JP2006218302A - 螺旋走査時の過剰走査の低減の方法及びシステム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 計算機式断層写真法システム(10)での走査中にX線照射を制御する方法、装置及びシステムを提供する。計算機式断層写真法システムは、X線源(14)、コリメータ(52)及び検出器アレイ(18)を含んでいる。コリメータは、X線源によって発生されるX線ファン・ビーム(16)を第一の方向にシャッター調節するように構成されている第一のカム(81)と、X線源の焦点(50)に関して第一のカムの反対側に位置しており、X線ファン・ビームを第一の方向と反対の第二の方向にシャッター調節するように構成されている第二のカム(82)と、走査中に第一のカム及び第二のカムの少なくとも一方を配置するように構成されているカム駆動器とを含んでいる。
【選択図】図6
Description
ここで、
t及びzを用いて時間及び位置を表わしており、以下の下付き文字を用いる。
VBC=(source_to_cam/(source_to_iso+SFOV/2))*table_speed
ここで、
source_to_camは、線源焦点から関連するカムのz軸限度までの距離であり、
source_to_isoは、線源焦点と対象802のとアイソセンタとの間の距離を表わす。
VCT=(source_to_cam/(source_to_iso−SFOV/2))*table_speed
カム位置は、画像にアーティファクトを混入させることを回避するために理論的な最小許容カム位置となる。カムは常に、この位置にあるか、又はこの位置の前方に位置しなければならない。
tB<t<tC Bcam+(t−tB)*vBC
tC<t<tT Bcam+(tC−tB)*vBC+(t−tC)*vCT
t>tT Tcam
タイミングは以下の通りである。
Z0=Tiso*((source_to_iso+SFOV/2)/source_to_iso)
ZB=Biso*((source_to_iso+SFOV/2)/source_to_iso)
ZT=Tiso*((source_to_iso−SFOV/2)/source_to_iso)
tB=(zB+z0)/table_speed
tC=z0/table_speed
tT=(zT+z0)/table_speed
尚、zはオフセットを表わす。対象は、検出器の中心線上のz=0から出発するのではない。同様に、Bは符号付き値であって、この例では負の値を有すべきである。長手軸807が実質的に軸24に揃っていないような様々な実施形態では、上述の各式を調節して軸807の位置と軸24との間の単純な幾何学的差を盛り込むことができる。
tC<t<tT 高速シャッター調節領域
tB<t<tC 低速シャッター調節領域
t0<t<tB 移動なし
系列5では、シャッター・カム81は完全に開いており、トラッキング・ループはシャッター・カム81の制御を開始する。系列6の点で、対象802の後尾エッジ902がX線ビーム16のエッジ812に位置する。対象802の上方エッジ814が、系列7のCのように対象802が検出器の中心線に交差するまでカム82の位置を限定する。対象802は、X線ビーム16を横断して移動するにつれて、系列2のBのようにシャッター・カム82によって画定されるビームのエッジ812に近付く。系列9では、シャッター・カム82は可能な限り閉じて、相対的に細いX線ビーム16が対象802の後尾エッジ902に丁度交差するようにする。対象802は、X線ビーム16を通過し続けて走査の完了時に出る。
12 ガントリ
14 放射線源
16 X線コーン・ビーム
18 検出器アレイ
20 検出器モジュール
22 患者
24 回転中心
26 制御機構
42 表示器
46 電動式テーブル
48 ガントリ開口
50 焦点スポット
52 プリ・ペイシェント・コリメータ
54 コリメート後のビーム
56 ファン・ビーム軸
58 検出器ハウジング
60 プレート
62 多次元シンチレータ・アレイ
64 基材
66 スイッチ装置
68 デコーダ
70 可撓性電気ケーブル
81 シャッター・カム
82 トラッキング・カム
104、105 カム駆動器
106 開口
701 走査中の放射線源と患者との間の相対位置の変化の方向
702 カムを動作させない場合の被曝部分
704 カムを動作させない場合の被曝部分
802 試験対象
803 第一の画像位置
804 厚み
805 径
806 対象の前端エッジ
807 長手軸
808 ビームのエッジ
810 対象の下方エッジ
812 X線ビームのエッジ
814 対象の上方エッジ
902 対象の後尾エッジ
Claims (10)
- X線源(14)と検出器アレイ(18)とを含む計算機式断層写真法システム(10)での走査中にX線照射を制御するプリ・ペイシェント・コリメータ(52)であって、
前記X線源により発生されるX線ファン・ビーム(16)を第一の方向にシャッター調節するように構成されている第一のカム(81)と、
前記X線源の焦点(50)に関して前記第一のカムの反対側に位置しており、前記X線ファン・ビームを前記第一の方向とは反対の第二の方向にシャッター調節するように構成されている第二のカム(82)と、
前記走査中に前記第一のカム及び前記第二のカムの少なくとも一方を配置するように構成されているカム駆動器(104、105)と、
を備えたプリ・ペイシェント・コリメータ(52)。 - 前記第一のカム及び前記第二のカムはX線吸収材料で作製されており、前記第一のカム及び前記第二のカムは、前記ファン・ビームの厚みを調節するために撮像対象(22)に向かって照射されるX線ビームの一部を遮断するように構成されている、請求項1に記載のコリメータ。
- 前記カム駆動器は、前記第一のカム及び前記第二のカムの各々を独立に配置するように構成されている、請求項2に記載のコリメータ。
- 前記カム駆動器は、少なくとも1台のカム・モータ(104、105)を含んでいる、請求項2に記載のコリメータ。
- 前記カム駆動器は、前記第一のカム及び前記第二のカムの各々のためのカム・モータを含んでいる、請求項4に記載のコリメータ。
- 前記検出器アレイはマルチ・スライス検出器を含んでおり、前記カム駆動器はファン・ビーム厚みを変化させるように構成されている、請求項2に記載のコリメータ。
- X線源と、z軸方向に延在する複数の検出器セルを含む検出器アレイと、シャッター・カム(81)及びトラッキング・カム(82)を含むプリ・ペイシェント・コリメータとを含む計算機式断層写真法システムにおいてX線照射を低減するシステムであって、
前記z軸に沿って患者テーブル(46)の速度を決定して、
撮像対象に向かって照射されるべきファン・ビームの厚みを画定するために、前記決定されたテーブル速度を用いて走査中に前記シャッター・カム及び前記トラッキング・カムの少なくとも一方を配置する
ように構成されているシステム。 - 前記カムは、前記ファン・ビームの厚みを調節するために、前記X線源によって放出されるX線ビームの一部を遮断するように構成されている、請求項7に記載のシステム。
- z軸に沿って並進可能な患者テーブル(46)と、開口(106)を画定する第一のカム(81)及び第二のカム(82)を有するコリメータ(52)とを含む計算機式断層写真法システムにおいてX線量を制御する方法であって、
前記テーブルの並進速度に比例した速度で前記第一のカムを開くステップと、
前記テーブルの前記並進速度に比例した速度で前記第二のカムを閉じるステップと、
を備えた方法。 - 前記z軸に沿った前記テーブルの並進の速度を決定するステップをさらに含んでいる請求項9に記載の方法。
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