JPH02153598A - 反射板のある電波暗室 - Google Patents

反射板のある電波暗室

Info

Publication number
JPH02153598A
JPH02153598A JP63105900A JP10590088A JPH02153598A JP H02153598 A JPH02153598 A JP H02153598A JP 63105900 A JP63105900 A JP 63105900A JP 10590088 A JP10590088 A JP 10590088A JP H02153598 A JPH02153598 A JP H02153598A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
antenna
wave
reflected wave
reflector
screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63105900A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0732320B2 (ja
Inventor
Moichi Shibuya
渋谷 茂一
Yoshiaki Kaneko
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP63105900A priority Critical patent/JPH0732320B2/ja
Priority to US07/342,326 priority patent/US4906998A/en
Priority to EP89304236A priority patent/EP0340012B1/en
Priority to DE89304236T priority patent/DE68907992T2/de
Priority to CN89102924A priority patent/CN1017765B/zh
Priority to KR1019890015529A priority patent/KR970007981B1/ko
Publication of JPH02153598A publication Critical patent/JPH02153598A/ja
Publication of JPH0732320B2 publication Critical patent/JPH0732320B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/02Transmitters
    • H04B1/03Constructional details, e.g. casings, housings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01QANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q17/00Devices for absorbing waves radiated from an antenna; Combinations of such devices with active antenna elements or systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/10Radiation diagrams of antennas
    • G01R29/105Radiation diagrams of antennas using anechoic chambers; Chambers or open field sites used therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A9発明の目的 「産業上の利用分野」 電磁環境(EMC)にがんする電子機器等の電磁雑音強
度や電磁雑音耐力を測定するために必要「従来の技術」 従来の電波暗室は、暗室内部の四周壁面と天井にピラミ
ッド型や鉱歯型の電波吸収体を全面にわたって隙間なく
付設する構造である。
また、供試機器とアンテナ以外の試験機材や人間が電磁
環境を乱さないように別室を設けている。
「発明の解決しようとする課題」 電m環境対策用の電波暗室の現行の適M周波数は約30
M1Hz 〜1−01−0O0で、波長では1.0m〜
0.3mに相当する。
電波吸収体の長さは、適用最大波長の1/2〜1/4が
必要rあるため、部屋の容積と敷地面積が大さくなるこ
と、壁面反射が加わるため垂直偏波に対して良好な広域
周波数特性の実現が難しいこと、暗室内に1かわる供試
機器以外の装置や人間の影響が無視r″ぎないために別
室を設けな(プればならず、従って建設費が高価になる
等の欠陥があった。
この発明は、斜向反射板と反射波防止スクリーンを電波
吸収体の代わりに使用することによって、前記の欠陥を
救済することを目的とするものである。
B、  発明の構成 「訝題を解決するための手段」 上記目的を達成するために、本発明においては、電波吸
収体の代わりに部屋の周囲に斜向反射板2を設!し、ア
ンテナ3と供試機器4の間に直接波以外の電波を阻止す
る反射波防止スクリーン5を置いたものである。
また、床面の反射を減少さでるために、アンテナ3と供
試機器4を緒、3;縁の下方に三角柱状の斜向反射板2
を置くこともでさる。
また、天井の一部に斜向反射板2を取り付け、天井の殖
余の部分を電波吸収体6r埋めろこともT:ざる。
なお、天井に電波吸収体6を取り付Cブずに、電波を上
方に逃がす方法もあるが、その場合は電波を透過さゼ雨
雪を防ぐ材質の屋根を設けろ必要がある。
斜向反射板2と反射波防止スクリーン5の設計・設置法
は、アンテナ3と供試機器4を互いに見るとぎ、斜向反
射板2に写る相手の映イ象が明瞭【こは認められないよ
づな尺何字的関係が成立すわばよい。
斜向反射板2の材質(よ電波を透過です表面が平滑なら
ば何でもよい。
反射波防止スクリーン5の材質は電波が透過しなCブれ
は°何でもよく表面が粗く電波吸収損失が大きいCズど
良い。
斜向反射板2の背後の空間(ま、電磁的に隔離されるの
で試験機材や空言周設備などの設置場所あるいは試験準
@室として活」rきる。
「作用j 上記のよづに構成された斜向反射板2のある電波暗室に
ついては、アンテナ3と供試イ段器4間の直接波以外の
電波は主に上方に反射して放出もしくは吸収されて消滅
するので、反復反射による定在波がr″ぎにくく、その
ためのイソピーダンス不良や測定誤差を生じるおそれが
少ない。
また、斜向反射板28よび反射波防止スクリーン5(ま
、アルミ板・鉄板・銅板などの金属板か市販の建築尼板
材の表面に導電性シートを貼付すればよく、構造が単純
で、加工上の良否が電気的特性に影響するおそれはほと
んどない。
「実施例」 実施例を図面によって説明する。
第1図〜第3図において、アンテナ3力゛ら放射される
電波のうち供試恨a4に到達する成分は、もし反射波防
止スクリーンがないならば直接波・床面反射波・左右の
斜向反射板反射波の合成になる。
しかし、床面反射波と斜向反射板反射波(ま反射波防止
スクリーンによって阻止される。なお、側方と後方に向
かう成分は斜向反射板の効果により上方に内力・う。従
って、アンテナ3力゛ら供試41a4に到達する伝搬波
成分は直接波のみとなる。(伝搬は可逆的なので、供試
機器4力゛らアンテナ3に対しても同じことがいえる〉
この例r(ま、天井が電波にたいして吹き抜けになって
いる。天空は理想的な電波の吸収体なので上方での反射
はない。
第4図〜第6図の例は、床面反射を低減させるために、
アンテナ3と供試機器4を績、3;線の下方に三角柱状
の斜向反射M、2を置さ、天井にも三角柱状の斜向反射
板2を取り付け、残糸の部分を電波吸収体6で埋めたも
のである。
この形式は完全密閉型なので、たこえば、どルの中間階
に設置することも′c2!る。
C8発明の効果 従来の電波吸収体は大ざさ・形状・吸収率が波長に関係
するが、斜向反射板2は広帯域性が良い。
アンテナ3と供試機器4間の伝搬波成分が直接波のみで
あるため伝搬安定度が良好で、反射波が抑止さnるため
ハイド・ハ0ターンに大ぎな脈動Cよあられれない。
斜向反射板2の効果r定在波が立ちにくく、垂直偏波に
対する壁面干渉も生じない。
斜向反射板2の背後の空間が試験に伴つ設備の工ぎ場や
準備室として有効に活用でざる。
構造が簡単で材料がM価、敷地面積が小さくてすむので
、建設費・工期の大幅縮減が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は実施例について本発明の構成と原理を
説明するための図で、第1図は平面図、第2図は長辺方
向の側面図、第3図は短辺方向の側面図。 第4図〜第6図は別の実施例の透視図で、第4図は平面
図、第5図は長辺方向の側面図、第6図は短辺方向の側
面図。 1・・・部屋、  2・・・斜向反射板、3・・・・ア
ンテナ、 4・・・供試機器、5・・・反射波防止スク
リーン、 6・・・電波吸収封体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 部屋(1)の内側に斜向反射板(2)を設け、アン
    テナ(3)と供試機器(4)の間に反射波防止スクリー
    ン(5)を配置した反射板のある電波暗室 2 部屋(1)の四周の壁に斜向反射板(2)を設け、
    アンテナ(3)と供試機器(4)を結ぶ直線の下方の床
    と上方の天井に三角柱状の斜向反射板(2)を付設し,
    天井の残余の部分に電波吸収体(6)を付設した特許請
    求の範囲第1項記載の反射板のある電波暗室
JP63105900A 1988-04-28 1988-04-28 反射板のある電波暗室 Expired - Fee Related JPH0732320B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63105900A JPH0732320B2 (ja) 1988-04-28 1988-04-28 反射板のある電波暗室
US07/342,326 US4906998A (en) 1988-04-28 1989-04-24 Radio-frequency anechoic chamber
EP89304236A EP0340012B1 (en) 1988-04-28 1989-04-27 Radio-frequency anechoic chamber
DE89304236T DE68907992T2 (de) 1988-04-28 1989-04-27 Reflexarme Kammer für Funkwellen.
CN89102924A CN1017765B (zh) 1988-04-28 1989-04-28 射频回波消除小室
KR1019890015529A KR970007981B1 (ko) 1988-04-28 1989-10-27 무선 주파수 무반향실

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63105900A JPH0732320B2 (ja) 1988-04-28 1988-04-28 反射板のある電波暗室

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02153598A true JPH02153598A (ja) 1990-06-13
JPH0732320B2 JPH0732320B2 (ja) 1995-04-10

Family

ID=14419759

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63105900A Expired - Fee Related JPH0732320B2 (ja) 1988-04-28 1988-04-28 反射板のある電波暗室

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4906998A (ja)
EP (1) EP0340012B1 (ja)
JP (1) JPH0732320B2 (ja)
KR (1) KR970007981B1 (ja)
CN (1) CN1017765B (ja)
DE (1) DE68907992T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04276700A (ja) * 1991-03-05 1992-10-01 Sanki Denshi Kogyo Kk 電波暗室

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2574409B2 (ja) * 1988-07-08 1997-01-22 松下電器産業株式会社 Emc試験用電磁波無響室およびそのシールド材
US5208599A (en) * 1991-08-28 1993-05-04 Ohio State University Serrated electromagnetic absorber
US5302960A (en) * 1992-07-20 1994-04-12 Digital Equipment Corporation Multi-element susceptibility room
US5438333A (en) * 1994-07-28 1995-08-01 Arc Technologies, Inc. Electromagnetic radiation absorbing shroud
KR100500493B1 (ko) * 1997-10-24 2005-07-14 가부시키가이샤 네오맥스 실리콘계 전도성 재료와 그 제조 방법
US5929972A (en) * 1998-01-14 1999-07-27 Quo Vadis, Inc. Communication apparatus and method for performing vision testing on deaf and severely hearing-impaired individuals
JP3983404B2 (ja) * 1999-01-13 2007-09-26 本田技研工業株式会社 レーダ搭載車両用ゲート
SE0002980D0 (sv) * 2000-03-31 2000-08-23 Kildal Antenn Consulting Ab A method and an apparatus for measuring the performance of antennas
US6756932B1 (en) * 2003-06-10 2004-06-29 Raytheon Company Microwave absorbing material
TWI390217B (zh) * 2006-09-28 2013-03-21 Murata Manufacturing Co 天線特性測定裝置及天線特性測定方法
EP1983608B1 (en) * 2007-04-20 2013-02-27 Saab AB Airborne vehicle integrated antenna
US8013775B2 (en) * 2007-04-30 2011-09-06 Viasat, Inc. Radio frequency absorber
US7830296B2 (en) * 2007-07-11 2010-11-09 Finisar Corporation Anechoic structures for absorbing electromagnetic interference in a communications module
KR101009630B1 (ko) * 2008-11-04 2011-01-21 한국전자통신연구원 안테나 방사 성능 측정 장치 및 그 설계 방법
WO2010138139A1 (en) * 2009-05-28 2010-12-02 Orbit Advanced Technologies, Inc. Absorber assembly for an anechoic chamber
US8346245B2 (en) * 2009-06-19 2013-01-01 Empire Technology Development Llc Wireless communication obstacles for improving wireless communications
RU2456625C1 (ru) * 2011-03-22 2012-07-20 Сергей Николаевич Алаторцев Устройство подвеса радиолокационного объекта
US9482708B2 (en) 2013-01-29 2016-11-01 ETS-Lindgren Inc. Enhanced reverberation chamber
RU2541206C2 (ru) * 2013-03-06 2015-02-10 Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнева" Способ определения радиотехнических характеристик крупногабаритных антенн для космических аппаратов без их непосредственных измерений
US9746423B2 (en) 2013-05-15 2017-08-29 ETS-Lindgren Inc. Reverberation chamber loading
CN105264397B (zh) * 2013-06-06 2018-11-09 皇家飞利浦有限公司 磁共振成像***的rf屏蔽检查室
EP3022279B1 (en) * 2013-07-18 2019-03-27 Galaxy Surfactants Ltd. Free-flowing, solid, high active alkyl ether sulfates
CA2944203A1 (en) * 2014-04-03 2015-10-08 Vecta Pty Ltd Testing method and apparatus
CN106850085B (zh) * 2016-12-29 2023-07-21 西北核技术研究所 一种测试材料射频响应性能的装置
CN108366518B (zh) * 2018-01-30 2020-10-27 深圳市共进电子股份有限公司 一种金属屏蔽箱

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3120641A (en) * 1960-06-08 1964-02-04 Emerson & Cuming Inc Microwave anechoic chamber
US3113271A (en) * 1960-06-28 1963-12-03 Emerson & Cuming Inc Microwave anechoic chamber
US3308463A (en) * 1964-08-04 1967-03-07 Goodrich Co B F Anechoic chamber
US3571479A (en) * 1969-06-30 1971-03-16 Goodyear Aerospace Corp Digital electronic radar target generator
US3806943A (en) * 1972-10-02 1974-04-23 A Holloway Anechoic chamber
CA1100625A (en) * 1977-04-01 1981-05-05 Leland H. Hemming Plane wave lens
US4507660A (en) * 1982-07-16 1985-03-26 Advanced Electromagnetics, Inc. Anechoic chamber

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04276700A (ja) * 1991-03-05 1992-10-01 Sanki Denshi Kogyo Kk 電波暗室

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0732320B2 (ja) 1995-04-10
DE68907992T2 (de) 1993-11-11
US4906998A (en) 1990-03-06
EP0340012A1 (en) 1989-11-02
KR970007981B1 (ko) 1997-05-19
DE68907992D1 (de) 1993-09-09
CN1037424A (zh) 1989-11-22
KR910008979A (ko) 1991-05-31
EP0340012B1 (en) 1993-08-04
CN1017765B (zh) 1992-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02153598A (ja) 反射板のある電波暗室
US5134405A (en) Electromagnetically anechoic chamber and shield structures therefor
JP4830938B2 (ja) 電子機器用試験装置
JP2510880B2 (ja) 多層型電波吸収体及び該電波吸収体からなる電波暗室
CN106597129B (zh) 一种微波暗室
JP2002196027A (ja) シールド効果評価器及びシールド効果測定法
JPH01114099A (ja) 電波無響室
US3100870A (en) Rooms for testing electronic equipment
JPH0453198A (ja) 電波暗室
JPH05171711A (ja) 電磁波のアブソーバー
EP1195848B1 (en) Microwave absorber wall
JPH0253337A (ja) 電波暗室
JP2000286588A (ja) 連装型電波暗室
JPH01158797A (ja) 移動型電波吸収装置
TWI764072B (zh) 半電波暗室及其地板結構
JPH04140671A (ja) 放射イミュニティ評価試験場
JPH0621679A (ja) 電波暗室
JPH03138999A (ja) 反射板のある電波暗室
JP2722313B2 (ja) 電波暗箱
JP2000077884A (ja) 簡易形電波暗室
JP2000124657A (ja) 電磁波吸収パネル
JP2000138493A (ja) 電波暗室
JPH02174199A (ja) 電波暗室
JP3116928B2 (ja) Emi測定方法及びその装置
JPH06310892A (ja) 電波暗室

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees