JP2006107696A - 光情報記録媒体、その記録方法及び試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 最高記録速度がＤＶＤ＋ＲＷの８倍速を超える相変化技術を応用した書き換え型光情報記録媒体に対して、ＣＡＶ記録、即ち媒体の最高記録速度以下での任意の記録速度で記録できる記録方法、及び該光情報記録媒体の試験方法の提供。
【解決手段】 光情報記録媒体に長さｎＴのマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終冷却パルスの長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）とする記録方法。
【選択図】 図１
【解決手段】 光情報記録媒体に長さｎＴのマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終冷却パルスの長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）とする記録方法。
【選択図】 図１
Description
本発明は、光情報記録媒体、特に、相変化材料を記録層に用いた書き換え型光ディスク（ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなど）に適用される記録方法と、該記録方法による記録が容易に行える光情報記録媒体に関する。
記録速度に対して、線形関数でパラメータを設定することは知られている（特許文献１〜３など）。また、特許文献２〜３には、ステップ状にパラメータを変化させる技術が開示されている。更に、本出願人の先願である特願２００３−００５０６８では、２Ｔストラテジを用いてＣＡＶ記録を行う際に、１パルス目のディレイ量を変化させる発明について提案した。
しかしながら、上記何れの場合も、本発明の特徴である最終加熱パルス及び／又は最終冷却パルスの長さ（照射時間）を不連続に変化させる点については記述されていない。
しかしながら、上記何れの場合も、本発明の特徴である最終加熱パルス及び／又は最終冷却パルスの長さ（照射時間）を不連続に変化させる点については記述されていない。
ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷなどに代表される相変化技術を応用した書き換え型の光ディスクがオーディオビジュアル用途及びコンピュータの情報記録用途として広く普及している。更に近年のデジタル容量の大容量化により、これらの光ディスクへの記録速度の向上が期待されている。相変化技術を用いた光ディスクへの高速記録には、より速い走査速度での書換え性能と、より広い走査速度範囲での書換え性能の双方が要求される。前者は最高記録速度であり、後者は記録可能な速度範囲に相当する。特に後者は、ランダムアクセス記録の高速化に必須の技術であるＣＡＶ記録に対応するため約２．４倍の速度比率（最高速度／最低速度）が必要である。更にＣＡＶ記録においては、記録半径位置ｒに対して記録走査速度ｖが変化する、即ち、ｖ／ｒ＝一定となるため、最高記録速度以下の任意の記録速度で記録できる必要がある。更に最高速度が高くなると、走査速度範囲も必然的に広くなる。例えば、ＤＶＤ＋ＲＷの４倍速ディスクでは、ＣＡＶに必要な走査速度範囲は、５．８ｍ／ｓ〜１４．０ｍ／ｓであるが、８倍速に対応するためには、１１．６ｍ／ｓ〜２７．９ｍ／ｓと非常に広い範囲で記録できるように媒体・記録方法を開発する必要がある。
一方、最高記録速度を高めるためには、記録層材料をより高速記録向きの材料に変更する必要がある。通常ＤＶＤ＋ＲＷ、ＣＤ−ＲＷに代表される光ディスクの記録層材料には相変化材料を用いる。例えばアモルファス状態と結晶状態の間を可逆的に変化させることができる合金を用いるのが一般的である。高速化においては、アモルファスから結晶への相変化を高速にするため結晶化速度の速い相変化材料を用いることが必要である。しかし結晶化速度を高めることにより、低速記録時の結晶状態のコントロールが非常に困難になる。そのため、最高記録速度に近い速度領域と最低記録速度に近い速度領域とで記録方法（記録ストラテジ）を大きく変更する必要がある。従って高速記録に対応する記録層材料を用いると、最高記録速度以下の任意の記録速度で記録することが非常に困難になるという問題がある。
そこで本発明は、最高記録速度がＤＶＤ＋ＲＷの８倍速を超える相変化技術を応用した書き換え型光情報記録媒体に対して、ＣＡＶ記録、即ち媒体の最高記録速度以下での任意の記録速度で記録できる記録方法（記録ストラテジ）、該記録方法で記録可能な光記録媒体及びその試験方法の提供を目的とする。
そこで本発明は、最高記録速度がＤＶＤ＋ＲＷの８倍速を超える相変化技術を応用した書き換え型光情報記録媒体に対して、ＣＡＶ記録、即ち媒体の最高記録速度以下での任意の記録速度で記録できる記録方法（記録ストラテジ）、該記録方法で記録可能な光記録媒体及びその試験方法の提供を目的とする。
上記課題は、次の１）〜１８）の発明（以下、本発明１〜１８という）によって解決される。
１） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
２） 更に、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを逐次変化させることを特徴とする１）記載の光情報記録媒体への記録方法。
３） ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする１）又は２）記載の光情報記録媒体への記録方法。
４） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
５） 更に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを逐次変化させることを特徴とする４）記載の光情報記録媒体への記録方法。
６） ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする４）又は５）記載の光情報記録媒体への記録方法。
７） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎ、及び最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中の、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
８） ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つ、及びｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする７）記載の光情報記録媒体への記録方法。
９） ｎが偶数のときはｍ＝ｎ／２、ｎが奇数のときはｍ＝（ｎ−１）／２であることを特徴とする１）〜８）の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。
１０） 媒体の最高記録走査速度をｖＨとし、最低記録走査速度をｖＬとするとき、
ｖＨ／ｖＬ≧２．４、
０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨ
であることを特徴とする１）〜９）の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。
１１） １）〜３）の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１２） ４）〜６）の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１３） ７）又は８）記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１４） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査すると共に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
１５） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することでマークを記録し、マークを記録しない領域（スペース）にはパワーＰｅ（Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｃ）の消去パルスを照射することで既に書かれたマークを消去してダイレクトオーバーライトを行うことが可能な光情報記録媒体に対し、Ｐｅを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
１６） ｎ＝３のマークとスペース（マーク間）の繰り返しの単一パターンを試験記録することを特徴とする１４）又は１５）記載の光情報記録媒体の試験方法。
１７） 走査速度ｖを、最高記録速度と最低記録速度の平均値にすることを特徴とする１４）〜１６）の何れかに記載の光情報記録媒体の試験方法。
１８） 走査速度ｖを最低記録速度とし、ｎ＝４のマークとスペースからなる単一パターンを試験記録することを特徴とする１４）又は１５）記載の光情報記録媒体の試験方法。
１） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
２） 更に、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを逐次変化させることを特徴とする１）記載の光情報記録媒体への記録方法。
３） ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする１）又は２）記載の光情報記録媒体への記録方法。
４） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
５） 更に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを逐次変化させることを特徴とする４）記載の光情報記録媒体への記録方法。
６） ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする４）又は５）記載の光情報記録媒体への記録方法。
７） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎ、及び最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中の、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。
８） ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つ、及びｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする７）記載の光情報記録媒体への記録方法。
９） ｎが偶数のときはｍ＝ｎ／２、ｎが奇数のときはｍ＝（ｎ−１）／２であることを特徴とする１）〜８）の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。
１０） 媒体の最高記録走査速度をｖＨとし、最低記録走査速度をｖＬとするとき、
ｖＨ／ｖＬ≧２．４、
０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨ
であることを特徴とする１）〜９）の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。
１１） １）〜３）の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１２） ４）〜６）の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１３） ７）又は８）記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
１４） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査すると共に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
１５） 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することでマークを記録し、マークを記録しない領域（スペース）にはパワーＰｅ（Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｃ）の消去パルスを照射することで既に書かれたマークを消去してダイレクトオーバーライトを行うことが可能な光情報記録媒体に対し、Ｐｅを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
１６） ｎ＝３のマークとスペース（マーク間）の繰り返しの単一パターンを試験記録することを特徴とする１４）又は１５）記載の光情報記録媒体の試験方法。
１７） 走査速度ｖを、最高記録速度と最低記録速度の平均値にすることを特徴とする１４）〜１６）の何れかに記載の光情報記録媒体の試験方法。
１８） 走査速度ｖを最低記録速度とし、ｎ＝４のマークとスペースからなる単一パターンを試験記録することを特徴とする１４）又は１５）記載の光情報記録媒体の試験方法。
以下、上記本発明について詳しく説明する。
（適用する媒体について）
本発明の記録方法を適用する光情報記録媒体は、情報の線密度が一定の光情報記録媒体であると同時に異なる記録速度で記録及び書き換え可能である必要がある。記録方式は、クロック周期Ｔの自然数倍のマーク長・マーク間長（スペース長）に情報を持たせるパルス幅変調方式が望ましく、ＲＬＬ（Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ）方式が光ディスクでは一般的に使用されている。これらの例としては、ＣＤ−ＲＷのＥＦＭ、ＤＶＤ＋ＲＷ及びＤＶＤ−ＲＷのＥＦＭ＋がある。この場合、記録速度ｖとクロック周期Ｔは、情報線密度を一定に保つため、ｖ×Ｔ＝一定とする必要がある。更に、ＣＡＶ記録に対応するためには、ｖはディスク半径位置ｒに対して、ｖ／ｒ＝一定とする必要がある。従って、媒体の任意の半径位置にＣＡＶで記録するためには、媒体の最高記録速度ｖＨ以下、最低記録速度ｖＬ以上の任意の速度ｖで記録できる必要がある。ｖＨ，ｖＬは、ＣＤ、ＤＶＤに代表される直径１２０ｍｍの光ディスクの場合は、ｖＨ／ｖＬ≧２．４とすることが望ましい。
また、本発明の記録方法を適用する光情報記録媒体は、強度変調した光を記録層近傍に照射及び走査して記録層材料に結晶相とアモルファス相の状態変化を発生させ、アモルファスマークを形成することで情報を記録する。更に、本発明の記録方法の効果が明瞭に現れるためには、結晶化速度の高い記録層材料を用いた光ディスクが好ましく、最高記録速度ｖＨは２０ｍ／ｓ以上であることが好ましい。
（適用する媒体について）
本発明の記録方法を適用する光情報記録媒体は、情報の線密度が一定の光情報記録媒体であると同時に異なる記録速度で記録及び書き換え可能である必要がある。記録方式は、クロック周期Ｔの自然数倍のマーク長・マーク間長（スペース長）に情報を持たせるパルス幅変調方式が望ましく、ＲＬＬ（Ｒｕｎ Ｌｅｎｇｔｈ Ｌｉｍｉｔｅｄ）方式が光ディスクでは一般的に使用されている。これらの例としては、ＣＤ−ＲＷのＥＦＭ、ＤＶＤ＋ＲＷ及びＤＶＤ−ＲＷのＥＦＭ＋がある。この場合、記録速度ｖとクロック周期Ｔは、情報線密度を一定に保つため、ｖ×Ｔ＝一定とする必要がある。更に、ＣＡＶ記録に対応するためには、ｖはディスク半径位置ｒに対して、ｖ／ｒ＝一定とする必要がある。従って、媒体の任意の半径位置にＣＡＶで記録するためには、媒体の最高記録速度ｖＨ以下、最低記録速度ｖＬ以上の任意の速度ｖで記録できる必要がある。ｖＨ，ｖＬは、ＣＤ、ＤＶＤに代表される直径１２０ｍｍの光ディスクの場合は、ｖＨ／ｖＬ≧２．４とすることが望ましい。
また、本発明の記録方法を適用する光情報記録媒体は、強度変調した光を記録層近傍に照射及び走査して記録層材料に結晶相とアモルファス相の状態変化を発生させ、アモルファスマークを形成することで情報を記録する。更に、本発明の記録方法の効果が明瞭に現れるためには、結晶化速度の高い記録層材料を用いた光ディスクが好ましく、最高記録速度ｖＨは２０ｍ／ｓ以上であることが好ましい。
（記録ストラテジ）
これらの高速記録に対応した媒体への情報記録は、前述の通り強度変調した光を照射・走査することにより行う。これらの記録方法は一般的に「記録ストラテジ」と呼ばれる。長さｎＴの記録マークを形成するときは、ｍ個の加熱パルス（パワーＰｗ）とｍ個の冷却パルス（パワーＰｂ）を交互に照射することで行う。このとき、Ｐｗ≫Ｐｂである。また、Ｐｗは記録時の走査速度に合わせて任意に変更することが可能であるが、記録層を溶融させ得るだけのパワーを設定する必要がある。ＤＶＤ＋ＲＷの８倍速に対応するためには、Ｐｗは２０〜４０ｍＷの範囲が好ましい。Ｐｂは加熱パルスによって溶融した記録層が急冷されるだけ十分に低い必要があり、０〜１ｍＷの範囲が望ましい。
パルス数ｍは任意に設定できるが、ｍ＜ｎとすることによりマーク長の制御を容易にできる。更に、ｍ＝ｎ−ｋ（ｋは１以上の自然数）とすることにより、マーク長とパルス数を比例関係とすることができ、マーク長の制御が更に容易になる。例としてＤＶＤ＋ＲＷのｍ＝ｎ−１がある。しかし、ＤＶＤ＋ＲＷの８倍速相当になると、Ｔが４．８ｎｓ以下となる。これに対して、既存のＬＤの応答時間は、１０〜９０％で１．５ｎｓ以上となっており往復で３ｎｓ以上を要する。従って４．８ｎｓの発光周期に対して損失が大きく、十分な加熱・冷却効果を得ることができない。故にＴが短い高速記録に対応するにはｍを少なくする必要がある。
これらの高速記録に対応した媒体への情報記録は、前述の通り強度変調した光を照射・走査することにより行う。これらの記録方法は一般的に「記録ストラテジ」と呼ばれる。長さｎＴの記録マークを形成するときは、ｍ個の加熱パルス（パワーＰｗ）とｍ個の冷却パルス（パワーＰｂ）を交互に照射することで行う。このとき、Ｐｗ≫Ｐｂである。また、Ｐｗは記録時の走査速度に合わせて任意に変更することが可能であるが、記録層を溶融させ得るだけのパワーを設定する必要がある。ＤＶＤ＋ＲＷの８倍速に対応するためには、Ｐｗは２０〜４０ｍＷの範囲が好ましい。Ｐｂは加熱パルスによって溶融した記録層が急冷されるだけ十分に低い必要があり、０〜１ｍＷの範囲が望ましい。
パルス数ｍは任意に設定できるが、ｍ＜ｎとすることによりマーク長の制御を容易にできる。更に、ｍ＝ｎ−ｋ（ｋは１以上の自然数）とすることにより、マーク長とパルス数を比例関係とすることができ、マーク長の制御が更に容易になる。例としてＤＶＤ＋ＲＷのｍ＝ｎ−１がある。しかし、ＤＶＤ＋ＲＷの８倍速相当になると、Ｔが４．８ｎｓ以下となる。これに対して、既存のＬＤの応答時間は、１０〜９０％で１．５ｎｓ以上となっており往復で３ｎｓ以上を要する。従って４．８ｎｓの発光周期に対して損失が大きく、十分な加熱・冷却効果を得ることができない。故にＴが短い高速記録に対応するにはｍを少なくする必要がある。
ｍを少なくする例として、ＵＳ ＣＤ−ＲＷの標準規格書である、Ｏｒａｎｇｅ Ｂｏｏｋ Ｐａｒｔ III ｖｏｌｕｍｅ ３ ｖｅｒｓｉｏｎ１．１で採用される、２Ｔストラテジが挙げられる。
図１に２Ｔストラテジの例を示す。図１（ａ）はＮＲＺＩ（Ｎｏ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ、ノーリターン・ツー・ゼロインバーテッド）データを示す。図１（ｂ）は、ｎ＝３，ｍ＝１の場合であり、図１（ｃ）はｎ＝８，ｍ＝４の場合である。即ち、２Ｔストラテジでは、ｎが偶数の場合に、ｍ＝ｎ／２とし、ｎが奇数の場合は、ｍ＝（ｎ−１）／２とすることにより、加熱パルスの周期が約２Ｔとなる。ｍ＝ｎ−１の場合に比べて、Ｔが短い高速記録でも記録層を溶融・急冷することが可能である。更に、ＤＶＤの８倍速以上の高速記録に対応するためには、ｍ≦ｎ／２とすることが好ましい。
加熱パルス及び冷却パルスの長さ（照射時間）はそれぞれ任意に設定できるが、記録時の走査速度ｖ及びクロック周期Ｔの変化に応じて適切な値を設定する必要がある。
図１に２Ｔストラテジの例を示す。図１（ａ）はＮＲＺＩ（Ｎｏ Ｒｅｔｕｒｎ ｔｏ Ｚｅｒｏ Ｉｎｖｅｒｔｅｄ、ノーリターン・ツー・ゼロインバーテッド）データを示す。図１（ｂ）は、ｎ＝３，ｍ＝１の場合であり、図１（ｃ）はｎ＝８，ｍ＝４の場合である。即ち、２Ｔストラテジでは、ｎが偶数の場合に、ｍ＝ｎ／２とし、ｎが奇数の場合は、ｍ＝（ｎ−１）／２とすることにより、加熱パルスの周期が約２Ｔとなる。ｍ＝ｎ−１の場合に比べて、Ｔが短い高速記録でも記録層を溶融・急冷することが可能である。更に、ＤＶＤの８倍速以上の高速記録に対応するためには、ｍ≦ｎ／２とすることが好ましい。
加熱パルス及び冷却パルスの長さ（照射時間）はそれぞれ任意に設定できるが、記録時の走査速度ｖ及びクロック周期Ｔの変化に応じて適切な値を設定する必要がある。
ＨＳ ＣＤ−ＲＷの標準規格書である、Ｏｒａｎｇｅ Ｂｏｏｋ Ｐａｒｔ III ｖｏｌｕｍｅ ２ ｖｅｒｓｉｏｎ１．１では、４倍速から１０倍速の記録・書き換えに対応するＣＤ−ＲＷの記録ストラテジを規定している。４倍速（ｖ＝４．８ｍ／ｓ，Ｔ＝５７．９ｎｓ）では、加熱パルス＝０．２Ｔ，冷却パルス＝０．８Ｔとし、８倍速（ｖ＝９．６ｍ／ｓ，Ｔ＝２８．９ｎｓ）では、加熱パルス＝０．４Ｔ，冷却パルス＝０．６Ｔとし、１０倍速（ｖ＝１２．０ｍ／ｓ，Ｔ＝２３．１ｎｓ）では加熱パルス＝０．５Ｔ，冷却パルス＝０．５Ｔとしている。即ち、高速になるほど、加熱パルスの長さはクロック周期に対して長くなり、冷却パルスの長さはクロック周期に対して短くなる。そのｖに対する依存性は比例関係になる。
ＤＶＤ＋ＲＷの標準規格書である、ＤＶＤ＋ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ ４．７Ｇｂｙｔｅｓ Ｂａｓｉｃ Ｆｏｒｍａｔ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ Ｓｙｓｔｅｍ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ ｖｅｒｓｉｏｎ１．２においては、１倍速から２．４倍速に対して加熱パルス幅を走査速度ｖの比例式で規定している。
また、前述した特許文献１〜３においては、加熱パルス・冷却パルスのそれぞれの長さを走査速度ｖの連続関数で記述することにより、任意の記録速度において最適な記録パラメータで記述できるとしている。
ＤＶＤ＋ＲＷの標準規格書である、ＤＶＤ＋ＲｅＷｒｉｔａｂｌｅ ４．７Ｇｂｙｔｅｓ Ｂａｓｉｃ Ｆｏｒｍａｔ Ｓｐｅｃｉｆｉｃａｔｉｏｎｓ Ｓｙｓｔｅｍ Ｄｅｓｃｒｉｐｔｉｏｎ ｖｅｒｓｉｏｎ１．２においては、１倍速から２．４倍速に対して加熱パルス幅を走査速度ｖの比例式で規定している。
また、前述した特許文献１〜３においては、加熱パルス・冷却パルスのそれぞれの長さを走査速度ｖの連続関数で記述することにより、任意の記録速度において最適な記録パラメータで記述できるとしている。
これらの何れの技術も、記録する速度領域、即ち、ｖＬ≦ｖ≦ｖＨの速度領域において、ｖが決定されれば、加熱パルス・冷却パルスの長さが一意的に決められるとしている。
しかし、前述のｖＨ≧２０ｍ／ｓに対応可能な記録層材料を用いた媒体では、これらの手法が適用できなくなっている。高速記録に対応するためには記録層材料の結晶化速度を高くする必要があるが、記録時の走査速度が速くなることによって、媒体に光が照射される時間は必然的に短くなる（走査速度に反比例する）。その結果、より短い時間で結晶化・アモルファス化を行う必要がある。アモルファス化は記録層を急冷することにより行うので、走査速度が高いほど急冷され易くなることから不具合はないが、結晶化は徐冷される必要があるため、照射時間が短くなると困難になる。そのため、記録層材料の結晶化速度を高くし、より短い照射時間で結晶化ができるようにする必要がある。
しかし、前述のｖＨ≧２０ｍ／ｓに対応可能な記録層材料を用いた媒体では、これらの手法が適用できなくなっている。高速記録に対応するためには記録層材料の結晶化速度を高くする必要があるが、記録時の走査速度が速くなることによって、媒体に光が照射される時間は必然的に短くなる（走査速度に反比例する）。その結果、より短い時間で結晶化・アモルファス化を行う必要がある。アモルファス化は記録層を急冷することにより行うので、走査速度が高いほど急冷され易くなることから不具合はないが、結晶化は徐冷される必要があるため、照射時間が短くなると困難になる。そのため、記録層材料の結晶化速度を高くし、より短い照射時間で結晶化ができるようにする必要がある。
しかし、このような結晶化速度が高い記録層材料では、僅かな記録条件の差により異常な結晶成長が発生し易い。図２に異常な結晶成長の例を模式的に示す。図１（ｂ）に示す記録ストラテジを用いて３Ｔマークと３Ｔスペースが交互に配列する単一パターンを記録した場合の記録マークの形状を図２（ａ）に示す（マーク形状は透過電子顕微鏡で観察することが可能である）。図示したように、マークＡとマークＣは正常な記録マークであるが、マークＢはマーク終端部に異常な結晶成長が発生している。このような異常結晶成長がある場合の再生信号は、図２（ｂ）に示す通り正常な場合（点線）に対して歪んでしまう。その結果、２値化後の信号は図２（ｃ）のようになり、異常結晶成長のあるマークＢのみ、３Ｔよりも短く再生されてしまう。
マークＢの発生比率を解析するためにＴＩＡ（タイムインターバルアナライザ）を用いて図２（ｃ）の２値化後の信号を測定すると図３のような結果を得ることができる。即ち、３Ｔを中心値とした正規分布をする成分と、より短い方に分布する成分とに分けられる。この短い方に分布する成分が異常結晶成長によるものである。正規分布するマーク（正常マーク）の個数に対して異常結晶成長のあるマーク（異常マーク）の個数の比率をとると、記録速度ｖと最終加熱パルス長ＴＬＰ３、最終冷却パルス長ＴＣＰ３に大きく依存することが分かった。
マークＢの発生比率を解析するためにＴＩＡ（タイムインターバルアナライザ）を用いて図２（ｃ）の２値化後の信号を測定すると図３のような結果を得ることができる。即ち、３Ｔを中心値とした正規分布をする成分と、より短い方に分布する成分とに分けられる。この短い方に分布する成分が異常結晶成長によるものである。正規分布するマーク（正常マーク）の個数に対して異常結晶成長のあるマーク（異常マーク）の個数の比率をとると、記録速度ｖと最終加熱パルス長ＴＬＰ３、最終冷却パルス長ＴＣＰ３に大きく依存することが分かった。
図４にＴＣＰ３，ｖに対する異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）依存性を示し、図５にＴＬＰ３，ｖに対する異常マークの存在比率依存性を示す。測定に用いた媒体はＤＶＤ＋ＲＷの８倍速（即ちｖＨ＝２７．９ｍ／ｓ）まで記録可能なサンプルである。何れの記録速度においても、あるＴの範囲で異常マークの比率が非常に高くなる。異常マークは前述の通り再生時に規格外の信号となるため、読み取りエラーの原因となる。その存在比率が１０−４を超える場合、訂正不能なエラーとなる可能性が高く、再生信号の信頼性が大幅に低下する。
異常マーク存在比率のＴＣＰｎ依存性を測定する手段を以下に説明する。
ｎＴマークとｎＴスペースが交互に配列するパターンの記録を行うことにより存在比率を評価する。その際、ＴＬＰｎはｖに対して任意に設定できるが、変調度・アシンメトリ・ジッタ等の諸特性が良好になる値に最適化されていることが好ましく、パルス列の他のパルス（即ち１番目からｍ−１番目のパルス）と略同一の照射時間に設定することが好ましい。その際、走査速度ｖに対して連続な設定でもよく、不連続な設定でも良い。
加熱パルスの照射パワー及び消去パワーは最適な記録パワーを設定する。最適記録パワーは媒体にプリフォーマットされている情報を用いてもよく、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ・Ｐｏｗｅｒ・Ｃｏｎｔｒｏｌ、最適記録パワー制御）によって設定してもよい。
走査速度はＴＣＰｎを不連続とする走査速度ｖ０に設定する。その際、走査速度に合わせてクロック周期Ｔも適切に設定することが必要である。
ｎＴマークとｎＴスペースが交互に配列するパターンの記録を行うことにより存在比率を評価する。その際、ＴＬＰｎはｖに対して任意に設定できるが、変調度・アシンメトリ・ジッタ等の諸特性が良好になる値に最適化されていることが好ましく、パルス列の他のパルス（即ち１番目からｍ−１番目のパルス）と略同一の照射時間に設定することが好ましい。その際、走査速度ｖに対して連続な設定でもよく、不連続な設定でも良い。
加熱パルスの照射パワー及び消去パワーは最適な記録パワーを設定する。最適記録パワーは媒体にプリフォーマットされている情報を用いてもよく、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ・Ｐｏｗｅｒ・Ｃｏｎｔｒｏｌ、最適記録パワー制御）によって設定してもよい。
走査速度はＴＣＰｎを不連続とする走査速度ｖ０に設定する。その際、走査速度に合わせてクロック周期Ｔも適切に設定することが必要である。
上記の設定でＴＣＰｎを変化させて試験記録を行う。ＴＣＰｎを変化させる範囲は任意に設定可能であるが、０Ｔ〜３Ｔの範囲が好ましい。長すぎる設定は冷却パルスが長くなり、低パワーで照射する時間が長くなるためトラッキングやフォーカシングが外れる可能性が高くなる。
上記の記録した領域を再生し異常マーク数の測定を行うが、測定には前述の通り適切な２値化装置とタイムインターバルアナライザを使用する。タイムインターバルアナライザの解析結果は前述の図３（ｎ＝３の例）のようになる。ここで、長さが（ｎ−０．５）Ｔ未満となるマークの個数を異常マーク数として測定する。これに対して、長さが（ｎ±０．５）Ｔの範囲にあるマーク数を正常マーク数として測定する。更に両者の比率をとり、異常マーク比率を算出する。
上記の記録した領域を再生し異常マーク数の測定を行うが、測定には前述の通り適切な２値化装置とタイムインターバルアナライザを使用する。タイムインターバルアナライザの解析結果は前述の図３（ｎ＝３の例）のようになる。ここで、長さが（ｎ−０．５）Ｔ未満となるマークの個数を異常マーク数として測定する。これに対して、長さが（ｎ±０．５）Ｔの範囲にあるマーク数を正常マーク数として測定する。更に両者の比率をとり、異常マーク比率を算出する。
このように測定される異常マーク存在比率の依存性を模式的に図１７に示す。
存在比率が１０−４となる範囲は次の（１）（２）の２通り求めることができる。
（１）ＴＣＰｎ≦ＴＣＰｎ（１）
（２）ＴＣＰｎ≧ＴＣＰｎ（２）
（１）（２）のそれぞれの範囲内で適切な値を設定し、
（１）では、ＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ０）、（２）ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ０）となるように、連続関数ｆ１，ｎ及びｆ２，ｎを設定する。それぞれの連続関数は最低記録速度と最高記録速度での良好な特性を得られるように設定する必要がある。
同様の手法を用いて、ＴＬＰｎと関数ｇ１，ｎ，ｇ２，ｎを設定することができる。
存在比率が１０−４となる範囲は次の（１）（２）の２通り求めることができる。
（１）ＴＣＰｎ≦ＴＣＰｎ（１）
（２）ＴＣＰｎ≧ＴＣＰｎ（２）
（１）（２）のそれぞれの範囲内で適切な値を設定し、
（１）では、ＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ０）、（２）ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ０）となるように、連続関数ｆ１，ｎ及びｆ２，ｎを設定する。それぞれの連続関数は最低記録速度と最高記録速度での良好な特性を得られるように設定する必要がある。
同様の手法を用いて、ＴＬＰｎと関数ｇ１，ｎ，ｇ２，ｎを設定することができる。
図６に異常マークが１０−４を超えるｖとＴＣＰ３の範囲を示す。図中の灰色の領域では、異常マークの存在比率が高いため、設定不可能である。ここで、３．３倍速（ｖ＝１１．５ｍ／ｓ）の点に着目すると、設定可能なパラメータはＴＣＰ３＞１．５Ｔに限定されている。一方、８倍速（ｖ＝２７．９ｍ／ｓ）では、ＴＣＰ３＞１．５ＴとＴＣＰ３＜０．６Ｔの２種類の解が許されるが、ＴＣＰ３＞１．５Ｔとすると、マーク長が長くなりすぎるため、正常な記録ができず、高いアシンメトリとなってしまう。従って、ＴＣＰ３＜０．６Ｔとすることが必要である。
ここでＣＡＶ記録に対応するためには、３．３〜８倍速（１１．５〜２７．９ｍ／ｓ）の範囲の任意の記録速度を設定可能とする必要がある。従来の技術では、３．３倍速と８倍速の設定値を単順に連続関数で内挿する方法が一般的である。その例を図７に示す。
図７の破線で示したパラメータ設定方法が従来のものである。例として最も単純な線形関数の場合を示した。この場合、中間速度では異常マーク数の多いパラメータ設定となってしまうため、記録された信号の再生信頼性が著しく低下することになる。
そこで、本発明の記録方法においては、異常マーク数の多い領域を避けてパラメータの設定を行う。即ち、ある中間速度ｖ０（但しｖＬ≦ｖ０≦ｖＨ）において不連続に変化させることにより、異常マークが多数発生するパラメータを回避する。
即ち、マークの長さｎＴ，加熱パルス数及び冷却パルス数ｍの場合のｍ番目の冷却パルスＴＣＰｎを、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
とし、ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）とすることによりエラーの高い領域を回避することを特徴とする。
図７の破線で示したパラメータ設定方法が従来のものである。例として最も単純な線形関数の場合を示した。この場合、中間速度では異常マーク数の多いパラメータ設定となってしまうため、記録された信号の再生信頼性が著しく低下することになる。
そこで、本発明の記録方法においては、異常マーク数の多い領域を避けてパラメータの設定を行う。即ち、ある中間速度ｖ０（但しｖＬ≦ｖ０≦ｖＨ）において不連続に変化させることにより、異常マークが多数発生するパラメータを回避する。
即ち、マークの長さｎＴ，加熱パルス数及び冷却パルス数ｍの場合のｍ番目の冷却パルスＴＣＰｎを、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
とし、ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）とすることによりエラーの高い領域を回避することを特徴とする。
図７には、ｎ＝３、即ちＴＣＰ３の例について示した。図中の実線で示したパラメータ設定方法が本発明である。なお、ここでは、ｖＨ＝２７．９ｍ／ｓ，ｖＬ＝１１．５ｍ／ｓ，ｖ０＝２０．９ｍ／ｓに設定した。
ｖ＝ｖ０において、設定値を不連続に大きく変化させることにより、異常マーク領域を回避している。
関数が不連続となる速度ｖ０は任意に設定可能であるが、ＴＣＰｎが異常マークの多い設定よりも長い領域と短い領域で、良好な特性（ジッタ特性・変調度など）が確保できる走査速度を選ぶことが必要あり、０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨの範囲にあることが好ましい。
連続関数ｆ１，ｎ（ｖ）及びｆ２，ｎ（ｖ）は、ｖ＝ｖ０で前述の関係が成立することが必要であるが、その関数系は任意のものを設定できる。更に、それぞれ１次関数とすることが、パラメータの設定を容易にするために更に好ましい。
ｖ＝ｖ０において、設定値を不連続に大きく変化させることにより、異常マーク領域を回避している。
関数が不連続となる速度ｖ０は任意に設定可能であるが、ＴＣＰｎが異常マークの多い設定よりも長い領域と短い領域で、良好な特性（ジッタ特性・変調度など）が確保できる走査速度を選ぶことが必要あり、０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨの範囲にあることが好ましい。
連続関数ｆ１，ｎ（ｖ）及びｆ２，ｎ（ｖ）は、ｖ＝ｖ０で前述の関係が成立することが必要であるが、その関数系は任意のものを設定できる。更に、それぞれ１次関数とすることが、パラメータの設定を容易にするために更に好ましい。
同様の手法が最終加熱パルスの長さＴＬＰｎについても適用できる。即ち、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
であるときに、ｇ１（ｖ０）＜ｇ２（ｖ０）とすることにより、中間記録速度での異常マーク数を大幅に低減することが可能となる。
ｇ１，ｎ（ｖ）及びｇ２，ｎ（ｖ）は任意の関数系を用いてもよいが、１次関数とすることにより、パラメータの設定が容易に行えるので好ましい。関数が不連続となる速度ｖ０は任意に設定できるが、ＴＬＰｎが異常マークの多い設定よりも長い領域と短い領域で、良好な特性（ジッタ特性・変調度など）が確保できる走査速度を選ぶ必要があり、０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨの範囲にあることが好ましい。
ＴＣＰｎ，ＴＬＰｎの何れか一方をｖに対して連続とし、他方をｖ＝ｖ０で不連続とすることにより異常マーク数を低減することも可能であり、更に、ＴＣＰｎ，ＴＬＰｎの両方を速度ｖ０で不連続としても良い。どのパラメータを不連続にするかは、異常マーク数及び基本的な記録信号特性（ジッタ、アシンメトリなど）が所望の範囲内となるかどうかを見て決めればよい。
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
であるときに、ｇ１（ｖ０）＜ｇ２（ｖ０）とすることにより、中間記録速度での異常マーク数を大幅に低減することが可能となる。
ｇ１，ｎ（ｖ）及びｇ２，ｎ（ｖ）は任意の関数系を用いてもよいが、１次関数とすることにより、パラメータの設定が容易に行えるので好ましい。関数が不連続となる速度ｖ０は任意に設定できるが、ＴＬＰｎが異常マークの多い設定よりも長い領域と短い領域で、良好な特性（ジッタ特性・変調度など）が確保できる走査速度を選ぶ必要があり、０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨの範囲にあることが好ましい。
ＴＣＰｎ，ＴＬＰｎの何れか一方をｖに対して連続とし、他方をｖ＝ｖ０で不連続とすることにより異常マーク数を低減することも可能であり、更に、ＴＣＰｎ，ＴＬＰｎの両方を速度ｖ０で不連続としても良い。どのパラメータを不連続にするかは、異常マーク数及び基本的な記録信号特性（ジッタ、アシンメトリなど）が所望の範囲内となるかどうかを見て決めればよい。
（媒体について）
異常マークの発生は、前述の通り、記録層材料の結晶化速度等の材料物性に大きく依存する。従って、媒体に予めｖ０，ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を規定できる情報をプリフォーマットしておいても良い。例えば、
ｆ１，ｎ（ｖ）＝ａ１×ｖ＋ｂ１
ｆ２，ｎ（ｖ）＝ａ２×ｖ＋ｂ２
（ａ１，ｂ１，ａ２，ｂ２は媒体固有の定数）である場合、ａ１，ｂ１，ａ２，ｂ２，ｖ０を示す情報を媒体に予めプリフォーマットしておく。
プリフォーマットの手法としては、既存の技術で任意のものを採用できるが、例としてはＣＤ−ＲＷのＡＴＩＰ Ｅｘｔｒａ ＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎｓやＤＶＤ＋ＲＷのＰｈｙｓｉｃａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎなどが挙げられる。これらの情報を媒体毎に持たせることによって、記録装置はプリフォーマットされた情報から、最適な記録パラメータを取得できるため、より再生信頼性の高い情報を記録することが可能となる。
異常マークの発生は、前述の通り、記録層材料の結晶化速度等の材料物性に大きく依存する。従って、媒体に予めｖ０，ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を規定できる情報をプリフォーマットしておいても良い。例えば、
ｆ１，ｎ（ｖ）＝ａ１×ｖ＋ｂ１
ｆ２，ｎ（ｖ）＝ａ２×ｖ＋ｂ２
（ａ１，ｂ１，ａ２，ｂ２は媒体固有の定数）である場合、ａ１，ｂ１，ａ２，ｂ２，ｖ０を示す情報を媒体に予めプリフォーマットしておく。
プリフォーマットの手法としては、既存の技術で任意のものを採用できるが、例としてはＣＤ−ＲＷのＡＴＩＰ Ｅｘｔｒａ ＩｎｆｏｒｍａｔｉｏｎｓやＤＶＤ＋ＲＷのＰｈｙｓｉｃａｌ Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎなどが挙げられる。これらの情報を媒体毎に持たせることによって、記録装置はプリフォーマットされた情報から、最適な記録パラメータを取得できるため、より再生信頼性の高い情報を記録することが可能となる。
（検査方法について）
前述の通り、異常結晶成長は記録層材料の材料物性（結晶化速度，熱物性）と記録方法（ＴＬＰｎ，ＴＣＰｎ）に大きく依存する。記録層材料に相変化材料（例えば合金）を用いた場合は、その純度や構成元素の組成比率を適切に管理すれば異常マークの数を低減することが可能である。しかし、一般的にディスクは薄膜の多層構造となっており、各層の成膜状態によって異常マーク数が変動することもある。即ち、各層の膜厚・膜質が変動することにより、それぞれの層の熱容量・熱伝導率が変動するため、媒体の熱設計の変動に繋がる。媒体の熱設計が変動することは記録方法を変えることと類似した効果となる場合があるため、媒体の熱設計の変動が異常マーク数の上昇等に影響することになる。従って、媒体の安定した生産を実現するためには妥当な検査方法が必要となってくる。
前述の通り、異常結晶成長は記録層材料の材料物性（結晶化速度，熱物性）と記録方法（ＴＬＰｎ，ＴＣＰｎ）に大きく依存する。記録層材料に相変化材料（例えば合金）を用いた場合は、その純度や構成元素の組成比率を適切に管理すれば異常マークの数を低減することが可能である。しかし、一般的にディスクは薄膜の多層構造となっており、各層の成膜状態によって異常マーク数が変動することもある。即ち、各層の膜厚・膜質が変動することにより、それぞれの層の熱容量・熱伝導率が変動するため、媒体の熱設計の変動に繋がる。媒体の熱設計が変動することは記録方法を変えることと類似した効果となる場合があるため、媒体の熱設計の変動が異常マーク数の上昇等に影響することになる。従って、媒体の安定した生産を実現するためには妥当な検査方法が必要となってくる。
以下に、具体的な検査方法について記述する。
媒体を検査するに際し、最適な記録条件（異常マークの少ない記録条件）を用いた場合には、感度が悪く妥当な検査をすることが非常に困難である。即ち、目標とする熱設計からのずれが発生しても異常マーク数の増加が僅かであるため、測定誤差を超えない場合が多い。そのため、より感度の良い検査方法が必要となる。
図１７にＴＣＰｎの設定に対する異常マーク比率の依存性を示した。更にディスク特性が変動した場合についての依存性を模式図で図２０に示した。実線を正常なディスクの異常マーク比率で表し、ディスクの特性がずれた場合の異常マーク比率を破線で示した。
前述した通り、記録条件であるＴＣＰｎは異常マーク数が十分に低い条件Ａが最適条件となる。しかし、最適条件ではディスクが変動した場合に、異常マーク数の増減が小さくなっている。したがって、最適条件でディスクの変動を検査する場合の基準設定範囲は非常に狭い領域となる。このように変動の小さいパラパラメータを検査パラメータとして設定すると、測定誤差が発生した場合に検査の制度が著しく低下する原因となる。
これに対して、異常マーク数が高い条件ＢのＴＣＰｎ設定の場合、変動量が大きいため、検査基準の設定範囲を広く取ることが可能となる。更に、測定誤差が発生した場合でも、検査の制度が著しく低下することはない。
媒体を検査するに際し、最適な記録条件（異常マークの少ない記録条件）を用いた場合には、感度が悪く妥当な検査をすることが非常に困難である。即ち、目標とする熱設計からのずれが発生しても異常マーク数の増加が僅かであるため、測定誤差を超えない場合が多い。そのため、より感度の良い検査方法が必要となる。
図１７にＴＣＰｎの設定に対する異常マーク比率の依存性を示した。更にディスク特性が変動した場合についての依存性を模式図で図２０に示した。実線を正常なディスクの異常マーク比率で表し、ディスクの特性がずれた場合の異常マーク比率を破線で示した。
前述した通り、記録条件であるＴＣＰｎは異常マーク数が十分に低い条件Ａが最適条件となる。しかし、最適条件ではディスクが変動した場合に、異常マーク数の増減が小さくなっている。したがって、最適条件でディスクの変動を検査する場合の基準設定範囲は非常に狭い領域となる。このように変動の小さいパラパラメータを検査パラメータとして設定すると、測定誤差が発生した場合に検査の制度が著しく低下する原因となる。
これに対して、異常マーク数が高い条件ＢのＴＣＰｎ設定の場合、変動量が大きいため、検査基準の設定範囲を広く取ることが可能となる。更に、測定誤差が発生した場合でも、検査の制度が著しく低下することはない。
以上の点を考慮すると、記録条件を最適記録条件から意図的にずらした条件で検査することにより、媒体変動を正確に判断可能な検査条件を設定することが可能となる。
検査のために意図的に変動させるパラメータとしては任意のものを設定できるが、異常マーク数に対する影響の大きいパラメータを選定することが好ましく、例えば、ＴＣＰｎや、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比であるＰｅ／Ｐｗが挙げられる。
また、検査時に記録するデータとしては任意のものを用いることができるが、検査精度を向上させるためランダムなマーク長・スペース長が配列するランダムデータより、単一の長さのマーク・スペースが繰り返されるパターンを記録することが好ましい。これにより符号間干渉（隣接するマーク又はスペースの長さが再生信号に影響する現象）の影響を低減することが可能なため、より好ましい。
また、単一パターンで記録するマーク長・スペース長は任意のものを設定可能であるが、記録速度に対して、最も効率的なパターンを設定することが好ましい。更に好ましくは、可能な限り短いパターンを記録することによって同一の再生長でもサンプル数を多くとることができる。それにより、更に精度が向上する。例として、３Ｔマーク・スペースの繰り返し，４Ｔマーク・スペースの繰り返しが挙げられる。
検査のために意図的に変動させるパラメータとしては任意のものを設定できるが、異常マーク数に対する影響の大きいパラメータを選定することが好ましく、例えば、ＴＣＰｎや、記録パワーＰｗと消去パワーＰｅの比であるＰｅ／Ｐｗが挙げられる。
また、検査時に記録するデータとしては任意のものを用いることができるが、検査精度を向上させるためランダムなマーク長・スペース長が配列するランダムデータより、単一の長さのマーク・スペースが繰り返されるパターンを記録することが好ましい。これにより符号間干渉（隣接するマーク又はスペースの長さが再生信号に影響する現象）の影響を低減することが可能なため、より好ましい。
また、単一パターンで記録するマーク長・スペース長は任意のものを設定可能であるが、記録速度に対して、最も効率的なパターンを設定することが好ましい。更に好ましくは、可能な限り短いパターンを記録することによって同一の再生長でもサンプル数を多くとることができる。それにより、更に精度が向上する。例として、３Ｔマーク・スペースの繰り返し，４Ｔマーク・スペースの繰り返しが挙げられる。
本発明１〜３によれば、最終冷却パルスの長さを高速対応記録層材料固有の異常結晶成長を誘発する温度履歴をとらないように最適化することにより、本発明４〜６によれば、最終加熱パルスの長さを高速対応記録層材料固有の異常結晶成長を誘発する温度履歴をとらないように最適化することにより、本発明７〜８によれば、最終冷却パルスの長さ及び最終加熱パルスの長さを高速対応記録層材料固有の異常結晶成長を誘発する温度履歴をとらないように最適化することにより、規格外のマーク長の発生を抑えつつ、２種類の連続関数で長さを規定し任意の走査速度で容易に最適なパラメータを設定できるので、容易に再生信頼性の高い記録を行うことが可能となる。
また、本発明３、６、８によれば、走査速度の１次関数でパラメータを制御できるため誤差が少なく容易にパラメータ設定ができる。更に、複雑な関数と比較して媒体にプリフォーマットするべきパラメータ数を減少させることが可能である。
本発明９によれば、２Ｔストラテジを用いることで、２０ｍ／ｓ以上の走査速度の高速記録に対応することができる。
本発明１０によれば、対応速度幅と固有速度を最適化しているため、ＣＡＶ記録において良好な特性を得ることができる。
本発明１１〜１３によれば、媒体に最適なパラメータがプリフォーマットされているため、記録装置が容易に適切なパラメータを算出することができる。
本発明１４〜１８によれば、光情報記録媒体の試験方法を提供できる。
また、本発明３、６、８によれば、走査速度の１次関数でパラメータを制御できるため誤差が少なく容易にパラメータ設定ができる。更に、複雑な関数と比較して媒体にプリフォーマットするべきパラメータ数を減少させることが可能である。
本発明９によれば、２Ｔストラテジを用いることで、２０ｍ／ｓ以上の走査速度の高速記録に対応することができる。
本発明１０によれば、対応速度幅と固有速度を最適化しているため、ＣＡＶ記録において良好な特性を得ることができる。
本発明１１〜１３によれば、媒体に最適なパラメータがプリフォーマットされているため、記録装置が容易に適切なパラメータを算出することができる。
本発明１４〜１８によれば、光情報記録媒体の試験方法を提供できる。
以下、実施例及び比較例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明は、これらの実施例により限定されるものではない。
実施例１
現在、２０ｍ／ｓ以上の高速記録に対応可能なＤＶＤ媒体が市場にないため、サンプルディスクを作成した。
トラックピッチ０．７４μｍのらせん状の連続グルーブを有する厚さ０．６ｍｍ、直径１２０ｍｍのポリカーボネート製ＤＶＤ＋ＲＷ基板上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる膜厚６０ｎｍの下部保護層、ＧａＳｂＳｎＧｅ合金からなる膜厚１５ｎｍの記録層、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる膜厚１０ｎｍの上部保護層、Ａｇからなる膜厚２００ｎｍの反射層をスパッタリング法により順次積層し、更に反射層上に、市販の光ディスク用ＵＶ樹脂接着材を用いて別の基板を貼り合せ、厚さ１．２ｍｍのディスクとした。その形状はＤＶＤ＋ＲＷの規格を十分に満足するものとなった。
次いで、相変化型光ディスク用初期化装置を用いて記録層を全面結晶化した。作成したディスクは未記録状態で、ＤＶＤ＋ＲＷの各種規格を満足する良好なディスクとなった。
作成したサンプルディスクについて、ＤＶＤ＋ＲＷ用記録・再生評価装置（パルステック工業社製ＤＤＵ１０００）を用いて記録評価を行った。記録・再生に使用した光ピックアップは以下の通りである。
波長：６５９ｎｍ
対物レンズＮＡ：０．６５
再生時照射パワー：０．７ｍＷ
記録時照射パワー：１．０〜４０．０ｍＷ
また、走査速度は３．４９ｍ／ｓ〜３０．０ｍ／ｓの範囲で設定できる。
記録ストラテジの作成にはテクトロニクス社製データゼネレータＤＴＧ５０２７を用いた。記録ストラテジは２Ｔストラテジとした。即ち、ｎ＝２ｍ（ｎが偶数），ｎ＝２ｍ＋１（ｎが奇数）を満たす記録ストラテジとした。但し、今回は３Ｔマーク・３Ｔスペースの繰り返しの単一パターンを記録した。３Ｔマークのストラテジパラメータは、加熱パルス長ＴＬＰ３と冷却パルス長ＴＣＰ３の２種である。記録速度を変更し、表１の条件で記録を行った。
更に各パラメータの走査速度依存性を図８に示した。
ｖ０＝２０．９４ｍ／ｓとした場合に、ＴＣＰ３／Ｔは以下の関数で記述できる。
ｖ＜ｖ０，ＴＣＰ３／Ｔ＝ｆ１，３（ｖ）＝２．１２５
ｖ≧ｖ０，ＴＣＰ３／Ｔ＝ｆ２，３（ｖ）＝０．０３６ｖ−０．２５
であり、かつｆ１，３（ｖ０）＞ｆ２，３（ｖ０）を満足する。
この記録方法を用いて、異常マーク数／正常マーク数の走査速度依存性を求めた結果を図９に示した。１１．５２ｍ／ｓ〜２７．９２ｍ／ｓの速度範囲で異常マークの存在比率は１０−４以下であり、良好な再生信頼性が得られた。
現在、２０ｍ／ｓ以上の高速記録に対応可能なＤＶＤ媒体が市場にないため、サンプルディスクを作成した。
トラックピッチ０．７４μｍのらせん状の連続グルーブを有する厚さ０．６ｍｍ、直径１２０ｍｍのポリカーボネート製ＤＶＤ＋ＲＷ基板上に、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる膜厚６０ｎｍの下部保護層、ＧａＳｂＳｎＧｅ合金からなる膜厚１５ｎｍの記録層、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合物からなる膜厚１０ｎｍの上部保護層、Ａｇからなる膜厚２００ｎｍの反射層をスパッタリング法により順次積層し、更に反射層上に、市販の光ディスク用ＵＶ樹脂接着材を用いて別の基板を貼り合せ、厚さ１．２ｍｍのディスクとした。その形状はＤＶＤ＋ＲＷの規格を十分に満足するものとなった。
次いで、相変化型光ディスク用初期化装置を用いて記録層を全面結晶化した。作成したディスクは未記録状態で、ＤＶＤ＋ＲＷの各種規格を満足する良好なディスクとなった。
作成したサンプルディスクについて、ＤＶＤ＋ＲＷ用記録・再生評価装置（パルステック工業社製ＤＤＵ１０００）を用いて記録評価を行った。記録・再生に使用した光ピックアップは以下の通りである。
波長：６５９ｎｍ
対物レンズＮＡ：０．６５
再生時照射パワー：０．７ｍＷ
記録時照射パワー：１．０〜４０．０ｍＷ
また、走査速度は３．４９ｍ／ｓ〜３０．０ｍ／ｓの範囲で設定できる。
記録ストラテジの作成にはテクトロニクス社製データゼネレータＤＴＧ５０２７を用いた。記録ストラテジは２Ｔストラテジとした。即ち、ｎ＝２ｍ（ｎが偶数），ｎ＝２ｍ＋１（ｎが奇数）を満たす記録ストラテジとした。但し、今回は３Ｔマーク・３Ｔスペースの繰り返しの単一パターンを記録した。３Ｔマークのストラテジパラメータは、加熱パルス長ＴＬＰ３と冷却パルス長ＴＣＰ３の２種である。記録速度を変更し、表１の条件で記録を行った。
ｖ０＝２０．９４ｍ／ｓとした場合に、ＴＣＰ３／Ｔは以下の関数で記述できる。
ｖ＜ｖ０，ＴＣＰ３／Ｔ＝ｆ１，３（ｖ）＝２．１２５
ｖ≧ｖ０，ＴＣＰ３／Ｔ＝ｆ２，３（ｖ）＝０．０３６ｖ−０．２５
であり、かつｆ１，３（ｖ０）＞ｆ２，３（ｖ０）を満足する。
この記録方法を用いて、異常マーク数／正常マーク数の走査速度依存性を求めた結果を図９に示した。１１．５２ｍ／ｓ〜２７．９２ｍ／ｓの速度範囲で異常マークの存在比率は１０−４以下であり、良好な再生信頼性が得られた。
比較例１
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は、表２に示すように従来通りの単一の連続関数を用いて設定した。
各パラメータの走査速度依存性を図１０に示す。２種のパラメータ共に連続の線形関数で規定した。この条件で記録した場合の、異常マーク数／正常マーク数の走査速度依存性を図１１に示す。１１．５２ｍ／ｓ、２７．９２ｍ／ｓを除き、異常マークの存在比率が１０−４を超えているため記録された情報の再生信頼性は著しく低下しているのが分る。
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は、表２に示すように従来通りの単一の連続関数を用いて設定した。
実施例２
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は表３のものに変えた。
パラメータの走査速度依存性を図１２に示す。ＴＣＰ３は連続関数であるが、ＴＬＰ３は不連続の関数とした。即ち、
ｖ＜ｖ０の範囲では、ＴＬＰ３／Ｔ＝ｇ１，３（ｖ）＝０．００４８９ｖ＋０．２５８
ｖ≧ｖ０の範囲では、ＴＬＰ３／Ｔ＝ｇ２，３（ｖ）＝０．００９ｖ＋０．４３８
とした。更に、ｇ１，３（ｖ０）＜ｇ２，３（ｖ０）の関係を満足するようにした。
この記録方法で記録を行い、異常マーク数／正常マーク数を測定した結果を図１３に示す。
実施例１と比較すると異常マーク数は増加しているが、１０−４以下の範囲に収まっている。また、比較例１と比較しても異常マークの数は大幅に減少している。
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は表３のものに変えた。
ｖ＜ｖ０の範囲では、ＴＬＰ３／Ｔ＝ｇ１，３（ｖ）＝０．００４８９ｖ＋０．２５８
ｖ≧ｖ０の範囲では、ＴＬＰ３／Ｔ＝ｇ２，３（ｖ）＝０．００９ｖ＋０．４３８
とした。更に、ｇ１，３（ｖ０）＜ｇ２，３（ｖ０）の関係を満足するようにした。
この記録方法で記録を行い、異常マーク数／正常マーク数を測定した結果を図１３に示す。
実施例１と比較すると異常マーク数は増加しているが、１０−４以下の範囲に収まっている。また、比較例１と比較しても異常マークの数は大幅に減少している。
実施例３
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。
但し、ｎ＝１０，ｍ＝５の２Ｔストラテジで１０Ｔマーク・１０Ｔスペースの繰り返しパターンの記録を行った。パラメータの条件を表４に示す。ここで、加熱パルスの長さは最終加熱パルスの長さと同一とし、実施例１と同様の値を設定した。
各パラメータの走査速度依存を図１４に示す。即ち、ｖ０＝２０．９４ｍ／ｓとした場合に、ＴＣＰ３／Ｔは以下の関数で記述できる。
ｖ＜ｖ０，ＴＣＰ１０／Ｔ＝ｆ１，１０（ｖ）＝−０．０３９１ｖ＋２．３１２
ｖ≧ｖ０，ＴＣＰ１０／Ｔ＝ｆ２，１０（ｖ）＝−０．０７２ｖ＋２．００
であり、かつｆ１，１０（ｖ０）＞ｆ２，１０（ｖ０）を満足する。
同様にして、異常マーク数／正常マーク数を計測した結果を図１５に示すが、測定した全ての測定領域において、少ない異常マーク数となり記録信号の再生信頼性が高いことを確認した。更に、ｎ＝３，ｍ＝１のみでなく、より長い（ｎの大きい）マークの形成にも効果があることが確認された。
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。
但し、ｎ＝１０，ｍ＝５の２Ｔストラテジで１０Ｔマーク・１０Ｔスペースの繰り返しパターンの記録を行った。パラメータの条件を表４に示す。ここで、加熱パルスの長さは最終加熱パルスの長さと同一とし、実施例１と同様の値を設定した。
ｖ＜ｖ０，ＴＣＰ１０／Ｔ＝ｆ１，１０（ｖ）＝−０．０３９１ｖ＋２．３１２
ｖ≧ｖ０，ＴＣＰ１０／Ｔ＝ｆ２，１０（ｖ）＝−０．０７２ｖ＋２．００
であり、かつｆ１，１０（ｖ０）＞ｆ２，１０（ｖ０）を満足する。
同様にして、異常マーク数／正常マーク数を計測した結果を図１５に示すが、測定した全ての測定領域において、少ない異常マーク数となり記録信号の再生信頼性が高いことを確認した。更に、ｎ＝３，ｍ＝１のみでなく、より長い（ｎの大きい）マークの形成にも効果があることが確認された。
実施例４
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は表５のものに変えた。
パラメータの走査速度依存性を図１６に示す。ＴＣＰ３、ＴＬＰ３共に不連続の関数とした。実施例１と同様の評価を行ったところ、各走査速度で異常マーク存在比率は１０−４未満であった。
実施例１で作成したサンプルディスクに対し、実施例１と同様の手法で記録を行った。但し、パラメータの条件は表５のものに変えた。
実施例５
記録層膜厚と上部保護層を変更した点以外は、実施例１のサンプルディスク（ディスク１）と同様にして、新たに２種類のサンプルデイスクを作成した。即ち、記録層膜厚１９ｎｍ、上部保護層１２ｎｍのサンプルディスク（ディスク２）と、記録層膜厚１２ｎｍ、上部保護層６ｎｍのサンプルディスク（ディスク３）である。
上記ディスク１〜３に、３Ｔマークと３Ｔスペースの繰り返しからなるパターンを記録し、実施例１と同様にして異常マーク数／正常マーク数を測定した。その際、走査速度をＤＶＤの６倍速相当である２０．９ｍ／ｓとし、ＴＣＰ３を０．７５Ｔ〜２．２５Ｔの範囲で変化させて記録を行った。
異常マーク数／正常マーク数のＴＣＰ３依存性を図１８に示したが、構成の異なるディスクでは異常マーク数／正常マーク数が大きく異なっていることが分かる。
従って、上記の方法で媒体の構成の変動を検査することが可能である。
記録層膜厚と上部保護層を変更した点以外は、実施例１のサンプルディスク（ディスク１）と同様にして、新たに２種類のサンプルデイスクを作成した。即ち、記録層膜厚１９ｎｍ、上部保護層１２ｎｍのサンプルディスク（ディスク２）と、記録層膜厚１２ｎｍ、上部保護層６ｎｍのサンプルディスク（ディスク３）である。
上記ディスク１〜３に、３Ｔマークと３Ｔスペースの繰り返しからなるパターンを記録し、実施例１と同様にして異常マーク数／正常マーク数を測定した。その際、走査速度をＤＶＤの６倍速相当である２０．９ｍ／ｓとし、ＴＣＰ３を０．７５Ｔ〜２．２５Ｔの範囲で変化させて記録を行った。
異常マーク数／正常マーク数のＴＣＰ３依存性を図１８に示したが、構成の異なるディスクでは異常マーク数／正常マーク数が大きく異なっていることが分かる。
従って、上記の方法で媒体の構成の変動を検査することが可能である。
実施例６
実施例５と同じディスク１〜３について、実施例１と同様にして記録評価を行なった。但し、走査速度をＤＶＤの６倍速相当である２０．９ｍ／ｓとし、ＴＣＰ３＝０．７５Ｔに固定した。
実施例５と同様に３Ｔマークと３Ｔスペースの繰り返しからなるパターンを記録して、異常マーク数／正常マーク数を測定した。その際、記録条件の消去パワーＰｅを変化させて記録を行った。異常マーク数／正常マーク数のＰｅ依存性を図１９に示す。但し、横軸はＰｗで規格化した値であり、Ｐｗを３４ｍＷに固定した場合である。
図から、Ｐｅを変化させると異常マーク数が変化することが分かる。特にＰｅ／Ｐｗが低い範囲ではディスク１〜３の異常マーク数が大きく異なっている。
従って、ディスクの構成がディスク１〜３のように変動した場合、Ｐｅを変化させることにより検査することが可能である。
実施例５と同じディスク１〜３について、実施例１と同様にして記録評価を行なった。但し、走査速度をＤＶＤの６倍速相当である２０．９ｍ／ｓとし、ＴＣＰ３＝０．７５Ｔに固定した。
実施例５と同様に３Ｔマークと３Ｔスペースの繰り返しからなるパターンを記録して、異常マーク数／正常マーク数を測定した。その際、記録条件の消去パワーＰｅを変化させて記録を行った。異常マーク数／正常マーク数のＰｅ依存性を図１９に示す。但し、横軸はＰｗで規格化した値であり、Ｐｗを３４ｍＷに固定した場合である。
図から、Ｐｅを変化させると異常マーク数が変化することが分かる。特にＰｅ／Ｐｗが低い範囲ではディスク１〜３の異常マーク数が大きく異なっている。
従って、ディスクの構成がディスク１〜３のように変動した場合、Ｐｅを変化させることにより検査することが可能である。
Ｔ クロック周期
ｎ パルス長を示す自然数
ｍ パルス数を示す自然数
ＴＬＰ３ 最終加熱パルス長
ＴＣＰ３ 最終冷却パルス長
ＴＬＰ８ 最終加熱パルス長
ＴＣＰ８ 最終冷却パルス長
ＴＣＰｎ 最終冷却パルス長
ＴＣＰｎ（１） （１）の場合の、異常マーク存在比率が１０−４となる範囲の臨界点
ＴＣＰｎ（２） （２）の場合の、異常マーク存在比率が１０−４となる範囲の臨界点
ｔ マーク長
ｎ パルス長を示す自然数
ｍ パルス数を示す自然数
ＴＬＰ３ 最終加熱パルス長
ＴＣＰ３ 最終冷却パルス長
ＴＬＰ８ 最終加熱パルス長
ＴＣＰ８ 最終冷却パルス長
ＴＣＰｎ 最終冷却パルス長
ＴＣＰｎ（１） （１）の場合の、異常マーク存在比率が１０−４となる範囲の臨界点
ＴＣＰｎ（２） （２）の場合の、異常マーク存在比率が１０−４となる範囲の臨界点
ｔ マーク長
Claims (18)
- 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。 - 更に、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを逐次変化させることを特徴とする請求項１記載の光情報記録媒体への記録方法。
- ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする請求項１又は２記載の光情報記録媒体への記録方法。
- 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中のｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。 - 更に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを逐次変化させることを特徴とする請求項４記載の光情報記録媒体への記録方法。
- ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする請求項４又は５記載の光情報記録媒体への記録方法。
- 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することで情報を記録し、最終加熱パルス（即ちｍ番目の加熱パルス）の長さＴＬＰｎ、及び最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを、走査速度ｖにより次式のように不連続に変化させ（式中、ｖ０は媒体固有の走査速度である）、
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ１，ｎ（ｖ）〔ｆ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＣＰｎ／Ｔ＝ｆ２，ｎ（ｖ）〔ｆ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ＜ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ１，ｎ（ｖ）〔ｇ１，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
ｖ≧ｖ０の範囲ではＴＬＰｎ／Ｔ＝ｇ２，ｎ（ｖ）〔ｇ２，ｎ（ｖ）はｖの連続関数〕
上記式中の、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）は、異常マークの存在比率（異常マーク／正常マーク）が１０−４以下である領域内に収まるようにし、かつ、
ｆ１，ｎ（ｖ０）＞ｆ２，ｎ（ｖ０）
ｇ１，ｎ（ｖ０）＜ｇ２，ｎ（ｖ０）
とすることを特徴とする光情報記録媒体への記録方法。 - ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つ、及びｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）の少なくとも一つがｖの１次関数であることを特徴とする請求項７記載の光情報記録媒体への記録方法。
- ｎが偶数のときはｍ＝ｎ／２、ｎが奇数のときはｍ＝（ｎ−１）／２であることを特徴とする請求項１〜８の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。
- 媒体の最高記録走査速度をｖＨとし、最低記録走査速度をｖＬとするとき、
ｖＨ／ｖＬ≧２．４、
０．４ｖＨ≦ｖ０≦０．８ｖＨ
であることを特徴とする請求項１〜９の何れかに記載の光情報記録媒体への記録方法。 - 請求項１〜３の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
- 請求項４〜６の何れかに記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
- 請求項７又は８記載の記録方法による記録が可能であり、予めｖ０、ｆ１，ｎ（ｖ）、ｆ２，ｎ（ｖ）、ｇ１，ｎ（ｖ）、ｇ２，ｎ（ｖ）を一意的に決定できる情報がプリフォーマットされていることを特徴とする光情報記録媒体。
- 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査すると共に、最終冷却パルス（即ちｍ番目の冷却パルス）の長さＴＣＰｎを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
- 異なる記録速度に対応する光情報記録媒体に長さｎＴ（ｎは３以上の自然数、Ｔはクロック周期）のマークを記録する際に、ｍ個のパワーＰｗの加熱パルスとｍ個のパワーＰｃの冷却パルスを交互に照射し（但し、ｍは自然数でｍ＜ｎ）、走査速度ｖで走査することでマークを記録し、マークを記録しない領域（スペース）にはパワーＰｅ（Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｃ）の消去パルスを照射することで既に書かれたマークを消去してダイレクトオーバーライトを行うことが可能な光情報記録媒体に対し、Ｐｅを変化させて試験記録を行い、該記録部分を再生して得られるマークの長さをＬとして、Ｌ／ｎＴ≧ｎ−０．５であるマークの個数を正常マーク数とし、Ｌ／ｎＴ＜ｎ−０．５であるマークの個数を異常マーク数とし、異常マークの存在比率（異常マーク数／正常マーク数）を評価することで、媒体の良否を判定することを特徴とする光情報記録媒体の試験方法。
- ｎ＝３のマークとスペース（マーク間）の繰り返しの単一パターンを試験記録することを特徴とする請求項１４又は１５記載の光情報記録媒体の試験方法。
- 走査速度ｖを、最高記録速度と最低記録速度の平均値にすることを特徴とする請求項１４〜１６の何れかに記載の光情報記録媒体の試験方法。
- 走査速度ｖを最低記録速度とし、ｎ＝４のマークとスペースからなる単一パターンを試験記録することを特徴とする請求項１４又は１５記載の光情報記録媒体の試験方法。
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