JP2004257831A - 接触子及び電気的接続装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】接続箇所に対する両ピンの押圧力を個々に調整可能にすることにある。
【解決手段】接触子は、スリーブ及び該スリーブの一端に配置された第1の接触片を備える第1のピンと、スリーブの他端部にこれの軸線方向へ移動可能に受け入れられた軸部及び該軸部に続きかつスリーブからこれの他端側に突出する第2の接触片を備える第2のピンと、少なくとも第1の接触片を第2の接触片から離す方向に付勢する第1のばねと、スリーブ内に配置されて第1及び第2の接触片を相離れる方向へ付勢する第2のばねとを含む。
【選択図】 図3

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、配線基板や半導体集積回路等に備えられた突起電極に接触される接触子及びこれを用いた電気的接続装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
配線基板、接続基板、半導体集積回路、表示用基板、電子部品等の被接続体は、一般に、検査装置の電気回路、配線基板、接続ランド又は配線を有する他の配線基板、配線基板を他の接続体に接続する接続基板等、相手側の接続体に電気的に接続される複数の突起電極を備えている。
【0003】
この種の突起電極は、球状、円錐状、角錐状、球状の頂部を有する円錐状又は角錐状等の形状を有しており、相手側の接続体に電気的に接続されるか、プローブ、プローブ要素等の接触子を用いて相手側の接続体に電気的に接続される。
【0004】
上記のような接触子の1つとして、スリーブと、このスリーブ内にこれの軸線方向に間隔をおいて配置された第1及び第2のピンと、第1及び第2のピンをそれらの先端がスリーブから反対側に突出する方向に付勢するようにスリーブに配置されたばねとを備えたものがある(特許文献1)。
【0005】
特許文献1:特開平6−216205号公報
【0006】
上記のような接触子を複数用いた電気的接続装置は、それらの接触子を板状の支持体に、各接触子の第1及び第2のピンの先端がそれぞれ上方及び下方に突出した状態に、組み付けている。
【0007】
そのような電気的接続装置は、第1及び第2のピンのいずれか一方を他の接続体側の接続箇所に常時押圧しておき、第1及び第2のピンの他方を被接続体側の接続箇所に押圧することにより、両接続体の接続箇所を電気的に接続する。
【0008】
【解決しようとする課題】
しかし、上記従来の接触子では、第1及び第2のピンを共通のばねにより互いに反対方向に付勢しているから、被接続体と他の接続体との間の押圧力が両ピンに分割されてしまい、接続箇所に対する両ピンの押圧力を個々に調整することができない。
【0009】
そのような接触子では、被接続体の接続箇所に対する押圧力を増大させるべくばね力の大きいばねを用いても、被接続体の接続箇所に対する押圧力はばね力の増加分の2分の1だけ増加するにすぎない。
【0010】
さらに、上記従来の接触子では、被接続体の接続箇所に対する押圧力が接触子毎に異なり、その結果接触の安定性が低い。
【0011】
本発明の目的は、接続箇所に対する両ピンの押圧力を個々に調整可能にすることにある。
【0012】
【解決手段、作用、効果】
本発明に係る接触子は、スリーブ及び該スリーブの一端に配置された第1の接触片を備える第1のピンと、前記スリーブの他端部にこれの軸線方向へ移動可能に受け入れられた軸部及び該軸部に続きかつ前記スリーブからこれの他端側に突出する第2の接触片を備える第2のピンと、少なくとも前記第1の接触片を前記第2の接触片から離す方向に付勢する第1のばねと、前記スリーブ内に配置されて前記第1及び第2の接触片を相離れる方向へ付勢する第2のばねとを含む。
【0013】
第1のピンは第1のばねにより同じ方向に付勢されている。これに対し、第2のピンは第2のばねにより第1のピンとは逆の方向に付勢されている。このため、上記接触子は、第1及び第2のピンのいずれか一方を被接続体に接触させ、他方を他の接続体に接触させるように使用される。
【0014】
第1のばねのばね力を変更すると、第1のピンによる押圧力が変化する。第2のばねのばね力を変更すると、第1のピンが第1のばねにより既に付勢されていることから、主として第2のピンによる押圧力が変化する。このため、第1及び第2のピンによる押圧力を個々に調整することができる。
【0015】
前記第1及び第2の接触片のそれぞれは、前記第1及び第2のばねによる付勢方向側に突出する少なくとも1つの突起を含むことができる。そのようにすれば、それらの突起を接続体への接触箇所とすることができる。
【0016】
前記スリーブと前記第1の接触片とは別部材で構成されており、前記スリーブはこれの一端部を前記第1の接触片に嵌合されていてもよい。そのようにすれば、スリーブと第1の接触片とを別々に製作することができ、スリーブ及び第1の接触片の製造が容易になる。
【0017】
前記第1のばねは前記スリーブの周りに配置された第1のコイルばねを含み、前記第2のばねは前記スリーブ内に配置された第2のコイルばねを含むことができる。そのようにすれば、ゴムのような他の筒状弾性体をばねとして用いる場合に比べ、接触子を小さくすることができる。
【0018】
前記第2の接触片は、これの軸線周りに角度的間隔をおいた複数の突起を含むことができる。そのようにすれば、第2の接触片が当接する接触箇所がバンプ電極のような突起電極であっても、それらの突起が突起電極の頂部に接触しないから、それらの突起で突起電極の頂部を損傷するおそれが少ない。
【0019】
本発明に係る電気的接続装置は、複数の貫通穴を備える板状のホルダと、上記のような複数の接触子とを含む。各接触子は、前記第1及び第2の接触片が前記貫通穴から互いに逆方向に突出した状態に前記貫通穴に配置されている。この電気的接続装置においても、接触子は、上記のように作用するから、上記のような効果を奏する。
【0020】
前記ホルダは互いに重ねられた第1及び第2の板状部材を含み、前記第1及び第2の板状部材は、それぞれ、互いに連通されて前記貫通穴を形成する第1及び第2の穴を備え、前記第1の穴は前記第2の穴より大きい横断面積を有することができる。そのようにすれば、第1及び第2のピンの突出量を規制するストッパ部を有する貫通穴を容易に形成することができる。
【0021】
前記第1のばねは、前記第1の接触片を前記第2の板状部材に対して付勢すべく前記スリーブの周りにあって前記第1の穴に配置されている。
【0022】
電気的接続装置は、さらに、被接続体を収容する空間を形成すべく前記ホルダの前記第2の接触片の側に重ねられたフレームを含むことができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
図1〜図3を参照するに、電気的接続装置10は、被検査体12としての集積回路のような半導体デバイスの通電試験に用いるソケットに構成されている。被検査体12は、平面的に見て矩形をした板状の本体すなわちベース14の一方の面に複数の電極16をマトリクス状に備えている。
【0024】
この実施例において、被検査体12は被接続体として作用し、電極16は被接続体の接続箇所として作用する。電極16は、図示の例では、球状の突起電極であるが、リードのような平坦な電極であってもよい。
【0025】
電気的接続装置10は、基板20と、基板20の上に重ねられた第1の板状部材22と、第1の板状部材22に重ねられた第2の板状部材24と、第2の板状部材24に重ねられたフレーム26と、第1及び第2の板状部材22及び24に配置された複数の接触子28とを含む。接触子28は、被検査体12の電極16と同じ配置状態に配置されて、電極16に個々に対応されている。
【0026】
基板20は、接触子28に個々に対応された導電性の複数のランド部30を、ガラス入りエポキシのように電気絶縁性を有する平板状の板部材32の上面に配置した配線基板の形に構成されている。ランド部30は、接触子28,ひいては被検査体12の電極16に個々に対応されており、また他の被接続体の接続箇所として作用する。
【0027】
基板20は、図示してはいないが、テスターの電気回路に接続される複数のテスターランドを板部材32の外周縁部に備えている。各テスターランドはランド部30に電気的に接続されている。基板20の平面形状は、矩形、円形、長円形等、任意な形状とすることができる。
【0028】
第1及び第2の板状部材22及び24は、それぞれ、第1及び第2の板状部材22及び24を厚さ方向に貫通する複数の第1及び第2穴36及び38を備えている。
【0029】
図3に示すように、第1の穴36は、直径寸法が大きい上部36aと、この上部36aの下方に続く截頭円錐形部36bと、この截頭円錐形部36bの下方に続きかつ直径寸法が小さい下部36cとを有している。
【0030】
これに対し、第2の穴38は、直径寸法が小さい上部38aと、この上部38aの下方に続く截頭円錐形部38bと、この截頭円錐形部38bの下方に続きかつ直径寸法が大きい下部38cとを有している。
【0031】
上部36aの直径寸法は下部38cのそれより大きい。これに対し、下部36cの直径寸法は上部38aのそれより小さい。第1及び第2の穴36及び38の軸線は、第1及び第2の板部材22及び24が電気的接続装置10に組み立てられた状態において、一致している。
【0032】
第1及び第2の板状部材22及び24は、電気絶縁材料により製作されており、また接触子28を支持するホルダを共同して形成している。このため、対をなす穴36及び38は、ランド部30、ひいては接触子28及び電極16に個々に対応された貫通穴を形成している。各接触子28は、第1及び第2の穴36及び38により形成される貫通穴に収容されている。
【0033】
フレーム26は、被検査体12のベース14を収容することができる大きさを有する矩形の開口すなわち空間40を備えている。空間40を形成する内面のうち、上部は被検査体12を空間40の中央側に正しく案内する斜め上向きの斜面42とされている。
【0034】
基板20、第1及び第2の板状部材22及び24並びにフレーム26は、上記のように重ねられた状態で複数のピン44により相対的な位置決めをされており、また複数のねじ部材46により分解可能に結合されている。
【0035】
図3に示すように、各接触子28は、第1及び第2の穴36及び38により形成される貫通穴に上下方向へ移動可能に配置された第1及び第2のピン50及び52を含む。
【0036】
第1のピン50は、第1及び第2の穴36及び38により形成される貫通穴に上下方向へ移動可能に配置された導電性のスリーブ54と、第1の穴36に上下方向へ移動可能に配置された導電性の第1の接触片56とを備えている。
【0037】
スリーブ54と第1の接触片56とは、別部材で構成されており、スリーブ54の下端部を第1の接触片56に嵌合させている。しかし、スリーブ54と第1の接触片56とを一体に製作してもよい。第1の接触片56は、第1の穴36の下部36cを貫通して下方に突出する突起58を有している。突起58の下面は円錐形とされている。
【0038】
第2のピン52は、スリーブ54の上端部にこれの軸線方向へ移動可能に受け入れられた導電性の軸部60と、軸部60の上端に続く導電性のフランジ部62と、フランジ部62の上端に続きかつスリーブ54からこれの上端側に突出する導電性の第2の接触片64とを一体的に備えている。
【0039】
第2の接触片64は、これの軸線周りに角度的間隔をおいて上方に突出する複数の突起66を備えている。各突起66は、角錐形の形状を有しており、また角錐形の斜面又は稜線を第2の接触片64の軸線に向けている。
【0040】
第1の接触片56は、スリーブ54の下端部の周りに配置された圧縮コイルばね68により下方に付勢されている。第1及び第2のピン50及び52は、スリーブ54内に配置された圧縮コイルばね70により離間する方向に付勢されている。
【0041】
第1及び第2の穴36及び38の截頭円錐径部36b及び38bは、それぞれ、第1の接触片56及びスリーブ54が下方及び上方へ抜け出ることを防止するストッパとして作用する。スリーブ54の上端部及び下端部は、それぞれ、フランジ部62及びコイルばね70が当接するストッパとして作用するように内側に曲げられている。
【0042】
電気的接続体10に組み立てられた状態において、第1のピン50は、コイルばね68により下方に付勢されて、突起58をランド部30に押圧されている。これにより、第1のピン50は、突起58がランド部30に接触した状態に維持される。第2のピン52はコイルばね70により上方に付勢されて、少なくとも突起66を第2の板状部材24から上方に突出させている。
【0043】
被検査体の試験時、被検査体12がその電極16を下方とした状態で、空間40に配置され、電極16と突起66とが相対的に押圧される。この際、突起66が第2の接触片64の軸線の周りに角度的間隔をおいており、しかも角錐形の斜面又は稜線を第2の接触片64の軸線に向けているから、電極16が球状のバンプ電極であっても、突起66が電極16の頂部に接触せず、その結果突起66で電極16の頂部を損傷するおそれがない。
【0044】
電極16と突起66とが相対的に押圧されると、第2のピン52は、コイルばね70を下方に変位する。これにより、コイルばね70がその下端が下方へ変位することを阻止された状態で圧縮されるから、コイルばね70の反力が突起66と電極16とに作用し、突起66と電極16とが確実に接触する。
【0045】
電極16と突起66との押圧が解除されると、第2のピン52はコイルばね70に力により上方へ変位される。
【0046】
コイルばね68のばね力を変更すると、第1のピン50による押圧力が変化する。コイルばね70のばね力を変更すると、第1のピン50,特に第1の接触片56がコイルばね68により既に下方に付勢されていることから、主として第2のピン52による押圧力が変化する。このため、第1及び第2のピン50及び52による押圧力を個々に調整することができる。
【0047】
上記のようにスリーブ54と第1の接触片56とを別部材で構成すれば、両者を別々に製作することができるから、スリーブ54及び第1の接触片56の製造が容易になる。しかし、スリーブ54と第1の接触片56とを一体ものとして製作してもよいし、スリーブ54と第1のばね48とを一体ものとしてもよく、さらには第1の接触片自体56又はスリーブ54自体に第1のばねの作用をもたせてもよい。
【0048】
コイルばね68及び70の代わりにゴムのような他の筒状又はブロック状の弾性体を用いてもよい。しかし、コイルばね68及び70を用いると、他の弾性体を用いる場合に比べ、接触子を小さくすることができる。
【0049】
本発明は、第1及び第2のピン50及び52を、それぞれ、ランド部30及び電極16に押圧するように用いるのみならず、逆に第1及び第2のピン50及び52を、それぞれ、電極16及びランド部30に押圧するように用いてもよい。
【0050】
本発明は、また、電気的接続装置10が被検査体12の上側及び下側のいずれとなる状態で使用してもよいし、電気的接続装置10を斜めにした状態で使用してもよい。また、本発明は、半導体デバイスのみならず、液晶表示パネルのような他の平板状被検査体の電気的接続装置にも適用することができる。
【0051】
本発明は、上記実施例に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電気的接続装置の一実施例を示す平面図である。
【図2】図1における2−2線に沿って得た断面図である。
【図3】本発明に係る接触子の一実施例を示す断面図であって、(A)荷重を作用させた状態を示し、(B)は荷重を作用させない状態を示す。
【符号の説明】
10 接触子
12 被検査体(被接続体)
14 ベース
16 電極(接続箇所)
20 基板(他の接続体)
22,24 第1及び第2の板状部材
26 フレーム
28 接触子
30 ランド部(接続箇所)
32 板部材
36,38 第1及び第2の穴(貫通穴)
40空間
50,52 第1及び第2のピン
54 スリーブ
56,64 第1及び第2の接触片
58,66 突起
60 軸部
62 フランジ部
68,70 コイルばね

Claims (9)

  1. スリーブ及び該スリーブの一端に配置された第1の接触片を備える第1のピンと、前記スリーブの他端部にこれの軸線方向へ移動可能に受け入れられた軸部及び該軸部に続きかつ前記スリーブからこれの他端側に突出する第2の接触片を備える第2のピンと、少なくとも前記第1の接触片を前記第2の接触片から離す方向に付勢する第1のばねと、前記スリーブ内に配置されて前記第1及び第2の接触片を相離れる方向へ付勢する第2のばねとを含む、接触子。
  2. 前記第1及び第2の接触片のそれぞれは、前記第1及び第2のばねによる付勢方向側に突出する少なくとも1つの突起を含む、請求項1に記載の接触子。
  3. 前記スリーブと前記第1の接触片とは別部材で構成されており、前記スリーブはこれの一端部を前記第1の接触片に嵌合されている、請求項1又は2に記載の接触子。
  4. 前記第1のばねは前記スリーブの周りに配置された第1のコイルばねを含み、前記第2のばねは前記スリーブ内に配置された第2のコイルばねを含む、請求項1から3のいずれか1項に記載の接触子。
  5. 前記第2の接触片は、これの軸線周りに角度的間隔をおいた複数の突起を含む、請求項1から4のいずれか1項に記載の接触子。
  6. 複数の貫通穴を備える板状のホルダと、請求項1から5のいずれか1項に記載の複数の接触子とを含み、
    各接触子は、前記第1及び第2の接触片が前記貫通穴から互いに逆方向に突出した状態に前記貫通穴に配置されている、電気的接続装置。
  7. 前記ホルダは互いに重ねられた第1及び第2の板状部材を含み、前記第1及び第2の板状部材は、それぞれ、互いに連通されて前記貫通穴を形成する第1及び第2の穴を備え、前記第1の穴は前記第2の穴より大きい横断面積を有する、請求項6に記載の電気的接続装置。
  8. 前記第1のばねは、前記第1の接触片を前記第2の板状部材に対して付勢すべく前記スリーブの周りにあって前記第1の穴に配置されている、請求項7に記載の電気的接続装置。
  9. さらに、被接続体を収容する空間を形成すべく前記ホルダの前記第2の接触片の側に重ねられたフレームを含む、請求項6から8のいずれか1項に記載の電気的接続装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006226702A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Nidec-Read Corp 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子
JP2006300581A (ja) * 2005-04-18 2006-11-02 Yokowo Co Ltd プローブの組付け構造
JP2008070139A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Tatsumi Saito プラグコネクタ付き性能検査装置およびこの性能検査装置に用いるのに適したプラグコネクタ
JP2010204082A (ja) * 2009-02-04 2010-09-16 Kasasaku Electronics:Kk プローブピン用ソケット及びプローブユニット
WO2012093479A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 株式会社クローバーテクノロジー プローブピン-ソケット組立体
DE102011105036B4 (de) * 2010-06-21 2015-06-18 Caetec Gmbh Steckverbinder für mobiles Messtechnik-Modulsystem
JP2018165670A (ja) * 2017-03-28 2018-10-25 日本発條株式会社 導電性接触子、導電性接触子ユニット、および導電性接触子ユニットを備える半導体検査装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006226702A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Nidec-Read Corp 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子
JP2006300581A (ja) * 2005-04-18 2006-11-02 Yokowo Co Ltd プローブの組付け構造
JP2008070139A (ja) * 2006-09-12 2008-03-27 Tatsumi Saito プラグコネクタ付き性能検査装置およびこの性能検査装置に用いるのに適したプラグコネクタ
JP2010204082A (ja) * 2009-02-04 2010-09-16 Kasasaku Electronics:Kk プローブピン用ソケット及びプローブユニット
DE102011105036B4 (de) * 2010-06-21 2015-06-18 Caetec Gmbh Steckverbinder für mobiles Messtechnik-Modulsystem
WO2012093479A1 (ja) * 2011-01-06 2012-07-12 株式会社クローバーテクノロジー プローブピン-ソケット組立体
JP2018165670A (ja) * 2017-03-28 2018-10-25 日本発條株式会社 導電性接触子、導電性接触子ユニット、および導電性接触子ユニットを備える半導体検査装置

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