KR102196542B1 - 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치 - Google Patents
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Abstract
레이더 안테나의 제작을 위한 단위 모듈 기반의 시험장치 및 시스템을 개시한다.
본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치는, 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈; 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 장착하기 위한 가이드 홈이 형성된 더미 블록; 및 상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치는, 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈; 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 장착하기 위한 가이드 홈이 형성된 더미 블록; 및 상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체를 포함할 수 있다.
Description
본 발명은 능동 위상 배열 레이더 안테나의 제작을 위하여 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈에 대해 냉각 및 시험을 수행하는 장치에 관한 것이다.
이 부분에 기술된 내용은 단순히 본 발명의 실시예에 대한 배경 정보를 제공할 뿐 종래기술을 구성하는 것은 아니다.
일반적으로 능동 위상 배열 레이더 안테나는 복수의 구성 모듈(송수신모듈, 증폭모듈, 전원공급모듈 등)을 포함하는 복수의 시험 대상 모듈을 조립한 조립체로 제작된다. 이러한, 종래의 능동 위상 배열 레이더 안테나는 라인(Line) 단위의 복수의 시험 대상 모듈이 조립된 조립체 단위로만 시험이 가능하다. 즉, 능동 위상 배열 레이더 안테나의 시험을 위해서는 기계적 인터페이스를 포함한 레이더 안테나 전체를 조립한 후 시험이 가능하다. 예를 들어, 총 18 개의 라인으로 구성된 능동 위상 배열 레이더 안테나의 경우, 18 개의 라인 각각에 시험 대상 모듈이 연결되며 각각의 시험 대상 모듈은 송수신모듈, 증폭모듈, 전원공급모듈 등의 구성 모듈이 조립된다.
하지만, 능동 위상 배열 레이더 안테나를 구성하는 각각의 라인 별로 조립되는 구성 모듈의 종류 및 수량이 상이함에 따라 기계적 인터페이스를 포함한 복수의 모듈이 모두 조립된 레이더 안테나 조립체 상태에서 냉각을 하면서 시험을 진행해야 하므로 다수의 인원과 시험 장비가 갖추어져야 하는 문제점이 있다.
본 발명은 능동 위상 배열 레이더 안테나의 제작을 위하여 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 라인(Line) 단위의 시험 대상 모듈에 대해 냉각 및 시험을 수행하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치를 제공하는 데 주된 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 의하면, 상기 목적을 달성하기 위한 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치는, 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈; 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 장착하기 위한 가이드 홈이 형성된 더미 블록; 및 상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 다른 측면에 의하면, 상기 목적을 달성하기 위한 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치는, 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈; 상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 일측단과 가이드 홈을 통해 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제1 더미 블록; 상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 타측단과 가이드 홈을 통해 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제2 더미 블록; 상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체; 상기 시험 슬롯 조립체와 케이블로 연결되며, 상기 시험 슬롯 조립체에 결합된 상기 더미 블록을 통해 상기 적어도 하나의 구성 모듈로 상기 시험 대항 모듈의 시험을 위한 전기적 신호를 전달하는 케이블 조립체; 및 상기 시험 대상 모듈의 시험시 냉각을 수행하기 위한 적어도 하나의 냉각 배관을 포함하는 냉각 조립체를 포함할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 레이더 안테나의 조립체 단위가 아닌 레이더 안테나에 포함된 라인 단위의 시험 대상 모듈 별로 시험을 수행할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 레이더 안테나의 조립 전, 시험 대상 모듈에 포함된 구성 모듈의 고장 또는 오류를 파악할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 단위 모듈 시험장치를 개략적으로 나타낸 블록 구성도이다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 단위 모듈 시험장치를 구조를 나타낸 도면이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 시험 슬롯 조립체의 구조를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 단위 모듈 시험장치에서 더미 블록을 결합하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 복수의 더미 블록을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나 및 시험 대상 모듈을 나타낸 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예에 따른 시험 대상 모듈의 종류에 따라 서로 다른 더미 블록을 결합하여 시험 대상 모듈 시험하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 단위 모듈 시험장치를 구조를 나타낸 도면이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 시험 슬롯 조립체의 구조를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 단위 모듈 시험장치에서 더미 블록을 결합하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 복수의 더미 블록을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나 및 시험 대상 모듈을 나타낸 도면이다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예에 따른 시험 대상 모듈의 종류에 따라 서로 다른 더미 블록을 결합하여 시험 대상 모듈 시험하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. 또한, 이하에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명할 것이나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다. 이하에서는 도면들을 참조하여 본 발명에서 제안하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치에 대해 자세하게 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 단위 모듈 시험장치를 개략적으로 나타낸 블록 구성도이다.
본 실시예에 따른 레이더 안테나의 제작을 위한 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 슬롯 조립체(110), 시험 대상 모듈(120) 및 더미 블록(130)를 포함한다. 한편, 단위 모듈 시험장치(100)는 케이블 조립체(140) 및 냉각 조립체(150)를 추가로 포함할 수 있다. 도 1의 단위 모듈 시험장치(100)는 일 실시예에 따른 것으로서, 도 1에 도시된 모든 블록이 필수 구성요소는 아니며, 다른 실시예에서 단위 모듈 시험장치(100)에 포함된 일부 블록이 추가, 변경 또는 삭제될 수 있다.
본 실시예에 따른 단위 모듈 시험장치(100)는 능동 위상 배열 레이더 안테나의 각 라인의 시험 대상 모듈(120)에 조립되는 구성 모듈의 종류와 수량을 관리자가 미리 알고 있으므로, 여러 종류의 더미 블록(130)을 이용하여 각각의 라인 별 즉, 각각의 시험 대상 모듈(120)을 별도로 시험 가능하도록 하는 장치이다.
본 실시예에 따른 단위 모듈 시험장치(100)는 복수의 더미 블록(130)을 이용하여 복수의 라인 각각을 별도로 시험 가능하도록 한다. 여기서, 단위 모듈 시험장치(100)는 총 18 개 라인의 조합으로 제작 예정인 능동 위상 배열 레이더 안테나를 시험하는 것으로 가정하여 설명하고 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 레이더 안테나의 용도에 따라 라인의 개수 즉, 능동 위상 배열 레이더 안테나에 포함된 시험 대상 모듈(120)의 개수는 변경될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)는 소정의 위치에 형성된 복수의 슬롯을 포함하고, 복수의 슬롯 각각을 통해 더미 블록(130)이 결합되도록 하며, 결합된 더미 블록(130)에 장착된 시험 대상 모듈(120)의 시험이 수행되도록 한다.
시험 슬롯 조립체(110)는 상부 커버(302), 하부 커버(304), 제1 측면 커버(306), 제2 측면 커버(307) 등으로 구성되며, 복수의 커버 내부에는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)이 결합 또는 장착될 수 있는 공간이 형성된다.
시험 슬롯 조립체(110)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304) 각각에 더미 블록(130)이 결합되고, 더미 블록(130)에 형성된 가이드 홈을 통해 더미 블록(130)에 장착된 시험 대상 모듈(120)의 적어도 하나의 구성 모듈을 고정시킨다.
시험 슬롯 조립체(110)는 케이블 조립체(140)와 연동하여 더미 블록(130)에 장착된 시험 대상 모듈(120)의 구성 모듈 각각에 대한 시험이 진행되도록 한다.
시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)는 시험 슬롯 조립체(110)의 상부를 보호하며, 제1 더미 블록(132)이 결합 가능한 복수의 제1 슬롯을 포함한다. 여기서, 제1 슬롯은 복수의 요홈부를 가지는 형태일 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 더미 블록(132)이 착탈 가능한 다양한 형태로 구현될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 하부 커버(304)는 시험 슬롯 조립체(110)의 하부를 보호하며, 제2 더미 블록(134)이 결합 가능한 복수의 제2 슬롯을 포함한다. 여기서, 제2 슬롯은 복수의 요홈부를 가지는 형태일 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 제2 더미 블록(134)이 착탈 가능한 다양한 형태로 구현될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 제1 측면 커버(306)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304) 사이에 연결된다. 구체적으로, 시험 슬롯 조립체(110)의 제1 측면 커버(306)는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈을 장착하기 위한 공간을 형성하기 위해 상부 커버(302)의 일측단 및 하부 커버(304)의 일측단과 연결된다.
시험 슬롯 조립체(110)의 제2 측면 커버(307)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304) 사이에 연결된다. 구체적으로, 시험 슬롯 조립체(110)의 제2 측면 커버(307)는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈을 장착하기 위한 공간을 형성하기 위해 상부 커버(302)의 타측단 및 하부 커버(304)의 타측단과 연결된다.
시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)에 결합된 제1 더미 블록(132) 및 하부 커버(304)에 결합된 제2 더미 블록(134)은 서로 동일한 수직선 상에 위치한다. 또한, 시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)에 구비된 복수의 제1 슬롯 각각은 시험 슬롯 조립체(110)의 하부 커버(304)에 구비된 복수의 제2 슬롯 각각과 서로 마주 보는 위치에 형성될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 제1 슬롯 및 제2 슬롯 각각에는 서로 다른 구성 모듈을 포함하는 복수의 시험 대상 모듈 중 하나의 시험 대상 모듈(120)에 대응되도록 선택된 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)이 각각 결합될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)는 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)에 대해 기 설정된 선택 메뉴얼(112)을 구비한다. 여기서, 선택 메뉴얼(112)은 시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)의 상측면 중앙에 거치될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)에는 선택 메뉴얼(112)에 표시된 규칙(기 설정된 규칙) 또는 시험 대상 모듈(120)의 타입에 따라 서로 다른 개수 및 종류의 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)이 결합될 수 있다.
시험 대상 모듈(120)은 적어도 하나의 구성 모듈을 포함하여 레이더 안테나에 장착되는 모듈을 의미한다.
복수의 시험 대상 모듈(120)은 능동 위상 배열 레이더 안테나에 라인(Line) 단위로 조립되며, 각각의 시험 대상 모듈(120)은 서로 다른 개수 및 종류의 구성 모듈을 포함한다. 여기서, 각각의 시험 대상 모듈(120)은 서로 다른 개수의 구성 모듈의 조합으로 인해 서로 다른 길이로 형성된다.
시험 대상 모듈(120)은 전원 공급 모듈, 증폭 모듈, 송수신 모듈 등의 구성 모듈을 포함할 수 있다.
더미 블록(130)은 시험 대상 모듈(120)에 포함된 적어도 하나의 구성 모듈을 장착하며, 구성 모듈을 장착하기 위한 가이드 홈을 포함한다.
더미 블록(130)은 구성 모듈의 일측단과 결합되는 제1 더미 블록(132) 및 구성 모듈의 타측단과 결합되는 제2 더미 블록(134)를 포함한다. 구체적으로, 더미 블록(130)은 복수의 더미 블록을 포함하며, 복수의 더미 블록 중 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈 각각에 대응하는 개수에 따라 선택된 복수의 상기 제1 더미 블록(132) 및 상기 제2 더미 블록(134)을 포함한다.
더미 블록(130)은 복수의 더미 블록 중 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈 각각에 대응하는 종류와 구성 모듈의 배치 순서에 따라 선택된 복수의 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)을 포함할 수 있다.
제1 더미 블록(132)은 시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버에 결합되며, 시험 대상 모듈(120)에 포함된 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 일측단과 결합되어 구성 모듈이 장착되도록 한다.
제2 더미 블록(134)는 시험 슬롯 조립체(110)의 하부 커버에 결합되며, 시험 대상 모듈(120)에 포함된 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 타측단과 결합되어 구성 모듈이 장착되도록 한다.
케이블 조립체(140)는 시험 슬롯 조립체(110)와 케이블로 연결되며, 시험 슬롯 조립체(110)에 결합된 더미 블록(130)을 통해 시험 대상 모듈(120)로 단위 모듈의 시험을 위한 전기적 신호를 전달한다.
케이블 조립체(140)는 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)으로 동일한 전기적 신호를 전달하며, 전기적 신호를 통해 시험 대상 모듈(120)에 포함된 적어도 하나의 구성 모듈 각각에 대한 동작 성능을 시험할 수 있다.
케이블 조립체(140)는 냉각 조립체(150)에 의한 냉각이 진행되는 상태에서 시험을 수행하는 것이 바람직하나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
냉각 조립체(150)는 시험 슬롯 조립체(110)에 복수의 냉각 파이프 형태로 구비되고, 냉각 파이프에 냉각 물질(예: 냉각수)을 통과시켜 시험 대상 모듈(120)을 주변 온도를 낮추는 동작을 수행한다. 냉각 조립체(150)는 시험 대상 모듈(120)의 시험 시 기 설정된 온도로 냉각을 수행하며, 냉각 온도는 관리자의 조작에 의해 조절될 수 있다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나의 단위 모듈 시험장치를 구조를 나타낸 도면이다.
도 2a는 단위 모듈 시험장치(100)의 사시도를 나타내고, 도 2b는 단위 모듈 시험장치(100)의 상면도를 나타낸다. 또한, 도 2c는 단위 모듈 시험장치(100)의 정면도를 나타내고, 도 2d는 단위 모듈 시험장치(100)의 측면도를 나타낸다.
도 2a를 참고하면, 단위 모듈 시험장치(100)는 이동이 가능한 거치대에 설치된 것으로 도시하고 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 고정형 거치대에 설치될 수도 있다.
도 2b 및 도 2c를 참고하면, 시험 슬롯 조립체(110)는 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)에 대해 기 설정된 선택 메뉴얼(112)을 구비하며, 선택 메뉴얼(112)은 시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)의 상측면 중앙에 거치될 수 있다.
또한, 시험 슬롯 조립체(110)가 장착된 거치대의 상측면에는 복수의 더미 블록(130)을 보관하기 위한 영역이 구비된다. 여기서, 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)은 서로 다른 위치에 보관되는 것이 바람직하다.
도 2d를 참고하면, 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 슬롯 조립체(110)의 측면부에 적어도 하나의 냉각 파이프를 포함하는 냉각 조립체(150)를 구비하고, 시험 슬롯 조립체(110)의 후면부에 케이블 조립체(140)를 구비한다. 여기서, 케이블 조립체(140)는 시험 슬롯 조립체(110)와 케이블로 연결되며, 시험 슬롯 조립체(110)에 결합된 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)을 통해 시험 대상 모듈(120)로 단위 모듈의 시험을 위한 전기적 신호를 전달한다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 시험 슬롯 조립체의 구조를 나타낸 도면이다.
시험 슬롯 조립체(110)는 소정의 위치에 형성된 복수의 슬롯을 포함하고, 복수의 슬롯 각각에 통해 더미 블록(130)이 결합되도록 한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 시험 슬롯 조립체(110)는 상부 커버(302), 하부 커버(304), 제1 측면 커버(306), 제2 측면 커버(307) 및 복수의 슬롯(310, 312, 320, 322, 330, 332, 340, 342, 350, 352, 360, 362)을 포함한다. 시험 슬롯 조립체(110)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304)의 길이에 따라 복수의 중간 지지부(308, 309)를 포함할 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 내부에는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)이 결합 또는 장착될 수 있는 공간이 형성된다.
시험 슬롯 조립체(110)는 상부 커버 및 하부 커버 각각에 더미 블록(130)이 결합되고, 더미 블록(130)에 형성된 가이드 홈을 통해 더미 블록(130)에 장착된 시험 대상 모듈(120)의 적어도 하나의 구성 모듈을 고정시킨다.
시험 슬롯 조립체(110)는 케이블 조립체(140)와 연동하여 더미 블록(130)에 장착된 시험 대상 모듈(120)의 구성 모듈 각각에 대한 시험이 진행되도록 한다.
시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)는 시험 슬롯 조립체(110)의 상부를 보호하며, 제1 더미 블록(132)이 결합 가능한 복수의 제1 슬롯을 포함한다. 여기서, 제1 슬롯은 복수의 요홈부를 가지는 형태일 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 더미 블록(132)이 착탈 가능한 다양한 형태로 구현될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 하부 커버(304)는 시험 슬롯 조립체(110)의 하부를 보호하며, 제2 더미 블록(134)이 결합 가능한 복수의 제2 슬롯을 포함한다. 여기서, 제2 슬롯은 복수의 요홈부를 가지는 형태일 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 제2 더미 블록(134)이 착탈 가능한 다양한 형태로 구현될 수 있다.
시험 슬롯 조립체(110)의 제1 측면 커버(306)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304) 사이에 연결된다. 구체적으로, 시험 슬롯 조립체(110)의 제1 측면 커버(306)는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈을 장착하기 위한 공간을 형성하기 위해 상부 커버(302)의 일측단 및 하부 커버(304)의 일측단과 연결된다.
시험 슬롯 조립체(110)의 제2 측면 커버(307)는 상부 커버(302) 및 하부 커버(304) 사이에 연결된다. 구체적으로, 시험 슬롯 조립체(110)의 제2 측면 커버(307)는 더미 블록(130) 및 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈을 장착하기 위한 공간을 형성하기 위해 상부 커버(302)의 타측단 및 하부 커버(304)의 타측단과 연결된다.
시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)에는 제1 더미 블록(132)이 결합되고, 하부 커버(304)에는 제2 더미 블록(134)이 결합될 수 있다. 다시 말해, 상부 커버(302)에 구비된 복수의 제1 슬롯(310, 320, 330, 340, 350, 360)의 전체 또는 일부에는 제1 더미 블록(132)이 결합되고, 하부 커버(304)에 구비된 복수의 제2 슬롯(312, 322, 332, 342, 352, 362)의 전체 또는 일부에는 제2 더미 블록(134)이 결합된다.
도 4를 참조하면, 시험 슬롯 조립체(110)는 제1 슬롯 조립체(112), 제2 슬롯 조립체(114) 및 제3 슬롯 조립체(116)으로 구분될 수 있다.
제1 슬롯 조립체(112)에는 3 쌍의 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)를 결합할 수 있는 복수의 슬롯(310, 312, 320, 322, 330, 332)이 존재한다. 제3 슬롯 조립체(116)에는 3 쌍의 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)를 결합할 수 있는 복수의 슬롯(340, 342, 350, 352, 360, 362)이 존재한다. 한편, 제2 슬롯 조립체(114)에는 슬롯이 형성되지 않아 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134)이 결합되지 않는다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 단위 모듈 시험장치에서 더미 블록을 결합하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 5의 (a)에 도시된 바와 같이, 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 슬롯 조립체(110)의 상부 커버(302)의 상측면 중앙에 거치된 선택 메뉴얼(112)에 따라 선택된 더미 블록(130)을 도 5의 (b)와 같이 시험 슬롯 조립체(110)의 슬롯에 결합하여 시험 대상 모듈(120)을 시험한다.
이하, 총 18 개의 라인으로 제작 예정인 능동 위상 배열 레이더 안테나로 가정하여 단위 모듈 시험장치(100)의 시험 동작을 설명하도록 한다. 능동 위상 배열 레이더 안테나에 포함된 시험 대상 모듈(120)을 구분하는 라인은 행 단위인 것이 바람직하나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 열 단위로 구분될 수도 있다.
단위 모듈 시험장치(100)는 여러 종류의 더미 블록(130)을 이용하여 18 개 각각의 라인을 별도로 시험이 가능한 장치이다. 예를 들어, 레이더 안테나의 제1행을 시험하기 위하여 선택 메뉴얼(112)을 참조하면, 시험 슬롯 조립체(110)의 A 열(상부 커버)에는 3 번 슬롯(330) 위치에 A1 더미 블록(제1 더미 블록 중 하나)을 결합시키고, 4 번 슬롯(340) 위치에 A2 더미 블록(제1 더미 블록 중 하나)을 결합시킨다. 또한, 시험 슬롯 조립체(110)의 B 열(하부 커버)에는 3 번 슬롯(332) 위치에 B1 더미 블록(제2 더미 블록 중 하나)을 결합시키고, 4 번 슬롯(344) 위치에 B2 더미 블록(제2 더미 블록 중 하나)을 결합시킨다.
이후, 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈(전원 공급 모듈, 증폭 모듈, 송수신 모듈 등) 각각을 A1 더미 블록과 B1 더미 블록 사이 및 A2 더미 블록과 B2 더미 블록 사이 각각에 조립하여 시험을 수행한다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 복수의 더미 블록을 나타낸 도면이다.
시험 슬롯 조립체(110)가 장착되는 거치대의 상측면에는 복수의 더미 블록(130)을 보관하기 위한 영역이 구비된다.
도 6에 도시된 바와 같이, 복수의 더미 블록(130)에 포함된 제1 더미 블록(132) 및 제2 더미 블록(134) 각각은 서로 다른 위치에 보관되는 것이 바람직하다.
도 6을 참조하면, 제1 더미 블록(132)은 시험 슬롯 조립체(110)가 장착되는 거치대의 상측면 좌측 영역에 거치된다. 여기서, 제1 더미 블록(132)는 다양한 종류의 가이드 홈을 포함하는 복수의 더미 블록일 수 있다. 예를 들어, 제1 더미 블록(132)는 A1 내지 A10 더미 블록, 적어도 4 개의 AA 더미 블록 등 총 14 개의 더미 블록으로 구성될 수 있다.
제2 더미 블록(134)은 시험 슬롯 조립체(110)가 장착되는 거치대의 상측면 우측 영역에 거치된다. 여기서, 제2 더미 블록(134)는 다양한 종류의 가이드 홈을 포함하는 복수의 더미 블록일 수 있다. 예를 들어, 제2 더미 블록(134)는 B1 내지 B10 더미 블록, 적어도 4 개의 BB 더미 블록 등 총 14 개의 더미 블록으로 구성될 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예에 따른 레이더 안테나 및 시험 대상 모듈을 나타낸 도면이다.
능동 위상 배열 레이더 안테나(700)는 복수의 시험 대상 모듈(120)의 결합으로 제작된 레이더 안테나 조립체이며, 시험 대상 모듈(120) 각각은 서로 다른 라인에 배치된다.
본 실시예에 따른 시험 대상 모듈(120)은 능동 위상 배열 레이더 안테나에 라인(Line) 단위로 조립되며, 각각의 시험 대상 모듈(120)은 서로 다른 개수 및 종류의 구성 모듈을 포함한다.
도 7에 도시된 바와 같이, 복수의 시험 대상 모듈(120) 각각은 서로 다른 개수의 구성 모듈의 조합으로 인해 서로 다른 길이로 형성된다. 시험 대상 모듈(120)은 적어도 하나의 전원 공급 모듈(710), 적어도 하나의 증폭 모듈(720), 적어도 하나의 송수신 모듈(730) 등의 구성 모듈을 포함할 수 있다.
본 실시예에 따른 능동 위상 배열 레이더 안테나(700)는 총 18 개 라인의 시험 대상 모듈(120)의 조합으로 제작될 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 레이더 안테나의 용도에 따라 라인의 개수 즉, 능동 위상 배열 레이더 안테나에 포함된 시험 대상 모듈(120)의 개수는 변경될 수 있다.
도 8a 및 도 8b는 본 발명의 실시예에 따른 시험 대상 모듈의 종류에 따라 서로 다른 더미 블록을 결합하여 시험 대상 모듈 시험하는 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 8a 및 도 8b에서는 도 5의 선택 메뉴얼(112)을 기반으로 시험 대상 모듈(120)에 따라 단위 모듈 시험장치(100)에 장착되는 더미 블록(130) 및 구성 모듈을 도시한다.
도 8a의 (a)는 레이더 안테나의 타입 1(제1행, 제18행 중 하나) 또는 타입 2(제2행, 제17행 중 하나)의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위한 조립 상태를 나타낸다.
예를 들어, 타입 1의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위하여, 시험 슬롯 조립체(110)의 A 열(상부 커버)에는 3 번 슬롯(330) 위치에 A1 더미 블록(810)을 결합시키고, 4 번 슬롯(340) 위치에 A2 더미 블록(813)을 결합시킨다. 또한, 시험 슬롯 조립체(110)의 B 열(하부 커버)에는 3 번 슬롯(332) 위치에 B1 더미 블록(812)을 결합시키고, 4 번 슬롯(344) 위치에 B2 더미 블록(814)을 결합시킨다.
이후, 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈(811, 815)을 A1 더미 블록(810)과 B1 더미 블록(812) 사이 및 A2 더미 블록(813)과 B2 더미 블록(814) 사이 각각에 조립하여 시험을 수행한다.
도 8a의 (b)는 레이더 안테나의 타입 3(제3행, 제4행, 제15행, 제16행 중 하나)의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위한 조립 상태를 나타낸다.
예를 들어, 타입 3의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위하여, 시험 슬롯 조립체(110)의 A 열(상부 커버)에는 2 번 슬롯(320) 위치에 A5 더미 블록(820)을 결합시키고, 3 번 슬롯(330) 위치에 AA 더미 블록(823)을 결합시키고, 4 번 슬롯(340) 위치에 AA 더미 블록(830)을 결합시키고, 5 번 슬롯(350) 위치에 A6 더미 블록(833)을 결합시킨다.
또한, 시험 슬롯 조립체(110)의 B 열(하부 커버)에는 2 번 슬롯(322) 위치에 B5 더미 블록(822)을 결합시키고, 3 번 슬롯(332) 위치에 BB 더미 블록(825)을 결합시키고, 4 번 슬롯(342) 위치에 BB 더미 블록(832)을 결합시키고, 5 번 슬롯(352) 위치에 B6 더미 블록(835)을 결합시킨다.
이후, 단위 모듈 시험장치(100)는 시험 대상 모듈(120)에 포함된 구성 모듈(821, 824, 831, 834)을 A5 더미 블록(820)과 B5 더미 블록(822) 사이, AA 더미 블록(823, 830)과 BB 더미 블록(825, 832) 사이, A6 더미 블록(833)과 B6 더미 블록(835) 사이 각각에 조립하여 시험을 수행한다.
도 8b의 (a)는 레이더 안테나의 타입 4(제5행, 제6행, 제13행, 제14행 중 하나)의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위한 조립 상태를 나타내고, 도 8b의 (b)는 레이더 안테나의 타입 5(제7행, 제8행, 제9행, 제10행, 제11행, 제12행 중 하나)의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위한 조립 상태를 나타낸다. 타입 4 및 타입 5의 시험 대상 모듈(120)을 시험하기 위한 조립 상태는 타입 1 내지 타입 3의 방식과 동일하므로 자세한 설명은 생략하도록 한다.
이상의 설명은 본 발명의 실시예의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명의 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 실시예의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 본 발명의 실시예의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 실시예의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시예의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 실시예의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 단위 모듈 시험장치
110: 시험 슬롯 조립체 120: 시험 대상 모듈
130: 더미 블록 132: 제1 더미 블록
134: 제2 더미 블록 140: 케이블 조립체
150: 냉각 조립체
110: 시험 슬롯 조립체 120: 시험 대상 모듈
130: 더미 블록 132: 제1 더미 블록
134: 제2 더미 블록 140: 케이블 조립체
150: 냉각 조립체
Claims (12)
- 레이더 안테나의 제작을 위하여 상기 레이더 안테나를 구성하는 시험 대상 모듈을 시험하는 장치에 있어서,
적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈;
상기 적어도 하나의 구성 모듈을 장착하기 위한 가이드 홈이 형성된 더미 블록; 및
상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체
를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제1항에 있어서,
상기 더미 블록은,
상기 상부 커버에 결합되며, 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 일측단과 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제1 더미 블록; 및
상기 하부 커버에 결합되며, 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 타측단과 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제2 더미 블록
을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제2항에 있어서,
상기 더미 블록은,
복수의 더미 블록 중 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 구성 모듈 각각에 대응하는 개수에 따라 선택된 복수의 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제3항에 있어서,
상기 더미 블록은,
복수의 더미 블록 중 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 구성 모듈 각각에 대응하는 종류 및 상기 구성 모듈의 배치 순서에 따라 선택된 복수의 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제2항에 있어서,
상기 시험 슬롯 조립체는,
상기 시험 슬롯 조립체의 상부를 보호하며, 상기 제1 더미 블록이 결합 가능한 복수의 제1 슬롯을 포함하는 상부 커버;
상기 시험 슬롯 조립체의 하부를 보호하며, 상기 제2 더미 블록이 결합 가능한 복수의 제2 슬롯을 포함하는 하부 커버;
상기 상부 커버 및 상기 하부 커버 사이에 상기 구성 모듈의 장착 공간을 형성하기 위해 상기 상부 커버의 일측단 및 상기 하부 커버의 일측단과 연결되는 제1 측면 커버; 및
상기 상부 커버 및 상기 하부 커버 사이에 상기 구성 모듈의 장착 공간을 형성하기 위해 상기 상부 커버의 타측단 및 상기 하부 커버의 타측단과 연결되는 제2 측면 커버를 포함하되,
상기 상부 커버에 결합된 상기 제1 더미 블록과 상기 하부 커버에 결합된 상기 제2 더미 블록은 서로 동일한 수직선 상에 위치하며, 상기 복수의 제1 슬롯 각각은 상기 복수의 제2 슬롯 각각과 서로 마주보는 위치에 형성되는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제5항에 있어서,
상기 시험 슬롯 조립체는,
서로 다른 구성 모듈을 포함하는 복수의 시험 대상 모듈 중 하나의 시험 대상 모듈에 대응되도록 선택된 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록이 상기 제1 슬롯 및 상기 제2 슬롯에 결합되는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제5항에 있어서,
상기 시험 슬롯 조립체는,
상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록에 대해 기 설정된 선택 메뉴얼을 구비하고, 상기 선택 메뉴얼의 규칙 또는 상기 시험 대상 모듈의 타입에 따라 서로 다른 개수 및 종류의 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록이 결합되는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제1항에 있어서,
상기 시험 슬롯 조립체와 케이블로 연결되며, 상기 시험 슬롯 조립체에 결합된 상기 더미 블록을 통해 상기 적어도 하나의 구성 모듈로 상기 시험 대항 모듈의 시험을 위한 전기적 신호를 전달하는 케이블 조립체;
상기 시험 대상 모듈의 시험시 냉각을 수행하기 위한 적어도 하나의 냉각 배관을 포함하는 냉각 조립체를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 레이더 안테나의 제작을 위하여 상기 레이더 안테나를 구성하는 시험 대상 모듈을 시험하는 장치에 있어서,
적어도 하나의 구성 모듈을 포함하는 시험 대상 모듈;
상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 일측단과 가이드 홈을 통해 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제1 더미 블록;
상기 적어도 하나의 구성 모듈 각각의 타측단과 가이드 홈을 통해 결합되어 상기 구성 모듈이 장착되도록 하는 제2 더미 블록;
상부 커버 및 하부 커버에 상기 더미 블록이 결합되고, 상기 가이드 홈을 통해 상기 더미 블록에 장착된 상기 적어도 하나의 구성 모듈을 이용하여 상기 시험 대상 모듈을 시험하는 시험 슬롯 조립체;
상기 시험 슬롯 조립체와 케이블로 연결되며, 상기 시험 슬롯 조립체에 결합된 상기 더미 블록을 통해 상기 적어도 하나의 구성 모듈로 상기 시험 대항 모듈의 시험을 위한 전기적 신호를 전달하는 케이블 조립체; 및
상기 시험 대상 모듈의 시험시 냉각을 수행하기 위한 적어도 하나의 냉각 배관을 포함하는 냉각 조립체
를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제9항에 있어서,
상기 더미 블록은,
복수의 더미 블록 중 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 구성 모듈 각각에 대응하는 개수에 따라 선택된 복수의 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제10항에 있어서,
상기 더미 블록은,
복수의 더미 블록 중 상기 시험 대상 모듈에 포함된 상기 구성 모듈 각각에 대응하는 종류 및 상기 구성 모듈의 배치 순서에 따라 선택된 복수의 상기 제1 더미 블록 및 상기 제2 더미 블록을 포함하는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치. - 제9항에 있어서,
상기 시험 슬롯 조립체는,
상기 시험 슬롯 조립체의 상부를 보호하며, 상기 제1 더미 블록이 결합 가능한 복수의 제1 슬롯을 포함하는 상부 커버;
상기 시험 슬롯 조립체의 하부를 보호하며, 상기 제2 더미 블록이 결합 가능한 복수의 제2 슬롯을 포함하는 하부 커버;
상기 상부 커버 및 상기 하부 커버 사이에 상기 구성 모듈의 장착 공간을 형성하기 위해 상기 상부 커버의 일측단 및 상기 하부 커버의 일측단과 연결되는 제1 측면 커버; 및
상기 상부 커버 및 상기 하부 커버 사이에 상기 구성 모듈의 장착 공간을 형성하기 위해 상기 상부 커버의 타측단 및 상기 하부 커버의 타측단과 연결되는 제2 측면 커버를 포함하되,
상기 상부 커버에 결합된 상기 제1 더미 블록과 상기 하부 커버에 결합된 상기 제2 더미 블록은 서로 동일한 수직선 상에 위치하며, 상기 복수의 제1 슬롯 각각은 상기 복수의 제2 슬롯 각각과 서로 마주보는 위치에 형성되는 것을 특징으로 하는 레이더 안테나의 제작을 위한 시험장치.
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JP2001133495A (ja) * | 1999-11-08 | 2001-05-18 | Device Co Ltd | アンテナ測定器 |
JP2008261853A (ja) * | 2007-04-13 | 2008-10-30 | Advantest Corp | 試験装置及び診断用パフォーマンスボード |
JP5023513B2 (ja) | 2006-02-27 | 2012-09-12 | 日本軽金属株式会社 | 電子機器用試験装置および電子機器試験方法 |
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- 2019-11-19 KR KR1020190149151A patent/KR102196542B1/ko active IP Right Grant
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