KR101082733B1

KR101082733B1 - 전자 기기용 시험 상자

Info

Publication number: KR101082733B1
Application number: KR1020097005587A
Authority: KR
Inventors: 미찌오 나가시마; 가쯔야 우찌다; 가쯔시 야마모또
Original assignee: 니폰게이긴조쿠가부시키가이샤
Priority date: 2007-03-23
Filing date: 2007-12-12
Publication date: 2011-11-10
Also published as: KR20090057024A; WO2008117499A1; CN104198837A

Abstract

본 발명은 시험 상자 본체(시험실)의 전파 차폐 성능을 향상시킨 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 하고, 또한 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 한다. 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12) 또는 도어(20)의 주연부(22)에 장착되는 금속제의 핑거(30, 32, 33)와, 도어(20)의 주연부(22) 또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40, 41, 42)을 구비하고, 또한 시험 상자 본체(510)의 내주면에 장착된 전파 흡수체(530)와, 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층(540)을 구비한다.

시험 상자 본체, 핑거, 패킹, 전파 흡수체, 절연층

Description

전자 기기용 시험 상자 {ELECTRONIC APPARATUS TEST BOX}

본 발명은 휴대 전화 등의 전자 기기에 대한 시험을 행하기 위한 전자 기기용 시험 상자에 관한 것이다.

일반적으로, 휴대 전화 등의 전자 기기는, 제조 후나 수리 후에 정상으로 동작ㆍ기능하는지 여부에 대해, 무선 전파에 의한 무선 접속 시험(이하, 시험이라 함)을 행하는 경우가 있다. 종래, 이와 같은 시험은, 정확한 수신 능력의 시험을 행하기 위해, 외래 전파가 차단된 전파 무향실(전파 암실)이라 칭해지는 대형의 특수한 방이나, 실드 박스(전파 차폐 상자)라 칭해지는 상자의 내부에서 행해지고 있었다.

예를 들어, 하기의 문헌 1에는, 전파를 반사하는 알루미늄제의 내부 하우징을 갖는 외부 하우징과, 휴대 전화를 적재하는 트레이가 고정되고, 하우징에 형성된 개구부를 폐색하는 전방면 패널을 구비하고, 전방면 패널의 외주에 설치된 U자 깊은 홈과, 내부 하우징의 개구부에 설치되고, U자 깊은 홈에 끼워 맞추어 전파 미로를 형성하는 구획판과, 구획판의 외주에 설치된 핑거ㆍ스프링과, 구획판의 내주에 고정된 L자 앵글 및 전방면 패널의 U자 깊은 홈의 바닥부에 각각 설치된 EMI 가 스킷을 갖는 실드 박스가 개시되어 있다.

또한, 예를 들어 하기의 문헌 2에는, 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 글래스의 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide: 산화인듐주석)막을 형성한 창을 갖는 개폐 가능한 도어(힌지식)와, 시험 상자 본체의 상면에 설치된 케이블 배선용 도파관을 주로 구비한 전자 기기용 시험 상자가 개시되어 있다.

또한, 이 전자 기기용 시험 상자는, 금속제의 하우징의 내측에 전파 흡수 구조가 설치된 시험 상자 본체와, 시험 상자 본체의 정면측에 고정된 2개의 손 삽입용 도파관과, 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide : 산화인듐주석)막을 형성한 글래스판이 설치된 창을 주로 구비하고 있다. 이와 같은 전자 기기용 시험 상자는, 시험원이 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 육안으로 확인하면서, 손으로 직접 조작하여 시험을 행할 수 있다는 이점을 갖고 있다.

[특허 문헌 1] 일본공개특허 제2005-252015호 공보

[특허 문헌 2] 일본공개특허 제2006-153841호 공보

그런데, 최근 전자 기기의 고성능화, 고감도화 등에 수반하여, 전파의 차폐성이 우수하고, 외래 전파를 확실하게 차폐할 수 있어, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전파 차폐 성능이 우수한 전자 기기용 시험 상자의 필요성이 점점 높아지고 있다.

상기한 문헌 1에 기재된 실드 박스는, 휴대 전화를 트레이에 적재하고, 전방면 패널을 슬라이드시켜 폐쇄했을 때에, 핑거ㆍ스프링이 U자 깊은 홈의 측면과, 구획판의 내주에 설치된 EMI 가스킷이 전방면 패널과, U자 깊은 홈의 바닥부에 설치된 EMI 가스킷이 구획판의 선단부와 각각 접촉함으로써, 전방면 패널과 구획판의 간극을 통과하는 전파를 3중의 차폐 구조로 차단할 수 있다는 것이다.

그러나, 상기한 문헌 2에 기재된 바와 같은 힌지식의 도어를 갖는 전자 기기용 시험 상자에 있어서는, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분에 EMI 가스킷이나 도전 고무 패킹 등을 구비하는 전파 차폐 구조를 갖는 것밖에 없어, 최근 필요하게 되는 전파 차폐 성능에 충분히 부응할 수 없었다. 또한, 특허 문헌 1에 기재된 전파 차폐 구조(도어 구조)를, 전파 암실과 같은 대형의 방(시험실)의 도어에 적용하는 것은 현실적이지 않다.

또한, 문헌 2에 기재된 바와 같은 전자 기기용 시험 상자(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 높이기 위해, 창에 설치된 글래스판에 전파의 차폐성(반사성)을 갖는 ITO막을 막 두께로 형성할 필요성이나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성할 필요성이 발생하고 있다.

여기서, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 전파의 차폐성(반사성)이 높아지므로, 시험 상자 본체의 전파의 차폐성을 높이는 것이 가능해진다. 그러나, 이와 같은 글래스판은, 가시광에 대한 투과성이 저하되므로, 시험 상자 본체의 내부가 어두워져, 창 본래의 역할인 육안으로 확인성이 저하되어, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기가 육안으로 확인하기 어려워진다는 문제가 있었다.

따라서, 본 발명은 이와 같은 문제를 해결하기 위해, 시험 상자 본체(시험실)의 전파 차폐 성능을 향상시킨 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 하고, 또한 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공하는 것을 과제로 한다.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와, 도어의 주연부 또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 금속제의 핑거가 도어의 주연부(또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부)에 접촉하는 동시에, 전파의 차폐성을 갖는 패킹이 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

여기서, 회절 손실이라 함은, 전파가 금속제의 핑거 등에 의해 반사됨으로써, 전파의 진행 방향측(이 경우, 시험 상자 본체의 내부측)으로 전달 운반하기 어려운 것을 말한다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 시험 상자 본체에는, 전파 암실과 같은 대형의 방(시험실)도 포함된다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 핑거가, 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 도어의 주연부에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 핑거가, 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되므로, 도어 폐쇄시에 도어의 주연부(또는 시험 상자 본체의 개구 모서리부)에 접촉하여 변형하는 핑거의 복원력이 도어의 개폐 방향에 대해 수직으로 걸리게 된다. 이와 같은 구성에 의해, 핑거의 복원력에 의한 도어의 도어 개방을 방지할 수 있다. 또한, 핑거의 복원력이 도어의 개폐 방향에 대해 수직으로 걸리므로, 도어를 도어 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 패킹이, 도어를 폐쇄했을 때에 상기 핑거보다도 외주측에 위치하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 패킹이, 도어를 폐쇄했을 때에 핑거보다도 외주측에 위치하므로, 핑거에 의한 차폐 기능과 패킹에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거 또는 패킹, 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과, 다른 쪽에 형성되고, 도어를 폐쇄했을 때에 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고, 상기 핑거가 삽입편 또는 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 삽입홈의 바닥부에 장착되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편이나 삽입홈에서 회절 손실을 일으킨다. 또한, 핑거가 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉함으로써 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되는 동시에, 패킹이 삽입편의 선단부에 접촉함으로써 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으킨다. 이들에 의해, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 개구부를 개폐하는 도어를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분인 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과, 다른 쪽에 형성되고, 도어를 폐쇄했을 때에 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고, 상기 핑거가 삽입편 또는 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 삽입편의 양측에 장착되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 도어를 폐쇄했을 때에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편이나 삽입홈에서 회절 손실을 일으킨다. 또한, 핑거가 시험 상자 본체의 개구 모서리부(또는 도어의 주연부)에 접촉하는 동시에, 패킹이 삽입홈의 양측에 접촉함으로써, 시험 상자 본체와 도어의 간극이 폐색되기 때문에, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거나 패킹에서 회절 손실을 일으킨다. 이들에 의해, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 삽입홈의 내부에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 삽입홈의 내부에 또한 금속제의 핑거가 장착되므로, 도어를 폐쇄했을 때에, 핑거가 삽입편에 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 당해 핑거에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 삽입편에 금속제의 핑거가 설치되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 삽입편에 또한 금속제의 핑거가 설치되므로, 도어를 폐쇄했을 때에, 핑거가 삽입홈의 내부에 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편과 삽입홈의 간극이 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 당해 핑거에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 더 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 시험 상자 본체가, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체가 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하므로, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있는 동시에, 시험 상자 본체의 외부로부터 내부에 케이블을 배선할 수 있다. 또한, 덕트의 도파관으로서의 작용에 의해 케이블의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 케이블이, 광신호를 전송하는 광케이블인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 케이블을, 광신호를 전송하는 광케이블로 함으로써, 전자기 방해를 양호하게 방지할 수 있다.

또한, 상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체와, 당해 시험 상자 본체에 형성되고, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며, 시험 상자 본체는, 그 내주면에 장착된 전파 흡수체와, 당해 전파 흡수체의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 더 구비하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 전파 흡수체의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

또한, 본 발명에 있어서, 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계(Munsell color system, JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색을 말한다.

또한, 본 발명에 있어서, 절연층이라 함은, 체적 저항값이 10⁶Ω㎝ 이상의 재질로 이루어지는 층을 말한다. 절연층은 그 두께에 따라서, 절연판 또는 절연막이라 불리지만, 절연판 또는 절연막의 두께의 경계(임계값)는 명확하지 않다. 따라서, 본원 발명에 있어서, 절연층은 절연판 및 절연막의 양방을 포함하는 것으로 한다. 절연판의 구체예로서, 예를 들어 수지판, 세라믹스판, 유리판, 두꺼운 종이 등을 들 수 있다. 절연막의 구체예로서, 예를 들어 수지막, 종이 등을 들 수 있다.

또한, 이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체의 내주면에 전파 흡수체를 구비하므로, 시험 중에, 예를 들어 전자 기기의 안테나나 측정용 안테나 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있다. 이것에 의해, 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 전파의 공진 현상이라 함은, 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체의 내부에서 전파가 방사되었을 때, 시험 상자 본체의 내부의 벽면에서 전파가 반사를 반복하여 간섭을 일으키는 현상을 말한다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 밝은 색의 안료를 포함하는 수지로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층을 밝은 색의 안료를 포함하는 수지제로 함으로써, 밝은 색을 나타내는 수지뿐만 아니라, 예를 들어 투명 수지 등이라도, 밝은 색의 안료를 포함시킴으로써 사용하는 것이 가능해져, 절연층의 원료로 되는 수지를 폭넓게 선택할 수 있다. 또한, 내구성, 견고성이 우수하기 때문에, 나사 구멍 등을 뚫어 설치하는 것이 가능해지고, 시험 상자 본체 내부에 설치된 커넥터(접속 마개)나 지그 등을 걸림 고정하기 위한 기판으로서 사용할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 발포 수지로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 전파 흡수체의 표면에 고정된 발포 수지에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 즉, 발포 수지는, 내부에 기포를 포함하기 때문에, 외부로부터의 가시광이 난반사되고, 무색 투명 수지를 기재(基材)로 하는 경우, 일반적으로 백색으로 된다. 따라서, 육안으로 확인성이 유효하다. 또한, 발포 스티롤 등의 수지판이면, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 발포 수지를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해진다. 또한, 발포 수지는, 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 청구 범위 제10항에 관한 발명과 같은 작용 효과 외에, 경량이고 또한 절단이 용이한 종이를 사용한 것으로, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 종이를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해지고, 또한 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 안료가 백색 안료 혹은 형광 안료인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 안료를, 백색 안료 혹은 형광 안료로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부를 적절하게 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

또한, 본 발명에 있어서, 형광 안료라 함은, 자외선을 조사함으로써 전자가 여기되고, 이 전자가 기저(基底) 상태로 복귀될 때에 특정 파장의 가시광을 발하는 안료이다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 상기 절연층이 밝은 색의 세라믹스 혹은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

여기서, 세라믹스는 석영이나 산화알루미늄, 탄화규소 등 상기한 범위 내에 있는 명도의 것을 사용하는 것이 가능하다. 유리에 대해서는, 그 표면이 광을 확산시키는 간유리와 같은 성질을 갖는 것은, 특히 육안으로 확인성이라는 점에 있어서 이점을 구비한다. 이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 세라믹스 또는 유리를 사용함으로써, 강도ㆍ내구성ㆍ내후성이 우수하고, 제조 단계에 있어서, 명도를 올리기 위한 염료를 사용하지 않는 절연층을 제공하는 것이 가능하다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 전파 흡수체가 λ/4형 전파 흡수체인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 전파 흡수체를, 구조가 간단하고, 설계가 용이한 λ/4형 전파 흡수체로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파의 파장(λ)에 따라서, 최적인 전파 흡수 능력을 갖는 전파 흡수체를 설계할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파를 보다 효과적으로 흡수할 수 있다. 이것에 의해, 전파의 공진 현상을 효과적으로 방지하여, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층이 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하므로, λ/4형 전파 흡수체의 보호막의 표면에, 또한 밝은 색의 절연층을 고정할 필요가 없어져, 시험 상자 본체의 구조를 간략화할 수 있는 동시에, 재료 비용이나 제조 비용을 억제할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 시험 상자 본체의 내부에 조명을 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 시험 상자 본체의 내부를 비춤으로써, 시험 상자 본체의 내부를 더 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 조명이 LED 램프인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 조명을 LED 램프로 함으로써, 시험 상자 본체의 내부를 비추어 밝게 할 수 있는 동시에, 점멸시에 노이즈가 거의 발생하지 않으므로, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자는, 절연층이 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 상자에 따르면, 절연층을 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정하므로, 전파 흡수체의 표면 저항값을 변화시키는 일이 없기 때문에, 전파 흡수체의 성능을 충분히 발휘시킬 수 있다.

또한, 절연층을 전파 흡수체의 표면에 접착제로 고정하면, 전파 흡수체의 표면 저항값이 변화되어 버려, 본래 전파를 투과시켜야 할 전파 흡수체의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나, 흡수할 수 없게 되므로 바람직하지 않다. 그러나, 예를 들어 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하면, 전파 반사를 억제하는 것이 가능하다. 또한, 접착 방법에 대해서도, 예를 들어 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여, 접착 면적을 최소한으로 억제하면, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연막을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다.

본 발명에 따르면, 시험 상자 본체와 도어의 접촉 부분에 금속제의 핑거나 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 구비하므로, 시험 상자 본체의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 이것에 의해, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있는 전파 차폐 성능이 우수한 전자 기기용 시험 상자를 제공할 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성한 경우나, 글래스판의 양면에 ITO막을 형성한 경우라도, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있는 육안으로 확인성이 높은 전자 기기용 시험 상자를 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 전체 사시도이다.

도 2는 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이다.

도 3은 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅲ-Ⅲ 단면도이다.

도 4는 도 1에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.

도 5의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이고, 도 5의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.

도 6의 (a)는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 6의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

도 7의 (a)는 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 7의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

도 8의 (a)는 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 8의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

도 9의 (a)는 제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 9의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

도 10의 (a)는 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

도 11은 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 다른 실시 형태를 도시한 수평 단면도이다.

도 12는 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 일 부 단면 부분을 포함하는 정면도이다.

도 13은 도 12에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이다.

도 14는 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자의 일 실시 형태를 도시한 종단면도이다.

도 15는 도 12에 도시한 전자 기기용 시험 상자의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.

도 16의 (a) 내지 도 16의 (c)는 글래스판의 구조 예를 나타내는 단면도이다.

도 17의 (a)는 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이고, 도 17의 (b)는 수지막이 보호막을 겸하는 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이다.

도 18의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이고, 도 18의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.

[부호의 설명]

1 : 전자 기기용 시험 상자

10 : 시험 상자 본체

11 : 개구부

12 : 개구 모서리부

20 : 도어

22 : 주연부

30, 32, 33 : 핑거

31 : 세움 설치판

40, 41, 42 : 패킹

50 : 삽입편

60 : 삽입홈

140 : EMI 덕트

180 : 케이블

184 : 광케이블

H : 힌지

P : 전자 기기

501 : 전자 기기용 시험 상자

510 : 시험 상자 본체

520 : 창

521 : 글래스판

530 : 전파 흡수체(λ/4형 전파 흡수체)

533 : 보호막

540 : 수지막(절연층)

550 : LED 램프(조명)

P : 전자 기기

이하, 본 발명의 일 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 1은 전자 기기용 시험 상자를 도시한 전체 사시도이다.

도 1에 도시한 바와 같이, 전자 기기용 시험 상자(1)는, 전자 기기(P)가 내부에 넣어지는 동시에, 외부와 내부를 연통하는 개구부(11)를 갖는 시험 상자 본체(10)와, 당해 시험 상자 본체(10)에 힌지(도시하지 않음)를 개재하여 장착되고, 개구부(11)를 개폐하는 도어(20)를 주로 구비하고, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 도어(20)의 주연부(22)에 설치되는 세움 설치판(31)의 측면에 장착되는 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)을 더 구비하고 있다.

이하, 우선, 시험 상자 본체(10) 및 도어(20)의 각 부의 구성에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이고, 도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ 단면도이고, 도 4는 도 1의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.

도 2 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)는, 금속제의 하우징(110)과, 하우징(110)의 내면에 설치된 전파 흡수체(120)와, 하우징(110)의 상벽의 내면측에 설치된 LED 램프(130)와, 하우징(110)의 배면측에 설치된 EMI 덕트(140)와, 금속제의 벌집 필터(150)와, 하우징(110)의 측벽의 내면측에 설치된 안테나(160)와, 전자 기기(P)가 고정되는 장착 유닛(170)을 구비하고 있다.

하우징(110)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 복수의 금속제의 패널(111)을 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여, 정면측에 개구부(11)를 갖는 대략 직방체의 상자 형상으로 형성되어 있다. 하우징(110)은, 도전성을 갖는 금속제의 패널(111) 및 프레임(도시하지 않음)으로 형성되어 있으므로, 소정의 강성을 갖고, 그 내구성이 높여진 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 패 널(111)과 프레임(도시하지 않음)이, 용접에 의해 접합되어 있으므로, 하우징(110)의 밀폐성, 즉 전파의 차폐성이 높여진다.

패널(111) 및 프레임(도시하지 않음)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다. 또한, 패널(111)이나 프레임(도시하지 않음)을, 특히 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성한 경우, 원하는 강성을 유지할 수 있는 동시에, 하우징(110)의 경량화를 도모할 수 있다. 또한, 알루미늄이나 알루미늄 합금은 독특한 광택을 가지므로, 하우징(110)은 미관이 우수해진다.

전파 흡수체(120)는, 전자 기기(P)나 안테나(160)로부터 방사되는 전파를 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 내면에서 반사하지 않고 의사적으로 흡수함으로써, 시험 상자 본체(10)의 내부에서 방사된 전파와 반사된 전파가 공진하는 것을 방지하는 것이고, 도 2에 도시한 바와 같이, 각 패널(111)의 내면을 덮도록 형성되어 있다.

이와 같은 전파 흡수체(120)의 종류는, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 내부에서 방사되는 전파의 특성에 따라서, 공지된 전파 흡수체를 널리 사용할 수 있다. 예를 들어, 저항성 전파 흡수체, 유전성 전파 흡수체, 자성 전파 흡수체, 그리고 이들을 조합한 전파 흡수체 등의 어느 것이라도 사용할 수 있고, 또한 단층형, 다층형의 어느 것이라도 좋다.

구체적으로는, 예를 들어 (1) 패널(111)의 측으로부터 차례로, λ/4의 두께를 갖는 스페이서(λ는 시험 상자 본체의 내부에서 방사되는 전파의 파장), 표면 저항값이 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 대략 동등한 저항막 시트, 수지제의 보호막을 구비하는 λ/4형 전파 흡수체, (2) 패널(111)의 측으로부터 차례로, 저항막 시트(임피던스 1088Ω), 스페이서(38㎜), 저항막 시트(임피던스 280Ω), 스페이서(38㎜), 보호막(알루미늄판 또는 알루미늄박)을 구비하는 2종의 전파(80㎒ 주변 및 2050㎒ 주변)를 흡수 가능한 전파 흡수체, (3) 카본 분말이나 산화티탄 등의 화합물로 형성되는 유전성 전파 흡수 시트, (4) 페라이트나 카르보닐 철 등의 화합물로 형성되는 자성 전파 흡수 시트, (5) 폴리우레탄 등의 수지와 자성체의 복합체로 형성되는 전파 흡수 시트, (6) 자성체와 저항체를 접합한 전파 흡수체[예를 들어, 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤)] 등의 어느 것이라도 사용할 수 있다.

또한, 전파 흡수체(120)의 표면은 평탄한 것(평판형)이 바람직하다. 이것에 따르면, 예를 들어 물결형이나 산형, 사각뿔형 등의 전파 흡수체를 구비하는 경우와 비교하여, 시험 상자 본체(10)의 내부(용적)를 크게 하거나, 시험 상자 본체(10)의 사이즈를 작게 할 수 있다.

LED(Light Emitting Diode) 램프(130)는, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추기 위한 조명이고, 도 3에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 상벽에 설치되어 있다. 이것에 의해, 예를 들어 전자 기기(P)를 시험하는 동안, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비춤으로써 전자 기기(P)를 육안으로 확인할 수 있다. LED 램프(130)는, 형광등과 달리, 점멸시에 있어서의 노이즈가 거의 발생하지 않으므로, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추는 조명으로서 적절하게 사용할 수 있다.

또한, LED 램프(130)의 장착 위치나 개수, 배치 등은 적절하게 설정할 수 있고, 도 3에 도시한 구성에 한정되는 것은 아니다. 또한, 시험 상자 본체(10)의 내부를 비추는 조명은, LED 램프에 한정되지 않고, 예를 들어 할로겐 램프나 백열등 등이라도 좋다.

EMI(Electro Magnetic Interference : 전자기 방해 또는 전자기 간섭) 덕트(140)는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기(P) 등에 접속되는 케이블(180)을 하우징(110)의 외부로부터 내부에 삽입 통과하는 덕트이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(141)을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정되어 있다.

이것에 의해, EMI 덕트(140)를 개재하여, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 내부에 케이블(180)을 배선할 수 있는 동시에, 덕트의 도파관으로서의 작용(소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않음)에 의해 케이블(180)의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있으므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 케이블(180)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록, 케이블(180)을 배선함으로써, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있다.

또한, 케이블(180)에는, 도 2에 도시한 바와 같이, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하는 부분 및 소정의 전후 부분의 외주면에 케이블(180)의 내부를 도통하는 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체(181)가 피복되어 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등의 EMI 테이프가, 케이블(180)에 소정의 길이(예를 들어, 300㎜ 이상)로 권취되어 있다. 이것에 의해, 케이블(180)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제할 수 있으므로, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 시험 유닛(190)에서 고정밀도로 제어ㆍ측정할 수 있다.

이와 같은 EMI 덕트(140)는 다이캐스트제이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 케이블(180)이 통과하는 측[하우징(110)의 측]에 복수의 오목홈(142)이 형성되어 있다. 이 오목홈(142)에 케이블(180)을 통과시킴으로써, EMI 덕트(140)의 내부에서 케이블(180)이 상하 방향으로 이동하는 것을 방지하는 동시에, 케이블(180)을 정렬시킬 수 있다. 또한, EMI 덕트(140)에 복수의 케이블(180)을 통과시킨 경우, 각 케이블 사이의 공간이 오목홈(142)의 측벽부(금속)에 의해 메워지므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 각 케이블을 평행하게 배선할 수 있으므로, 예를 들어 각 케이블에 일정하게 접촉하는 어스 등을 장착하는 경우에는, 그 장착이 용이해진다.

벌집 필터(150)는, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 도 4에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(151)을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정되어 있다. 도 5의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이다.

더 설명하면, 벌집 필터(150)는, 도 5의 (a)에 도시한 바와 같이, 정면에서 보아 정육각 형상인 복수의 가는 구멍(152)을 갖는 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 벌집체로서 형성되고, 이 복수의 가는 구멍(152)을 통해, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 가는 구멍(152)의 형상은 정육각형에 한정되지 않고, 예를 들어 원형이나 사각형 등이라도 좋다.

또한, 가는 구멍(152)은, 도파관으로서의 기능을 구비하는 둘레벽(153)으로 둘러싸여져 있으므로, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않기 때문에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 배면에 형성되는 관통 구멍(112)(도 4 참조)의 개구 직경, 벌집 필터(150)의 길이[둘레벽(153)으로 이루어지는 도파관의 길이], 및 가는 구멍(152)의 개구 직경(정육각형의 대향하는 두 변 사이의 거리)은, 벌집 필터(150)의 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정된다.

여기서, 일반적으로 도파관은, 그 개구부의 형상과 치수(길이)가 동일하면, 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아진다. 또한, 도파관의 개구부의 형상에도 의존하나, 개구부의 면적이 작아질수록 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수(소정의 주파수)가 높아진다.

또한, 상기한 벌집 필터(150) 대신에, 도 5의 (b)에 도시한 바와 같은 메쉬 필터(155)를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 도 5의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.

메쉬 필터(155)는, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 벌집 필터와 마찬가지로, 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여, 하우징(110)의 배면에 고정된다(도 4 참조).

메쉬 필터(155)는, 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 메쉬가 복수 겹쳐진 메쉬 적층체이고, 이 메쉬를 통해, 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 금속제의 메쉬 적층체의 내부에서는, 전파의 회절 손실이 일어나므로, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

안테나(160)는, 전자 기기(P)와의 사이에서 전파를 주고받기 위한 안테나이고, 도 2 내지 도 4에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 측벽에 고정된 커넥터(161)에, 안테나용 도파관(162)을 개재하여 설치되어 있다. 안테나(160)에는, 케이블(도시하지 않음)의 일단부가 접속되어 있고, 이 케이블(도시하지 않음)은, 안테나용 도파관(162)을 통해 시험 상자 본체(10)의 외부로 인출되고, 그 타단부가 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 접속되어 있다

또한, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)은, 안테나(160)에 전파를 방사시키거나, 그 전파의 주파수 대역이나 출력 등을 제어하거나, 안테나(160)가 수신한 전자 기기(P)로부터의 전파를 측정하는 기능을 갖는다.

커넥터(161)는, 안테나용 도파관(162)을 고정하기 위한 것으로, 하우징(110)의 측벽에 고정한 상태로 설치되어 있다. 이와 같은 커넥터(161)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(162)을 회전시키고, 안테나(160)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(161) 를 체결하여 안테나용 도파관(162)을 다시 고정함으로써, 안테나(160)의 방향을 바꿀 수 있도록 되어 있다.

이것에 의해, 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 3 참조)로부터 방사되는 전파의 편파면이, 평행 또는 수직으로 되도록 안테나(160)의 축을 회전 조정할 수 있다.

또한, 편파면이라 함은, 전자파에 있어서 전계의 파의 진동하는 면을 말하고, 이것이 일정한 평면 형상에 있는 전자파를 직선 편파라 한다. 통상의 안테나로부터 방사되는 전파는 직선 편파이다.

커넥터(161)는, 도 2, 도 4에 도시한 바와 같이, 그 좌우(수평 방향)에 별도(예비)의 커넥터(163)를 설치해도 좋다. 이것에 의해, 원하는 위치에 안테나용 도파관(162)을 교체할 수 있으므로, 원하는 위치에 안테나(160)를 배치할 수 있다. 또한, 이와 같은 커넥터(163)는, 커넥터(161)의 상하(수직 방향)에 설치해도 좋고, 커넥터(161)의 좌우 상하로 2개 이상 설치해도 좋다.

안테나용 도파관(162)은, 원통 형상 또한 L자 형상으로 굴곡한, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금 등으로 형성된 금속제의 도파관이고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 안테나용 도파관(162)은 시험 상자 본체(10)의 외부와 내부를 연통하고 있고, 그 중공부(내부)에는 안테나(160)에 접속된 케이블(도시하지 않음)이 배선되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(162)의 선단부에는, 직사각 형상의 접지 플레이트(164)가 고정되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(162)의 단면은 원형에 한정되지 않고, 예를 들어 다각형이라도 좋다.

안테나용 도파관(162)의 사양은, 그 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 안테나용 도파관(162)의 내경 및 길이는, 소정 파장보다도 긴 파장의 전파가, 그 내부를 전달 운반하지 않도록 설정되어 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 일반적으로 안테나를 금속 물체에 근접하여 설치하면 금속 물체에 와전류가 흘러 전파의 재방사 등이 일어나, 시험 제공체에 대해 적절하게 방사된 전파에 간섭하여 영향을 미치는 일이 있다. 따라서, 도 4에 도시한 바와 같이, 안테나(160)의 근방의 하우징(110)의 측벽에 자성체 시트(165)를 설치하는 것이 바람직하다[안테나(160)는, 자성체 시트(165)와 전자 기기(P) 사이에 위치하게 된다]. 이것에 의해, 상기한 바와 같은 와전류에 의한 전파의 재방사 등의 영향을 저감할 수 있다.

장착 유닛(170)은, 전자 기기(P)를 하우징(110)의 내부에 고정하기 위한 유닛이고, 도 2, 도 3에 도시한 바와 같이, 하우징(110)의 바닥면 전체면을 덮도록 설치된 고정판(171)과, 이 고정판(171) 상에 착탈 가능하게 고정되어 전자 기기(P)를 보유 지지ㆍ고정하는 보유 지지 고정 지그(172)로 구성되어 있다.

고정판(171)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 평면에서 보아 직사각 형상인 판재이고, 보유 지지 고정 지그(172)를 고정하기 위한 복수의 볼트 구멍(171a)이 형성되어 있다. 볼트 구멍(171a)은, 보유 지지 고정 지그(172)의 고정 위치를 원하는 위치로 바뀌도록, 하우징(110)의 정면에서 보아 좌우 방향으로 병렬하여 복수 설치되어 있다. 또한, 고정판(171) 상에는 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 설치해도 좋고, 고정판(171)을 전파 흡수성을 갖는 부재로 형성해도 좋다.

보유 지지 고정 지그(172)는, 도 3에 도시한 바와 같이, 측면에서 보아 L자 형상인 부재이고, 바닥부에 볼트(B)를 나사 삽입하기 위한 볼트 구멍(172a)이 형성되어 있다. 이 볼트 구멍(172a)을 통해, 고정판(171)의 볼트 구멍(171a)에 볼트(B)가 나사 삽입됨으로써, 보유 지지 고정 지그(172)가 고정판(171)에 고정된다. 보유 지지 고정 지그(172)에는, 장착판(173)과 고정구(174)가 장착되어 있다.

장착판(173)은 장척 형상의 판재(도 2 참조)이고, 보유 지지 고정 지그(172)에 고정되어 있다. 또한, 고정구(174)는 전자 기기(P)를 보유 지지하는 부재이고, 전자 기기(P)를 삽입 통과하여 보유 지지하는 삽입 통과부(174a)가 형성되어 있다. 이 고정구(174)는 장착판(173)에 착탈 가능하게 장착되어 있고, 소망에 따라서, 전자 기기(P)의 장착 방향이나 장착 위치를 바꿀 수 있도록 되어 있다.

시험 유닛(190)(도 2 참조)은, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 제어ㆍ측정하는 유닛, 즉 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정하는 동시에, 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 동작을 시킬 수 있는 유닛이다.

이와 같은 시험 유닛(190)은, 케이블(180)을 통해 시험 대상인 전자 기기(P)에 접속 가능하게 되어 있다. 구체적으로는, 케이블(180)의 일단부가 시험 유닛(190)에 접속되고, 타단부가, EMI 덕트(140)를 개재하여, 시험 상자 본체(10)의 내부로 인출되고, 전자 기기(P)에 접속되어 있다. 또한, 케이블(180)의 타단부에는, 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속하기 위한 커넥터(도시하지 않음)가 설치되어 있다.

도 2에 도시한 바와 같이, 도어(20)는 시험 상자 본체(10)의 측면에 힌지(H)를 통해 회전 가능하게 장착되고, 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 이 도어(20)는 금속제의 패널(201)로 형성되고, 이 패널(201)의 정면에서 보아 우측에는 창(210)이 형성되어 있다. 또한, 도 2에 도시한 바와 같이, 상기한 전파 흡수체(120)가, 패널(201)의 내면을 덮도록 형성되어 있다.

또한, 패널(201)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.

창(210)은 가시광에 대한 투과성을 갖는 직사각 형상의 글래스판(211)을 구비하고 있다. 이것에 의해, 전자 기기(P)의 시험을 행하면서, 창(210)[글래스판(211)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(10)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다.

글래스판(211)은, 창(210)[글래스판(211)]을 통한 전파의 왕래를 방지하기 위해, 전파의 반사성(차단성)을 갖고 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 이와 같은 글래스판(211)으로서는, 예를 들어 글래스판(211)의 적어도 한 쪽면에 ITO(Indium Tin Oxide : 산화인듐주석)막을 형성한 것을 사용할 수 있다.

또한, 글래스판(211)은, 도 2에 도시한 바와 같이, 도어(20)에 형성된 창용의 개구부(202)의 주위에 형성된 오목홈(203)에, 전파의 차폐성을 갖는 패킹(212)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)을 개재하여 고정되어 있다. 이것에 의해, 창(210)[글래스판(211)]의 주연 부분에 있어서의 전파의 차폐성을 확보할 수 있으므로, 시험 상자 본체(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 시험 상자 본체(10)의 내부에 있어서, 전자 기기(P)나 안테나(160) 등으로부터 방사되는 전파가 창(210)[글래스판(211)]에 직접 조사되면, 전파가 창(210)[글래스판(211)]의 표면에서 반사되어 전파의 공진 현상이 발생하므로, 창(210)은, 전자 기기(P)나 안테나(160) 등으로부터 방사되는 전파가 가능한 한 조사되지 않는 위치에 설치하는 것이 바람직하다.

여기서, 전파의 공진 현상이라 함은, 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체의 내부에서 안테나 등으로부터 전파가 방사되었을 때, 시험 상자 본체의 내부의 벽면에서 전파가 반사를 반복하여 간섭을 일으키는 현상을 말한다.

이상, 설명한 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12) 및/또는 도어(20)의 주연부(22)에는, 도어(20)를 폐쇄했을 때에, 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 구조가 형성되어 있다.

다음에, 이 전파 차폐 구조의 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 또한, 도 1, 도 2, 도 4에 도시한 전파 차폐 구조는, 후기하는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조이다.

[제1 실시예]

도 6의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 6의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조는, 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 도어(20)의 주연부(22)에 설치된 세움 설치판(31)의 측면에 장착된 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 설치된 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)으로 이루어진다.

핑거(30)는 실드 핑거, 핑거 스트립 등으로도 불리고, 본 실시 형태에 있어서는, 대략 빗살형을 이루는 띠 형상의 금속판의 빗살의 이에 상당하는 부분을, 단면으로 보아 원호 형상으로 만곡시켜 형성한 판 스프링 부재이고, 장착면의 수직 방향으로 압박되고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 핑거(30)는, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에, 예를 들어 용접 등에 의해 고정된 단면으로 보아 L자 형상인 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 세움 설치판(31)의 외주측 측면에 장착되어 있다.

이와 같은 핑거(30)를 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속뿐만 아니라 합금이라도 좋다. 특히, 구리 합금을 사용하는 것이 바람직하다. 구리를 주체로 한 구리 합금은, 도전성이 높으므로 핑거(30)의 전파의 차폐성을 높일 수 있다. 또한, 구리 합금은 탄성 성능이 우수하므로 접촉 저항을 작게 할 수 있다. 이와 같은 구리 합금으로서는, 예를 들어 베릴륨 구리 합금 등을 들 수 있다.

패킹(40)은, 탄성(쿠션성)을 갖는 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것 으로, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 패킹(40)은, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 설치된 핑거(30)[세움 설치판(31)]의 외주측에 장착되어 있다. 또한, 도전성 패브릭으로서는, 섬유를 니켈로 도금한 것 등을 들 수 있다. 또한, 패킹의 영구 왜곡률은 60％ 이하인 것이 바람직하다.

이와 같은 구성을 구비하는 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조는, 도 6의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)[절곡부(13)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 핑거(30)가, 도 6에 도시한 바와 같이, 세움 설치판(31)에 장착되어 있으므로, 도어(20)를 폐쇄했을 때에 시험 상자 본체(10)에 접촉하여 변형하는 핑거(30)의 복원력이, 도어(20)의 개폐 방향(도 6의 좌우 방향)에 대해 수직(도 6의 상하 방향)으로 걸리게 된다. 이것에 의해, 핑거(30)의 복원력에 의한 도어(20)의 도어 개방을 방지할 수 있는 동시에, 도어(20)를 도어 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.

또한, 패킹(40)이, 도 6에 도시한 바와 같이, 핑거(30)의 외주측에 장착되어 있으므로, 핑거(30)에 의한 차폐 기능과 패킹(40)에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거(30) 또는 패킹(40), 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자(1)의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.

또한, 핑거(30)는, 세움 설치판(31)을 개재하지 않고, 도어(20)의 주연부(22)에 직접 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 패킹(40)은 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.

[제2 실시 형태]

도 7의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 7의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 설치된 세움 설치판(31)의 측면에 장착된 금속제의 핑거(30)와, 도어(20)의 주연부(22)에 장착된 전파의 차폐성을 갖는 패킹(40)으로 이루어진다.

제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30)가, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 고정된, 단면으로 보아 L자 형상인 금속제의 세움 설치판(31)의 외주측 측면에 장착되어 있는 점이, 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.

이와 같은 구성을 구비하는 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 도어(20)의 주연부(22)[절곡부(23)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 핑거(30)가, 도 7에 도시한 바와 같이, 세움 설치판(31)에 장착되어 있으므로, 도어(20)를 폐쇄했을 때에 도어(20)에 접촉하여 변형하는 핑거(30)의 복원력이, 도어(20)의 개폐 방향(도 7의 좌우 방향)에 대해 수직(도 7의 상하 방향)으로 걸리게 된다. 이것에 의해, 핑거(30)의 복원력에 의한 도어(20)의 개방을 방지할 수 있는 동시에, 도어(20)를 폐쇄 상태로 고정할 수 있다.

또한, 패킹(40)이, 도 7에 도시한 바와 같이, 핑거(30)의 외주측에 장착되어 있으므로, 핑거(30)에 의한 차폐 기능과 패킹(40)에 의한 차폐 기능이 상승적으로 작용하여, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 핑거(30) 또는 패킹(40), 어느 한 쪽의 차폐 기능이 저하되어도, 다른 쪽의 차폐 기능에 의해 전자 기기용 시험 상자(1)의 급격한 전파 차폐 성능의 저하를 방지할 수 있다.

또한, 핑거(30)는, 세움 설치판(31)을 개재하지 않고, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 직접 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 패킹(40)은 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.

[제3 실시 형태]

도 8의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 8의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 8의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분인 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성되는 삽입편(50)과, 도어(20)의 주연부(22)에 형성되는 삽입홈(60)을 갖고, 핑거(30)가 도어(20)의 주연부(22)의 삽입홈(60)의 내주측에 장착되는 동시에, 패킹(41)이 삽입홈(60)의 바닥부에 장착되고, 패킹(42, 42)이 삽입편(50)의 내주측 및 외주측의 개구 모서리부(12)에 각각 장착되어 있다.

핑거(30)는, 제1, 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조로 사용된 것과 동일하고, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 장착되어 있다.

패킹(41, 42)은, 제1, 제2 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조에서 사용된 패킹(40)과 마찬가지로, 탄성(쿠션성)을 갖는 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것이지만, 그 사이즈가 다르다.

삽입편(50)은, 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 형성된 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 세움 설치 부분이다. 이 삽입편(50)은, 도 8의 (a)에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]를 구성하는 패널(111)(도 2 내지 도 4 참조)과 일체로 형성해도 좋고, 금속판(단면으로 보아 L자 형상이나 단면으로 보아 볼록 형상 등이라도 좋음)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 용접 등에 의해 고정함으로써 형성해도 좋다. 그리고, 이 삽입편(50)의 양측에는, 패킹(42, 42)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 전체 둘레에 걸쳐 장착되어 있다.

삽입홈(60)은, 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 형성된 오목부이고, 도어(20)를 폐쇄했을 때에, 상기한 삽입편(50)이 삽입된다. 이 삽입홈(60)의 바닥부에는, 패킹(41)이 도어(20)의 주연부(22)의 전체 둘레에 걸쳐 장착되어 있다.

이와 같은 구성을 구비하는 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 8의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 삽입편(50)이 삽입홈(60)에 삽입되어, 전파 회절 구조를 형성하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편(50)이나 삽입홈(60)의 내부에서 회절 손실을 일으킨다.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 패킹(41)이 삽입편(50)의 선단부에 탄성적으로 접촉함으로써 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되는 동시에, 패킹(42, 42)이 삽입홈(60)의 양측에 탄성적으로 접촉함으로써 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 패킹(41, 42, 42)에서 회절 손실을 일으킨다.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉함으로써 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(30)에서 회절 손실을 일으킨다.

따라서, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30), 패킹(41, 42, 42), 삽입편(50) 및 삽입홈(60)의 상호의 회절 손실 작용에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.

또한, 제3 실시 형태에서는, 삽입편(50)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성하고, 삽입홈(60)을 도어(20)의 주연부(22)에 형성한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 즉, 삽입편(50)을 도어(20)의 주연부(22)에 형성하고, 삽입홈(60)을 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 형성한 구성으로 해도 좋다.

또한, 제3 실시 형태에서는, 패킹(41, 42)을, 삽입편(50)의 양측과 삽입홈(60)의 바닥부에 장착한 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 삽입편(50)의 양측에만 설치하는 구성으로 해도 좋고, 삽입홈(60)의 바닥부에만 장착하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 핑거(30)는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)의 측에 장착해도 좋다.

[제4 실시 형태]

도 9의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 9의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(32, 32)가 삽입홈(60)의 내부에 장착되어 있는 점, 보다 상세하게는, 핑거(32, 32)가, 삽입홈(60)의 내부의 대향하는 측면의 전체 둘레, 각각에 장착되어 있는 점이, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.

핑거(32)는, 장착면의 수직 방향으로 압박되는 금속제의 원호 형상판 스프링 부재이고, 핑거(30)와 마찬가지로, 전파의 차폐성을 갖고 있으나, 핑거(30)와는 사이즈가 다르다.

이와 같은 구성을 구비하는 제4 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 상기한 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조의 작용 효과에 부가하여, 도 9의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(32, 32)가 삽입편(50)에 양측으로부터 끼움 지지되도록 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(32, 32)에서 회절 손실을 일으키고, 그 결과, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 더 효과적으로 차폐할 수 있다.

[제5 실시 형태]

도 10의 (a)는 도어를 개방한 상태를 도시한 개략도이고, 도 10의 (b)는 도어를 폐쇄한 상태를 도시한 개략도이다.

제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 삽입홈(60)의 바닥부에 패킹(41)을 설치하고 있지 않은 점과 삽입편(50)의 전체 둘레에 핑거(33)가 장착되어 있는 점이, 제3 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조와 다르다.

핑거(33)는, 대략 빗살형을 이루는 띠 형상의 금속판의 빗살의 이에 상당하는 부분을, 단면으로 보아 대략 삼각 형상으로 절곡하여 형성한 판 스프링 부재이고, 장착면의 수직 방향으로 압박되고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 핑거(33)에는, 삽입편(50)에 장착하기 위한 클립부(33a)가 형성되어 있다. 이 핑 거(33)는, 클립부(33a)가 삽입편(50)을 끼움 지지함으로써 삽입편(50)에 장착되어 있다.

이와 같은 구성을 구비하는 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 폐쇄하면, 삽입편(50)이 삽입홈(60)에 삽입되어, 전파 회절 구조를 형성하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가, 삽입편(50)이나 삽입홈(60)의 내부에서 회절 손실을 일으킨다.

또한, 도어를 폐쇄하면, 패킹(42, 42)이 삽입홈(60)의 양측에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉하므로, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 패킹(42, 42) 및 핑거(30)에서 회절 손실을 일으킨다.

또한, 도어(20)를 폐쇄하면, 핑거(33)의 선단부(33b) 및 제2 절곡부(33d)가 삽입홈(60)의 내부 측면에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 핑거(33)의 제1 절곡부(33c)가 삽입홈(60)의 바닥부에 탄성적으로 접촉하므로, 삽입편(50)과 삽입홈(60)의 간극이 확실하게 폐색되기 때문에, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(33)에서 회절 손실을 일으킨다.

따라서, 제5 실시 형태에 관한 전파 차폐 구조는, 핑거(30, 33), 패킹(42, 42), 삽입편(50) 및 삽입홈(60)의 상호의 회절 손실 작용에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 보다 효과적으로 차폐할 수 있다.

이상, 전파 차폐 구조의 실시 형태에 대해 설명했으나, 전파 차폐 구조의 실시 형태는 이것에 한정되는 것은 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하다. 예를 들어, 상기한 제1 내지 제5 실시 형태의 적어도 2개를 조합한 구성으로 해도 좋다.

또한, 상기한 제1, 제2 실시 형태에서는, 도어(20)의 주연부(22)[또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)]에 1개의 패킹(40)이 장착되는 구성(도 6, 7 참조)으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2개의 패킹이 2중으로 배치되도록 장착되는 구성이라도 좋다(도시하지 않음). 당연히, 패킹이 3중 이상으로 배치되도록 장착해도 좋다. 제3 내지 제5 실시 형태의 패킹(41, 42)에 대해서도 마찬가지이다.

또한, 상기한 제3 내지 제5 실시 형태에서는, 도어(20)의 주연부(22)[또는 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)]에 1개의 핑거(30)가 장착되는 구성[도 8 내지 도 10 참조]으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2개의 핑거가 2중으로 배치되도록 장착되는 구성이라도 좋다(도시하지 않음). 당연히, 핑거가 3중 이상으로 배치되도록 장착해도 좋다. 제1, 제2 실시 형태에 대해서도 마찬가지이다.

또한, 상기한 제3 내지 제5 실시 형태에서는, 삽입편(50) 및 삽입홈(60)을 각각 1개씩 형성하는 구성(도 8 내지 도 10 참조)으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파의 침입 방향에 대해, 2중 이상으로 되도록 형성하는 구성으로 해도 좋다.

마지막으로, 도 1 내지 도 4에 도시한 전자 기기용 시험 상자(1)(도 6에 도시한 제1 실시예에 관한 전파 차폐 구조를 구비함)의 동작을 설명하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 관한 전자 기기 시험 방법에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.

우선, 도 1에 도시한 바와 같이, 도어(20)를 개방하고, 전자 기기(P)를 시험 상자 본체(10)의 내부에 넣고, 장착 유닛(170)의 고정구(174)에 형성된 삽입 통과부(174a)(도 3 참조)에 삽입 통과시켜, 시험 상자 본체(10)의 내부에 고정한다. 또한, 케이블(180)의 커넥터(도시하지 않음)를 전자 기기(P)에 접속한다.

다음에, 도어(20)를 폐쇄하면, 도 6에 도시한 바와 같이, 핑거(30)가 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)[절곡부(13)]에 탄성적으로 접촉하는 동시에, 패킹(40)이 시험 상자 본체(10)의 개구 모서리부(12)에 탄성적으로 접촉한다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 간극이 핑거(30) 및 패킹(40)에 의해 확실하게 폐색되고, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분으로부터 침입하고자 하는 전파가 핑거(30)나 패킹(40)에서 회절 손실을 일으키므로, 높은 전파 차폐 환경을 실현할 수 있다.

그리고, 예를 들어 시험 개시 스위치(도시하지 않음) 등을 온(ON)으로 함으 로써, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)으로부터 안테나(160)에 전기 신호가 송신되고, 안테나(160)로부터 전파가 방사된다. 전자 기기(P)의 동작의 시험은, 안테나(160)로부터 전파를 방사하면서, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 시험 유닛(190)(도 2 참조)에서 검출함으로써 행해진다. 시험 유닛(190)에서는, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정한다.

이때, 상기한 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 의해, 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 강도나 주파수 대역 등을 변화시켜 시험을 행할 수도 있다.

정상 상태라고 판정되면, 도어(20)를 개방하여 안테나(160)의 방향을 바꾼 후에, 도어(20)를 폐쇄하여 다른 편파면(수평파 및 수직파)에 대해 시험을 행할 수도 있다.

또한, 정상 상태라고 판정되면, 도어(20)를 개방하여 보유 지지 고정 지그(172)의 위치를 바꾸어 고정판(171)에 고정하고, 안테나(160)와의 거리를 바꾸어, 전자 기기(P)가 전파를 정상으로 수신할 수 있는지 여부의 시험을 행할 수도 있다.

또한, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 3 참조)와 안테나(160)의 거리는, 전자 기기(P)나 안테나(160)로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상으로 되도록 설정하는 것이 바람직하고, 2λ 이상으로 되도록 설정하면 더 바람직하다. 이것에 의해, 원방 전자계의 영역에 전자 기기(P)의 안테나(Pa)를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정되는 위치에서 전자 기기(P)의 시험을 행할 수 있으므로, 전자 기기(P) 의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

여기서, 원방 전자계의 영역이라 함은, 파동 임피던스가 공간의 파동 임피던스(Z0)와 동등해지지는 영역의 것을 의미한다. 안테나(160)로부터 방사되는 전파는 이 영역에 있어서 평면파에 가까운 전달 운반을 한다.

이상이, 전자 기기용 시험 상자(1)의 일련의 동작 및 전자 기기 시험 방법이다.

이상과 같은 전자 기기용 시험 상자(1)에 따르면, 시험 상자 본체(10)와 도어(20)의 접촉 부분에, 핑거(30, 32, 33), 패킹(40, 41, 42), 삽입편(50), 삽입홈(60) 등으로 이루어지는 다중의 전파 차폐 구조를 구비하므로, 시험 상자 본체(10)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 이와 같은 전자 기기용 시험 상자(1)를 사용함으로써, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

이상, 본 발명의 일 실시 형태에 대해 설명했으나, 본 발명의 실시 형태는 이것에 한정되는 것은 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하고, 예를 들어 이하와 같은 변경이 가능하다.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)로서 휴대 전화를 도시하여 설명했으나, 본 발명의 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)는, 휴대 전화에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 휴대 전화와 마찬가지로 전파의 주고받기를 행하는 PDA(Personal Digital Assistance)나 무선 LAN(Local Area Network) 기능을 구비하 는 노트형의 퍼스널 컴퓨터 등이라도 좋다. 또한, 외부 전파의 영향을 받는 것이 바람직하지 않은 정밀 측정 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 외부에 소정값 이상의 전파를 방사하는 것이 바람직하지 않은 가전 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 이 경우, 장착 유닛(170)의 형상이나 사이즈 등, 또는 장착 유닛(170)을 구비하는지 여부에 대해서는, 시험 대상인 전자 기기에 따라서 적절하게 설정되는 것은 말할 것도 없다.

또한, 시험 상자 본체(10)는, 상기한 실시 형태에 한정되지 않고, 예를 들어 전파 암실과 같은, 시험원이 그 내부에 출입할 수 있는 대형의 방(시험실)이라도 좋다. 이와 같은 시험실은, 시험 상자 본체(10)와 마찬가지로 금속제의 하우징으로 형성해도 좋고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 콘크리트 구조로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 복수의 금속제의 패널(111)을, 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 하우징(110)을 형성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 복수의 금속제의 패널을 볼트 등에 의해 조립 부착하여 형성하는 조립ㆍ분해 가능한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성의 경우, 복수의 금속제의 패널의 간극에 전파의 차폐성을 갖는 충전재를 개재시키는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 하우징(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 전파의 차폐성을 갖는 충전재로서는, 예를 들어 상하면의 적어도 한 쪽이 절연층(예를 들어, 종이, 접착층을 겸하는 점착 테이프 등)으로 절연된 저항 손실체(예를 들어, 카본 저항 시트, 금속 박막 저항 시트, 열선 차단 필름 등)를 갖는 전자기 차폐 접합용 시트체를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표) IR(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등을 사용할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 하우징(110)을 금속제로 함으로써, 전파의 차폐성이나 강성 등을 높이는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 판재로 하우징을 형성해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, EMI 덕트(140)의 내부에 케이블(180)(전기 신호용의 케이블)이 통과하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다.

전기 신호용의 케이블은, 그 내부를 노이즈가 도통하기 때문에 전자기 방해가 발생한다. 상기한 실시 형태에서는, 케이블(180)을 노이즈 흡수체(181)로 피복함으로써(도 2 참조), 케이블(180)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제하는 구성으로 되어 있으나, 완전하게 방지하는 것은 현실적으로는 곤란하다. 따라서, 시험 상자 본체(10)의 전파 차폐 성능을 더 향상시키기 위해, 예를 들어 노이즈가 매우 작은 광신호용의 케이블(광케이블)을 EMI 덕트(140)의 내부에 통과시키는 구성으로 해도 좋다.

도 11은 전자 기기용 시험 상자의 다른 실시 형태를 도시한 수평 단면도이다. 또한, 케이블(182, 186)은 전기 신호용의 케이블이고, 변환 유닛(183, 185)은 전기 신호와 광신호를 상호로 변환 가능한 공지된 유닛이다.

도 11에 도시한 바와 같이, 전자 기기(P)와 시험 유닛(190)은, 케이블(182), 변환 유닛(183), 광케이블(184), 변환 유닛(185) 및 케이블(186)을 개재하여 접속되어 있다.

구체적으로는, 일단부에 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속 가능한 커넥터(도시하지 않음)를 구비하는 케이블(182)의 타단부가 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 내부에 설치된 변환 유닛(183)에 접속되고, 이 변환 유닛(183)에 광케이블(184)의 일단부가 접속되어 있다. 광케이블(184)은, 그 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록 배선되어 있다. 그리고, 광케이블(184)의 타단부가 하우징(110)[시험 상자 본체(10)]의 외부에 설치된 변환 유닛(185)에 접속되는 동시에, 이 변환 유닛(185)에 케이블(186)의 일단부가 접속되고, 그 타단부가 시험 유닛(190)에 접속되어 있다. 또한, 변환 유닛(183, 185)과, 광케이블(184)은, 예를 들어 USB 커넥터, RS232C 커넥터, LAN 커넥터 등을 개재하여 접속할 수 있다.

여기서, 변환 유닛(183, 185)이, 예를 들어 내부 전원을 구비하지 않는 기기인 경우에는, 별도로 외부 전원(예를 들어, 전원 콘센트 등)으로부터 전력을 공급 할 필요가 있다. 이때, 하우징(110)의 외부에 설치되는 변환 유닛(185)에 대해서는, 예를 들어 외부 전원에 접속된 전원 케이블을 직접 접속하여 전력을 공급할 수 있다(도시하지 않음). 그러나, 이와 같은 전원 케이블은 그 내부를 노이즈가 도통하기 때문에, 하우징(110)의 내부에 전원 케이블을 직접 도통하여, 변환 유닛(183)에 접속하면 전자기 방해가 발생한다.

따라서, 도 11에 도시한 바와 같이, 변환 유닛(183)에 대해서는, 하우징(110)의 측벽에 관통 설치한 저역 통과 필터(187)를 통해 전력을 공급하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 하우징(110)의 외부에 있어서는, 저역 통과 필터(187)에 접속된 전원 케이블(188)을 외부 전원(도시하지 않음)에 접속하는 동시에, 하우 징(110)의 내부에 있어서는, 변환 유닛(183)에 접속된 전원 케이블(189)을 저역 통과 필터(187)에 접속함으로써, 변환 유닛(183)에 대해 전력을 공급한다.

저역 통과 필터(187)는, 특정의 주파수 이외의 신호를 차단하는 필터 중 저역 주파수만을 통과시키는 필터이다. 이와 같은 저역 통과 필터(187)는, 예를 들어 외부 전원이 전원 콘센트인 경우, 50㎐ 또는 60㎐의 주파수 영역을 통과시키는 동시에, 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)가 사용하는 주파수대의 주파수 영역을 차단하는 것인 것이 바람직하다. 예를 들어, 전자 기기(P)가 휴대 전화인 경우에는, 0.8 내지 2.4㎓의 주파수 영역을 차단하는 것인 것이 바람직하다. 또한, 변환 유닛(183)에 전력을 공급하는 외부 전원은, 전원 콘센트에 한정되지 않고, 예를 들어 하우징(110)의 내부에 설치되는 배터리 등이라도 좋다.

이상과 같이, 광케이블(184)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(140)의 내부를 통과하도록, 광케이블(184)을 배선함으로써, 전자기 방해를 양호하게 방지할 수 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(10)[전자 기기용 시험 상자(1)]의 전파 차폐 성능을 더 향상시킬 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 보다 정밀하게 행할 수 있다. 또한, EMI 덕트(140)의 내부를 통해, 하우징(110)의 내부에 도통되는 케이블이, 모두 광케이블인 경우에는, EMI 덕트(140)를 구비하지 않는 구성으로 해도 좋다.

전자 기기(P) 및 시험 유닛(190)이, 모두 광신호를 직접 송수신할 수 있는 기기인 경우에는, 케이블(182, 186) 및 변환 유닛(183, 185)을 설치하지 않고 일단부에 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속 가능한 커넥터(도시하지 않음)를 구비한 광케이블(184)에 의해, 전자 기기(P)와 시험 유닛(190)을 직접 접속하는 구성으로 해도 좋다(도시하지 않음).

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]의 배면에 급배기용의 벌집 필터(150)[또는 메쉬 필터(155)]를 구비하는 구성으로 했으나, 급배기용의 필터는, 이들에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에, 소정 파장보다도 긴 전파를 전달 운반시키지 않는 도파관으로서 기능하도록 내경 및 길이(패널 두께)를 설정(설계)한 복수의 미세한 관통 구멍을 형성한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 복수의 미세한 관통 구멍을 구비하는 플레이트를, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 관통 구멍(도 4 참조)에 장착 프레임 및 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여 내측으로부터 고정하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(10)[하우징(110)]의 배면에 1개의 급배기용의 필터[벌집 필터(150) 또는 메쉬 필터(155)]를 구비하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 흡기용과 배기용의 적어도 2개의 필터를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 모두 동종의 필터를 사용해도 좋고, 이종의 필터를 조합하여 사용해도 좋다. 또한, 배기용의 필터 또는 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 배기용의 관통 구멍에, 배기 팬(도시하지 않음)을 장착해도 좋다. 또한, 전자 기기용 시험 상자의 전파 차폐 성능을 더 향상시키고자 하는 경우에는, 급배기용의 필터를 구비하지 않아도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(160)의 회전 조정은, 커넥터(161)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(162)을 회전시키고, 안테나(160)의 방향을 바꾼 후, 커넥 터(161)를 체결하여 안테나용 도파관(162)[안테나(160)]을 다시 고정하는 수동으로 행하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 공지된 동력 기구나 제어 기구 등을 조합하여, 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 고정구(174)가 장착판(173)에 착탈 가능하게 장착되는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 고정구가 장착판에 회전 가능하게 장착되는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 고정구의 회전 조정은 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 보유 지지 고정 지그(172)가 고정판(171)에 형성된 복수의 볼트 구멍(171a)과 볼트(B)에 의해 단계적으로 이동 가능한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 보유 지지 고정 지그가 고정판에 설치한 레일을 따라 무단계로 이동 가능한 구성으로 해도 좋다. 이것에 따르면, 안테나와 보유 지지 고정 지그(전자 기기)의 거리를 간단하게 조정할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 도 1, 도 2, 도 4에 도시한 바와 같이, 도어(20)에 창(210)이 형성되어 있는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 시험 상자 본체에 창을 형성하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 도어나 창은 각각 복수 형성해도 좋다. 또한, 전자 기기용 시험 상자의 전파 차폐 성능을 더 향상시키고자 하는 경우에는, 창을 형성하지 않아도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 패킹(40, 41, 42)으로서, 스펀지재를 도전성 패브릭으로 피복한 것을 예시했으나, 본 발명에서 사용 가능한 패킹은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 도전성 미립자(금속 미립자, 카본 블랙 등)를 혼합한 고 무(실리콘 고무, 클로로프렌 고무 등)(소위 도전성 고무)로 이루어지는 패킹을 사용해도 좋다. 또한, 금속 메쉬로 가스킷을 피복한 것[예를 들어, 소프트ㆍ실드(타이요 가나아미 가부시끼가이샤)]을 사용해도 좋고, 금속 메쉬 다발선을 사용해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(160)로부터 전자 기기(P)에 전파를 방사하여, 전자 기기(P)가 정상으로 전파를 수신할 수 있는지 여부를 시험 유닛(190)에서 판정하는 전자 기기 시험 방법에 대해 설명했으나, 전자 기기 시험 방법은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 유닛(190)으로부터 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 전자 기기(P)[안테나(Pa). 도 3 참조]로부터 안테나(160)에 전파를 송신시키고, 안테나(160)가 수신한 전파를 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에서 측정하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정해도 좋다.

[제6 실시 형태]

이하, 본 발명의 제6 실시 형태에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다. 도 12는 전자 기기용 시험 상자를 도시한 일부 단면 부분을 포함하는 정면도이다.

도 12에 도시한 바와 같이, 전자 기기용 시험 상자(501)는, 전자 기기(P)가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자 본체(510)와, 당해 시험 상자 본체(510)의 일부를 구성하는 도어(512)에 형성되고, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판(521)이 설치된 창(520)을 주로 구비하고, 시험 상자 본체(510)의 내부에 전파 흡수체(530)와, 당해 전파 흡수 체(530)의 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구성하는 수지층[수지막(540) 또는 수지판]을 더 구비하고 있다. 여기서, 절연층이라 함은, 체적 저항값이 10⁶Ω㎝ 이상의 재질로 이루어지는 수지막(540) 또는 수지판을 말한다.

도 13은 도 12의 Ⅱ-Ⅱ 단면도이고, 도 14는 전자 기기용 시험 상자의 종단면도이고, 도 15는 도 12의 Ⅳ-Ⅳ 단면도이다.

도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(510)는, 금속제의 하우징(511)과, 하우징(511)의 정면측에 힌지(H)를 개재하여 장착된 개폐 가능한 도어(512)로 주로 구성되고, 도어(512)의 정면에서 보아 우측(도 12 참조)에는, 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판(521)이 설치된 창(520)이 형성되어 있다.

또한, 시험 상자 본체(510)는, 그 내주면에 장착된 전파 흡수체(530)와, 전파 흡수체(530)의 표면에 고정된 수지막(540)과, 상벽에 설치된 LED 램프(550)와, 측벽에 설치된 안테나(560)와, 배면에 설치된 EMI 덕트(570)와, 금속제의 벌집 필터(580)와, 전자 기기(P)가 고정되는 장착 유닛(590)을 구비하고 있다.

하우징(511)은, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 복수의 금속제의 패널(511a)을 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여, 정면측이 개방된 대략 직방체의 상자 형상으로 형성되어 있다. 하우징(511)은 금속성의 패널(511a) 및 프레임(도시하지 않음)으로 형성되어 있으므로, 소정의 강성을 갖고, 그 내구성이 높여진 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고 있다. 또한, 복수의 패 널(511a)과 프레임(도시하지 않음)이, 용접에 의해 접합되어 있으므로, 하우징(511)의 밀폐성, 즉 전파의 차폐성이 높여진다.

패널(511a) 및 프레임(도시하지 않음)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다. 또한, 패널(511a)이나 프레임(도시하지 않음)을, 특히 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성한 경우, 원하는 강성을 유지하면서, 하우징(511)의 경량화를 도모할 수 있다. 또한, 알루미늄이나 알루미늄 합금은 독특한 광택을 가지므로, 하우징(511)은 미관이 우수해진다.

도어(512)는, 도 13에 도시한 바와 같이, 금속제의 패널(512a)로 형성되고, 이 패널(512a)의 정면에서 보아 우측(도 12 참조)에는 창(520)이 형성되어 있다. 패널(512a)은, 하우징(511)의 측면에 힌지(H)를 통해 회전 가능하게 장착되어 있고, 도어(512)가 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 또한, 패널(512a)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.

도어(512)를 폐쇄했을 때의 하우징(511)[패널(511a)]과 도어(512)[패널(512a)]의 접촉 부분에는, 전파의 차폐성을 갖는 프레임 형상의 패킹(S)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)이 설치되어 있다. 이것에 의해, 도어(512)를 폐쇄했을 때의 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 창(520)은 가시광에 대한 투과성을 갖는 직사각 형상의 글래스판(521)을 구비하고 있다. 이것에 의해, 전자 기기(P)의 시험을 행하면서, 창(520)[글래스판(521)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(510)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다.

또한, 글래스판(521)은, 창(520)[글래스판(521)]을 통한 전파의 왕래를 방지하기 위해, 전파의 반사성(차단성)을 갖고 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

이와 같은 글래스판(521)은, 적어도 한 쪽면에 투명 산화물 반도체의 박막을 형성함으로써 실현할 수 있다. 투명 산화물 반도체는, 투명성과 도전성의 양방을 겸비한 반도체 재료이고, 구체예로서, 산화인듐주석(Indium Tin Oxide : ITO), 산화아연, 산화티탄, 산화주석 등을 들 수 있다. 또한, 투명 산화물 반도체의 박막의 형성은, 예를 들어 스퍼터링법, 진공 증착법, 이온 플레이팅법 등의 공지된 방법에 의해 행할 수 있다.

이와 같은 투명 산화물 반도체 중, 산화인듐주석(이하, ITO라고 함)이나 산화아연을 사용하는 것이 바람직하다. 특히 ITO는, 저저항인 동시에, 가시광 투과성 및 내구성이 높고, 성막 및 패터닝이 용이하므로 적절하게 사용할 수 있다.

이하에, 판유리의 표면에 ITO막을 형성한 글래스판(521)의 구조의 구체예에 대해 간단하게 설명한다.

도 16의 (a) 내지 도 16의 (c)는 글래스판의 구조예를 나타내는 단면도이다.

도 16의 (a)에 도시한 글래스판(521a)은, 판유리(711)의 한 쪽면에 ITO막(712)을 형성한 것이다. 또한, ITO막(712)의 저항값은, 2Ω/□ 이하, 예를 들어 1 내지 2Ω/□인 것이 바람직하다[후기하는 글래스판(521B) 및(521C)에 대해서도 마찬가지로 함].

도 16의 (b)에 도시한 글래스판(521B)은, 판유리(711)의 양면에 ITO막(712, 712)을 형성한 것이다. 판유리(711)의 양면에 ITO막(712, 712)을 형성하면, 글래스판(521B)의 저항값은, 저항을 병렬 접속한 경우와 동일한 값으로 된다. 즉, 판유리(711)의 양면에 1Ω/□의 ITO막(712, 712)을 형성한 경우, 글래스판(521B)의 저항값은 0.5Ω/□로 된다. 또한, 판유리(711)의 양면에 저항값이 2Ω/□ 이하로 되는 ITO막(712, 712)을 형성함으로써, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 전파의 차폐 성능을 60㏈ 이상으로 할 수 있다.

상기한 글래스판(521A, 521B)에 따르면, 높은 전파의 차폐 성능을 실현할 수 있다. 그런데, 판유리(711)의 표면에 ITO막을 두껍게 형성하여, 그 저항값을 작게 하기 위해서는 일정한 한계가 존재한다. 따라서, 또한 높은 전파의 차폐 성능이 요구되는 경우에는, 도 16의 (c)에 도시한 글래스판(521C)을 사용하는 것이 바람직하다. 글래스판(521C)은, 글래스판(521a)[글래스판(521a)의 ITO막(712)이 형성되어 있지 않은 면]과 글래스판(521B)을 부착한 것이다.

이상과 같은 글래스판(521)은, 파장 400 내지 700㎚의 가시광의 투과율이 50％ 이상인 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 적절하게 육안으로 확인하는 것이 가능해진다.

또한, 글래스판(521)은, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 전파의 차폐 성능이 50㏈ 이상인 것이 바람직하다. 여기서, 주파수 1.2 내지 2.4㎓의 대역은, 전자 기기용 시험 상자(501)의 시험 대상인 전자 기기(P)로서 가장 사용 빈도가 높은 휴대 전화(제2 세대 및 제3 세대)의 주파수대와 대략 동등하다. 따라서, 이것에 따르면, 전자 기기(P)(특히 휴대 전화)의 주파수대의 전파를 적절하게 차폐하는 것이 가능해진다.

글래스판(521)의 표면(양면) 중, 적어도 투명 산화물 반도체의 박막이 형성된 면에는, 또한 투명 수지의 보호막(도시하지 않음)을 형성하는 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 투명 산화물 반도체의 박막을 박리 탈락이나 깎임 박리 등으로부터 보호할 수 있으므로, 예를 들어 투명 산화물 반도체의 박막이 박리 탈락한 부분으로부터의 전파의 침입을 방지할 수 있어, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 이와 같은 투명 수지로서는, 예를 들어 실리콘 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리염화비닐(PVC), 폴리에틸렌(PE) 등을 들 수 있다.

글래스판(521)은, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 프레임(512b)에 의해 고정되어 있다. 프레임(512b)은 금속제의 프레임 부재이고, 글래스판(521)의 주연부를 덮도록, 패널(512a)에 용접 등에 의해 고정되어 있다. 또한, 프레임(512b)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속(예를 들어, 알루미늄, 스틸, 구리 등)뿐만 아니라 합금(예를 들어, 알루미늄 합금, 스테인리스 등)이라도 좋다.

글래스판(521)과 프레임(512b)의 접촉 부분에는, 전파의 차폐성을 갖는 프레임 형상의 패킹(도시하지 않음)(예를 들어, 도전성 고무 패킹 등)이 설치되어 있다. 이것에 의해, 창(520)[글래스판(521)]의 주연 부분에 있어서의 전파의 차폐성을 확보할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파가 창(520)[글래스판(521)]에 직접 조사되면, 전파가 창(520)[글래스판(521)]의 표면에서 반사되어 전파의 공진 현상이 발생하므로, 창(520)은, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파가 가능한 한 조사하지 않는 위치에 설치하는 것이 바람직하다.

전파 흡수체(530)는, 전파를 흡수하는 공지된 일방식(λ/4형)을 기초로 하는 구조이고, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 시험 상자 본체(510)[하우징(511) 및 도어(512)]의 내면을 덮도록 형성되어 있고, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파를 시험 상자 본체(510)의 내면에서 반사하지 않고 의사적으로 흡수하는 것이다. 즉, 전파 흡수체(530)는, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파가, 시험 상자 본체(510)의 내면에서 반사된 전파와 공진하는 것을 방지하는 것이다.

도 17은 λ/4형 전파 흡수체의 구조를 도시한 단면도이다.

전파 흡수체(530)는, 도 17의 (a)에 도시한 바와 같이, 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 표면(내주면)에 배치되는 스페이서(531)와, 또한 그 표면에 배치되고, 전파의 일부를 투과시키는 기능을 갖는 저항막 시트(532)와, 또한 그 표면에 배치되어 저항막 시트(532)를 보호하는 보호막(533)을 구비하여 구성되어 있다.

스페이서(531)는, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파의 파장을 λ로 한 경우, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 간격을 λ/4로 설정하기 위한 것이고, λ /4의 두께(D)를 갖고 있다. 스페이서(531)는, 전파의 투과성을 갖고 있으면 어떤 재료로 형성해도 좋고, 예를 들어 발포 스티롤 등으로 형성할 수 있다. 또한, 스페이서(531)를 발포 스티롤로 형성한 경우, 그 두께(D)를 용이하게 조정할 수 있다.

저항막 시트(532)는, 그 표면 저항값이 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 대략 동등해지도록 조정된 얇은 시트이다. 이와 같은 저항막 시트(532)로서는, 예를 들어 탄소 도전성 도료를 적절한 베이스 시트에 도포한 것이나, ITO막의 저항값을 조정하여 성막한 것 등을 사용할 수 있다.

보호막(533)은, 저항막 시트(532)의 표면에 적층되어 있고, 저항막 시트(532)의 표면을 보호하고 있다. 이와 같은 보호막(533)은, 예를 들어 PET, PC, 폴리아세탈(POM), PVC, PE 등으로 형성할 수 있다.

여기서, 도 17의 (a)를 참조하여, 전파 흡수체(530)에 의한 전파 흡수의 메커니즘에 대해 설명한다. 또한, 여기서는, 설명을 간단하게 하기 위해, 전자 기기(P)나 안테나(560) 등으로부터 방사된 전파(W1)가, 보호막(533)의 수직 방향으로부터 입사한 경우에 대해 설명한다.

보호막(533)을 통과한 전파(W1)[파장(λ)] 중, 저항막 시트(532)를 투과하는 것을 전파(W2)라 하고, 저항막 시트(532)에서 반사되는 것을 전파(W3)라 한다. 저항막 시트(532)를 투과한 전파(W2)는, 스페이서(531)의 내부를 진행한 후, 패널(511a)[또는 패널(512a)]에서 반사되어 전파(W4)로 된다. 전파(W3, W4)의 위상은, 저항막 시트(532), 패널(511a)[또는 패널(512a)]에서의 반사시에 각각 반전한다.

패널(511a)[또는 패널(512a)]에서 반사되어, 저항막 시트(532)에 도달한 전파(W4)는, 저항막 시트(532)에서 반사된 전파(W3)에 대해, 스페이서(531)의 두께(D)의 2배, 즉「λ/4 × 2 = λ/2」진행하고 있으므로, 전파(W3)의 위상과 전파(W4)의 위상이 반전하게 된다. 이것에 의해, 전파(W3)와 전파(W4)는 서로 상쇄되고, 그 결과로서, 저항막 시트(532)에 입사한 전파(W1)는 의사적으로 흡수되도록 되어 있다.

또한, 이와 같은 전파 흡수체(530)에 있어서, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 간격을 λ/4로 설정할 수 있는 것이면, λ/4의 두께(D)를 갖는 스페이서(531)는 구비하지 않아도 좋다. 단, 저항막 시트(532)와 패널(511a)[또는 패널(512a)] 사이는 전파가 투과 가능할 필요가 있다.

이와 같은 전파 흡수체(530)를 구비함으로써, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있으므로, 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 전파 흡수체(530)를, 구조가 간단하고, 설계가 용이한 λ/4형 전파 흡수체로 함으로써, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 방사되는 전파의 파장(λ)에 따 라서, 최적인 전파 흡수 능력을 갖는 전파 흡수체(530)를 설계할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 방사되는 전파를 보다 효과적으로 흡수할 수 있다.

도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면[보호막(533)의 표면. 도 17의 (a) 참조]을 덮도록 형성되어 있다. 수지막(540)을 형성하는 수지는, 밝은 색을 나타내는 동시에, 전파를 투과시키는 수지이면 특별히 한정되는 것은 아니다. 이와 같은 수지막(540)을 구비함으로써, 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

여기서, 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계(JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색을 말한다. 구체적으로는, 예를 들어 백색, 황색, 옅은 황색, 물색, 옅은 녹색, 황녹색, 주황색, 옅은 주황색 등을 들 수 있다. 특히, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도에 관해서는, 8.5 내지 10.0의 범위에 있는 색이 바람직하고, 9.0 내지 10.0의 범위에 있는 색이 보다 바람직하다.

또한, 전파 흡수체(530)의 표면에 밝은 색의 도료를 단순히 도포하는 것은 바람직하지 않다. 즉, 전파 흡수체(530)의 표면에 도료를 도포하면, 도료에 포함되는 성분이나 수분 등에 따라, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값이 변화되어 버려, 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 일치하지 않게 된다. 이것에 의해, 본래 전파를 투과시켜야 할 전파 흡수체(530)의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 전파의 공진 현상이 발생하므로 바람직하지 않다.

그러나, 폴리우레탄계의 수지계 도료, 폴리에스테르계의 수지계 도료나 와니 스계 도료 등의 절연성이 우수한 도료를 사용하면, 전파의 반사를 억제하는 것이 가능하다.

수지막(540)을 형성하는 수지로서는, 밝은 색을 나타내는 수지로서, 예를 들어 테프론(등록 상표), PVC, PE, 폴리프로필렌(PP), 폴리스티렌(PS), PET, POM, 폴리카보네이트(PC), 폴리아미드(PA), 폴리페닐렌에테르(PPE), 폴리이미드(PI) 등을 사용할 수 있다.

또한, 그 자체는 밝은 색을 나타내지 않는 수지라도, 밝은 색의 안료를 포함함으로써 밝은 색을 나타내게 되는 수지이면 사용할 수 있다. 밝은 색의 안료로서는, 예를 들어 이산화티탄(백색), 황산바륨(백색), 산화철(황색), 황연(황색), 군청(청색), 감청(청색) 등을 들 수 있고, 이들을 2개 이상 혼합하여 사용해도 좋다. 이와 같은 안료를 포함함으로써 사용할 수 있는 수지로서는, 예를 들어 PVC, PE, PP, PS, PET, POM, PC, PA, PPE, PI 등을 들 수 있다.

이것에 따르면, 밝은 색을 나타내는 수지뿐만 아니라, 예를 들어 투명 수지 등이라도, 밝은 색의 안료를 포함시킴으로써 사용하는 것이 가능해지므로, 수지막(540)의 원료로 되는 수지를 폭넓게 선택할 수 있다.

또한, 상기한 밝은 색을 나타내는 수지나 밝은 색의 안료를 포함하는 수지 중, 백색(예를 들어, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 9.5인 것)을 나타내는 수지 또는 백색 안료를 포함하는 수지를 사용하는 것이 바람직하다. 이것에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부를 적절하게 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 또한, 안료 는 백색 안료 이외에 형광 안료라도 좋다. 형광 안료는, 자외선을 조사함으로써 전자가 여기되고, 이 전자가 기저 상태로 복귀될 때에 특정 파장의 가시광을 출발하는 안료이다. 형광 안료 중 무기 형광 안료로서, 예를 들어 황화아연, 규산아연, 황화칼슘, 황화스트론튬, 텅스텐산칼슘, 인산칼슘 등을 들 수 있다. 이와 같이 형광 안료를 사용함으로써, 명도가 증대되어, 시험 상자 본체(510)의 내부의 육안으로 확인성을 높일 수 있다.

이와 같은 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면에 핀이나 나사 등으로 고정되어 있다(도시하지 않음). 여기서, 수지막(540)을 전파 흡수체(530)의 표면에 접착제로 고정하면, 접착제에 포함되는 성분이나 수분 등에 의해, 전파 흡수체(530)의 표면에 도료를 도포한 경우와 마찬가지로, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값이 변화되어 버려, 본래 전파를 투과시키는 것인 전파 흡수체(530)의 표면에 있어서 전파의 반사가 일어나고, 시험 상자 본체(510)의 내부에서 전파의 공진 현상이 발생하므로 바람직하지 않다.

그러나, 이 전파의 공진 현상은, 예를 들어 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하거나, 또한 접착 방법에 대해, 예를 들어 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여 접착 면적을 최소한으로 억제하도록 하면, 전파 반사를 억제할 수 있어, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연막을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다.

본 실시 형태에서는, 수지막(540)은, 전파 흡수체(530)의 표면에 핀이나 나 사 등으로 고정된다. 이것에 따르면, 전파 흡수체(530)의 표면 저항값을 변화시키는 일이 없기 때문에, 전파 흡수체(530)의 성능을 충분히 발휘시킬 수 있다. 또한, 핀이나 나사 등을 금속제로 한 경우, 그 헤드부에서 전파가 반사되는 경우가 있으므로, 핀이나 나사 등의 헤드부에 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 장착하거나, 핀이나 나사를 절연성의 재료(예를 들어, 수지 등)로 형성하는 것이 바람직하다.

수지막(540)은, 상기한 전파 흡수체(530)의 보호막(533)[도 17의 (a) 참조]을 겸해도 좋다. 즉, 전파 흡수체(530)는, 도 17의 (b)에 도시한 바와 같이, 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 표면(내주면)에 배치되는 스페이서(531)와, 또한 그 표면에 배치되는 저항막 시트(532)와, 또한 그 표면에 배치되고 저항막 시트(532)를 보호하는 동시에, 밝은 색을 나타내는 수지막(540)을 구비하는 구성이라도 좋다. 이것에 따르면, 전파 흡수체(530)의 보호막(533)의 표면에, 또한 수지막(540)을 고정할 필요가 없어져, 시험 상자 본체(510)의 구조를 간략화할 수 있는 동시에, 재료 비용이나 제조 비용을 억제할 수 있다.

LED(발광 다이오드) 램프(550)는, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추기 위한 조명이고, 도 14, 도 15에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 상벽에 설치되어 있다. 이것에 따르면, 예를 들어 전자 기기(P)를 시험하는 동안, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비춤으로써, 더 밝게 할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

LED 램프(550)는, 형광등과 달리, 점멸시에 있어서의 노이즈가 거의 발생하 지 않기 때문에, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행하는 것이 가능해지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추는 조명으로서 적절하게 사용할 수 있다.

또한, LED 램프(550)의 장착 위치나 개수, 배치 등은 적절하게 설정할 수 있고, 본 실시 형태의 구성에 한정되는 것은 아니다. 또한, 시험 상자 본체(510)의 내부를 비추는 조명은, LED 램프에 한정되지 않고, 예를 들어 할로겐 램프나 백열등 등이라도 좋다.

안테나(560)는, 전자 기기(P)와의 사이에서 전파를 주고받기 위한 안테나이고, 도 13 내지 도 15에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 측벽에 고정된 커넥터(561)에, 안테나용 도파관(562)을 개재하여 설치되어 있다. 안테나(560)에는, 케이블(도시하지 않음)의 일단부가 접속되어 있고, 이 케이블(도시하지 않음)은, 안테나용 도파관(562)을 통해 시험 상자 본체(510)의 외부로 인출되고, 그 타단부가 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 접속되어 있다.

전파 송수신 유닛(도시하지 않음)은, 안테나(560)에 전파를 방사시키거나, 그 전파의 주파수 대역이나 출력 등을 제어하거나, 안테나(560)가 수신한 전자 기기(P)로부터의 전파를 측정하는 기능을 갖는다.

커넥터(561)는, 안테나용 도파관(562)을 고정하기 위한 것이고, 하우징(511)의 측벽에 고정한 상태로 설치되어 있다. 이와 같은 커넥터(561)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(562)을 회전시키고, 안테나(560)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(561)를 체결하여 안테나용 도파관(562)을 다시 고정함으로써, 안테나(560)의 방향을 바꿀 수 있도록 되어 있다.

이것에 의해, 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)로부터 방사되는 전파의 편파면이, 평행 또는 수직으로 되도록 안테나(560)의 축을 회전 조정할 수 있다.

또한, 편파면이라 함은, 전자파에 있어서 전계의 물결의 진동하는 면을 말하고, 이것이 일정한 평면 형상에 있는 전자파를 직선 편파라 한다. 통상의 안테나로부터 방사되는 전파는 직선 편파이다.

커넥터(561)는, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 그 좌우(수평 방향)에 별도(예비)의 커넥터(561')를 설치해도 좋다. 이것에 의해, 원하는 위치에 안테나용 도파관(562)을 교체할 수 있으므로, 원하는 위치에 안테나(560)를 배치할 수 있다. 또한, 이와 같은 커넥터(561')는, 커넥터(561)의 상하(수직 방향)에 설치해도 좋고, 커넥터(561)의 좌우 상하로 2개 이상 설치해도 좋다.

안테나용 도파관(562)은, 원통 형상 또한 L자 형상으로 굴곡한, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금 등으로 형성된 금속제의 도파관이고, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 안테나용 도파관(562)은, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하고 있고, 그 중공부(내부)에는, 안테나(560)에 접속된 케이블(도시하지 않음)이 배선되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(562)의 선단부에는, 직사각 형상의 접지 플레이트(563)가 고정되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(562)의 단면은 원형에 한정되지 않고, 예를 들어 다각형이라도 좋다.

안테나용 도파관(562)의 사양은, 그 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 안테나용 도파관(562)의 내경 및 길이는, 소정 파장보다도 긴 파장의 전파가, 그 내부를 전달 운반하지 않도록 설정되어 있다. 이것에 의해, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 일반적으로 도파관은, 그 개구부의 형상과 치수(길이)가 동일하면, 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아진다. 또한, 도파관의 개구부의 형상에도 의존하나, 개구부의 면적이 작아질수록, 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수(소정의 주파수)가 높아진다.

또한, 일반적으로 안테나를 금속 물체에 근접하여 설치하면 금속 물체에 와전류가 흘러 전파의 재방사 등이 일어나고, 시험 제공체에 대해 적절하게 방사된 전파에 간섭하여 영향을 미치는 일이 있다. 따라서, 도 15에 도시한 바와 같이, 안테나(560)의 근방의 하우징(511)의 측벽에 자성체 시트(564)를 설치하는 것이 바람직하다[안테나(560)는, 자성체 시트(564)와 전자 기기(P) 사이에 위치하게 됨]. 이것에 의해, 상기한 바와 같은 와전류에 의한 전파의 재방사 등의 영향을 저감할 수 있다.

EMI(Electro Magnetic Interference : 전자기 방해 또는 전자기 간섭) 덕트(570)는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기(P) 등에 접속되는 케이블(601)(도 13 참조)을 하우징(511)의 외부로부터 내부에 삽입 통과하는 덕트이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(571)을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정되어 있다.

이것에 의해, EMI 덕트(570)를 개재하여, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 내부에 케이블(601)을 배선할 수 있는 동시에, 덕트의 도파관으로서의 작용(소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않음)에 의해 케이블(601)의 삽입 통과 부분으로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐할 수 있으므로, 시험 상자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 도 13에 도시한 바와 같이, 케이블(601)의 소정 길이(예를 들어, 100㎜ 이상)가, EMI 덕트(570)의 내부를 통과하도록, 케이블(601)을 배선함으로써, 전자기 방해를 적절하게 방지할 수 있다.

또한, 케이블(601)에는, 도 13에 도시한 바와 같이, EMI 덕트(570)의 내부를 통과하는 부분 및 소정의 전후 부분의 외주면에 케이블(601)의 내부를 도통하는 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체(602)가 피복되어 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등의 EMI 테이프가, 케이블(601)에 소정의 길이(예를 들어, 300㎜ 이상)로 권취되어 있다. 이것에 의해, 케이블(601)로부터의 노이즈의 복사와 전달 운반을 억제할 수 있으므로, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 시험 유닛(600)에서 고정밀도로 제어ㆍ측정할 수 있다.

이와 같은 EMI 덕트(570)는 다이캐스트제이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 케이블(601)이 통과하는 측[하우징(511)의 측]에 복수의 오목홈(572)이 형성되어 있다. 이 오목홈(572)에 케이블(601)을 통과시킴으로서, EMI 덕트(570)의 내부에서 케이블(601)이 상하 방향으로 이동하는 것을 방지하는 동시에, 케이블(601)을 정렬시킬 수 있다. 또한, EMI 덕트(570)에 복수의 케이블(601)을 통과시킨 경우, 각 케이블 사이의 공간이 오목홈(572)의 측벽부(금속)에 의해 메워지므로, 시험 상 자 본체(510)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 각 케이블을 평행하게 배선할 수 있으므로, 예를 들어 각 케이블에 일정하게 접촉하는 접지 등을 장착하는 경우에는, 그 장착이 용이해진다.

벌집 필터(580)는, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 도 15에 도시한 바와 같이, 절연 저항성을 갖는 가스킷(581)을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정되어 있다. 도 18의 (a)는 벌집 필터를 도시한 사시도이다.

더 설명하면 벌집 필터(580)는, 도 18의 (a)에 도시한 바와 같이, 정면에서 보아 정육각 형상인 복수의 가는 구멍(582)을 갖는 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 벌집체로서 형성되고, 이 복수의 가는 구멍(582)을 통해, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 가는 구멍(582)의 형상은 정육각형에 한정되지 않고, 예를 들어 원형이나 사각형 등이라도 좋다.

또한, 가는 구멍(582)은, 도파관으로서의 기능을 구비하는 둘레벽(583)에 둘러싸여져 있으므로, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전달 운반시키지 않기 때문에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다. 또한, 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 배면에 형성되는 관통 구멍(511b)(도 15 참조)의 개구 직경, 벌집 필터(580)의 길이[둘레벽(583)으로 이루 어지는 도파관의 길이), 및 가는 구멍(582)의 개구 직경(정육각형의 대향하는 두 변 사이의 거리)은, 벌집 필터(580)의 내부를 전달 운반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정된다.

또한, 상기한 벌집 필터(580) 대신에, 도 18의 (b)에 도시한 바와 같은 메쉬 필터(585)를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 도 18의 (b)는 메쉬 필터를 도시한 사시도이다.

메쉬 필터(585)는, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 차폐하는 급배기용의 필터이고, 벌집 필터와 마찬가지로, 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여, 하우징(511)의 배면에 고정된다(도 15 참조).

메쉬 필터(585)는, 금속제(예를 들어, 알루미늄제, 알루미늄 합금제 등)의 메쉬가 복수 겹쳐진 메쉬 적층체이고, 이 메쉬를 통해, 시험 상자 본체(510)의 외부와 내부의 공기의 유통을 확보하고, 예를 들어 전자 기기(P) 등으로부터 방사되는 열을 배기할 수 있도록 되어 있다. 또한, 금속제의 메쉬 적층체의 내부에서는, 전파의 회절 손실이 일어나므로, 시험 상자 본체(510)의 외부로부터 침입하고자 하는 전파를 효과적으로 차폐할 수 있다.

장착 유닛(590)은, 전자 기기(P)를 하우징(511)의 내부에 고정하기 위한 유닛이고, 도 13, 도 14에 도시한 바와 같이, 하우징(511)의 바닥면 전체면을 덮도록 설치된 고정판(591)과, 이 고정판(591) 상에 착탈 가능하게 고정되어 전자 기기(P)를 보유 지지ㆍ고정하는 보유 지지 고정 지그(592)로 구성되어 있다.

고정판(591)은, 도 13에 도시한 바와 같이, 평면에서 보아 직사각 형상인 판재이고, 보유 지지 고정 지그(592)를 고정하기 위한 복수의 볼트 구멍(591a)이 형성되어 있다. 볼트 구멍(591a)은, 보유 지지 고정 지그(592)의 고정 위치를 원하는 위치로 바꿀 수 있도록, 하우징(511)의 정면에서 보아 좌우 방향으로 병렬하여 복수 설치되어 있다. 또한, 고정판(591) 상에는 전파 흡수성을 갖는 전파 흡수 시트를 설치해도 좋고, 고정판(591)을 전파 흡수성을 갖는 부재로 형성해도 좋다.

보유 지지 고정 지그(592)는, 도 14에 도시한 바와 같이, 측면에서 보아 L자 형상인 부재이고, 바닥부에 볼트(B)를 나사 삽입하기 위한 볼트 구멍(592a)이 형성되어 있다. 이 볼트 구멍(592a)을 통해, 고정판(591)의 볼트 구멍(591a)에 볼트(B)가 나사 삽입됨으로써, 보유 지지 고정 지그(592)가 고정판(591)에 고정된다. 보유 지지 고정 지그(592)에는 장착판(593)과 고정구(594)가 장착되어 있다.

장착판(593)은 장척 형상의 판재(도 13 참조)이고, 보유 지지 고정 지그(592)에 고정되어 있다. 또한, 고정구(594)는 전자 기기(P)를 보유 지지하는 부재이고, 전자 기기(P)를 삽입 통과하여 보유 지지하는 삽입 통과부(594a)가 형성되어 있다. 이 고정구(594)는, 장착판(593)에 착탈 가능하게 장착되어 있고, 소망에 따라서, 전자 기기(P)의 장착 방향이나 장착 위치를 바꿀 수 있도록 되어 있다.

시험 유닛(600)(도 13 참조)은, 전자 기기(P)에서 주고받는 전파를 제어ㆍ측정하는 유닛, 즉 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정하는 동시에, 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 동작을 시킬 수 있는 유닛이다.

이와 같은 시험 유닛(600)은, 케이블(601)을 통해 시험 대상인 전자 기기(P)에 접속 가능하게 되어 있다. 구체적으로는, 케이블(601)의 일단부가 시험 유닛(600)에 접속되고, 타단부가 EMI 덕트(570)를 통해 시험 상자 본체(510)의 내부로 인출되고, 전자 기기(P)에 접속되어 있다. 또한, 케이블(601)의 타단부에는, 전자 기기(P)에 착탈 가능하게 접속하기 위한 커넥터(도시하지 않음)가 설치되어 있다.

다음에, 이상과 같이 구성되는 전자 기기용 시험 상자(501)의 동작을 설명하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 관한 전자 기기 시험 방법에 대해, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.

우선, 도 13 도시한 바와 같이, 도어(512)를 개방하고, 전자 기기(P)를 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 내부에 넣고, 장착 유닛(590)의 고정구(594)에 형성된 삽입 통과부(594a)(도 14 참조)에 삽입 통과하여, 하우징(511)[시험 상자 본체(510)]의 내부에 고정한다. 다음에, 케이블(601)의 커넥터(도시하지 않음)를 전자 기기(P)에 접속한 후, 도어(512)를 폐쇄한다.

그리고, 예를 들어 시험 개시 스위치(도시하지 않음) 등을 온(ON)으로 함으로써, 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)으로부터 안테나(560)에 전기 신호가 송신되고, 안테나(560)로부터 전파가 방사된다. 전자 기기(P)의 동작의 시험은, 안테나(560)로부터 전파를 방사하면서, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 시험 유닛(600)(도 13 참조)에서 검출함으로써 행해진다. 시험 유닛(600)에서는, 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정한다.

이때, 상기한 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)을 조작함으로써, 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 강도나 주파수 대역 등을 변화시켜 시험을 행할 수 있다.

정상 상태라고 판정되면, 도어(512)를 개방하여 안테나(560)의 방향을 바꾼 후에, 도어(512)를 폐쇄하여 다른 편파면(수평파 및 수직파)에 대해 시험을 행할 수도 있다.

또한, 정상 상태라고 판정되면, 도어(512)를 개방하여 보유 지지 고정 지그(592)의 위치를 바꾸어 고정판(591)에 고정하고, 안테나(560)와의 거리를 바꾸어, 전자 기기(P)가 전파를 정상으로 수신할 수 있는지 여부의 시험을 행할 수도 있다.

이상과 같은 전자 기기(P)의 시험의 모습은, 창(520)[글래스판(521)]을 통해, 외부로부터 시험 상자 본체(510)의 내부를 육안으로 확인할 수 있으므로, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 전자 기기(P)의 착신 램프의 점등의 유무 등을 확인할 수 있다. 여기서, 본 발명에 관한 전자 기기용 시험 상자(501)는, 전파 흡수체(530)의 표면에 고정된 밝은 색의 수지막(540)에 의해 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 글래스판(521)의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 또한, 전자 기기용 시험 상자(501)는, LED 램프(550)에 의해 시험 상자 본체(510)의 내부를 비출 수 있으므로, 상기한 수지막(540)의 효과와 더불어 시험 상자 본 체(510)의 내부의 전자 기기(P)를 보다 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

또한, 전자 기기(P)의 안테나(Pa)(도 14 참조)와 안테나(560)의 거리는, 전자 기기(P)나 안테나(560)로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상으로 되도록 설정하는 것이 바람직하고, 2λ 이상으로 되도록 설정하면 더 바람직하다. 이것에 의해, 원방 전자계의 영역에 전자 기기(P)의 안테나(Pa)를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정되는 위치에서 전자 기기(P)의 시험을 행할 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

여기서, 원방 전자계의 영역이라 함은, 파동 임피던스가 공간의 파동 임피던스(Z₀)와 동등해지는 영역을 의미한다. 안테나(560)로부터 방사되는 전파는 이 영역에 있어서 평면파에 가까운 전달 운반을 한다.

이상이, 전자 기기용 시험 상자(501)의 일련의 동작 및 전자 기기 시험 방법이다.

이상과 같은 전자 기기용 시험 상자(501)에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전파 흡수체(530)의 표면에 수지막(540)을 구비하므로, 예를 들어 글래스판(521)에 ITO막을 막 두께로 형성하거나, 글래스판(521)의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판(521)의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 시험 상자 본체(510)의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체(510)의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다.

또한, 전자 기기용 시험 상자(501)에 따르면, 시험 상자 본체(510)의 내부에 전파 흡수체(530)를 구비하므로, 시험 중에, 예를 들어 전자 기기(P)의 안테나(Pa)나 안테나(560) 등으로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있기 때문에, 시험 상자 본체(510)의 내부에 있어서의 전파의 공진 현상을 방지하여, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

수지막(540)을, 발포 수지로 구성해도 좋다. 이와 같이 하면, 글래스판에 ITO막을 막 두께로 형성하거나 글래스판의 양면에 ITO막을 형성함으로써, 글래스판의 가시광에 대한 투과성이 저하된 경우라도, 전파 흡수체의 표면에 고정된 발포 수지에 의해 시험 상자 본체의 내부가 밝아지므로, 시험 상자 본체의 내부의 전자 기기를 양호하게 육안으로 확인할 수 있다. 즉, 발포 수지는, 내부에 기포를 포함하기 위해, 외부로부터의 가시광이 난반사되고, 무색 투명 수지를 기재로 하는 경우, 일반적으로 백색으로 된다. 따라서, 육안으로 확인성에 유효하다. 또한, 발포 스티롤 등의 수지판이면, 가공 및 취급이 용이한 등의 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 절연층으로서 발포 수지를 사용함으로써, 원료 비용의 저감을 도모하는 것이 가능해진다. 또한, 발포 수지는 경량이고 또한 절단이 용이하고, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있는 동시에, 시공성도 우수하기 때문에 시험 상자 본체의 제조 비용도 낮추는 것이 가능해진다.

또한, 상기한 실시 형태에서는, 절연층을 수지막(540)으로 구성하고 있으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 절연층은, 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 구성해도 좋다. 종이는 화지(和紙)나 양지(洋紙) 등이 사용된다. 종이의 주성분은 셀룰로오스 등의 식물성 섬유로 구성되어 있다. 염료나 안료는, 상기한 실시 형태와 마찬가지로, 먼셀 표색계(JIS Z8721)에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색의 것을 사용한다. 구체적으로는, 예를 들어 백색, 황색, 옅은 황색, 물색, 옅은 녹색, 황녹색, 주황색, 옅은 주황색 등을 들 수 있다. 특히, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도에 관해서는, 8.5 내지 10.0의 범위에 있는 색이 바람직하고, 9.0 내지 10.0의 범위에 있는 색이 보다 바람직하다. 밝은 색의 염료는 식물성 염료가 사용되고, 종이에 스며들게 함으로써 착색되어 있다. 또한, 염료에는, 안트라퀴논(Anthraquinon)계의 합성 염료를 사용해도 좋다. 밝은 색의 안료는 종이의 표면에 인쇄되어, 밝은 색의 종이가 형성된다. 형광 안료 중 무기 형광 안료로서, 예를 들어 황화아연, 규산아연, 황화칼슘, 황화스트론튬, 텅스텐산칼슘, 인산칼슘 등이 사용 가능하다.

절연층은, 전파 흡수체의 표면과의 사이에 간극이 없도록 형성하는 것이 바람직하다. 따라서, 종이는 소정의 두께를 갖는 두꺼운 종이로 구성하는 것이 좋다. 또한, 종이는 전파 흡수체의 표면에 핀이나 나사 등으로 고정된다. 또한, 열가소성 접착제, 열경화성 접착제나 광경화성 접착제 등의 절연성이 우수한 접착제를 사용하거나, 스폿으로 절연막을 접착하는 등의 고안을 실시하여 접착 면적을 최소한으로 억제하거나 하도록 하면, 종이를 전파 흡수체의 표면에 접착제로 고정해 도 좋다. 이와 같이 하면, 전파 반사를 억제할 수 있어, 전파 흡수체의 전파 흡수 특성을 거의 손상시키지 않고 절연층을 전파 흡수체의 표면에 고정하는 것이 가능하다. 또한, 종이로 이루어지는 절연막도, 수지막(540)과 마찬가지로, 보호막(533)의 표면에 설치해도 좋고, 보호막(533)을 겸해도 좋다.

이와 같이, 절연층을, 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 구성한 경우에도, 상기한 실시 형태와 같은 작용 효과를 얻을 수 있다. 또한, 경량이고 또한 절단이 용이한 종이를 사용한 것에 의해, 가공 및 취급을 용이하게 행할 수 있다.

또한, 절연층은, 수지막이나 종이 이외에도, 소정의 절연 효과를 구비하고 있으면, 석고 보드, 타일 등의 세라믹스 혹은 유리로 구성해도 좋다. 세라믹스 원료의 구체예로서, 예를 들어 산화알루미늄(사파이어), 석영(수정), 산화규소(실리콘카바이트), 탄산칼슘 등을 들 수 있다. 이들 원료와 조제, 첨가제를 소정의 배합율로 배합하여 혼합한 후에, 물을 가하여 바인더와 함께 혼련하고, 성형기로 성형하여 건조 후, 고온으로 소결하여 세라믹스판을 제조한다. 유리판은 규사, 소다회, 석회석, 붕소, 수산화알루미늄 등의 분체 혼합물을 가스로에 삽입하여 1550℃에서 용해하고, 이 액체 상태의 유리를 플로트 버스라는 길고 가는 통로에서 용해한 주석 상에 흘려 냉각함으로써 제조된다. 이것에 특정의 천이 금속 원소를 첨가하여, 특정의 파장의 광만을 흡수시키는 색유리나, 표면 조도를 높게 하여, 유리 표면에 있어서 태양광을 산란시키는, 소위 간유리로 한 것도, 절연층으로 되는 절연판에 포함하는 것으로 한다.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)로서 휴대 전화를 도시하여 설명했으나, 본 발명의 시험 대상으로 되는 전자 기기(P)는 휴대 전화에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 휴대 전화와 마찬가지로 전파의 주고받기를 행하는 PDA(Personal Digital Assistance)나 무선 LAN(Local Area Network) 기능을 구비하는 노트형의 퍼스널 컴퓨터 등이라도 좋다. 또한, 외부 전파의 영향을 받는 것이 바람직하지 않은 정밀 측정 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 외부에 소정값 이상의 전파를 방사하는 것이 바람직하지 않은 가전 기기나 의료 기기 등이라도 좋다. 또한, 이 경우, 장착 유닛(590)의 형상이나 사이즈 등, 또는 장착 유닛(590)을 구비하는지 여부에 대해서는, 시험 대상인 전자 기기에 따라서 적절하게 설정되는 것은 말할 것도 없다.

상기한 실시 형태에서는, 복수의 금속제의 패널(511a)을, 골격으로 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 하우징(511)을 형성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 복수의 금속제의 패널을 볼트 등에 의해 조립 부착하여 형성하는 조립ㆍ분해 가능한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성의 경우, 복수의 금속제의 패널의 간극에 전파의 차폐성을 갖는 충전재를 개재시키는 것이 바람직하다. 이것에 의해, 하우징(시험 상자 본체)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 전파의 차폐성을 갖는 충전재로서는, 예를 들어 상하면의 적어도 한 쪽이 절연층(예를 들어, 종이, 접착층을 겸하는 점착 테이프 등)으로 절연된 저항 손실체(예를 들어, 카본 저항 시트, 금속 박막 저항 시트, 열선 차단 필름 등)를 갖는 전자기 차폐 접합용 시트체를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 루미디 온(등록 상표) IR(도요 서비스 가부시끼가이샤) 등을 사용할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 하우징(511)을 금속제로 함으로써, 전파의 차폐성이나 강성 등을 높이는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 판재로 하우징을 형성해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 도 12, 도 13, 도 15에 도시한 바와 같이, 도어(512)에 창(520)이 형성되어 있는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 시험 상자 본체(510)에 창(520)을 형성하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 도어나 창은 각각 복수 형성해도 좋다. 또한, 시험 상자 본체에 도어를 설치하지 않고, 창을 적절하게 개폐 가능한 구성으로 하여 전자 기기 등의 출입을 행해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 전파 흡수체(530)를 λ/4형 전파 흡수체로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 내부에서 방사되는 전파의 특성에 따라서, 공지된 전파 흡수체를 널리 사용할 수 있다. 예를 들어, 저항성 전파 흡수체, 유전성 전파 흡수체, 자성 전파 흡수체, 그리고 이들을 조합한 전파 흡수체 등의 어느 것이라도 사용할 수 있고, 또한 단층형, 다층형의 어느 것이라도 좋다.

구체적으로는, 예를 들어 (1) 패널(511a)[또는 패널(512a)]의 측으로부터 차례로, 저항막 시트(임피던스 1088Ω), 스페이서(38㎜), 저항막 시트(임피던스 280Ω), 스페이서(38㎜), 보호막[알루미늄판(박)]을 구비하는 2종의 전파(880㎒ 주변 및 2050㎒ 주변)를 흡수 가능한 전파 흡수체, (2) 카본 분말이나 산화티탄 등의 화합물로 형성되는 유전성 전파 흡수 시트, (3) 페라이트나 카르보닐철 등의 화합물로 형성되는 자성 전파 흡수 시트, (4) 폴리우레탄 등의 수지와 자성체의 복합체로 형성되는 전파 흡수 시트, (5) 자성체와 저항체를 접합한 전파 흡수체[예를 들어, 루미디온(등록 상표)(도요 서비스 가부시끼가이샤)] 등의 어느 것이라도 사용할 수 있다.

또한, 전파 흡수체(530)의 표면은 평탄한 것(평판형)이 바람직하다. 이것에 따르면, 예를 들어 물결형이나 산형, 사각뿔형 등의 전파 흡수체를 구비하는 경우와 비교하여, 수지막(540)을 용이하게 형성할 수 있다. 또한, 시험 상자 본체(510)의 내부(용적)를 크게 하거나, 시험 상자 본체(510)의 사이즈를 작게 할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(560)의 회전 조정은, 커넥터(561)를 느슨하게 하여 안테나용 도파관(562)을 회전시키고, 안테나(560)의 방향을 바꾼 후, 커넥터(561)를 체결하여 안테나용 도파관(562)[안테나(560)]을 다시 고정하는 수동으로 행하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 공지된 동력 기구나 제어 기구 등을 조합하여, 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(510)[하우징(511)]의 배면에 급배기용의 벌집 필터(580)[또는 메쉬 필터(585)]를 구비하는 구성으로 했으나, 급배기용의 필터는, 이들에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에, 소정 파장보다도 긴 전파를 전달 운반시키지 않는 도파관으로서 기능하도록 내경 및 길이(패널 두께)를 설정(설계)한 복수의 미세한 관통 구멍을 형성한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 복수의 미세한 관통 구멍을 구비하는 플레이트를, 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 관통 구멍(도 15 참조)에 장착 프레임 및 절연 저항성을 갖는 가스킷을 개재하여 시험 상자 본체(510)의 내측으로부터 고정하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 시험 상자 본체(510)[하우징(511)]의 배면에 하나의 급배기용의 필터[벌집 필터(580) 또는 메쉬 필터(585)]를 구비하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 흡기용과 배기용의 적어도 2개의 필터를 구비하는 구성으로 해도 좋다. 이 경우, 모두 동종의 필터를 사용해도 좋고, 이종의 필터를 조합하여 사용해도 좋다. 또한, 배기용의 필터 또는 시험 상자 본체(하우징)의 배면에 형성되는 배기용의 관통 구멍에, 배기 팬(도시하지 않음)을 장착해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 고정구(594)가 장착판(593)에 착탈 가능하게 장착되는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 고정구가 장착판에 회전 가능하게 설치되는 구성으로 해도 좋다. 이 경우 고정구의 회전 조정은 기계적으로 행하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 보유 지지 고정 지그(592)가 고정판(591)에 형성된 복수의 볼트 구멍(591a)과 볼트(B)에 의해 단계적으로 이동 가능한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 보유 지지 고정 지그가 고정판에 설치한 레일을 따라 무단계로 이동 가능한 구성으로 해도 좋다. 이것에 따르면, 안테나와 보유 지지 고정 지그(전자 기기)의 거리를 간단하게 조정할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(560)로부터 전자 기기(P)에 전파를 방사하여, 전자 기기(P)가 정상으로 전파를 수신할 수 있는지 여부를 시험 유닛(600)에서 판정하는 전자 기기 시험 방법에 대해 설명했으나, 전자 기기 시험 방법은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 시험 유닛(600)으로부터 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 전자 기기(P)[안테나(Pa). 도 14 참조]로부터 안테나(560)에 전파를 송신시키고, 안테나(560)가 수신한 전파를 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에서 측정하여 전자 기기(P)가 정상으로 동작하고 있는지 여부를 판정해도 좋다.

Claims

전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,

상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,

상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와,

상기 도어의 주연부 또는 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하고,

상기 시험 상자 본체는, 그 내부에 전파의 송신용 안테나와, 상기 전자 기기를 보유 지지하는 고정 지그를 구비하고,

상기 전자 기기의 안테나와 상기 송신용 안테나의 거리가, 상기 송신용 안테나로부터 방사되는 전파의 파장 λ 이상으로 되도록 설정하는 것이 가능한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,

상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,

상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 장착되는 금속제의 핑거와,

상기 도어의 주연부 또는 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부에 장착되는 전파의 차폐성을 갖는 패킹을 더 구비하고,

상기 시험 상자 본체는, 그 내부에 전파의 수신용 안테나와, 상기 전자 기기를 보유 지지하는 고정 지그를 구비하고,

상기 전자 기기의 안테나와 상기 수신용 안테나의 거리가, 상기 전자 기기의 안테나로부터 방사되는 전파의 파장 λ 이상으로 되도록 설정하는 것이 가능한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 핑거는, 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 또는 상기 도어의 주연부에 설치되는 세움 설치판의 측면에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 패킹은, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 핑거보다도 외주측에 위치하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 상기 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과,

다른 쪽에 형성되고, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고,

상기 핑거가 상기 삽입편 또는 상기 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 상기 삽입홈의 바닥부에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체와 상기 도어의 접촉 부분인 상기 시험 상자 본체의 개구 모서리부 및 상기 도어의 주연부의 한 쪽에 형성되는 삽입편과,

다른 쪽에 형성되고, 상기 도어를 폐쇄했을 때에 상기 삽입편이 삽입되는 삽입홈을 갖고,

상기 핑거가 상기 삽입편 또는 상기 삽입홈의 내주측에 장착되는 동시에, 상기 패킹이 상기 삽입편의 양측에 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제5항에 있어서, 상기 삽입홈의 내부에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제5항에 있어서, 상기 삽입편에 금속제의 핑거가 장착되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 시험 상자 본체는, 전자기 방해를 방지하는 동시에, 전자 기기에 접속 가능한 케이블을 그 내부에 도통하는 덕트를 구비하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제9항에 있어서, 상기 케이블은 광신호를 전송하는 광케이블인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,

상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,

상기 시험 상자 본체는 그 내부에 조명을 구비하고, 상기 도어는 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하고,

상기 λ/4형 전파 흡수체는 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구비하고,

상기 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
전자 기기가 내부에 넣어지는 동시에, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖고, 외부와 내부를 연통하는 적어도 1개의 개구부를 갖는 시험 상자 본체와,

상기 시험 상자 본체에 힌지를 개재하여 장착되고, 상기 개구부를 개폐하는 도어와, 상기 시험 상자 본체는 그 내주면에 장착된 λ/4형 전파 흡수체를 구비하는 전자 기기용 시험 상자이며,

상기 시험 상자 본체는 그 내부에 조명을 구비하는 동시에, 또한 전파의 차폐성 및 가시광에 대한 투과성을 갖는 글래스판이 설치된 창을 구비하고,

상기 λ/4형 전파 흡수체는 그 표면에 고정된 밝은 색의 절연층을 구비하고,

상기 밝은 색이라 함은, 먼셀 표색계에 규정되어 있는 명도가 8.0 내지 10.0의 범위에 있는 색인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 안료를 포함하는 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 발포 수지로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 염료를 포함하는 종이 또는 상기 밝은 색의 안료가 인쇄된 종이로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 밝은 색의 세라믹스 혹은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제13항에 있어서, 상기 안료는 백색 안료 혹은 형광 안료인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 λ/4형 전파 흡수체의 보호막을 겸하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 조명은 LED 램프인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.
제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 절연층은 상기 λ/4형 전파 흡수체의 표면에 핀 또는 나사로 고정되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 상자.