JP2008199153A - レベルシフタ - Google Patents

レベルシフタ Download PDF

Info

Publication number
JP2008199153A
JP2008199153A JP2007030167A JP2007030167A JP2008199153A JP 2008199153 A JP2008199153 A JP 2008199153A JP 2007030167 A JP2007030167 A JP 2007030167A JP 2007030167 A JP2007030167 A JP 2007030167A JP 2008199153 A JP2008199153 A JP 2008199153A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pair
voltage
transistor
input
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007030167A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008199153A5 (ja
Inventor
Akinori Matsumoto
秋憲 松本
Shiro Sakiyama
史朗 崎山
Takashi Morie
隆史 森江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2007030167A priority Critical patent/JP2008199153A/ja
Priority to US11/976,671 priority patent/US7579870B2/en
Publication of JP2008199153A publication Critical patent/JP2008199153A/ja
Priority to US12/510,718 priority patent/US7812637B2/en
Publication of JP2008199153A5 publication Critical patent/JP2008199153A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/356Bistable circuits
    • H03K3/356104Bistable circuits using complementary field-effect transistors
    • H03K3/356113Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit
    • H03K3/35613Bistable circuits using complementary field-effect transistors using additional transistors in the input circuit the input circuit having a differential configuration

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

【課題】トランジスタのソース・ドレイン間電圧を低減し、耐圧を緩和する。
【解決手段】入力トランジスタ対(101A,101B)は、入力信号対(INP,INM)に応じて、基準ノードN1における電圧をノードna1,nb1のうちいずれか一方に供給する。トランジスタ対(102A,102B)は、ノードna1,nb2における電圧を制限する。トランジスタ対(103A,103B)は、出力ノードN11A,N11Bにおける電圧を制限する。インバータ回路104Aは、出力ノードN11Bにおける電圧レベルが「Lレベル」であると、基準ノードN4における電圧を出力ノードN11Aに供給する。これにより、トランジスタ103Aだけでなく、インバータ回路104Aからも電圧が供給されるので、出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)の変動が素速くなり、ノードna2における電圧(Va2)の変動に追随させることができる。
【選択図】図1

Description

この発明は、入力信号の振幅を変換するレベルシフタに関する。
近年、SRAMやフラッシュEEPROMメモリ等において、コントロールゲートに負電圧を印加して駆動させるために、負レベルに振幅する出力信号を出力するレベルシフタが用いられている。このようなレベルシフタは、特開平11−308092号公報(特許文献1)等に開示されている。
図8は、特許文献1に記載のレベルシフタの構成を示す。このレベルシフタは、負電圧制御信号Cの供給時には入力信号INに応答して負レベルの出力信号LOを出力し、負電圧制御信号Cの非供給時には入力信号INと同一レベルの出力信号LOを出力する。このレベルシフタは、負電圧制御信号Cに応じて負レベルまたは接地レベルの電圧を負電圧信号VB1として出力する負電圧発生回路90と、入力信号IN,反転入力信号INBを受けるトランジスタ対(P91,P92)と、負電圧信号VB1を受けるトランジスタ対(N91,N92)と、トランジスタP93,P94,N93,N94とを備える。トランジスタP93,P94,N93,N94は、各トランジスタのソース・ドレイン間電圧を低減するためのものであり、トランジスタN93,N94には、負電圧信号VB1が接地レベルであるときには、Lレベルの反転制御信号CBが与えられ、負電圧信号VB1が負レベルであるときには、Hレベルの反転制御信号CBが与えられる。このレベルシフタの各ノードにおける電圧は、入力信号INに応じて、図9のように変動する。図中、「VTP」は、トランジスタP93,P94の閾値電圧を示し、「VTN」は、トランジスタN93,N94の閾値電圧を示す。
特開平11−308092号公報
しかしながら、従来のレベルシフタでは、トランジスタN93の電流駆動能力が小さい場合等、トランジスタN93においてソース電圧VCの立ち上がり時間Tcがドレイン電圧VEの立ち上がり時間Teよりも長くなり、ソース・ドレイン間電圧が増大してしまうおそれがあった。例えば、ドレイン電圧VEが「Vdd」に到達した時点でソース電圧VCが「−VTN」に到達していない場合、トランジスタN93のソース・ドレイン間電圧の最大値は「Vdd+VTN」よりも大きくなってしまう。
このように、トランジスタのソース・ドレイン間電圧の最大値を大きく見積もる等、トランジスタの耐圧制限を厳しくする必要があり、その結果、トランジスタを高耐圧化しなければならなかった。そのため、高耐圧化のための工程を追加するためにコストが高くなったり、回路面積が増大するといった問題が生じてしまう。
そこで、本発明は、ソース・ドレイン間電圧を低減し、トランジスタの耐圧制限を緩和することを目的とする。
この発明によれば、レベルシフタは、互いに相補的に振幅する入力信号対を受け、当該入力信号対の振幅を変換するレベルシフタであって、ソース対が第1の入力基準ノードに共通接続され、ゲート対に上記入力信号対を受ける入力トランジスタ対と、ソース対が上記入力トランジスタ対のドレイン対に接続され、ゲート対が第2の入力基準ノードに共通接続され、当該入力トランジスタ対のドレイン対における電圧を制限する入力側電圧緩和トランジスタ対と、出力ノード対と、ソース対が上記出力ノード対に接続され、ゲート対が第1の出力基準ノードに共通接続され、ドレイン対が上記入力側電圧緩和トランジスタ対のドレイン対に接続され、当該出力ノード対における電圧を制限する出力側電圧緩和トランジスタ対と、上記出力ノード対に一対一で対応し、第2および第3の出力基準ノードとの間に接続される第1および第2のインバータ回路対とを備え、上記第1および第2のインバータ回路の各々は、当該出力ノード対のうち自己に対応しない出力ノードにおける電圧に応じて、上記第2および第3の出力基準ノードのうちいずれか一方における電圧を自己に対応する出力ノードに供給する。
上記レベルシフタでは、出力側電圧緩和トランジスタから出力ノードに電圧が供給されるときに、対応するインバータ回路からの電圧も出力ノードに供給されるため、出力ノードにおける電圧変動が素速くなる。
以上のように、出力ノードにおける電圧変動が素速くなることにより、ソース・ドレイン間電圧を低減することができる。
以下、この発明の実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
(第1の実施形態)
図1は、この発明の第1の実施形態によるレベルシフタの構成を示す。このレベルシフタは、入力信号対(INP,INM)の振幅を変換して出力信号対(OUTP,OUTM)として出力するものであり、入力トランジスタ対(101A,101B)と、電圧緩和トランジスタ対(102A,102B)と、電圧緩和トランジスタ対(103A,103B)と、インバータ回路104A,104Bと、出力回路105A,105Bとを備える。
入力信号INP,INMの各々は、互いに相補的に振幅する信号であり、正レベル(Vdd)から接地レベル(Vss)までの間で振幅する。基準ノードN1(第1の入力基準ノード)は、入力信号のHレベルに対応する電圧(Vdd)を受け、基準ノードN2(第2の入力基準ノード)は、入力信号のLレベルに対応する電圧(Vss)を受ける。
基準ノードN3(第1の出力基準ノード)および基準ノードN4(第2の出力基準ノード)は、出力信号のHレベルに対応する電圧(Vreg)を受け、基準ノードN5(第3の出力基準ノード)は、出力信号のLレベルに対応する電圧(Vssm)を受ける。ここでは、電圧Vssmは、負電圧である。また、基準ノードN4は、基準ノードN3と共有化されていても良い。なお、基準ノードN3,N4の各々に与えられる電圧は、同一でなくても良い。
入力トランジスタ対(101A,101B)は、入力信号対(INP,INM)の電圧レベルに応じて、ドレイン対(ノードna1,nb1)のいずれか一方に基準ノードN1における電圧を供給する。
電圧緩和トランジスタ対(102A,102B)は、入力トランジスタ対(101A,101B)のドレイン対(ノードna1,nb1)における電圧が「Vss」よりも低くならないように、ノードna1,nb1における電圧(Va1,Vb1)を制限する。
電圧緩和トランジスタ対(103A,103B)は、出力ノードN11A,N11Bにおける電圧が「Vreg」よりも高くならないように、出力ノードN11A,N11Bにおける電圧(Va3,Vb3)を制限する。
インバータ回路104Aは、出力ノードN11Aに対応し、インバータ回路104Bは、出力ノードN11Bに対応する。インバータ回路104Aは、出力ノードN11Bにおける電圧に応じて、出力電圧Vreg,Vssmのうちいずれか一方を出力ノードN11Aに供給するものであり、基準ノードN4,N5の間に直列接続された選択トランジスタ111P,111Nを含む。インバータ回路104Bも、同様の構成である。
出力回路105A,105Bは、補助的なバッファ回路であり、インバータ回路104A,104Bと同様の構成であり、基準ノードN4,N5との間に直列接続された出力トランジスタ112P,112Nを含む。出力回路105Aは、出力ノードN11Aにおける電圧に応じて、出力電圧Vreg,Vssmのうちいずれか一方を出力信号OUTPとして出力する。
次に、図2を参照しつつ、図1に示したレベルシフタによる動作について説明する。なお、ここでは、電圧緩和トランジスタ102A,102Bの閾値電圧は、「Vth」であるものとする。また、Vdd=2.5[V],Vss=0[V],Vreg=1.0[V],Vssm=−1.5[V]であるものとする。すなわち、2.5V系のトランジスタを用いてレベルシフタを構成し、「2.5V」から「0V」までの間を振幅する入力信号INP,INMを、「1.0V」から「−1.5V」までの間を振幅する出力信号OUTP,OUTMに変換する例を示している。
まず、入力信号INPが「Hレベル(Vdd)」から「Lレベル(Vss)」になると、入力トランジスタ101Aに電流が流れ、ノードna1における電圧(Va1)が上昇し始める。電圧緩和トランジスタ102AはON状態であるので、電圧緩和トランジスタ102Aに電流が流れ、ノードna2における電圧(Va2)が上昇し始める。電圧緩和トランジスタ103AはON状態であるので、電圧緩和トランジスタ103Aに電流が流れ、出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)が上昇し始める。
一方、入力信号INMは、「Lレベル(Vss)」から「Hレベル(Vdd)」になるので、入力トランジスタ101Bの電流が遮断され、ノードnb1における電圧(Vb1)が降下し始める。また、ノードnb2における電圧(Vb2)も降下し始める。
出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)が上昇し始めると、インバータ回路104Bでは、選択トランジスタ111Nに電流が流れ始め、出力ノードN11Bにおける電圧(Vb3)が降下し始める。これにより、インバータ回路104Aでは、選択トランジスタ111Pに電流が流れ始め、出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)の上昇速度が素速くなる。出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)が電圧緩和トランジスタ103Aのゲート電圧(Vreg)になると、電圧緩和トランジスタ103Aの電流が遮断される。
また、出力ノードN11Bにおける電圧(Vb3)が電圧緩和トランジスタ103Bのゲート電圧(Vreg)よりも低くなると、電圧緩和トランジスタ103Bに電流が流れ、ノードnb2における電圧(Vb2)が降下する。
このように、電圧緩和トランジスタ103Aから正レベルの電圧が供給されるだけでなく、インバータ回路104Aからの電圧(正レベルの電圧)も出力ノードN11Aに供給されるので、出力ノードN11Aにおける電圧上昇が、従来よりも、素速くなる。(すなわち、電圧Va3の立ち上がり時間Tr1が短縮される。)
一方、入力信号INPが「Lレベル(Vss)」から「Hレベル(Vdd)」になる場合には、インバータ回路104Bが、出力ノードN11Bにおける電圧上昇を補助する。
以上のように、出力ノードにおける電圧変動を素速くすることができ、電圧緩和トランジスタ(出力側)のソース電圧の変動にドレイン電圧の変動を追随させることができる。これにより、ソース・ドレイン間電圧を低減することができ、電圧緩和トランジスタ(出力側)の耐圧制限を緩和することができる。また、入力信号対の振幅遷移に応答して出力信号対の振幅も素速く遷移させることができ、入力信号に対する出力信号の応答性を向上させることができる。
また、各トランジスタの電流駆動能力の大小関係は、次のようであることが好ましい。なお、電流駆動能力の大小関係は、ゲート長に対するゲート幅の比率(W/L)で設定することができる。
入力トランジスタ101A(101B) > 選択トランジスタ111N
電圧緩和トランジスタ102A(102B) > 入力トランジスタ101A(101B)
電圧緩和トランジスタ103A(103B) > 選択トランジスタ111N
このように各トランジスタの電流駆動能力を設定することにより、各ノードにおける電圧上昇/電圧降下を確実に実行することができる。
なお、出力回路105A,105Bの各々が、基準ノードN4と基準ノードN5との間ではなく、基準ノードN3と基準ノードN5との間に接続されていても良い。このように構成した場合も、正レベル「Vreg」から負レベル「Vssm」までの間を振幅する出力信号を出力することが可能である。
また、基準ノードN1,N2,N3,N4,N5に与えられる電圧は、Vdd,Vss,Vreg,Vreg,Vssmに限らず、各トランジスタの耐圧制限を満足するように設定すれば良い。例えば、図1において、基準ノードN3,N4に与えられる電圧を出力電圧Vregから接地電圧Vssに変更すれば、接地レベル「Vss」から負レベル「Vssm」までの間で振幅する出力信号対(OUTP,OUTM)を出力することができる。
(第1の実施形態の変形例)
図3のように、図1に示した各トランジスタの極性を反転し、基準ノードN1〜N5に、それぞれ、電圧Vss(0[V]),Vdd1(1[V]),Vdd2(2[V]),Vdd2(2[V]),Vdd3(3[V])が与えられるように構成すれば、正レベル「Vdd1」から接地レベル「Vss」までの間で振幅する入力信号INP,INMを正レベル「Vdd3」から正レベル「Vdd2」までの間で振幅する出力信号対(OUTP,OUTM)に変換することができる。このように、正レベルから正レベルまでの間で振幅する出力信号対を出力することができる。
(第2の実施形態)
図4は、この発明の第2の実施形態によるレベルシフタの構成を示す。このレベルシフタは、図1に示した構成に加えて、補助トランジスタ201A,201Bと、容量素子(容量部)202A、202Bをさらに備える。補助トランジスタ201Aのゲートは、入力トランジスタ101Aのゲートに接続され(入力信号INPを受け)、ソースは、基準ノードN2に接続され、ドレインは、電圧緩和トランジスタ102Aのソースに接続される。補助トランジスタ201Bも同様の構成である。容量素子202Aは、電圧緩和トランジスタ103Aのソースおよびドレイン間に接続される。容量素子202Bも同様の構成である。
次に、図5を参照しつつ、図4に示した補助トランジスタ201A,201Bによる動作,容量素子202A,202Bによる動作について説明する。
〔補助トランジスタ〕
入力信号INPが「Lレベル(Vss)」から「Hレベル(Vdd)」に遷移すると、補助トランジスタ201Aは、ON状態になり、電圧緩和トランジスタ102Aのソースとゲートとを短絡させる。これにより、ノードna1における電圧(Va1)は、図1の場合よりも、素速く降下し、「Vss」になる(すなわち、電圧Va1の立ち下がり期間Tf2が短縮される)。
また、ノードna1における電圧(Va1)が電圧緩和トランジスタ102Aのゲート電圧「Vss」になるので、電圧緩和トランジスタ102Aのソース・ドレイン間電圧の最大値は、「Vss−Vssm」となり、図1の場合よりも小さくなる。
一方、入力信号INPが「Hレベル(Vdd)」から「Lレベル(Vss)」に遷移すると、補助トランジスタ201Aは、OFF状態になり、図1と同様の動作が行われる。また、補助トランジスタ201Bについても、同様の動作が行われる。
〔容量素子〕
入力信号INPが「Hレベル(Vdd)」から「Lレベル(Vss)」に遷移すると、ノードna2における電圧(Va2)が上昇し始める。ノードna2における電圧変動は、容量素子202Aを介して、電圧緩和トランジスタ103Aのソース(出力ノードN11A)に伝達され、出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)は、電圧Va2に追随して上昇し始める。その結果、出力ノードN11Aにおける電圧上昇は、図1の場合よりも、素速くなる(すなわち、電圧Va3の立ち上がり時間Tr3が短縮される)。
一方、入力信号INPが「Lレベル(Vss)」から「Hレベル(Vdd)」に遷移すると、出力ノードN11Aにおける電圧(Va3)が降下し始める。出力ノードN11Aにおける電圧変動は、容量素子202Aを介して、電圧緩和トランジスタ103Aのドレイン(ノードna2)に伝達され、ノードna2における電圧(Va2)は、電圧Va3に追随して降下し始める。その結果、ノードna2における電圧降下は、図1の場合よりも、素速くなる(すなわち、電圧Va2の立ち下がり時間Tf3が短縮される)。
また、容量素子202Bについても、同様の動作が行われる。
以上のように、補助トランジスタを設けることによって、入力トランジスタの非駆動時において電圧緩和トランジスタ(入力側)のソース電圧を「Vss」に固定することができ、電圧緩和トランジスタ(入力側)の耐圧制限を緩和することができる。
また、容量素子を設けることによって、電圧緩和トランジスタ(出力側)の両端における電圧変動を互いに追随させることができ、電圧緩和トランジスタ(出力側)のソース・ドレイン間電圧をさらに低減することができる。
なお、図6のように、容量素子202A,202Bに代えて、MOSトランジスタ203A,203Bを備える場合も、同様の効果を奏することが可能である。MOSトランジスタ203Aのゲートは、電圧緩和トランジスタ103Aのドレインに接続され、MOSトランジスタ203Aのソース,ドレイン,基板は、電圧緩和トランジスタ103Aのソースに接続される。
(第3の実施形態)
図7は、この発明の第3の実施形態によるレベルシフタの構成を示す。このレベルシフタは、図1に示した構成に加えて、リセット回路301と、インバータ回路302とをさらに備える。
リセット回路(信号供給部)301は、基準信号INとリセット信号RESETとを受け、リセット信号RESETが「Lレベル」であるときには、基準信号INを入力信号INPとして入力トランジスタ101Aのゲートに供給する。基準信号IN,リセット信号RESETの各々は、例えば、正レベル(Vdd)から接地レベル(Vss)までの間で振幅する信号である。一方、リセット回路301は、リセット信号RESETが「Hレベル」であるときには、基準信号INの論理レベルに関係なく、「Hレベル」の入力信号INPを入力トランジスタ101Aを供給する(すなわち、基準信号INの電圧レベルを「Hレベル」に強制的に固定する)。
インバータ回路(信号反転部)302は、リセット回路301からの信号を反転し、入力信号INMとして入力トランジスタ101Bのゲートに供給する。
次に、リセット回路301,インバータ回路302によるレベルシフタのリセット動作について説明する。リセット回路301に与えられるリセット信号RESETが「Hレベル」になると、リセット回路301からの信号(入力信号INP)は「Hレベル」になり、インバータ回路302からの信号(入力信号INM)は「Lレベル」になる。これにより、出力ノードN11A,N11Bにおける電圧(Va3,Vb3)を、それぞれ、「Lレベル(Vssm)」,「Hレベル(Vreg)」に固定することができ、インバータ回路104A,104Bの論理を確定させることが可能となる。
以上のように、レベルシフタを強制的にリセットすることができ、インバータ104A、104Bの内部状態を確定させることができる。これにより、例えば、出力ノードN11A,N11Bが中間電位で安定してしまい基準ノードN4から基準ノードN5へ貫通電流が流れ続けてしまうことを防止することができる。
なお、リセット回路301,インバータ回路302は、図3,図4,図6に示したレベルシフタにも、当然、適用可能である。
以上説明したように、本発明は、レベルシフタとして有用である。
この発明の第1の実施形態によるレベルシフタの構成を示す回路図。 図1に示したレベルシフタによる動作について説明するための波形図。 図1に示したレベルシフタの変形例を示す回路図。 この発明の第2の実施形態によるレベルシフタの構成を示す回路図。 図4に示したレベルシフタによる動作について説明するための波形図。 図4に示したレベルシフタの変形例を示す回路図。 この発明の第3の実施形態によるレベルシフタの構成を示す回路図。 従来のレベルシフタの構成を示す図。 図8に示したレベルシフタによる動作について説明するための波形図。
符号の説明
101A,102B 入力トランジスタ
102A,102B 電圧緩和トランジスタ(入力側電圧緩和トランジスタ)
103A,103B 電圧緩和トランジスタ(出力側電圧緩和トランジスタ)
104A,104B インバータ回路
105A,105B 出力回路
111P,111N 選択トランジスタ
112P,112N 出力トランジスタ
N1,N2,N3,N4,N5 基準ノード
201A,201B 補助トランジスタ
202A,202B 容量素子
203A,203B MOSトランジスタ
301 リセット回路(信号供給部)
302 インバータ回路(信号反転部)

Claims (10)

  1. 互いに相補的に振幅する入力信号対を受け、当該入力信号対の振幅を変換するレベルシフタであって、
    ソース対が第1の入力基準ノードに共通接続され、ゲート対に前記入力信号対を受ける入力トランジスタ対と、
    ソース対が前記入力トランジスタ対のドレイン対に接続され、ゲート対が第2の入力基準ノードに共通接続され、当該入力トランジスタ対のドレイン対における電圧を制限する入力側電圧緩和トランジスタ対と、
    出力ノード対と、
    ソース対が前記出力ノード対に接続され、ゲート対が第1の出力基準ノードに共通接続され、ドレイン対が前記入力側電圧緩和トランジスタ対のドレイン対に接続され、当該出力ノード対における電圧を制限する出力側電圧緩和トランジスタ対と、
    前記出力ノード対に一対一で対応し、第2および第3の出力基準ノードの間に接続される第1および第2のインバータ回路対とを備え、
    前記第1および第2のインバータ回路の各々は、当該出力ノード対のうち自己に対応しない出力ノードにおける電圧に応じて、前記第2および第3の出力基準ノードのうちいずれか一方における電圧を自己に対応する出力ノードに供給する
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  2. 請求項1において、
    前記第1および第2のインバータ回路の各々は、
    ソースが前記第2の出力基準ノードに接続され、ドレインが当該インバータ回路に対応する出力ノードに接続され、ゲートが当該インバータ回路に対応しない出力ノードに接続される第1の選択トランジスタと、
    ソースが前記第3の出力基準ノードに接続され、ドレインが当該インバータ回路に対応する出力ノードに接続され、ゲートが当該インバータ回路に対応しない出力ノードに接続される第2の選択トランジスタとを含む
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  3. 請求項2において、
    前記入力トランジスタ対の電流駆動能力は、前記第2の選択トランジスタの電流駆動能力よりも大きく、
    前記入力側電圧緩和トランジスタ対の電流駆動能力は、前記入力トランジスタ対の電流駆動能力よりも大きく、
    前記出力側電圧緩和トランジスタ対の電流駆動能力は、前記第2の選択トランジスタの電流駆動能力よりも大きい
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  4. 請求項1において、
    前記第2の出力基準ノードに与えられる電圧は、前記第1の出力基準ノードに与えられる電圧に等しい
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  5. 請求項1において、
    ゲートに前記入力信号対の一方を受け、ソースが前記第2の入力基準ノードに接続され、ドレインが前記入力側電圧緩和トランジスタ対の一方のソースに接続される第1の補助トランジスタと、
    ゲートに前記入力信号対の他方を受け、ソースが前記第2の入力基準ノードに接続され、ドレインが前記入力側電圧緩和トランジスタ対の他方のソースに接続される第2の補助トランジスタとをさらに備える
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  6. 請求項1において、
    前記出力側電圧緩和トランジスタの一方のソースおよびドレイン間に接続される第1の容量部と、
    前記出力側電圧緩和トランジスタの他方のソースおよびドレイン間に接続される第2の容量部とさらに備える
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  7. 請求項6において、
    前記第1および第2の容量部は、容量素子である
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  8. 請求項6において、
    前記第1および第2の容量部は、MOSトランジスタである
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  9. 請求項1において、
    基準信号を受け、当該基準信号を前記入力信号対の一方として前記入力トランジスタ対の一方のゲートに供給する信号供給部と、
    前記信号供給部からの基準信号を反転し、前記入力信号対の他方として前記入力トランジスタ対の他方のゲートに供給する信号反転部とをさらに備える
    ことを特徴とするレベルシフタ。
  10. 請求項9において、
    前記信号供給部は、さらに、制御信号を受け、当該制御信号に応じて前記基準信号の電圧レベルを固定する
    ことを特徴とするレベルシフタ。
JP2007030167A 2007-02-09 2007-02-09 レベルシフタ Pending JP2008199153A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007030167A JP2008199153A (ja) 2007-02-09 2007-02-09 レベルシフタ
US11/976,671 US7579870B2 (en) 2007-02-09 2007-10-26 Level shifter
US12/510,718 US7812637B2 (en) 2007-02-09 2009-07-28 Level shifter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007030167A JP2008199153A (ja) 2007-02-09 2007-02-09 レベルシフタ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008199153A true JP2008199153A (ja) 2008-08-28
JP2008199153A5 JP2008199153A5 (ja) 2009-11-05

Family

ID=39685300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007030167A Pending JP2008199153A (ja) 2007-02-09 2007-02-09 レベルシフタ

Country Status (2)

Country Link
US (2) US7579870B2 (ja)
JP (1) JP2008199153A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013090323A (ja) * 2011-10-19 2013-05-13 Ememory Technology Inc 電圧スイッチ回路
US9136832B2 (en) 2012-01-30 2015-09-15 Renesas Electronics Corporation Level shift circuit
JP2017055306A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 株式会社東芝 レベルシフト回路及びドライバ回路

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8441299B2 (en) * 2010-01-28 2013-05-14 Peregrine Semiconductor Corporation Dual path level shifter
JP2012134690A (ja) * 2010-12-21 2012-07-12 Mitsumi Electric Co Ltd レベルシフト回路およびスイッチング電源装置
KR102246879B1 (ko) 2014-10-10 2021-04-30 삼성전자 주식회사 네거티브 레벨 시프팅 회로 및 이를 이용하는 소스 드라이버와 디스플레이 장치

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09148915A (ja) * 1995-09-21 1997-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 出力回路
JPH11145820A (ja) * 1997-11-13 1999-05-28 Nec Ic Microcomput Syst Ltd レベルシフタ回路
JP2000082949A (ja) * 1998-09-04 2000-03-21 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 負電圧レベルシフト回路
JP2002084184A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Seiko Epson Corp レベルシフト回路及びそれを用いた半導体装置
JP2003143003A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Yamaha Corp レベルシフト回路
JP2005260350A (ja) * 2004-03-09 2005-09-22 Hitachi Information Technology Co Ltd レベルシフト回路
JP2006025241A (ja) * 2004-07-08 2006-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧レベル変換回路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4703199A (en) * 1985-04-03 1987-10-27 Intersil, Inc. Non-restricted level shifter
JP3623004B2 (ja) * 1994-03-30 2005-02-23 松下電器産業株式会社 電圧レベル変換回路
JP3204848B2 (ja) * 1994-08-09 2001-09-04 株式会社東芝 レベル変換回路及びこのレベル変換回路を用いてレベル変換されたデータを出力する方法
US5841298A (en) * 1996-04-25 1998-11-24 Industrial Technology Research Institute Locally asynchronous, pipeline-able logic circuits for true-single-phase synchronous logic circuit
US6014041A (en) * 1997-09-26 2000-01-11 Intel Corporation Differential current switch logic gate
JP3176339B2 (ja) 1998-04-24 2001-06-18 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ
US6407579B1 (en) * 2000-01-20 2002-06-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Fast high voltage level shifter with gate oxide protection
US6388471B1 (en) * 2000-05-12 2002-05-14 Sandcraft, Inc. Single phase edge trigger register
US6385099B1 (en) * 2001-03-16 2002-05-07 Intel Corpration Reducing level shifter standby power consumption
JP3657243B2 (ja) * 2002-06-28 2005-06-08 Necエレクトロニクス株式会社 レベルシフタ、半導体集積回路及び情報処理システム
US6873186B2 (en) * 2003-07-11 2005-03-29 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Level shift circuit
US7053658B1 (en) * 2003-11-26 2006-05-30 National Semiconductor Corporation Apparatus for circuit with keeper
TWI227963B (en) * 2004-01-15 2005-02-11 Via Tech Inc Voltage shifter circuit
US7053668B2 (en) * 2004-05-25 2006-05-30 Kabushiki Kaisha Toshiba SOI sense amplifier with cross-coupled body terminal
US7132856B2 (en) * 2004-08-25 2006-11-07 Intel Corporation Hybrid CVSL pass-gate level-converting sequential circuit for multi-Vcc microprocessors
US7215146B2 (en) * 2004-10-29 2007-05-08 Intel Corporation High speed buffered level-up shifters
US7227400B1 (en) * 2005-03-30 2007-06-05 Integrated Device Technology, Inc. High speed MOSFET output driver
US7268588B2 (en) * 2005-06-29 2007-09-11 Freescale Semiconductor, Inc. Cascadable level shifter cell
US7420393B2 (en) * 2006-07-07 2008-09-02 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Single gate oxide level shifter

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09148915A (ja) * 1995-09-21 1997-06-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 出力回路
JPH11145820A (ja) * 1997-11-13 1999-05-28 Nec Ic Microcomput Syst Ltd レベルシフタ回路
JP2000082949A (ja) * 1998-09-04 2000-03-21 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 負電圧レベルシフト回路
JP2002084184A (ja) * 2000-09-06 2002-03-22 Seiko Epson Corp レベルシフト回路及びそれを用いた半導体装置
JP2003143003A (ja) * 2001-10-31 2003-05-16 Yamaha Corp レベルシフト回路
JP2005260350A (ja) * 2004-03-09 2005-09-22 Hitachi Information Technology Co Ltd レベルシフト回路
JP2006025241A (ja) * 2004-07-08 2006-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 電圧レベル変換回路

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013090323A (ja) * 2011-10-19 2013-05-13 Ememory Technology Inc 電圧スイッチ回路
US9136832B2 (en) 2012-01-30 2015-09-15 Renesas Electronics Corporation Level shift circuit
JP2017055306A (ja) * 2015-09-10 2017-03-16 株式会社東芝 レベルシフト回路及びドライバ回路

Also Published As

Publication number Publication date
US7579870B2 (en) 2009-08-25
US7812637B2 (en) 2010-10-12
US20090284282A1 (en) 2009-11-19
US20080191743A1 (en) 2008-08-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4768300B2 (ja) 電圧レベル変換回路及び半導体集積回路装置
TWI737299B (zh) 緩衝電路與緩衝方法
JP2018085559A (ja) 出力回路及び液晶表示装置のデータドライバ
JP2008199153A (ja) レベルシフタ
US5751176A (en) Clock generator for generating complementary clock signals with minimal time differences
JP5295889B2 (ja) レベル変換回路
JP5194954B2 (ja) レベルコンバータ
JP4419965B2 (ja) レベルシフト回路
KR100801031B1 (ko) 레벨 쉬프팅 회로 및 레벨 쉬프팅 방법
WO2018055666A1 (ja) インターフェース回路
US20190081622A1 (en) Level shift circuit
JP6524829B2 (ja) レベルシフト回路
US7675322B2 (en) Level shifting circuits for generating output signals having similar duty cycle ratios
JP4901079B2 (ja) レベルダウン回路を含むインターフェース回路
JP2007060344A (ja) レベルシフト回路
JP4630782B2 (ja) レベルシフト回路
WO2006033638A1 (en) A digital voltage level shifter
US5909134A (en) Clock generator for generating complementary clock signals with minimal time differences
US9935636B1 (en) CMOS input buffer with low supply current and voltage down shifting
JP5881432B2 (ja) レベル変換回路
US20090015313A1 (en) Level Shift Circuit and Semiconductor Integrated Circuit Including the Same
JP4249597B2 (ja) レベルシフト回路
TWM616390U (zh) 低功率電壓位準移位器
JP2006352204A (ja) 電位検出回路及びそれを備える半導体集積回路
JP2019050550A (ja) レベルシフト回路

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090915

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090915

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111014

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111025

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20120306