JP2007163712A - 表示パネル、自発光表示装置、階調値/劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラム - Google Patents
表示パネル、自発光表示装置、階調値/劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラム Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】一組のダミー画素に対して1つの検出センサーを有効表示領域の外側に配置する。この場合に、基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御する。そして、劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める。この後、実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、階調値と劣化率との基本対応関係を定めた基本テーブルを参照することにより、平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する。
【選択図】図1
Description
なお、発明者らが提案する発明は、表示パネル、自発光表示装置、階調値/劣化率変換テーブル更新装置、入力表示データ補正装置及びプログラムとしての側面を有する。
その最有力候補が、有機EL素子をマトリクス状に配列した有機ELディスプレイパネルである。有機ELディスプレイパネルは、視野角や応答性が良好であるだけでなく、バックライトが不要、高輝度、高コントラストといった優れた特性を備えている。
一方で、フラットパネルディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、発光体(有機EL素子)の劣化が部分的に進行しやすい。例えば、時刻表示領域に位置する発光体は、他の表示領域の発光体に比べて劣化の進行が速い。
「焼きつき」の改善策には、従来から様々な手法が提案されている。焼きつきを精度良く、性能良く補正するには、発光体の実際の劣化状態を正しく検出する必要がある。
また、特許文献3に開示された方法は、劣化した輝度を補償するしか補正方法がなく、結果的に劣化を促進させてしまい、補正性能の限界や輝度半減期が比較的早く到来する問題がある。
また、発明者らは、かかる仕組みを通じて実測された劣化情報に基づいて、各画素に対応する劣化情報や補正情報の予測精度を向上する以下の仕組みを提案する。
劣化情報の算出時に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能(a)〜(c)を搭載するものを提案する。
(a)基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
(b)劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部
(c)実測期間内の平均階調値と実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能(a)〜(f)を搭載するものを提案する。
(a)基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
(b)劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部
(c)階調値/劣化率変換テーブルを参照し、一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部
(d)累積劣化情報の実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部
(e)階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部
(f)基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部
劣化情報の算出字に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新する装置として、以下に示す処理機能(a)〜(d)を搭載するものを提案する。
(a) 前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部
(b)基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
(c)輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部
(d)算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部
表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置として、以下に示す処理機能(a)〜(h)を搭載するものを提案する。
(a) 前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部
(b)基準画素に対応する入力表示データの階調値でダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部
(c)輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部
(d)階調値/劣化率変換テーブルを参照し、一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部
(e)劣化情報の実測タイミング毎に輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部
(f)累積劣化情報の実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部
(g)階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部
(h)基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部
また、一組のダミー画素に対して1つの輝度検出センサーを配置することにより、輝度検出センサーの数を削減できる。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
(A−1)有機ELディスプレイ装置の機能構成
図1に、階調/劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する有機ELディスプレイ装置の機能構成例を示す。
図1に示す有機ELディスプレイ装置1は、映像信号変換部3、劣化量算出部5、階調/劣化量変換テーブル7、累積劣化量差算出部9、累積劣化量差蓄積部11、補正量決定部13、自発光パネル15、ダミー画素発光検出部17、検出値平均化部19、劣化特性実測部21、ダミー画素累積劣化量算出部23、平均階調値(APL:average picture level)算出部25、見積もり精度改善部27、ダミー画素発光制御部29で構成する。
有効表示領域内の各画素に対応する見積もり劣化量は、劣化量算出部5より与えられる
補正量決定部13は、各画素に対応する補正値を累積劣化量差に基づいて決定する処理デバイスである。補正量の決定方法には、累積劣化量差を無くすように補正値を決定する方法、視覚上の輝度差が揃うように補正値を決定する方法がある。
なお、補正量決定部13は、累積劣化量差蓄積部11に蓄積されている累積劣化量差を見積もり誤差量αで修正し、修正後の累積劣化量差に基づいて各画素に対する補正量を決定する。
以上の通り、補正量決定部13は、累積劣化量から累積誤差量を取り除いた値に基づいて補正値を決定する。
自発光パネル15は、発光体(自発光素子)を基体上にマトリクス状に配列した表示デバイスである。この形態例の場合は、発光体には、有機EL素子を使用する。
図3に示すように、自発光パネル15は、有効表示領域151の外側にダミー画素領域153を配置した構成でなる。有効表示領域151は、外部から観察できる領域であり、入力画像データ信号に対応する画像が表示される。一方、ダミー画素領域153は、劣化状態の測定に用いられる領域であり、その発光が外部から観察されないように遮光される。
この形態例の場合、ダミー画素領域153は、表示上の1画素に対応する4つのダミー画素1531で構成されるものとする。
図4に、ダミー画素領域153の拡大図を示す。図4に示すように、個々のダミー画素1531は、赤(R)、緑(G)、青(B)の3画素を集積して構成される。なお、この明細書では、ダミー画素1531を構成する各画素(R画素、G画素、B画素)もダミー画素という。
図3の場合、ダミー画素1531の駆動用として、データ駆動線の1本とゲート駆動線の2本を新たに配置する。データ駆動線の1本は、有効表示領域151の画素と共用する。
以上のように、ダミー画素1531は有効表示領域151内の各画素と同じ構造で実現でき、専用の又は大規模な駆動回路を必要としない。
また、劣化特性実測部21は、初期状態に検出された発光輝度と今回検出された発光輝度との差分ΔRを、実測期間内(実測期間の初回検出タイミングから今回の検出タイミングの間)に生じた劣化情報として見積もり精度改善部27に与える処理デバイスとしても機能する。
もっとも、劣化特性実測部21において、実測タイミング間の劣化率を算出する場合には、算出結果のみが見積もり精度改善部27に与えられる。劣化率は、単位時間当たりの劣化量で与えられる。従って、ΔRを実測期間のフレーム数で割ることで求めることができる。
APL算出部25は、補正表示データ信号についてフレーム毎に平均階調値をRGB画素別に算出する処理と、過去に算出されたRGB画素別の平均階調値の平均値(以下「平均APL値」という。)を算出する処理とを実行する処理デバイスである。
見積もり精度改善部27は、劣化量の算出に使用する階調/劣化量変換テーブル7の精度を改善する処理機能と、補正量の算出に使用する累積劣化量差の精度を改善する処理機能とを提供する処理デバイスである。
実測劣化率算出部271は、ダミー画素1531についてRGB別に実測された劣化率とその実測期間内の平均APL値とに基づいて、全ての階調値に対応する劣化率の現在値を再計算する処理と、全階調値について計算された劣化率に基づいて各階調値に対応する劣化量を計算する処理とを実行する。
続いて、有機ELディスプレイ装置1で実行される処理動作を説明する。
入力画像の表示時、有機表示領域151に対応する入力表示データ信号は、映像信号変換部3で補正処理を実行された後、補正表示データ信号として自発光パネル15に与えられる。
やがて、ダミー画素1531の劣化状態を検出タイミングになると、ダミー画素発光制御部29は、劣化特性実測部21から与えられた検査用の階調値をダミー画素用の表示データ信号として映像信号変換部3に与える。図8は、検出タイミングに100%の階調値が与えられる様子を表している。
図9に、検出結果の推移例を示す。図中、黒丸で示す輝度が検出値である。黒丸を実線で結んで示すように、同じ100%階調値で発光しているにも関わらず、検出された発光輝度が低下していく様子が分かる。もっとも、図9は輝度低下を誇張して表現しており、実際には緩やかに低減する。
図9は、発光時間t0とt6の間について差分ΔRを求める様子を表している。
差分ΔRが求まると、見積もり精度改善部27は、実測期間内に生じた劣化量の変化速度、すなわち劣化率を算出することができる。
図10に、劣化率の算出原理を示す。図10は、実測期間の初回の検出タイミングt(n)での検出輝度が100%であり、今回の検出タイミングt(m)での検出輝度が85%の場合を示す。
この後、見積もり精度改善部27は、実測期間に対応するRGB画素別の平均APL値をAPL算出部25から取得する。図10の場合、平均階調値は、階調値換算で100(階調値が8ビットの場合)である。
ただし、実測された対応関係は、256通り(階調が8ビットで与えられる場合)の対応関係の1つでしかない。
従って、全ての入力階調値に対応する劣化率(劣化量)を正確に予測可能にするには、他の全ての階調値について現在の劣化率(実測劣化率)を算出する必要がある。
図12に、実測劣化率算出部271による全階調値に対応する劣化率の算出原理を示す。
これにより、階調値間の基本的な対応関係は維持したままで劣化率(劣化速度)だけ増幅された新たな対応関係が算出される。
因みに、検出期間(周期)は、一般に短ければ短いほど急激な表示画像の傾向の変化にも対応することができる。従って、その分、予測される劣化量の誤差を少なくすることができる。
図15に対応関係を示す。図中、太線は実輝度劣化率bの変移に対応し、細線は見積もり輝度劣化率aの変移に対応する。見積もり輝度劣化率は、劣化量算出部5で算出される劣化量である。
見積もり誤差率αは補正量決定部13に出力され、補正量決定の前提となる累積劣化量差に乗算される。
この場合、実際の累積劣化量差(率)β2は、見積もり演算された累積劣化量差(率)β1に見積もり誤差率α(=b/a)として算出される。すなわち、β2=(b/a)×β1として算出れる。
このように、誤差分の影響を除去した状態で補正量が決定されるため、補正精度が格段に改善されることになる。
以上説明したように、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置では、有効表示領域151の外側に基本発光色に対応するダミー画素1531を1つ又は複数配置し、各基本発光色に対応する入力表示データ信号の平均階調値で発光制御する。これにより、ダミー画素1531の劣化特性を有効表示領域内の劣化特性と一致させる。その上で、定期的に検出されるダミー画素の劣化情報に基づいて、現在時点での階調値と劣化率(劣化量)との関係を更新することにより、パネル構造上も信号処理的にも実用的な範囲内で劣化情報の予測精度を向上することができる。
このため、事前の実験で把握すべき情報量も大幅に削減することが可能になり、この点でも製造コストの大幅な低減を実現できる。
また、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置では、画面サイズが大型化しても全画素について光量を検出する構造が不要であるのに加え、配置する4個のダミー画素1531も通常パネルプロセスの延長線上で(パネルプロセスをほとんど変更することなく)作成することができる。
また、ダミー画素発光検出部17は1つだけで良いため、自発光パネル15を構成する基本発光色の数の影響を受けずに済む。このため、回路規模と生産上の難易度を効果的に低減できる。
また、新たに発生する劣化量の見積もり精度を高めるだけでなく、既存の累積劣化量に含まれる誤差分を除去して補正量の決定精度も向上することができる。
(B−1)有機ELディスプレイ装置の機能構成
前述したように、基本発光色に対応するダミー画素1531を有効表示領域151の外側に配置し、その実測結果に基づいて劣化量の見積もり精度や補正値の決定精度を向上することにより、焼きつき現象を確実に修正することができる。
これらは全てパネル製造プロセス中に発生し、これらの現象がダミー画素に発生した場合、当然ながら正常な輝度検出ができなくなってしまう。
また、これらの現象は、当然ながら量産品ではほとんど発生しないレベルまで品質を上げることが想定される。
しかし、特に滅点については、液晶表示装置でもそうであるように、量産レベルでも完全に無くすことが難しい。滅点は、主に、パネル製造プロセス上のわずかなゴミ等が原因となる。
図17に、階調/劣化量変換テーブルの更新機能を搭載する有機ELディスプレイ装置の機能構成例を示す。図17は、図1との対応部分に同一符号を付して示す。
図18に示す有機ELディスプレイ装置101は、映像信号変換部3、劣化量算出部5、階調/劣化量変換テーブル7、累積劣化量差算出部9、累積劣化量差蓄積部11、補正量決定部13、自発光パネル15、ダミー画素発光検出部17、検出値平均化部19、劣化特性実測部21、ダミー画素累積劣化量算出部23、APL算出部25、見積もり精度改善部27、ダミー画素発光制御部29、正常ダミー画素劣化情報換算部31で構成する。
図18に、正常ダミー画素劣化情報換算部31の内部構成例を示す。正常ダミー画素劣化情報換算部31は、正常不良判定部311と劣化情報換算部333とで構成される。
続いて、有機ELディスプレイ装置101で実行される処理動作を説明する。前述したように、基本的な処理動作は形態例1と同じである。従って、正常ダミー画素劣化情報換算部27の処理動作について説明する。なお、以下の説明では、4つのダミー画素1531(RGBに対応するダミー画素で構成される。)を、その配列位置に応じてダミー画素1、2、3及び4と呼ぶ。図19に、ダミー画素1〜4の位置関係を示す。
まず画素位置パラメータiが1に設定される(S1)。これに伴い、ダミー画素1のみが発光制御され、それ以外のダミー画素2〜4を消灯制御する(S2)。なお、ダミー画素の発光とその輝度特性の測定は、基本発光色別に順次実行される。
この後、階調値が全ての階調幅(すなわち0〜100%)について変化され、その際の輝度特性を測定して保存する(S3)。
やがて、処理S5で肯定結果が得られ、全てのダミー画素についての輝度特性の測定が完了すると、測定された輝度特性同士を比較する(S6)。この際、他の多数のダミー画素とは輝度特性が明らかに異なるダミー画素があれば、該当するダミー画素を不良ダミー画素と判定する。
以上の処理によって正常ダミー画素と不良ダミー画素とが特定されると、劣化情報の実測値を正常ダミー画素の実測値に換算する処理が実行される。
この後、検出された2つのパラメータγ及びζと、全ダミー画素数及び不良ダミー画素数を次式に代入し、4つの正常ダミー画素に対応する輝度劣化率を算出する。
なお、前式は、ダミー画素全体の輝度劣化率は、発光面積に比例する形で分配される原理に基づいている。
正常ダミー画素劣化情報換算部31は、このように換算演算した輝度劣化率を見積もり精度改善部27に出力する。この換算演算により、実測劣化量の信頼性を高めることができる。
以上説明したように、この形態例に係る有機ELディスプレイ装置を用いれば、自発光パネル15に不良ダミー画素が含まれる場合にも、実測結果に含まれる不良ダミー画素の影響を排除することができる。これにより、ダミー画素から得られる実測劣化情報の信頼性を向上でき、劣化量の予測精度と補正精度を高めることができる。
(a)前述の形態例では、基本発光色がRGBの3色である場合について説明したが、基本発光色は補色を含めて4色以上の場合にも適用できる。この場合、ダミー画素1531等は、これら基本発光色の数だけ用意すれば良い。
(b)前述の形態例では、基本発光色の発色形態について説明しなかったが、基本発光色別に発光素子材料が異なる有機EL素子を用意しても良いし、カラーフィルタ方式や色変換方式を用いて基本発光色を生成しても良い。
しかし、階調/劣化率変換テーブル7の更新機能は、自発光表示装置を搭載する画像処理装置の一部として実装しても良い。例えば、階調/劣化率変換テーブル7の更新機能は、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置(カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。)、情報処理端末(携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等)、ゲーム機、プリンタ装置等に実装しても良い。
しかし、階調/劣化率変換テーブル7の更新機能は、自発光表示装置や自発光表示装置を搭載する画像処理装置に対して入力表示データ信号を供給する画像処理装置に搭載しても良い。すなわち、ダミー画素の発光輝度や劣化情報を自発光表示装置等から自装置内に取り込む手法を採用しても良い。
また、これらの処理機能の全てをハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現しても良い。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
(h)前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
153 ダミー画素領域
1531 ダミー画素
17 ダミー画素発光検出部
21 劣化特性実測部
23 ダミー画素累積劣化量算出部
27 見積もり精度改善部
271 実測劣化率算出部
273 見積もり誤差率算出部
29 ダミー画素発光制御部
31 正常ダミー画素劣化情報換算部
311 正常不良判定部
313 劣化情報換算部
Claims (16)
- 有効表示領域の外側に配置され、有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、
前記一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーと
を有することを特徴とする表示パネル。 - 有効表示領域の外側に配置され、有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する複数組のダミー画素と、
前記複数組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーと
を有することを特徴とする表示パネル。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 請求項3に記載の自発光表示装置において、
前記実測劣化率算出部は、
階調値と劣化率との基本対応関係を定める基本テーブルを参照し、
前記平均階調値pに対応する劣化率αp
と、算出対象とする階調値qに対応する劣化率αq との対応比率αq /αp を、平均階調値pに対応する実測劣化率Xp に乗算することより、前記平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を算出する
ことを特徴とする自発光表示装置。 - 請求項3に記載の自発光表示装置は、
前記実測劣化率算出部で算出された階調値と実測劣化率との対応関係に基づいて、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素の累積劣化情報との差分に基づいて、各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と、
算出された補正量に基づいて入力階調値を補正する映像信号変換部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する複数組のダミー画素と、当該複数組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとを有効表示領域の外側に配置する表示パネルと、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする自発光表示装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測部と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする階調値/劣化率変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新する装置であって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする階調値/劣化率変換テーブル更新装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力する入力表示データを補正する装置であって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定部と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御部と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出部と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測部と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出部と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出部と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定部と
を有することを特徴とする入力表示データ補正装置。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、基本発光色別の実測劣化情報を求める劣化情報実測処理と、
実測期間内の平均階調値と前記実測劣化情報とに基づいて平均階調値に対応する実測劣化率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される場合において、各画素の劣化情報の算出用に参照する階調値/劣化率変換テーブルを更新するコンピュータプログラムであって、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値で前記ダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測処理と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出処理と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出処理と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定処理と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算処理と、
算出された劣化情報の累積実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出すると共に、当該平均階調値以外の全ての階調値に対する実測劣化率を基本発光色別に算出する実測劣化率算出処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。 - 有効表示領域を構成する基本発光色のそれぞれに対応する一組のダミー画素と、当該一組のダミー画素の全てを検出領域に含む1つの輝度検出センサーとが有効表示領域の外側に配置される表示パネルに出力される入力表示データを補正するコンピュータプログラムであって、
前記ダミー画素を順番に全階調範囲について発光制御し、実測された各ダミー画素の輝度特性に基づいて、正常ダミー画素と不良ダミー画素を判定する正常不良判定処理と、
基準画素に対応する入力表示データの階調値で前記ダミー画素を継続的に発光制御する一方で、劣化情報の実測タイミングでは事前に設定した階調値でダミー画素を発光制御するダミー画素発光制御処理と、
前記輝度検出センサーの実測結果に基づいてダミー画素の実測劣化情報を求めると共に、当該実測劣化情報に含まれる不良ダミー画素の実測劣化情報の影響を除去し、正常ダミー画素のみに対応する実測劣化情報に換算する劣化情報換算処理と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、前記一組のダミー画素について実測期間中の累積劣化情報を基本発光色別に算出する累積劣化情報算出処理と、
前記劣化情報の実測タイミング毎に前記輝度検出センサーで実測される発光輝度の推移を基本発光色別に求め、現在までの実測劣化情報を基本発光色別に求める劣化情報実測処理と、
前記累積劣化情報の前記実測劣化情報に対する見積もり誤差率を算出する見積もり誤差率算出処理と、
階調値/劣化率変換テーブルを参照し、入力画像の表示に伴う劣化情報を画素ごとに算出する劣化情報算出処理と、
基準画素についての累積劣化情報と各画素についての累積劣化情報との差分を前記見積もり誤差率で修正し、修正後の差分に基づいて各画素に対応する補正量を基本発光色毎に決定する補正量決定処理と
をコンピュータに実行させるコンピュータプログラム。
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