JP2008046085A - パネル支持機構及び検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検査対象板の電極と接触子とを互いに接触させるために、当該検査対象板を正確に位置決めして支持するパネル支持機構及び検査装置である。前記パネル支持機構の可動ベースに、ストッパピン等を支持した状態で前記可動ベースに取り付けられる位置決め機構を備えた。この位置決め機構は、ストッパピン等を支持する基板と、前記パネルの縁部に当接する前記ストッパピン等を支持した前記基板を、前記パネルの縁部に並行な方向には移動可能にかつ前記縁部に直交する方向には設定位置で固定して支持する位置規制プレートと、当該位置規制プレートに並行に配設されて当該位置規制プレートに支持された前記基板を、前記パネルの縁部に並行な方向の位置決めをして支持する位置決めプレートとを備えた。
【選択図】図1
Description
前記実施形態では、図1,2に基づいてパネル支持機構1の例を説明したが、このパネル支持機構1の構成は一例であって、他の構成のパネル支持機構でもよい。前記位置決め機構7を取り付けることができる構造のパネル支持機構であれば、本発明を適用することができ、前記同様の作用、効果を奏することができる。
Claims (5)
- 検査対象板の電極と接触子とを互いに接触させるために、当該検査対象板を正確に位置決めして支持するパネル支持機構であって、
装置本体側に取り付けられる固定ベースと、
当該固定ベース上に4つ組み合わせて矩形状にかつ前記検査対象板の寸法に合わせて移動可能に配置された可動ベースと、
当該各可動ベースのいずれかに設けられ前記検査対象板の縁部に当接して当該検査対象板を位置決めするストッパピンと、
当該ストッパピンに対向する位置に前記検査対象板を挟んで設けられ当該ストッパピンと相まって前記検査対象板を挟み持つパネルクランプと、
前記ストッパピン又はパネルクランプを支持した状態で前記可動ベースに取り付けられる位置決め機構とを備え、
前記位置決め機構が、前記ストッパピン又はパネルクランプを支持する基板と、前記検査対象板の縁部に当接する前記ストッパピン又はパネルクランプを支持した前記基板を、前記検査対象板の縁部に並行な方向には移動可能にかつ前記縁部に直交する方向には設定位置で固定して支持する位置規制プレートと、当該位置規制プレートに並行に配設されて当該位置規制プレートに支持された前記基板を、前記検査対象板の縁部に並行な方向の位置決めをして支持する位置決めプレートとを備えて構成されたことを特徴とするパネル支持機構。 - 請求項1に記載のパネル支持機構において、
前記基板が、前記検査対象板の縁部に並行な方向に長く形成された、当該基板を前記位置規制プレートに固定するネジを通す長穴と、前記基板を前記位置決めプレートに固定するネジを通して前記検査対象板の縁部に並行な方向の位置決めをする円穴とを備え、
前記位置規制プレートが、前記基板の長穴に通されたネジがねじ込まれるネジ穴を、前記検査対象板の縁部に並行な方向に複数備え、
前記位置決めプレートが、前記基板の円穴に通されたネジがねじ込まれるネジ穴を、前記基板の設置位置に合わせて1又は複数備えたことを特徴とするパネル支持機構。 - 請求項1又は2に記載のパネル支持機構において、
前記位置決めプレートに嵌合部が設けられると共に、前記可動ベースに前記位置決めプレートの嵌合部が嵌合する被嵌合部が設けられ、
前記ネジ穴の配設位置を変えた複数の前記位置決めプレートを適宜付け替えることを特徴とするパネル支持機構。 - 請求項3に記載のパネル支持機構において、
前記嵌合部が、前記位置決めプレートの両端に設けられたピン穴で構成され、
前記被嵌合部が、前記可動ベースに設けられた2つの嵌合ピンで構成されたることを特徴とするパネル支持機構。 - 検査対象板の電極と接触子とを互いに接触させて通電試験を行う検査装置において、
前記検査対象板を正確に位置決めして支持するパネル支持機構を備え、
当該パネル支持機構として前記請求項1ないし4のいずれか1項に記載のパネル支持機構を用いたことを特徴とする検査装置。
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001074599A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Soushiyou Tec:Kk | フラットパネルディスプレイ又はプローブブロックの支持枠体 |
JP2006119031A (ja) * | 2004-10-22 | 2006-05-11 | Micronics Japan Co Ltd | パネルの検査装置に用いられる電気的接続装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100843951B1 (ko) | 2008-04-15 | 2008-07-03 | 오상협 | 백라이트 유닛 지그 팔레트 |
CN109031712A (zh) * | 2018-07-17 | 2018-12-18 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种通用型电子屏幕定位载具 |
CN109031712B (zh) * | 2018-07-17 | 2024-04-05 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种通用型电子屏幕定位载具 |
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