JP2007225567A - 電子機器用試験装置および電子機器試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】電子機器を精密かつ簡単に試験可能とする電子機器用試験装置および電子機器試験方法を提供することを課題とする。
【解決手段】電子機器Ｔが内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および内部で放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱１０と、電子機器ＴのアンテナＴａと電波を授受する測定用のアンテナ２０と、電子機器Ｔを取り付ける取付ユニット３０と、を備える電子機器用試験装置１であって、アンテナ２０および取付ユニット３０のうち少なくとも一方は、アンテナ２０から放射される電波の偏波面と電子機器ＴのアンテナＴａから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整できる手段を有する。
【選択図】図３

Description

本発明は、携帯電話などの電子機器を試験する電子機器用試験装置および電子機器試験方法に関する。

一般に、携帯電話などの電子機器は、製造後や修理後に、電子機器が正常に動作・機能するか否かについて、実際に無線電波による無線接続試験（試験）が行われる。このような試験は、正確な受信能力の試験を行なうために、外来電波が遮断された電波暗室（電波無響室）と言われる大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と言われる箱内で行われる（例えば、特許文献１参照）。

特許文献１に記載のシールドボックスでは、被試験対象である電子機器との間で測定用の電波を授受する測定用アンテナと、この測定用アンテナに対向して設けられる電子機器載置部とを有し、電子機器載置部に載置された電子機器と測定用アンテナとの間で直接的に電波を授受するように構成されている。
特開平１０−７８４６５号公報（請求項１、段落００３２、図１）

しかしながら、前記従来技術では、偏波面の向きを考慮していないため、アンテナから放射される電波の電界変化を電子機器のアンテナで受信しやすい環境を設定することが困難な場合があった。また、従来技術では、電子機器が有する送受信アンテナと測定用アンテナとの距離を規定していないため、シールドボックス内に配置される電子機器の位置が微妙に異なることで、測定用アンテナから放射される電波の電界強度が大幅に変化してしまうことがあった。そのため、電子機器の試験を、精密かつ簡単にすることができなかった。

そこで、このような問題を解決すべく、電子機器を精密かつ簡単に試験可能とする電子機器用試験装置および電子機器試験方法を提供することを課題とする。

前記課題を解決するための手段として、請求項１に係る発明は、電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および内部で放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱と、前記電子機器のアンテナと電波を授受する測定用アンテナと、前記電子機器を保持する保持手段と、を備える電子機器用試験装置であって、前記測定用アンテナおよび前記保持手段のうち少なくとも一方は、前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と前記電子機器の前記アンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整できる手段を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、測定用アンテナまたは保持手段を、測定用アンテナから放射される電波の偏波面と電子機器のアンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整することができる。これにより、測定用アンテナから放射される電波の電界変化を、電子機器のアンテナで受信しやすい（感度が良好な）環境を簡単に設定することができる。また、試験箱は、電波吸収性を有しているため、内部で放射される電波が試験箱内で共振することを防止することができる。これにより、電子機器の試験を精密にすることができる。なお、調整できる手段としては、測定用アンテナまたは保持手段の少なくとも一方を、互いに平行に回動させるように構成する手段や、測定用アンテナや保持手段を取付場所に取付の向きおよび位置を変えて取り付けられるように着脱自在に構成する手段が挙げられる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。

請求項２に係る発明は、請求項１に記載の電子機器用試験装置において、前記測定用アンテナおよび前記保持手段は、前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と前記電子機器の前記アンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整できる手段を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、測定用アンテナおよび保持手段を、測定用アンテナから放射される電波の偏波面と電子機器のアンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整することができる。これにより、測定用アンテナから放射される電波の電界変化を、電子機器のアンテナで受信しやすい環境を簡単に設定することができる。また、測定用アンテナおよび保持手段をともに調整することで、偏波面が垂直である電波（垂直波）と偏波面が水平である電波（水平波）のいずれをも測定することができる。

請求項３に係る発明は、請求項１または請求項２に記載の電子機器用試験装置において、前記保持手段は、前記電子機器のアンテナと前記測定用アンテナとの距離を調整可能に前記試験箱に取り付けられるように構成されていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、保持手段と測定用アンテナとの距離を調整することができる。これにより、電界強度が安定する位置に電子機器を予め設置することができ、簡単な操作で電子機器の試験を精密にすることができる。

請求項４に係る発明は、請求項３に記載の電子機器用試験装置において、前記保持手段は、前記電子機器の前記アンテナと前記測定用アンテナとの距離を、前記測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定することができるように、前記試験箱に取り付けられるように構成されていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、保持手段を測定用アンテナに対して進退移動させて、電子機器のアンテナと測定用アンテナとの距離を、測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定することができる。つまり、遠方電磁界の領域に電子機器のアンテナを配置することが可能になり、電界強度が安定する位置に電子機器を設置することができる。これにより、簡単な操作で電子機器の試験を精密にすることができる。
なお、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスＺ_０に等しくなる領域のことを意味する。測定用アンテナから放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。

請求項５に係る発明は、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱内部に、λ／４型電波吸収体を備えたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、電波の共振現象を防止し、電子機器の精密な試験をすることができる。なお、電波の共振現象とは、電波遮蔽性を有する試験箱内で測定用アンテナから電波が放射されたとき、試験箱内の壁面で電波が反射を繰り返して干渉現象を起こす現象をいう。

請求項６に係る発明は、請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱内に配設された前記測定用アンテナは、高周波数帯域の電波を授受することができるファンアンテナであることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱内に配設された測定用アンテナが周波数帯域０．８〜６．０ＧＨｚの電波を放射できるため、測定用アンテナを交換することなく、広帯域にわたって電子機器の試験をすることができる。

請求項７に係る発明は、請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱内に配設された前記測定用アンテナ付近の前記試験箱の内面には、磁性体テープを備えたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱内に配設された測定用アンテナから放射された電波による電磁誘導を抑制でき、試験箱内に渦電流が発生することを効果的に防止することができる。

請求項８に係る発明は、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱が、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、導電性を有する金属製の筐体により、電波を確実に遮蔽することができる。また、金属製であることにより、筐体の剛性は高められ、その結果として、試験箱の耐久性を高めることができる。

請求項９に係る発明は、請求項８に記載の電子機器用試験装置において、前記金属製の筐体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、複数の金属部材同士は、溶接によって接合されていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、複数の金属部材を溶接で接合していることで、組付部分の電波も確実に遮蔽し、試験箱内部と外部との間で電波が漏洩することを確実に防止することができる。

請求項１０に係る発明は、請求項８または請求項９のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記金属製の筐体が、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、外観が美しく、軽量化した試験箱を提供することができる。

請求項１１に係る発明は、請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱は、前記電子機器を視認可能な窓を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、電子機器の試験を行いながら、窓を介して外部から試験箱内部を視認することができる。

請求項１２に係る発明は、請求項１１に記載の電子機器用試験装置において、前記窓が、電波の遮蔽性を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、窓が電波を反射することにより、試験箱内の電波の遮蔽性を維持することができる。このような窓は、測定用アンテナから放射される電波ができるだけ照射しない位置に配設されることが望ましい。電子機器のアンテナから放射される電波が窓に直接照射されると、電波は窓表面で反射され、試験箱内部に電波の共振現象を発生させる原因となるためである。なお、電波を反射させる手段としては、ＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムすず）膜などの蒸着が挙げられる。これによれば可視光に対して半透明であるため、電子機器の試験を行いながら、外部から試験箱内部を視認することができる。

請求項１３に係る発明は、請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱が、開閉自在の扉を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の扉を適宜開閉させることで、電子機器を自由に出し入れすることができる。また、扉の縁部分であって、扉の閉鎖時における試験箱との当接部分には、枠状のパッキンを設けることが望ましい。これによれば、扉の閉鎖時における電波の遮蔽性を高めることができる。

請求項１４に係る発明は、請求項１から請求項１３のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱は、電波妨害を防止しつつ、箱外から箱内にケーブルを配線可能とするＥＭＩダクトを備えたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、電波妨害を防止しつつ、箱外から箱内にケーブルを配線することができる。ＥＭＩダクトとは、磁性体テープなどに代表されるノイズ抑制シートをケーブルに巻きつけ、このケーブルの一部を試験箱に配設したダクトに通したものである。このＥＭＩダクトによると、ダクトの導波管としての効果によって特定周波数以下の電磁波が遮断され、同時にノイズ抑制シートによってケーブルからのノイズの輻射と伝搬を抑制することができる。

請求項１５に係る発明は、請求項１４に記載の電子機器用試験装置において、前記ＥＭＩダクトを介して、箱外から箱内にケーブルが配設されており、前記ケーブルは、ノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、ケーブルからのノイズ発生を確実に防止することができ、電子機器の精密な検査が可能になる。なお、箱外から箱内に配線されるケーブルとしては、例えば、アンテナに接続するケーブルや、内部に配置される電子機器の電源ケーブルなどが挙げられる。

請求項１６に係る発明は、請求項１から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置において、前記試験箱内部に、照明を備えることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱内部を明るく照明することができる。なお、照明としてはＬＥＤランプ（Light Emitting Diode Lump）が好ましい。ＬＥＤランプは蛍光灯と異なり、点滅時にノイズが殆ど発生しないからである。

請求項１７に係る発明は、請求項１から請求項１６のいずれか1項に記載の電子機器用試験装置を用いた電子機器試験方法であって、前記測定用アンテナと前記電子機器のアンテナとの距離を前記測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定して、前記電子機器のアンテナで電波を受信することで試験を行うことを特徴とする。

このような電子機器試験方法によれば、測定用アンテナと電子機器のアンテナとの距離を測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定できるため、遠方電磁界の領域に電子機器のアンテナを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置に電子機器を設置することができる。これにより、簡単な操作で電子機器の試験を精密に行うことができる。

請求項１８に係る発明は、請求項１７に記載の電子機器試験方法であって、前記測定用アンテナから放射される電波の周波数が０．８〜６．０ＧＨｚであることを特徴とする。

このような電子機器試験方法によれば、電子機器において、広帯域にわたって電子機器の試験をすることができる。なお、電子機器が携帯電話である場合は、市場に流通するほぼ全機種について検査することができる。

また、測定用アンテナに、さらに、減衰器（ＡＴＴ：Attenuator）、フィルタ（ＢＥＦ：Band elimination filter）と受信用アンテナを接続することによって、基地局から送信された電波を前記受信用アンテナで受信し、この電波を前記電子機器用試験装置に備えた前記測定用アンテナから放射して、前記電子機器の試験をすることができる。

本発明によれば、電子機器を精密かつ簡単に試験可能とする電子機器用試験装置および電子機器試験方法を提供することができる。

以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。説明する図面において、図１は、電子機器用試験装置の正面図である。なお、本実施形態では、電子機器を携帯電話と想定して説明するが、本発明の試験対象となる電子機器は、携帯電話に限定されるものではない。

≪電子機器用試験装置の構成≫
図１に示すように、電子機器用試験装置１は、その内部（電波遮蔽空間）に電子機器Ｔが入れられる試験箱１０と、電子機器Ｔに電波を送るアンテナ２０（測定用アンテナ）と、電子機器Ｔが取り付けられる取付ユニット３０（保持手段）と、電子機器Ｔを試験する試験ユニット４０（図２参照）と、を主に備えている。

＜試験箱＞
図２の（ａ）は、図１のII−II線矢視断面図であり、（ｂ）は、扉を閉じた状態での（ａ）の試験箱を示す拡大断面図である。
図２の（ａ）に示すように、試験箱１０は、筐体１１と、この筐体１１の正面側に設けられる開閉自在の扉１２と、筐体１１と扉１２の内面に設けられる電波吸収体１３と、筐体１１の背面側に設けられるＥＭＩダクト１４と、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）ランプ１５（図３参照）とを備えており、扉１２を適宜開／閉して、電子機器Ｔを筐体１１内に出し入れできるようになっている。また、扉１２を閉じたときに、扉１２と筐体１１との間に挟まれる部分には、電波遮蔽性を有する枠状のパッキンＳ１が設けられている。

筐体１１は、複数の金属製のパネル１１ａを骨格となるフレーム（不図示）に溶接して、正面側が開口した略直方体の箱状に形成される。パネル１１ａおよびフレーム（不図示）を形成する金属は、本発明では特に限定されず、例えば、純金属だけでなく合金でもよい。筐体１１は、金属性のパネル１１ａから形成されることで、所定の剛性を有し、その耐久性が高められると共に、外部からの電波の遮蔽性を有している。また、パネル１１ａとフレーム（不図示）とは、隙間が形成されないように溶接されることで、筐体１１の密閉性、つまり、電波の遮蔽性は高められている。パネル１１ａ等を、特に、アルミニウムまたはアルミニウム合金（以下、アルミニウム合金等という。）で形成した場合、筐体１１は、所望の剛性を維持しつつ、軽量化が図られる。また、アルミニウム等は独特の光沢を有するため、美観に優れたものとなる。

扉１２は、金属製のパネル１２ａからなり、このパネル１２ａの正面視右側（図１参照）には窓１２ｂが、フレーム１２ｃによって取り付けられている。パネル１２ａは、筐体１１の側面にヒンジＨを介して回動自在に取り付けられており、扉１２が適宜開閉可能になっている。窓１２ｂは、透明性を有した矩形状のガラス板から構成されている。これにより、試験箱１０の外から、電子機器Ｔを監視し、例えば、電波を受信したことによる着信ランプの点灯の有無を観察できるようになっている。また、窓１２ｂは、この窓１２ｂを介しての電波の往来を防止するための電波の反射性（遮断性）を有しており、試験箱１０の電波遮蔽性が維持されるようになっている。このような窓１２ｂは、例えば、ガラス板の片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムすず）膜を形成したものが使用される。フレーム１２ｃは、金属製の枠部材であり、窓１２ｂの周縁部を覆いつつパネル１２ａに溶接される。なお、窓１２ｂの周縁部には、電波遮蔽性を有するパッキンＳ２が設けられている。これにより、窓１２ｂの近傍における電波の遮蔽性が確保されている。ちなみに、パネル１２ａおよびフレーム１２ｃも筐体１１と同様に、アルミニウム等で形成されることが望ましい。

また、筐体１１と扉１２の内面側には、電波吸収体１３が設けられている。電波吸収体１３は、電波を吸収させる公知の一方式（λ／４型）に基づく構造で、図２の（ｂ）に示すように、各パネル１１ａ，１２ａの内面を覆うように構築されており、電子機器Ｔやアンテナ２０から放射された電波を筐体１１の内面で反射させずに擬似的に吸収させる構造である。すなわち、電波吸収体１３は、電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波が、筐体１１の内面で反射した電波と共振することを防止させる構造を有している。

電波吸収体１３は、筐体１１の内側に配置されたスペーサ１３ａと、さらにその内側に配置され、電波の１／２を透過させる機能を有する抵抗膜シート１３ｂと、さらにその内側に配置され抵抗膜シート１３ｂを保護する保護膜１３ｃとを備えて構成されている。

スペーサ１３ａは、電子機器Ｔ、アンテナ２０から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート１３ｂと筐体１１との間隔をλ／４に設定するためものであり、λ／４の厚みＴ１を有している。スペーサ１３ａは、電波の透過性を有しており、例えば、発泡スチロールから形成される。このように発泡スチロールから形成される場合、スペーサ１３ａの厚みＴ１を容易に調整可能となる。

抵抗膜シート１３ｂは、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート１３ｂとしては、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したものなどを使用することができる。

保護膜１３ｃは、抵抗膜シート１３ｂの内側に積層されており、抵抗膜シート１３ｂの表面を保護するようになっている。

そして、このような電波吸収体１３の表面は、平坦となっている。これにより、例えば、複数の凸状の電波吸収体を備える場合と比較して、試験箱１０内を大きくしたり、試験箱１０の外形を小さくしたりすることができる。

ここで、電波吸収体１３による電波吸収のメカニズムについて説明する。
電子機器Ｔ、またはアンテナ２０から放射された電波Ｗ１が、保護膜１３ｃの垂直方向から電波が入射した場合、保護膜１３ｃを通過した後、その１／２が抵抗膜シート１３ｂを透過し、１／２が抵抗膜シート１３ｂで反射する。ここで、抵抗膜シート１３ｂを透過した電波を電波Ｗ２、反射した電波を電波Ｗ３とする。電波Ｗ２は、スペーサ１３ａ内を進んだ後、筐体１１の側面のパネル１１ａで反射し、電波Ｗ４となる。なお、抵抗膜シート１３ｂ、パネル１１ａでの反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。

そうすると、筐体１１での反射後、抵抗膜シート１３ｂに到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート１３ｂで反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ１３ａの厚みＴ１の２倍、つまり、「λ／４×２＝λ／２」進んでおり、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相が反転することになる。したがって、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート１３ｂに入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。

ＥＭＩダクト１４は、電磁妨害を防止しつつ、後記するケーブル４１を筐体１１の外部から内部に挿通可能とするダクトであり、図示しないガスケットを介して、筐体１１に固定されている。これにより、ＥＭＩダクト１４を介して、ケーブル４１を配線可能とすると共に、ケーブル４１の挿通部分からの電磁妨害は防止され、筐体１１の遮蔽性は確保されている。また、ケーブル４１の所定長さ（例えば、１００ｍｍ以上）が、ＥＭＩダクト１４内を通るように、ケーブル４１を配線することによって、前記電磁妨害が好適に防止される。

図３は、本実施形態に係る電子機器用試験装置を示す縦断面図である。
図３に示すように、ＬＥＤランプ１５は、試験箱１０内を照らす照明であり、筐体１１の上壁に設けられている。これにより、電子機器を試験する間、試験箱１０内を照らし、電子機器Ｔを観察しやすいようになっている。なお、ＬＥＤは蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズが殆ど発生せず、好適に用いられる。

アンテナ２０は、電子機器Ｔに電波を送る（授受する）ためのファンアンテナであり、周波数帯域０．８〜６．０ＧＨｚの電波を放射することができる。アンテナ２０は、筐体１１の側壁に固定されたコネクタ２１に、アンテナ用導波管２２（電波遮蔽手段）を介して設けられている。アンテナ２０には、図示しないケーブルが接続されており、このケーブルは、アンテナ用導波管２２を介して外部に引き出され、可変電波発生ユニット（不図示）に接続されている。そして、アンテナ２０は、可変電波発生ユニット（不図示）に内蔵されたアンプで電気信号が増幅された後、そこから送られた信号に基づいて電波を発生し、電子機器Ｔに送るようになっている。

コネクタ２１は、筐体１１の側壁に固定されており、アンテナ用導波管２２を固定することができるようになっている。このコネクタ２１を緩めることで、アンテナ用導波管２２を回動させ、アンテナ２０の向きを変えることができるようになっている。そして、この状態で、再びアンテナ用導波管２２を固定し直すことができる。コネクタ２１は、その水平方向の横にずれた位置に、予備のコネクタ２１’（図４参照）を設けてもよい。これによれば、所望の位置に、アンテナ用導波管２２を付け替えることができる。

アンテナ用導波管２２は、筒状かつＬ字状に屈曲した導波管であり、その中空部を介して試験箱１０の内部と外部とを連通させている。また、アンテナ用導波管２２は、アルミニウム合金などの金属製であり、電波遮蔽性を有している。さらに、アンテナ用導波管２２はその先端部に矩形状のグランドプレート２３が固定されている。なお、アンテナ用導波管の仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管２２の内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬して、試験箱１０の内部から外部に漏れないように設定されている。

アンテナ用導波管２２内にケーブル２０ａを配線しつつ、アンテナ用導波管２２内の伝搬を防止することで、試験箱１０の電波の遮蔽性が好適に維持されるようになっている。なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法（長さ）が同一であれば、導波管が長くなるほど、その内部を電波が伝搬しにくくなり、遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなるほど、導波管が遮蔽できる電波の限界周波数（所定の周波数）が高くなる。

取付ユニット３０は、電子機器Ｔを筐体１１内に固定するユニットである。取付ユニット３０は、筐体１１の床上を全面覆うように設けられる固定板３１と、この固定板３１の上で電子機器Ｔを保持固定するための保持固定治具３２とから構成される。

固定板３１は、平面視矩形状の板材である。固定板３１には、保持固定治具３２を固定するための複数のボルト孔３１ａが形成されている。ボルト孔３１ａは、保持固定治具３２の固定位置を所望の位置に変えられるように、筐体１１の左右方向に並列して設けられている（図２参照）。なお、固定板３１上には、電波吸収性を有する電波吸収シートを設けてもよいし、固定板３１自体が電波吸収構造を有するようにしてもよい。

保持固定治具３２は、側面視Ｌ字状の部材であり、底部にボルトＢを螺入するためのボルト孔３２ａが形成されている。ボルトＢが保持固定治具３２のボルト孔３２ａを介して固定板３１のボルト孔３１ａに螺入されることで、保持固定治具３２が固定板３１に固定される。保持固定治具３２の背板には、取付板３３と固定具３４とが取り付けられている。取付板３３は、長尺状の板材で（図２参照）、保持固定治具３２に固定されている。また、固定具３４は、電子機器Ｔを保持する部材で、電子機器Ｔを挿通して保持する挿通部３４ａが形成されている。この固定具３４は、取付板３３に着脱自在に取り付けられており、所望に応じて取付の方向や位置を変えて取り付けられるようになっている。

図２に示すように、試験ユニット４０は、電子機器Ｔの電波受信（授受）状態を検出し、電子機器Ｔが正常であるか否かを判定するユニットである。試験ユニット４０は、ケーブル４１を介して試験対象である電子機器Ｔに接続可能になっている。つまり、ケーブル４１は、一端が試験ユニット４０に接続され、他端は、ＥＭＩダクト１４を介して、試験箱１０内に引き出され、電子機器Ｔに接続される。なお、ケーブル４１の他端には、電子機器Ｔに着脱自在に接続するためのコネクタ（不図示）が設けられている。

ケーブル４１のうち、ＥＭＩダクト１４内を通る部分、および、その所定前後の外周面は、ケーブル４１内を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体４２に被覆されている。これにより、電子機器Ｔの電波受信状態が、ケーブル４１を介して、試験ユニット４０において高精度で検出されるようになっている。このようなノイズ吸収体４２としては、例えば、東洋サービス社製のＥＭＩテープ「ルミディオン（登録商標）ＥＴ」により、ケーブル４１を所定長さ（例えば３００ｍｍ以上）にて巻回することで構成される。

このように構成される電子機器用試験装置１の動作を説明しつつ、本実施形態に係る電子機器試験方法について、図４および図５（および適宜図２、図３）を参照して説明する。図４は、図１の電子機器用試験装置のIV−IV線矢視断面図であり、図５は、試験実施中の測定用アンテナと電子機器のアンテナの位置関係を示す図であり、（ａ）は垂直波測定時の位置関係を示す図、（ｂ）は水平波測定時の位置関係を示す図である。

まず、アンテナ２０から電子機器Ｔが垂直波を受けるときの両者の位置関係と、水平波を受けるときの両者の位置関係について説明し、その後、電子機器用試験装置１の主な動作について説明する。

垂直波の受信状態を試験するときは、図５の（ａ）に示すように、アンテナ用導波管２２の開口が上向き（アンテナ２０が上向き）になるように試験箱１０（図３参照）に固定されている。これに対し、電子機器Ｔは、そのアンテナＴａが上方向に伸びるように、固定具３４が向きを合わせて、取付板３３に取り付けられている（図３参照）。これにより、アンテナ２０から放射される電波の偏波面と電子機器ＴのアンテナＴａから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整される。

これに対し、水平波の受信状態を試験するときは、図４に示すように、コネクタ２１を緩めて、アンテナ用導波管２２を回動し、その開口を横方向（水平方向）（アンテナ２０を横向き）に向けた状態で、試験箱１０に固定する。これに対し、電子機器Ｔは、図５の（ｂ）に示すように、そのアンテナＴａが横方向（水平方向）に伸びるように、固定具３４が向きを合わせて、取付板３３に取り付けられている。これにより、アンテナ２０から放射される電波の偏波面と電子機器ＴのアンテナＴａから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整される。なお、垂直波または水平波を試験するときは、図３および図５の（ａ），（ｂ）に示すように、アンテナ用導波管２２の開口の位置と電子機器ＴのアンテナＴａの中心の位置の高さが同じになるように設定されている。

次に、電子機器用試験装置１の動作について説明する。電子機器用試験装置１では、垂直波について測定する場合は図５の（ａ）の位置関係、水平波について測定する場合は図５の（ｂ）の位置関係になるように、予め、固定具３３とアンテナ用導波管２２の向きを揃えて、試験箱１０に固定しておく。

まず、図２に示すように、オペレータは扉１２を開き、電子機器Ｔを試験箱１０内に挿入し、固定具３４に取り付ける。また、ケーブル４１のコネクタ（不図示）を電子機器Ｔに接続する。

オペレータは検査開始スイッチ（不図示）をＯＮにすると、図示しない可変電波発生ユニットがアンテナ２０に電気信号を送信する。アンテナ２０では、電波が発生し、この電波が電子機器Ｔに送られる。

このようにアンテナ２０から、電子機器Ｔに電波を送りながら、電子機器Ｔの受信状態を試験ユニット４０で検出する。試験ユニット４０では、電子機器Ｔの受信状態を検出し、正常か否かを判定する。そして、水平波および垂直波について試験して、正常状態であると判定したら、さらに、保持固定治具３２の位置を変えて固定板３１に固定し、アンテナ２０との距離を変えて、電子機器Ｔが電波を受信できるか否かの試験をしたり、可変電波発生ユニットに内蔵されたアンプによって、アンテナ２０から発生する電波の強度を変えて、電子機器Ｔが電波を受信できるか否かの試験をしたりすることができる。このとき、電子機器ＴのアンテナＴａとアンテナ２０との距離を、アンテナ２０から放射される電波の波長λよりも大きく設定するようにする。これによれば、遠方電磁界の領域に電子機器ＴのアンテナＴａを配置することが可能になり、電界強度が安定する位置に電子機器Ｔを設置することができる。これにより、簡単な操作で電子機器Ｔの試験を行うことができる。

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、例えば以下のような変更が可能である。

前記した実施形態では、電子機器を携帯電話とした場合について説明したが、その他に例えば、ＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や、無線ＬＡＮ機能を備えるノートパソコンなどであってもよい。

前記した実施形態では、アンテナ２０から、電子機器Ｔに電波を送り、電子機器Ｔが正常に電波を受信できるか否かを判定したが、その他に例えば、電子機器Ｔからアンテナ２０に電波を送って、電子機器Ｔを試験してもよい。

前記した実施形態では、試験装置本体として試験箱１０を例示したが、例えば、大型の電波暗室であってもよい。

前記した実施形態では、アンテナ２０で電波を発生させる可変電波発生ユニットは、電気信号を増幅させるアンプを内蔵し、このアンプによって適宜に増幅された電気信号がアンテナ２０に送られ、アンテナ２０で発生する電波の強度が変化するようにしたが、その他に例えば、可変電波発生ユニットが減衰器を内蔵し、前記電気信号を適宜に減衰させることにより、アンテナ２０で発生する電波の強度を変化させる構成としてもよい。

前記した実施形態では、固定具３４を取付板３３に着脱自在に構成したが、固定具３４を取付板３３に回動自在に取り付けるものであってもよい。

前記した実施形態では、保持固定治具３２を固定板３１に位置決めし、ボルトＢで固定するように構成したが、固定板３１に設けたレールに沿って保持固定治具３２をアンテナ２０に対して進退自在に構成するものであってもよい。これによれば、アンテナ２０と保持固定治具３２の距離を簡単に調整することができる。

なお、電波吸収体１３は、前記構成に限られるものではない。例えば、パネル１１ａまたは１２ａ側から、抵抗膜シート（インピーダンス１０８８Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、抵抗膜シート（インピーダンス２８０Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、保護膜（アルミニウム板（箔））の順で配置する構成としてもよい。このような構成によれば、８８０ＭＨｚ周辺および２０５０ＭＨｚ周辺の２種の電波を吸収することができる。

また、筐体１１の材質は、アルミニウム等に限られるものではなく、導電性を有していれば、スチール、ステンレスや銅など他の材質であってもよい。

また、筺体１１におけるアンテナ２０の近傍には、図４に示すように、磁性体シート５０を設けておくとよい。一般的にアンテナを金属物体の傍に近接して設置すると金属物体に禍電流が流れることによる再放射などが起こり、供試体に対して適切に放射したい電波に干渉し悪影響を与えるが、アンテナ２０を設置した（供試体と反対側の）壁面に磁性体シート５０を設けることで、この影響を除去することができる。

図１は、電子機器用試験装置の正面図である。 （ａ）は、図１のII−II線矢視断面図であり、（ｂ）は、扉を閉じた状態での（ａ）の試験箱を示す拡大断面図である。 本実施形態に係る電子機器用試験装置を示す縦断面図である。 図１の電子機器用試験装置のIV−IV線矢視断面図である。 試験実施中の測定用アンテナと電子機器のアンテナの位置関係を示す図であり、（ａ）は垂直波測定時の位置関係を示す図、（ｂ）は水平波測定時の位置関係を示す図である。

符号の説明

１ 電子機器用試験装置
１０ 試験箱
１１ 筐体
１２ 扉
１２ｂ 窓
１３ 電波吸収体
１４ ＥＭＩダクト
１５ ＬＥＤランプ
２０ アンテナ
２１ コネクタ
２２ アンテナ用導波管
３０ 取付ユニット
３１ 固定板
３２ 保持固定治具
４０ 試験ユニット
４１ ケーブル
４２ ノイズ吸収体

Claims (18)

1. 電子機器が内部に入れられると共に、外部からの電波の遮蔽性および内部で放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱と、
   前記電子機器のアンテナと電波を授受する測定用アンテナと、
   前記電子機器を保持する保持手段と、
   を備える電子機器用試験装置であって、
   前記測定用アンテナおよび前記保持手段のうち少なくとも一方は、前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と前記電子機器の前記アンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整できる手段を有することを特徴とする電子機器用試験装置。
2. 前記測定用アンテナおよび前記保持手段は、前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と前記電子機器の前記アンテナから放射される電波の偏波面とが平行となるように調整できる手段を有することを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
3. 前記保持手段は、前記電子機器のアンテナと前記測定用アンテナとの距離を調整可能に前記試験箱に取り付けられるように構成されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子機器用試験装置。
4. 前記保持手段は、前記電子機器のアンテナと前記測定用アンテナとの距離を、前記測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定することができるように、前記試験箱に取り付けられるように構成されていることを特徴とする請求項３に記載の電子機器用試験装置。
5. 前記試験箱内部に、λ／４型電波吸収体を備えたことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
6. 前記試験箱内に配設された前記測定用アンテナは、高周波数帯域の電波を授受することができるファンアンテナであることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
7. 前記試験箱内に配設された前記測定用アンテナ付近の前記試験箱の内面には、磁性体テープを備えたことを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
8. 前記試験箱が、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体を備えたことを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
9. 前記金属製の筐体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、複数の金属部材同士は、溶接によって接合されていることを特徴とする請求項８に記載の電子機器用試験装置。
10. 前記金属製の筐体が、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする請求項８または請求項９のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
11. 前記試験箱は、前記電子機器を視認可能な窓を有することを特徴とする請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
12. 前記窓が、電波の遮蔽性を有することを特徴とする請求項１１に記載の電子機器用試験装置。
13. 前記試験箱が、開閉自在の扉を有することを特徴とする請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
14. 前記試験箱は、電磁妨害を防止しつつ、箱外から箱内にケーブルを配線可能とするＥＭＩダクトを備えたことを特徴とする請求項１から請求項１３のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
15. 前記ＥＭＩダクトを介して、箱外から箱内にケーブルが配設されており、前記ケーブルは、ノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されたことを特徴とする請求項１４に記載の電子機器用試験装置。
16. 前記試験箱内部に、照明を備えることを特徴とする請求項１から請求項１５のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
17. 請求項１から請求項１６のいずれか1項に記載の電子機器用試験装置を用いた電子機器試験方法であって、前記測定用アンテナと前記電子機器のアンテナとの距離を前記測定用アンテナから放射される電波の波長λよりも大きく設定して、前記電子機器のアンテナで電波を受信することで試験を行うことを特徴とする電子機器試験方法。
18. 前記測定用アンテナから放射される電波の周波数が０．８〜６．０ＧＨｚであることを特徴とする請求項１７に記載の電子機器試験方法。

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