JP2005123586A - 投影装置および投影方法 - Google Patents

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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

【課題】 パターンデータに応じて描画を行う際に変調光の位相をシフトすることにより、解像度を高めることができる投影装置および投影方法を提供する。
【解決手段】本発明による投影装置は、投影面に形成すべきパターンを表現するパターンデータの入力を受けとり、パターンデータに応じて入射光を空間的に変調する空間光変調器(マイクロミラーアレイ3)と、空間光変調器で反射された光を投影面上に縮小投影する投影光学系5とを備えた投影装置である。空間光変調器は、パターンデータに応じて駆動される複数の微小ミラー3bのアレイと、複数の微小ミラー3bのアレイを支持する基板3aとを有しており、複数の微小ミラー3bの各々の基板3aに対する傾斜および/または基板3aに対する垂直な方向への変位を行う駆動部3cとを有している。
【選択図】図1

Description

本発明は、高い解像度で像を形成することができる投影装置および方法に関し、特に、半導体集積回路技術の分野におけるリソグラフィに必要となる回路パターンの形成に好適に用いられる投影装置および方法に関している。
マイクロミラーアレイなどの空間光変調器を用いて描画を行う投影装置が提案されている。このような投影装置としては、DMD(Digital Micromirror Device:商品名)を用いたシステムがよく知られている。このシステムは、ディスプレイの用途以外にも、半導体リソグラフィや写真プリントなどの種々の分野に応用することが期待されている。
特許文献1は、DMDを半導体リソグラフィに応用した技術を開示している。この技術によれば、露光用のフォトマスクを使用せず、回路パターンを示す像をDMDに表示し、そのDMDによって反射された光をフォトレジストに投影して露光を行う。
通常のDMDでは、各微小ミラーの傾きが二段階で変化するが、非特許文献1が開示している空間光変調器では、微小のミラーの傾きを多値信号によって多段階で変化させる。非特許文献1は、多値制御によって駆動するマイクロミラーアレイを用いてリソグラフィを行なうことを記載している。この文献によれば、投影面上の暗部に相当する微小ミラーに最大の傾きを与え、明部に相当する微小ミラーには最小の傾きを与える。これらの暗部と明部との境界部に相当する微小ミラーには中間的な傾きが与えられる。中間的な傾きの角度を変化させると、暗部と明部との境界位置が変化することが記載されている。
特開平10−112579号公報 Peter Duerr, et al. , "Characterization of Spatial Light Modulators for Micro Lithography", Proc. of SPIE Vol.4985, pp.211-221 (28-29 January 2003)
しかしながら、上記したような従来の構成では、位相シフト法などの高解像マスク技術の適用が難しく、受光面における描画パターンの微細化に限界があった。
例えば、特許文献1に記載されたようなDMDを微小ミラーとして用いたものは、各ミラーがONとOFFの2値の光量変調を与え、これは開口部を有する通常のマスクと等価な働きをする。隣り合った明部からの回折光は互いに位相が揃っているために干渉し、2つの明部の像は受光面上で互いに分離しにくくなる。
非特許文献1に記載されたようなミラーの傾きをアナログ制御するものも、本質的には特許文献1の構成と同じである。すなわち、各ミラーは傾き角度の制御しかできないため、ミラー面の片側は上がるが、反対側は下がり、ミラー面全体の平均的な変位は常に0である。これはミラーに変調された反射光の平均的な位相変化が0であることを意味する。従って、隣り合った明部からの回折光は互いに位相が揃っているために干渉し、2つの明部の像は受光面上で互いに分離しにくくなる。
従って、上記した従来技術のいずれについても、位相シフトマスクを用いた場合に比べて解像度が低下していた。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、パターンデータに応じて描画を行う際に変調光の位相をシフトすることにより、解像度を高めることができる投影装置および投影方法を提供することにある。
本発明の投影装置は、投影面に形成すべきパターンを表現するパターンデータの入力を受けとり、前記パターンデータに応じて入射光を空間的に変調する空間光変調器と、前記空間光変調器で反射された光を前記投影面上に縮小投影する投影光学系とを備えた投影装置であって、前記空間光変調器は、前記パターンデータに応じて駆動される複数の微小ミラーのアレイと、前記複数の微小ミラーのアレイを支持する基板とを有しており、前記複数の微小ミラーの各々の前記基板に対する傾斜および前記基板に対する垂直な方向への変位を個々の微小ミラーごとに変化させることができる駆動部とを有している。
好ましい実施形態において、前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する垂直な方向への変位および前記基板に対する傾斜によって規定される前記微小ミラーの状態を変化させる。
好ましい実施形態において、前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する垂直な方向への変位を多段階で変化させることができる。
好ましい実施形態において、前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する2軸の傾斜をそれぞれ多段階に変化させる。
好ましい実施形態において、前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、相互に異なる少なくとも第1から第3の状態を各微小ミラーにとらせることができ、前記第1の状態にある前記微小ミラーは、前記基板に対して傾斜し、前記反射光を実質的に前記投影光学系の開口瞳外に偏向させ、前記第2の状態にある前記微小ミラーおよび前記第3の状態にある前記微小ミラーは、前記基板の垂直方向に関して相対的に異なる変位を示し、かつ、いずれもが前記反射光を前記投影光学系の開口瞳内に偏向させる。
好ましい実施形態において、前記第2の状態にある微小ミラーで反射された光と、前記第3の状態にある微小ミラーで反射された光とは、互いに逆相になる相対的な位相差が与えられる。
好ましい実施形態において、前記第1の状態にある前記微小ミラーを挟んで、前記第2の状態にある微小ミラーと前記第3の状態にある前記微小ミラーとが隣接している。
好ましい実施形態において、前記位相差は実質的に180度である。
好ましい実施形態において、前記パターンデータは、パターンデータ発生器により生成され、前記パターンデータ発生器は、各微小ミラーの状態を個々に基板に対する垂直な方向への変位および2軸の傾斜を与える前記パターンデータの多段階の設定値を、前記微小ミラー毎に可変とする。
好ましい実施形態において、前記パターンデータは、前記微小ミラーの前記基板に対する2軸の傾斜をそれぞれ多段階に設定する。
好ましい実施形態において、前記投影面に形成するパターンは、回路素子を形成するためのパターンであり、前記投影面は、感光性レジスト上に形成される。
好ましい実施形態において、前記パターンデータ発生器が、前記投影光学系の収差を補正するためのパターンデータを発生する。
本発明の投影装置は、投影面に形成すべきパターンを表現するパターンデータの入力を受けとり、前記パターンデータに応じて入射光を空間的に変調する空間光変調器と、前記空間光変調器で変調された光を前記投影面上に投影する投影光学系とを備えた投影装置であって、前記空間光変調器は、前記パターンデータに応じて、前記入射光の振幅および/または位相を変調することができる複数の変調素子のアレイを有しており、前記複数の変調素子の各々は、相互に異なる少なくとも第1から第3の状態をとることができ、前記第1の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を所定値以下に変調し、前記第2の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保ち、前記第3の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保つとともに、前記第2の状態にある前記変調素子からの変調光との間で相対的な位相差を形成する。
本発明の像形成方法は、複数の微小ミラーが行および列状に配列されたマイクロミラーアレイを駆動することにより、前記複数の微小ミラーの各々の傾斜および/または光軸方向への変位を個別に行なうステップと、前記マイクロミラーアレイに光を投射し、各微小ミラーからの反射光を投影面上に投影することにより、前記投影面上に像を作成するステップとを含む。
本発明の投影方法は、各々が光の振幅および/または位相を変調する複数の変調素子を備えた空間光変調器を用意する工程と、前記空間光変調器に光を入射させ、前記複数の変調素子の各々によって変調された変調光を投影面に投影して像を形成する工程とを含む投影方法であって、前記投影面上における前記変調光の振幅を所定値以下に変調する第1のパターンデータと、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保つ第2のパターンデータと、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保つとともに、前記第2のパターンデータを与えられた変調素子からの変調光との間で相対的な位相差を与える第3のパターンデータとを、前記空間光変調器に入力するステップを含む。
本発明によれば、パターンデータに応じて駆動される複数の微小ミラーのアレイと、複数の微小ミラーのアレイを支持する基板とを有する空間光変調器を用い、複数の微小ミラーの各々の基板に対する傾斜および/または基板に対する垂直な方向への変位を行うことにより、入射光に位相のシフトを与え、投影面上に形成する描画パターンの解像度を高める。
以下、図面を参照しながら、本発明による投影装置の第1の実施形態を説明する。
まず、図1を参照する。
図1に示される本実施形態の投影装置は、光源1と、光源から放射された光を空間的に変調するマイクロミラーアレイ3と、光源1から放射された光の一部を反射してマイクロミラーアレイ3に導くとともに、マイクミラーアレイ3で反射した光を透過するビームスプリッタ2と、ビームスプリッタ2を透過してきた光を縮小投影する縮小投影光学系5とを備えている。
縮小投影光学系5の下方には、ウェハ6を搭載したウェハステージ8が存在している。ウェハ6の上には、例えば感光性を有するフォトレジスト層が形成されている。
マイクロミラーアレイ3には、パターンデータ発生器4が接続されており、ウェハ6に転写すべきパターンを規定する電気信号(パターンデータ)がマイクロミラーアレイ3に送られる。
光源1は、コヒーレント光源または部分コヒーレント光源であり、例えば、エキシマレーザ、放電プラズマ、レーザ生成プラズマなどの放射線源と、必要な波長の光のみを透過させる波長フィルタとを備えた構成を有している。好ましい実施形態における光源1は、紫外線(UV)の波長よりも短い特定波長の光ビームを均一な照度分布で供給する。
本実施形態で用いているマイクロミラーアレイ3は、基板3aと、基板3a上に行列状に配列された多数の微小ミラー3bを備えている。各微小ミラー3bは、アクチュエータ3cによって独立に駆動される。本実施形態における各微小ミラー3bは、1辺が1〜5μm程度の正方形形状を有しており、2次元アレイ状に配列された多数の微小ミラー3bの全体によって反射面が形成される。各微小ミラー3bは、その裏面に接続されたアクチュエータ3cによって、基板3aに対して傾斜するだけではなく、基板3aの主面に垂直な方向に変位することができる。微小ミラー3bの垂直方向変位および傾斜変位は、いずれも、多値信号で制御される。1つの微小ミラー3bと、この微小ミラー3bに対応する1つのアクチュエータ3cの対が1つの光変調素子を構成している。マイクロミラーアレイ3の構造の詳細は、後述する。
パターンデータ発生器4は、描画パターンに対応したパターンデータを発生し、これを電気信号としてマイクロミラーアレイ3に供給する。本実施形態のパターンデータは、マイクロミラーアレイ3の各アクチュエータ3cに与える駆動電圧を16bitで表現する。
マイクロミラーアレイ3により変調された反射光の一部はビームスプリッタ2を透過し、1/10〜1/50倍の高倍率の縮小投影光学系5により、ウェハ6上のレジスト7に結像する。本実施形態におけるレジスト7は、紫外領域の短波長光に感光感度を持つ化学増幅フォトレジストである。ウェハ6はウェハステージ8に真空吸着されて保持され、図示しない精密送り機構によって移送され、露光される。
次に、図2を参照して、マイクロミラーアレイ3の詳細を説明する。図2は本発明の実施形態1におけるマイクロミラーアレイ3の分解斜視図である。このマイクロミラーアレイ3は、本出願人による国際出願番号PCT/JP02/12344に開示されている可変形ミラーの構成と同様の構成を有している。
なお、図2は、1つの変調素子(微小ミラー3bおよびアクチュエータ3cとの対)を拡大して示しているが、実際のマイクロミラーアレイ3は、多数の変調素子が2次アレイ状に配列された構成を有している。
図2に示されるように、アクチュエータ3cの固定部側には、基板3a上に設けられた絶縁層21と、その絶縁層21上に設けられたベース22および固定電極23〜25が形成されている。ベース22および固定電極23〜25は、アルミニウム(Al)または多結晶シリコンなどの導電膜をパターニングすることによって形成されている。固定電極23〜25はそれぞれ2つの固定電極片23a、23b〜25a、25bに分割されている。固定電極片23a、23b〜25a、25bは、絶縁層21に形成されたビア(不図示)によって基板3aに形成された駆動回路に接続されている。駆動回路は、0〜5Vの範囲内で各々独立した電圧を固定電極片23a、23b〜25a、25bに与えることができる。この6つの固定電極片23a、23b〜23a、23bに印加する電圧は16bitの多段階の値として設定され得る。一方、ベース22は、接地電位に設定されており、ベース22の一部は、可動電極を支持する支持ポスト22aとして機能する。
アクチュエータ3cの可動部側では、支持ポスト22aにヒンジ26を介してヨーク27〜29が取り付けられ、さらにこれらのヨーク27〜29を微小ミラー3bに連結するための中間連結部材30が設けられている。
ヨーク27〜29は、対応する固定電極23〜25に対向し、それぞれが可動電極として機能する。ヨーク27〜29は、アルミニウム(Al)または多結晶シリコンなどの導電性部材をパターニングすることによって形成され、ベース22と導通して接地電位に設定されている。ヨーク27〜29は、それぞれ固定電極片23a、23b〜25a、25bに対向する位置に第1の部分27a〜29aおよび第2の部分27b〜29bを有している。例えばヨーク27について、固定電極片23aに駆動電圧を与えた場合、第1の部分27aが固定電極片23a側に吸引される。これに対し、固定電極片23bに駆動電圧を与えた場合は、第2の部分27bが固定電極片23b側に吸引される。このようにして、回動軸Aを中心にしてCW(時計回り)方向、CCW(反時計回り)方向の何れに対しても、選択的に回動力を付与できる。他のヨーク28,29についても同様である。
中間連結部材30は、3点の突起30a〜30cを備え、突起30aはヨーク27の第2の部分27bと連結し、突起30bはヨーク28の第1の部分28aと連結し、突起30cはヨーク29の第2の部分29bと連結している。このため、ヨーク27〜29を個別に回動駆動させると、突起30a〜30cの変位を独立に制御できることになり、これによって中間連結部材30の状態が定まる。微小ミラー3bは、中間連結部材30の概中心部である斜線部30dにおいて中間連結部材30と一体に連結されている。このため、中間連結部材30の状態が、微小ミラー3bの状態を決定する。突起30a〜30cは中間連結部材30とは別プロセスで形成しても良く、例えば突起30a〜30cをポリイミドなどの柔軟な材料で形成しても良い。上記の構成から明らかなように、固定電極片23a、23b〜25a、25bを適宜選択して駆動電圧を独立に設定することにより、微小ミラー3bを、z方向の変位、x軸周りの傾き、y軸周りの傾きについて正負双方向に駆動することが可能である。
上記のような構成のマイクロミラーアレイ3は、近年進歩の著しいMEMS(微小電子機械システム)技術によって好適に作製され得る。
次に、図3および図4を参照しながら、マイクロミラーアレイ3による位相シフトを説明する。まず、図3を参照する。図3は、位相シフト動作を行う場合のマイクロミラーアレイ3の状態と受光面での光量分布を示す図である。
図3(a)は、マイクロミラーアレイ3の拡大断面図である。図3(a)は、5つの変調素子A〜Eを示しているが、マイクロミラーアレイ3に含まれる変調素子の数はこれに限定されない。以下において、変調素子A〜Eを構成する部材の後には、添字A〜Eを付けてその帰属を示す。
図3(a)に示されている変調素子Aの固定電極片23aA〜25aAには、それぞれ、最大電圧を印加されている。このため、ヨーク27A〜29Aは、いずれも反時計方向に回転し、微小ミラー3bAは、最大角度で傾斜する第1の状態にある。
変調素子CおよびE、変調素子Aと同様の状態にある。すなわち、変調素子CおよびEの微小ミラー3bCおよび3bEも、最大角度で傾斜する第1の状態にある。
微小ミラー3bA、3bC、3bEによって入射光Linは反射され、図1に示す縮小投影光学系5の開口瞳外に偏向される。このため、図1に示すレジスト7において変調素子A、CおよびEに対応する位置には暗部が形成されることになる。
変調素子Bには、どの固定電極片にも電圧が印加されず、ミラー3bBは第2の状態をとる。第2の状態は、無変形状態に相当して、傾き角度およびz方向(光軸方向)の変位は、いずれも0である。微小ミラー3bBのミラー面は、入射光Linの伝搬方向に対して垂直であるため、反射光は縮小投影光学系5の開口瞳内に偏向され、レジスト7上に明部を形成する。
変調素子Dについては、固定電極片24bDおよび2つの固定電極片23aD、25aDに、それぞれ、所定の電圧が印加される。このため、ヨーク27Dと29Dとは反時計方向に回転し、ヨーク28Dは時計方向に回転する。従って、微小ミラー3bDは、基板3aに対して垂直なz方向に所定量変位した第3の状態をとる。このときの微小ミラー3bDの傾き角度は0であり、z方向への変位量はλ/4であるλは(入射光Linの波長)。すなわち、微小ミラー3bBと微小ミラー3bDとの間にはλ/4の相対的な変位が与えられ、往復の光路にしてλ/2の光路長差が発生する。従って、微小ミラー3bBからの反射光と微小ミラー3bDからの反射光との間には180度の位相差が与えられる。微小ミラー3bDのミラー面は入射光Linに垂直であり、この反射光は縮小投影光学系5の開口瞳内に偏向され、受光面であるレジスト7上に明部を形成する。
図3(a)のマイクロミラーアレイから反射してきた光がレジスト7の表面に形成するの電界の強度分布を図3(b)に示す。破線EBおよびEDは、それぞれ、微小ミラー3bBおよび3bDからの反射光による電界強度分布を示している。微小ミラー3bBからの反射光の電界EBと微小ミラー3bDからの反射光の電界EDとは位相が180度ずれているために、レジスト7上の電界分布EB+EDはその裾野部の重なる部分が互いに相殺し合って値が小さくなる。
光量は電界強度の自乗に比例するため、レジスト7上での光量分布は、図3(c)に示す曲線で示される。2つの明部の間の暗部が高いコントラスト比で再現され、2つの明部の像は受光面上で明確に分離されている。
このように、二つの隣り合った明部を形成する微小ミラー3bBと微小ミラー3bDとの間にλ/4の相対的な変位を与えることにより、両者からの反射光は180度の相対的な位相差を持った状態で干渉し、レベンソン型位相シフトマスクと等価な効果を発揮して、明暗パターンの解像度を高めることができる。
なお、ここでは説明を簡単にするために、明部および暗部をそれぞれ1つの微小ミラーで形成した場合についてのみ説明したが、明部および暗部をそれぞれ複数の微小ミラーを用いて形成しても良いことはもちろんである。
次に、比較のために、図4を参照しながら位相シフトを行わない場合を示す。
図4(a)に示される状態において、微小ミラー3bA、3bC、3bEは第1の状態にあり、レジスト7上に暗部を形成する。微小ミラー3bB、3bDは、第2の状態にあり、傾き角度およびz方向の変位は、いずれも0である。従って、両者からの反射光は同位相で干渉し、レジスト7上に明部を形成する。
図4(b)は、レジスト7上の電界強度分布を示している。微小ミラー3bBからの反射光の電界EBと微小ミラー3bDからの反射光の電界EDとは、位相が同じであるために、レジスト7上の電界分布EB+EDはその裾野部が同相で重なり合い、値が大きくなる。
図4(c)は、レジスト7上での光量分布を示している。2つの明部の間の暗部とのコントラスト比が低く、2つの明部の像は分離しにくいことがわかる。このように、微小ミラー3bが基板3aに対する傾斜のみを行う場合、明暗パターンの解像度が低い。これに対して、微小ミラー3bが基板3aに対する傾斜および/または基板に対する垂直な方向への変位を行う場合(図3)は、明暗パターンの解像度を高めることができる。
次に、図5を参照しながら、本発明の投影方法を説明する。図5は本発明の実施形態1における投影方法の工程手順を示すフローチャートである。
まず、マイクロミラーアレイ3を駆動するパターンデータを作成する(工程40)。
パターンデータはCADを用いて作成する。レジスト7上に十分な解像度の回路パターンが投影されるように、各微小ミラーに与えるべき3つのパラメータ値が決定される。この3つのパラメータ値とは、x軸周りの傾き角度、y軸周りの傾き角度、z方向の変位であり、それぞれの最適値が例えば256段階程度の多値データとして求められる。
これらのパラメータ値の最適化には、露光・現像の物理モデルに基づいたシミュレーションを用いる。光近接効果(Optical Proximity Effect)の補正も、この工程で行われる。
レベンソン型位相シフトマスクでは、隣り合った明部どうしの位相差が基本的に180度(逆位相)となるが、回路パターンがランダムパターンである場合、場所によっては同位相にならざるを得ないような「矛盾箇所」が発生する。パターンデータ発生器4は、こうした矛盾箇所において、隣り合った明部同士の位相差を180度以下の値、例えば120度などの値に設定する。これにより、3つの明部に互いに同じ程度の位相差を与えつつ、その矛盾を解決することができる。あるいは明部または暗部に対応した微小ミラー3bの傾き角度を調整し、レジスト7上の光量分布を調整する。このような多段階のパターンデータによって、回路パターン配置の柔軟性を高め、回路パターンの高密度化を図ることができる。
上記のように作成したパターンデータは、パターンデータ発生器のメモリに格納される(工程41)。
投影動作の際には、パターンデータ発生器は所定のタイミングでメモリからパターンデータを読み出し(工程42)、マイクロミラーアレイ3に入力する(工程43)。
このパターンデータに応じて、微小ミラー3bに基板3aに対する傾斜および/または前記基板に対する垂直な方向への変位を行わせる(工程44)。
パターンデータは、多値の3つのパラメータの組み合わせであるため、多様の値をとるが、少なくとも、以下の第1〜第3のパターンデータを含んでいる。第1のパターンデータは、微小ミラー3bを基板3aに対して所定角度θth以上傾斜させる第1の状態に設定し、反射光を実質的に投影光学系5の開口瞳外に偏向させることにより、変調光の振幅を所定値Ith以下に変調する。第2のパターンデータは、微小ミラー3bを基板3aに対する傾斜角度が所定角度θth以下になる第2の状態に設定し、微小ミラー3bからの反射光を投影光学系5の開口瞳内に偏向させ、変調光の振幅を所定値Ith以上とする。第3のパターンデータは、微小ミラー3bを基板3aに対する傾斜角度が所定角度θth以下になる第3の状態に設定し、微小ミラー3bからの反射光を投影光学系5の開口瞳内に偏向させ、変調光の振幅を所定値Ith以上とする。同時に、第3のパターンデータは、基板3aに対する垂直な方向に関して、第3の状態にある微小ミラー3bと第2の状態にある微小ミラー3bとの間で相対変位を与えて、両者からの反射光が相対的に位相差を持つようにしている。
一方、光源1は、コヒーレント光または部分コヒーレント光を発生して、マイクロミラーアレイ3に投射する(工程45)。マイクロミラーアレイ3からの反射光は投影光学系5によりレジスト7上に縮小投影する(工程46)。レジスト7への所定時間の投影露光が完了すると、ウェハステージ8を移送し(工程47)、これを繰り返せば、次々とレジスト7を露光できる。
以上のように、本実施形態では、パターンデータ発生器が発生するパターンデータに応じて駆動されるマイクロミラーアレイの微小ミラーを、基板に対する傾斜および/または基板に対する垂直な方向への変位を可能に設けている。これにより、入射光を変調する際に実質的な振幅変調だけでなく位相変調をも行うことができる。このような位相変調を行なうことにより、マスクを用いないで直接描画を行う投影装置および投影方法においても、位相シフト法による高解像度化を可能とし、微細な描画パターンを投影面上に形成することができる。このように本実施形態の投影装置によれば、マスクが不要であり、かつ、マイクロミラーアレイの反射面をパターンデータに応じて適応的に変化させることができるため、何種類もの描画パターンから必要なパターンを選択して迅速に形成することができる。
本実施形態では、微小ミラー3bの垂直方向への変位を多段階に制御しているため、パターンデータのみによって簡単に任意の位相シフト量を実現することができ、従来のマスクによる位相シフト法では実現が困難であった位相シフトパターンを形成することができる。すなわち、従来の位相シフトマスクでは、位相シフト量は位相シフターと呼ばれる透明媒質の厚さで決定するため、基本的にシフト量の多値化や場所毎のシフト量の最適化はマスク製造プロセスの複雑化を招いていた。しかし、本実施形態によれば、パターンデータのみを変更すれば任意の変調素子に任意の位相シフト量を発生させることができ、極めて簡易に柔軟な位相シフトパターンを発生させることができる。
また、微小ミラー3bの2軸の傾き角度をパターンデータ発生器4がそれぞれ多段階に制御しているため、投影面上での描画パターンの制御余裕度をより高めることができる。これにより、例えば従来のレベンソン型位相マスクでは開口部の同位相化に伴う解像度低下を回避しにくかったようなランダムな回路パターンについても、パターン間距離をそれほど広げずに位相の矛盾箇所の対応を図ることができる。
また、パターンデータ発生器4が発生するパターンデータが単に描画パターンに対応するだけでなく、マイクロミラーアレイ3に投影光学系5の収差を補正させる機能を兼備するものであってもよい。こうした機能は例えばレジスト7からの反射光の一部を別途波面センサに導き、波面を検出することにより実現できる。こうした構成により、1つのマイクロミラーアレイ3に、描画パターンの形成と光学系の収差補正との2つの機能を果たさせることができる。
なお、本実施形態では、マイクロミラーアレイ3を空間光変調器として用い、このマイクロミラーアレイ3に入射光の実質的な振幅および/または位相を変調させることにより、位相シフトによる高解像度化を行っているが、マイクロミラーアレイ以外の空間光変調器を用いても、これに準ずる効果を奏することができる。例えば、振幅変調用と位相変調用の2つの液晶パネルを設けて、これらを空間光変調器として用いてもよい。
また、本実施形態では、光源1の出力光を紫外線帯域以下の短波長光としたが、これを可視光帯などの他の波長帯域光としてもよい。さらに、本発明はリソグラフィ用途の投影装置に限定されず、ディスプレイ用途や写真プリント用途などの他用途に適用することもできる。
なお、パターンデータ発生器は投影装置の構成要素であってもよいし、なくても良い。本発明の動作に必要なパターンデータは、投影装置に内蔵された記憶媒体に格納されていても良いし、またはリムーバルの記憶媒体に格納されていてもよい。パターンデータは外部で作成され、通信線を介して本発明の投影装置に供給されても良い。
本発明の投影装置および方法は、高解像度のリソグラフィだけではなく、ディスプレイや写真プリントなどの種々の用途に適用される。
本発明による投影装置の実施形態を示す概略構成図である。 上記実施形態におけるマイクロミラーアレイの分解斜視図である。 位相シフト動作を行う場合のマイクロミラーアレイ3の状態と受光面での光量分布を示す説明図である。 位相シフト動作を行わない場合のマイクロミラーアレイ3の状態と受光面での光量分布を示す説明図である。 本発明の実施形態における投影方法の工程を示すフローチャートである。
符号の説明
1 光源
2 ビームスプリッタ
3 マイクロミラーアレイ
3a 基板
3b 微小ミラー
3c アクチュエータ
4 パターンデータ発生器
5 投影光学系
6 ウェハ
7 レジスト
8 ウェハステージ



Claims (15)

  1. 投影面に形成すべきパターンを表現するパターンデータの入力を受けとり、前記パターンデータに応じて入射光を空間的に変調する空間光変調器と、
    前記空間光変調器で反射された光を前記投影面上に縮小投影する投影光学系と、
    を備えた投影装置であって、
    前記空間光変調器は、
    前記パターンデータに応じて駆動される複数の微小ミラーのアレイと、
    前記複数の微小ミラーのアレイを支持する基板とを有しており、
    前記複数の微小ミラーの各々の前記基板に対する傾斜および前記基板に対する垂直な 方向への変位を個々の微小ミラーごとに変化させることができる駆動部と、
    を有している、投影装置。
  2. 前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する垂直な方向への変位および前記基板に対する傾斜によって規定される前記微小ミラーの状態を変化させる、請求項1に記載の投影装置。
  3. 前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する垂直な方向への変位を多段階で変化させることができる、請求項2に記載の投影装置。
  4. 前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、各微小ミラーの前記基板に対する2軸の傾斜をそれぞれ多段階に変化させる請求項3に記載の投影装置。
  5. 前記駆動部は、前記パターンデータに応じて、相互に異なる少なくとも第1から第3の状態を各微小ミラーにとらせることができ、
    前記第1の状態にある前記微小ミラーは、前記基板に対して傾斜し、前記反射光を実質的に前記投影光学系の開口瞳外に偏向させ、
    前記第2の状態にある前記微小ミラーおよび前記第3の状態にある前記微小ミラーは、前記基板の垂直方向に関して相対的に異なる変位を示し、かつ、いずれもが前記反射光を前記投影光学系の開口瞳内に偏向させる、請求項2から4のいずれかに記載の投影装置。
  6. 前記第2の状態にある微小ミラーで反射された光と、前記第3の状態にある微小ミラーで反射された光とは、互いに逆相になる相対的な位相差が与えられる請求項5に記載の投影装置。
  7. 前記第1の状態にある前記微小ミラーを挟んで、前記第2の状態にある微小ミラーと前記第3の状態にある前記微小ミラーとが隣接している請求項6に記載の投影装置。
  8. 前記位相差は実質的に180度である請求項7に記載の投影装置。
  9. 前記パターンデータは、パターンデータ発生器により生成され、
    前記パターンデータ発生器は、各微小ミラーの状態を個々に基板に対する垂直な方向への変位および2軸の傾斜を与える前記パターンデータの多段階の設定値を、前記微小ミラー毎に可変とする請求項1に記載の投影装置。
  10. 前記パターンデータは、前記微小ミラーの前記基板に対する2軸の傾斜をそれぞれ多段階に設定する請求項9に記載の投影装置。
  11. 前記投影面に形成するパターンは、回路素子を形成するためのパターンであり、
    前記投影面は、感光性レジスト上に形成される請求項1に記載の投影装置。
  12. 前記パターンデータ発生器が、前記投影光学系の収差を補正するためのパターンデータを発生する請求項9に記載の投影装置。
  13. 投影面に形成すべきパターンを表現するパターンデータの入力を受けとり、前記パターンデータに応じて入射光を空間的に変調する空間光変調器と、
    前記空間光変調器で変調された光を前記投影面上に投影する投影光学系と、
    を備えた投影装置であって、
    前記空間光変調器は、
    前記パターンデータに応じて、前記入射光の振幅および/または位相を変調すること ができる複数の変調素子のアレイを有しており、前記複数の変調素子の各々は、相互に 異なる少なくとも第1から第3の状態をとることができ、
    前記第1の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を所 定値以下に変調し、
    前記第2の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を前 記所定値以上に保ち、
    前記第3の状態にある前記変調素子は、前記投影面上における前記変調光の振幅を前 記所定値以上に保つとともに、前記第2の状態にある前記変調素子からの変調光との間 で相対的な位相差を形成する、投影装置。
  14. 複数の微小ミラーが行および列状に配列されたマイクロミラーアレイを駆動することにより、前記複数の微小ミラーの各々の傾斜および/または光軸方向への変位を個別に行なうステップと、
    前記マイクロミラーアレイに光を投射し、各微小ミラーからの反射光を投影面上に投影することにより、前記投影面上に像を作成するステップと、
    を含む像形成方法。
  15. 各々が光の振幅および/または位相を変調する複数の変調素子を備えた空間光変調器を用意する工程と、
    前記空間光変調器に光を入射させ、前記複数の変調素子の各々によって変調された変調光を投影面に投影して像を形成する工程と、
    を含む投影方法であって、
    前記投影面上における前記変調光の振幅を所定値以下に変調する第1のパターンデータと、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保つ第2のパターンデータと、前記投影面上における前記変調光の振幅を前記所定値以上に保つとともに、前記第2のパターンデータを与えられた変調素子からの変調光との間で相対的な位相差を与える第3のパターンデータとを、前記空間光変調器に入力するステップ
    を含む、投影方法。

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