JP2005195486A - 光ファイバケーブルの劣化検知システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 光スイッチ12は、光ファイバケーブル11の複数の光ファイバに対して、光パルス試験器13の検知用光ファイバ13aあるいは第2光パルス試験器31の検知用光ファイバ31aあるいは第3光パルス試験器32の検知用光ファイバ32aを制御装置14の制御により選択的に接続する。制御装置14は、光パルス試験器13にて検出される光ファイバケーブル11の長手方向における温度分布の時間変化に基づき、光ファイバケーブル11内への浸水によって比熱が増大した位置を検出すると共に、各光パルス試験器31,32から出力される強度分布のデータに基づき、光ファイバの曲げ変形等による損失増大や、光ファイバの伸び歪みや、光ファイバの断線等の劣化の有無を検出する。
【選択図】 図4
Description
また、例えば水と反応して発熱あるいは吸熱する反応材を光ファイバケーブル内に備え、この反応材の発熱あるいは吸熱によって光ファイバに発生した局所的な温度変化を光パルス試験器により検出する方法(例えば、特許文献2参照)が知られている。
このように光ファイバケーブルの劣化状態が助長されると、例えば浸水検知後であっても保守作業等が実行されるまでの期間において、この光ファイバケーブルにより通信を行う必要がある場合等に通信特性が過剰に劣化してしまったり、例えば浸水検知後に実行される保守作業等に要する手間が煩雑化してしまう虞がある。
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、光ファイバケーブルの劣化状態を助長することを防止しつつ、光ファイバケーブル内への浸水の有無を適切に検出することが可能な光ファイバケーブルの劣化検知システムを提供することを目的とする。
しかも、光ファイバケーブル内の浸水箇所は、光パルス試験器への戻り光の戻り時間に基づいて把握することができ、光ファイバケーブルの修復作業等を容易に行うことができる。
さらに、請求項2記載の本発明の光ファイバケーブルの劣化検知システムによれば、光ファイバケーブル内への浸水の有無に加えて、光ファイバの曲げ変形等による損失の増大や光ファイバの伸び歪みや光ファイバの断線等の多様な特性劣化の有無を検出することができる。例えば、第2光パルス試験器の検出結果に基づき光ファイバでの伝送損失の増大や断線の発生を検知した際には、この伝送損失の増大が光ファイバケーブル内への浸水に起因するものであるか否か、あるいは、光ファイバケーブルの疲労等による応力歪みに起因するものであるか否かを判別することができる。また、光パルス試験器により検出される光ファイバケーブルの長手方向における温度分布に応じて、第3光パルス試験器により検出される光ファイバケーブルの長手方向における伸び歪みの分布に対して精度の良い温度補正を行うことができる。これに伴い、光ファイバケーブルに機械的な疲労が発生しているか否かを精度良く検知することができ、さらに、第2光パルス試験器の検出結果に基づき光ファイバでの伝送損失の増大の程度を検知することにより光ファイバケーブルの余寿命の推定が可能となる。
本実施の形態による光ファイバケーブルの劣化検知システム10は、検知対象とされる光ファイバケーブル11の劣化状態として、例えば光ファイバケーブル11内部への浸水の有無を検知するものであって、例えば、光スイッチ12と、光パルス試験器13と、制御装置14と、入力装置15と、出力装置16とを備えて構成されている。
光スイッチ12は、光ファイバケーブル11の複数の光ファイバに対して、後述する光パルス試験器13の検知用光ファイバ13aを、制御装置14の制御により選択的に接続する。
光パルス試験器13は、制御装置14の制御により、例えば所定の時間間隔毎等において、検知用光ファイバ13aを介して、この検知用光ファイバ13aに接続されている光ファイバケーブル11の光ファイバに試験光を入射し、この入射光に対する戻り光、つまり検知用光ファイバ13aの入射端に戻ってくる光を観測する。
状態量算出部22は、温度分布データ記憶部21に格納されている温度分布の時系列データに基づき、光ファイバの長手方向における適宜の位置毎に、例えば、所定時間幅での温度変化量を算出する。
温度変化量比較部23は、例えば、光ファイバの長手方向における適宜の位置毎に算出された温度変化量の大きさに基づき、比較処理の基準値として、例えば光ファイバの長手方向の全域における温度変化量の平均値や、例えば光ファイバの長手方向における所望位置の前後での所定距離範囲における温度変化量の平均値等を算出し、光ファイバの長手方向における適宜の位置毎に温度変化量の大きさと基準値とを比較し、偏差等を算出する。
これにより、劣化判定部24は、例えば基準値に比べて温度変化量の大きさが所定偏差を超えて小さい場合には、より緩慢な温度変化が生じていると判断し、光ファイバケーブル11内への浸水によって比熱が増大したと判定する。
先ず、図3に示すステップS01においては、温度分布の時系列データ(温度分布データ)を取得する。
次に、ステップS02においては、光ファイバの長手方向における適宜の位置毎に、例えば所定時間幅での温度変化量を算出する。
そして、ステップS04においては、光ファイバの長手方向における適宜の位置毎に、温度変化量の大きさと基準値との偏差が所定偏差を超えたか否かを判定する。
この判定結果が「NO」の場合には、ステップS05に進み、光ファイバケーブル11内への浸水は発生していなと判断し、光ファイバケーブル11は正常であると判定して、一連の処理を終了する。
一方、この判定結果が「YES」の場合には、ステップS06に進み、光ファイバケーブル11内への浸水が発生したと判断し、光ファイバケーブル11が異常であると判定して、ステップS07に進む。
ステップS07においては、温度変化量の大きさと基準値との偏差が所定偏差を超えた位置を、浸水発生位置として出力装置16等へ出力し、一連の処理を終了する。
また、上述した本実施の形態においては、例えば光ファイバの長手方向の全域における温度変化量の平均値や、例えば光ファイバの長手方向における所望位置の前後での所定距離範囲における温度変化量の平均値等を比較処理の基準値として設定したが、これに限定されず、例えば基準値を所定値としてもよい。
例えば図4に示す本実施形態の変形例に係る光ファイバケーブルの劣化検知システム10は、検知側端末装置10aと、制御側端末装置10bとを備えて構成され、検知側端末装置10aは、光スイッチ12と、光パルス試験器13と、制御装置14と、入力装置15と、出力装置16と、検知側通信装置30と、第2光パルス試験器31と、第3光パルス試験器32とを備えて構成され、制御側端末装置10bは、制御側通信装置50と、制御装置51と、入力装置52と、出力装置53とを備えて構成されている。
すなわち、光ファイバに曲げ変形等が無い状態では、光ファイバ全長から光ファイバ固有の微小な歪み等によって生じるレイリー散乱光が戻り光として観測されるが、例えば、光ファイバの曲げによって損失が増大すると、曲げ変形箇所以後、第2光パルス試験器31から遠い光ファイバからのレイリー散乱光の強度が、曲げ変形箇所を境にして急激に低下することから、光ファイバの曲げ変形の有無を検出することができる。
また、戻り光の強度が低下する箇所、すなわち曲げ変形箇所の位置を戻り光の戻り時間から検出することができる。
なお、光スイッチ12は、光ファイバケーブル11の複数の光ファイバに対して、光パルス試験器13の検知用光ファイバ13aあるいは第2光パルス試験器31の検知用光ファイバ31aあるいは第3光パルス試験器32の検知用光ファイバ32aを、制御装置14の制御により選択的に接続する。
そして、制御装置14に具備される特性劣化検知部41は、各光パルス試験器31,32から出力される強度分布のデータに基づき、光ファイバの曲げ変形等による損失増大や、光ファイバの伸び歪みや、光ファイバの断線等の劣化の有無を検出する。
これにより、光ファイバケーブル11内への浸水の有無に加えて、光ファイバの曲げ変形等による損失の増大や光ファイバの伸び歪みや光ファイバの断線等の多様な特性劣化の有無を検出することができる。
11 光ファイバケーブル
12 光スイッチ
13 光パルス試験器
22 状態量算出部
24 劣化判定部
31 第2光パルス試験器
32 第3光パルス試験器
Claims (2)
- 光ファイバケーブル(11)内の光ファイバに入射端から光パルスを入射し、前記入射端に戻ってきた戻り光の光強度を時系列データとして検出し、該時系列データに基づき、前記光ファイバケーブルの長手方向における温度分布を検出する光パルス試験器(13)と、
前記光パルス試験器にて検出される前記光ファイバケーブルの長手方向における前記温度分布の時間変化に基づき、前記光ファイバケーブルの長手方向における比熱あるいは該比熱に係る状態量の分布を算出する状態量算出部(22)と、
前記状態量算出部にて算出される前記光ファイバケーブルの長手方向における比熱あるいは該比熱に係る状態量の分布に基づき、前記光ファイバケーブル内への浸水の有無を判定する劣化判定部(24)と
を備えることを特徴とする光ファイバケーブルの劣化検知システム。 - 前記光パルス試験器は前記戻り光に含まれるラマン散乱光により前記光ファイバケーブルの長手方向における前記温度分布を検出しており、
前記戻り光に含まれるレイリー散乱光により前記光ファイバケーブルの長手方向における光損失を検出する第2光パルス試験器(31)と、
前記戻り光に含まれるブリルアン散乱光により前記光ファイバケーブルの長手方向における伸び歪みの分布を検出する第3光パルス試験器(32)とのうちの少なくとも何れか1つと、
前記光パルス試験器と前記何れか1つとからなる複数の光パルス試験器の何れか1つを、前記光ファイバケーブル内の光ファイバに選択的に接続するスイッチ(12)と
を備えることを特徴とする請求項1に記載の光ファイバケーブルの劣化検知システム。
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