JP2007187763A - 自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】表示パネルの有効表示領域の外側に、ダミー画素と輝度検出センサーを搭載する。測定タイミング間は、行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出し、算出された平均階調値で対応するダミー画素を発光制御し、有効表示領域を構成する各行列に対応する劣化状態をダミー画素に反映する。測定タイミングでは、これら各ダミー画素の発光輝度値を検出すると共に平均輝度値を算出し、測定時点間に新たに発生した累積劣化量を検出する。この後、累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量を対応付けた参照テーブルを参照し、入力表示データに対応する単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する。
【選択図】図12
Description
なお、発明者らが提案する発明は、自発光表示装置、変換テーブル更新装置及びプログラムとしての側面を有する。
一方、自発光素子で形成された有機ELディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域(固定表示領域)の自発光素子は、他の表示領域(動画表示領域)の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
この場合、“焼きつき”部分では、ホワイトバランスがずれて色がついたように見えたり、暗く見える現象が発生する。
これらの理由により、従来から“焼きつき”現象の抑制方法又は改善方法が検討されてきた。特に従来は、発光体を構成する材料の発光寿命を改善することにより、画面の“焼きつき”現象を抑えることが一番好ましいと考えられてきた。
特許文献1には、表示パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する改善方法が開示されている。すなわち、この改善方法では、発光特性の劣化速度を抑制することにより焼き付き現象を軽減する手法が開示されている。
(A)仕組み1
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全てのダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうちダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全てのダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全てのダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出処理
(e)平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうちダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出処理
(e)平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全てのダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出処理
(e)平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する仕組みとして、以下の処理機能又は手順を実行するものを提案する。
(a)有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出処理
(b)輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定処理
(c)行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出処理
(d)累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新処理
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
(A−1)基本的な考え方
階調値と劣化量は必ずしも比例関係にない。これは、パネル間の特性誤差、環境温度、パネル面の発光温度その他の影響で発光特性が変化するという特性が有機EL素子にあるためである。
このため、階調値を画素毎に累積加算しても、対応画素の劣化量を正確に見積もることはできない。
図1に、発光時間長の違いによる劣化速度(率)の経時変化を示す。図1は、ある画素を構成する発光体を、一定の階調値で点灯制御する場合の発光輝度の時間変化を示す。曲線DAPL は、ある画素(例えば、劣化特性測定用のダミー画素)を画面全体の平均階調値で点灯制御する場合の劣化曲線を示す。
従って、正確な劣化量の見積もりを実現するには、経時変化を加味して階調値と劣化率(量)の対応関係を可変する必要がある。
そこで、発明者らは、各発光パネルに固有の劣化特性を、有効表示領域と同等に発光制御したダミー画素の発光輝度を測定することにより、劣化量の見積もり精度を向上させる手法を提案する。
図2に、実測値に測定誤差が発生する典型例を示す。図2(A)は、有効表示領域の全体(すなわち、全画面)が50%輝度で均一に発光制御される場合の表示例である。図2(B)及び(C)は、全表示面積の50%を占める領域が100%輝度で均一に発光制御され、その外側は0%輝度で均一に発光制御される場合の表示例である。いずれの表示例も、画面全体の平均階調値が50%輝度になる点で同じである。
従って、画面全体の発光輝度は同じでも、各画素の劣化特性は均一にはならず、画素毎に輝度劣化の進行具合にバラつきが生じてしまう。例えば、100%輝度で発光制御される発光体の劣化量は、50%輝度で発光制御される発光体の劣化量に対して数倍になる。
そこで、発明者らは、画面全体の劣化特性をより実体に近い状態で検出できる技術を提案する。
図4に、有機ELパネルモジュールの構成例を示す。図4は、説明上必要となる主要な構成要素の観点から表した図であり、駆動回路その他の周辺回路は省略して表している。
有機ELパネルモジュール1は、有効表示領域3とダミー画素領域5で構成する。
有効表示領域3は、発光が外部から観察できる領域である。一方、ダミー画素領域5は、発光が外部から観察されないように遮光された領域であり、有効表示領域3の外側に配置される。
なお、ダミー画素51は、表示上の1画素(表示画素)を構成する基本発光色単位で配置する。図5〜図7は、表示画素が、赤(R)色発光体、緑(G)色発光体、青(B)色発光体の3画素で構成される場合について表している。
なお、発明者らの提案する表示パネルは、一般的な表示パネルに選択線(ゲート駆動線)を1本追加するだけで実現することができる。すなわち、ダミー画素51は、有効表示領域3内の各画素と同じ構造で良く、既存の駆動回路を流用することができる。従って、ダミー画素の駆動には、専用の駆動回路や大規模な駆動回路を必要としない。
ダミー画素51を構成する各発光体の発光輝度は、不図示の輝度検出センサーによって検出する。
なお、電流値として検出される光量情報は増幅されて電圧値に変換され、光検出信号として出力される。
以下、前述した劣化特性の更新技術を採用する有機ELディスプレイ装置の形態例を説明する。
(B−1)形態例1
(a)概略構成
この形態例では、行列単位に算出した平均階調値で対応するダミー画素を発光制御し、その実測結果の平均輝度に基づいて有効表示領域の累積劣化量を測定する手法と、累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して階調値/劣化量変換テーブルを更新する手法とを組み合わせる例について説明する。
この形態例の場合、図5に示す構造の有機ELパネルモジュール13を使用する。すなわち、各行及び各列の最後尾に各1個(合計M+N個)のダミー画素51を配置した有機ELパネルモジュール13を採用する。
なお、特定された階調値と単位劣化量との対応関係は、変換テーブル更新データとして入力表示データ補正部15に出力される。
図10に、入力表示データ補正部15の詳細構成例を示す。入力表示データ補正部15は、階調値/劣化量変換テーブル151、単位劣化量差算出部153、累積劣化量差蓄積部155、補正量決定部157及び映像信号補正部159で構成する。
階調値/劣化量変換テーブル151は、入力表示データ(階調値)を単位劣化量に変換するテーブルである。変換テーブルを用いるのは、前述したように、有機EL素子の劣化の進行が階調値と比例関係にないためである。
単位劣化量差算出部153は、ある基準画素と有効表示領域内の各画素との間に新たに発生する単位劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素は、1フレームを構成する全画素の平均階調値で発光する画素を想定する。平均階調値は基本発光色別に設定する。
補正量決定部157は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法を採用する。
この形態例の場合、映像信号補正部159は、入力表示データに補正値を加減算する処理を実行する。なお、補正値は、補正量決定部157より与えられる。変換後の補正表示データは、階調値/劣化量変換テーブル151と変換テーブル更新部17に与えられる。
図10に、変換テーブル更新部17の詳細構成例を示す。変換テーブル更新部17は、ダミー画素データ決定部171、ダミー画素データ多重部173、累積劣化量検出部175及びテーブル更新部177で構成する。
ダミー画素データ決定部171は、ダミー画素51に供給するダミー画素データを決定する処理デバイスである。
累積劣化量検出部175は、劣化特性の測定タイミングに測定されるダミー画素の平均発光輝度を算出し、当該平均発光輝度に基づいて初期輝度に対する累積劣化量R(実測値)を検出する処理デバイスである。図13に示すように、累積劣化量R(実測値)は、初期輝度を100%とした低下割合として与えられる。
図15に、この形態例における処理動作の内容を示す。
まず、使用開始から時点t1までの間、ダミー画素データ決定部171で算出された行単位の平均階調値と列単位の平均階調値が各行及び列に関連付けられたM+N個のダミー画素51に与えられる。この際、行列単位の平均階調値は、基本発光色別(RGB別)に算出され、対応するダミー画素51に与えられる。
これにより、各行及び各列に対応するダミー画素51の発光特性は、それぞれ対応する行及び列の発光特性と同様に低下する。
輝度検出センサー7は、この時点における各ダミー画素の発光輝度を検出し、累積劣化量検出部175に出力する。なお、発光輝度は、基本発光色別に検出される。累積劣化量検出部175は、これらのN+M個の検出輝度値に基づいて、基本発光色別に全ダミー画素の平均輝度値を算出する。
M N
KAPL =(Σrx +Σcy )÷(m+n)
x=1 y=1
このように、面内平均輝度値KAPL が求まると、累積劣化量検出部175は、初期輝度に対する面内平均輝度値KAPL の劣化度合いを100分率で与えた値(累積劣化量R)に換算する。
この結果、階調値/劣化量変換テーブル151の対応関係は、測定時点での有効表示領域の平均的な劣化特性を正確に反映するように更新される。
以後、単位劣化量差算出部153では、時点t1の劣化状態を反映した単位劣化量差が算出され、補正値の決定に使用される。
これらの補正動作は、次回の測定タイミングt2まで繰り返される。そして、次回の測定タイミングt2になると、前述した発光輝度の測定動作と面平均輝度値KAPL の算出その他の処理が実行される。
以上説明したように、行列単位で算出された平均階調値で行列数分のダミー画素51を発光制御し、その上でこれら行列数分のダミー画素51について検出した発光輝度の平均値を算出することにより、有効表示領域を構成する全画素の平均的な劣化状態を測定可能とする。
この測定結果に基づいて階調値/劣化量変換テーブルを更新することにより、算出される劣化量差の見積もり精度を向上させることができる。結果として補正精度が向上し、画素間の劣化量差の拡大が抑制され又は改善される。
また、形態例で説明した処理手法は、制御内容が単純であるので画面サイズが大型化しても低コストで実現できる。
また、ダミー画素は有効表示領域とまったく同じ画素構成で製造でき、ダミー画素専用の複雑な回路構成や特殊な制御動作を必要としない。この点でも、回路規模の削減と生産難易度の低減との点で有利である。
この形態例では、有効表示領域の複数行に1個かつ複数列に1個の割合でダミー画素を配置する場合について説明する。
図16に、平均階調値を算出する行列位置と、算出された行列単位の平均階調値が与えられるダミー画素と位置関係を示す。図16の場合は、ダミー画素は有効表示領域の2行に1個づつかつ2列に1個づつ配置されている。従って、有効表示領域がM行×N列の表示画素で構成される場合に比してダミー画素の数を半分(=(M×N)/2)に削減することができる。これに伴い、平均階調値を計算する行列数も半減し、演算負荷が半減する。
結果として、この形態例は、有機ELパネルモジュールが大型化する場合や演算能力が非力な場合に特に効果的である。
なお、ダミー画素数は3行に1個かつ3列に1個以上離して配置することも可能である。間引き数が多くなるほど、ダミー画素の専有面積を低減できるのに加え、算出処理に要する負荷を低減することができる。また、間引き数を行方向と列方向とで同じにする必要はなく、行方向についてはn行飛ばし、列方向についてはm列飛ばしに配置することもできる。
この形態例も、有効表示領域の複数行に1個かつ複数列に1個の割合でダミー画素を配置する場合について説明する。ただし、この場合は、各ダミー画素に複数行を1単位とする行ブロックの平均階調値と複数列を1単位とする列ブロックの平均階調値を与える。
図17に、平均階調値を算出する行列ブロックと、算出された行列単位の平均階調値が与えられるダミー画素と位置関係を示す。図17の場合は、ダミー画素は有効表示領域の3行に1個かつ3列に1個の割合で配置されている。すなわち、有効表示領域がM行×N列の表示画素で構成される場合、ダミー画素は形態例1の3分の1で済む。
以上のように、この形態例の採用時には、平均輝度値の算出手法が変更される点と、ダミー画素数が少なくなることに起因して平均輝度値の算出式が一部変更される点を除いて、形態例1と基本的に同じシステム構成及び処理動作で有機ELパネルモジュールを実現することができる。
この形態例は、形態例1と形態例3の組み合わせ例に対応する。すなわち、形態例1と同様に全行列数分(有効表示領域がM行×N列の場合においてM+N個)のダミー画素を配置する一方で、形態例3の場合と同様に有効表示領域の複数行及び複数列を単位としてダミー画素用の平均階調値を算出する。なお、算出されたブロック単位の平均階調値は、対応する複数個のダミー画素に同時に与えられる。
以上のように、この形態例の採用時には、平均輝度値の算出手法と各ダミー画素への分配手法が変更される点を除いて、形態例1と基本的に同じシステム構成及び処理動作で有機ELパネルモジュールを実現することができる。
この形態例では、前回の測定タイミングから今回の測定タイミングまで間の画面全体の平均階調値と実測された平均輝度の累積劣化量とに基づいて、階調値/劣化量変換テーブルに格納されている全ての対応関係を算出する手法について説明する。
なお、この形態例には、前述した形態例1〜4の説明によるダミー画素の配置、ダミー画素データの決定方法及びダミー画素データの割り当て方法をそれぞれ適用することができる。
すなわち、この形態例で説明する有機ELパネルモジュールは、累積劣化量検出部175による累積劣化量の検出後の処理内容に特徴がある。
図19に示す変換テーブル更新部17は、ダミー画素データ決定部171、ダミー画素データ多重部173、累積劣化量検出部175、平均劣化率算出部179及びテーブル更新部181で構成する。
図20に、測定タイミング間に新たに発生する累積劣化量差ΔRを示す。この累積劣化量差ΔRは、各測定タイミングに検出される全ダミー画素の平均輝度値の差分として算出される。
図20は、時点t2の検出輝度が90%、時点t3の検出輝度が85%の場合における平均劣化率の算出原理を表している。
テーブル更新部181は、測定タイミング間の平均階調値と算出された平均劣化率とに基づいて、他の全ての対応関係(階調値と単位劣化量の対応関係)を算出する。
この際、テーブル更新部181は、図21に示す平均階調値と平均劣化率の基本対応関係を満たすように、残り255階調(階調が8ビットで与えられる場合)に対応する単位劣化量(劣化率)を算出する。
図22に、各階調値に対応する単位劣化量(劣化率)の算出原理を示す。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率(劣化速度)だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
因みに、測定タイミングの間隔は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、算出される劣化量の誤差を少なくすることができる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量を大幅に削減することが可能になり、この点で製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例の場合も、画面サイズに関係なく適応できる。
(a)前述の形態例では、基本発光色がRGBの3色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて4色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
(b)前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機EL素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
(d)前述の形態例では、ダミー画素の劣化特性を実測して階調値/劣化量変換テーブルを更新する機能を実装する有機ELディスプレイ装置について説明した。
しかし、変換テーブルの更新機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置(カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。)、情報処理端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等)、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
しかし、変換テーブルの更新機能は、自発光表示装置と独立した画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、変換テーブルの更新機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(g)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
7 輝度検出センサー
11 有機ELディスプレイ装置
13 有機ELパネルモジュール
15 入力表示データ補正部
17 変換テーブル更新部
157 補正量決定部
171 ダミー画素データ決定部
175 累積劣化量検出部
177、181 テーブル更新部
179 平均劣化率算出部
Claims (24)
- M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - M行×N列分の表示画素を配置した有効表示領域と、当該有効表示領域の行列数分のダミー画素を配置したダミー画素領域とを有する表示パネルと、
輝度劣化の測定タイミングに、各ダミー画素に固有の発光輝度を個別に検出する輝度検出センサーと、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する行列別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与る一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する劣化率算出部と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルを更新する装置であって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出するブロック別平均階調算出部と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与えるダミー画素データ決定部と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する累積劣化量検出部と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新するテーブル更新部と
を有することを特徴とする変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
累積劣化量の大きさ別に階調値と単位劣化量が対応付けられた参照テーブルを参照して、検出された累積劣化量に対応するテーブル値を読み出し、単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出されたM個の平均階調値を各行に対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出されたN個の平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データのうち前記ダミー画素に対応する行単位の平均階調値と列単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行単位で算出された平均階調値を対応するダミー画素に与える一方で、列単位で算出された平均階調値を各列に対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の複数行に1個分及び複数列に1個分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応するダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応するダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記ダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域の行列数分のダミー画素と、ダミー画素の発光輝度を検出する検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の単位劣化量の算出に参照する階調値/劣化特性変換テーブルの更新処理を実現するコンピュータプログラムであって、
有効表示領域内の各表示画素に対応する入力表示データの行ブロック単位の平均階調値と列ブロック単位の平均階調値を算出する処理と、
輝度劣化の測定タイミングまでは、行ブロック単位で算出された平均階調値を各ブロックに対応する複数個のダミー画素に与える一方で、列ブロック単位で算出された平均階調値を各列ブロックに対応する複数個のダミー画素に与え、輝度劣化の測定タイミングには、測定用の階調値を全ての前記ダミー画素に与える処理と、
前記行列数分のダミー画素それぞれについて測定された各発光輝度の平均輝度を算出し、測定時点までに発生した累積劣化量を検出する処理と、
検出された累積劣化量に基づいて測定期間内の劣化率を算出する処理と、
平均階調値と劣化率の基本対応関係を定めた基本テーブルを満たすように、算出された劣化率と平均階調値を除く他の全ての階調値と劣化率の対応関係を算出し、算出された対応関係で単位劣化量算出用の階調値/劣化特性変換テーブルを更新する処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
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