された構成要素は必ずしもスケール通りではなく、そして同様または類似の構成要素は、いくつかの図面を通じて同じ参照番号によって指定される。
本発明は、宿主材料の表面に、ナノ粒子を、これらナノ粒子をこの宿主材料の表面中に注入することによってコーティングするための方法および装置を提供する。これらナノ粒子は、0.1nm〜100nmの範囲にあるサイズの寸法を有する任意の材料であり得る。例えば、ナノ粒子は、アルミナ(Al)、シリカ(SiO)またはその他の絶縁体、半導体または金属材料を含む導体材料の粒子であり得る。このナノ粒子材料は、化合物、合金、ポリマー、もしくはすべてのこれら材料の混合物であり得るか、またはカーボンのような単一元素から構成され得る。カーボン−ナノチューブ(CNT)はまた、材料のこのリスト中に含められる。なぜなら、これらナノチューブの直径は、単一壁ナノチューブ(SWNT)についての1nmから、いくつかの厚い複数壁ナノチューブ(MWNT)のついての100nm程度大きいまでの大きさであるからである。C60またはC70のようなカーボンフラーレンもまた、ナノ粒子のこのリスト上に含まれ得る。
上記宿主材料もまた、広範な範囲の材料由来であり得、絶縁体、半導体、および導体を含む。この宿主材料は、化合物、ガラス、合金、ポリマー、もしくはすべてのこれら材料の混合物であり得るか、またはカーボンのような単一元素から構成され得る。
注入の方法は、高い正確度のマイクロマシン破砕(Alps BSP−20)を利用し、上記ナノ粒子を宿主材料の表面中に包埋する。これらナノ粒子は、上記宿主の表面上への次の注入のためにキャリアビーズと予備混合され得る。本発明の方法はまた、上記ナノ粒子をビーズまたはその他のより大きな粒子の表面上にコーティングするために用いられ得る。注入のこの方法は、上記ナノ粒子の宿主材料との化学的結合を生じ得る。
本発明の1つの実施形態200では、SWNT(単一壁CNT)は、標準的なビーズ破砕機械を用いて可撓性の伝導性ペースト材料中に注入される。この伝導性ペースト層110は、以下の成分を混合することにより調製された:アモルファスカーボン粉末、フリットビヒクル(frit vehicle)およびガラスフリット(glass frit)。このペーストを作製するレシピは以下のように与えられる:カーボン粉末、5〜25%;ビヒクル、50〜90%;およびガラスフリット、5〜25%。広範な範囲のCNTペーストが可能である。ビヒクル物質は、ペースト中の粉末のためのキャリアとして作用し、そして揮発性(溶媒)および非揮発性(ポリマー)有機物質の両方を含む。シンナー(Terpineol、Dupont 8250)が添加されてペーストの粘度を調節する。この混合物は、最初、粉砕され、そして乳鉢と乳棒で混合され、そして次いで、機械的撹拌器に移され、この混合物を3時間撹拌する。次いで、この混合物を3−ロールミルに移し、ペーストをさらに均一にする。CNTペーストを作製することに関し、当業者によって用いられる多くの改変例がある。
上記ペーストは、ガラス基質130上に、ガラス上のインジウム錫酸化物(ITO)120の伝導層とともにプリントされた。ITOは、光学的に透明な電極物質として当該技術分野では一般的である。このITO層120は、必ずしも必要または重要ではない。標準的なスクリーンプリンティング技法を、355−メッシュスクリーンを用いて、ITO−被覆ガラス基質上にプリントするために用いた。プリントの後、注入前にオーブン乾燥または硬化ステップは必要ではない。注入は、ペーストを柔軟に維持するためにプリンティングの4時間以内に終了した。本発明は、異なるペーストおよびプロセスレシピを用いて実施され得る。
図1は、CNT注入のために用いられたこのプロセスに従って調製された伝導性ペースト層110を含むサンプル100の形態を示す。このサンプル100は、CNTでのコーティングのための注入標的として用いられ、そしてガラス基質(基板)130、ITO層120、および実際の宿主物質であるプリントされた伝導性ペースト層110を含んだ。
CNT注入材料は、Iljin Nanotech Co.、Koreaからの単一壁CNT(SWNT)230材料の1〜3gを、30ミクロン直径のガラスビーズの2000グラムと混合すること、および4時間乾燥形態でボールミル中で処理することにより調製された。その他の単一壁、二重壁、または複数壁材料もまた用いられ得る。この場合、ガラスビーズは、キャリア材料として用いられ、CNT(SWNT)を基質まで輸送した。これらビーズはまた、注入プロセスにおいて役割を演じる。その他の直径のガラスビーズもまた用いられ得、代表的には、1ミクロン〜100ミクロンの範囲である。直径10〜30ミクロンのキャリアビーズが、CNT注入材料を輸送することで非常に有効であることが見出された。
キャリア粒子の材料は、ガラスである必要はなく、シリカ(SiO)、アルミナ(Al)、プラスチックもしくはポリマー、またはその他の伝導性粒子、半導体粒子または絶縁性粒子であり得る。これらキャリア粒子はまた、氷(凍結した水)もしくはドライアイス(凍結した二酸化炭素の粒子)または注入プロセス後すぐに蒸発または融解し得るその他の材料から作製され得る。
CNT(SWNT)およびガラスビーズの乾燥混合物が処理された後、混合物は、Alps Micro Blast BSP−20機械中に装填された。その他の砂−破砕またはビーズ−破砕装置もまた、本発明を実施するために用いられ得る。4つのITO−ガラスサンプル(M−1、M−2、M−3、M−4)が、プリントされたアモルファスカーボン粉末ペーストとともに3×3cm面積に調製された。1つはコントロールのためであった;その他は、表1(以下に示される)中に列挙された種々の条件でCNTが混合されたガラスビーズによって破砕された。
図2は、本発明の1つの実施形態200における注入プロセスの特徴付けを示す。標的表面100またはビーズ破砕銃(図示せず)に取り付けられたノズル210の両方またはいずれかが、サンプルを均一に取り扱うためのプログラムされたパターンで、または所望の特有のパターンで、水平方向のいずれかに移動し得る。マスク(図示せず)がまた、標的表面100とノズル210との間に、ガラスキャリアビーズ220が、特定領域であって、そしてその他ではない領域を処理するように配置され得る。図2中のノズル210は、基質に垂直に下方250を指し示す。実際、ノズル210およびビーズの方向250は、処理される表面240に接近可能な任意の方向からであり得る。特定のCNTは、たとえそれらがキャリアビーズ220に接着しなくても注入され得ることに注目のこと。
最もありそうな注入機構は、大部分のCNT材料が、ガラスキャリアビーズ220によってペーストの表面に運搬されることである。これらCNTは、Van der Walls力、静電相互作用、またはその他の力によってガラスキャリアビーズ220の表面に接着され得る。接着コーティングが、ガラスキャリアビーズ220上でさらに用いられ得る。上記CNTはまた、これらビーズを基質に押す同じ空気風(blast)に沿って運搬され得、そして宿主表面中に直接注入されようになる。
図3は、宿主材料110の標的表面240を打つガラスキャリアビーズ220の相互作用の詳細を示す。このキャリアビーズ220が表面240を打つとき、キャリアビーズ220の表面360に接着するナノ粒子材料のいくつか、この場合CNT320は、処理されるべき表面240に移され得る。キャリアビーズ220が衝撃の方向250に表面240を打つエネルギーは、表面240の局所的へこみ、または変形を引き起こし得る。図3において、表面240は、明りょうさのために平滑な線で示されているが、実際は、それは非常に粗くあり得る。キャリアビーズ220の衝撃はまた、この表面を粗くし得る。CNT321は、表面240を打った後に表面240上に残り得る。処理される表面240上にコーティングを形成するように注入または包埋されたCNT321は、表面240の下に挿入されたCNT310の特定部分、および表面240の外側に剥き出たCNT370の別の部分を有し得る。
本発明の現在の実施形態の1つの例390では、CNT320を運ぶために用いられるキャリアビーズ220は、表面240上に包埋されて留まり得る。このような包埋されたキャリアビーズ330上のCNT360、380は、ビーズ330に近接してなお残存し得、いくつかのCNT360はビーズ330の上部に、いくつかのCNTはビーズ330と処理された表面240との間に完全に包埋され、そしていくつかのCNT380は、ビーズ330と処理された表面240との間に部分的に包埋され、CNT350が宿主材料110中に包埋される場合に挿入された部分と表面240の外側のCNT340の剥き出た部分を備える。注入のこの形態はまた、本発明の実施形態の1つの例である。
衝撃に際し、ナノ粒子320、321、380を捕捉する多くの機構が存在し得る。表面240の変形の作用は、変形部位において、局所的に、短い瞬間であるとしても、恐らくは高温に温度が増加することを引き起こす。変形のこの作用および高い局所的な瞬間の加熱は、ビーズ220、330上のナノ粒子材料320、321、380のいくつかを処理される表面240中に捕捉する。恐らくは、宿主材料110の標的表面240は、ビーズ220、330が表面240を打つ前は、多孔性であるか、または粗い。ナノ粒子320、321、380は、表面240上の割れ、または孔中に少なくとも部分的に捕捉され得、これらは、次いで、衝撃事象の間に閉鎖される。本発明の実施形態の1つの例では、図1〜3に示されるように、プリントされた伝導性ペースト110は、なお柔軟である有機バインダー溶液中の粒子を含む。ナノ粒子320、230は、ペースト110を容易に打撃し得、そして温和な接着剤として作用するこの有機バインダーによって捕捉される。
上記の注入方法200で記載されるすべてのプロセスステップは、通常の大気環境中室温で実施され得ることに注目すべきであり、これは、材料をコーティングするための多くのその他の技法に対して有利である。より詳細なコーティング適用のために、本発明のその他の実施形態は、より高いかまたはより低い温度で、環境ガスの任意の混合物のより高い圧力で、または重力の不在下で実施され得る。
図2に示されるような注入200の後、上記基質は乾燥され得、そしてスクリーンプリンティングガラスフリットの当業者に公知の標準的なプロセスを用いて硬化され得る。窒素ガスが、プリントされた伝導性ペースト110の表面240中に包埋されたCNT320、321、380材料を保存するために、高温硬化プロセスの間にオーブンを通じて流される。処理ステップのその他の改変および組み合わせを用いて、表面240上に注入されたCNT320、321、380を含むペースト110を乾燥および硬化するために用いられ得る。
Figure 2008504979
表1は、上記に記載された本発明の1つの実施形態200のプロセスパラメーターを示す。表1は、標的材料として柔軟な伝導性ペーストを有する本発明の1つの実施形態で用いられるサンプルについてのデータを含む。表1はまた、本発明の1つの実施形態200で生成された4つのサンプル(M−1、M−2、M−3、M−4)を用いるダイオードモードで実施される電界放出の結果を示す。注入200の間にノズル210中に供給されたガラスビーズ砂の速度は、1分間あたりの回転の単位(rpm)で記録された「砂密度」とマークされたカラム中で制御され、そして報告される。ビーズ破砕機械の空気圧力はまた、平方インチあたりのポンド(psi)で注記される。
電界放出結果は、図4におけるような、一方の電極として蛍光物質アノード404、および他方の電極302として標的表面100を備えたダイオード形態中にマウントされた各サンプルで得られた。アノード403、404は接地電位であった。パルス化バイアスが、カソード401、302上に、カソードからの電子が抽出され、そしてアノードに向かって加速され、カソード電極とアノード電極との間の電場の結果として光を生成するように配置される。表に記録されるのは、3×3cmの処理される表面から30mAの電流を生成するために要求される電場である。1つのサンプルM−1は、ナノ粒子が注入されず、そしてコントロールサンプルとして供された。このコントロールサンプルM−1は、カソードとして用いられたとき、電界放出を示さなかった。電界放出は、注入200後、カソードとして用いたサンプルM−2、M−3、およびM−4で観察され、次いで伝導性ペースト110の乾燥および硬化をともない、CNT320、321、380が、上記
記載した本発明のこの実施形態でこれらサンプルに移されたことを示す。
図6は、本発明の1つの実施形態において、サンプルM−2のダイオード放出の間にとられた蛍光物質スクリーンのイメージの写真である。
注入プロセス200の後、次の伝導性ペースト110の乾燥および硬化で、接着剤テープが注入されたサンプルM−2、M−3、およびM−4の表面に付与され、そして次に取り除かれた。テープを除去することは、すべてではないが、いくつかのCNT321、380を除去し、CNT321、380のいくつかが、本発明の請求項に記載の方法によって有意な結合エネルギーでペースト材料中に包埋または注入されていることを示した。電界放出閾値は、3.0V/ミクロンから3.1V/ミクロンまでほんのわずか増加し、そして均一性もまた、テープを付与し、そして除去した後、わずかに改善した。コントロールサンプルM−1もまた、この接着テーププロセスに供した。このプロセスの後、閾値場は改善されたが、注入処理されたサンプルM−2、M−3、およびM−4と比較してなお非常に乏しかった。
本発明は、CNTまたはその他のナノ粒子をその上に注入するその他の標的材料とともに実施され得る。本発明の1つの実施形態では、1つの側面上に銅ホイルまたはフィルム、そして他方の側面に接着剤を備えたテープである接着剤銅テープが、標的表面宿主材料として用いられた。真鍮、ブロンズ、銀、金などのようなその他の金属が同様に用いられ得る。接着剤裏打ちは必要ではないが、銅フィルムまたはホイルを基質に固定するために便利であった。これは、銀のような柔軟な低温金属を、硬い引っ掻き抵抗性のコーティングまたは汚れもしくは腐食を阻害するためのコーティングでコーティングする方法であり得る。CNTは、本発明の1つの実施形態で再び注入されたが、その他の材料が同様に用いられ得、カーボンブラック、アモルファスカーボン、またはカーボンフラーレンのようなカーボンのその他の形態を含む。
先に実施形態におけるように、CNT320は、上記に記載のようにガラスビーズ220と混合された。銅テープは、上記のようにCNTでコーティングされたガラスビーズ220によって処理された。このテープの銅側面にはCNTが注入され、接着剤側面は基質に取り付けられた。本発明のこの実施形態のパラメーターは、表2に与えられる。
Figure 2008504979
表2は、標的材料として銅テープを有する本発明の1つの実施形態において用いたサンプルに対するデータを含む。注入後、銅表面に包埋されて見出されたビーズ220はなかったが、サンプルM−5およびM−6は、ビーズ破砕プロセスから生じる多くのへこみおよびあばた傷を有した。テープの銅表面上に残ったCNT粒子は、ガラスビーズ220から銅表面に、本発明で開示された注入プロセスの間に移された。
注入後、電界放出結果は、1つの電極として蛍光物質アノードを、そして他方の電極として銅テープカソード備えたダイオード形態で銅テープを用いて得た。上記に記載のようなCNT注入を受けなかった銅テープのコントロールサンプルは、CNT注入サンプルM−5およびM−6よりかなり高い抽出場を有していた。
移植プロセスの後、上記の銅テープサンプルはまた、接着剤テープをCNT注入銅表面付与すること、そして次にテープを除去することによる、上記に記載の接着剤テーププロセスに供された。テープを取り外すことは、いくつかのCNTを除去し、CNTのいくつかが、本発明の請求項に記載の方法による有意な結合エネルギーとともに銅材料中に包埋または注入されたことを示す。上記の接着剤テーププロセスの後、上記サンプルをいま一度上記のような電界放出のためのカソードとして用いた。(30mAの電流を達成するために必要な場として規定される)閾値場は、3.0V/ミクロン〜6.0V/ミクロンまで増加した。
図7は、本発明の1つの実施形態におけるサンプルM−5のダイオード放出の間にとられた蛍光物質スクリーンのイメージの写真である。
図8は、本発明の1つの実施形態における、接着剤テーププロセスの後の、サンプルM−5のダイオード放出の間にとられた蛍光物質スクリーンのイメージの写真である。操作場は、接着剤テーププロセスの前よりはかなり高いが、イメージは、改良され、そしてより均一な明度を示している。
本発明の方法はまた、ビーズまたはその他のより大きな粒子上にナノ粒子を包埋または注入するために実施され得る。本発明の1つの実施形態では、CNTまたはその他のナノ粒子材料は、ガラスビーズ220またはその他のより大きなキャリア材料と混合され得、そして、より硬い標的のみが用いられた上記に記載のようなビーズ破砕処理200を実施する。この標的は、しばしばビーズより硬いが、これは必ずしもそうではないかも知れない。キャリアビーズが標的材料より柔らかい場合、ナノ粒子は、衝撃に際し、標的表面上よりはむしろ、ビーズ中に優先的に注入または包埋され得る。これは、柔軟な低温ビーズを硬い高温コーティングでコーティングする方法であり、そしてビーズを溶融する高温プロセスを避ける。本発明の実施形態の1つの例では、ポリマービーズが、サファイアまたは石英のような硬い標的表面上にアルミナ(Al)ナノ粒子を注入するために用いられる。
本発明の1つの実施形態では、ナノ粒子は、標的表面と、またはビーズ表面と、標的表面上のキャリアビーズの衝撃に際し化学的に反応し得る。本発明の実施形態の1つの例は、炭化鉄、炭化ニッケル、炭化チタン、または炭化クロムであり、これは、本発明の方法を実施する結果としてステンレス鋼の表面上に形成され得る。本発明の実施形態の1つの例では、硬い、または腐食抵抗性コーティングが、標的表面材料上に化学的に形成され得る。
本発明のこの実施形態の実施は、カーボンのナノチューブ形態に制限されず;カーボングラファイトフレイク、またはカーボンフラーレンが、CNTの代わりに用いられ得、標的表面と化学的に反応する。すべてのナノ粒子材料が標的表面上に残り得るのではなく、むしろ、この化学的反応の間に消費されるナノ粒子材料の一部のみが標的表面上に残る。ナノ粒子の残りは、標的表面中またはその上に残り得、標的表面材料中に部分的に包埋されるようになるか、またはこの表面上に全く残らないかも知れない。
本発明の実施形態の1つの例では、ステンレス鋼シートが、CNTコーティングされたガラスビーズで衝突される。このステンレス鋼シートは、本発明のこの例を実施する結果としてカーボンが表面上に残った後、暗くなった。このカーボンは、ニッケル、鉄、クロムまたはステンレス鋼中のその他の材料と反応し得る。CNTはまた、本発明のこの例を実施することによりステンレス鋼の表面中に包埋または注入され得る。
図9は、CNTで予備混合されたキャリアビーズの衝撃の結果として標的材料の表面の化学的反応900を示す。キャリアビーズ930は、標的表面920を、標的表面920の方向250に高速度で打つ。CNT320は、キャリアビーズ930の表面940に接着する。キャリアビーズ930の標的表面920との衝突910に際し、高い局所的温度、高い局所的圧力、および/または衝撃の点における変形に起因する化学的反応がある。
本発明のこの実施形態の1つの例では、異なる形態または種類のナノ粒子がビーズとともに混合される。キャリアビーズ930の表面920との衝突910の間に、温度および圧力は、たとえ瞬間でも、局所的に極限値に到達し得るが、混合されたナノ粒子を互いと、そして/またはビーズ表面940と反応するに十分長い。大きなボールおよびナノ粒子の粉末を用いたボールミル中の機械化学的処理に対する本発明におけるビーズ破砕方法の1つの利点は、ビーズ破砕では、表面を打つ粒子のエネルギーの正確な制御が、そのエネルギーがかなりより高くあり得ながら奏し得ることである。
本発明の1つの実施形態では、ナノ粒子の注入または包埋プロセスは、上記で述べたガラスビーズのようなキャリアビーズを要求することなく実施される。本発明のこの実施形態の1つの例では、カーボンナノチューブが、キャリアビーズを用いることなく、しかしなおMicroblast BSP−20を用いて、ペーストまたは銅ホイル中に注入され得る。カーボンナノチューブのみが、任意のキャリアビーズなくして上記機械の供給ホッパー中に装填される。表3中に示される標的サンプルは、このようにしてキャリアビーズを用いることなくCNTが注入され、そして本発明の前述の実施形態で記載のように、銅テープ/ホイル基質およびグラファイトペースト宿主材料に含められた。
キャリアビーズを用いることなくCNTが注入された標的サンプルをカソードとして用いる電界放出は、本発明の前述の実施形態に記載のように実施された。本発明のこの実施形態におけるすべてのサンプルは、非常に低い閾値場(<2.5/ミクロン〜正確に30mAの電流)を有する。次いで、上記接着剤テープのプロセスは、本発明の上記に記載の実施形態におけるようにこれらサンプルに適用された。電界放出閾値は、テープが除去された後に増加したが、劇的ではなかった。放出部位密度は、テープ活性化の後に著しく増加した。表3は、キャリアビーズなしの本発明の1つの実施形態で用いたサンプルに関するデータを含む。
Figure 2008504979
図4は、上記で生成されたような、ダイオード形態におけるカソードを用いて作製された電界放出ディスプレイ538の一部分を示す。カソードとともに含まれるのは、伝導層401である。アノードは、ガラス基質402、インジウム錫層403、およびカソード発光層404から構成され得る。電場は、アノードとカソードとの間に配置される。このようなディスプレイ538は、図5に関して示されるような、データ処理システム513内で利用され得る。
本発明を実施するための代表的なハードウェア環境は、図5に描写され、これは、従来のマイクロプロセッサのような中央処理ユニット(CPU)510、およびシステムバス512を経由して相互接続される多くのその他のユニットを有する本発明に従うデータ処理システム513の例示のハードウェア形態を示す。データ処理システム513は、ランダムアクセスメモリ(RAM)514、読み出し専用メモリ(ROM)516、およびディスクユニット520およびテープドライバ540のような周辺デバイスをバス512に接続するための入力/出力(I/O)アダプタ518、キーボード524を接続するためのユーザーインターフェースアダプタ522、マウス526、および/またはバス512へのタッチスクリーンデバイス(図示せず)のようなその他のユーザーインターフェースデバイス、データ処理システム513をデータ処理ネットワークに接続するための通信アダプタ534、およびディスプレイデバイス538にバス512を接続するためのディスプレイアダプタ536を含む。CPU510は、本明細書中に示されないその他の回路を含み得、これは、マイクロプロセッサ内に一般に見出される回路を含み、例えば、実行ユニット、バスインターフェースユニット、算術論理ユニットなどがある。CPU510はまた、単一の集積回路上に存在し得る。
本発明およびその利点を詳細に記載したが、種々の変更、置換および改変が、添付の請求項によって規定されるような本発明の思想および範囲から逸脱することなく本明細書中でなされ得ることが理解されるべきである。
図1は、CNT注入によるコーティングのために用いられる1つの例の形態を示す。 図2は、本発明の実施形態を実施するために用いられる装置を示す。 図3は、本発明の例を、標的表面を打つ直前および直後にCNTでコーティングされたガラスキャリアビーズの側面図で示す。 図4は、ダイオード形態のカソードを用いて作製された電界放出ディスプレイの一部分を示す。 図5は、データ処理システムを示す。 図6は、本発明の実施形態によるCNTが注入されたサンプルの電界放出の間にとられた蛍光物質スクリーン上のイメージの写真である。 図7は、本発明の実施形態によるCNTが注入されたサンプルの電界放出の間にとられた蛍光物質スクリーン上のイメージの写真である。 図8は、本発明の実施形態によるCNTが注入されたサンプルの電界放出の間にとられた蛍光物質スクリーン上のイメージの写真である。 図9は、CNTでコーティングされたキャリアビーズと標的表面との衝撃の結果としての化学反応を示す。

Claims (8)

  1. 表面の性質を改変する方法であって:
    改変のための標的表面を提供する工程;および
    該標的表面上にナノ粒子の注入を実施する工程であって、ここで、
    該注入が、キャリアビーズが該標的表面を打つように該キャリアビーズを用いるビーズ破砕プロセスとともに実施される、工程;および
    該注入を実施する前に、該ナノ粒子を、該キャリアビーズと、該ナノ粒子が該キャリアビーズに物理的に付着するようになるように混合する工程、を包含する、方法。
  2. 前記注入の際に、前記標的表面との前記ナノ粒子の化学反応をさらに包含する、請求項1に記載の方法。
  3. 前記ナノ粒子の前記注入が、キャリアビーズを用いることなくして破砕プロセスとともに実施される、請求項1に記載の方法。
  4. 前記ナノ粒子での注入後の標的表面が、電子を抽出するための電界放出デバイス中のカソードとして用いられる、請求項1に記載の方法。
  5. 前記電界放出デバイスが、カソード発光性アノードとともに、該カソードと該アノードとの間の電場の結果として光を放出する形態である、請求項4に記載の方法。
  6. 粒子の表面性質を改変する方法であって:
    標的表面を提供する工程;
    ナノ粒子を、該粒子と、該ナノ粒子が該粒子に物理的に付着するようになるように混合する工程;および
    該粒子が該標的表面を打つように破砕プロセスを用いて該粒子の表面上への該ナノ粒子の注入を実施する工程、を包含する、方法。
  7. 前記標的表面が、前記粒子より硬い、請求項6に記載の方法。
  8. 前記注入の際に、前記粒子との前記ナノ粒子の化学反応をさらに包含する、請求項6に記載の方法。
JP2007527821A 2004-06-29 2005-06-28 ナノ粒子注入 Pending JP2008504979A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US58368104P 2004-06-29 2004-06-29
PCT/US2005/022671 WO2007013871A2 (en) 2004-06-29 2005-06-28 Nanoparticle implantation

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008504979A true JP2008504979A (ja) 2008-02-21

Family

ID=37683763

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007527821A Pending JP2008504979A (ja) 2004-06-29 2005-06-28 ナノ粒子注入

Country Status (5)

Country Link
US (1) US7560134B2 (ja)
JP (1) JP2008504979A (ja)
KR (1) KR101226142B1 (ja)
CN (1) CN101427357B (ja)
WO (1) WO2007013871A2 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7454295B2 (en) 1998-12-17 2008-11-18 The Watereye Corporation Anti-terrorism water quality monitoring system
US8958917B2 (en) 1998-12-17 2015-02-17 Hach Company Method and system for remote monitoring of fluid quality and treatment
US9056783B2 (en) 1998-12-17 2015-06-16 Hach Company System for monitoring discharges into a waste water collection system
US8920619B2 (en) 2003-03-19 2014-12-30 Hach Company Carbon nanotube sensor
CN101910263B (zh) 2007-05-29 2013-11-13 伊诺瓦动力公司 具有粒子的表面以及相关方法
WO2009014959A2 (en) * 2007-07-20 2009-01-29 United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Tailorable dielectric material with complex permittivity characteristics
KR100851501B1 (ko) * 2007-10-04 2008-08-08 주식회사 동부하이텍 플래시 메모리 소자 및 그 제조 방법
KR100922399B1 (ko) * 2008-02-29 2009-10-19 고려대학교 산학협력단 전자방출원, 이를 적용한 전자장치 및 전자방출원의제조방법
US20110281070A1 (en) * 2008-08-21 2011-11-17 Innova Dynamics, Inc. Structures with surface-embedded additives and related manufacturing methods
KR101758184B1 (ko) 2008-08-21 2017-07-14 티피케이 홀딩 컴퍼니 리미티드 개선된 표면, 코팅 및 관련 방법
IT1394221B1 (it) * 2009-05-15 2012-06-01 Colbachini Spa Tubo flessibile di tipo perfezionato per il trasporto di materiali fluidi e di corrente elettrica.
JP5988974B2 (ja) 2010-08-07 2016-09-07 ティーピーケイ ホールディング カンパニー リミテッド 表面埋込添加物を有する素子構成要素および関連製造方法
EP2727165A4 (en) 2011-06-28 2015-08-05 Innova Dynamics Inc TRANSPARENT CONDUCTORS INCORPORATING ADDITIVES AND METHODS OF MANUFACTURING THE SAME
WO2013029028A2 (en) 2011-08-24 2013-02-28 Arjun Daniel Srinivas Patterned transparent conductors and related manufacturing methods
US8691324B2 (en) * 2012-04-03 2014-04-08 Xerox Corporation Dry coating processes for substrates
EP3204223A4 (en) * 2014-10-05 2018-12-19 EOS GmbH Electro Optical Systems 3d printers and feedstocks for 3d printers

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5810458A (ja) * 1981-07-02 1983-01-21 アクゾ・ナ−ムロ−ゼ・フエンノ−トシヤツプ 基体に被膜塗装する方法
JPH03162588A (ja) * 1989-11-22 1991-07-12 Kawamura Kenkyusho:Kk 固体潤滑皮膜を形成する方法
JPH0586443A (ja) * 1991-09-26 1993-04-06 Mazda Motor Corp アルミニウム合金製部材の表面改質方法
JPH08333671A (ja) * 1995-06-02 1996-12-17 Fuji Kihan:Kk 常温拡散・浸透メッキ方法
JPH1030190A (ja) * 1996-07-15 1998-02-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 金属製部材の表面改質方法および表面に改質層を有する金属製部材
JPH10149760A (ja) * 1996-09-18 1998-06-02 Toshiba Corp 電界放出型冷陰極装置、その製造方法及び真空マイクロ装置
JP2000303127A (ja) * 1999-04-16 2000-10-31 Toyota Motor Corp 金属基複合材料およびその製造方法
JP2000315453A (ja) * 1999-04-30 2000-11-14 Fujitsu Ltd 電界放出陰極のエミッタ及びその製造方法
WO2002042204A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-30 Lockheed Martin Corporation Rapid manufacturing of carbon nanotube composite structures
JP2002172598A (ja) * 2000-12-08 2002-06-18 Fuji Xerox Co Ltd カーボンナノチューブデバイスおよびその製造方法、並びに、カーボンナノチューブの精製方法
JP2002526945A (ja) * 1998-08-19 2002-08-20 マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー ナノ粒子ベースの電気的、化学的及び機械的構造及びこれを作る方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6652967B2 (en) * 2001-08-08 2003-11-25 Nanoproducts Corporation Nano-dispersed powders and methods for their manufacture
GB0006762D0 (en) * 2000-03-22 2000-05-10 Smiths Industries Plc Displays
US6467897B1 (en) * 2001-01-08 2002-10-22 3M Innovative Properties Company Energy curable inks and other compositions incorporating surface modified, nanometer-sized particles
TWI221624B (en) * 2002-11-11 2004-10-01 Ind Tech Res Inst Method of flocking metallic nanowires or nanotubes in field emission display

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5810458A (ja) * 1981-07-02 1983-01-21 アクゾ・ナ−ムロ−ゼ・フエンノ−トシヤツプ 基体に被膜塗装する方法
JPH03162588A (ja) * 1989-11-22 1991-07-12 Kawamura Kenkyusho:Kk 固体潤滑皮膜を形成する方法
JPH0586443A (ja) * 1991-09-26 1993-04-06 Mazda Motor Corp アルミニウム合金製部材の表面改質方法
JPH08333671A (ja) * 1995-06-02 1996-12-17 Fuji Kihan:Kk 常温拡散・浸透メッキ方法
JPH1030190A (ja) * 1996-07-15 1998-02-03 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 金属製部材の表面改質方法および表面に改質層を有する金属製部材
JPH10149760A (ja) * 1996-09-18 1998-06-02 Toshiba Corp 電界放出型冷陰極装置、その製造方法及び真空マイクロ装置
JP2002526945A (ja) * 1998-08-19 2002-08-20 マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー ナノ粒子ベースの電気的、化学的及び機械的構造及びこれを作る方法
JP2000303127A (ja) * 1999-04-16 2000-10-31 Toyota Motor Corp 金属基複合材料およびその製造方法
JP2000315453A (ja) * 1999-04-30 2000-11-14 Fujitsu Ltd 電界放出陰極のエミッタ及びその製造方法
WO2002042204A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-30 Lockheed Martin Corporation Rapid manufacturing of carbon nanotube composite structures
JP2002172598A (ja) * 2000-12-08 2002-06-18 Fuji Xerox Co Ltd カーボンナノチューブデバイスおよびその製造方法、並びに、カーボンナノチューブの精製方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6011042312; マグローヒル科学技術用語大辞典編集委員会: マグローヒル 科学技術用語大辞典 第3版, 19960930, 1599ページ, 株式会社日刊工業新聞社 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN101427357B (zh) 2011-01-26
US7560134B2 (en) 2009-07-14
CN101427357A (zh) 2009-05-06
WO2007013871A2 (en) 2007-02-01
KR20070047287A (ko) 2007-05-04
KR101226142B1 (ko) 2013-01-25
WO2007013871A3 (en) 2009-04-30
US20080193634A1 (en) 2008-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008504979A (ja) ナノ粒子注入
Shi et al. Large area screen-printing cathode of CNT for FED
JP4459274B2 (ja) 電界放出カソード及び電界放出ディスプレイ装置
US20060096950A1 (en) Bead blast activation of carbon nanotube cathode
KR100911370B1 (ko) 고 신뢰성 cnt 페이스트의 제조 방법 및 cnt 에미터제조 방법
US20080206448A1 (en) Low Work Function Material
US7736209B2 (en) Enhanced electron field emission from carbon nanotubes without activation
JP2004504690A (ja) 電子電界エミッタの放出状態を改善するための方法
CA2606601A1 (en) Ink jet application of carbon nanotubes
JP5576082B2 (ja) 電子放出源形成用組成物、これを用いて形成された電子放出源およびその製造方法、並びにこれを用いた電界放出素子
CN1881512B (zh) 具有电子发射体的显示装置及其制造方法
JP2008541356A (ja) 低仕事関数陰極
US20050184643A1 (en) Method for forming electron emission source for electron emission device and electron emission device using the same
CN1913075B (zh) 电子发射源及其制备方法和采用其的电子发射装置
CN100446155C (zh) 可印制的纳米材料冷阴极浆料及其场发射冷阴极的制备方法和应用
JP2008147169A (ja) Cntエミッタの製造方法
JP2005183370A (ja) カーボンナノチューブエミッターの形成方法
TWI474371B (zh) 圖案化奈米粒子場射極
JP2003203557A (ja) カーボンナノチューブを含むペースト用複合物及びこれを利用した電子放出素子及びその製造方法
JP2006261074A (ja) 電界放出物質の塗布方法および電界放出素子
KR20050014430A (ko) 평판 표시소자의 전자 방출원 형성용 조성물 및 이로부터제조되는 전자 방출원
Choi et al. Fabrication of carbon nanotube emitter on the flexible substrate
KR101015150B1 (ko) 금속 나노 입자를 이용한 전계 방출 소자 및 그 제조 방법
JP2010211967A (ja) 電子放出素子、電子放出装置、自発光デバイス、画像表示装置、冷却装置、および帯電装置
KR101100817B1 (ko) 카본계 물질 및 나노 사이즈를 갖는 금속 입자의 용융물을포함한 전자 방출원, 이를 포함한 전자 방출 소자 및 상기전자 방출원 형성용 조성물

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080623

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20080929

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110816

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111116

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111124

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120731

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130205