CN100545918C - 光记录介质及其记录方法和光记录介质的评价方法 - Google Patents

Abstract

一种光记录介质的记录方法，包括：用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括加热脉冲和冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光在扫描速度v下扫描所述介质来记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，其中最后冷却脉冲的长度T_CPn根据扫描速度v使用下述函数来确定：在v＜v₀时，T_CPn/T＝f_1，n(v)；在v≥v₀时，T_CPn/T＝f_2，n(v)，其中f_1，n(v)和f_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数，并满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的条件，而且v₀是可选择的扫描速度。

Description

光记录介质及其记录方法和光记录介质的评价方法

技术领域

本发明涉及一种在记录层使用相变材料的可重写光记录介质例如CD-RW、DVD-RW、DVD+RW、DVD-RAM等，所述光记录介质的记录方法以及所述光记录介质的评价方法。

背景技术

已经知道，通过线性函数来为记录速度设定参数(见专利文献1至3)。特别地，逐步改变参数的技术已在专利文献2和3中公开。

但是，其中并没有提及最终加热脉冲和最终冷却脉冲中的至少任何一个的长度(照射时间)是不连续地改变的。

以CD-RW、DVD-RW、DVD+RW等为代表的应用了相变技术的可重写盘被广泛的普及应用于音频/视觉目的以及计算机的信息记录目的。而且，近年来已经预见了在这些盘上的记录速度的改进以及增大的数字信息容量。较高扫描速度下的重写性能和较宽扫描速度范围下的重写性能都是使用这种相变技术的高速盘记录所需要的。前者是最高记录速度，而后者相当于可记录的速度范围。特别地，后者对应于CAV(恒定角速度)记录，这是一种对于加速随机存取记录来说必要的技术；因此需要大约2.4倍的速度比例(最高速度/最低速度)。而且，在CAV记录中，记录扫描速度v对应于记录半径位置r而改变，也就是说，v/r＝常数，因此低于最高记录速度的任何记录速度中都应是可记录的。此外，如果最高速度增加，扫描速度的范围也不可避免地扩大。例如，在4倍速的DVD+RW盘中，CAV需要5.8至14.0m/s的扫描速度范围，但是在8倍速的盘中，就需要11.6至27.9m/s的扫描速度范围，因此，需要开发可在对应于8倍速盘的非常宽的范围内记录的光记录介质和所述光记录介质的记录方法。

在另一方面，记录层的材料必须改为适于更高速度的记录，以便提高最高记录速度。通常，相变材料应用于以DVD+RW为代表的盘的记录层材料中。例如，一般而言，所述相变材料由可以在非晶相和晶相间可逆相变的合金制成。在提高记录速度时，必须使用具有高结晶速率的相变材料以加速非晶相和晶相间的相变。

但是，提高结晶速率导致在低速记录时很难控制晶相。因此，必须显著改变在接近最高记录速度的速度区域和接近最低记录速度的速度区域中的记录方法(策略)。因此，如果使用能对应于高速记录的记录层材料，就会存在在低于最高记录速度的任何记录速度下记录变得非常困难的问题。

专利文献1    日本专利申请公开No.2000-322740

专利文献2    日本专利申请公开No.2001-118245

专利文献3    日本专利申请公开No.2001-243626

发明内容

本发明的目的是提供最高速度高于DVD+RW的8倍速的、可用于应用了相变技术的可重写光记录介质CAV记录的记录方法，即能够在低于光记录介质的最高记录速度的任何记录速度下记录的光介质的记录方法(记录策略)，可通过所述记录方法记录的光记录介质以及该光记录介质的评价方法。

本发明提供了光记录介质的记录方法。在记录方法的第一个方面中，提供了对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，其包括：用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及用激光以扫描速度v扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn根据扫描速度v使用下述函数(1)和(2)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)    函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)    函数(2)

其中f_1，n(v)和f_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)的关系；f_1，n(v)和f_2，n(v)均满足以下条件：异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，所述异常标记的存在比例为异常标记数量与正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的各再现标记的长度；并且v₀是所选择的满足1.0×10^-4或更少的异常标记存在比例的任何扫描速度。

根据第一方面的光记录介质的记录方法，优化最后冷却脉冲的长度T_CPn，从而不经历会导致对应高速的记录层材料固有的异常晶体生长的温度变化过程，从而抑制超过规格的标记长度的出现。此外，长度T_CPn由两种类型的连续函数限定，而且对于任何扫描速度v都能容易地确定T_CPn的最佳值，因此能够进行具有高再现可靠性的记录。

在第一方面的光记录介质的记录方法中，优选地，作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn被适当地控制。优选地，f_1，n(v)和f_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。优选地，当n是偶数时函数m＝n/2成立，当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。优选地，满足函数v_H/v_L≥2.4和0.4v_H≤v₀≤0.8v_H，其中介质的最高记录速度由v_H表示并且介质的最低记录速度由v_L表示。

在这些方法中，参数T_CPn可以由扫描速度的线性函数来确定，因此参数T_CPn能够在很少的误差下容易地确定。此外，与复杂函数相比，其能够减少将在光记录介质中预先格式化(pre-formatted)的参数的数量，并且可以通过使用2T策略来对应20m/s或更高的扫描速度下的高速记录。而且，因为优化了对应速度宽度和扫描速度v₀，因此能够在所述CAV记录中获得良好特性。

在记录方法的第二个方面中，提供了对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，其包括：用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光以扫描速度v扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中，作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn根据扫描速度v使用下述函数(3)和(4)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)    函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)    函数(4)

其中，g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足以下条件：异常标记存在比例是1.0×10^-4或更少，所述异常标记存在比例为异常标记数量与正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的各再现标记的长度；并且v₀是所选择的满足1.0×10^-4或更少的异常标记存在比例的任何扫描速度。

根据第二方面的光记录介质的记录方法，优化最后加热脉冲的长度T_LPn以便不经历会导致对应高速的记录层材料固有的异常晶体生长的温度变化过程，从而抑制超过规格的标记长度的出现。此外，长度T_LPn由两种类型的连续函数限定，而且对于任何扫描速度v都可以容易地确定T_LPn的最佳值，因此可以容易地进行具有高再现可靠性的记录。

在第二方面的光记录介质的记录方法中，优选地，作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn被适当地控制。优选地，g_1，n(v)和g_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。优选地，当n是偶数时函数m＝n/2成立，当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。优选地，满足函数v_H/v_L≥2.4和0.4v_H≤v₀≤0.8v_H，其中介质的最高记录-扫描速度由v_H表示并且介质的最低记录-扫描速度由v_L表示。

在这些方法中，参数T_LPn可以由扫描速度的线性函数来确定，因此该参数能够在很少的误差下容易地确定。此外，与复杂函数相比，其能够减少将在光记录介质中被预先格式化的参数的数量，并且可以通过采用2T策略来对应20m/s或更高的扫描速度下的高速记录。而且，因为优化了对应速度宽度和扫描速度v₀，因此能够在所述CAV记录中获得良好特性。

在记录方法的第三个方面中，提供了对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，其包括：用具有m个脉冲组的激光照射所述介质，其中每一个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并用激光以扫描速度v扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中，作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn和作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn分别根据扫描速度v使用下述函数(1)至(4)的来确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)    函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)    函数(2)

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)    函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)    函数(4)

其中f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)和g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足以下条件：异常标记存在比例是1.0×10^-4或更少，所述异常标记存在比例为异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记的数量满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的各再现标记的长度，并且v₀是所选择的满足1.0×10^-4或更少的异常标记存在比例的任意扫描速度。

根据第三方面的光记录介质的记录方法，优化最后冷却脉冲的长度T_CPn和最后加热脉冲的长度T_LPn以便不经历会导致对应高速的记录层材料固有的异常晶体生长的温度变化过程，从而抑制超出规格的标记长度的出现。此外，长度T_CPn和长度T_LPn分别由两种类型的连续函数限定，而且对于任何扫描速度v都可以容易地确定T_CPn和T_LPn的最佳值，因此可以容易地进行具有高再现可靠性的记录。

在第三方面的光记录介质的记录方法中，优选地，f_1，n(v)和f_2，n(v)中的至少一个以及g_1，n(v)和g_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。优选地，当n是偶数时函数m＝n/2成立，当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。优选地，满足v_H/v_L≥2.4和0.4v_H≤v₀≤0.8v_H的函数，其中介质的最高记录-扫描速度由v_H表示并且介质的最低记录-扫描速度由v_L表示。

在根据本发明的光记录介质的记录方法中，参数T_CPn和T_LPn可以由扫描速度v的线性函数确定，因此这些参数能够在很少的误差下容易地确立。此外，与复杂函数相比，其能够减少将在光记录介质中预先格式化的参数的数量，并且可以使用2T策略对应20m/s或更高的扫描速度下的高速记录。而且，因为优化了对应速度宽度和扫描速度v₀，因此能够在所述CAV记录中获得良好特性。

此外，本发明提供了光记录介质。在光记录介质的第一方面中，提供了能够使用第一方面的记录方法进行记录的光记录介质，其中能够单一意义地确定v₀、f_1，n(v)和f_2，n(v)的信息被预先格式化。

在光记录介质的第二个方面中，提供了能够使用第二方面的记录方法进行记录的光记录介质，其中能够单一意义地确定v₀、g_1，n(v)和g_2，n(v)的信息被预先格式化。

在光记录介质的第三个方面中，提供了能够使用第三方面的记录方法进行记录的光记录介质，其中能够单一意义地确定v₀、f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)的信息被预先格式化。

根据第一到第三方面中任何一方面的光记录介质，由于最佳参数在光记录介质中被预先格式化，因此合适的参数可以通过记录设备容易地计算出来。

此外，本发明提供了光记录介质的评价方法。在评价方法的第一方面中，提供了对应于不同记录速度的光记录介质的评价方法，其包括：

当标记通过以下方式记录到光记录介质上时：用具有m个脉冲组的激光照射所述介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光以扫描速度v扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

通过对作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn做出不同的改变来进行测试记录；再现测试记录标记；测量再现标记的各个长度L；计数满足要求L/nT≥n-0.5的正常标记和满足要求L/nT＜n-0.5的异常标记；并且获得异常标记存在比例以评价光记录介质的质量，该比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

在评价方法的第二个方面中，提供了对应于不同记录速度的光记录介质的评价方法，其包括：

当光记录介质是直接盖写介质时，其中标记是通过以下方式记录到该介质上：用具有m个脉冲组的激光照射所述介质，每个脉冲组都包含功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光在扫描速度v下扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，并且记录标记被通过以下方式擦除：使用具有功率为Pe的擦除脉冲的激光照射介质的作为标记之间的空隙的未记录区域，其中满足Pw＞Pe＞Pc的关系，

通过不同地改变功率Pe进行测试记录；再现测试记录标记；测量再现标记各自的长度L；计数满足L/nT≥n-0.5的要求的正常标记和满足L/nT＜n-0.5的要求的异常标记；并且获得异常标记存在比例以评价光记录介质的质量，该异常标记存在比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

在第一和第二方面的光记录介质的评价方法中，优选地，通过使用在n＝3的情况下具有交替的3T标记和3T标记间隙的模式进行测试记录。优选地，将扫描速度设定为介质的最高记录速度和最低记录速度的平均值。优选地，在介质的最低记录速度下，通过使用在n＝4的情况下具有交替的4T标记和4T间隙的模式进行测试记录。

附图说明

图1A是表示2T策略中NRZI数据的图。

图1B是表示2T策略中n＝3且m＝1时的图。

图1C是表示2T策略中n＝8且m＝4时的图。

图2A是表示在异常晶体生长的实例中记录标记的形状的示意图。

图2B是表示异常晶体生长存在的情况下再现信号的示意图。

图2C是表示在异常晶体生长的实例中的二进制信号的图。

图3是表示通过TIA对图2C的二进制信号进行测量的结果的曲线图。

图4是表示异常标记的存在比例与T_CP3和v的相关性的曲线图。

图5是表示异常标记的存在比例与T_LP3和v的相关性的曲线图。

图6是表示当异常标记多于1.0×10^-4时v和T_CP3范围的曲线图。

图7是表示根据本发明和常规技术的参数设定方法的曲线图。

图8是表示实施例1中脉冲长度与扫描速度的相关性的曲线图。

图9是表示实施例1中异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性的曲线图。

图10是表示对比例1中脉冲长度与扫描速度的相关性的曲线图。

图11是表示对比例1中异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性的曲线图。

图12是表示实施例2中脉冲长度与扫描速度的相关性的曲线图。

图13是表示实施例2中异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性的曲线图。

图14是表示实施例3中脉冲长度与扫描速度的相关性的曲线图。

图15是表示实施例3中异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性的曲线图。

图16是表示实施例4中脉冲长度与扫描速度的相关性的曲线图。

图17是表示异常标记的存在比例与T_CPn的相关性的示意图。

图18是表示实施例5中异常标记数量和正常标记数量间的比例与T_CP3的相关性的曲线图。

图19是表示从实施例6中的异常标记数量和正常标记数量间的比例与Pe的相关性中所获得的结果的曲线图。

图20是表示异常标记数量和正常标记数量间的比例与T_CPn的相关性的曲线图。

具体实施方式

<光记录介质和光记录介质的记录方法>

在根据本发明的光记录介质的记录方法的第一实施方式中，对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包含：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光以扫描速度v扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn根据扫描速度v使用下述函数(1)和(2)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)    函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)    函数(2)

其中f_1，n(v)和f_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数，以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)的关系；

f_1，n(v)和f_2，n(v)均满足以下条件：异常标记的存在比例为1.0×10^-4或更少，其中该异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任何扫描速度。

在根据本发明的光记录介质的记录方法的第二实施方式中，对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包含：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，所述脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光在扫描速度v下扫描所述介质以在该介质上记录长度为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn根据扫描速度v使用下述函数(3)和(4)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)    函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)    函数(4)

其中g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数，以满足g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；

g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足下列条件：异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，其中该异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且

v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任何扫描速度。

在根据本发明的光记录介质的记录方法的第三实施方式中，对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包含：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光在扫描速度v下扫描所述介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

分别为第m个冷却脉冲和第m个加热脉冲的最后冷却脉冲和最后加热脉冲的长度T_CPn和长度T_LPn均根据扫描速度v使用下述函数(1)至(4)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)    函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)    函数(2)

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)    函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)    函数(4)

其中f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数，以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)且g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；

f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足以下条件：异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，其中所述异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且

v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任何扫描速度。

在根据本发明的光记录介质的第一实施方式中，光记录介质能够通过使用根据该第一实施方式的记录方法被记录，其中能够单一意义地确定v₀、f_1，n(v)和f_2，n(v)的信息被预先格式化。

在根据本发明的光记录介质的第二实施方式中，光记录介质能够通过使用根据该第二实施方式的记录方法被记录，其中能够单一意义地确定v₀、g_1，n(v)和g_2，n(v)的信息被预先格式化。

在根据本发明的光记录介质的第三实施方式中，光记录介质能够通过使用根据该第三实施方式的记录方法被记录，其中能够单一意义地确定v₀、f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)的信息被预先格式化。

接下来将详细地描述根据本发明的光记录方法。根据本发明的光记录介质的细节也将通过对光记录介质的记录方法的描述而被阐明。

应用了本发明记录方法的光记录介质是具有恒定的信息线(line)密度的光记录介质并且必须在不同的记录速度下均是可记录的和可重写的。对于记录模式，优选脉冲宽度调制模式，其中长度为nT(其中n是自然数且T是时钟周期)的标记和标记空隙被作为信息记录，并且RLL(游程长度受限(Run Length Limited))模式已被广泛地用于盘。作为其实例，给出了CD-RW、DVD+RW的EFM和DVD-RW的EFM+。在这种情况下，记录速度v和时钟周期T必须满足v×T＝常数来保持信息行密度不变。而且，v相对于盘半径位置r，必须满足v/r＝常数的条件来与CAV记录相对应。因此，记录必须在低于介质的最高记录速度v_H和高于最低记录速度v_L的任何速度下进行，从而在介质上任何半径位置处通过CAV记录。在以CD、DVD为代表的120mm直径盘中，优选v_H/v_L≥2.4。

在应用了本发明的记录方法的光记录介质中，通过在记录层附近照射和扫描经强度调制后的光从而在记录层材料中产生晶相和非晶相间的相变并形成非晶标记来记录信息。而且，优选盘使用具有高结晶速率的记录层材料并且最高记录速度v_H为20m/s或更高。

-记录策略-

对应于高速记录的记录入这些光记录介质的信息记录通过上述照射和扫描经强度调制后的光来进行。这些记录方法通常被称为“记录策略”。当形成长度为nT的记录标记时，用具有m个脉冲组的激光照射所述介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pb的冷却脉冲。这时，满足Pw＞＞Pb的关系。而且，在记录中功率Pw可依照扫描速度而被任意改变，但是功率Pw被设定为足以熔化记录层的功率。功率Pw优选为在20至40mW的范围之内来对应于8倍速DVD+RW。功率Pb必须非常低，低到足以迅速冷却被加热脉冲熔化的记录层，并优选在0至1mW的范围之内。

脉冲数量m可以被任意地设定，并且标记长度可以通过满足m＜n的关系而被容易地控制。此外，标记长度和脉冲数目可以通过满足m＝n-k的关系(k是1或更大的自然数)而达到比例关系，并且进一步便于对标记长度的控制。例如，在DVD+RW中，满足了m＝n-1的关系。但是，如果记录速度变得与8倍速DVD+RW相等，时钟周期T将变为4.8ns或更少。相反地，10至90％现有LD的响应时间为1.5ns长或更多并且往复过程需要3ns或更多。因此，相对于4.8ns的发光周期损失是大的，所以不能获得充分的加热效果和冷却效果。因此，优选减少m以对应具有短的时钟周期T的高速记录。

美国CD-RW的标准规范是被Orange Book Part III，卷3，1.1版所采用的2T策略，其作为减少m的实例给出。

2T策略的例子如图1A至图1C所示。图1A表示了NRZI(反向不归零制)数据。图1B表示了n＝3、m＝1时的情况，图1C表示了n＝8、m＝4时的情况。就是说，在2T策略中，通过当n是偶数时取m＝n/2且当n是奇数时取m＝(n-1)/2，加热脉冲的周期变成了大约2T。与m＝n-1的情况相比较，即使是在具有短的时钟周期T的高速记录中也可以熔化和快速冷却记录层。此外，优选使m≤n/2以对应于DVD的8倍速或更高的高速记录。

加热脉冲的长度和冷却脉冲的长度，也就是各照射时间，能够被分别地任意设定，但是优选在记录中根据扫描速度v和时钟周期T的变化来设定适当值。

对应于4倍速至10倍速的记录和重写的CD-RW记录策略在作为美国CD-RW标准规范的Orange Book Part III，卷2，1.1版中说明。在4倍速(v＝4.8m/s、T＝57.9ns)下，加热脉冲＝0.2T、冷却脉冲＝0.8T；在8倍速(v＝9.6m/s、T＝28.9ns)下，加热脉冲＝0.4T、冷却脉冲＝0.6T；在10倍速(v＝12.0m/s、T＝23.1ns)下，加热脉冲＝0.5T、冷却脉冲＝0.5T。也就是说，速度越高，加热脉冲的长度相对于时钟周期就越长，而冷却脉冲的长度相对于时钟周期就越短。与v的相关性变成了成比例的关系。

相对于1倍速至2.4倍速的加热脉冲宽度在作为DVD+RW的标准规范的DVD+ReWritable 4.7G字节基本格式规范***说明(4.7GByte BasicFormat Specifications System Description)1.2版中由扫描速度v的比例表达式说明。

此外，通过以在日本早期公开专利申请(JP-A)2000-322740、JP-A2001-118245和JP-A 2001-243626中的扫描速度v的连续函数描述长度，加热脉冲和冷却脉冲的各自长度可通过任意记录速度下最佳记录参数而得到描述。

如果v在记录速度区域即v_L≤v≤v_H的速度区域中被确定，加热脉冲和冷却脉冲的长度能够在所有这些技术中被唯一地确定。

但是，这些技术不适用于使用上述能够对应v_H≥20m/s的记录层材料的光记录介质中。尽管记录层材料的结晶速率必须提高以与高速记录相对应，照射光至光记录介质上的时间不可避免地被记录中扫描速度的加速所缩短(反比于扫描速度)。结果，结晶或非晶相的形成必须在较短的时间内进行。因为非晶相的形成是通过迅速冷却记录层进行的，扫描速度越快记录层越容易骤冷这一事实并未带来不方便，但是结晶必须被缓慢地冷却，因此如果照射时间缩短这就变得困难。为此，优选通过提高记录层材料的结晶速率来使结晶在较短的照射时间内进行。

但是，在具有如此高结晶速率的记录层材料中，容易由于记录条件的微小差异而出现异常晶体生长。异常晶体生长的例子在图2A中被示意性地表示。图2A表示通过图1B所示的记录策略进行记录的情况下所记录的标记，该记录策略使用具有交替的3T标记和3T间隙的模式。(标记的形状能够通过透射电镜观察。)如图2A所示，标记A和标记C是正常的记录标记，而且异常晶体生长在标记B的末端出现。如图2B所示，在这样的异常晶体生长情况下的再现信号使正常情况(虚线)失真。结果，二进制化后的信号如图2C所示，仅仅是具有异常晶体生长的标记B在短于3T的时间内被再现。

如果图2C的二进制化后的信号通过TIA(时间间隔分析)测量以分析标记B的出现率，能够获得例如示于图3的结果。也就是说，它被分成以3T为中心值作正态分布的部分和在较短侧分布的部分。在较短侧分布的部分是由异常晶体生长引起的。如果取具有异常晶体生长的标记(异常标记)的数量与具有正态分布的标记(正常标记)的数量的比例，会发现该比例显著地依赖于记录速度v、最后加热脉冲的长度T_LP3和最后冷却脉冲的长度T_CP3。

异常标记存在比例，即异常标记数量相对于正常标记数量的比例与T_CP3和v的相关性如图4所示。异常标记的存在比例与T_LP3和v的相关性如图5所示。用于测量的光记录介质是直到DVD+RW的8倍速光驱(即v_H＝27.9m/s)下都可记录的样品。异常标记的存在比例在全部记录速度下在某个T范围内变得非常高。异常标记在再现时变成了超过上述规范的信号，因此它们成为了读取错误的原因。如果该存在比例多于1.0×10^-4，变成无法校正的错误的可能性就会高，因此再现信号的可靠性显著地降低。

测量与异常标记存在比例相关的T_CPn的方法解释如下。

该存在比例通过进行nT标记和nT间隙交替排列的模式的记录来测量。这时，T_LPn可以根据v任意地设定，但是优选的是如调制度、不对称性、抖动的特性被优化至较佳值，并优选T_LPn设定为基本上与脉冲序列的其它脉冲相同的照射时间，所述脉冲序列即第一个脉冲至第(m-1)个脉冲。这时，可根据扫描速度v使用连续函数或者使用两个函数设定T_LPn。

对加热脉冲的照射功率和擦除功率设定最佳记录功率。最佳记录功率可使用光记录介质上预先格式化的信息或者可以通过OPC(最佳功率控制)设定。

扫描速度设定在扫描速度v₀，如下所述在该扫描速度v₀下用于设定T_CPn的函数从函数(1)变化为函数(2)。这时，时钟周期T也必须依照该扫描速度被合适地设定。

测试记录通过在不同的T_CPn下的上述设定进行，变化的T_CPn的范围是可任意设定的，但优选0T到3T的范围。如果设定过长，偏离轨道和聚焦的可能性将增加，这是因为冷却脉冲变长并且低功率的照射时间延长。

当记录过的区域被再现以计数异常标记的数量时，如上所述使用合适的二进制化单元和时间间隔分析器。时间间隔分析器的分析结果如图3所示(n＝3的例子)。在这里，长度小于(n-0.5)T的标记被作为异常标记计数。相反地，长度在(n±0.5)T范围内的标记被作为正常标记计数。异常标记的比例是通过取异常标记数量与正常标记数量的比计算出的。

这样测量的异常标记的存在比例的相关性示意性地示于图17。

存在比例为1.0×10^-4或更少的范围可以在下述两种情况(1)和(2)中出现。

(1)T_CPn≤T_CPn(1)

(2)T_CPn≥T_CPn(2)

T_CPn的适当值分别在(1)和(2)的范围内设定，设定连续函数f_1，n和f_2，n以满足情况(1)中T_CPn/T＝f_1，n(v₀)的要求和情况(2)中T_CPn/T＝f_2，n(v₀)的要求。必须设定各个连续函数以能够获得在最低记录速度和最高记录速度下的良好特性。

可以以同样的方式设定T_LPn和函数g_1，n、g_2，n。

图6表示当异常标记存在比例多于1.0×10^-4时T_CP3和v的范围。在图6的灰色区域中，异常标记存在比例高，因此不能确定T_CP3。在这里，如果关注3.3倍速(v＝11.5m/s)的点，T_CP3可设定的范围被限制到T_CP3＞1.5T。另一方面，在8倍速(v＝27.9m/s)下可允许T_CP3＞1.5T和T_CP3＜0.6T两种解决方案，但是T_CP3＞1.5T会导致不可能存在正常记录和高不对称性，这是因为标记长度变得过长。因而，必须使T_CP3＜0.6T。

在这里，为了与CAV记录相对应，有必要使在3.3倍速至8倍速(11.5-27.9m/s)范围内的任意记录速度均可被设定。在常规技术中通常使用内插法，在内插法中连续函数被简单地内插到T_CPn3.3至8倍速的设定值之间。其例子如图7所示。

常规技术中参数T_CPn的设定方法由图7中的虚线表示。最简单的线性函数的情况作为例子来表示。在该情况中，在中间速度下，参数T_CP3必须被设定在高的异常标记存在比例的范围之内，导致记录信号的再现可靠性显著变差。

相反地，在根据本发明的光记录介质的记录方法中，参数T_CPn设定为在高的异常标记存在比例的区域之外的值。也就是说，用于设定该参数的函数在某中间速度v₀(v_L≤v₀≤v_H)下从下述函数(1)变化为下述函数(2)，从而该参数可以设定为在高的异常标记存在比例的区域之外的值。

也就是说，在本发明中，最后冷却脉冲T_CPn的长度用如下函数确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f1，n(v)    函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f2，n(v)    函数(2)

其中f_1，n(v)和f_2，n(v)都是v的连续函数以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)的关系，结果避开了高错误区域。

图7表示了n＝3即T_CP3情况下的例子。本发明参数设定方法由图7中的实线表示，其中v_H＝27.9m/s、v_L＝11.5m/s且v₀＝20.9m/s。

高的异常标记存在比例的区域可通过在v＝v₀处显著地且不连续地改变设定值T_CP3来避开。

尽管用于设定T_CP3的函数从函数(1)改变为函数(2)时的速度v₀可以任意地设定，该速度应该被选为使得可以获得良好的特性，例如抖动特性、调制度，其中T_CPn设定为在高的异常标记存在比例的区域之外的值。因此，该速度优选在0.4v_H≤v₀≤0.8v_H的范围之内。

对于连续函数f_1，n(v)与f_2，n(v)，前述关系必须在v＝v₀时成立，但是可以设定任意的函数***。更优选分别取作为线性函数的函数以便于设定参数。

关于最后加热脉冲的长度T_LPn，也适用同样的方法。

也就是说，当T_LPn由如下函数(3)和(4)确定时，

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)    函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)    函数(4)

其中g_1，n(v)和g_2，n(v)都是v的连续函数以满足g₁(v₀)＜g₂(v₀)的关系，其使得能够显著地减少中间记录速度下异常标记的数量。

任何函数***都可用于g_1，n(v)和g_2，n(v)，但是参数的设定可以通过使用线性函数作***而容易地进行。尽管用于设定T_CP3的函数从函数(3)改变为函数(4)时的速度v₀可以任意地设定，该速度应该被选为使得可以获得良好的特性，例如抖动特性、调制度，其中T_LPn设定为在高的异常标记存在比例的区域之外的值。因此，该速度优选在0.4v_H≤v₀≤0.8v_H的范围之内。

通过使用一个用于扫描速度v的连续函数设定T_CPn和T_LPn中任意一个并且使用两个函数设定另一个的方式、或者通过使用两个函数设定T_CPn和T_LPn的方式可以减少异常标记的数量。哪个参数使用两个函数来设定通过看异常标记的数目和基本记录信号特性(抖动、不对称性等)是否在所需要的范围之内来确定。

<光记录介质>

如上所述，异常标记的出现极大地依赖于记录层材料的性质例如结晶速率等。因此，能够确定v₀、f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)的信息可以预先在光记录介质中被预先格式化。例如，当满足下述函数时；

f_1，n(v)＝a₁×v+b₁

f_2，n(v)＝a₂×v+b₂，

其中a₁、b₁、a₂、b₂是光记录介质的固有常数，表示a₁、b₁、a₂、b₂和v₀的信息预先在光记录介质中被预先格式化。

作为本技术中使用的预先格式化的方法，给出了例如CD-RW的ATIP额外信息和DVD+RW的物理信息等。如果上述信息在各光记录介质中预先格式化，记录设备可以从预先格式化的信息中获得最佳记录参数。

<光记录介质的评价方法>

在根据本发明的光记录介质的评价方法的第一实施方式中，其中标记通过以下方式被记录到光记录介质上：用具有m个脉冲组的激光照射介质，每个脉冲组都包含功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光在扫描速度v下扫描介质以在记录介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

对应于不同记录速度的光记录介质的评价方法，包括：通过不同地改变作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn进行测试记录；再现测试记录标记；测量再现标记各自的长度L；计数满足条件L/nT≥n-0.5的正常标记和满足条件L/nT＜n-0.5的异常标记；并且获得异常标记存在比例以评价光记录介质的质量，该比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

在根据本发明的光记录介质的评价方法的第二实施方式中，其中光记录介质是直接盖写介质，标记通过以下方式在其上记录：用具有m个脉冲组的激光照射介质，每个脉冲都包含功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；并且用激光在扫描速度v下扫描介质以在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，并且记录的标记被通过以下方式擦除：使用具有功率为Pe的擦除脉冲的激光照射介质的未记录区域即标记之间的间隙，其中满足Pw＞Pe＞Pc的关系，

对应于不同的记录速度的光记录介质的评价方法，包括：通过不同地改变功率Pe进行测试记录；再现测试记录标记；测量再现标记各自的长度L；计数满足条件L/nT≥n-0.5的正常标记和满足条件L/nT＜n-0.5的异常标记；并且获得异常标记存在比例以评价所述光记录介质的质量，该比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

如上所述，异常晶体生长极大地依赖于记录层材料的材料性质例如结晶速率和热学性能，以及记录方法即T_LPn和T_CPn的设定方法。当相变材料，例如合金，被用于记录层材料中时，如果纯度和组成元素的组成比例被合适地控制则异常标记的数量可以减少。但是，通常，盘是薄膜的多层结构，因此异常标记的数量也随着各层的薄膜形成状态而波动。也就是说，各层的热容量和热传导性随着层的厚度和膜的质量变化而波动，导致热介质设计的变化。所述热介质设计的变化有时具有类似于改变记录方法的效应，因此热介质设计的变化影响异常标记数量的增加等。因而，适当的评价方法成为对于实现介质的稳定生产所必需的。

以下将描述一种特定的评价方法。

当检测光记录介质时，灵敏度是不好的并且当使用光记录条件即存在很少异常标记的记录条件时适当的检测是非常困难的。也就是说，即使出现了目标热设计的偏离，异常标记数量的增加也很少并且因此在很多情况下不超过测量误差。所以，需要具有更好的灵敏度的评价方法。

异常标记比例与T_CPn设定值的相关性如图17所示。盘特性波动的情况下的相关性如图20所示。正常盘中异常标记比例由实线表示。盘特性偏离的情况下的异常标记比例由虚线表示。

如上所述，具有很低数量的异常标记的条件(条件A)是记录参数T_CPn的最佳条件。但是，当在最佳条件下盘波动时，异常标记数量的波动是小的。因此，在检测最佳条件下盘波动的情况下的检测参考设定范围变成非常窄的区域。于是，如果异常标记数量的小波动区域中的T_CPn被用作检测参数，当测量误差出现时，将造成检测精度显著变差。

相反，因为异常标记数量的巨大的波动，T_CPn在高的异常标记数量的情况(条件B)下使得能够采用宽的检测参考设定范围。此外，即使出现了测量误差，检测精度也不会显著地变差。

考虑到上述要点，在记录条件被有意地偏离最优条件的情形下完成检测，使得能够设定可以精确地判断介质的波动的检测条件。

任何参数都可作为有意偏离以用于检测的参数给出，但是优选选择对异常标记数量造成巨大影响的参数，例如，给出T_CPn或擦除功率Pe与记录功率Pw的比值Pe/Pw。

此外，可以用任何数据作为检测中的记录数据。为了改善检测的精确度，相比于具有交替的随机长度的标记和间隙的随机数据模式，更优选记录具有交替的相同长度的标记和间隙的数据模式，使得能够减少码元间相互干扰(邻近的标记或间隙的长度影响再现信号的现象)的影响，因此这种情况是更优选的。

此外，在使用均具有相同长度的标记和间隙的模式的情况下，长度可以被任意地设定，但是优选设定为对记录速度来说最有效的长度。更优选地，使用均具有尽可能短的长度的标记和间隙的模式来进行记录，使得即使在相同的再现长度中用于评价的样品数量也增加。因此，精确度被进一步改善。作为模式的例子，给出了具有交替的3T标记和间隙的模式、具有交替的4T标记和间隙的模式。

根据本发明，在抑制超出规格的标记长度出现的同时，记录可以以高可靠性容易地进行，这是因为最后加热脉冲的长度和/或最后冷却脉冲的长度由两种连续函数确定，并且对于任意扫描速度，最后加热脉冲的长度和/或最后冷却脉冲的长度的最优值能够容易地确定。

本发明将由实施例和对比例更具体地解释，但是本发明并不受这些实施例的限制。

(实施例1)

因为市场上没有与20m/s或更高的高速记录相对应的DVD介质，因此制作样品盘。

将由ZnS和SiO₂的混合物制成的60nm厚的下保护层、由GaSbSnGe合金制成的15nm厚的记录层、由ZnS和SiO₂的混合物制成的10nm厚的上保护层以及由Ag制成的200nm厚的反射层依次地层压在0.6mm厚且120mm直径的聚碳酸酯DVD+RW基板上，该基体具有通过溅射工艺形成的0.74μm道间距的螺旋形连续组(spiral continuous group)。而且，另一种基板通过用于盘的市售UV树脂粘合剂粘在反射层上使其成为1.2mm厚的盘。其形状完全满足DVD+RW的规范。

随后，记录层通过用于相变型盘的起动(initiation)设备在整个表面结晶。制出的盘是良好的并满足未记录状态的DVD+RW的各种规范

对制出的样品盘的记录评价通过用于DVD+RW的记录和再现评价装置(Pulstec Industry Inc.制造，DDU1000)进行。用于记录和再现的光拾取器(optical pick-up)如下所示。

波长：            659nm

物镜NA：          0.65

再现时的照射功率：0.7mW

记录时的照射功率：1.0至40.0mW

扫描速度可以设定在3.49m/s至30.0m/s的范围之内。

Tectronics Co.制造的数据发生器DTG5027用于记录策略的预备。所用记录策略采用2T策略，即满足n是偶数时n＝2m的条件和n是奇数时n＝2m+1的条件的记录策略。在这里，记录了具有交替的3T标记和3T间隙的模式。3T标记的策略参数是两个，即加热脉冲长度T_LP3和冷却脉冲长度T_CP3。记录在表1条件中的各种记录速度下进行。

表1

速度	扫描速度v(m/s)	时钟周期T(ns)	T<sub>LP3</sub>/T	T<sub>CP3</sub>/T
					3.3X	11.52	11.6	0.313	2.125
4.0X	13.96	9.6	0.375	2.125
					5.0X	17.45	7.6	0.438	2.125
6.0X	20.94	6.4	0.500	2.125
					6.0X	20.94	6.4	0.500	0.500
7.0X	24.43	5.5	0.563	0.625
					8.0X	27.92	4.8	0.625	0.750

此外，参数T_LP3和T_CP3与扫描速度的相关性如图8所示。

在v₀＝20.94m/s的情况下，T_CP3/T可以由下述函数描述，

v＜v₀，T_CP3/T＝f_1，3(v)＝2.125

v≥v₀，T_CP3/T＝f_2，3(v)＝0.036v-0.25

其中满足f_1，3(v₀)＞f_2，3(v₀)的关系。

在采用这种方法的记录中，获得了异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性。结果示于图9。异常标记的存在比例在11.52m/s至27.92m/s的速度范围内为1.0×10^-4或更少。

(对比实施例1)

对于与实施例1中相同的样品盘，记录通过使用与实施例1中同样的方式进行，除了使用表2中的参数代替表1之外。如表2所示，参数T_LP3和T_CP3用先前的单一连续函数确定。

表2

速度	扫描速度v(m/s)	时钟周期T(ns)	T<sub>LP3</sub>/T	T<sub>CP3</sub>/T
					3.3×	11.52	11.6	0.313	2.125
4.0×	13.96	9.6	0.375	1.850
					5.0×	17.45	7.6	0.438	1.575
6.0×	20.94	6.4	0.500	1.300
					7.0×	24.43	5.5	0.563	1.025
8.0×	27.92	4.8	0.625	0.750

参数T_LP3和T_CP3与扫描速度的相关性示于图10。两个参数中的每一个都使用连续线性函数来确定。异常标记数量和正常标记数量间的比例与扫描速度的相关性示于图11。从图11的结果中，发现除了扫描速度为11.52m/s、27.92m/s时以外，由于异常标记的存在比例多于1.0×10^-4，因此记录信息的再现可靠性显著地变差。

(实施例2)

对于与实施例1中相同的样品盘，记录通过使用与实施例1中同样的方式进行，除了使用表3中的参数代替表1之外。

表3

速度	扫描速度v(m/s)	时钟周期T(ns)	T<sub>LP3</sub>/T	T<sub>CP3</sub>/T
					3.3×	11.52	11.6	0.313	2.125
4.0×	13.96	9.6	0.328	1.850
					5.0×	17.45	7.6	0.344	1.575
6.0×	20.94	6.4	0.359	1.300
					6.0×	20.94	6.4	0.625	1.300
7.0×	24.43	5.5	0.656	1.025
					8.0×	27.92	4.8	0.688	0.750

参数T_LP3和T_CP3与扫描速度的相关性示于图12。T_CP3使用一个连续函数来确定，但是T_LP3使用两个函数来确定。也就是说，在v＜v₀的范围内，T_LP3/T＝g_1，3(v)＝0.00489v+0.258；在v≥v₀的范围内，T_LP3/T＝g_2，3(v)＝0.009v+0.438。此外，满足g_1，3(v₀)＜g_2，3(v₀)的关系。

记录可通过这种记录方法进行，并且测量异常标记数量和正常标记数量的结果示于图13。

与实施例1相比异常标记的数量增加了，但是异常标记的存在比例在1.0×10^-4或更少的范围内。即使与对比例1相比异常标记的数量也极大减少了。

(实施例3)

对于与实施例1中相同的样品盘，记录通过使用与实施例1中同样的方式进行，除了通过n＝10和m＝5的2T策略记录具有交替的10T标记和10T间隙的模式并且使用表4中的参数之外。在这里，使得加热脉冲的长度与最后加热脉冲的长度相同，并且设定与实施例1中相同的值。

表4

速度	扫描速度v(m/s)	时钟周期T(ns)	T<sub>LP3</sub>/T	T<sub>CP3</sub>/T
					3.3×	11.52	11.6	0.313	1.875
4.0×	13.96	9.6	0.375	1.750
					5.0×	17.45	7.6	0.438	1.625
6.0×	20.94	6.4	0.500	1.500
					6.0×	20.94	6.4	0.500	0.500
7.0×	24.43	5.5	0.563	0.250
					8.0×	27.92	4.8	0.625	0.000

参数T_LP10和T_CP10与扫描速度的相关性示于图14。也就是说，在v₀＝20.94m/s的情况下T_CP10/T可以由下述函数所描述，

v＜v₀，T_CP10/T＝f_1，10(v)＝-0.0391v+2.312

v≥v₀，T_CP10/T＝f_2，10(v)＝-0.072v+2.00

其中满足f_1，10(v₀)＜f_2，10(v₀)的关系。

相似地，测量异常标记数量和正常标记数量的比例的结果示于图15。已确认，在所有测量区域中异常标记的数量小并且记录信号的再现可靠性高。而且，已确认，较长的标记(大n)和在n＝3且m＝1的情况下的标记都对记录是有效的。

(实施例4)

对于与实施例1中相同的样品盘，记录通过使用与实施例1中相同的方式进行，除了使用表5中的参数之外。

表5

速度	扫描速度v(m/s)	时钟周期T(ns)	T<sub>LP3</sub>/T	T<sub>CP3</sub>/T
					3.3×	11.52	11.6	0.313	2.125
6.0×	20.94	6.4	0.500	2.125
					6.0×	20.94	6.4	0.613	0.432
8.0×	27.92	4.8	0.688	0.750

参数T_CP3和T_LP3与扫描速度的相关性示于图16。T_CP3和T_LP3使用两个函数来确定。当进行与实施例1相同的评价方法时，在每个扫描速度下异常标记的存在比例都为1.0×10^-4或更少。

(实施例5)

新制备出了两种样品盘，其与实施例1样品盘(盘1)相似，除了改变了记录层厚度和上保护层厚度之外。也就是说，一种被称为盘2的样品盘被制成具有19nm厚的记录层和12nm厚的上保护层，并且另一被称为盘3的样品盘被制成具有12nm厚的记录层和6nm厚的上保护层。

将具有交替的3T标记和3T间隙的模式记录在制得的盘1至3上，并且类似实施例1地测量异常标记数量和正常标记数量的比例。这时，扫描速度取相当于6倍速DVD的20.9m/s，并且记录通过在0.75T至2.25T的范围内不同地改变T_CP3来进行。

T_CP3与异常标记数量和正常标记数量的比例的相关性示于图18。发现异常标记数量和正常标记数量的比例在不同组成的盘中显著地改变。

因而，能够通过上述方法检测光记录介质的组成的波动。

(实施例6)

对于与实施例5中相同的盘1至3的记录和评价以类似实施例1的方式进行，除了扫描速度取相当于6倍速DVD的20.9m/s，并且将T_CP3固定在0.75T之外。

记录具有交替的3T标记和3T间隙的模式并且异常标记数量和正常标记数量的比例采用与实施例5中类似的方式来测量。这时，记录通过不同地改变记录条件的擦除功率Pe来进行。异常标记数量和正常标记数量的比例与Pe的相关性示于图19。在图19中，水平轴是在Pw固定于34mW的情况下用Pw表示的值。

从图19中发现异常标记的数量随着擦除功率Pe的改变而改变。特别地，在低Pe/Pw的范围内，异常标记的数量在盘1至3中显著地不同。

因此，当盘的组成随盘1至3波动时，能够通过改变擦除功率Pe检测到盘的组成的波动。

Claims (22)

1.一种对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包括：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光以扫描速度v扫描所述介质来在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn根据扫描速度v使用下述函数(1)和(2)来确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)            函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)            函数(2)

其中f_1，n(v)和f_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)的关系；

f_1，n(v)和f_2，n(v)均满足以下条件：其中异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，该异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且

v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任意扫描速度。

2.根据权利要求1的光记录介质的记录方法，进一步包括根据扫描速度v，控制作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn。

3.根据权利要求1的光记录介质的记录方法，其中f_1，n(v)和f_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。

4.根据权利要求1的光记录介质的记录方法，其中当n是偶数时函数m＝n/2成立，并且当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。

5.根据权利要求1的光记录介质的记录方法，其中，满足v_H/v_L≥2.4且0.4v_H/v_L≤v₀≤0.8v_H的函数，其中该介质的最高记录速度由v_H表示并且该介质的最低记录速度由v_L表示。

6.一种对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包括：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光以扫描速度v扫描所述介质来在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn根据扫描速度v使用下述函数(3)和(4)确定，

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)        函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)        函数(4)

其中g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；

g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足以下条件：异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，该异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量间的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且

v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任意扫描速度。

7.根据权利要求6的光记录介质的记录方法，还包括根据扫描速度v，控制作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn。

8.根据权利要求6的光记录介质的记录方法，其中g_1，n(v)和g_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。

9.根据权利要求6的光记录介质的记录方法，其中当n是偶数时函数m＝n/2成立，并且当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。

10.根据权利要求6的光记录介质的记录方法，其中，满足v_H/v_L≥2.4且0.4v_H/v_L≤v₀≤0.8v_H的函数，其中该介质的最高记录速度由v_H表示并且该介质的最低记录速度由v_L表示。

11.一种对应于不同记录速度的光记录介质的记录方法，包括：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光以扫描速度v扫描所述介质来在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

其中：

作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn和作为第m个加热脉冲的最后加热脉冲的长度T_LPn分别根据扫描速度v使用下述函数(1)至(4)确定，

在v＜v₀的范围内，T_CPn/T＝f_1，n(v)        函数(1)

在v≥v₀的范围内，T_CPn/T＝f_2，n(v)        函数(2)

在v＜v₀的范围内，T_LPn/T＝g_1，n(v)        函数(3)

在v≥v₀的范围内，T_LPn/T＝g_2，n(v)        函数(4)

其中f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均表示扫描速度v的连续函数以满足f_1，n(v₀)＞f_2，n(v₀)且g_1，n(v₀)＞g_2，n(v₀)的关系；

f_1，n(v)、f_2，n(v)、g_1，n(v)和g_2，n(v)均满足以下条件：异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少，所述异常标记的存在比例是异常标记数量和正常标记数量的比例，正常标记满足L/nT≥n-0.5的要求且异常标记满足L/nT＜n-0.5的要求，其中L是通过再现记录标记获得的每个再现标记的长度，并且

v₀是所选择的满足异常标记的存在比例是1.0×10^-4或更少的任意扫描速度。

12.根据权利要求11的光记录介质的记录方法，其中f_1，n(v)和f_2，n(v)中的至少一个以及g_1，n(v)和g_2，n(v)中的至少一个是扫描速度v的线性函数。

13.根据权利要求11的光记录介质的记录方法，其中当n是偶数时函数m＝n/2成立，并且当n是奇数时函数m＝(n-1)/2成立。

14.根据权利要求11的光记录介质的记录方法，其中，满足v_H/v_L≥2.4且0.4v_H/v_L≤v₀≤0.8v_H的函数，其中该介质的最高记录速度由v_H表示并且该介质的最低记录速度由v_L表示。

15.一种对应于不同记录速度的光记录介质的评价方法，

其中标记通过以下方式记录到光记录介质上：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包括功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光以扫描速度v扫描所述介质来在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是时钟周期，且满足m＜n的关系，

所述评价方法包括：

通过不同地改变作为第m个冷却脉冲的最后冷却脉冲的长度T_CPn进行测试记录；

再现测试记录标记；

测量再现标记各自的长度L；

计数满足L/nT≥n-0.5的要求的正常标记和满足L/nT＜n-0.5的要求的异常标记；以及

获得异常标记存在比例以评价光记录介质的质量，该异常标记存在比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

16.根据权利要求15的光记录介质的评价方法，

其中通过使用在n＝3的情况下具有交替的3T标记和3T标记间隙的模式进行测试记录。

17.根据权利要求15的光记录介质的评价方法，其中扫描速度定为所述介质的最高记录速度和最低记录速度的平均值。

18.根据权利要求15的光记录介质的评价方法，

其中通过使用在n＝4的情况下具有交替的4T标记和4T间隙的模式以介质的最低记录速度进行测试记录。

19.一种对应于不同记录速度的光记录介质的评价方法，

其中光记录介质是直接盖写介质，标记通过以下方式记录到该介质上：

用具有m个脉冲组的激光照射介质，其中每个脉冲组都包含功率为Pw的加热脉冲和功率为Pc的冷却脉冲，其中m是自然数；以及

用激光在扫描速度v下扫描所述介质来在该介质上记录长度均为nT的标记，其中n是3或更大的自然数，T是脉冲周期，且满足m＜n的关系，

并且记录标记通过以下方式被擦除：

使用具有功率为Pe的擦除脉冲的激光照射介质的未记录区域，所述未记录区域为标记之间的间隙，其中满足Pw＞Pe＞Pc的关系，

所述评价方法包括：

通过不同地改变功率Pe进行测试记录；

再现测试记录标记；

测量再现标记各自的长度L；

计数满足L/nT≥n-0.5的要求的正常标记和满足L/nT＜n-0.5的要求的异常标记；以及获得异常标记存在比例以评价所述光记录介质的质量，所述异常标记存在比例是异常标记数量与正常标记数量的比例。

20.根据权利要求19的光记录介质的评价方法，

其中通过使用在n＝3的情况下具有交替的3T标记和3T标记间隙的模式进行测试记录。

21.根据权利要求19的光记录介质的评价方法，其中扫描速度定为所述介质的最高记录速度和最低记录速度的平均值。

22.根据权利要求19的光记录介质的评价方法，

其中通过使用在n＝4的情况下具有交替的4T标记和4T间隙的模式以介质的最低记录速度进行测试记录。

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