JP2004286561A - 3次元形状測定方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被測定面を、どの分割面にも重複する基準面を1面有するように分割し、基準面に対して各分割面を接続すれば被測定面を複数分割された面の接続誤差の累積は避けられる。また、基準面のティルト、デフォーカスを排除してその基準面に複数分割面を接続することにより全面形状を精度よく復元することが可能となる。
【選択図】図2
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体露光装置などに搭載する球面レンズ等の3次元形状計測に関するもので、ナノメートルオーダーの精度の計測を可能とする3次元形状測定方法及び装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来、被測定面が干渉計の測定範囲より大きい場合の測定法として開口合成法が知られている。この方法は被測定面を1回では測定できないので2回以上に分けて測定して、面形状をつなぎ合わせることにより被測定面全面形状を復元する方法である。
【0003】
従来の開口合成法について図5を用いて説明する。図5は従来行われていた開口合成を行うための構成の概要である。干渉計11を固定して被測定物12を平行移動可能なステージ13を用いて移動させる方法、あるいは干渉計11を移動させて被測定物12を固定させる方法により、被測定面を分割した複数の領域について面形状を取得する。このときに隣り合った領域の測定は必ず一部が重複するように測定する。そしてこの重複した部分の測定データについて最小二乗法等を適用して整合させることにより、分割面同士の接続を行っている(具体的な接続方法の詳細としては特許文献1参照。また、干渉計11としてフィゾー干渉計を用いた場合の測定方法は非特許文献1を参照)。
【0004】
この方法によれば、重複している2面の分割測定データをそれぞれ第1の測定データ、第2の測定データとして重複している各測定データを(xi,yi,zij)および(xm,yn,zmn)と表した場合、
【0005】
【数1】
【0006】
【0007】
【数2】
【0008】
に対して、最小二乗法を適用して(p1,a1,b1)および(p2,a2,b2)を算出する。得られた差分値(Δp,Δa,Δb)に基づいて、例えば第1の測定データに「Δp+Δa・xi+Δb・yi」を加算すれば、第1と第2の測定データがスムーズに接続できる。
【0009】
【特許文献1】
特開平10−281737号公報
【非特許文献1】
APPLIED OPTICS 13 No.11 2693〜2703
【0010】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この方法ではあるいは球面レンズにおいては干渉計と球面レンズのアライメント誤差を含んだ状態で全面形状を復元してしまうといった問題点がある。
【0011】
まず干渉計と被測定物のアライメント誤差を含んで全面形状を復元してしまう問題を図6を用いて説明する。図6は仮に被測定面が刃先のようなとがった形状の被測定面(図3(B)参照)に対して、被測定面全面を一括測定できるような干渉計があったとして、その干渉計を用いて被測定面を計測したときの干渉縞を表している。分割領域A2〜D2のように被測定面を分割したとき、A2の面形状からアライメント誤差であるティルト、デフォーカスを除去する必要がある。しかし、A2の干渉縞のみからは、それが被測定物と干渉計とのアライメント誤差の1つであるティルト縞であるか面形状であるかの区別がつかない。従って、例えばA2に対してB2、B2に対してC2、C2に対してD2を接続していくと、A2の姿勢に対してはB2、C2、D2を接続することは可能であるが、A2のティルト、デフォーカス自体を除去することはできない。
【0012】
そこで図7に示す、従来の技術の欄で説明したような分割方法が考えられた。図7において各分割領域A1〜E1は隣接する領域と重複するように設けられている。たとえば領域A1は隣接する領域B1およびE1とその一部が重複している。しかしながら図6のような分割方法で測定を行った場合、領域A1からE1まで順に接続するため、接続誤差の二乗和平均の平方根がεであるとすると、領域A1とB1はεという誤差で接続される。領域C1をB1に対して接続するときも同様にεの誤差で接続され、同様に領域D1、E1も接続される。領域A1を基準に接続誤差の量を考えていくと、領域B1はε、C1は√2ε、D1は√3ε、E1は√4εと誤差の累積が起きてしまう。
【0013】
本発明は上記従来例に鑑みてなされたもので、複数分割面を接続した復元形状において干渉計のアライメント誤差であるティルト、デフォーカスの影響を排除した状態で、複数の分割面を接続するときの接続誤差の累積を排除することができる3次元形状測定方法及び装置を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】
本発明によれば、3次元形状を有する被測定面を複数の領域に分割して、該分割した複数の領域毎に前記被測定面の形状を干渉計を用いて測定し、各領域毎の測定値をつなぎ合わせる事で被測定面の形状を測定する3次元形状測定方法において、前記分割した複数の領域のうち少なくとも1つの領域は、他のすべての領域と重複するように設けられた基準面であり、前記基準面と前記他のすべての領域のそれぞれとの間のつなぎ合わせ誤差を補正する事で前記被測定面の形状を測定する3次元形状測定方法を提案している。
【0015】
また本発明によれば、前記つなぎ合わせ誤差の補正は、前記基準面の測定値から前記干渉計のアライメント誤差であるティルトとデフォーカスを排除した値を用いて行われる3次元形状測定方法を提案している。
【0016】
また本発明によれば、前記各領域毎の測定値をつなぎ合わせた後、更に各領域の重複回数に応じて平均化回数を変えて補正する3次元形状測定方法を提案している。
【0017】
【発明の実施形態】
[第1の実施の形態]
まず、図面を参照しつつ球面レンズをフィゾー干渉計で測定する場合の第1の実施の形態を説明する。図1は球面レンズを分割測定するための測定装置100の概要を示している。y軸まわりに回転する回転ステージ31、θz軸まわりに回転する回転ステージ32、被測定物である球面レンズ33を測定するためのフィゾー干渉計34を有する。回転ステージ31,32は、駆動部35によりそれぞれ指定された角度あるいは一定角度で回転される。そして測定時の各ステージの回転角度は、測定装置100に接続された不図示のコンピュータにディジタルデータとして格納される。
【0018】
測定時に得られる干渉像は、フィゾー干渉計34内に設けられたCCD等の撮像デバイス上に結像され、ディジタル画像データとして同じくコンピュータに格納される。面形状は、このディジタル画像データに基づいて得られる。
【0019】
<被測定面の分割方法>
被測定面の分割方法について示す。まず被測定面である球面レンズ33の中心とフィゾー干渉計34の光軸が一致するようにしたときの測定範囲を基準面とする。すなわち、被測定物である球面レンズ33の光軸をθz軸と一致するように回転ステージ32に載置しておき、回転ステージ31によるy軸の回転角を0度(y軸の回転角度は、θz軸が干渉計34の光軸と平行となる角度を0度とする。)として、球面レンズ33を測定する。この場合に測定される範囲が基準面となる。
【0020】
次に、この基準面と重複するように分割測定面(分割領域とも呼ぶことがある。)を測定する。分割測定面の数は任意でよいが、本実施形態では分割面数は4面とする。基準面および4面の各分割面で被測定面全面(すなわち球面レンズ33の被測定面)を測定することを考慮すると、被測定面外周と分割面外周が交わる2つの交点それぞれと被測定面の中心とを結ぶ線分のなす角が90度以上である必要がある。なお4分割以外の数に分割測定する場合でも、望ましい角度は均等に分割した場合の角度となる。たとえば、3分割であれは前記角度はおおむね120度程度であり、5分割であればおおむね72度程度が望ましい。なお、本実施形態においては、「分割」という用語を、互いに重複する部分を有する領域に分けることを含めて用いている。
【0021】
また、y軸まわりに回転する回転ステージ31を用いて被測定面を傾けることを考慮すると、傾ける角度が小さいほど傾きによる被測定面の重力変形が小さいので、なるべく基準面の中心と分割面の中心との距離が短いことが好ましい。そのためには、互いに隣接する分割領域の交差する2つの交点のうちの測定対象レンズ外周側の交点(以下、外周側交点と呼ぶ。)が、ほぼレンズ外周上あるいはそのやや外側にあることが望ましい。もしも外周側交点がレンズ外周よりの内側にあれば、測定されない領域が被測定面上に残ってしまい、一方外周側交点がレンズ外周よりの外側にあれば、測定されない領域が残ることは防止できるものの、基準面の中心と分割面の中心との距離をなるべく短くするという条件を満たせなくなるためである。したがって、回転ステージ31のy軸周りの回転角は、上記条件が満たされるように決定される。
【0022】
図2は、被測定面を、上記の条件を考慮して4つの領域に分割した例を示した図である。領域Bと被測定面のそれぞれ外周の交点をK1,K2として、被測定面の中心をA0、領域Bの中心をB0としたときに、∠K1A0K2が90度以上の条件の下で、A0とB0との距離はなるべく短くなるように分割してある。領域C,D,Eについても同様である。
【0023】
図中、分割領域A,B,C,D,Eについて測定し、基準面である領域Aの測定結果に、分割領域B、C、D、Eの測定結果を接続して被測定面全体についての測定結果を求める手順を説明する。
【0024】
あらかじめ、フィゾー干渉計における参照面の面形状(data_Rとする)を求めて(具体的な方法としてはAPPLIED OPTICS 13 No.11 2693〜2703を参照。)参照面の形状としてコンピュータに記憶しておく。コンピュータには参照面の面形状は正方行列として保存される。なお、これ以降に記す面形状は特に断りがないかぎり正方行列形式である。
【0025】
その後、領域Aの範囲の形状を測定する。つぎに領域Bの範囲を測定するためにy軸回りに回転する回転ステージ31を用いて必要な角度だけ球面レンズを傾ける。この場合の必要な角度は、たとえば、上述したように、互いに隣接する分割領域の交差する2つの交点のうちの測定対象レンズ外周側の交点が、ほぼレンズ外周上あるいはそのやや外側となるような角度が選ばれる。
【0026】
この状態で領域Aの範囲を計測したときと同じ要領で形状計測する。領域Cの範囲を測定するときはレンズを傾けたまま、θz軸まわりに回転する回転ステージ32を用いてレンズを回転させ計測する。本例では4つの領域に分割されているので、最初に領域Bについて計測した状態から、θz軸周りに回転ステージ32を90度一定の方向に回転させて、領域Aと同じ要領で領域Cの範囲について計測する。同様に領域D、Eの範囲についても計測する。このようにして得られた領域Aの範囲の測定データ(測定された面形状)をdata_A、領域Bの範囲をdata_B、以下data_C、data_D、data_Eと表記することにする。
【0027】
まず、測定データdata_A、data_B、data_C、data_D、data_Eから参照面の測定データdata_Rを差し引き、それぞれをdata_AR、data_BR、data_CR、data_DR、data_ERと表記する。この結果、data_AR、data_BR、data_CR、data_DR、data_ERは、それぞれ参照面の形状誤差が補正された値となる。
【0028】
次に、干渉測定の際に生じるdata_ARのアライメント誤差を除去し、基準面である領域Aの面形状を得る。次に領域Aと領域Bの重複する領域のデータを、領域A、領域Bそれぞれについて抽出し、領域Aの面形状を基にdata_BRのアライメント誤差を算出する。さらに、算出したdata_BRのアライメント誤差を用いてdata_BR全体のアライメント誤差を減算する。測定データdata_CR、data_DR、data_ERも同様にアライメント誤差を減算する。すべての分割面の測定データから参照面の形状とアライメント誤差を除去した面形状を基に被測定物の全面の面形状を出力する。
【0029】
<アラインメント誤差の補正>
測定データからアライメント誤差を除去する方法の1例を以下に示す。1つの方法としてはゼルニケ多項式を用いて分離する方法が知られている。
【0030】
ゼルニケ多項式とは数式3に示すとおりである。
【0031】
【数3】
【0032】
ただし、n、m は整数、i は虚数単位、ρおよびθは極座標系での動径成分(0≦ρ≦1)、角度成分である。実用上、mが正のときexp(imθ)=cos(mθ)、mが負のときexp(imθ)=sin(mθ)とする。
【0033】
さらにゼルニケ多項式を結合すると(数式3中のnの和は理論上∞であるが説明の都合上n=15までの和としてある)、数式4のようになる。
【0034】
【数4】
【0035】
ただし、W(ρ,θ)は波面を示している。Cn,mをゼルニケ係数と呼ぶことにする。数式4のようにゼルニケ多項式を結合させることにより任意の波面、すなわち干渉計においては形状情報を表現することができる。
【0036】
このゼルニケ多項式のうち、球面レンズのアライメント誤差として、Z(0,0,ρ,θ)=1、Z(1,1,ρ,θ)=ρcos(θ),Z(1,−1,ρ,θ)=ρsin(θ)、Z(2,0,ρ,θ)=2ρ2−1が、それぞれDC成分を意味するピストン成分、XおよびYティルト成分、デフォーカス成分を表している。
【0037】
次にdata_ARからゼルニケ多項式を用いてアライメント誤差であるピストン、ティルト、デフォーカス成分を除去する方法について示す。data_ARの正方行列データのアドレスを表す行列をI,Jと表記する。正方行列データの中心のアドレスcentX,centYを次のように定義する。
【0038】
【数5】
【0039】
ただし、[ ]は整数への丸めを意味している。数式5のcentXおよびcentYを用いて、
I1=I−centX,J1=J−centY …(数6)
とアドレスを表すベクトル変換をする。上式の如く各データのアドレスを表すベクトル変換後、R1を
R1=I1.2+J1.2 …(数7)
とする。行列の直後の”.”(ドット)は行列の要素についての演算を意味する。
R1の最大値をMAXRとする。MAXRとI1、J1を用いて数式8の要領で座標X,Yを求める。
X=I1/MAXR,Y=J1/MAXR …(数8)
この座標XおよびYから数式3および数式4においてのρ、θを求める。
R=√(X.2+Y.2),T=tan−1Y./X …(数9)
ここでRがρに、Tがθに相当している。
【0040】
R、TおよびZを列ベクトルに変換し、変換したものをRv、Tvと表記する。以降記号の語尾にvをつけたものはベクトルを意味する。また、data_ARをベクトル化したものをZAvとする。数式4はゼルニケ多項式の線形結合であるので、ベクトルRv、Tvを用いて次のように表せる。
Wv=CA …(数10)
ただし
C=[C0,0 C1,−1 C1,0 ・・・ C15,14]t
A=[Z(0,0,Rv,Tv) Z(1,−1,Rv,Tv) Z(1,0,Rv,Tv) ・・・ Z(15,14,Rv,Tv) ]
Wvは波面である。よって、各ゼルニケ係数Cは、
C=A−1ZAv …(数11)
により算出できる。
【0041】
最後にZAvからアライメント誤差であるピストン、ティルト、デフォーカスを差し引いた値ZfAvを得るには、
ZfAv=ZAv−C’B …(数12)
ただし
C’=[C0,0 C1,−1 C1,1 C2,0]t
B=[Z(0,0,R,T) Z(1,−1,R,T) Z(1,0,R,T) ・・・ Z(15,14,R,T) ]
とする。すなわちBはアラインメント誤差を、C’はそのゼルニケ係数を表す。
【0042】
ベクトルZfAvがアライメント誤差を除去したAの範囲の形状情報でありdata_ARfと表記する。
【0043】
次にdata_BRからアライメント誤差を除去する手順について説明する。図3は球面レンズを傾けたときにデータピッチが変化することについて示したものである。球面レンズ61は回転前の状態を、球面レンズ62は回転後の状態をそれぞれ表している。回転前の座標系を(X1,Y1)とし、回転後の座標系を(X2,Y2)とする。(X2,Y2)は(X1,Y1)の座標系を回転させたものと等しい。データピッチは(X1,Y1),(X2,Y2)上においては等しい。しかし、球面レンズ全体の形状を例えば(X1,Y1)座標系で評価しようとすると、回転前のデータピッチと回転後のデータピッチは一致しないことは明らかである。
【0044】
そこでdata_BRのデータピッチをdata_ARのデータピッチに合わせるため、線形補間によりデータ補間を行う。data_BRを線形補間してdata_ARのデータピッチに合わせたものをdata_BRsと表記する。data_BRsの面形状をZBsとする。ZBsのアドレスからXY座標に変換するにはZBsのアドレスの中でTS光軸中心に相当するアドレスx_cent、y_centを求める。このx_cent、y_centは球面レンズの傾け角から計算することができる。
I2=I−x_cent,J2=J−y_cent …(数13)
I2およびJ2からXY座標に変換するには数式5、数式6に示した計算を実行すればよい。
【0045】
data_BRsとdata_ARfとが重複している範囲のデータをそれぞれ抽出してdata_BRsU,data_ARfUとする。data_BRsUには形状情報とアライメント誤差が含まれている。また、data_ARfUは形状情報のみであるので、data_BRsUからdata_ARfUを差し引いたデータ(data_SBとする)は、アライメント誤差であるピストン、ティルト、デフォーカス成分のみから構成されている。これらアライメント誤差からピストン、ティルト、デフォーカスを成分ごとに分離するにはdata_BRsUのXY座標とdata_SBのデータZSBvから数式10の行列Bを生成して、
C’=B−1ZSBv …(数14)
とすればよい。ここで求めたゼルニケ係数C’とdata_BRsのXY座標について数式12の行列Bを生成して、数式12の如くdata_BRsのアライメント誤差のみを除去する。ここでdata_BRsの面形状はZBsで表されるから下記の数式15により誤差が除去される。
ZfBv=ZBsv−C’B …(数15)
ZfBvがBの範囲の面形状であり、アライメント誤差を排除したAの範囲のデータに対してBの範囲の面形状が接続されたことになる。
【0046】
領域C、D、Eの範囲においてもBの範囲でZfBvを求めた手順でそれぞれZfCv 、ZfDv 、ZfEvを求めることができる。これによりすべてアライメント誤差を排除したAの範囲の面形状に対して領域B、C、D、Eとすべての分割面の面形状が接続されている。
【0047】
図2のように被測定面を基準面を含めて5つにの領域に分割して測定した場合、重複のない部分から5つの領域全てが重なる部分まで、5通りの重複状態の部分が存在する。図4にその重複状態を示す。図中、部分αはただひとつの分割領域のみによりカバーされて重複のない部分、部分βは二つの分割領域が重複した部分、部分γは三つの分割領域が重複した部分、部分δは四つの分割領域が重複した部分、部分εは五つの分割領域が重複した部分である。斜線部は被測定面外の部分である。
【0048】
そこで、各領域を接続して被測定面全体の面形状を求める際に、ZfAv〜ZfEvをすべて足し合わせて、図4にあるように部分によって重複した領域数が違うので、重複した領域数に応じて平均化回数を変えることによって全面形状を復元する。例えば、5重に重複した部分については、ZfAv〜ZfEvすべてにデータが含まれているために、それら全てを加算して、重複した領域数である5で平均する。これは他の部分についても同様である。
【0049】
重なる領域の数は各面のXY座標を基に導く。すなわち面形状ZfAv〜ZfEvと面形状の座標(X,Y)について、同じ座標値をもつ点が複数あれば、その座標値における面形状をすべて足し合わせて、足し合わせた回数により平均化する。このことで、ステージの運動誤差等により干渉計の測定点がずれたとしても、分割面が重複する領域ではその影響は平均化により緩和されるので全面形状を精度よく復元することができる。
【0050】
<測定処理のコンピュータによる実行>
上記手順は、測定装置100に接続されたコンピュータにより実行される。ここでコンピュータにより上記手順を実行するためには、コンピュータの有するメモリやプロセッサというハードウエア資源を上記処理のため、特に測定されるデータの格納、計算手順を記録したプログラムおよび計算結果データの格納のために割り当て、処理を実行することになる。
【0051】
コンピュータを接続した測定装置の概略構成は図8のようになる。測定装置100内において、レーザ光源805から出射した光はレンズ804により広げられ、ビームスプリッタ803で反射されレンズ802を介して平行光に変換されレンズ801に入射する。レンズ801の最終面800はある曲率半径を有する球面形状であり、最終面800の反射光を参照光、透過光を被検光とする。被検光は、制御可能な回転ステージ31,32に載置された被測定物の球面レンズ33の表面で反射して再びレンズ801を通り平行光に変換される。参照光と被検光はビームスプリッタ803、レンズ806を通り撮像系807で干渉縞を形成する。撮像系807で形成された干渉縞はコンピュータ808に読み込まれて、以下に説明する手順で、上述した補正や変換、接続処理が施されて、被測定面の形状情報が得られる。コンピュータ808に読み込まれる干渉縞は、公知の方法により上述した形状情報に加工される。また、参照面800の形状データは上述したようにあらかじめ測定されてコンピュータ808に格納されている。
【0052】
なお、図8には示していないが、図1に示す測定部の回転ステージの制御をコンピュータにより行うこともできる。その場合には、各ステージはパルスモータ等により回転駆動され、コンピュータによりそのパルスモータの駆動量を制御することで、ステージの回転角が制御される。
【0053】
図9はコンピュータ808における形状情報の処理手順を示すフローチャートである。なお、図9の例では、図2に示すように基準領域Aと4つの分割領域B〜Eとに分けて、被測定面を測定した場合の例を示す。
【0054】
まずステップS901において、基準領域および各分割領域について測定を行い、得られた干渉縞の画像に基づき、正方行列で示される形状データdata_A、data_B、data_C、data_D、data_Eを生成する。この形状データは公知の手順により得ることができる。
【0055】
次にあらかじめ得ておいた参照面の形状データを、各分割領域の形状データから差し引くことで参照面の形状誤差を補正したdata_AR、data_BR、data_CR、data_DR、data_ERを求める(ステップS902)。
【0056】
次に基準領域Aについて、数式12を実行してアラインメント誤差を補正した基準領域Aの形状データZfAvを算出する(ステップS903)。
【0057】
次に、基準領域Aの形状データを基に、分割領域の各々に注目して、注目分割領域について数式13および数式5,6を計算して、注目分割領域測定時の測定ピッチを基準領域Aにおける測定ピッチに合わせて補間する。なお狭いピッチに合わせてデータを補間する代わりに、広い方のピッチに合わせて、対応しないデータを廃棄する方法もある。補間後の形状データに基づいて、数式10,14,15を実行してアラインメント誤差を補正した形状データZfXvを算出する(ステップS904)。ここで、添え字のXは、注目領域B〜Eいずれかを示す。
【0058】
ステップS904を、注目分割領域を順次代えつつ全ての分割領域について実行し、全領域についてアラインメント誤差を補正する(ステップS906)。
【0059】
それが終了したなら、ZfAv〜ZfEvについて、同じ座標値を持つ点が複数あれば、それらデータをすべて足し合わせて、加算した回数で除算して平均化する(ステップS906)。求められた値は、被測定面の形状データとして格納される(S907)。以上のようにして、測定結果から誤差補正された形状データが得られる。
【0060】
このように本発明によれば、分割面(分割領域)の接続の累積誤差が乗ることなく、ティルト、デフォーカスを精度よく排除した状態ですべての分割面を接続することが可能になり、被測定面全面の形状を精度よく復元することができる。
【0061】
また、被測定面を復元する際に分割面同士で重複する面での形状データはそれぞれ足し合わせて平均化することにより、重複面では測定点ずれの影響が緩和され被測定面全面を精度よく復元することができる。
【0062】
【発明の効果】
本発明の効果により分割面の接続の累積誤差が乗ることなく、ティルト、デフォーカスを精度よく排除した状態ですべての分割面を接続することが可能になり、被測定面全面を精度よく復元することができた。
【0063】
また、被測定面を復元する際に分割面同士で重複する面での形状データはそれぞれ足し合わせて平均化することにより、重複面では測定点ずれの影響が緩和され被測定面全面を精度よく復元することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる形状測定装置の概略図
【図2】被測定面の分割した状態を示す図
【図3】球面レンズを傾けたときにデータピッチが変化することについて示した図
【図4】重複している回数が違う領域の状態を示した図
【図5】従来の形状測定装置の概略図
【図6】従来の被測定面の分割した状態を示す図
【図7】従来の被測定面の分割した状態を示す図
【図8】実施形態に係る、コンピュータを接続した形状測定装置全体の構成図
【図9】実施形態に係る、測定された形状データから被測定面全面の形状データを生成する手順のフローチャート
【符号の説明】
11 干渉計
12 被測定物
13 平行移動可能なステージ
31 y軸まわりに回転する回転ステージ
32 θz軸まわりに回転する回転ステージ
33 被測定物である球面レンズ
34 フィゾー干渉計
Claims (5)
- 被測定面の形状を測定する3次元測定方法であって、
前記被測定面を、少なくとも1つは他の全てとの重複部分を有する基準領域を含めた複数の分割領域に分けて、各分割領域ごとにその形状データを干渉計により測定し、
前記基準領域の形状データの誤差を補正し、
前記複数の分割領域を、前記重複部分における補正後の前記基準領域の形状データに基づいて接続することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 3次元形状を有する被測定面を複数の領域に分割して、該分割した複数の領域毎に前期比測定面の形状を干渉計を用いて測定し、各領域毎の測定値をつなぎ合わせることで被測定面の形状を測定する3次元形状測定方法であって、
前記分割した複数の領域のうち少なくとも1つの領域は、他のすべての領域と重複するように設けられた基準面であり、基準領域面と前記他のすべての領域のそれぞれとの間のつなぎ合わせ誤差を補正することで前記被測定面の形状を測定することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 前記つなぎ合わせ誤差の補正は、前記基準面の測定値から前記干渉計のアライメント誤差であるティルトとフォーカスを排除した値を用いて行われることを特徴とする請求項1または2に記載の3次元形状測定方法。
- 前記各領域毎の測定値をつなぎ合わせた後、更に各領域の重複回数に応じて平均化回数を変えて補正することを特徴とする請求項1または2に記載の3次元形状測定方法。
- 被測定面の形状を測定する3次元測定装置であって、
前記被測定面を、少なくとも1つは他の全てとの重複部分を有する基準領域を含めた複数の分割領域に分けて、各分割領域ごとにその形状データを測定する干渉計と、
前記基準領域の形状データの誤差を補正する補正手段と、
前記複数の分割領域を、前記重複部分における前記基準領域の補正後の形状データに基づいて接続する接続手段と
を備えることを特徴とする3次元形状測定装置。
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