JP4901421B2 - 光線路試験システム - Google Patents
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図1に、第1実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図を示した。第1実施形態に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置10、近端側光通信装置10と通信する8個の遠端側光通信装置30、8以上に分岐する光分岐回路22、近端側光通信装置10と光分岐回路22とを接続する第1光線路20、光分岐回路22と8個の遠端側光通信装置30とをそれぞれ接続する8個の第2光線路24、及び、8個の遠端側光通信装置30と第2光線路24との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段60、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システム100であって、第1光線路20に結合回路52を介して接続され、遠端側光通信装置30に向けて試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器50と、光パルス測定器50に試験用光パルスを出射させて光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから結合回路52と試験用光パルス反射手段60との間の光損失を求め、光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段70と、を備え、試験合否判定手段70は、M個目(但し、Mは2以上8以下の整数)の遠端側光通信装置30が第2光線路24に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとM−1個目の遠端側光通信装置30が第2光線路24に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をM個目の遠端側光通信装置30に対応させる反射位置の対応付けを行う。さらに、図1には、光スイッチ54を示した。なお、図1では、3個目〜7個目までの遠端側光通信装置及び第2光線路を省略している。
第2実施形態に係る光線路試験システムについて、第1実施形態に係る光線路試験システムと異なる点を中心に説明する。図16に、第2実施形態に係る光線路試験システムの概略構成図を示した。第2実施形態に係る光線路試験システムは、近端側光通信装置10、近端側光通信装置10と通信する8個の遠端側光通信装置30、8以上に分岐する光分岐回路22、近端側光通信装置10と光分岐回路22とを接続する第1光線路20、及び、光分岐回路22と8個の遠端側光通信装置30とをそれぞれ接続する8個の第2光線路24、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システム101であって、8個の遠端側光通信装置30と第2光線路24との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段60と、第1光線路20に結合回路52を介して接続され、遠端側光通信装置30に向けて試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器50と、光パルス測定器50に試験用光パルスを出射させて光パルス測定器50が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから結合回路52と試験用光パルス反射手段60との間の光損失を求め、光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段70と、を備え、試験合否判定手段70は、M個目(但し、Mは2以上8以下の整数)の遠端側光通信装置30が第2光線路24に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとM−1個目の遠端側光通信装置30が第2光線路24に接続されたときの反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、差分の中で最も高い反射レベルとなる反射位置までの距離をM個目の遠端側光通信装置30に対応させる反射位置の対応付けを行う。なお、図16では、3個目〜7個目までの遠端側光通信装置及び第2光線路を省略し、無線通信手段80及び通信端末90を示した。無線通信手段80は、例えば、無線で通信する機能を有する。
第3実施形態に係る光線路試験システムについて、第2実施形態に係る光線路試験システムと異なる点を中心に説明する。第3実施形態に係る光線路試験システムでは、図16の通信端末90の代わりに、光ネットワークは、近端側光通信装置10が試験の合否を示す警告を遠端側光通信装置30に転送し、遠端側光通信装置30が警告に従って警告の内容を出力し、試験合否判定手段70は、警告を近端側光通信装置10に送信し警告を遠端側光通信装置30に転送させても良い。遠端側光通信装置30が備える警告を出力する手段としては、例えば、アラームランプ、アラーム音又は音声を出力するスピーカー、警告文を出力するディスプレイがある。第3実施形態に係る光線路試験システムは、遠端側光通信装置10の近くにいる作業者に試験の合否を通知でき、利便性が良い。
10 近端側光通信装置
20 第1光線路
22 光分岐回路
24、24a 第2光線路
30、30a 遠端側光通信装置
50 光パルス測定器
52 結合回路
54 光スイッチ
60、60a 試験用光パルス反射手段
70 試験合否判定手段
71 CPU
72 OLTインターフェース
73 光スイッチインターフェース
74 光パルス測定器インターフェース
75 記憶部
75a ONU記憶部
75b 測定条件記憶部
75c 測定結果記憶部
75d ノイズレベル記憶部
75e 後方散乱光レベル記憶部
75f 光コネクタ反射レベル記憶部
76 無線インターフェース
80 無線通信手段
90 通信端末
a、c 反射レベルの最高値
b、d 反射位置からの距離
e ノイズレベル
f 後方散乱光レベル
g 光コネクタ反射レベル
x ノイズ
y 後方散乱光
z 光コネクタで発生する反射パルス
α、β、γ、δ 反射パルス
Claims (8)
- 近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するN個(但し、Nは正整数)の遠端側光通信装置、N以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第1光線路、前記光分岐回路と前記N個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するN個の第2光線路、及び、前記N個の遠端側光通信装置と前記第2光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、
前記第1光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、
前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、
前記試験合否判定手段は、M個目(但し、Mは2以上N以下の整数)の前記遠端側光通信装置が前記第2光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとM−1個目の前記遠端側光通信装置が前記第2光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分が最大となる前記反射位置までの距離を前記M個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする光線路試験システム。 - 近端側光通信装置、前記近端側光通信装置と通信するN個(但し、Nは正整数)の遠端側光通信装置、N以上に分岐する光分岐回路、前記近端側光通信装置と前記光分岐回路とを接続する第1光線路、及び、前記光分岐回路と前記N個の遠端側光通信装置とをそれぞれ接続するN個の第2光線路、を有する光ネットワークを試験する光線路試験システムであって、
前記N個の遠端側光通信装置と前記第2光線路との間に挿入され、試験用光パルスを反射する試験用光パルス反射手段と、
前記第1光線路に結合回路を介して接続され、前記遠端側光通信装置に向けて前記試験用光パルスを出射し、反射位置までの距離に対する反射レベルを測定する光パルス測定器と、
前記光パルス測定器に前記試験用光パルスを出射させて前記光パルス測定器が測定する反射位置までの距離に対する反射レベルから前記結合回路と前記試験用光パルス反射手段との間の光損失を求め、前記光損失に基づいて試験の合否を判定する試験合否判定手段と、を備え、
前記試験合否判定手段は、M個目(但し、Mは2以上N以下の整数)の前記遠端側光通信装置が前記第2光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとM−1個目の前記遠端側光通信装置が前記第2光線路に接続されたときの前記反射位置までの距離に対する反射レベルとの差分を求め、前記差分が最大となる前記反射位置までの距離を前記M個目の遠端側光通信装置に対応させる反射位置の対応付けを行うことを特徴とする光線路試験システム。 - 前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置とM個目の前記遠端側光通信装置との間でリンクが確立されたときに、前記リンクが確立された旨のリンク情報を前記近端側光通信装置が前記試験合否判定手段に送信し、
前記試験合否判定手段は、前記リンク情報を前記近端側光通信装置から受信した後に前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項1又は2に記載の光線路試験システム。 - 前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の内部で発生するノイズによる前記反射レベルが最も高くなるノイズレベルを求め、前記ノイズレベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光線路試験システム。
- 前記試験合否判定手段は、前記光パルス測定器の測定する反射位置までの距離に対する後方散乱光の前記反射レベルが最も高くなる後方散乱光レベルを求め、前記後方散乱光レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光線路試験システム。
- 前記光ネットワークは、前記光パルス測定器と前記遠端側光通信装置との間に光コネクタが配置され、
前記試験合否判定手段は、前記光コネクタで発生する前記反射レベルが最も高くなる光コネクタ反射レベルを求め、前記光コネクタ反射レベルが前記後方散乱光レベルよりも高い場合、前記光コネクタ反射レベルを基準として前記反射位置の対応付けを行うことを特徴とする請求項5に記載の光線路試験システム。 - 前記試験の合否を表示する通信端末をさらに備え、前記試験合否判定手段は前記試験の合否を無線で前記通信端末に通知することを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の光線路試験システム。
- 前記光ネットワークは、前記近端側光通信装置が前記試験の合否を示す警告を前記遠端側光通信装置に転送し、前記遠端側光通信装置が前記警告に従って前記警告の内容を出力し、
前記試験合否判定手段は、前記警告を前記近端側光通信装置に送信し前記警告を前記遠端側光通信装置に転送させることを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の光線路試験システム。
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