JP2005134147A - X線検査装置 - Google Patents

X線検査装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005134147A
JP2005134147A JP2003367519A JP2003367519A JP2005134147A JP 2005134147 A JP2005134147 A JP 2005134147A JP 2003367519 A JP2003367519 A JP 2003367519A JP 2003367519 A JP2003367519 A JP 2003367519A JP 2005134147 A JP2005134147 A JP 2005134147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
inspection
axis
ray inspection
inspection apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003367519A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4420189B2 (ja
Inventor
Yoshitsune Kataoka
義経 片岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IHI Corp
Original Assignee
IHI Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IHI Corp filed Critical IHI Corp
Priority to JP2003367519A priority Critical patent/JP4420189B2/ja
Publication of JP2005134147A publication Critical patent/JP2005134147A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4420189B2 publication Critical patent/JP4420189B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

【課題】 欠陥等の形状或いは検査対象物における位置や配向によらず、検査対象物の欠陥等を検出するに最適な状態でのX線検査の可能なX線検査装置を提供する。
【解決手段】 X線源とこのX線源に対峙させて設けられたラインセンサとの間に形成されるX線ビーム面を横切ってテーブルを移動させて該テーブル上に載置された検査対象物を透視検査するX線検査装置において、前記テーブルを、前記X線ビーム面と交差する軸を中心に傾斜可能に設けたことを特徴とする。
【選択図】 図2

Description

本発明は、欠陥等の検出を容易にするために検査台に載置した検査対象物の向きを調整する機能を有するX線検査装置に関する。
X線透過による検査装置は、医療分野、工場における製品の検査、或いは、空港における所持品のセキュリティチェック、港湾における税関による貨物の検査等、幅広い分野において活用されている。
この種の検査装置は、一般に、X線発生装置から発生したX線を検査対象物(対象者を含む)に向けて照射し、対象物を透過したX線をラインセンサを用いて検知し、透過強度の違いを画像化して検査対象物の内部を調べるように構成されている。
上記X線検査装置の例として、回路基板(検査対象物)に垂直にX線を照射するとともに予め定めた傾斜角度からもX線を切り換えて照射することにより、回路基板に装着された電子部品間の接合を短時間で検査する装置の発明がある(例えば、特許文献1参照)。
特開2002−296204号公報
ところで、X線検査装置の用途として、配管の欠陥検査等、筒状の対象物の検査を行う場合がある。このような検査では、例えば、配管の径方向に入った欠陥等(外からは見えない未貫通の割れ等)を透過X線の影の濃淡(割れ等があるとその部分はX線が透過し易いので透過後のX線強度が当該部のみ強くなる)により検出することになる。
しかし、例えば、図1のように、配管1の径方向に配向した(割れの長手方向が径方向に一致した)細長い割れ2、3の検出を行う場合、長手方向がX線B2に垂直な方向に一致する割れ2は、ラインセンサ4上にほぼその全長に相当する巾のX線画像(影)2aを形成するので、容易に検出することができる。しかし、その長手方向と、X線B3の方向とが一致している割れ3は、ラインセンサ4上に、微小な点状のX線画像(影)3aを形成するのみであるので、それを検出することは困難となってしまう。
また、上記の他にも、同様の理由により欠陥等の形状、検査対象物における位置や配向と、X線照射を行うときのX線ビームの向きとの関係により該欠陥等の検出が困難になる場合がある。
上記の事情を考慮し、本発明においては、欠陥等の形状或いは検査対象物における位置や配向によらず、検査対象物の欠陥等を検出するに最適な状態でのX線検査の可能なX線検査装置の提供を目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1の発明によっては、X線源とこのX線源に対峙させて設けられたラインセンサとの間に形成されるX線ビーム面を横切ってテーブルを移動させて該テーブル上に載置された検査対象物をX線透視検査するX線検査装置において、 前記テーブルを、前記X線ビーム面と交差する軸を中心に傾斜可能に設けたことを特徴とするX線検査装置が提供される。
好ましくは前記テーブルを、前記X線ビーム面とのなす角度を調整可能に設けることとしてもよく(請求項2)、前記X線ビーム面を横切って移動可能に設けられた検査台に傾斜機構を介して任意の角度の傾斜可能に支持することとしてもよい(請求項3)。
また、傾斜機構は、前記テーブルを支持した支持体を前記X線ビーム面に垂直な軸を中心として任意の角度で傾ける第1の機構と、この第1の機構の回動軸と直交する方向を軸として前記支持体に対して前記テーブルを傾ける第2の機構により構成するようにすればよい(請求項4)。
さらに前記第1の機構の回転軸を、前記テーブルよりも上側に、前記テーブルとの間の距離を調節可能に設けても良い(請求項5)。
本発明のX線検査装置は、検査対象物を載置するテーブルを傾斜させる傾斜手段を備えるので、検査対象物を、X線ビーム面に対し任意の角度で傾斜させることができる。この結果検査対象物内部の欠陥等の長手方向をX線ビームの方向に対し、最も検出しやすい方向、すなわち垂直に設定することができる。このため、ラインセンサ側に長さの長いX線画像(影)を形成できるので、欠陥等を容易に検出することができる。
また、傾斜の回動軸がテーブルより上側に設置してあり、テーブルと軸との距離を調節できるので、以下の効果が期待できる。すなわち、該検査対象物の軸を中心軸として傾斜させても、検査対象物はその軸を中心として回動するのみであり、その位置は殆ど移動することがない。このため、配管等円筒状の検査対象物に径方向の欠陥等が入っている場合にも、容易に該欠陥等を検出することができる。
以下、本発明のX線検査装置にかかる一実施形態を、図面を参照しながら説明する。
図2に示すように、X線検査装置10は、X線発生装置11、ラインセンサ12、検査台20及び走行機構60等を備えて構成される。
図2において、X線は、X線発生装置11により図中上から下に向かって扇状に照射され、扇状照射面S(X線ビーム面)を形成する。また、X線発生装置11に対峙して、X線発生装置11の下方にラインセンサ12が設置されている。
このような扇形照射面S(X線ビーム面)を横切るように設けられた走行機構60は、扇状照射面Sに対して垂直(水平方向)に、互いに平行に設置された2条のリニアガイド61a、61bと、該リニアガイド61a、61b上にそれらを跨ぐように載置される台車62とを備えて構成される。
台車62は、リニアガイド61a、61bに沿って(図2中の矢印X1、X2方向)、図示しない車輪とその駆動機構によりリニアガイド61a、61b上をそれぞれ走行できる2つの走行部64a、64bと、これらの走行部64a、64b間に張架された2本の横木(リニアガイド)63a、63bとを備える。平行に設けられた横木63a、63bは、検査台20を移動自在に指示するリニアガイドとして機能する。
すなわち、検査台20は、横木63a、63bに挟みこまれるように台車62上に設置され、図示しない車輪とその駆動機構により、横木63a、63bに沿って(図2中の矢印Y1、Y2参照)走行可能に設けられている。
また、詳細は後述するが、検査台20は、配管P等の検査対象物を載置するテーブル40を備え、テーブル40を、扇状照射面Sに対して垂直な方向の中心軸24を中心として任意の角度で傾斜させる(図2の矢印V方向)機構(第1の機構)と、扇状照射面Sとなす角度を調整可能に傾斜させる(図2の矢印H方向)機構(第2の機構)とを備える。
なお、以上に説明したX線検査装置10の全体は図示しない遮蔽体に覆われており、該遮蔽体のX2方向側端部には、上下に移動する遮蔽扉SH(図2には図示せず、図5参照)がある。台車62は、遮蔽扉SHを通過して遮蔽扉SHの反対側までリニアガイド61a、61b上を走行することができる。
次に検査台20の構造について図3を参照して説明する。
検査台20は、概略的には四角形状のテーブル40と、このテーブル40を傾斜可能に支持した中枠30と、更にこの中枠30を該中枠30の傾斜の向きと直交する方向を軸として回動自在に支持した外枠21とにより構成される。具体的には前記テーブル40は、検査対象物を載置する四角形状の載置面を形成したもので、その一端部両側に一対の軸ピン41a、41bを突設すると共に、他端部下面に円弧状のラックギヤ42a、42bを突設した構造を有している。そしてこのテーブル40は、上記一対の軸ピン41a、41bを前記中枠30に設けられた軸受36a、36bに嵌め込むと共に、前記ラックギヤ42a、42bを前記中枠30に設けられたピニオンギヤ38a、38bにそれぞれ噛合させることで、中枠30の内側に傾斜可能に組み付けられている。尚、上記ピニオンギヤ38a、38bは、中枠30に取り付けられたモータ37a、37bによりそれぞれ回転駆動される。これらのモータ37a、37bにより前記ピニオンギヤ38a、38bを介してラックギヤ42a、42bを上下動させることで、前記テーブル40が前記軸受36a、36bに軸支された軸ピン41a、41bを支点として中枠30に対して傾けられる。
一方、前記中枠30の前記テーブル40が傾斜する向きに対向する2つの辺部上面の各中央部には、該中枠30の上方に向けて一対の高さ調整機構が設けられている。これらの高さ調整機構は、基本的には中枠30に平行に突設された支持体31a、31bと、これらの支持体31a、31b間に上下動自在に支持された調整体32とからなる。特にこの調整体32は、該調整体32に一体に組み付けられたラックギヤ33を、前記支持体31aに設けられたモータ34により駆動されるピニオンギヤ35に噛合させて前記支持体31a、31bに組み付けられている。そして調整体32は、モータ34の回転により上記ピニオンギヤ35およびラックギヤ33を介して前記支持体31a、31bに対して、ひいては中枠30に対する高さが調整可能に設けられている。
また高さ調整機構における上記各調整体32の上端部には一対の軸ピン24a、24bが、その軸心を揃えて同軸(中心軸24)に設けられている。これらの軸ピン24a、24bは、前述した外枠21の上面に突設された支柱22a、22bの各上端部に設けられた軸受23a、23bにそれぞれ軸支されるものである。このような軸受機構を介することで前述した如くテーブル40を支持した中枠30が、外枠21に対して前述したテーブル40の傾斜方向と直交する方向に傾斜可能に設けられている。尚、中枠30の傾斜は、例えば前記軸ピン24a、24bに連結された図示しないモータを回転させることによって行われる。
上述した如く構成された検査台20においては、軸受支柱22a、22b、軸受23a、23b、軸ピン24a、24b、一対の調整体32、支持板31a、31b等により、X線照射面に対して直角な軸を中心としてテーブル40を傾斜させる第1の機構が構成される。また、軸ピン41a、41b、軸受36a、36b、ラックギヤ42a、42b、モータ37a、37b、ピニオンギヤ38a、38b等により、X線照射面に対してテーブル40を傾斜させる第2の機構が構成される。
次に、X線検査装置10の作用について説明する。
前述のように、検査台20は、配管P等の検査対象物を載置するテーブル40を、扇状照射面Sに対して垂直な方向の中心軸24を中心として任意の角度で傾斜させる(図2の矢印V方向)機構(第1の機構)と、扇状照射面Sとテーブル40のなす角度を調整可能に傾斜させる(図2の矢印H方向)機構(第2の機構)とを備える。このため、検査台20のテーブル40に載置した配管P等を、例えば径方向に配向した細長い欠陥等をその長手方向がX線照射ビーム方向に垂直となるように、傾斜させることができる。このため、X線照射を行うと、図1の割れ2と同様に、ラインセンサ12上には、該欠陥等の長いX線画像(影)が生じるので、該欠陥等を容易に検出することができる。
前述のように中心軸24は、テーブル40より上にあり、配管Pの軸と中心軸24とが一致するように中心軸24とテーブル40との距離L1(図4(a)参照)を調節することができるので、配管Pの軸と中心軸24とを一致させることができる。このため、図4(a)に示すように、テーブル40を傾斜させると、配管Pは回転するが、その位置は殆ど移動せず、X線画像の観察に有利である。上記の調節機構がなく、中心軸を配管P等の軸に一致させることが出来ない場合にテーブル40を傾斜させると、例えば、図4(b)のように配管Pの位置が移動してしまい、X線画像の観察に不都合を生じるが、本X線検査装置10においてはそのような問題はない。
次にX線検査装置10の使用方法について図5〜図6を参照して説明する。
X線発生装置11とは遮蔽扉SHを隔てた場所で、図5に示すように台車62に載置された検査台20のテーブル40に、検査対象物、例えば、配管Pを、その軸を水平かつリニアガイド61a、61bに平行に載置する。
いったん遮蔽扉SHを開けて、台車62をリニアガイド61a、61bに沿ってX1方向に走行させ、遮蔽扉SHを通過させる。台車62が遮蔽扉SHを通過した後に遮蔽扉を閉め、X線発生装置11からX線を発生させ、扇状照射面Sを形成させる。そしてテーブル40上の配管Pが、扇状照射面Sを通過するようにする。配管Pを透過したX線は下に設置したラインセンサ12に検知されるので、その透過X線の強弱からX線画像を構成させ、欠陥等の検出を行う。このとき、配管Pの軸が水平でない場合(図6(a)の場合)には、図6(b)に示すように傾斜機構(第2の傾斜機構)により、テーブル40を扇状照射面Sに対し傾斜させて配管Pの軸を水平面と一致させる。また、テーブル40上の配管P等が扇状照射面Sの中心からずれて偏った位置にある場合には、横木63a、63bに沿って検査台20を扇状照射面Sに平行な方向に移動させ、扇状照射面Sの中心にあわせる。さらに、細長いクラック等の欠陥2の長手方向が径方向にある場合には、傾斜機構(第1の機構)によりテーブル40を扇状照射面Sに垂直な軸を中心として傾斜させ、欠陥の長手方向が、X線ビームに対し垂直になるように(すなわち、図1の割れ2と同じ配向となるように)調節する。その際、必要があれば、配管Pの軸と中心軸とが一致するよう調節機構によりテーブル40と中心軸24との距離を調節する。
このようにして、欠陥等を最も検出しやすい位置及び方向に検査対象物を位置付けてX線検査を行うので、容易に欠陥を検出することができる。
X線検査後には、配管P等を載置した場所まで戻り、配管P等を下ろして別の検査対象物を載置して同様の手順により検査を行う。
なお、本実施例形態においては、台車62、検査台20はリニアガイド(又は横木)に沿って走行することとしたが、それ以外の走行手段によってもよく、また、例えば、ベルトコンベアによって移動させることとしてもよい。
さらに、傾斜機構(第1の機構、第2の機構)及び中心軸とテーブルとの距離の調節機構についても本実施形態に限ることなく別の機構によってもよい。例えば、ねじによる手動調節によってもよい。
尚、テーブル40上に配管(検査対象物)Pを載置するに際しては、ボルト等を用いてその軸心を挟み込んで該配管(検査対象物)Pをテーブル40上に固定することが好ましい。このようにしてテーブル40上に配管(検査対象物)Pを固定すれば、テーブル40を傾けても配管Pが位置ずれすることがないのでX線照射面Sに対して配管Pを所望とする角度に容易に位置付けることが可能となる。この際、ばね力を利用して配管(検査対象物)Pの重量に応じてその高さ位置が変化する受台等を用いて、前記ボルトに配管(検査対象物)Pの固定位置を自動的に設定することも好適である。このような受台を用いれば、重量密度が同じで大きさの異なる幾つかの検査対象物Pを順次X線透視検査するような場合、その作業効率の向上を図ることが可能となる。
またテーブル40上に光学センサやカメラを組み込んでおき、光学センサやカメラを介して検出される検査対象物Pの情報に従ってその中心位置を計算して該検査対象物Pの前述したボルトによる固定位置を設定するように構成することも勿論可能である。更にはこのようにして固定した検査対象物Pの軸心を、前述した中心軸24に一致させるような軸合わ機構を組み込んでおくことも有用である。その他、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
配管等の径方向に細長く配向した欠陥等のX線検査による検出の難易を示す概念図である。 本発明の一実施形態であるX線検査装置10の検査台20、走行機構60等を示す概略構成図である。 本発明の一実施形態であるX線検査装置10の検査台20の構造を示す斜視図である。 本発明の一実施形態であるX線検査装置10の回転機構によるテーブル40及び検査対象物(配管P)の回転の様子を示す概念図である。 本発明の一実施形態であるX線検査装置10による検査方法を示す概念図である。 本発明の一実施形態であるX線検査装置10の傾斜機構の作用を示す概念図である。
符号の説明
10 X線検査装置
11 ラインセンサ
20 検査台
24 中心軸
24a、24b 軸ピン
30 中枠(テーブルの支持体)
40 テーブル
42a、42b ラックギヤ
60 走行機構
S 扇状照射面
P 配管(検査対象物)

Claims (5)

  1. X線源とこのX線源に対峙させて設けられたラインセンサとの間に形成されるX線ビーム面を横切ってテーブルを移動させて該テーブル上に載置された検査対象物を透視検査するX線検査装置において、
    前記テーブルを、前記X線ビーム面と交差する軸を中心に傾斜可能に設けたことを特徴とするX線検査装置。
  2. 請求項1に記載のX線検査装置において、
    更に前記テーブルを、前記X線ビーム面とのなす角度を調整可能に設けたことを特徴とするX線検査装置。
  3. 前記テーブルは、前記X線ビーム面を横切って移動可能に設けられた検査台に傾斜機構を介して任意の角度の傾斜可能に支持されたものである請求項1または2に記載のX線検査装置。
  4. 前記傾斜機構は、前記テーブルを支持した支持体を前記X線ビーム面に垂直な軸を中心として任意の角度で傾ける第1の機構と、この第1の機構の回動軸と直交する方向を軸として前記支持体に対して前記テーブルを傾ける第2の機構とからなる請求項3に記載のX線検査装置。
  5. 前記第1の機構の回転軸は、前記テーブルよりも上側に、前記テーブルとの間の距離を調節可能に設けられることを特徴とする、請求項4に記載のX線検査装置。
JP2003367519A 2003-10-28 2003-10-28 X線検査装置 Expired - Lifetime JP4420189B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003367519A JP4420189B2 (ja) 2003-10-28 2003-10-28 X線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003367519A JP4420189B2 (ja) 2003-10-28 2003-10-28 X線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005134147A true JP2005134147A (ja) 2005-05-26
JP4420189B2 JP4420189B2 (ja) 2010-02-24

Family

ID=34645505

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003367519A Expired - Lifetime JP4420189B2 (ja) 2003-10-28 2003-10-28 X線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4420189B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236858A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Ihi Corp 被計測物の保持装置
JP2016017908A (ja) * 2014-07-10 2016-02-01 Jfeスチール株式会社 放射線探傷方法及び放射線探傷装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2383314B3 (en) 2005-12-28 2018-02-14 Fujifilm Corporation Ink composition, inkjet recording method, printed material, method for producing planographic printing plate, and planographic printing plate
US8728686B2 (en) 2007-07-17 2014-05-20 Fujifilm Corporation Photosensitive compositions, curable compositions, novel compounds, photopolymerizable compositions, color filters, and planographic printing plate precursors
JP5448352B2 (ja) 2008-03-10 2014-03-19 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタ、及び、固体撮像素子
JP5183268B2 (ja) 2008-03-27 2013-04-17 富士フイルム株式会社 平版印刷版原版
JP5137662B2 (ja) 2008-03-31 2013-02-06 富士フイルム株式会社 硬化性組成物、カラーフィルタ及びその製造方法、並びに固体撮像素子
JP5528677B2 (ja) 2008-03-31 2014-06-25 富士フイルム株式会社 重合性組成物、固体撮像素子用遮光性カラーフィルタ、固体撮像素子および固体撮像素子用遮光性カラーフィルタの製造方法
JP2010030223A (ja) 2008-07-30 2010-02-12 Fujifilm Corp インクジェット記録方法、インクジェット記録装置、及び、印刷物
AU2009283446B2 (en) 2008-08-22 2014-12-04 Fujifilm Corporation Process for producing lithographic printing plate
JP5127651B2 (ja) 2008-09-30 2013-01-23 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタ及びその製造方法、並びに固体撮像素子
JP5340102B2 (ja) 2008-10-03 2013-11-13 富士フイルム株式会社 分散組成物、重合性組成物、遮光性カラーフィルタ、固体撮像素子、液晶表示装置、ウェハレベルレンズ、及び撮像ユニット
JP2010180330A (ja) 2009-02-05 2010-08-19 Fujifilm Corp 非水系インク、インクセット、画像記録方法、画像記録装置、および記録物
JP5340198B2 (ja) 2009-02-26 2013-11-13 富士フイルム株式会社 分散組成物
JP5241564B2 (ja) 2009-02-27 2013-07-17 富士フイルム株式会社 活性放射線硬化型インクジェット記録用インク組成物、インクジェット記録方法、および印刷物
JP2010209183A (ja) 2009-03-09 2010-09-24 Fujifilm Corp インク組成物及びインクジェット記録方法
JP5349095B2 (ja) 2009-03-17 2013-11-20 富士フイルム株式会社 インク組成物、及び、インクジェット記録方法
JP5535692B2 (ja) 2009-03-17 2014-07-02 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタ、及びカラーフィルタの製造方法
JP5349097B2 (ja) 2009-03-19 2013-11-20 富士フイルム株式会社 インク組成物、インクジェット記録方法、印刷物、及び、成形印刷物の製造方法
JP5441464B2 (ja) 2009-03-23 2014-03-12 富士フイルム株式会社 顔料分散物、それを用いたインク組成物、硬化性組成物及び硬化性インク組成物
JP2010229349A (ja) 2009-03-27 2010-10-14 Fujifilm Corp 活性エネルギー線硬化型組成物、活性エネルギー線硬化型インク組成物インク組成物及びインクジェット記録方法
JP5405174B2 (ja) 2009-03-30 2014-02-05 富士フイルム株式会社 インク組成物
JP5383289B2 (ja) 2009-03-31 2014-01-08 富士フイルム株式会社 インク組成物、インクジェット用であるインク組成物、インクジェット記録方法、およびインクジェット法による印刷物
JP5554106B2 (ja) 2009-03-31 2014-07-23 富士フイルム株式会社 着色硬化性組成物、カラーフィルタの製造方法、カラーフィルタ、固体撮像素子、および液晶表示装置
JP2010235897A (ja) 2009-03-31 2010-10-21 Fujifilm Corp 非水系インク、インクセット、画像記録方法、画像記録装置、および記録物
JP5535814B2 (ja) 2009-09-14 2014-07-02 富士フイルム株式会社 光重合性組成物、カラーフィルタ、及びその製造方法、固体撮像素子、液晶表示装置、平版印刷版原版、並びに、新規化合物
JP5583376B2 (ja) 2009-09-15 2014-09-03 富士フイルム株式会社 インクジェット用インク組成物
JP5701576B2 (ja) 2009-11-20 2015-04-15 富士フイルム株式会社 分散組成物及び感光性樹脂組成物、並びに固体撮像素子
JP5591745B2 (ja) 2010-03-31 2014-09-17 富士フイルム株式会社 活性放射線硬化性インク組成物、インクジェット記録用インク組成物、並びに印刷物、および印刷物成形体の製造方法
JP5606817B2 (ja) 2010-07-27 2014-10-15 富士フイルム株式会社 活性放射線硬化型インクジェット用インク組成物、印刷物、印刷物成形体、及び印刷物の製造方法
EP2423277A3 (en) 2010-08-27 2012-05-09 Fujifilm Corporation Ink composition for inkjet recording, inkjet recording method and inkjet printed article
JP5514781B2 (ja) 2011-08-31 2014-06-04 富士フイルム株式会社 平版印刷版原版及びこれを用いた平版印刷版の作成方法
EP2760947B1 (en) 2011-09-29 2015-11-04 FUJIFILM Corporation Inkjet ink composition and inkjet recording method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236858A (ja) * 2008-03-28 2009-10-15 Ihi Corp 被計測物の保持装置
JP2016017908A (ja) * 2014-07-10 2016-02-01 Jfeスチール株式会社 放射線探傷方法及び放射線探傷装置
CN108693199A (zh) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4420189B2 (ja) 2010-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4420189B2 (ja) X線検査装置
KR101654819B1 (ko) 엑스레이 검사를 위한 이동 스테이지 및 이를 가진 엑스레이 검사 장치
JP5363559B2 (ja) X線検査装置及びx線検査方法
KR20200130961A (ko) 배관 용접부 검사장치
AU2017388422B2 (en) X-ray testing and linear three-dimensional scanning and imaging device for GIS apparatus
KR20090031081A (ko) 엑스-레이 검사장치 및 방법
JP5722049B2 (ja) 基板検査システム
KR20200130960A (ko) 배관 용접부 검사장치
KR101043612B1 (ko) X선 검사시스템 및 이를 이용한 검사방법
KR102257984B1 (ko) 다층 물품 검사용 엑스레이 검사 장치 및 그에 의한 검사 방법
JP2006162335A (ja) X線検査装置、x線検査方法およびx線検査プログラム
KR101246507B1 (ko) Ct 장치
KR100400508B1 (ko) 브라운관용유리물품의검사장치
CN211402190U (zh) 一种自动化缺陷检测设备
JP6708857B2 (ja) X線検査装置
KR20190009145A (ko) 검사 대상 회전 구조의 엑스레이 검사 장치용 검사 디바이스
KR102673566B1 (ko) 검사 방향 정렬 방식의 엑스레이 검사 방법
KR20160066741A (ko) 평판디스플레이 패널 에지 검사장치 및 방법
KR20120126570A (ko) 레이저 산란 기반 시편 검사 장치
JP3667325B2 (ja) X線検査装置
JP2011141127A (ja) ガラス板の欠陥部分の目視検査方法及び目視検査装置
CN210322848U (zh) 一种移动式x射线探伤仪
CN211426043U (zh) 一种钢网检测设备
KR100922775B1 (ko) 웨이퍼 검사용 듀얼 검사장치
JP4156754B2 (ja) X線検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060925

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090105

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090715

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090901

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091111

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4420189

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091124

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121211

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131211

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term