JP2004287609A - 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム - Google Patents
製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2004287609A JP2004287609A JP2003076382A JP2003076382A JP2004287609A JP 2004287609 A JP2004287609 A JP 2004287609A JP 2003076382 A JP2003076382 A JP 2003076382A JP 2003076382 A JP2003076382 A JP 2003076382A JP 2004287609 A JP2004287609 A JP 2004287609A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection
- product
- data
- target product
- defect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 1031
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 595
- 239000000047 product Substances 0.000 claims description 785
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 333
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 236
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 44
- 239000012467 final product Substances 0.000 claims description 10
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 9
- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims description 8
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims description 8
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 92
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 30
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 30
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 10
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 8
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 241000272168 Laridae Species 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000005111 flow chemistry technique Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- General Factory Administration (AREA)
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
【課題】同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供する。
【解決手段】製品を構成する部品と部品の部位と部位を検査する検査方法と検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、部位を検査する検査方法を設定する。
【選択図】 図１
【解決手段】製品を構成する部品と部品の部位と部位を検査する検査方法と検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、部位を検査する検査方法を設定する。
【選択図】 図１
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、製品の検査を効率的に行うことができる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に製品の検査は、図８の様に複数回の工程内検査と最終検査で構成されている。それぞれの検査の工程は、同機能の検査装置を重複して使用する場合もあれば、異なる機能、性能の検査装置を使用することも有る。また、一つの検査工程に複数台の同一機能の検査装置のみならず、異なる機能の検査装置を用いることもある。工程内検査で発見されない不良は、後工程の検査や最終検査で発見されることになる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、後工程以降で発見される不良は、意図して発見されるものでなく原因不明のままのことがあり、例えば、プリント基板では、どこの部分の半田付けがされていない（オープン）とか、どこがショートしているというように直接的に真の不良原因が判らないことが殆どであり、不良原因を解明しようとすれば時間がかかり製造コストの増加に繋がることになる。また、不良はより前の工程で発見される方が全体の工数低減に繋がることになり、適正な工程でモレのない検査を行うことが重要である。また、重複した検査を行うことも当然無駄な作業を行っていることであり、生産効率の低下、設備の消耗に繋がり、好ましくない。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上述の問題点を解決するために、請求項１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を最も主要な特徴とする。
請求項２記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項４記載の発明では、過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項５記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
【０００５】
請求項６記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項７記載の発明では、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項９記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
【０００６】
請求項１２記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１４記載の発明では、前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できる製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１５記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００７】
請求項１６記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００８】
請求項１９記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２０記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００９】
請求項２２記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２３記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２４記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１０】
請求項２５記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２６記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２８記載の発明では、前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１１】
請求項２９記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３１記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項３２記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す。製品検査内容設定システムの主要部は製品の設計データを記憶するデータベース部１０と、データベース部１０のデータから対象製品のデータを収集するデータ収集部２０と、データ収集部２０のデータから対象製品の検出可能データを作成する検出可能データ作成部３０と、対象製品の不良を予測する不良予測システム１００と、不良予測システム１００、データ収集部２０等のデータから、対象製品の不良発生データを作成する不良発生データ作成部４０と、検査方法特徴データを作成する検査方法特徴データ作成部５０と、不良発生データ作成部４０のデータと検出可能データ作成部３０のデータから、発生する不良現象に対して、その不良現象が検出可能な検査方法を抽出し、検査方法特徴データ作成部５０のデータを判断の基準として検査内容を設定する検査内容設定部６０とから構成される。
データベース部１０は製品の組付け箇所ごと製品設計データや、その製品の工程（組付け、検査）ごと工程設計データや、その製品の組付け部品識別ごと組付け部品設計データや、その製品の接続箇所ごと接続箇所設計データや、その製品の接続箇所関連データが記憶されている製品設計データベース１１と、製品の不良データや、生産データが記憶されている製造品質データベース１２とから構成される。
製品設計データベース１１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け部品識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無で表される組付け箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データと、組付け部品識別、組付け部品特性で表される組付け部品設計データと、製品識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される接続箇所設計データと、製品識別、接続箇所関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所関連データが記憶される。
ここで、組付け箇所特性とは、被組み付け部品や組立ジグの、組付け箇所ごと特性等の組み合わせを表す。組付け部品特性とは、組付け部品ごと特性等の組み合わせを表す。接続箇所特性とは、接続箇所ごと特性等の組み合わせを表す。またここで特性とは、構造的特性や材料特性や特徴等の組み合わせを表す。構造的特性とは、形状、寸法、角度、重量、配置等の条件の組み合わせを表す。材料特性とは、材質、表面処理等の条件の組み合わせを表す。また特徴とは、種類、荷姿、検査用設計有無等の条件の組み合わせを表す。
【００１３】
製造品質データベース１２は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
データ収集部２０は対象製品の製品識別、ライン識別を入力する対象製品識別ライン識別入力部２１と、対象製品の設計データを収集する対象製品設計データ収集部２２と、その設計データを記憶する対象製品設計データ記憶部２３と、その設計データを入出力する対象製品設計データ入出力部２４と、対象製品の品質データを収集する対象製品品質データ収集部２５と、その品質データを記憶する対象製品品質データ記憶部２６と、その品質データを入出力する対象製品品質データ入出力部２７とから構成される。
対象製品識別ライン識別入力部２１は、対象製品設計データ収集部２２、対象製品品質データ収集部２５にて、データを収集する対象製品の製品識別、ライン識別として、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力する。この場合、任意の製品識別、ライン識別を入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
【００１４】
対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集する。組付け箇所ごと製品設計データと組付け部品設計データの組付け部品識別を比較し、組付け箇所ごと製品設計データに組付け部品設計データを対応付け、対応付けデータＡとする。対応付けデータＡと接続箇所設計データの、組付け箇所識別を比較し、対応付けデータＡに接続箇所設計データを対応付け、対応付けデータＢとする。対応付けデータＢと接続箇所関連データの、組付け箇所識別、接続箇所識別を比較し、対応付けデータＢに接続箇所関連データを対応付け、接続箇所ごと製品設計データとする。接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。
対応付けデータＡは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性で表される。対応付けデータＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される。
対象製品設計データ記憶部２３は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データとが記憶される。
対象製品設計データ入出力部２４は対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力する。生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
対象製品設計データ収集部２５は製品品質データベース１２から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集する。不良データと生産データの、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法を比較し、不良データに生産データを対応付け、対応付けデータＣとする。対応付けデータＣから、不良率（不良件数／生産枚数）、不良の傾向を算出し、対応付けデータＣに対応付け、接続箇所ごと製造品質データとする。接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。対応付けデータＣは、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数で表される。
対象製品品質データ記憶部２６は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数、不良率、不良の傾向で表される組付け箇所識別ごと製造品質データが記憶される。対象製品品質データ入出力部２７は対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
【００１５】
検出可能データ作成部３０は対象製品の検出可能データを記憶する対象製品検出可能データ記憶部３１と、その検出可能データを入出力する対象製品検出可能データ入出力部３２と、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データを記憶する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５と、その検出可能データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６と、対象製品の検査方法を入力する対象製品検査方法入力部３４と、対象製品の設計データ、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データ、対象製品の検査方法から、対象製品の検出可能データを作成する対象製品検出可能データ作成部３３から構成される。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５は検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性、不良現象、検出可否で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データが記憶される。設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
対象製品検査方法入力部３４は対象製品検出可能データ作成部３３にてデータを収集する検査方法を選定入力する。この場合、任意の検査方法を複数入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
対象製品検出可能データ作成部３３は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データから、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータを抽出し、抽出データＡとする。
【００１６】
対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡを対応付け、対応付けデータＤとする。対応付けデータＤと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの組付け方法を比較し、対応付けデータＤに工程設計データを対応付け、対応付けデータＥとする。ここで、工程設計データの順序は、組付け方法順序とする。
対応付けデータＥと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの検査方法を比較し、対応付けデータＥに工程設計データを対応付け、対応付けデータＦとする。ここで、工程設計データの順序は、検査方法順序とする。対応付けデータＦの組付け方法順序と検査方法順序を比較し、組付け方法順序が検査方法順序より遅い場合は、検出可否を検出不可とし、対象製品検出可能データとする。対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。対応付けデータＤは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。
対応付けデータＥは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序で表される。
対応付けデータＦは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序、検査方法順序で表される。
【００１７】
対象製品検出可能データ記憶部３１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される対象製品検出可能データが記憶される。対象製品検出可能データ入出力部３２は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位を検査する検査方法とその検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データの例としては図２のようになる。図２では、検査できる場合は○、検査できない場合は×で示されている。
不良発生データ作成部４０は対象製品の不良発生データを記憶する対象製品不良発生データ記憶部４１と、その不良発生データを入出力する対象製品不良発生データ入出力部４２と、設計条件に対応した不良発生データを記憶する設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４と、その不良発生データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５と、検査実施基準を記憶する検査実施基準記憶部４７と、その検査実施基準を入出力する検査実施基準入出力部４８と、対象製品の設計データ、設計条件に対応した不良発生データから、対象製品の不良発生データを作成する、または、対象製品の設計データに対して、その設計条件から発生すると予測された不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする、または、実際に発生した不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部４３と、その対象製品の不良発生データから、検査実施基準データを判断の基準として、検査する必要の無いところを削除する検査不必要箇所削除部４６とから構成される。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データの例としては図３のようになる。図３中単位ｐｐｍは、ｐａｒｔ ｐａｒ ｍｉｌｌｉｏｎの単位であり、１ｐｐｍは１００万分の１を意味する。
【００１８】
設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４は組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率で表される設計条件に対応した不良発生データが記憶される（不良件数、接続点数、不良率は、空白でも良い）。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５は、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査実施基準記憶部４７は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、不良現象、検査要不要で表される製品ごと検査実施基準と、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査要不要で表される設計条件に対応した検査実施基準と、製品識別、ライン識別、目標不良率で表される不良率検査実施基準とが記憶される。
検査実施基準入出力部４８は検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータを入力、編集、出力する。対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データを対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、不良予測システム１００から予測された不良現象を抽出し、その抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。そして、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。
【００１９】
対象製品不良発生データ記憶部４１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向で表される対象製品検出可能データが記憶される。この場合、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向は、空白でもよい。対象製品不良発生データ入出力部４２は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
検査不必要箇所削除部４６は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を比較し、対象製品不良発生データに、設計条件に対応した検査実施基準を対応付け、対応付けデータＧとする。
対応付けデータＧと検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準の製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対応付けデータＧと製品ごと検査実施基準を対応付け、対応付けデータＨとする。対応付けデータＨから設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が空白であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が空白で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータとを削除し、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を対象製品不良発生データとする。
対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。さらに、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき、（接続点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。ここで、空白は、「要」でも「不要」でもないことを表す。
対応付けデータＧは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要で表される。対応付けデータＨは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要、対象製品検査要不要で表される。
【００２０】
検査方法特徴データ作成部５０は検査方法の特徴を記憶する検査方法特徴データ記憶部５１と、その特徴を入出力する検査方法特徴データ入出力部５２とから構成される。検査方法特徴データ記憶部５１は検査方法、検査方法特徴で表される検査方法ごと検査方法特徴データと、検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、検査ランクで表される検査方法設計条件ごと検査方法特徴データと、が記憶される。検査方法特徴データ入出力部５２は検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データの例としては図４のようになる。なお、図４中Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄはランク付けを示す。
検査内容設定部６０は対象製品の不良発生データ、対象製品の検出可能データ、検査方法の特徴データから、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部６１と、その検査内容を記憶する対象製品検査内容記憶部６２と、その検査内容を入出力する対象製品検査内容入出力部６３とから構成される。
対象製品検査内容設定部６１は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。または、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにある対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。
抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの検査方法を比較し、抽出データＢと検査方法ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＩとする。対応付けデータＩから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容とする。対象製品検査内容の例としては図５のようになる。
【００２１】
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。または、抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データの検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象を比較し、抽出データＢと検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＪとする。対応付けデータＪから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容とする。
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。さらに、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにないものは、削除し、あるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。
傾向的減少とは、継続して不良の減少が見られる、ある期間にわたって継続して低い不良率を維持している／基準値を下回るような場合をいう。傾向的な不良増加とは、継続して不良の増加が見られる、ある期間にわたって継続して高い不良率を維持している／基準値をオーバーしているような場合をいう。
【００２２】
抽出データＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。対応付けデータＩは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査方法特徴で表される。対応付けデータＪは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査ランクで表される。
対象製品検査内容記憶部６２は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、検査方法で表される対象製品検査内容が記憶される。検査方法特徴データ入出力部６３は対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力する。そのデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。
上述の各項目を例えば、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）にて例示すると、「生産時期」は、生産年月、生産年月日等、「製品識別」は、プリント基板の番号、プリント基板の名称等、「ライン識別」は、ライン番号、ライン名称等、「組付け箇所識別」は、リファレンス番号（アドレス）等、「部品識別」は、実装部品の番号、品名、メーカーとメーカー型番等、「組付け方法」は、実装方法、実装工程（設備、人等）、実装角度等の組み合わせ、「組付け箇所特性」は、実装面、実装座標、実装角度、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「組付け部品特性」は、形状概要（ＱＦＰ、ＳＯＰ、ＣＨＩＰ等）、ピン形状概要（フラット、ガルウィング等）、ピン数、長さ、幅、高さ、ピッチ、材質、マーク、極性、荷姿概要（エンボステープ、トレイ、スティック等）、荷姿寸法、荷姿角度等の組み合わせ、「検査方法」は、検査方法（外観検査機、インサーキット・テスタ、ファンクション・テスタ、目視等）等、「接続箇所識別」は、ピン番号等、「接続箇所特性」は、中心座標、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「接続箇所関連識別」は、ノード番号、信号線名等、「接続箇所関連特性」は、インサーキット・テスタやファンクション・テスタの為の、検査のピンがたつかどうか等を用いている。
【００２３】
図６、図７に本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）における処理フロー、即ち、本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法（製品検査内容変更方法）を示す。ここでは、データベース部１０は、予め用意されており、随時、メンテナンスされた新たなデータが入っているものとする。図６に示すように、フローがスタートすると、まずステップ２０１で判断する。そして、対象製品不良発生データを作成せず、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１へ移り、対象製品不良発生データを入力し、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１１へ移り、対象製品不良発生データを設計条件から作成するか、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ７０へ移る。
ステップ９１では、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ移る。ステップ９１１ではステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ１０１へ移り、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ進む。
ステップ７０では、対象製品識別ライン識別入力部２１を用いて、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力、または、任意の製品識別、ライン識別を入力する。そして、ステップ８１へ移る。ステップ８１において、対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集し、そのデータの対応付けを実施し、接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。このとき、対象製品設計データ入出力部２４を用いて、対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。
【００２４】
ステップ８１の後はステップ２０２へ移り、対象製品検出可能データを入力する場合は、ステップ９１２へ移る判断をし、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ２０３へ移る判断をする。ステップ９１２では、ステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ２０４へ移る。
ステップ２０３では、対象製品の検査方法を入力しない場合は、ステップ９２へ移る判断をし、入力する場合は、ステップ９４へ移る判断をする。ステップ９４では、対象製品検査方法入力部３４を用いて、データを収集する検査方法を選定入力、または、任意の検査方法を複数入力する。そして、ステップ９２へ進む。
ステップ９２では、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６を用いて、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ９３へ進む。ステップ９３において、対象製品検出可能データ作成部３３は、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データ、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータ、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、工程設計データの抽出、対応付け、変更を実施し、対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。このとき、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０４へ進む。
【００２５】
ステップ２０４では、対象製品不良発生データを設計条件だけから作成する場合は、ステップ１０２へ移る判断をし、過去の不良発生状況から推定する場合は、ステップ１０４へ移る判断をする。ステップ１０２では、設計条件に対応した不良発生データ入出力部４５を用いて、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ１０３へ移る。ステップ１０３において、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０５へ進む。
ステップ１０４においては、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、不良予測システム１００から予測された不良現象の抽出、対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０５へ進む。
ステップ２０５では、検査不必要箇所を削除しない場合は、図７のステップ２０６へ進む判断をし、削除する場合で、検査を実施しない不良を登録し、削除する場合は、ステップ１１１へ進む判断をし、目標品質に応じて削除する場合は、ステップ１１３へ進む判断をする。
【００２６】
ステップ１１１では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（製品ごと検査実施基準、設計条件に対応した検査実施基準）を入力、編集する。そして、ステップ１１２へ進む。ステップ１１２において、検査不必要箇所削除部４６は、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準、検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の対応付け、削除を実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０６へ進む。
一方、ステップ１１３では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（目標不良率）を入力、編集する。そして、ステップ１１４へ進んで、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき（組付け点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）、削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０６へ進む。
【００２７】
図７においてステップ２０６では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとする場合、ステップ１２２へ進む判断をし、その他は、１２１へ進む判断をする。ステップ１２２では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。一方、ステップ１２１では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。
ステップ２０７では、対象製品不良発生データを作成しなかった場合は、ステップ１３１へ進む判断をし、作成した場合は、ステップ１３２へ進む判断をする。ステップ１３１において、対象製品検査内容設定部６１は、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの抽出、対応付けを実施する。その後、ステップ２０８へ進む。一方、ステップ１３２では、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データ、の抽出、対応付けを実施する。この後、ステップ２０８へ進む。
ステップ２０８では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとした場合、ステップ１４２へ進む判断をし、その他は、１４１へ進む判断をする。ステップ１４１では、ステップ１３１または１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０９へ進む。
【００２８】
ステップ１４２では、ステップ１３１や、１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データ、の対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０９へ進む。
ステップ２０９では、対象製品製造品質データを用いて、対象製品検査内容を変更する場合は、ステップ７０１へ進む判断をし、その他は、２１１へ進む判断をする。ステップ７０１では、ステップ７０と同様の処理が行われ、その後、ステップ８１１へ移る。ステップ８１１では、ステップ８１と同様の処理が行われ、その後、ステップ８２へ進む。ステップ８２において、対象製品設計データ収集部２５は、製品品質データベース１２から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集し、そのデータの対応付け、計算を実施し、接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。このとき、対象製品品質データ入出力部２７を用いて、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ９５へ進む。
ステップ９５では、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２１０へ進む。
【００２９】
ステップ２１０では、検査実績から、発生しない不良の検査を除外する場合は、ステップ１５１へ進む判断をし、検査実績から、減少傾向にある不良の検査を除外する場合は、ステップ１５２へ進む判断をし、後工程の検査実績から、発生しない不良の検査を追加する場合は、ステップ１５３へ進む判断をし、後工程の検査実績から、増加傾向にある不良の検査を追加する場合は、ステップ１５４へ進む判断をする。
ステップ１５１では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにないものは、削除する。ステップ１５２では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにあるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５３では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。ステップ１５４では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５１、１５２、１５３、１５４の後はステップ２０９へ戻る（図中のＢの個所）。
ステップ２１１では、対象製品の検出可能データ、対象製品の不良発生データ、対象製品の検査方法特徴データを修正するか、しないかを判断し、修正する場合は、スタートへ戻り、修正しない場合は、ステップ２１２へ進む。ステップ２１２では、対象製品を製品、ジグ設計システムに出力する場合は、ステップ１６０へ進む判断をし、その他は、エンドへ進んでフロー処理を終了する。ステップ１６０において、検査方法特徴データ入出力部６３は、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。そして、エンドへ進んでフロー処理を終了する。
【００３０】
したがって、上述した製品検査内容設定方法では、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３１】
製品検査内容変更方法では、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
製品検査内容設定システムでは、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
【００３２】
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
製品検査内容変更システムでは、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
【００３３】
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
加えて、製品検査内容設定方法では、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
加えて、製品検査内容設定システムでは、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
請求項２によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項３によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項４によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項５によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項６によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項７によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３５】
請求項８によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項９によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１０によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１１によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１２によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項１３によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項１４によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項１５によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
【００３６】
請求項１６によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項１７によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項１８によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１９によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項２０によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項２１によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
請求項２２によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２３によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２４によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
【００３７】
請求項２５によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項２６によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項２７によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項２８によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項２９によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３０によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項３１によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３２によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す図である。
【図２】対象製品検出可能データの例を示す図である。
【図３】対象製品不良発生データの例を示す図である。
【図４】検査方法特徴データの例を示す図である。
【図５】対象製品検査内容の例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図７】図６に続く製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図８】一般的な製品の検査フローを示す図である。
【符号の説明】
１０ データベース部、１１ 製品設計データベース、１２ 製造品質データベース、２０ データ収集部、２１ 対象製品識別ライン識別入力部、２２ 対象製品設計データ収集部、２３ 対象製品設計データ記憶部、２４ 対象製品設計データ入出力部、２５ 対象製品品質データ収集部、２６ 対象製品品質データ記憶部、２７ 対象製品品質データ入出力部、３０ 検出可能データ作成部、３１ 対象製品検出可能データ記憶部、３２ 対象製品検出可能データ入出力部、３３ 対象製品検出可能データ作成部、３４ 対象製品検査方法入力部、３５各検査方法検出可能データ記憶部、３６ 各検査方法検出可能データ入出力部、４０ 不良発生データ作成部、４１ 不良発生データ記憶部、４２ 対象製品不良発生データ入出力部、４３ 対象製品不良発生データ作成部、４４ 不良発生データ記憶部、４５ 各検査方法検出可能データ入出力部、４６ 検査不必要箇所削除部、４７ 検査実施基準記憶部、４８ 検査実施基準入出力部、５０ 検査方法特徴データ作成部、５１ 検査方法特徴データ記憶部、５２ 検査方法特徴データ入出力部、６０ 検査内容設定部、６１ 対象製品検査内容設定部、６２ 対象製品検査内容記憶部、６３ 対象製検査内容入出力部、１００ 不良予測システム、２００ 製品設計システム、３００ 検査ジグ設計システム
【発明の属する技術分野】
本発明は、製品の検査を効率的に行うことができる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般的に製品の検査は、図８の様に複数回の工程内検査と最終検査で構成されている。それぞれの検査の工程は、同機能の検査装置を重複して使用する場合もあれば、異なる機能、性能の検査装置を使用することも有る。また、一つの検査工程に複数台の同一機能の検査装置のみならず、異なる機能の検査装置を用いることもある。工程内検査で発見されない不良は、後工程の検査や最終検査で発見されることになる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、後工程以降で発見される不良は、意図して発見されるものでなく原因不明のままのことがあり、例えば、プリント基板では、どこの部分の半田付けがされていない（オープン）とか、どこがショートしているというように直接的に真の不良原因が判らないことが殆どであり、不良原因を解明しようとすれば時間がかかり製造コストの増加に繋がることになる。また、不良はより前の工程で発見される方が全体の工数低減に繋がることになり、適正な工程でモレのない検査を行うことが重要である。また、重複した検査を行うことも当然無駄な作業を行っていることであり、生産効率の低下、設備の消耗に繋がり、好ましくない。そこで、本発明は、上述の問題点を解決するためになされたもので、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化を実現できる製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システムを提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上述の問題点を解決するために、請求項１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を最も主要な特徴とする。
請求項２記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項４記載の発明では、過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項５記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
【０００５】
請求項６記載の発明では、前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項７記載の発明では、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項９記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
【０００６】
請求項１２記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１３記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１４記載の発明では、前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できる製品検査内容変更方法を主要な特徴とする。
請求項１５記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００７】
請求項１６記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項１８記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、前記対象製品不良発生データと、前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００８】
請求項１９記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２０記載の発明では、前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項２１記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【０００９】
請求項２２記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２３記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２４記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１０】
請求項２５記載の発明では、製品の品質データを記憶するデータベース部と、データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、を備えた製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２６記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２７記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
請求項２８記載の発明では、前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有する製品検査内容変更システムを主要な特徴とする。
【００１１】
請求項２９記載の発明では、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３０記載の発明では、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定方法を主要な特徴とする。
請求項３１記載の発明では、前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有する製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
請求項３２記載の発明では、製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとする製品検査内容設定システムを主要な特徴とする。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す。製品検査内容設定システムの主要部は製品の設計データを記憶するデータベース部１０と、データベース部１０のデータから対象製品のデータを収集するデータ収集部２０と、データ収集部２０のデータから対象製品の検出可能データを作成する検出可能データ作成部３０と、対象製品の不良を予測する不良予測システム１００と、不良予測システム１００、データ収集部２０等のデータから、対象製品の不良発生データを作成する不良発生データ作成部４０と、検査方法特徴データを作成する検査方法特徴データ作成部５０と、不良発生データ作成部４０のデータと検出可能データ作成部３０のデータから、発生する不良現象に対して、その不良現象が検出可能な検査方法を抽出し、検査方法特徴データ作成部５０のデータを判断の基準として検査内容を設定する検査内容設定部６０とから構成される。
データベース部１０は製品の組付け箇所ごと製品設計データや、その製品の工程（組付け、検査）ごと工程設計データや、その製品の組付け部品識別ごと組付け部品設計データや、その製品の接続箇所ごと接続箇所設計データや、その製品の接続箇所関連データが記憶されている製品設計データベース１１と、製品の不良データや、生産データが記憶されている製造品質データベース１２とから構成される。
製品設計データベース１１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け部品識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無で表される組付け箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データと、組付け部品識別、組付け部品特性で表される組付け部品設計データと、製品識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される接続箇所設計データと、製品識別、接続箇所関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所関連データが記憶される。
ここで、組付け箇所特性とは、被組み付け部品や組立ジグの、組付け箇所ごと特性等の組み合わせを表す。組付け部品特性とは、組付け部品ごと特性等の組み合わせを表す。接続箇所特性とは、接続箇所ごと特性等の組み合わせを表す。またここで特性とは、構造的特性や材料特性や特徴等の組み合わせを表す。構造的特性とは、形状、寸法、角度、重量、配置等の条件の組み合わせを表す。材料特性とは、材質、表面処理等の条件の組み合わせを表す。また特徴とは、種類、荷姿、検査用設計有無等の条件の組み合わせを表す。
【００１３】
製造品質データベース１２は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
データ収集部２０は対象製品の製品識別、ライン識別を入力する対象製品識別ライン識別入力部２１と、対象製品の設計データを収集する対象製品設計データ収集部２２と、その設計データを記憶する対象製品設計データ記憶部２３と、その設計データを入出力する対象製品設計データ入出力部２４と、対象製品の品質データを収集する対象製品品質データ収集部２５と、その品質データを記憶する対象製品品質データ記憶部２６と、その品質データを入出力する対象製品品質データ入出力部２７とから構成される。
対象製品識別ライン識別入力部２１は、対象製品設計データ収集部２２、対象製品品質データ収集部２５にて、データを収集する対象製品の製品識別、ライン識別として、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力する。この場合、任意の製品識別、ライン識別を入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
【００１４】
対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集する。組付け箇所ごと製品設計データと組付け部品設計データの組付け部品識別を比較し、組付け箇所ごと製品設計データに組付け部品設計データを対応付け、対応付けデータＡとする。対応付けデータＡと接続箇所設計データの、組付け箇所識別を比較し、対応付けデータＡに接続箇所設計データを対応付け、対応付けデータＢとする。対応付けデータＢと接続箇所関連データの、組付け箇所識別、接続箇所識別を比較し、対応付けデータＢに接続箇所関連データを対応付け、接続箇所ごと製品設計データとする。接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。
対応付けデータＡは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性で表される。対応付けデータＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続箇所関連識別で表される。
対象製品設計データ記憶部２３は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性で表される接続箇所ごと製品設計データと、製品識別、ライン識別、工程識別（組付け方法、検査方法）、順序で表される工程設計データとが記憶される。
対象製品設計データ入出力部２４は対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力する。生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数で表される不良データと、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、生産枚数で表される生産データとが記憶される。
対象製品設計データ収集部２５は製品品質データベース１２から対象製品識別ライン識別入力部２１によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集する。不良データと生産データの、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法を比較し、不良データに生産データを対応付け、対応付けデータＣとする。対応付けデータＣから、不良率（不良件数／生産枚数）、不良の傾向を算出し、対応付けデータＣに対応付け、接続箇所ごと製造品質データとする。接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。対応付けデータＣは、生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数で表される。
対象製品品質データ記憶部２６は生産時期、製品識別、ライン識別、検査方法、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、生産枚数、不良率、不良の傾向で表される組付け箇所識別ごと製造品質データが記憶される。対象製品品質データ入出力部２７は対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
【００１５】
検出可能データ作成部３０は対象製品の検出可能データを記憶する対象製品検出可能データ記憶部３１と、その検出可能データを入出力する対象製品検出可能データ入出力部３２と、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データを記憶する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５と、その検出可能データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６と、対象製品の検査方法を入力する対象製品検査方法入力部３４と、対象製品の設計データ、各検査方法の設計条件に対応した検出可能データ、対象製品の検査方法から、対象製品の検出可能データを作成する対象製品検出可能データ作成部３３から構成される。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５は検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性、不良現象、検出可否で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データが記憶される。設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
対象製品検査方法入力部３４は対象製品検出可能データ作成部３３にてデータを収集する検査方法を選定入力する。この場合、任意の検査方法を複数入力することができる。そして、ここでは、入力はある範囲を区切った範囲入力、あるいは区切らないあいまい入力のいずれでもよい。
対象製品検出可能データ作成部３３は設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データから、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータを抽出し、抽出データＡとする。
【００１６】
対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、接続箇所関連特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと抽出データＡを対応付け、対応付けデータＤとする。対応付けデータＤと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの組付け方法を比較し、対応付けデータＤに工程設計データを対応付け、対応付けデータＥとする。ここで、工程設計データの順序は、組付け方法順序とする。
対応付けデータＥと対象製品設計データ記憶部２３に記憶された工程設計データの検査方法を比較し、対応付けデータＥに工程設計データを対応付け、対応付けデータＦとする。ここで、工程設計データの順序は、検査方法順序とする。対応付けデータＦの組付け方法順序と検査方法順序を比較し、組付け方法順序が検査方法順序より遅い場合は、検出可否を検出不可とし、対象製品検出可能データとする。対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。対応付けデータＤは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。
対応付けデータＥは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序で表される。
対応付けデータＦは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否、組付け方法順序、検査方法順序で表される。
【００１７】
対象製品検出可能データ記憶部３１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される対象製品検出可能データが記憶される。対象製品検出可能データ入出力部３２は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位を検査する検査方法とその検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データの例としては図２のようになる。図２では、検査できる場合は○、検査できない場合は×で示されている。
不良発生データ作成部４０は対象製品の不良発生データを記憶する対象製品不良発生データ記憶部４１と、その不良発生データを入出力する対象製品不良発生データ入出力部４２と、設計条件に対応した不良発生データを記憶する設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４と、その不良発生データを入出力する設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５と、検査実施基準を記憶する検査実施基準記憶部４７と、その検査実施基準を入出力する検査実施基準入出力部４８と、対象製品の設計データ、設計条件に対応した不良発生データから、対象製品の不良発生データを作成する、または、対象製品の設計データに対して、その設計条件から発生すると予測された不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする、または、実際に発生した不良現象を抽出し、その抽出されたデータを対象製品の不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部４３と、その対象製品の不良発生データから、検査実施基準データを判断の基準として、検査する必要の無いところを削除する検査不必要箇所削除部４６とから構成される。製品を構成する部品とその部品の部位とその部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データの例としては図３のようになる。図３中単位ｐｐｍは、ｐａｒｔ ｐａｒ ｍｉｌｌｉｏｎの単位であり、１ｐｐｍは１００万分の１を意味する。
【００１８】
設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４は組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率で表される設計条件に対応した不良発生データが記憶される（不良件数、接続点数、不良率は、空白でも良い）。
設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部４５は、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査実施基準記憶部４７は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、不良現象、検査要不要で表される製品ごと検査実施基準と、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査要不要で表される設計条件に対応した検査実施基準と、製品識別、ライン識別、目標不良率で表される不良率検査実施基準とが記憶される。
検査実施基準入出力部４８は検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータを入力、編集、出力する。対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データの組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性を比較し、接続箇所ごと製品設計データと設計条件に対応した不良発生データを対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、不良予測システム１００から予測された不良現象を抽出し、その抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。または、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データと、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータを、対応付け、対象製品不良発生データとする。そして、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。
【００１９】
対象製品不良発生データ記憶部４１は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向で表される対象製品検出可能データが記憶される。この場合、不良件数、接続点数、不良率、不良の傾向は、空白でもよい。対象製品不良発生データ入出力部４２は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。
検査不必要箇所削除部４６は対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を比較し、対象製品不良発生データに、設計条件に対応した検査実施基準を対応付け、対応付けデータＧとする。
対応付けデータＧと検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準の製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対応付けデータＧと製品ごと検査実施基準を対応付け、対応付けデータＨとする。対応付けデータＨから設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が「不要」で、対象製品検査要不要が空白であるデータと、設計条件に対応した検査要不要が空白で、対象製品検査要不要が「不要」であるデータとを削除し、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率を対象製品不良発生データとする。
対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。さらに、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき、（接続点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。ここで、空白は、「要」でも「不要」でもないことを表す。
対応付けデータＧは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要で表される。対応付けデータＨは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、設計条件に対応した検査要不要、対象製品検査要不要で表される。
【００２０】
検査方法特徴データ作成部５０は検査方法の特徴を記憶する検査方法特徴データ記憶部５１と、その特徴を入出力する検査方法特徴データ入出力部５２とから構成される。検査方法特徴データ記憶部５１は検査方法、検査方法特徴で表される検査方法ごと検査方法特徴データと、検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象、検査ランクで表される検査方法設計条件ごと検査方法特徴データと、が記憶される。検査方法特徴データ入出力部５２は検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを入力、編集、出力する。検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データの例としては図４のようになる。なお、図４中Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄはランク付けを示す。
検査内容設定部６０は対象製品の不良発生データ、対象製品の検出可能データ、検査方法の特徴データから、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部６１と、その検査内容を記憶する対象製品検査内容記憶部６２と、その検査内容を入出力する対象製品検査内容入出力部６３とから構成される。
対象製品検査内容設定部６１は対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。または、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データと対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにある対象製品検出可能データを抽出し、抽出データＢとする。
抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの検査方法を比較し、抽出データＢと検査方法ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＩとする。対応付けデータＩから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容とする。対象製品検査内容の例としては図５のようになる。
【００２１】
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。または、抽出データＢと検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データの検査方法、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所特性、不良現象を比較し、抽出データＢと検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを対応付け、対応付けデータＪとする。対応付けデータＪから、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象が重複しているものを抽出し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容とする。
対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。さらに、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、対象製品不良発生データにないものは、削除し、あるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。
さらに、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されている対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータとの製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象を比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。
傾向的減少とは、継続して不良の減少が見られる、ある期間にわたって継続して低い不良率を維持している／基準値を下回るような場合をいう。傾向的な不良増加とは、継続して不良の増加が見られる、ある期間にわたって継続して高い不良率を維持している／基準値をオーバーしているような場合をいう。
【００２２】
抽出データＢは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、組付け方法、組付け箇所特性、組付け有無、組付け部品特性、接続箇所識別、接続箇所特性、接続関連識別、接続箇所関連特性、不良現象、検査方法、検出可否で表される。対応付けデータＩは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査方法特徴で表される。対応付けデータＪは、製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、不良件数、接続点数、不良率、検査方法、検出可否、検査ランクで表される。
対象製品検査内容記憶部６２は製品識別、ライン識別、組付け箇所識別、接続箇所識別、不良現象、検査方法で表される対象製品検査内容が記憶される。検査方法特徴データ入出力部６３は対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力する。そのデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。
上述の各項目を例えば、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）にて例示すると、「生産時期」は、生産年月、生産年月日等、「製品識別」は、プリント基板の番号、プリント基板の名称等、「ライン識別」は、ライン番号、ライン名称等、「組付け箇所識別」は、リファレンス番号（アドレス）等、「部品識別」は、実装部品の番号、品名、メーカーとメーカー型番等、「組付け方法」は、実装方法、実装工程（設備、人等）、実装角度等の組み合わせ、「組付け箇所特性」は、実装面、実装座標、実装角度、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「組付け部品特性」は、形状概要（ＱＦＰ、ＳＯＰ、ＣＨＩＰ等）、ピン形状概要（フラット、ガルウィング等）、ピン数、長さ、幅、高さ、ピッチ、材質、マーク、極性、荷姿概要（エンボステープ、トレイ、スティック等）、荷姿寸法、荷姿角度等の組み合わせ、「検査方法」は、検査方法（外観検査機、インサーキット・テスタ、ファンクション・テスタ、目視等）等、「接続箇所識別」は、ピン番号等、「接続箇所特性」は、中心座標、パッド形状、寸法、レジスト形状、寸法、はんだ印刷マスク開口部形状、寸法等の組み合わせ、「接続箇所関連識別」は、ノード番号、信号線名等、「接続箇所関連特性」は、インサーキット・テスタやファンクション・テスタの為の、検査のピンがたつかどうか等を用いている。
【００２３】
図６、図７に本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）における処理フロー、即ち、本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法（製品検査内容変更方法）を示す。ここでは、データベース部１０は、予め用意されており、随時、メンテナンスされた新たなデータが入っているものとする。図６に示すように、フローがスタートすると、まずステップ２０１で判断する。そして、対象製品不良発生データを作成せず、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１へ移り、対象製品不良発生データを入力し、対象製品検出可能データを設計条件から作成しない場合は、ステップ９１１へ移り、対象製品不良発生データを設計条件から作成するか、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ７０へ移る。
ステップ９１では、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ移る。ステップ９１１ではステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ１０１へ移り、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ２０５へ進む。
ステップ７０では、対象製品識別ライン識別入力部２１を用いて、製品設計データベース１１に記憶されている製品識別、ライン識別を選定入力、または、任意の製品識別、ライン識別を入力する。そして、ステップ８１へ移る。ステップ８１において、対象製品設計データ収集部２２は、製品設計データベース１１から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、組付け箇所ごと製品設計データ、工程設計データ、接続箇所設計データ、接続箇所関連データと、その組付け箇所ごと製品設計データにある組付け部品識別の組付け部品設計データとを収集し、そのデータの対応付けを実施し、接続箇所ごと製品設計データと工程設計データを、対象製品設計データ記憶部２３に記憶させる。このとき、対象製品設計データ入出力部２４を用いて、対象製品設計データ記憶部２３に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。
【００２４】
ステップ８１の後はステップ２０２へ移り、対象製品検出可能データを入力する場合は、ステップ９１２へ移る判断をし、対象製品検出可能データを設計条件から作成する場合は、ステップ２０３へ移る判断をする。ステップ９１２では、ステップ９１と同様の処理が行われ、その後、ステップ２０４へ移る。
ステップ２０３では、対象製品の検査方法を入力しない場合は、ステップ９２へ移る判断をし、入力する場合は、ステップ９４へ移る判断をする。ステップ９４では、対象製品検査方法入力部３４を用いて、データを収集する検査方法を選定入力、または、任意の検査方法を複数入力する。そして、ステップ９２へ進む。
ステップ９２では、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ入出力部３６を用いて、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ９３へ進む。ステップ９３において、対象製品検出可能データ作成部３３は、設計条件に対応した各検査方法検出可能データ記憶部３５に記憶された設計条件に対応した各検査方法検出可能データ、予め指定された検査方法、または、対象製品検査方法入力部３４によって入力された検査方法のデータ、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、工程設計データの抽出、対応付け、変更を実施し、対象製品検出可能データを対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶させる。このとき、対象製品検出可能データ入出力部３２を用いて、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０４へ進む。
【００２５】
ステップ２０４では、対象製品不良発生データを設計条件だけから作成する場合は、ステップ１０２へ移る判断をし、過去の不良発生状況から推定する場合は、ステップ１０４へ移る判断をする。ステップ１０２では、設計条件に対応した不良発生データ入出力部４５を用いて、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶されているデータを入力、編集する。そして、ステップ１０３へ移る。ステップ１０３において、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された接続箇所ごと製品設計データ、設計条件に対応した不良発生データ記憶部４４に記憶された設計条件に対応した不良発生データ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０５へ進む。
ステップ１０４においては、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、不良予測システム１００から予測された不良現象の抽出、対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０５へ進む。
ステップ２０５では、検査不必要箇所を削除しない場合は、図７のステップ２０６へ進む判断をし、削除する場合で、検査を実施しない不良を登録し、削除する場合は、ステップ１１１へ進む判断をし、目標品質に応じて削除する場合は、ステップ１１３へ進む判断をする。
【００２６】
ステップ１１１では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（製品ごと検査実施基準、設計条件に対応した検査実施基準）を入力、編集する。そして、ステップ１１２へ進む。ステップ１１２において、検査不必要箇所削除部４６は、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、検査実施基準記憶部４７に記憶された製品ごと検査実施基準、検査実施基準記憶部４７に記憶された設計条件に対応した検査実施基準の対応付け、削除を実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０６へ進む。
一方、ステップ１１３では、検査実施基準入出力部４８を用いて、検査実施基準記憶部４７に記憶されているデータ（目標不良率）を入力、編集する。そして、ステップ１１４へ進んで、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データを不良率の小さい順に削除していき（組付け点数が少ないものは、信頼性が低い為、除いたりする）、削除したデータの不良率の合計が、検査実施基準記憶部４７に記憶された不良率検査実施基準の目標不良率に達するまで、実施する。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後はステップ２０６へ進む。
【００２７】
図７においてステップ２０６では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとする場合、ステップ１２２へ進む判断をし、その他は、１２１へ進む判断をする。ステップ１２２では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法設計条件ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。一方、ステップ１２１では、検査方法特徴データ入出力部５２を用いて、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データを入力、編集、出力する。そして、ステップ２０７へ進む。
ステップ２０７では、対象製品不良発生データを作成しなかった場合は、ステップ１３１へ進む判断をし、作成した場合は、ステップ１３２へ進む判断をする。ステップ１３１において、対象製品検査内容設定部６１は、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データの抽出、対応付けを実施する。その後、ステップ２０８へ進む。一方、ステップ１３２では、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データ、対象製品検出可能データ記憶部３１に記憶されている対象製品検出可能データ、の抽出、対応付けを実施する。この後、ステップ２０８へ進む。
ステップ２０８では、不良現象に対する検査ランクを対象製品検査特徴データとした場合、ステップ１４２へ進む判断をし、その他は、１４１へ進む判断をする。ステップ１４１では、ステップ１３１または１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データの対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査方法特徴から判断し（例えば、負荷が小さいものを選択し）、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２０９へ進む。
【００２８】
ステップ１４２では、ステップ１３１や、１３２で抽出、対応付けしたデータ、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されている検査方法ごと検査方法特徴データ、の対応付けを実施し、検出可否が「可」で、検査ランクが一番高いものを選択し、対象製品検査内容を対象製品検査内容記憶部６２に記憶させる。このとき、対象製品検査内容入出力部６３を用いて、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ２０９へ進む。
ステップ２０９では、対象製品製造品質データを用いて、対象製品検査内容を変更する場合は、ステップ７０１へ進む判断をし、その他は、２１１へ進む判断をする。ステップ７０１では、ステップ７０と同様の処理が行われ、その後、ステップ８１１へ移る。ステップ８１１では、ステップ８１と同様の処理が行われ、その後、ステップ８２へ進む。ステップ８２において、対象製品設計データ収集部２５は、製品品質データベース１２から、ステップ７０によって入力された製品識別、ライン識別の、不良データ、生産データを収集し、そのデータの対応付け、計算を実施し、接続箇所ごと製造品質データを、対象製品設計データ記憶部２６に記憶させる。このとき、対象製品品質データ入出力部２７を用いて、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。そして、ステップ９５へ進む。
ステップ９５では、対象製品不良発生データ作成部４３は、対象製品設計データ記憶部２３に記憶された組付け箇所ごと製品設計データ、対象製品品質データ記憶部２６から実際に発生した不良現象を抽出したデータ、の対応付けを実施し、対象製品不良発生データを対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶させる。このとき、対象製品不良発生データ入出力部４２を用いて、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されているデータを入力、編集、出力してもよい。この後、ステップ２１０へ進む。
【００２９】
ステップ２１０では、検査実績から、発生しない不良の検査を除外する場合は、ステップ１５１へ進む判断をし、検査実績から、減少傾向にある不良の検査を除外する場合は、ステップ１５２へ進む判断をし、後工程の検査実績から、発生しない不良の検査を追加する場合は、ステップ１５３へ進む判断をし、後工程の検査実績から、増加傾向にある不良の検査を追加する場合は、ステップ１５４へ進む判断をする。
ステップ１５１では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにないものは、削除する。ステップ１５２では、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容、対象製品不良発生データ記憶部４１に記憶されている対象製品不良発生データの比較を実施し、対象製品不良発生データにあるものは、検査方法特徴データ記憶部５１に記憶されているデータを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５３では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的減少であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する。ステップ１５４では、対象製品品質データ記憶部２６に記憶されているその最終製品検査（あるいは後工程の検査）の対象製品品質データの傾向が傾向的増加であった場合、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されている対象製品検査内容と、そのデータを比較し、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として（参照して）、追加する。ステップ１５１、１５２、１５３、１５４の後はステップ２０９へ戻る（図中のＢの個所）。
ステップ２１１では、対象製品の検出可能データ、対象製品の不良発生データ、対象製品の検査方法特徴データを修正するか、しないかを判断し、修正する場合は、スタートへ戻り、修正しない場合は、ステップ２１２へ進む。ステップ２１２では、対象製品を製品、ジグ設計システムに出力する場合は、ステップ１６０へ進む判断をし、その他は、エンドへ進んでフロー処理を終了する。ステップ１６０において、検査方法特徴データ入出力部６３は、対象製品検査内容記憶部６２に記憶されているデータを製品設計システム２００、検査ジグ設計システム３００に出力する。そして、エンドへ進んでフロー処理を終了する。
【００３０】
したがって、上述した製品検査内容設定方法では、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３１】
製品検査内容変更方法では、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
製品検査内容設定システムでは、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
また、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
また、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
【００３２】
また、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
また、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
また、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
製品検査内容変更システムでは、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
また、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
また、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
【００３３】
また、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
また、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
加えて、製品検査内容設定方法では、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
加えて、製品検査内容設定システムでは、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
また、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【００３４】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
請求項２によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項３によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項４によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項５によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項６によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項７によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
【００３５】
請求項８によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項９によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１０によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１１によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項１２によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項１３によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項１４によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項１５によれば、製品を構成する部品の部位を検査する検査方法を設定するので、対象部品の中に、各検査工程ごとの検査項目で検査可能な部位と不可能な部位が混在している場合も対応し、製品として、同一不良の重複検査が無くなる。それにより、同一不良に対する重複検査を無くし、コストダウンや検査時間の短縮化が実現可能な検査内容を設定することができる。
【００３６】
請求項１６によれば、製品を構成する部品の部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、その部位を検査する検査方法を設定するので、製品として、発生する不良の検査のモレや、発生しない不良の検査が無くなる。それにより、発生しない不良の検査による検査コストアップ（検査時間のアップ等）や、発生不良の次工程流出を、無くした検査内容を設定することができる。
請求項１７によれば、対象製品で発生する不良現象を予め、登録しなくてもよいので、不良発生条件の知識が不必要になる。
請求項１８によれば、過去の不良発生状況から推定しているので、実際の工程能力等に応じて、発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項１９によれば、例えば、過去に生産した製品、対象製品で発生していたが、現在は発生しない不良を、検査を実施しない不良現象として登録しておけば、現在は、発生しない不良の検査を除外できるようになる。
請求項２０によれば、例えば、合計して品質目標以下の不良の検査を除外できるようになる。
請求項２１によれば、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、その検査内容に必要な、製品や検査ジグの検査用の部位を設計するので、上記不必要となった製品や検査ジグの検査用の部位を無くし、コストダウンを図れる。例えば、対象製品が、プリント基板（電装部品が実装されたものを含む）で、検査方法が、電気的組立検査方法（以下、インサーキット・テスタと呼ぶ）のとき、製品の検査用の部位はプリント基板のインサーキット・テスタ用のパッド等、検査ジグの検査用の部位はインサーキット・テスタのジグのピン等となる。前記パッドやピンを無くすことで、高密度実装のプリント基板では、有利に設計、検査することができる。
請求項２２によれば、実績を使用しているので、実際に発生しない不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２３によれば、実績を使用しているので、不良率の低い不良の検査を無くすことができるようになる。
請求項２４によれば、実績を使用しているので、実際に発生する不良の検査を追加することができるようになる。
【００３７】
請求項２５によれば、実績を使用しているので、不良率の高い不良の検査を追加することができるようになる。
請求項２６によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項２７によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項２８によれば、対象製品を検査する検査方法を選択できるので、検査内容を設定した後に、その検査内容から判断して、対象製品を検査する検査方法を変更することにより、最適な検査内容を設定することができるようになる。
請求項２９によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３０によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
請求項３１によれば、発生する不良現象に対して、どの検査方法で検査するかを設定するときに、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することができるので、検査ランクを、検査時間、検査コスト、検査能力等から、判断して決定しておけば、最適な検査時間、検査コスト、検査能力で検査内容を設定することができる。
請求項３２によれば、各検査方法における、対象製品で検出可能な不良現象を予め、登録しなくてもよいので、各検査方法において、どのような仕組みで検査しているかの知識が不必要になる。さらに、検査工程ごとに検査項目が違う場合にも対応する。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム（製品検査内容変更システム）の構成を示す図である。
【図２】対象製品検出可能データの例を示す図である。
【図３】対象製品不良発生データの例を示す図である。
【図４】検査方法特徴データの例を示す図である。
【図５】対象製品検査内容の例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態である製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図７】図６に続く製品検査内容設定システム又は製品検査内容変更システムにおける処理フロー（本発明の実施の形態である製品検査内容設定方法又は製品検査内容変更方法）を示すフローチャートである。
【図８】一般的な製品の検査フローを示す図である。
【符号の説明】
１０ データベース部、１１ 製品設計データベース、１２ 製造品質データベース、２０ データ収集部、２１ 対象製品識別ライン識別入力部、２２ 対象製品設計データ収集部、２３ 対象製品設計データ記憶部、２４ 対象製品設計データ入出力部、２５ 対象製品品質データ収集部、２６ 対象製品品質データ記憶部、２７ 対象製品品質データ入出力部、３０ 検出可能データ作成部、３１ 対象製品検出可能データ記憶部、３２ 対象製品検出可能データ入出力部、３３ 対象製品検出可能データ作成部、３４ 対象製品検査方法入力部、３５各検査方法検出可能データ記憶部、３６ 各検査方法検出可能データ入出力部、４０ 不良発生データ作成部、４１ 不良発生データ記憶部、４２ 対象製品不良発生データ入出力部、４３ 対象製品不良発生データ作成部、４４ 不良発生データ記憶部、４５ 各検査方法検出可能データ入出力部、４６ 検査不必要箇所削除部、４７ 検査実施基準記憶部、４８ 検査実施基準入出力部、５０ 検査方法特徴データ作成部、５１ 検査方法特徴データ記憶部、５２ 検査方法特徴データ入出力部、６０ 検査内容設定部、６１ 対象製品検査内容設定部、６２ 対象製品検査内容記憶部、６３ 対象製検査内容入出力部、１００ 不良予測システム、２００ 製品設計システム、３００ 検査ジグ設計システム
Claims (32)
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データと、
前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、
前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容設定方法。 - 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、
前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、
前記部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとすることを特徴とする請求項２記載の製品検査内容設定方法。 - 過去の不良発生状況から、前記設計条件に対応した不良発生データを推定し、設計条件に対応した不良発生データとすることを特徴とする請求項３記載の製品検査内容設定方法。
- 前記対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項２から４のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。
- 前記対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外することを特徴とする請求項２から５のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。
- 製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定し、前記検査内容に必要な前記製品や前記検査ジグの検査用の部位を設計することを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、発生しない不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の検査実績から収集し、不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査を除外することを特徴とする製品検査内容変更方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良が発生したとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを製品検査内容に基づいて実施した製品検査の最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績から収集し、前記製品検査内容で検出できない不良に傾向的な増加が見られるとき、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、その不良を検出できる検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、その不良を検査する検査方法を設定することを特徴とする製品検査内容変更方法。
- 部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項１０又は１１に記載の製品検査内容変更方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１０から１２のいずれかに記載の製品検査内容変更方法。 - 前記対象製品検出可能データを作成するとき、対象製品を検査する検査方法を選択できることを特徴とする請求項１３記載の製品検査内容変更方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容設定システム。 - 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、
前記検査内容設定部は、前記不良発生データ作成部の前記対象製品不良発生データと前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項１５の製品検査内容設定システム。 - 製品の設計データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記不良発生データ作成部は、前記データ収集部の前記対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる設計条件に対応した不良発生データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データとする対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする請求項１６記載の製品検査内容設定システム。 - 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位で発生する不良現象とに関する情報を対比させた対象製品不良発生データを入力する対象製品不良発生データ入出力部を有する不良発生データ作成部を備え、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データと、
前記部品と前記部位と前記部品の組付け方法とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から発生する不良現象で表させる前記設計条件に対応した不良発生データと、を対応付け、
前記対象製品不良発生データと、
前記部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データから、
前記部位で発生する不良現象を検出可能とする検査方法を抽出し、検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定し、
前記不良発生データ作成部は、過去の不良発生状況から、設計条件に対応した不良発生データを推定する不良予測システムから、設計条件に対応した不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。 - 前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、検査を実施しない不良現象で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項１６から１８のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。
- 前記不良発生データ作成部は、対象製品不良発生データから、対象製品の目標品質で表される検査実施基準データを判断の基準として、不必要な検査を除外する検査不必要箇所削除部を有することを特徴とする請求項１６から１９のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データを入力する対象製品検出可能データ入出力部を有する検出可能データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記検出可能データ作成部の前記対象製品検出可能データから、前記検査方法特徴データ作成部の検査方法特徴データを判断の基準として、前記部位を検査する検査方法を設定する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部とを備え、
前記検査内容設定部は、製品や検査ジグの検査用の部位を設計する段階で、検査内容を設定する対象製品検査内容設定部と、該検査内容を製品設計システム、検査ジグ設計システムに出力する対象製品検査内容入出力部を有することを特徴とする製品検査内容設定システム。 - 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
対象製品不良発生データにない不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。 - 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいた製品検査の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的減少が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容にあれば、その不良の検査を除外する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。 - 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
前記データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記対象製品不良発生データにある不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。 - 製品の品質データを記憶するデータベース部と、
データベース部のデータから、製品検査内容に基づいたその最終製品検査実績あるいは後工程の検査実績からなる対象製品品質データを収集するデータ収集部と、
製品検査内容に基づき製品検査を実施し、前記データ収集部の対象製品品質データから、対象製品不良発生データを作成する対象製品不良発生データ作成部を有する不良発生データ作成部と、
検査方法の特徴を各検査方法別に表した検査方法特徴データを入力する検査方法特徴データ入出力部を有する検査方法特徴データ作成部と、
前記対象製品不良発生データの不良発生状況の解析により不良の傾向的増加が見られる場合、その不良の検査が、製品検査内容になければ、その不良の検査を、該検査方法特徴データを判断の基準として、追加する対象製品検査内容設定部を有する検査内容設定部と、
を備えたことを特徴とする製品検査内容変更システム。 - 前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項２４又は２５に記載の製品検査内容変更システム。
- 製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項２４から２６のいずれかに記載の製品検査内容変更システム。 - 前記検出可能データ作成部は対象製品を検査する検査方法を選択できる対象製品検査方法入力部を有することを特徴とする請求項２７記載の製品検査内容変更システム。
- 部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法で発生する不良現象に対する各検査方法の検査ランクを検査方法特徴データとし、その発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定することを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。
- 製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報を対比させた情報と、その製品で実施される組付け方法と検査方法の順序に関する情報を対比させた情報とを含む対象製品設計データと、
部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の接続箇所の関連に関する情報の組み合わせを設計条件とし、前記設計条件から検出可能な不良現象で表させる設計条件に対応した各検査方法検出可能データと、を対応付け、
製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の製品検査内容設定方法。 - 前記検査方法特徴データ作成部は各検査方法における不良現象に対する検査ランクを検査方法特徴データとして入力する検査方法特徴データ入出力部を有し、前記検査内容設定部は発生する不良現象に対して、検査ランクの高い検査方法を優先的に設定する対象製品検査内容設定部を有することを特徴とする請求項１５から２０のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。
- 製品の設計データを記憶するデータベース部と、前記データベース部のデータから製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法とに関する情報を対比させた情報を含む対象製品設計データを収集するデータ収集部とを備え、
前記検出可能データ作成部は、前記データ収集部の対象製品設計データと、部品と前記部品の部位と前記部品の組付け方法と前記部品の組付け箇所とに関する情報の組み合わせを設計条件とし、その設計条件から検出可能な不良現象で表される設計条件に対応した各検査方法検出可能データとを対応付け、製品を構成する部品と前記部品の部位と前記部位を検査する検査方法と前記検査方法で検出可能な不良現象とに関する情報を対比させた対象製品検出可能データとすることを特徴とする請求項１５から２０のいずれかに記載の製品検査内容設定システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003076382A JP4480947B2 (ja) | 2003-03-19 | 2003-03-19 | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003076382A JP4480947B2 (ja) | 2003-03-19 | 2003-03-19 | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004287609A true JP2004287609A (ja) | 2004-10-14 |
| JP4480947B2 JP4480947B2 (ja) | 2010-06-16 |
Family
ID=33291457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003076382A Expired - Fee Related JP4480947B2 (ja) | 2003-03-19 | 2003-03-19 | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4480947B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006172427A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-29 | Seiko Epson Corp | 検査指示書生成システム、検査指示書生成装置、検査指示書生成方法、検査指示書生成プログラム、および記録媒体 |
| JP2007286818A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 検査システムおよびその検査方法 |
| US7643896B2 (en) | 2004-06-08 | 2010-01-05 | Ricoh Company, Ltd. | Operation-related information display method and operation-related information display system |
| WO2020241888A1 (ja) * | 2019-05-30 | 2020-12-03 | 旭化成株式会社 | 保温材下腐食発生予測モデルおよびプラント保全支援装置 |
| KR102366216B1 (ko) * | 2021-04-07 | 2022-02-23 | 표현학 | 스마트팩토리 품질관리 시스템 및 방법 |
| CN115932530A (zh) * | 2023-01-09 | 2023-04-07 | 东莞市兆恒机械有限公司 | 一种半导体检测设备标定的方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63163287A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-06 | Toshiba Corp | 基板製造の管理装置 |
| JPH05240745A (ja) * | 1992-02-28 | 1993-09-17 | Hitachi Ltd | テスト仕様生成方式 |
| JPH07149268A (ja) * | 1993-11-26 | 1995-06-13 | Toyota Motor Corp | 不具合情報入力装置 |
| JP2001344006A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-12-14 | Toshiba Corp | 製造管理装置、製造管理方法およびプログラム |
| JP2002050555A (ja) * | 2000-07-31 | 2002-02-15 | Ricoh Co Ltd | 半導体製造システム |
| JP2002324109A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-08 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | 装置稼働率向上システム、モニタ装置、部品供給装置、装置稼働率向上方法、記録媒体およびプログラム |
-
2003
- 2003-03-19 JP JP2003076382A patent/JP4480947B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63163287A (ja) * | 1986-12-26 | 1988-07-06 | Toshiba Corp | 基板製造の管理装置 |
| JPH05240745A (ja) * | 1992-02-28 | 1993-09-17 | Hitachi Ltd | テスト仕様生成方式 |
| JPH07149268A (ja) * | 1993-11-26 | 1995-06-13 | Toyota Motor Corp | 不具合情報入力装置 |
| JP2001344006A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-12-14 | Toshiba Corp | 製造管理装置、製造管理方法およびプログラム |
| JP2002050555A (ja) * | 2000-07-31 | 2002-02-15 | Ricoh Co Ltd | 半導体製造システム |
| JP2002324109A (ja) * | 2001-04-26 | 2002-11-08 | Semiconductor Leading Edge Technologies Inc | 装置稼働率向上システム、モニタ装置、部品供給装置、装置稼働率向上方法、記録媒体およびプログラム |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7643896B2 (en) | 2004-06-08 | 2010-01-05 | Ricoh Company, Ltd. | Operation-related information display method and operation-related information display system |
| JP2006172427A (ja) * | 2004-11-18 | 2006-06-29 | Seiko Epson Corp | 検査指示書生成システム、検査指示書生成装置、検査指示書生成方法、検査指示書生成プログラム、および記録媒体 |
| JP2007286818A (ja) * | 2006-04-14 | 2007-11-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 検査システムおよびその検査方法 |
| WO2020241888A1 (ja) * | 2019-05-30 | 2020-12-03 | 旭化成株式会社 | 保温材下腐食発生予測モデルおよびプラント保全支援装置 |
| JPWO2020241888A1 (ja) * | 2019-05-30 | 2021-12-09 | 旭化成株式会社 | 保温材下腐食発生予測モデルおよびプラント保全支援装置 |
| JP7085067B2 (ja) | 2019-05-30 | 2022-06-15 | 旭化成株式会社 | 保温材下腐食発生予測モデルおよびプラント保全支援装置 |
| KR102366216B1 (ko) * | 2021-04-07 | 2022-02-23 | 표현학 | 스마트팩토리 품질관리 시스템 및 방법 |
| CN115932530A (zh) * | 2023-01-09 | 2023-04-07 | 东莞市兆恒机械有限公司 | 一种半导体检测设备标定的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4480947B2 (ja) | 2010-06-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2006317266A (ja) | 検査基準設定装置及び方法、並びに、工程検査装置 | |
| JP2005292144A (ja) | 集積回路デバイスを試験するための集積回路デバイス試験を検証する方法及び装置 | |
| JP2004287609A (ja) | 製品検査内容設定方法、製品検査内容変更方法、製品検査内容設定システム及び製品検査内容変更システム | |
| CN112131826B (zh) | Pcb检测评审方法、评审装置、电子设备及存储介质 | |
| JP5017943B2 (ja) | 不良分析支援装置、不良分析支援用プログラム、および、不良分析支援用プログラムを記録した記録媒体 | |
| TW202113599A (zh) | 依據標準值建立檢測模型以確認焊接狀態之系統及方法 | |
| JP4160656B2 (ja) | プリント回路基板のテスト方法 | |
| JP2002093875A (ja) | 半導体装置のパターンの危険箇所情報の評価方法 | |
| JPH08146093A (ja) | 順序回路の故障箇所推定方法 | |
| JP7373675B2 (ja) | 検査対象の欠陥パターンの抽出装置、抽出方法及び記憶媒体 | |
| JP3192278B2 (ja) | プリント板配線試験処理方法 | |
| JPH1164235A (ja) | 実装部品自動検査システムおよび実装部品検査基準設定装置および実装部品検査基準設定方法 | |
| JPH10275168A (ja) | 設計支援方法および設計支援システム | |
| JPH09171056A (ja) | テスト設計方法とその装置、並びにテスト方法とその装置 | |
| JPH0669700A (ja) | プリント板ユニット外観検査システム | |
| JP2006024883A (ja) | 作業関連情報表示方法、作業関連情報表示システム、プリント配線板作業関連情報表示システム、プリント配線板作業関連情報表示方法、この表示方法を利用したプリント回路実装品の製造方法、この表示方法を実行させるコンピュータプログラム及びこのコンピュータプログラムを記録可能な記録媒体 | |
| JP3696009B2 (ja) | 半導体試験装置、半導体試験方法および記録媒体 | |
| JPH03120485A (ja) | 半導体集積回路の故障個所推定方式 | |
| JPH10170585A (ja) | 回路基板検査方法 | |
| JP3691925B2 (ja) | はんだ付け外観検査装置及びはんだ付け外観検査方法 | |
| JPH10247207A (ja) | 不具合部分推定システム | |
| JP4987827B2 (ja) | 電子回路基板の設計支援システム | |
| JP2003258499A (ja) | 検査対象部品決定装置、プログラムおよび方法 | |
| JPH10199953A (ja) | 歩留まり解析方法及びその装置 | |
| JP2000311842A (ja) | 半導体製品の歩留り予測方法およびその装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051104 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20051104 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090407 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090605 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090825 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090911 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100316 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100317 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140326 Year of fee payment: 4 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |