JP2007240299A - フライングキャパシタ方式電圧測定装置 - Google Patents

フライングキャパシタ方式電圧測定装置 Download PDF

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Abstract

【課題】計測時間を遅くすることなく、耐ノイズ性を向上できる電圧測定装置を提供すること。
【解決手段】コンデンサ3と、第1のマルチプレクサ1と、第2のマルチプレクサ2と、電圧計測手段7と、サンプル電圧計測スイッチ4と、制御手段7と、各電圧源V1〜V4の両端にそれぞれ接続される電圧検出端子T1〜T5およびマルチプレクサ間に接続された一対の抵抗Rf1,Rf2と前記抵抗Rf1,Rf2およびマルチプレクサの接続点間に接続されたコンデンサCfからなる複数のフィルタとを備えたフライングキャパシタ方式電圧測定装置であって、(N+1)個の電圧検出端子のうちの1番目および(N+1)番目の電圧検出端子に接続される一対の抵抗のうちの一方の抵抗Rf1の抵抗値を、一対の抵抗のうちの他方の抵抗Rf2の抵抗値より小さく設定すると共に、一対の抵抗の合計抵抗値を複数のフィルタの全部において等しく設定した。
【選択図】図1

Description

本発明は、フライングキャパシタ方式電圧測定装置に関する。
電気自動車の電源のように、多数個の電池(電圧源)を直列接続して構成される高圧電源において、各個別電池(電圧源)の電圧をそれぞれ測定する装置として、フライングキャパシタ方式電圧測定装置がある。
図3は、従来のフライングキャパシタ方式電圧測定装置の構成図である。図3において、高圧電源Vにおいて直列接続された電圧源(たとえば、バッテリ)V1〜V4は、電圧検出端子T1〜T5から、電圧サンプルスイッチS1,S3,S5からなる第1のマルチプレクサ1および電圧サンプルスイッチS2,S4からなる第2のマルチプレクサ2を経由してコンデンサ3に接続され、さらに、コンデンサ3は、スイッチ4a,4bからなるサンプル電圧計測スイッチ4を経由して電圧計測回路5に接続されている。
また、電圧検出端子T1〜T5と第1および第2のマルチプレクサ1、2の電圧サンプルスイッチS1〜S5の間には、それぞれ抵抗Rfが接続されていると共に、抵抗Rfと電圧サンプルスイッチS1〜S5の各接続点間には、コンデンサCfが接続されている。抵抗RfとコンデンサCfはローパスフィルタの作用を行うフィルタ回路8を構成し、コンデンサ3への充電経路に乗るノイズを軽減し、第1および第2のマルチプレクサ1,2以降の計測系への影響を防止している。
上述の構成において、電圧測定装置は、サンプル電圧計測スイッチ4が開いた状態で、第1および第2のマルチプレクサ1,2により所望の電圧源を選択した後に、第1および第2のマルチプレクサ1,2を開いてサンプル電圧計測スイッチ4を閉じる動作を繰り返すことにより、電圧源V1〜V4の各電圧を絶縁的に計測することができる。
たとえば、電圧サンプルスイッチS1とS2を閉じれば、電圧源V1の電圧がコンデンサ3に充電され、次に電圧サンプルスイッチS1とS2を開いた後、サンプル電圧計測スイッチ4を閉じると、電圧計測回路5にコンデンサ3の充電電圧、すなわち電圧源V1の電圧に対応する電圧が入力される。このようにして、マルチプレクサ1,2とサンプル電圧計測スイッチ4は同時に閉じないため、電圧計測回路5は、電圧源V1と絶縁された状態でその電圧を計測することができる。
また、この電圧測定装置では、奇数番目の電圧源に対して偶数番目の電圧源の検出電圧が、極性反転して電圧計測回路5に入力されるため、奇数番目の電圧源と偶数番目の電圧源の検出電圧極性を揃えるための極性補正手段6を備えている(たとえば、特許文献1および2参照)。
特開平11−248755号公報 特開2003−114243号公報
しかしながら、上述の構成の電圧測定装置では、フィルタ回路8の抵抗RfおよびコンデンサCfが、計測電圧(コンデンサ3に充電される電圧)の検出精度に影響を与えてしまう。すなわち、コンデンサ3には、個別電圧源V1〜V4の各電圧が直接充電されるのではなく、いったんフィルタ回路8のコンデンサCfへ充電された後、コンデンサCfに充電された電荷がコンデンサ3側へ放電されてコンデンサ3が充電される。したがって、フィルタ回路8の影響をなくすためには計測時間を長くする必要があるという問題がある。
つまり、各電圧源V1〜V4からのコンデンサCfへの充電は、2個の抵抗Rfの抵抗値とコンデンサCfの容量で決定される時定数τ=2Rf*Cfにより制限されるので、図4に示すように、コンデンサCfのフル充電までに時間を要してしまう。たとえば、電圧源V1の計測時、時間t1において電圧サンプルスイッチS1およびS2が閉じられると、電圧源V1の電圧で充電されていたコンデンサCfの電荷がコンデンサ3へ放電されコンデンサ3が充電されるため、コンデンサCfの両端電圧は電圧V1から一度若干下がり、そこから時定数τで上昇するように充電される。次に、時間t2でスイッチS1およびS2を開いて、サンプル電圧計測スイッチ4を閉じることにより、コンデンサ3の両端電圧が電圧計測回路5で計測される。
このとき、ノイズ除去のために、フィルタ回路8の抵抗Rfの抵抗値は、たとえば、数10〜数百Hzのノイズを除去するために10kΩオーダーに設定(具体例として、コンデンサCfの容量値は4.7μF、抵抗Rfの抵抗値は10kΩに設定)されているので、コンデンサCfをフル充電するのに要する時間は、時定数τの何倍もの長い時間を要してしまう。
したがって、時間t1からt2までの期間P1に対して、時間t2からコンデンサCfがフル充電(飽和状態)される時間t3までの期間P2は、期間P1の何倍もの時間を要してしまい、電圧計測に要する時間が長くなる。コンデンサCfが飽和状態に戻りきらないうちに次回の計測を開始すると、正確な電圧計測ができない。
抵抗Rfの抵抗値を小さくして、コンデンサCfの容量値をコンデンサ3の容量値に対して充分大きな値とすれば、上述の問題は軽減されるが、フィルタ定数(カットオフ周波数)を変更したくない場合、コンデンサCfの容量値を大にすると、コンデンサCfの形状が大きくなり、部品形状が大きくなってしまう。
また、高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測時、その電圧検出端子間(すなわち、T2−T3間およびT3−T4間)に接続されたコンデンサCfは、コンデンサ3への放電後に当該電圧源(すなわち、V2またはV3)から充電される際に、その上下2つの電圧源(すなわち、電圧源V1およびV3、または電圧源V2およびV4)からの回り込み電流が流れるために充電電流が多くなり、短い時間で充電される。
たとえば、電圧源V2の計測時、その電圧検出端子間T2−T3間に接続されたコンデンサCfの両端電圧は、コンデンサ3への放電後に電圧V2より低くなるため、この低くなった分だけ電圧検出端子T1−T2間およびT3−T4間に接続されたコンデンサCfの両端電圧が、それぞれ電圧V3およびV4より高くなる。それにより、電圧検出端子間T2−T3間に接続されたコンデンサCfは、放電後再び充電される際、電圧源V2から抵抗Rfを介して充電される以外に、電圧検出端子T1−T2間およびT3−T4間に接続されたコンデンサCfからも電荷の移動が行われて充電される。
一方、高圧電源Vの両端の電圧源(すなわち、V1およびV4)の計測時、その電圧検出端子間(すなわち、T1−T2間およびT4−T5間)に接続されたコンデンサCfは、コンデンサ3への放電後に当該電圧源(すなわち、V1またはV4)から充電される際に、片側から1つの電圧源のみ(すなわち、電圧源V2、または電圧源V3)からの回り込み電流が流れるだけなので、充電電流は、上述の高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測時の充電電流に比べて少なくなる。
たとえば、電圧源V1の計測時、その電圧検出端子間T1−T2間に接続されたコンデンサCfの両端電圧は、コンデンサ3への放電後に電圧V1より低くなるため、この低くなった分だけ電圧検出端子T2−T3間に接続されたコンデンサCfの両端電圧が、電圧V2より高くなる。それにより、電圧検出端子間T1−T2間に接続されたコンデンサCfは、放電後再び充電される際、電圧源V1から抵抗Rfを介して充電される以外に、電圧検出端子T2−T3間に接続されたコンデンサCfからも電荷の移動が行われて充電される。
そのため、高圧電源Vの両端の電圧源(すなわち、V1およびV4)の計測時のコンデンサCfの充電時間は、高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測時のコンデンサCfの充電時間より遅くなる。
それにより、計測サイクルが短く(電圧計測によるコンデンサCfの放電後、コンデンサCfのフル充電前に次の電圧計測が開始される場合、かつ、計測サイクルが、電圧源V1、V2、V3およびV4の同一順で繰り返される場合は、上述の高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測に比べて、高圧電源Vの両端の電圧源(すなわち、V1およびV4)の計測の方が検出精度が低下してしまうという問題がある。
さらに、計測サイクルが、電圧源V1、V2、V3およびV4の同一順で繰り返される場合、電圧源V1の電圧計測後、電圧源V1用のコンデンサCfがフル充電状態に戻る前に、電圧源V2の計測を開始すると、電圧源V2用のコンデンサCfの両端電圧は、電圧源V1用のコンデンサCfのフル充電が戻りきらない分を補う値だけ高くなり、その状態のまま、コンデンサ3の充電電圧を電圧計測回路5で計測すると、電圧源V2の計測値が真の値よりも高めに計測されてしまう。次に、電圧源V2の電圧計測後、電圧源V2用のコンデンサCfがフル充電状態に戻る前に、電圧源V3の計測を開始すると、電圧源V3用のコンデンサCfの両端電圧は、電圧源V2用のコンデンサCfの両端電圧が高くなった分を補う値だけ低くなり、その状態のまま、コンデンサ3の充電電圧を電圧計測回路5で計測すると、電圧源V3の計測値が真の値よりも低めに計測されてしまう。次に、電圧源V3の電圧計測後、電圧源V3用のコンデンサCfがフル充電状態に戻る前に、電圧源V4の計測を開始すると、上述の電圧源V2の計測時と同様に、電圧源V4の計測値が真の値よりも高めに計測されてしまう。
このように、計測サイクルが、電圧源V1、V2、V3およびV4の同一順で繰り返される場合は、計測順により、交互に計測値が真の値よりも低め、高めとずれてしまうという問題がある。
さらに、電圧源からフィルタ回路に至る接続ラインに断線が発生した場合、コンデンサCfの影響で断線時もコンデンサ3に電荷が現れてしまい、故障と判別できないという問題もある。たとえば、電圧検出端子と抵抗Rfの接続ラインのうちの1つが断線しても、他のラインからの回り込みにより計測対象のコンデンサCfが充電されてしまうため、断線が検知できないだけでなく、断線時は、計測対象の電圧源の電圧ではなく、上記のコンデンサCfに充電された電荷、すなわち電圧源電圧でない偽りの電圧が計測されてしまう。
そこで本発明は、上述した従来の問題点に鑑み、計測時間を遅くすることなく、耐ノイズ性を向上できる電圧測定装置を提供することを目的としている。
上記課題を解決するためになされた請求項1記載の発明は、コンデンサと、直列接続されたN(ただし、Nは偶数)個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、電圧計測手段と、前記コンデンサの両端電圧を電圧計測手段に供給するサンプル電圧計測スイッチと、前記第1および第2のマルチプレクサおよび前記サンプル電圧計測スイッチの動作を制御する制御手段と、前記各電圧源の両端にそれぞれ接続される電圧検出端子および前記マルチプレクサ間に接続された一対の抵抗と前記抵抗および前記マルチプレクサの接続点間に接続されたコンデンサからなる複数のフィルタとを備えたフライングキャパシタ方式電圧測定装置であって、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの1番目および(N+1)番目の電圧検出端子に接続される前記一対の抵抗のうちの一方の抵抗の抵抗値を、前記一対の抵抗のうちの他方の抵抗の抵抗値より小さく設定すると共に、前記一対の抵抗の合計抵抗値を前記複数のフィルタの全部において等しく設定したことを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置に存する。
請求項1記載の発明においては、コンデンサと、直列接続されたN(ただし、Nは偶数)個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子をコンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子をコンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、電圧計測手段と、コンデンサの両端電圧を電圧計測手段に供給するサンプル電圧計測スイッチと、第1および第2のマルチプレクサおよびサンプル電圧計測スイッチの動作を制御する制御手段と、各電圧源の両端にそれぞれ接続される電圧検出端子およびマルチプレクサ間に接続された一対の抵抗と前記抵抗およびマルチプレクサの接続点間に接続されたコンデンサからなる複数のフィルタとを備えたフライングキャパシタ方式電圧測定装置であって、(N+1)個の電圧検出端子のうちの1番目および(N+1)番目の電圧検出端子に接続される一対の抵抗のうちの一方の抵抗の抵抗値を、一対の抵抗のうちの他方の抵抗の抵抗値より小さく設定すると共に、一対の抵抗の合計抵抗値を複数のフィルタの全部において等しく設定している。
上記課題を解決するためになされた請求項2記載の発明は、請求項1記載のフライングキャパシタ方式電圧測定装置において、前記制御手段は、前記直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測し続いてN番目から一番目まで逆順に計測するように、前記第1および第2のマルチプレクサおよび前記サンプル電圧計測スイッチの動作を制御し、前記電圧計測手段は、前記制御手段の制御により、前記直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測した1回目の前記各電圧源の計測値と、続いてN番目から一番目まで逆順に計測した2回目の前記各電圧源の計測値を平均する演算を行い、その結果の平均値を各電圧源の最終計測値として決定することを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置に存する。
請求項2記載の発明においては、制御手段は、直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測し続いてN番目から一番目まで逆順に計測するように、第1および第2のマルチプレクサおよびサンプル電圧計測スイッチの動作を制御する。電圧計測手段は、制御手段の制御により、直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測した1回目の前記各電圧源の計測値と、続いてN番目から一番目まで逆順に計測した2回目の各電圧源の計測値を平均する演算を行い、その結果の平均値を各電圧源の最終計測値として決定する。
上記課題を解決するためになされた請求項3記載の発明は、請求項1または2記載のフライングキャパシタ方式電圧測定装置において、前記奇数番目の電圧検出端子および前記抵抗Rf1の接続点と前記偶数番目の電圧検出端子および前記抵抗Rf2の接続点の間に接続された第1の短絡抵抗Raと、該第1の短絡抵抗Raが接続されていない、前記偶数番目の電圧検出端子および抵抗Rf2の接続点と前記奇数番目の電圧検出端子および前記抵抗Rf1の接続点の間に接続され、前記第1の短絡抵抗Raより大きい抵抗値を有する第2の短絡抵抗Rbと、隣接する前記電圧源の最終計測値の差分が予め設定された断線判定しきい値以上の場合に、断線故障と判定する判定手段とをさらに備えたことを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置に存する。
請求項3記載の発明においては、フライングキャパシタ方式電圧測定装置は、奇数番目の電圧検出端子および抵抗Rf1の接続点と偶数番目の電圧検出端子および抵抗Rf2の接続点の間に接続された第1の短絡抵抗Raと、第1の短絡抵抗Raが接続されていない、偶数番目の電圧検出端子および抵抗Rf2の接続点と奇数番目の電圧検出端子および抵抗Rf1の接続点の間に接続され、第1の短絡抵抗Raより大きい抵抗値を有する第2の短絡抵抗Rbと、隣接する電圧源の最終計測値の差分が予め設定された断線判定しきい値以上の場合に、断線故障と判定する判定手段とをさらに備えている。
請求項1記載の発明によれば、コンデンサと、直列接続されたN(ただし、Nは偶数)個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子をコンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子をコンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、電圧計測手段と、コンデンサの両端電圧を電圧計測手段に供給するサンプル電圧計測スイッチと、第1および第2のマルチプレクサおよびサンプル電圧計測スイッチの動作を制御する制御手段と、各電圧源の両端にそれぞれ接続される電圧検出端子およびマルチプレクサ間に接続された一対の抵抗と前記抵抗およびマルチプレクサの接続点間に接続されたコンデンサからなる複数のフィルタとを備えたフライングキャパシタ方式電圧測定装置であって、(N+1)個の電圧検出端子のうちの1番目および(N+1)番目の電圧検出端子に接続される一対の抵抗のうちの一方の抵抗の抵抗値を、一対の抵抗のうちの他方の抵抗値より小さく設定すると共に、一対の抵抗の合計抵抗値を前記複数のフィルタの全部において等しく設定したので、コンデンサへのフル充電を待つことなく、したがって計測時間を遅くすることなく、耐ノイズ性の良い正確な電圧源の計測を可能とすることができる。また、高圧電源Vの両端の電圧源の計測時も、高圧電源Vの中ほどの電圧源の計測時もほぼ同じ検出精度での計測が可能となる。
請求項2記載の発明によれば、制御手段は、前記直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測し続いてN番目から一番目まで逆順に計測するように、第1および第2のマルチプレクサおよびサンプル電圧計測スイッチの動作を制御し、電圧計測手段は、制御手段の制御により、直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測した1回目の前記各電圧源の計測値と、続いてN番目から一番目まで逆順に計測した2回目の各電圧源の計測値を平均する演算を行い、その結果の平均値を各電圧源の最終計測値として決定するので、精度の良い電圧計測が可能となる。
請求項3記載の発明によれば、奇数番目の電圧検出端子および抵抗Rf1の接続点と偶数番目の電圧検出端子および抵抗Rf2の接続点の間に接続された第1の短絡抵抗Raと、第1の短絡抵抗Raが接続されていない、偶数番目の電圧検出端子および抵抗Rf2の接続点と奇数番目の電圧検出端子および抵抗Rf1の接続点の間に接続され、第1の短絡抵抗より大きい抵抗値を有する第2の短絡抵抗Rbと、隣接する電圧源の最終計測値の差分が予め設定された断線判定しきい値以上の場合に、断線故障と判定する判定手段とをさらに備えているので、耐ノイズ性の向上のためのフィルタが存在しても断線検知が可能となる。
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)図1は、本発明の第1の実施形態に係る電圧測定装置の構成を示す回路図である。図1において、電圧測定装置は、フライングキャパシタ方式電圧測定装置として構成され、高圧電源Vの電圧検出端子T1〜T5に接続された第1のマルチプレクサ1および第2のマルチプレクサ2、両極性のコンデンサ3、サンプル電圧計測スイッチ4、電圧計測手段としてのマイクロコンピュータ(以下、マイコンという)7およびフィルタ回路8を含む。
高圧電源Vは、直列接続されたN個(ただし、Nは偶数であり、この形態では、たとえばN=4)の電圧源(たとえば、バッテリ)V1〜V4を含む。各電圧源V1〜V4は、同一の電圧を有し、(N+1)個(この形態では、たとえば5個)の電圧検出端子T1〜T5にそれぞれ接続されている。
フィルタ回路8は、奇数番目の電圧検出端子、すなわちT1,T3,T5と第1のマルチプレクサ1の電圧サンプルスイッチS1,S3,S5の間にそれぞれ接続された抵抗Rf1と、偶数番目の電圧検出端子、すなわち、T2,T4と第2のマルチプレクサ2の電圧サンプルスイッチS2,S4の間にそれぞれ接続された抵抗Rf2と、抵抗Rf1および第1のマルチプレクサ1の接続点と抵抗Rf2および第2のマルチプレクサ2の接続点との間にそれぞれ接続されたコンデンサCfとからなる複数のフィルタから構成される。各フィルタの抵抗Rf1,Rf2とコンデンサCfは、ローパスフィルタの作用を行い、充電ラインに乗るノイズを除去し、第1および第2のマルチプレクサ1,2以降の計測系への影響をなくしている。
抵抗Rf1と抵抗Rf2の抵抗値は、Rf1+Rf2=2RfおよびRf1≪Rf2の関係を持つように設定されている。たとえば、Rf=10kΩ、Rf1=1kΩ、Rf2=19kΩに設定されている。またこのとき、コンデンサ3は0.1μF、コンデンサCfは4.7μFに設定されている。コンデンサ3とコンデンサCfは、同一特性品(同シリーズ品、同一耐圧品)のチップ形状のセラミックコンデンサが用いられる。
第1のマルチプレクサ1の電圧サンプルスイッチS1,S3,S5は、コンデンサ3の一方の端子に接続され、第2のマルチプレクサ2の電圧サンプルスイッチS2,S4は、コンデンサ3の他方の端子に接続されている。
サンプル電圧計測スイッチ4は、コンデンサ3の一方の端子に接続されたスイッチ4aと、コンデンサ3の他方の端子に接続されたスイッチ4bを含む。
マイコン7は、電源+Vccからの駆動電圧が供給される電源ポートVccと、サンプル電圧計測スイッチ4のスイッチ4a,4bにそれぞれ接続された入力ポートA/D1,A/D2を含む。マイコン7は、請求項における電圧計測手段、制御手段および判定手段として働く。
次に、上述の構成を有するフライングキャパシタ方式電圧測定装置の動作(測定手順)について説明する。まず、マルチプレクサ1および2の電圧サンプルスイッチS1〜S5およびサンプル電圧計測スイッチ4のスイッチ4a,4bが全て開いている状態では、フィルタ回路8の各コンデンサCfに各電圧源V1〜V4の電圧がそれぞれ充電されている。
この状態から、マイコン7の開閉制御により、第1のマルチプレクサ1の電圧サンプルスイッチS1と第2のマルチプレクサ2の電圧サンプルスイッチS2を閉じると、コンデンサCf、電圧サンプルスイッチS1、コンデンサ3および電圧サンプルスイッチS2により閉回路が形成される。それにより、コンデンサCfに並列にコンデンサ3が接続された状態となり、コンデンサCfに蓄積されている電荷がコンデンサ3へ放電され、電圧サンプルスイッチS1に接続されているコンデンサ3の端子側がプラスの極性になるように、コンデンサ3が充電される。
次に、電圧サンプルスイッチS1およびS2を開いて、サンプル電圧計測スイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の両端電圧をスイッチ4aおよび4bを介して、マイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1,A/D2に供給する。
マイコン7は、第1および第2の入力ポートA/D1,A/D2に印加されたコンデンサ3の両端電圧をA/D(アナログ/デジタル)変換してデジタル値として読み込む。そして、マイコン7は、コンデンサCfおよびコンデンサ3の容量値をそれぞれCf、C1とすれば、(読み込んだ値)×(Cf+C1)/Cfの演算を行うことにより、電圧源V1の電圧を算出する。算出された値は、1回目の計測値としてマイコン7の内部メモリに記憶される。
次に、電圧サンプルスイッチS2およびS3を閉じると、コンデンサCf、電圧サンプルスイッチS2、コンデンサ3および電圧サンプルスイッチS3により閉回路が形成される。それにより、同様にコンデンサCfに並列にコンデンサ3が接続された状態となり、コンデンサCfに蓄積されている電荷がコンデンサ3へ放電され、電圧サンプルスイッチS2に接続されているコンデンサ3の端子側がプラスの極性になるように、電圧源V1の測定時と逆極性でコンデンサ3が充電される。
次に、電圧サンプルスイッチS2およびS3を開いて、サンプル電圧計測スイッチ4のスイッチ4aおよび4bを所定期間閉じ、コンデンサ3の両端電圧、すなわち電圧源V2の電圧をサンプル電圧計測スイッチ4を介して、マイコン7の第1および第2の入力ポートA/D1およびA/D2に供給する。
マイコン7は、第1および第2の入力ポートA/D1,A/D2に印加されたコンデンサ3の両端電圧をA/D(アナログ/デジタル)変換してデジタル値として読み込む。そして、マイコン7は、コンデンサCfおよびコンデンサ3の容量値をそれぞれCf、C1とすれば、(読み込んだ値)×(Cf+C1)/Cfの演算を行うことにより、電圧源V2の電圧を算出する。算出された値は、1回目の計測値としてマイコン7の内部メモリに記憶される。
以下同様に、電圧サンプルスイッチS3およびS4、S4およびS5の組み合わせにより、それぞれ、電圧源V3およびV4の各電圧を示す値が、マイコン7で計測される。
次に、電圧源V1,V2,V3,V4の順番に計測してこれらの電圧を算出した後、続いて、順番を電圧源V4,V3,V2,V1に代えて同様の計測を行ってこれらの電圧を算出する。この時の算出値は、2回目の計測値としてマイコン7の内部メモリに記憶される。
次に、マイコン7は、2回計測した電圧源V1の1回目の算出値と2回目の算出値を平均する演算を行い、演算結果である平均値を電圧源V1の最終算出値として決定する。以下同様に、2回計測した電圧源V2〜V4の算出値をそれぞれ平均した平均値を、電圧源V2〜V4の最終算出値として決定する。決定されたこれらの最終算出値は、マイコン7の内部メモリに記憶される。
このように、図1の電圧測定装置では、コンデンサ3の充電電荷を個別電圧源の電圧ということでなく、コンデンサCfに充電された個別電圧源の電圧がCf+C1の容量に変換されたものとして扱うことにより、コンデンサ3へのフル充電を待つことなく、正確な電圧源の計測を可能とすることができる。
また、上述の計測動作において、高圧電源Vの両端の電圧源V1(またはV4)の計測時、コンデンサCfは、コンデンサ3への放電後に充電される際に、電圧源V1(またはV4)から充電される以外に、片側から1つの電圧源V2(またはV3)のみからの回り込み電流が流れるのは図2の従来例と変わらないが、フィルタ回路8の抵抗Rf1およびRF2の抵抗値がRf1+Rf2=2RfおよびRf1≪Rf2の関係になるように設定されているので、電圧源V1またはV4から抵抗Rf1を介して流れる充電電流が図2の従来例よりも多くなるため、高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測時とほぼ同じ充電電流を確保することができる。その結果、高圧電源Vの両端の電圧源(すなわち、V1およびV4)の計測時も、高圧電源Vの中ほどの電圧源(すなわち、V2およびV3)の計測時もほぼ同じ検出精度での計測が可能となる。
また、フィルタ回路8の時定数は、図2の従来例と同じ値となっているため、ローパスフィルタの作用は図2の従来例と変わることなく、コンデンサCfの充電時間を早めることができ、検出精度の低下を防止することができる。
さらに、電圧源の計測順をV1→V2→V3→V4→V4→V3→V2→V1とした計測を1サイクルとし、2回計測の平均値を最終算出値とすることにより、上述の計測順における計測値V1(計測値が真の値より低くなる)→V2(計測値が真の値より高くなる)→V3(計測値が真の値より低くなる)→V4(計測値が真の値より高くなる)→V4(計測値が真の値より低くなる)→V3(計測値が真の値より高くなる)→V2(計測値が真の値より低くなる)→V1(計測値が真の値より高くなる)の高い低いのズレが打ち消されて、精度の良い電圧計測が可能となる。
また、コンデンサ3とコンデンサCfは、同一特性品(同シリーズ品、同一耐圧品)のチップ形状のセラミックコンデンサが用いられているので、装置の小型化に役立っている。一般に、セラミックコンデンサは、容量値がDC印加電圧によって変動するDCバイアス特性を持っているが、コンデンサ3とコンデンサCfに同一特性品(同シリーズ品、同一耐圧品)を用いることによって、上述の(読み込んだ値)×(Cf+C1)/Cfの演算時の容量変動分を打ち消すことができる。また、同一特性品を用意できない場合は、コンデンサ3に用いられるセラミックコンデンサのDCバイアス特性と、コンデンサCfに用いられるセラミックコンデンサのDCバイアス特性を予め把握しておき、打ち消せなかった容量変動分をソフト的に補正することができる。
(第2の実施形態)図2は、本発明の第2の実施形態に係る電圧測定装置の構成を示す回路図である。図2に示す電圧測定装置は、図1の構成に加えて、電圧源からフィルタ回路に至る接続ラインに断線が発生した場合、この断線検知を行うために、電圧検出端子T1およびT2間、電圧検出端子T3およびT4間に抵抗Raを接続し、電圧検出端子T2およびT3間、電圧検出端子T4およびT5間に抵抗Rbを接続している。抵抗Raと抵抗Rbは異なる抵抗値を有する抵抗であり、たとえばこの実施形態では、抵抗Raは1MΩ、抵抗Rbは2MΩに選定されている。
上述の構成において、実使用での正常時、隣接する電圧源の計測時、計測した最終計測値の電位差(差分)が断線判定しきい値より小さい場合、下記の判定法により、断線を検知することができる。
(1)両端の接続ライン(電圧源V1から電圧検出端子T1を介して抵抗Raに接続されるまでの電圧源V1のプラス側ラインおよび電圧源V4から電圧検出端子T5を介して抵抗Rbに接続されるまでの電圧源V4のマイナス側ライン)の断線時
電圧源V1またはV4の電圧計測時、計測値が0Vの時、マイコン7は断線と判定する。
(2)中央の接続ライン(上記(1)の接続ライン以外の接続ライン)の断線時(たとえば、図2の×印の部分の断線時)
断線が発生した場合、電圧検出端子T1−T2間およびT2−T3間に接続された2つのコンデンサCfの両端電圧は、電圧源V1と電圧源V2の和となる。また、この2つのコンデンサCfには、全ての抵抗RaおよびRbからの回り込みが発生するため、電圧検出端子T1−T2間に接続された抵抗Raと電圧検出端子T2−T3間に接続された抵抗Rbの分圧比とならず、断線部の電圧を全部の抵抗RaおよびRbで分圧した電圧が、断線部の2つのコンデンサCfの両端電圧の差となって現れる。すなわち、断線部の隣り合う電圧源の最終計測値、たとえば、電圧源V1およびV2の最終計測値には、
|電圧源V1の最終計測値−電圧源V2の最終計測値|/電圧源V1の最終計測値+電圧源V2の最終計測値=|Ra/各抵抗の総和−Rb/各抵抗の総和|
となる電位差(差分)が発生するので(たとえば、抵抗Ra=1MΩ、Rb=2MΩ、V1〜V4の場合、V1とV2の電圧差がV1+V2の1/6の場合に断線)、断線を検知する最低電圧時にこの条件を満たす、断線判定しきい値を予め設定してマイコン7の内部メモリに記憶しておき、マイコン7で、この断線判定しきい値以上の電位差(差分)が検出された場合に断線と判定することにより、断線検知が可能となる。
一例として、電圧検出端子T2を介してフィルタ回路8に接続される電圧源V2のプラス側ラインが断線した場合、断線を検知するV1〜V4最低電圧を7.5Vと予め決めておくと、断線時にV1+V2=15V、各抵抗の総和=6MΩのため、|V1−V2|/V1+V2=1/6となるのは、V1−V2(電圧源V1の電圧計測値−電圧源V2の電圧計測値)が2.5Vの時であるため、(実使用時の正常時、チャンネル間の電位差は2.5Vより大きくならない条件であるなら)隣り合うチャンネルの電位差が、2.5V以上(断線判定電圧しきい値以上)となった場合に、断線と判定することにすれば、V1〜V4が7.5V以上の場合に断線検知が可能となる。
以上の通り、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限らず、種々の変形、応用が可能である。
本発明の第1の実施形態に係る電圧測定装置の構成を示す回路図である。(第1の実施形態) 本発明の第2の実施形態に係る電圧測定装置の構成を示す回路図である。(第2の実施形態) 従来のフライングキャパシタ方式電圧測定装置の構成図である。 図3の測定装置の動作を説明するための図である。
符号の説明
S1〜S6,4a,4b スイッチ
Rf 抵抗
Rf1 抵抗
Rf2 抵抗
Ra 抵抗(第1の短絡抵抗)
Rb 抵抗(第2の短絡抵抗)
T1〜T5 電圧検出端子
V1〜V5 電圧源
1 第1のマルチプレクサ
2 第2のマルチプレクサ
3 コンデンサ
4 サンプル電圧計測スイッチ
7 マイコン(電圧計測手段、制御手段、判定手段)

Claims (3)

  1. コンデンサと、直列接続されたN(ただし、Nは偶数)個の電圧源に接続された(N+1)個の電圧検出端子のうちの奇数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第1のマルチプレクサと、前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの偶数番目の電圧検出端子を前記コンデンサに選択的に接続する第2のマルチプレクサと、電圧計測手段と、前記コンデンサの両端電圧を電圧計測手段に供給するサンプル電圧計測スイッチと、前記第1および第2のマルチプレクサおよび前記サンプル電圧計測スイッチの動作を制御する制御手段と、前記各電圧源の両端にそれぞれ接続される電圧検出端子および前記マルチプレクサ間に接続された一対の抵抗と前記抵抗および前記マルチプレクサの接続点間に接続されたコンデンサからなる複数のフィルタとを備えたフライングキャパシタ方式電圧測定装置であって、
    前記(N+1)個の電圧検出端子のうちの1番目および(N+1)番目の電圧検出端子に接続される前記一対の抵抗のうちの一方の抵抗の抵抗値を、前記一対の抵抗のうちの他方の抵抗の抵抗値より小さく設定すると共に、前記一対の抵抗の合計抵抗値を前記複数のフィルタの全部において等しく設定した
    ことを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置。
  2. 請求項1記載のフライングキャパシタ方式電圧測定装置において、
    前記制御手段は、前記直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測し続いてN番目から一番目まで逆順に計測するように、前記第1および第2のマルチプレクサおよび前記サンプル電圧計測スイッチの動作を制御し、
    前記電圧計測手段は、前記制御手段の制御により、前記直列接続されたN個の電圧源を1個ずつ直列接続の一番目からN番目まで順番に計測した1回目の前記各電圧源の計測値と、続いてN番目から一番目まで逆順に計測した2回目の前記各電圧源の計測値を平均する演算を行い、その結果の平均値を各電圧源の最終計測値として決定する
    ことを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置。
  3. 請求項1または2記載のフライングキャパシタ方式電圧測定装置において、
    前記奇数番目の電圧検出端子および前記抵抗の接続点と前記偶数番目の電圧検出端子および前記抵抗の接続点の間に接続された第1の短絡抵抗と、
    該第1の短絡抵抗が接続されていない、前記偶数番目の電圧検出端子および抵抗の接続点と前記奇数番目の電圧検出端子および前記抵抗の接続点の間に接続され、前記第1の短絡抵抗より大きい抵抗値を有する第2の短絡抵抗と、
    隣接する前記電圧源の最終計測値の差分が予め設定された断線判定しきい値以上の場合に、断線故障と判定する判定手段とをさらに備えた
    ことを特徴とするフライングキャパシタ方式電圧測定装置。
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