JP2006525497A - 非実装回路板の試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
これは以下の条件によって確立される。
a)s(xi=yi)すなわち出発点はsのグラフ上にある。
b)s=〔x1,xn〕はコンスタントに2回微分される。
c)sの全体の曲率は最小である。すなわち上の二つの条件を満たすすべての他の関数はより大きい全体曲率を持つ。
2・・・テスト針
3・・・針
4・・・シールド
5・・・プローブ先端
6−9・・・保持アーム
10・・・マウント
11・・・接触パッド
12・・・ピン
13・・・スロット
14・・・スルーホール
15・・・テストヘッド
16・・・光電スイッチエレメント
17・・・測定羽根
18・・・測定エッジ
19・・・接触のための運動方向
20・・・運動方向
21・・・回路板
21a・・・導体路
22・・・回路板テストポイント
23・・・導体
24・・・電流源
25・・・導体
26・・・電圧計
27・・・トラフ
28・・・ベース
29・・・側壁
30・・・横断ウエブ
31・・・リニヤードライブ
32・・・テスター
33・・・コントローラー
34・・・格子線
55・・・横断ウエブ
56・・・測定羽根
57・・・ベースプレート
58・・・スペーサースリーブ
59・・・プレート
60・・・壁
61・・・接触ピン
62・・・接触プレート
63・・・導体
64・・・保持エレメント
65・・・クロスバー
66・・・コンベアベルト
67・・・接続ウエブ
68・・・テストヘッド
Claims (11)
- 試験すべき回路板の回路板テストポイントとの接触のため自動的に移動させられるいくつかのフィンガーを有するフィンガーテスターを用いて部品非実装プリント回路板を試験する方法であって;
各テストフィンガーは、テストプローブ(1)のプローブ先端(5)が何時試験すべき回路板の表面と接触かの時点を決定するために使用される接触センサー(16)を備えたテストプローブ(1)を有し、そのためこの時点とプローブ先端(5)のその時点の位置を基にして試験すべき回路板(21)の表面のレベルが決定され、そしてさらなる回路板テストポイントと接触させるための接触プロセスは決定したレベルに基いて制御し得ることを特徴とする方法。 - 回路板テストポイントの接触において、テストプローブは回路板テストポイント(22)へ向って高速度で動かされ、そして前もって決定されたレベルへ到達もしくはその直前に低速度へ制動されることを特徴とする請求項1の方法。
- 回路板テストポイントとの接触におけるテストプローブの運動は、接触センサー(16)によって回路板との接触が検出され次第速やかに停止されることを特徴とする請求項2の方法。
- 接触センサー(16)はテストすべき回路板(21)に対しテストプローブ(1)が押し付けられる接触力を検出し、検出された接触力があらかじめ定めた接触力から逸脱している場合にはテストプローブ(1)が再調節されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれかの方法。
- 回路板上に分布するいくつかの点のレベルが検出され、そしてこの検出されたレベルに基いて回路板の表面が補間法によってシミュレートされ、このシミュレートされた表面がさらなる接触作業を制御するために使用されることを特徴とする請求項1ないし4のいずれかの方法。
- 補間法はスプライン補間法であることを特徴とする請求項5の方法。
- シミュレートされた表面を基にして、試験すべき回路板テストポイントのX座標およびY座標が所望の座標と比較して計算され、そして回路板テストポイントはこれらの変化したX座標およびY座標に基いて制御されることを特徴とする請求項1ないし6のいずれかの方法。
- フレキシブル回路板が試験されることを特徴とする請求項1ないし7のいずれかの方法。
- 接触センサーとして、光学的測定セクションを有する光電スイッチエレメント(16)が使用され、テスト針(2)へ接続された羽根(17)が光学的測定セクションと係合することを特徴とする請求項1ないし8のいずれかの方法。
- テスト針(2)と、回路板テストポイント(22)と接触できるプローブ先端(5)を有するテストプローブ(1)が使用され、テスト針(2)は弾性的にばね負荷された2対の保持アーム(6,7,8,9)によってマウント(10)へ回動自在に固定され、保持アームの各対は一端をテスト針(2)へそして他端をマウント(10)に固着して平面に配置され、そして保護アームの各対は上から見て三角形を形成していることを特徴とする請求項1ないし9のいずれかの方法。
- 請求項1ないし10のいずれかの方法を実施するためのコントローラーを備えているテスター。
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