JP4478335B2 - X線ビームの動きを補正するための方法および装置 - Google Patents
X線ビームの動きを補正するための方法および装置 Download PDFInfo
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、全般的にはコンピュータ断層撮影(CT)イメージングに関し、より具体的には、イメージング・システムにおけるX線ビームのz軸方向の動きの補正に関する。
【0002】
【従来の技術】
少なくとも1つの周知のCTシステム構成では、X線源は、デカルト座標系のX−Y平面(一般に「イメージング平面」と呼ばれる)内に位置するようにコリメートされた扇形状のビームを放出する。X線ビームは、たとえば患者などのイメージングしようとする対象を透過する。ビームは、この対象によって減衰を受けたのち、放射線検出器のアレイ上に入射する。検出器アレイで受け取った減衰したビーム状放射線の強度は、対象によるX線ビームの減衰に依存する。このアレイの各検出器素子は、それぞれの検出器位置でのビーム減衰の計測値に相当する電気信号を別々に発生させる。すべての検出器からの減衰量計測値を別々に収集して、透過プロフィールが作成される。
【0003】
周知の第3世代CTシステムでは、X線源および検出器アレイは、X線ビームが画像を作成しようとする対象を切る角度が一定に変化するようにして、イメージング平面内でこのイメージング対象の周りをガントリと共に回転する。あるガントリ角度で検出器アレイより得られる一群のX線減衰量計測値(すなわち投影データ)のことを「ビュー(view)」という。また、イメージング対象の「スキャン・データ(scan)」は、X線源と検出器が1回転する間に、様々なガントリ角度で得られるビューの集合からなる。
【0004】
アキシャル・スキャンでは、この投影データを処理し、イメージング対象を透過させて得た2次元スライスに対応する画像を構成する。投影データの組から画像を再構成するための一方法に、当技術分野においてフィルタ補正逆投影法(filtered back projection)と呼ぶものがある。この処理方法では、スキャンにより得た減衰量計測値を「CT値」、別名「ハウンスフィールド値」という整数に変換し、これらの整数値を用いて陰極線管表示装置上の対応するピクセルの輝度を制御する。
【0005】
スキャンにかかる時間を全体として短くするため、「ヘリカル(らせん)」スキャンを実行することがある。「ヘリカル」スキャンを実行するには、所定のスライス数だけのデータを得る間、患者を移動させる。こうしたシステムでは単一ファン・ビームのヘリカル・スキャンを1回行うと、単一らせんが1つ描かれる。ファン・ビームが描いたらせんに沿って投影データが得られ、これを用いて所定のスライス各位置での画像が再構成される。
【0006】
少なくとも1つの周知のCTシステムは、リアルタイム型z軸ビーム検知用検出器を用いて、各ビューに対するX線ビームの位置を計測する。計測した位置から、計測した位置と所望の位置の差を表すエラー信号を決定する。このエラー信号を用いてコリメータの位置を調整して、計測した位置と所望の位置との間のz軸エラーを減少させる。しかし、各ビュー位置で計測した位置信号は、z軸エラーに近い標準偏差を有するノイズを含んでいる。このノイズはフィルタ除去することができるが、このフィルタ処理により位相おくれや、スキャン中のダイナミックな動きの追跡に関する位置エラーが生じる。このため、ループ・レスポンス時間と、かなりのトラッキング・エラーを起こさせるビーム位置の計測ノイズとの間で折衷を図る必要がある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、X線ビームのz軸方向の動きの補正を容易にするシステムを提供することが望ましい。さらに、患者の被爆線量を増加させることなく画質を向上させるシステムを提供することが望ましい。
【0008】
【課題を解決するための手段】
上記およびその他の目的は、本発明の実施の一形態では、イメージング・システムのダイナミックな動きおよび熱ドリフトに起因するX線ビームの位置エラーすなわち動きを補正するシステムによって達成できる。より具体的に実施の一形態では、検出器アレイからの信号を利用してダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーを決定する。このダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーを利用し、X線ビームの位置は位置エラーに対して補正される。
【0009】
詳しく述べると、イメージング・システムのガントリ内のコンポーネントの回転に起因する位置エラーを計測することにより、ダイナミック動きエラー・プロフィールを決定する。具体的に述べると、ダイナミック動きエラーはそれぞれのガントリ回転に対して一貫しているため、ガントリの最初の回転に対して決定したダイナミック動きエラーを後続のガントリ回転でのダイナミック動きエラーに対する補正に利用することができる。実施の一形態では、そのダイナミック動きエラーは、計測した、即ち実際の、X線ビーム位置と所望のX線ビーム位置との差を求めることにより決定される。複数のガントリ位置に対する差を特徴づけることにより、そのダイナミック動きエラーが決定される。
【0010】
ダイナミック動きエラーに加え、イメージング・システムの熱ドリフトによりX線ビーム位置は変更される。実施の一形態では、その熱ドリフト・エラーは、ガントリの前回の回転からの実際の熱ドリフトおよび予測熱ドリフトを含む。この予測熱ドリフトは、計測したX線ビーム位置とX線源の動作範囲に対する所望のX線ビーム位置との差を時間の関数として求めることにより決定される。スキャンの開始に先立ち、熱ドリフト・エラーを用いてX線ビームの位置を調整することによりシステムの熱ドリフトに対する補正を行う。
【0011】
実施の一形態では、ダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーを組み合わせてプリペイシェント(pre-patient) コリメータの位置を変更し、イメージング・システムのダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーに対する補正を行う。より具体的に述べると、スキャン中にガントリが回転するのに伴い、ガントリの各位置に対するダイナミック動きエラーと熱ドリフト・エラーの組み合わせによる決定に従って、プリペイシェント・コリメータのカムの位置を調整する、すなわち移動させる。
【0012】
上記のシステムはX線ビームの位置を調整することにより、イメージング・システムでのX線ビームのz軸方向の動きの補正を容易にする。さらに、記載したシステムは、画質を低下させずに患者の被爆線量を軽減させることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
図1および図2を参照すると、「第3世代」のCTスキャナに典型的なガントリ12を含むものとして、コンピュータ断層撮影(CT)イメージング・システム10を示している。ガントリ12は、このガントリ12の対向面上に位置する検出器アレイ18に向けてX線ビーム16を放出するX線源14を有する。検出器アレイ18は、放出され患者22を透過したX線を一体となって検知する検出器素子20により形成される。各検出器素子20は、入射したX線ビームの強度を表す電気信号、すなわち患者22を透過したX線ビームの減衰を表す電気信号を発生する。X線投影データを収集するためのスキャンの間に、ガントリ12およびガントリ上に装着されたコンポーネントは回転中心24の周りを回転する。
【0014】
ガントリ12の回転およびX線源14の動作は、CTシステム10の制御機構26により制御される。制御機構26は、X線源14に電力およびタイミング信号を供給するX線制御装置28と、ガントリ12の回転速度および位置を制御するガントリ・モータ制御装置30とを含む。制御機構26内にはデータ収集システム(DAS)32があり、これによって検出器素子20からのアナログ・データをサンプリングし、このデータを後続の処理のためにディジタル信号に変換する。画像再構成装置34は、サンプリングされディジタル化されたX線データをDAS32から受け取り、高速で画像再構成を行う。再構成された画像はコンピュータ36に入力として渡され、コンピュータにより大容量記憶装置38内に再構成画像が格納される。
【0015】
コンピュータ36はまた、ユーザ・インタフェース、たとえばグラフィック・ユーザ・インタフェース(GUI)を介して信号のやりとりを行う。詳しく述べると、キーボードおよびマウス(図示せず)を有するコンソール40を介して、コンピュータはオペレータからのコマンドおよびスキャン・パラメータを受け取る。付属の陰極線管表示装置42により、オペレータはコンピュータからの再構成画像その他のデータを観察することができる。コンピュータ36は、オペレータの発したコマンドおよびパラメータに基づき、X線制御装置28と、ガントリ・モータ制御装置30と、DAS32と、テーブル・モータ制御装置44とに対して制御信号や制御情報を提供する。
【0016】
図3および図4を参照すると、検出器アレイ18は複数の検出器モジュール58を含んでいる。各検出器モジュール58は、検出器ハウジング60に取り付けられている。各モジュール58は、多次元のシンチレータ・アレイ62および高密度半導体アレイ(図示せず)を含んでいる。ポストペイシェント(post-patient)コリメータ(図示せず)をシンチレータ・アレイの近傍でこれを覆うように配置して散乱したX線ビームをコリメートしたのち、このX線ビームをシンチレータ・アレイ62上に照射する。シンチレータ・アレイ62はアレイ状に配置された複数個のシンチレーション素子を含む。また半導体アレイは、同一のアレイ状に配置した複数個のフォトダイオード(図示せず)を含む。フォトダイオードは基板64上に析出により形成されており、シンチレータ・アレイ62は基板64を覆う位置で基板に取り付けられている。
【0017】
検出器モジュール58はまた、デコーダ68と電気的に結合するスイッチ装置66を含む。スイッチ装置66は、フォトダイオード・アレイと同じ大きさをもつ多次元の半導体スイッチ・アレイを形成している。実施の一形態では、スイッチ装置66は、各々が入力線、出力線および制御線(図示せず)を有する電界効果トランジスタ(FET)のアレイ(図示せず)を含んでいる。スイッチ装置66はフォトダイオード・アレイとDAS32との間に接続されている。具体的に述べると、スイッチ装置の各々のFET入力はフォトダイオード・アレイの出力と電気的に接続され、またスイッチ装置の各々のFET出力はDAS32と電気的に接続されている。この接続にはたとえば可撓性の高い電線70が用いられる。
【0018】
デコーダ68はスイッチ装置66の動作を制御し、所望のスライス数および各スライスに対する所望のスライス分解能に従って、フォトダイオード・アレイの出力を有効(enable)にしたり、無効(disable) にしたり、あるいは組み合わせたりする。デコーダ68は、実施の一形態では、デコーダ・チップあるいはFETコントローラであることが、当業者には知られている。デコーダ68は複数の出力線および制御線を含み、これらによりスイッチ装置66とコンピュータ36とが結合される。具体的に述べると、デコーダの出力はスイッチ装置制御線と電気的に接続され、スイッチ装置66がスイッチ装置入力からスイッチ装置出力に適正なデータを渡すことが可能となる。デコーダ制御線はスイッチ装置制御線と電気的に接続されており、これによりデコーダ出力のうちのどれを有効とするかを決定する。デコーダ68を利用することにより、スイッチ装置66内の特定のFETを有効にし、無効にし、あるいは組み合わせることができ、フォトダイオード・アレイの特定の出力がCTシステムのDAS32と電気的に接続される。16スライス・モードに規定した実施の一形態では、デコーダ68によりスイッチ装置66を有効にし、フォトダイオード・アレイのすべての列をDAS32と電気的に接続させることができる。この結果、16スライス分のデータを別々、かつ同時にDAS32に送ることができる。もちろん、これ以外に多くのスライスの組み合わせが可能である。
【0019】
特定の実施の一形態では、検出器18は57個の検出器モジュール58を含んでいる。半導体アレイおよびシンチレータ・アレイ62のアレイ・サイズは、それぞれ16×16である。このため、検出器18は16行、912列(16×57個のモジュール)となり、ガントリ12の一回転あたり同時に16スライス分のデータを収集できる。もちろん、本発明は特定のアレイ・サイズに限定されるものではなく、アレイのサイズはオペレータの具体的ニーズ次第で大きくも小さくもできると企図される。検出器18はまた、多様なスライス厚モードやスライス数モード(たとえば1スライス、2スライス、4スライス・モードなど)で動作させることができる。たとえば、FETを4スライス・モードで構成することができ、これによりフォトダイオード・アレイの1行あるいは複数行から4スライス分のデータを収集できる。具体的なFETの構成をデコーダ制御線により決めることによって、フォトダイオード・アレイの出力の様々な組み合わせについて、有効にしたり、無効にしたり、あるいは組み合わせることが可能となる。これにより、たとえば1.25mm、2.5mm、3.75mm、5mmのスライス厚が得られる。別の例としては、1.25mmから20mmまでの範囲のスライス厚のうちの1つのスライスからなる単一スライス・モードや、1.25mmから10mmまでの範囲のスライス厚のうち2つのスライスからなる2スライス・モードがある。さらに、上記のモードを上回るモードも可能である。
【0020】
図5に示す実施の一形態では、システム10は、検出器セルの4つの行82、84、86および88を用いて投影データを得る「4(quad)スライス」システムである。データの収集に加え、z位置セルと呼ぶこともある検出器セル90、92、94および96を用いてX線ビーム16の位置を決定する。より詳しく述べると、X線ビーム16はX線源14の焦点98から放出される(図2参照)。X線ビーム16はプリペイシェント・コリメータ100によりコリメートされ、コリメートを受けたビーム16は検出器セル90、92、94および96に向けて投射される。一般に「ファンビーム平面」と呼ばれる平面102は、焦点98の中心線およびビーム16の中心線を包含する。図5では、ファンビーム平面102は、検出器セル90、92、94および96の照射域104の中心線D0 と一致する。別の実施形態では、システム10は、任意のスライス数、すなわち2スライス、3スライス、5スライス、6スライスなどを含むマルチスライス・システムである。
【0021】
実施の一形態では、システム10のコリメータ100は、偏心カム120Aおよび120Bを含む。カム120Aおよび120Bの位置は、X線制御装置28により制御される。カム120Aおよび120Bはファンビーム平面102の互いに反対側に配置され、かつカム120Aと120Bの間隔、並びにこれらのカムのファンビーム平面102に対する位置に関して別々に調整できる。カム120Aおよび120Bは単一のカム・ドライブによって位置決めすることができる、またその代わりに、カムの各々を別々のカム・ドライブ、たとえばモータによって位置決めするようにしてもよい。カム120Aおよび120Bは、X線吸収材料、たとえばタングステンにより製作される。偏心形状であるため、カム120Aおよび120Bのそれぞれの回転によりX線ビーム16のz軸位置が変更される。より詳しく述べると、カム120Aおよび120Bの位置を変更することによりX線ビームの本影の位置および幅が変更できる。具体的に述べると、カム120Aおよび120Bが連結されて歩進する偏心形状であるため、検出器アレイ18に対するX線ビーム16の位置を変更すなわち調整できる。さらに、カム120Aの位置あるいはステップを変更するだけで、検出器アレイ18の一方のエッジに対する本影(umbra) の幅および位置を変更できる。またカム120Bの位置を変更するだけで、検出器アレイ18のもう一方のエッジ、すなわち第2のエッジに対する本影の幅および位置を変更できる。
【0022】
図6に示す実施の一形態では、システム10は、本発明によるX線ビーム・トラッキング制御回路(またはシステム)80を含む。システム80は、実施の一形態では、制御機構26およびコンピュータ36と結合され、かつX線ビーム位置エラー・プロフィールを利用してシステム10のX線ビーム16の位置エラーまたは動きに対する補正を行う。より具体的に実施の一形態では、システム80は第1のスキャンから得たダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーを利用して、後続のスキャンのそれぞれでのシステム10のダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーに対する補正、すなわち補償を行う。具体的に述べると、システム80はプリペイシェント・コリメータ100の位置を変更することにより、後続の回転でのX線ビーム16の位置を調整すなわち変更し、ガントリ12の第1の回転から得た位置エラー・プロフィールに対する補正を行う。システム80は検出器アレイ18にあたるX線ビーム16を狭いビームに保持し、投影データの収集に対して、効果すなわち影響を及ぼすことなく患者に対するX線量を低減できる。
【0023】
詳しく述べると、ダイナミック動きエラーを用いて、ガントリ12の回転に起因するX線ビーム16の位置エラーに対する調整すなわち補正を行う。より詳しく述べると、X線源14や検出器アレイ18などのガントリ12のコンポーネントが回転するのに伴い、重力および遠心力によってX線ビーム16のz軸位置エラーが生じる。実施の一形態では、線源14の物理的構造およびガントリ12の設計の結果として、ガントリ12の回転に起因するz軸X線ビーム位置エラー量、または動きの量は、いずれの回転でも一貫していて、かつ一定である。このため、ダイナミック動きエラーはガントリ12の最初の回転、すなわち第1の回転中に生じたX線ビーム位置エラー量を計測することにより決定され、後続の回転に対して用いることができる。
【0024】
具体的に述べると、ダイナミック動きエラーは、ガントリ12の少なくとも第1の位置または角度に対するX線ビーム16の位置エラーを計測することにより決定される。実施の一形態では、X線ビーム16の位置エラーは、検出器アレイ18からの出力信号を利用して、ガントリ12の複数の位置または角度に対して決定すなわち計測される。具体的に述べると、ガントリ12の選択した各位置、すなわち各角度に対して、所望のすなわち期待されるX線ビーム16の位置と計測したX線ビーム16の位置の間の差を決定することにより対応する位置エラーが求められる。実施の一形態では、その計測した、すなわち実際のX線ビーム16の位置は、それぞれが検出器セル90、92、94および96により出力される信号強度2A、1A、2Bおよび1Bの強度値を、比[(2A/1A)−(2B/1B)]に従って関連づけることにより決定される。実施の一形態では、その比はコンピュータ36により決定し、またX線ビーム16および検出器アレイ18の応答が均一であると仮定すると、量(2A/1A)が量(2B/1B)に等しいときに、X線ビーム16の本影は検出器アレイ18上で中央にくる。
【0025】
ダイナミック動きエラーは、実施の一形態では、ガントリ12の選択した各位置毎に、X線ビームのz軸位置エラーをメモリ、たとえばコンピュータ36内に格納することにより決定される。次いで、位置エラーを特徴づけ、ガントリ12の特定の速度および傾斜角度に対するダイナミック動きエラーを決定する。詳細に実施の一形態では、その計測した位置エラーを、計測した位置エラーの平均値を決定することにより特徴づける。位置エラーが各回転に対して一貫しているため、このダイナミック動きエラーを次に後続のスキャンに対して利用する。詳しく述べると、、ガントリ12の速度および傾斜角度を決定したのち、決定されたダイナミック動きエラーを利用してコリメータ100の位置を変更し、X線ビーム16のダイナミック動き位置エラーに対する補正を行う。より詳しく述べると、、カム120Aおよび120Bのうちの少なくとも1つの位置を変更すなわち調整し、X線ビーム16の位置を変更する。
【0026】
たとえば、ガントリ12の第1のスキャン回転中に、それぞれセル90、92、94および96からの出力信号2A、1A、1Bおよび2Bを、ガントリ12の各30度回転毎にDAS32を用いて計測すなわち収集する。関係[(2A/1A)−(2B/1B)]を用いて、X線ビーム16の位置を計測すなわち決定し、さらにX線ビーム16の所望の位置と比較してz軸ダイナミック動き位置エラーを決定する。より詳しく述べると、計測した量[(2A/1A)−(2B/1B)]と、ガントリ12の12カ所(360度/30度)の位置のそれぞれに対するX線ビーム16の所望の位置との差を決定する。次いで、この差は格納され、特定のガントリ速度および角度に対して特徴づけられ、ダイナミック動きおよびエラーが決定される。
【0027】
ダイナミック動きエラーが決定されたのちは、X線ビーム16の位置を変更し、ダイナミック動きエラーに対する補正が可能となる。詳しく述べると、ガントリ12の選択した各位置に対して、カム120Aおよび120Bの位置を変更し、X線ビーム16の位置が調整され、ダイナミック動きエラーに対する補正がなされる。具体的に述べると、カム120Aおよび120Bの位置は、選択した各位置に対するダイナミック動きエラーに従った随伴をする、すなわち移動する。たとえば、特徴づけられたダイナミック動きエラーが線形近似を示す実施の一形態では、ガントリ12が回転するのに伴い100ms毎に、そのカム120Aおよび120Bの位置を移動させ、すなわち位置変更し、X線ビーム16のダイナミック動き位置エラーに対する補正を行う。
【0028】
別の実施の形態では、その出力信号2A、1A、1Bおよび2Bを利用してX線ビームの中心線102に関するX線ビーム16の第1の部分と第2の部分に対するz軸ダイナミック動き位置エラーを決定する。より詳しく述べると、(2A/1A)の関係を用い、検出器18に関するX線ビーム16の第1の部分の位置、すなわちセル90および92に関するX線ビーム16の中心線102からの幅を決定する。同様に、関係(2B/1B)を用いて、検出器18に関するX線ビーム16の第2の部分の位置、すなわちセル94および96に関するX線ビーム16の中心線からの幅を決定する。次いで、X線ビーム16の各部分について、計測した量(2A/1A)とX線ビーム16の第1の部分の所望の位置との差を決定する。同様に、計測した量(2B/1B)とX線ビーム16の第2の部分の所望の位置との差を決定する。第1の部分と第2の部分との差を格納し、特定のガントリ速度および角度に対して特徴づけし、上記のようにしてダイナミック動きおよびエラーを決定する。次いで、X線ビーム16の各部分の位置を変更し、ダイナミック動きエラーに対する補正を行う。詳しく述べると、ガントリ12の選択した各位置に対し、カム120Aの位置を変更して、X線ビーム16の第1の部分のダイナミック動きエラーに対する補正を行う。同様に、ガントリ12の選択した各位置に対し、カム120Bの位置を変更して、X線ビーム16の第2の部分のダイナミック動きエラーに対する補正を行う。具体的に述べると、カム120Aの位置は、選択した各位置に対する第1の部分のダイナミック動きエラーに従って独立に追従する、すなわち動く。同様に、カム120Bの位置は選択した各位置に対する第2の部分のダイナミック動きエラーに従って独立に追従する、すなわち動く。
【0029】
実施の一形態では、ダイナミック動きエラーを決定したのち、システム10の熱ドリフト・エラーを決定する。この熱ドリフト・エラーを利用し、システム80はシステム10の熱ドリフトに起因するX線ビーム16の位置エラーに対する調整すなわち補正を行う。実施の一形態では、その熱ドリフト・エラーは実際の熱ドリフトおよび予測熱ドリフトを含む。実際の熱ドリフトは、ガントリ12の先行する回転中のシステム10の温度変化に起因するX線ビーム16の動きの計測量またはエラーの計測量を含む。予測熱ドリフトは、先行するスキャンから経た時間量、すなわちの経過時間に従ってシステム10の全温度範囲から生じるX線ビームの熱ドリフトの総量の一部分を含む。実施の一形態では、そのX線ビーム16のz軸方向の位置を変更し、線源14により生じる予測熱ドリフトおよび実際の熱ドリフトに対する補正を行う。具体的に述べると、コリメータ・カム120Aおよび120Bのうちの少なくとも1つの位置を、X線ビーム16の位置が熱ドリフト・エラーに対して補正されるように移動させる。たとえば、実際の熱ドリフト・エラーは、ガントリ12の先行する1秒間の回転の間に最大0.002mmであり、システム10の予測熱ドリフト・エラーは先行するスキャンが完了して60分後の時点で0.6mmとなることがある。
【0030】
より詳しく述べると、第1のスキャン、すなわち最初のスキャンの完了に先立って、予測熱ドリフト・プロフィールを決定する。この予測熱ドリフト・プロフィールは、システム10の熱ドリフトを時間の関数として計測することにより決定する。システム10の予測熱ドリフト・プロフィールは、少なくとも1つの時点に対するシステム10の熱ドリフト量を検出器18を用いて計測すなわち決定することにより決定される。詳細に実施の一形態では、システム10の予測熱ドリフト・プロフィールは、線源14の温度が室温から最大動作温度まで変化し再び室温まで自然に降下する際の、複数の時点に対して決定される。各時点に対して、熱ドリフト・エラーの量を検出器18を利用して計測すなわち決定する。より詳しく述べると、上記のように、それぞれセル90、92、94および96からの2A、1A、1Bおよび2Bの出力信号と所望の位置との差を利用して熱ドリフトによるX線ビーム16のz軸位置を決定する。
【0031】
図7を参照すると、実施の一形態として、その予測熱ドリフト・プロフィールは、システム10の温度範囲の全体にわたる各時点に対する計測した、すなわち決定した熱ドリフト・エラーに線形関数をあてはめることにより決定される。別の実施の形態では、その予測熱ドリフト・プロフィールは、X線ビーム16の決定した熱ドリフト・エラーに指数関数的減衰関数をあてはめることにより決定される。予測熱ドリフト・プロフィールおよび先行する(すなわち前回の)スキャンからの経過時間を利用して、システム10の予測熱ドリフトが決定される。
【0032】
予測熱ドリフトを決定したのち、第1のスキャン、すなわち最初のスキャンを完了させる、すなわち実行する。このスキャンの実行に先立って、コリメータ100を用いてX線ビーム16の位置を調整し、予測熱ドリフトに対する補正を行う。スキャンが完了しようとするときに、検出器18を用いて、X線ビーム16の少なくとも1つの実際の熱ドリフト位置を決定する。詳しく述べると、ガントリ12が第1の回転、または扇形移動(segment) を完了するのに伴い、検出器18を用いて複数の実際の熱ドリフト位置を決定すなわち計測する。実施の一形態では、次いで、計測した実際の熱ドリフト位置の平均値を決定することにより、第1の回転に対する実際の熱ドリフトを決定する。次いで、この実際の熱ドリフトを後続の回転に対して利用して、ガントリ12の先行する回転からの実際の熱ドリフトに対する調整すなわち補正を行う。
【0033】
操作にあたっては、単に患者22に対する第2のスキャン、すなわち後続のスキャンに先だち、システム10の熱ドリフト・エラーに基づいてコリメータ100を位置変更、すなわち移動させるだけでよい。より詳しく述べると、実際の熱ドリフトと予測熱ドリフトを組み合わせて、システム10の熱ドリフトに対する補正を行う。具体的に述べると、このスキャンの間に、直前の回転または扇形移動からの経過時間を、タイマ(図示せず)を用いて決定する。予測熱ドリフト・プロフィールおよび先行する回転からの経過時間を利用して、予測熱ドリフトを決定する。実施の一形態では、次いで、実際の熱ドリフトを予測熱ドリフトと組み合わせて、コリメータ100の位置を決定する。より詳しく述べると、カム120Aおよび120Bの位置を位置変更、すなわち移動させて、先行する回転からの予測熱ドリフトと実際の熱ドリフトの組み合わせに対する補正を行う。
【0034】
実施の一形態では、X線源14は通常スキャンの開始に先立って通電されるため、X線ビーム16の実際の熱ドリフトは、短縮させた更新間隔を用いて計測すなわち決定し、コリメータ100がガントリ12の回転開始前に適正に位置決めされるようにする。詳しく述べると、、ガントリ12の回転の直前にX線ビーム16の計測した位置と所望の位置との差を決定することにより、実際の熱ドリフトを上記のように決定する。カム120Aおよび120Bの位置は、所望の位置と計測した位置の間のいかなる差に対しても補正ができるように調整される。
【0035】
ガントリ12が回転し始めると、位置エラー・プロフィールによりX線ビーム16のz軸位置を調整し、システム10のダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーに対する補正を行う。より詳しく述べると、、ガントリ12の回転に伴い、コリメータ100の位置を調整し、ダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーに対する補正を行う。具体的に述べると、ガントリ12の回転に伴い、コリメータ100の位置を調整し、所望の各位置に関し、一定である先行する回転の熱ドリフト・エラーと変動するダイナミック動きエラーとの組み合わせに対する調整を行う。カム120Aおよび120Bの位置は、組み合わせた位置エラー・プロフィール、たとえば一定である熱ドリフト・エラーにダイナミック動きエラーを加えた量の線形近似に従って追随、すなわち移動させる。たとえば、図8に示す実施の一形態では、カム120Aおよび120Bの位置を、ガントリ12の1秒間の回転の間に50回、移動すなわち位置変更させる。詳しく述べると、カム120Aおよび120Bの位置は、ガントリ12の選択した速度および傾斜角度に対するダイナミック動きエラーと熱ドリフト・エラーとの同期した組み合わせを反映するように移動させる。その結果、X線ビーム16の位置が調整され、ダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーに対する補正が行われ、これにより画質を低下させずに患者線量を軽減することができる。
【0036】
さらに別の実施形態では、そのダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーは、選択した時間ベースまたは事象発生ベースで更新される。たとえば、それぞれのエラーは、選択した時間単位、たとえば100時間稼働毎に置換すなわち更新されることがあり、また選択した日数、たとえば暦日30日毎に置換すなわち更新されることがある。同様に、ダイナミック動きエラーおよび熱ドリフト・エラーは、ガントリ12内のあるコンポーネントを交換または修理する毎に、たとえば線源14や検出器18を交換または修理する毎に、置換すなわち更新されることがある。追加として実施の一形態では、少なくとも2つの履歴の、すなわち過去のダイナミック動きエラーを利用して、差分履歴(difference history)ダイナミック動きエラーを決定することもできる。次いで、この差分履歴ダイナミック・エラーを用いてダイナミック動きエラーを決定することができる。具体的に実施の一形態では、その各履歴エラーを互いに平均し、ダイナミック動きエラーを決定する。別の実施の形態では、この履歴エラーにリカーシブ・フィルタ(recursive filter)を適用し、ダイナミック動きエラーを決定する。
【0037】
別の実施形態では、各回転、すなわち各スキャン中に、少なくとも1つの実際の位置エラーを求める、すなわち決定する。実際の位置エラーによりシステム10を監視して、過大エラーを検出する。実際の位置エラーが、あらかじめ選択した限度または範囲を超えた場合には、補正動作を実行、すなわち完了させる。たとえば、実際のエラーがあらかじめ選択した限度を超えた場合、その補正動作は現在のスキャンの中止または終了を含む。別の実施形態では、その補正動作は修理要求の記録を含む。さらに別の実施形態では、検出器アレイ18の遮断(blockage)により実際のエラーが発生する場合、システム80は、実際の過大エラーが規定の回数、すなわち選択した回数起きたのちに補正動作を起動させる。
【0038】
上記の補正システムによりX線ビームの位置が調整され、イメージング・システムのダイナミック動きおよび温度動きが補正される。さらに、X線ビーム位置が最適化され、画質を低下させずに患者線量を軽減することができる。
【0039】
本発明に関する以上の様々な実施の形態から、本発明の目的が達成されることは明白であろう。本発明を詳細に記載し図示してきたが、これらは説明および例示のためのものに過ぎず、本発明を限定する意図ではないことを明瞭に理解されたい。たとえば本明細書に記載したCTシステムは、X線源および検出器の両方がガントリと共に回転する「第3世代」のシステムである。検出器が全環状で静止しておりX線源のみがガントリと共に回転する方式の「第4世代」のシステムなど、他の多くのCTシステムを用いることもできる。同様に、本明細書に記載したCTシステムは4スライス形であるが、任意のマルチスライス形システム、たとえば2スライス、3スライス、6スライス形を用いることもできる。また、トラッキング補正システムを詳細に記載してきたが、X線源14および/または検出器アレイ18の位置を変更することによってX線ビーム位置を調整することも可能である。したがって、本発明の精神および範囲は、特許請求の範囲によって限定されるべきものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 CTイメージング・システムの絵画的斜視図である。
【図2】 図1に示すシステムのブロック線図である。
【図3】 CTシステムの検出器アレイの斜視図である。
【図4】 検出器モジュールの斜視図である。
【図5】 図1に示すCTイメージング・システムの略図である。
【図6】 本発明の実施の一形態によるトラッキング制御システムを含むCTイメージング・システムの略図である。
【図7】 本発明の実施の一形態による予測熱ドリフト・プロフィールを表すグラフである。
【図8】 コリメータ・カムの動きを時間に対して表したグラフである。
【符号の説明】
10 コンピュータ断層撮影(CT)イメージング・システム
12 ガントリ
14 X線源
16 X線ビーム
18 検出器アレイ
20 検出器素子
22 患者
24 回転中心
26 制御機構
28 X線制御装置
30 ガントリ・モータ制御装置
32 データ収集システム(DAS)
34 画像再構成装置
36 コンピュータ
38 大容量記憶装置
40 コンソール
42 陰極線管表示装置
44 テーブル・モータ制御装置
58 検出器モジュール
60 検出器ハウジング
62 シンチレータ・アレイ
64 基板
66 スイッチ装置
68 デコーダ
70 電線
80 X線ビーム・トラッキング制御回路(またはシステム)
82、84、86、88 検出器セルの行
90、92、94、96 検出器セル
98 焦点
100 プリペイシェント・コリメータ
102 ファンビーム平面
120A、120B カム
2A、1A、2B、1B 出力信号強度
Claims (11)
- z軸に沿って変位して配置された、画像再構成に使用する投影データを得るために使用される少なくとも2行の検出器セル(20)を有するマルチスライス形検出器アレイ(18)と、X線ビーム(16)を検出器アレイ(18)に向けて放射するためのX線源(14)とを含むイメージング・システム(10)において、X線ビームのz軸ドリフトを補正するための方法であって、
前記マルチスライス形検出器アレイ(18)を構成する検出器セル(20)のうちの少なくとも2行の検出器セル(20)から出力される信号の強度から第1のスキャンに対するX線ビーム位置エラー・プロフィールを決定するステップと、
前記決定されたX線ビーム位置エラー・プロフィールに基づいて、後続のスキャンに対するX線ビーム位置を調整するステップと、を含む方法。 - 前記検出器アレイ(18)および前記X線源(14)が回転自在のガントリ(12)に結合されており、前記X線ビーム位置エラー・プロフィールを決定する前記ステップが前記ガントリ(12)の第1の回転に対するX線ビームz軸ダイナミック動きエラーを決定するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記X線ビームz軸ダイナミック動きエラーを決定する前記ステップが、 前記検出器アレイ(18)を用いて、前記ガントリ(12)の少なくとも第1の位置に対する計測したX線ビーム位置を決定するステップと、 各計測したX線ビーム位置に対する所望のX線ビーム位置を決定するステップと、 各計測したX線ビーム位置と各所望のX線ビーム位置との差を決定するステップと、を含む、請求項2に記載の方法。
- 前記検出器アレイ(18)を用いて前記計測したX線ビーム位置を決定する前記ステップが、 前記検出器アレイ(18)の第1の検出器セル行内の少なくとも第1の検出器セル(20)、第2の検出器セル行内の少なくとも第2の検出器セル(20)、第3の検出器セル行内の少なくとも第3の検出器セル(20)、および第4の検出器セル行内の少なくとも第4の検出器セル(20)から別々に信号を獲得するステップと、 これらの別々の信号の強度からX線ビームのz軸位置を決定するステップと、を含み、前記第1乃至第4の検出器セル(20)は、画像再構成に使用する投影データを得るために使用される、請求項3に記載の方法。
- 少なくとも第1の位置に対して前記計測したX線ビーム位置を決定する前記ステップが、複数のガントリ位置に対する計測したX線ビーム位置を決定するステップを含む、請求項3に記載の方法。
- 前記ガントリが回転するのに伴い、所定の時間毎にX線ビーム位置の調整が行われる、請求項2に記載の方法。
- X線ビームのz軸熱ドリフト・エラーを決定するステップを含み、
該X線ビームのz軸熱ドリフト・エラーを決定する前記ステップが、予測熱ドリフトを決定するステップを含み、
該予測熱ドリフトを決定する前記ステップが、予測熱ドリフト・プロフィールを決定するステップと、前記ガントリ(12)の前回の回転からの経過時間を決定するステップとを含む、請求項2に記載の方法。 - 前記システム(10)がさらに、X線ビーム(16)のz軸位置を変更するために複数の位置を有するプリペイシェント・コリメータ(100)を含んでおり、前記決定したX線ビーム位置エラー・プロフィールに基づき後続のスキャンに対するX線ビーム位置を調整する前記ステップが、前記プリペイシェント・コリメータ(100)の位置を変更するステップを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記プリペイシェント・コリメータ(100)が、X線ビーム(16)に対し互いに反対側に配置された少なくとも第1のカム(120A)および第2のカム(120B)を含んでおり、前記プリペイシェント・コリメータ(100)の位置を変更する前記ステップが、第1のカム(120A)および第2のカム(120B)のうちの少なくとも1つの位置を変更するステップを含む、請求項8に記載の方法。
- 第1のスキャンの間に少なくとも1つの実際の位置エラーを決定するステップと、 その差が事前に選択した限度を超えているか否かを決定するステップと、 決定した前記差が前記事前に選択した限度を超えていた場合に補正動作を実行するステップと、をさらに含む請求項1に記載の方法。
- z軸に沿って変位して配置された少なくとも2行の検出器セル(20)を有するマルチスライス形検出器アレイ(18)と、X線ビーム(16)を検出器アレイ(18)に向けて放射するためのX線源(14)とを含み、請求項1乃至10のいずれかに記載の方法に従ってX線ビームのz軸ドリフトを補正するイメージング・システム(10)であって、
第1のスキャンに対するX線ビーム位置エラー・プロフィールを決定するコンピュータ(36)と、
前記決定されたX線ビーム位置エラー・プロフィールに基づいて、後続のスキャンに対するX線ビーム位置を調整するX線ビーム・トラッキング制御システム(80)と、を含むイメージング・システム(10)。
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