JP2008115074A - 窒化ガリウム単結晶基板及び表面加工方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】窒化ガリウム単結晶基板110の表面加工方法は、支持台上に位置する窒化ガリウム原板の上面及び底面を平坦化する工程、平坦化された窒化ガリウム原板に波長370〜800nmの光を照射する工程、窒化ガリウム原板の透過率を測定する工程、及び透過率が65〜90%であるか否かを確認する工程を含む。この表面加工方法において、窒化ガリウム単結晶基板110の両面の損傷層の厚さ比率(DLa/DLb)は0.99〜1.01である。
【選択図】図14
Description
図3は、本発明の第1実施形態に係る窒化ガリウム単結晶基板の断面図である。窒化ガリウム単結晶基板110は、両面がすべて研磨されて均一な表面調度を有し、370〜800nmの波長を有する光(紫外線、可視光線、または赤外線)を用いて測定したとき、窒化ガリウム単結晶基板110の透過率は65〜90%である。
図13は、本発明の第2実施形態に係る窒化ガリウム単結晶基板及び表面加工方法を説明するためのフローチャートである。
110 窒化ガリウム単結晶基板
111 第1面
112 第2面
200 支持台
Claims (12)
- 両面研磨を通じて提供される窒化ガリウム単結晶基板であって、
波長370〜800nmの光を用いて基板の透過率を測定したときの該透過率が、65〜90%である窒化ガリウム単結晶基板。 - 透過率測定のために前記単結晶基板に照射する光は、紫外線から赤外線で形成された光である請求項1に記載の窒化ガリウム単結晶基板。
- 窒化ガリウム単結晶基板の表面加工方法であって、
支持台上に位置する窒化ガリウム原板の上面及び底面を平坦化する工程と、
平坦化された窒化ガリウム原板に、370〜800nm範囲の波長の光を照射する工程と、
前記窒化ガリウム原板の透過率を測定する工程と、
前記透過率が65〜90%であることを確認する工程と、を含む方法。 - 前記透過率が、65〜90%の範囲外にある場合、前記窒化ガリウム原板の上面または底面を更に平坦化する請求項3に記載の方法。
- 前記平坦化する工程は、前記窒化ガリウム原板の上面及び底面の一方の面を平坦化する工程と、
前記原板を裏返し、平坦化された面を前記支持台に付着する工程と、
前記窒化ガリウム原板の上面及び底面の他方の面を平坦化する工程と、を含む請求項3に記載の方法。 - 両面研磨を通じて提供される窒化ガリウム単結晶基板であって、
前記窒化ガリウム単結晶原板の両面の損傷層の厚さ比率(DLa/DLb)が0.99〜1.01であり、基板の透過率が65〜90%である窒化ガリウム単結晶基板。 - 前記透過率が、波長370〜800nmの光を用いて測定されたものである請求項6に記載の窒化ガリウム単結晶基板。
- 前記透過率測定のために前記単結晶基板に照射する光は、紫外線から赤外線で形成された光である請求項6に記載の窒化ガリウム単結晶基板。
- 窒化ガリウム単結晶基板の表面加工方法であって、
支持台上に位置する窒化ガリウム原板の上面及び底面を平坦化する工程と、
前記窒化ガリウム単結晶原板の両面の損傷層の厚さ比率(DLa/DLb)を測定する工程と、
損傷層の厚さ比率(DLa/DLb)が0.99〜1.01であるか否かを確認する工程と、
前記窒化ガリウム原板に波長370〜800nmの光を照射する工程と、
前記窒化ガリウム原板の透過率を測定する工程と、
透過率が65〜90%であることを確認する工程と、を含む方法。 - 前記窒化ガリウム単結晶原板の両面の損傷層の厚さを、走査顕微鏡を用いて測定する請求項9に記載の方法。
- 前記損傷層の厚さ比率(DLa/DLb)が0.99〜1.01の範囲外にある場合、前記窒化ガリウム原板の上面または底面を更に平坦化する請求項9に記載の方法。
- 前記平坦化工程は、前記窒化ガリウム原板の上面及び底面の一方の面を平坦化する工程と、
前記原板を裏返し、平坦化された面を前記支持台に付着する工程と、
前記窒化ガリウム原板の上面及び底面の他方の面を平坦化する工程と、を含む請求項9に記載の方法。
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