JP2008164445A - 絶縁検査装置及び絶縁検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】
被検査点間の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、選択された被検査点間の距離が距離情報として記憶される記憶手段と、検査対象の被検査点と他の被検査点の間に電位を与える電源手段と、電源手段が電位を与えた際の検査対象間の電気的特性を検出する検出手段と、この電気的特性から検査対象間の抵抗値を算出する算出手段と、算出手段の算出結果から検査対象間の絶縁の良否を判定する判定手段と、電源手段が与える電位の大きさを制御する制御手段を有し、制御手段は記憶手段に記憶される距離情報にしたがって、電位の大きさを調整することを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
また、本発明によれば、被検査基板上の被検査点間の距離を用いて絶縁検査が行われることになるので、被検査基板の表面の被検査点の位置情報を把握することによって精度の高い検査を実施することができる。このため、基板の内部情報(配線パターンの形状や配置情報)を用いることなく、効果的な絶縁検査を行うことができる。
2・・・・・電源手段
3・・・・・電圧検出手段
4・・・・・検出手段
51・・・・記憶手段
53・・・・算出手段
54・・・・判定手段
55・・・・制御手段
P・・・・・被検査点
CB・・・・基板
d1〜d35・被検査点間の距離
Claims (7)
- 複数の被検査点が予め設定される配線パターンが複数形成される被検査基板において、前記複数の被検査点から異なる配線パターン上の被検査点が選択され、配線パターン間の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、
選択された被検査点間の距離が距離情報として記憶される記憶手段と、
前記被検査点間に電位を与える電源手段と、
前記電源手段が電位を与えた際の前記被検査点間の電気的特性を検出する検出手段と、
前記検出手段が検出する電気的特性から、前記被検査点間の抵抗値を算出する算出手段と、
前記算出手段の算出結果から前記被検査点間の絶縁の良否を判定する判定手段と、
前記電源手段が与える電位の大きさを制御する制御手段を有し、
前記制御手段は、前記記憶手段に記憶される距離情報を基に、前記電位の大きさを決定することを特徴とする絶縁検査装置。 - 前記制御手段は、
前記記憶手段が、全ての被検査点間の距離を記憶する複数の距離情報から、最短の距離情報を有する距離情報を選出し、
前記最短の距離情報に対応する大きさの電位もしくはこの大きさよりも小さい電位を、前記被検査点間に与えるように設定する請求項1記載の絶縁検査装置。 - 前記記憶手段は、全ての被検査点間の距離を複数の距離情報として記憶し、前記制御手段が、全ての距離情報に基づき被検査点間の距離に応じた電圧を設定する請求項1記載の絶縁検査装置。
- 前記制御手段が調整する電位は、前記距離が長い場合には該電位が高く、該距離が短い場合には低くなるよう相対的に調整されていることを特徴とする請求項1記載の絶縁検査装置。
- 前記制御手段は、前記記憶手段の距離情報を所定群に区分し、前記区分に応じる電位を設定することを特徴とする請求項1記載の絶縁検査装置。
- 前記絶縁検査装置は、更に、
前記被検査点として一点の被検査点を第一組として選択し、前記一点の被検査点以外の全ての被検査点を第二組として選択する選択手段を有し、
前記制御手段は、前記第一組の被検査点と、前記第二組に属する被検査点のうち前記第一組の被検査点と最も近い距離にある被検査点との距離を距離情報として、前記第一組と前記第二組の電位を調整することを特徴とする請求項1記載の絶縁検査装置。 - 複数の被検査点が予め設定される配線パターンが複数形成される被検査基板において、前記複数の被検査点から異なる配線パターン上の被検査点が選択され、該被検査点の絶縁検査を行う絶縁検査方法であって、
前記複数の被検査点における二点の被検査点間の距離を距離情報として記憶し、
前記距離情報を基にして、前記二点の被検査点間の電位を調整して印加することを特徴とする絶縁検査方法。
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JP2019074353A (ja) * | 2017-10-13 | 2019-05-16 | 日置電機株式会社 | データ生成装置、基板検査装置およびデータ生成方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0572258A (ja) * | 1991-09-11 | 1993-03-23 | Fujitsu Ltd | プリント基板の絶縁耐圧試験方法 |
JPH0980117A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Pfu Ltd | Xyインサーキットテスタのテストポイント決定方法 |
JP2000214206A (ja) * | 1999-01-21 | 2000-08-04 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
JP2006084249A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0572258A (ja) * | 1991-09-11 | 1993-03-23 | Fujitsu Ltd | プリント基板の絶縁耐圧試験方法 |
JPH0980117A (ja) * | 1995-09-11 | 1997-03-28 | Pfu Ltd | Xyインサーキットテスタのテストポイント決定方法 |
JP2000214206A (ja) * | 1999-01-21 | 2000-08-04 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 |
JP2006084249A (ja) * | 2004-09-15 | 2006-03-30 | Hioki Ee Corp | 絶縁検査方法および絶縁検査装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019074353A (ja) * | 2017-10-13 | 2019-05-16 | 日置電機株式会社 | データ生成装置、基板検査装置およびデータ生成方法 |
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