JP2004086999A - 記録条件設定方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】高速度での記録に最適な記録条件を設定することができる記録条件設定方法を提供する。
【解決手段】試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（ステップ４０１〜４０５、ステップ４０９〜４１３）、その処理結果に基づいて所定の線速度における発光パワーの平均値が算出される（ステップ４１７、４１９）。そして、算出された発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における発光パワーの平均値が算出され（ステップ４２１）、その算出結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められ（ステップ４２３）、その記録パワーに基づいて任意の線速度での記録条件が設定される（ステップ４２５）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【選択図】 図６
【解決手段】試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（ステップ４０１〜４０５、ステップ４０９〜４１３）、その処理結果に基づいて所定の線速度における発光パワーの平均値が算出される（ステップ４１７、４１９）。そして、算出された発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における発光パワーの平均値が算出され（ステップ４２１）、その算出結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められ（ステップ４２３）、その記録パワーに基づいて任意の線速度での記録条件が設定される（ステップ４２５）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【選択図】 図６
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録条件設定方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、スパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定方法、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに情報記録媒体に情報を記録する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータは、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（ｃｏｍｐａｃｔ ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ ｖｅｒｓａｔｉｌｅ ｄｉｓｃ）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスク装置がパーソナルコンピュータの周辺機器の一つとして普及するようになった。光ディスク装置では、光ディスクのスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光の微小スポットを照射することにより情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置には、情報記録媒体の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するために、光ピックアップ装置が設けられている。
【０００３】
通常、光ピックアップ装置は、レーザ光を所定の発光パワー（出力）で出射する光源、その光源から出射されるレーザ光を情報記録媒体の記録面に導くとともに、記録面で反射されたレーザ光を所定の受光位置まで導く光学系、及びその受光位置に配置された受光素子などを備えている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク（ピット）領域及びスペース領域と呼ばれる２つの領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。そこで、光ディスクに情報を記録する際には所定の位置にマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように光源の発光パワーが制御される。
【０００５】
例えば、記録層に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの追記型の光ディスクでは、マーク領域を形成するときには発光パワーを高くして色素を加熱及び溶解し、そこに接している基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときには基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。なお、以下では、マーク領域を形成する時の発光パワーを記録パワーともいう。
【０００６】
しかしながら、同じように記録層に有機色素を含む光ディスクであっても、メーカ（ベンダ）によって、有機色素の種類、記録層の厚さ及びトラックピッチの幅などが若干異なっている。このことは、記録パワーが同じであっても、光ディスクによっては必ずしも予定した形状のマーク領域が形成されるとは限らないことを意味している。情報の記録時に予定した形状のマーク領域が形成されないと、その情報を正確に再生することが困難となり、いわゆる記録品質が低下することとなる。
【０００７】
そこで、追記型の光ディスクには、その光ディスクに最適な記録パワーを検出するための試し書き領域が設けられている。この領域はパワーキャリブレーションエリア（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ：以下「ＰＣＡ」という）と呼ばれている。例えばＣＤ−Ｒでは、ＰＣＡ領域は１００個のパーティションに分割されたテストエリアを有している。そして、テストエリアの各パーティションは１５個のフレームで構成されている。通常、光ディスク装置では、追記型の光ディスクに情報を記録する際に、１つのパーティションを用いて、一定の線速度でフレーム毎に記録パワーを所定の基準値（基準パワー）を中心として所定のステップで段階的に変化させて所定のデータを試し書きし、その中で最も高い記録品質を示した記録パワーを最適な記録パワーと決定する、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理が行われている。
【０００８】
線密度一定で情報が記録される光ディスクの場合には、通常、一定の線速度（ＣＬＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ｌｉｎｅａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）で光ディスクを回転させながら記録するため、記録面とレーザ光との相対速度はいつも一定である。そこで、ＯＰＣによって決定された記録パワーを用いて、記録面の全面に情報を記録しても記録品質の低下を生じることはない。
【０００９】
しかしながら、記録速度の高速化に伴い、上記ＣＬＶ方式では内周側に行くほど回転数を高くする必要があるので、モータコストが高くなったり、騒音、振動が増えたり、その他のサーボシステムの設計も困難になってくる。そこで、内周側での回転数をあまり上げないかわりに、外周側でもあまり回転数を下げないようにする方式がとられる場合がある。特に回転数が一定の場合はＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式と呼ばれている。このＣＡＶ方式では、線速度は回転中心からの距離に比例して大きくなる。
【００１０】
また、記録領域を適当な位置で複数のゾーンに分割し、各ゾーン内ではＣＬＶ方式とし、外周側のゾーンほど大きい線速度とする、いわゆるゾーンＣＬＶ（ＺＣＬＶ：Ｚｏｎｅ ＣＬＶ）方式もある。ＣＡＶ方式及びＺＣＬＶ方式のいずれにしても、試し書きを行う際の線速度と、実際に情報を記録する際の線速度とは異なる場合が生じる。従って、ＯＰＣによって決定された記録パワーが、必ずしも最適な記録パワーとならない場合があるという不都合があった。
【００１１】
この不都合を改善するために、例えば特開２０００−２００４１６号公報（以下「第１の公知例」という）には、ＣＡＶ方式で光ディスクの記録領域にデータの追記又は書き換えを行なう際に、データの書き込み位置での線速度と同一の線速度でＯＰＣを行う光ディスク装置が開示されている。
【００１２】
また、例えば特開平９−２８８８２５号公報（以下「第２の公知例」という）には、ＺＣＬＶ方式で光ディスクの記録領域にデータを記録する際に、データが記録されるゾーンにおける記録パワー分布を補正する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置では、ゾーン毎に少なくとも２ヶ所の試し書き領域を設定し、これらの試し書き領域での試し書きにより得られるそれぞれの最適な記録パワーを用いて、各ゾーン内での記録パワー分布を補正している。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスクの内周部では、試し書きが可能な線速度に制限があるために、上述した第１の公知例に開示されている光ディスク装置では、記録時の線速度（以下「記録線速度」という）が大きくなると、記録線速度での最適な記録パワーを求めることができないおそれがあった。また、記録線速度が記録途中で変わる場合には、複数の線速度で試し書きを行なうため、記録処理に要する時間が長くなるいう不都合があった。
【００１４】
また、最適な記録パワーは、記録時における光源の駆動信号（「記録パルス」ともいう）のパルス幅によって大きく異なる。この記録パルスの形状は記録ストラテジとも呼ばれ、記録品質に大きな影響を与える。一般的に、この記録ストラテジは線速度によって異なっている。しかしながら、上述した第２の公知例に開示されている光ディスク装置では、線速度による記録ストラテジの違いを考慮せずに、異なる線速度での試し書きによって得られたそれぞれの最適な記録パワーのみに基づいて記録パワー分布を補正しているために、補正後の記録パワー分布が必ずしも最適な記録パワー分布ではない場合があるという不都合があった。
【００１５】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができる記録条件設定方法を提供することにある。
【００１６】
また、本発明の第２の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【００１７】
また、本発明の第３の目的は、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１工程と；前記第１工程における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２工程と；前記第２工程で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３工程と；前記第３工程で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記任意の線速度での記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法である。
【００１９】
これによれば、記録条件の設定に際して、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（第１工程）、そこでの処理結果に基づいて、所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される（第２工程）。そして、第２工程で算出された所定の線速度における光源の発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出され（第３工程）、その算出結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められ、さらにその記録パワーに基づいて任意の線速度での記録条件が設定される（第４工程）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、例えば記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２０】
この場合において、請求項２に記載の記録条件設定方法の如く、前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５工程を更に含むこととすることができる。かかる場合には、最適な記録パワーが、例えば光源の最大出力に達した後は、ＣＬＶ方式で記録が行われることとなり、記録感度の低い情報記録媒体を有効に使用することができる。また、最大出力の低い光源を用いることが可能となる。
【００２１】
上記請求項１及び２に記載の各記録条件設定方法において、請求項３に記載の記録条件設定方法の如く、前記試し書き領域が第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含む場合には、前記第１工程では、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行うこととすることができる。かかる場合には、互いに線速度が異なる複数の試し書きの結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーを求めることができるため、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２２】
この場合において、請求項４に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２工程では、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、前記第３工程では、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出することとすることができる。
【００２３】
上記請求項３及び４に記載の各記録条件設定方法において、請求項５に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることとすることができる。かかる場合には、例えばユーザの判断により情報記録媒体の種類毎に、安定したＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となるため、短時間で最適な記録条件を設定することができる。
【００２４】
上記請求項３〜５に記載の各記録条件設定方法において、請求項６に記載の記録条件設定方法の如く、前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることとすることができる。かかる場合には、記録線速度での記録パワーを精度良く求めることができる。
【００２５】
請求項７に記載の発明は、光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１工程と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２工程と；前記光源の発光パワーを前記第２工程で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３工程と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法である。
【００２６】
これによれば、記録条件の設定に際して、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われ（第１工程）、その結果に基づいて、第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる（第２工程）。次に、光源の発光パワーを第２工程で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きが行われる（第３工程）。そして、第２の試し書きの結果に基づいて、第２の線速度での最適な記録パワーが求められ、その記録パワーに基づいて情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件が設定される（第４工程）。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での光源の発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２７】
この場合において、請求項８に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいこととすることができる。かかる場合には、第２の試し書きでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、第２の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。
【００２８】
上記請求項７及び８に記載の各記録条件設定方法において、請求項９に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないこととすることができる。かかる場合には、記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができるとともに、第２の試し書き領域を有効に使用することが可能となる。
【００２９】
上記請求項３〜９に記載の各記録条件設定方法において、請求項１０に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいこととすることができる。
【００３０】
上記請求項３〜１０に記載の各記録条件設定方法において、請求項１１に記載の記録条件設定方法の如く、前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することとすることができる。
【００３１】
請求項１２に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１の手順と；前記第１の手順における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の手順と；前記第２の手順で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３の手順と；前記第３の手順で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３２】
これによれば、記録条件の設定に際して、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（第１の手順）、第１の手順における処理結果に基づいて、所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される（第２の手順）。そして、第２の手順で算出された所定の線速度における光源の発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出され（第３の手順）、この第３の手順で算出された平均値に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められる（第４の手順）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、例えば記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００３３】
この場合において、請求項１３に記載のプログラムの如く、前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５の手順を更に前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。かかる場合には、最適な記録パワーが、例えば光源の最大出力に達した後は、ＣＬＶ方式で記録が行われることとなり、記録感度の低い情報記録媒体を有効に使用することができる。また、最大出力の低い光源を用いることが可能となる。
【００３４】
上記請求項１２及び１３に記載の各プログラムにおいて、請求項１４に記載のプログラムの如く、前記試し書き領域が第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含む場合には、前記第１の手順として、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行う手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。かかる場合には、互いに線速度が異なる複数の試し書きの結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーを求めることができるため、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００３５】
この場合において、請求項１５に記載のプログラムの如く、前記第２の手順として、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、前記第３の手順として、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出する手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３６】
上記請求項１４及び１５に記載の各プログラムにおいて、請求項１６に記載のプログラムの如く、前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることとすることができる。かかる場合には、例えばユーザの判断により情報記録媒体の種類毎に、安定したＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となり、短時間で最適な記録条件を取得することができる。
【００３７】
上記請求項１４〜１６に記載の各プログラムにおいて、請求項１７に記載のプログラムの如く、前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることとすることができる。かかる場合には、記録線速度での記録パワーを精度良く求めることができる。
【００３８】
請求項１８に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の手順と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２の手順と；前記光源の発光パワーを前記第２の手順で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３の手順と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３９】
これによれば、記録条件の設定に際して、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われ（第１の手順）、その結果に基づいて、第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる（第２の手順）。そして、光源の発光パワーを第２の手順で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に第２の線速度で第２の試し書きが行われ（第３の手順）、その結果に基づいて、第２の線速度での最適な記録パワーが求められる（第４の手順）。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００４０】
この場合において、請求項１９に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいこととすることができる。かかる場合には、第２の試し書きでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、第２の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。
【００４１】
上記請求項１８及び１９に記載の各プログラムにおいて、請求項２０に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないこととすることができる。かかる場合には、記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができるとともに、第２の試し書き領域を有効に使用することが可能となる。
【００４２】
上記請求項１４〜２０に記載の各プログラムにおいて、請求項２１に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいこととすることができる。
【００４３】
上記請求項１４〜２１に記載の各プログラムにおいて、請求項２２に記載のプログラムの如く、前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することとすることができる。
【００４４】
請求項２３に記載の発明は、請求項１２〜２２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００４５】
これによれば、請求項１２〜２２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００４６】
請求項２４に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う試し書き手段と；前記試し書き手段での結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第１の平均値算出手段と；前記第１の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の平均値算出手段と；前記第２の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記記録速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録速度での記録条件を設定する記録条件設定手段と；前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置である。
【００４７】
これによれば、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に試し書き手段により所定の線速度で試し書きが行われ、その結果に基づいて、第１の平均値算出手段により所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される。次に、第１の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、第２の平均値算出手段により、情報記録媒体に情報を記録する際の記録速度における光源の発光パワーの平均値が算出される。そして、その算出結果に基づいて、記録条件設定手段により記録速度での最適な記録パワーが求められるとともに、その記録パワーに基づいて記録速度での記録条件が設定される。さらに、その設定された記録条件に基づいて、記録手段により情報記録媒体に情報が記録される。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００４８】
請求項２５に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の試し書き手段と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める基準値取得手段と；前記光源の発光パワーを前記基準値取得手段で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第２の試し書き手段と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定手段と；前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置である。
【００４９】
これによれば、第１の試し書き手段により、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われる。次に、基準値取得手段により、第１の試し書きの結果に基づいて、第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる。続いて、第２の試し書き手段により、光源の発光パワーを基準値取得手段で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に第２の線速度で第２の試し書きが行われる。そして、記録条件設定手段により、第２の試し書きの結果に基づいて第２の線速度での最適な記録パワーが求められるとともに、その記録パワーに基づいて情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件が設定される。さらに、その設定された記録条件に基づいて、記録手段により情報記録媒体に情報が記録される。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００５０】
この場合において、請求項２６に記載の光ディスク装置の如く、前記情報記録媒体の識別情報を取得する識別情報取得手段と；前記記録手段での記録終了後に、前記情報が記録された記録領域の少なくとも一部を再生し、その再生信号の品質を示す指標を取得する品質取得手段と；前記品質取得手段で取得された前記指標に基づいて前記再生信号の品質が所定の基準を満足するか否かを判別する判別手段と；その判別結果として前記再生信号の品質が所定の基準を満足しない場合に、前記識別情報を有する情報記録媒体に対して前記記録速度での記録を禁止する記録禁止手段と；を更に備えることとすることができる。かかる場合には、記録品質が悪いと判断された記録速度での記録が、その後禁止されるために、結果的に情報の再生が不安定となる記録条件での情報記録媒体への記録を防止することが可能となる。
【００５１】
この場合において、請求項２７に記載の光ディスク装置の如く、前記指標は、前記再生信号のピークレベルｄＬｐとボトムレベルｄＬｂを用いて、（ｄＬｐ＋ｄＬｂ）／（ｄＬｐ−ｄＬｂ）で算出される値を含むこととすることができる。あるいは、請求項２８に記載の光ディスク装置の如く、前記指標は、前記再生信号を復号する際に検出されるエラーの発生数及びエラーの発生率の少なくとも一方を含むこととすることができる。かかる場合には、新たな回路などを必要とせずに再生信号の品質を判断することが可能となる。
【００５２】
上記請求項２６〜２８に記載の光ディスク装置において、請求項２９に記載の光ディスク装置の如く、前記記録禁止手段にて記録が禁止された場合に、指定された記録速度での記録は不可能であることを示す記録不可情報及び記録可能な最大速度の少なくとも一方を外部装置に出力する出力手段を更に備えることとすることができる。かかる場合には、外部装置あるいはユーザは記録速度を変更する必要があることを認識できるため、記録感度が低い情報記録媒体であっても記録速度を変更して記録品質に優れた記録を行うことが可能となる。
【００５３】
【発明の実施の形態】
《第１の実施形態》
以下、本発明の第１の実施形態を図１〜図８に基づいて説明する。
【００５４】
図１には、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示すブロック図が示されている。
【００５５】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、レーザコントロール回路２４、エンコーダ２５、モータドライバ２７、再生信号処理回路２８、サーボコントローラ３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、ＲＯＭ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。なお、本実施形態では、一例としてＣＤ−Ｒ規格に準拠した情報記録媒体が光ディスク１５として用いられるものとする。
【００５６】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。光ピックアップ装置２３は、一例として図２に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、ビームスプリッタ５４、対物レンズ６０、検出レンズ５８、受光器５９、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ及びシークモータ（いずれも図示省略））などを備えている。
【００５７】
前記光源ユニット５１は、波長が７８０ｎｍの光束を発光する光源としての半導体レーザ（図示省略）を含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット５１から出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｘ方向とする。この光源ユニット５１の＋Ｘ側には、前記コリメートレンズ５２が配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００５８】
コリメートレンズ５２の＋Ｘ側には、光ディスク１５からの戻り光束を−Ｚ方向に分岐するための前記ビームスプリッタ５４が配置されている。このビームスプリッタ５４の＋Ｘ側には、ビームスプリッタ５４を透過した光束を集光し、光ディスク１５の記録面に光スポットを形成するための前記対物レンズ６０が配置されている。
【００５９】
また、ビームスプリッタ５４の−Ｚ側には、ビームスプリッタ５４で分岐された戻り光束を集光する前記検出レンズ５８が配置されている。この検出レンズ５８の−Ｚ側には、前記受光器５９が配置されている。受光器５９としては、通常の光ディスク装置と同様に、４分割受光素子が用いられている。この受光器５９は、光ディスク１５の記録面からの反射光を受光し、通常の光ピックアップ装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む信号を出力する。
【００６０】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明すると、光源ユニット５１から出射された光束は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４を透過した光束は、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面にて反射した反射光は、戻り光束として対物レンズ６０で略平行光とされ、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８を介して受光器５９で受光される。受光器５９からは、受光量に応じた信号が再生信号処理回路２８に出力される。
【００６１】
前記再生信号処理回路２８は、図３に示されるように、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、ＡＴＩＰデコーダ２８ｅ、ＣＤデコーダ２８ｆ、ＣＤ−ＲＯＭデコーダ２８ｇ及びＤ／Ａコンバータ２８ｈなどから構成されている。Ｉ／Ｖアンプ２８ａは受光器５９の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。サーボ信号検出回路２８ｂはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてサーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号）を検出する。検出されたサーボ信号は、再生信号処理回路２８からサーボコントローラ３３に出力される。ウォブル信号検出回路２８ｃはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。ＡＴＩＰデコーダ２８ｅはウォブル信号からＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ Ｔｉｍｅ Ｉｎ Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたＡＴＩＰ情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。ＲＦ信号検出回路２８ｄはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。ＣＤデコーダ２８ｆはＲＦ信号に対して誤り訂正処理等を行う。ＣＤ−ＲＯＭデコーダ２８ｇはＣＤデコーダ２８ｆからの信号に対して更に誤り訂正処理等を行った後、バッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。なお、音楽データの場合にはＣＤデコーダ２８ｆからの信号はＤ／Ａコンバータ２８ｈを介して外部のオーディオ機器などに出力される。
【００６２】
図１に戻り、前記サーボコントローラ３３は、フォーカスエラー信号に基づいて光ピックアップ装置２３のフォーカシングアクチュエータを制御する制御信号を生成し、トラックエラー信号に基づいて光ピックアップ装置２３のトラッキングアクチュエータを制御する制御信号を生成する。各制御信号はサーボコントローラ３３からそれぞれモータドライバ２７に出力される。
【００６３】
前記モータドライバ２７は、サーボコントローラ３３からの制御信号に基づいて、光ピックアップ装置２３のトラッキングアクチュエータ及びフォーカシングアクチュエータを制御する。すなわち、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。なお、記録処理や再生処理などで光ディスク１５をアクセスしているときには、トラッキング制御及びフォーカス制御は随時行われる。また、モータドライバ２７は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２及び光ピックアップ装置２３のシークモータを制御する。
【００６４】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されているデータをバッファマネージャ３７を介して取り出し、エラー訂正コードの付加等を行なうとともに、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。この書き込み信号は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、再生信号処理回路２８からの同期信号に同期してレーザコントロール回路２４に出力される。
【００６５】
前記レーザコントロール回路２４は、図４に示されるように、ＬＤドライバ２４ａ、パルス設定回路２４ｂ及びパワー設定回路２４ｃなどから構成されている。パルス設定回路２４ｂは、ＣＰＵ４０からの指示に基づいて、例えば図５に示されるように、エンコーダ２５からの書き込み信号（ＷＤＡＴＡ）に対して立ち上がりエッジをθだけ前側にずらしてパルス幅を変更する。パワー設定回路２４ｃは、ＣＰＵ４０からの指示に基づいて記録パワーを設定する。ＬＤドライバ２４ａでは、パルス設定回路２４ｂにてパルス調整された書き込み信号（ＷＤ１）及びパワー設定回路２４ｃにて設定された記録パワーに基づいて、光ピックアップ装置２３の半導体レーザの出力を制御する。
【００６６】
図１に戻り、前記インターフェース３８は、ホスト（例えばパーソナルコンピュータ）４９との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ Ｐａｃｋｅｔ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）及びＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等の標準インターフェースに準拠している。
【００６７】
前記ＲＯＭ３９には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された後述する記録条件を設定するプログラム（以下「第１の記録条件設定プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。
【００６８】
前記ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ３９に格納されているプログラムに従って上記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータ等を一時的にＲＡＭ４１に保存する。なお、光ディスク装置２０に電源が投入されると、ＲＯＭ３９に格納されているプログラムは、ＣＰＵ４０のメインメモリ（図示省略）にロードされる。
【００６９】
次に、前述のように構成される光ディスク装置２０において、光ディスク１５に情報を記録する際の最適な記録条件を設定する処理について図６を用いて説明する。図６のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図６のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最適な記録条件を設定する処理がスタートする。なお、本実施形態では、図７に示されるように、光ディスク１５のリードイン領域の内周側とリードアウト領域の外周側にＯＰＣ動作の際に利用できるＰＣＡ領域が設けられているものとする。そして、各ＰＣＡ領域は複数のパーティションを含んで構成されているものとする。
【００７０】
最初のステップ４０１では、リードイン領域の内周側に設けられたＰＣＡ領域（以下「内周ＰＣＡ領域」ともいう）内で試し書き（第１の試し書き：以下「内周ＯＰＣ」ともいう）を行う際の線速度（第１の線速度）として、所定の線速度Ｖｉを設定する。また、その線速度Ｖｉに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値（ここではＰｓｉとする）も設定する。
【００７１】
次のステップ４０３では、内周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第１の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｉでの内周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｉに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。
【００７２】
次のステップ４０５では、従来と同様に、例えば試し書きされたデータを再生し、その再生信号における上下対称性や振幅に基づいて、線速度Ｖｉにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、内周ＯＰＣの結果から最適な記録パワーＰｗｉが得られたものとする。また、このときのパルス幅補正値はθｖｉであるものとする。すなわち、線速度Ｖｉにおける記録ストラテジは（ｎ＋θｖｉ）Ｔとなる。Ｔは記録チャネルクロックの周期であり、例えば１倍速（１５０ｋバイト／秒）の場合には２３１ナノ秒である。また、ｎは３〜１１の整数である。
【００７３】
次のステップ４０７では、内周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。内周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、再生信号の上下対称性や振幅などによって判断される。また、最適な記録パワーが得られたか否かによって判断しても良い。ここでは、最適な記録パワーＰｗｉが得られているので、内周ＯＰＣは正常に終了し、ステップ４０７での判断は肯定され、ステップ４０９に移行する。
【００７４】
このステップ４０９では、リードアウト領域の外周側に設けられたＰＣＡ領域（以下「外周ＰＣＡ領域」ともいう）内で試し書き（第２の試し書き：以下「外周ＯＰＣ」ともいう）を行う際の線速度（第２の線速度）として、所定の線速度Ｖｏを設定する。なお、線速度Ｖｏとしては、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉを超えた値であるとともに、記録線速度（ここではＶｒとする）以上の値に設定される。すなわち、Ｖｉ＜Ｖｒ＜Ｖｏの関係となる。また、その線速度Ｖｏに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値（ここではＰｓｏとする）も設定する。
【００７５】
次のステップ４１１では、外周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第２の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｏでの外周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｏに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。
【００７６】
次のステップ４１３では、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして、線速度Ｖｏにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、外周ＯＰＣの結果から、最適な記録パワーＰｗｏが得られたものとする。また、このときのパルス幅補正値はθｖｏであるものとする。すなわち、線速度Ｖｏにおける記録ストラテジは（ｎ＋θｖｏ）Ｔとなる。
【００７７】
次のステップ４１５では、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。外周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして判断される。ここでは、最適な記録パワーＰｗｏが得られているので、外周ＯＰＣは正常に終了し、ステップ４１５での判断は肯定され、ステップ４１７に移行する。
【００７８】
このステップ４１７では、内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｉでの半導体レーザの発光パワーの平均値（以下、便宜上「平均パワー」ともいう）を算出する。ここでは、先ず、次の（１）式に基づいて、線速度Ｖｉでの書き込み信号におけるハイレベルとローレベルの比率（以下「記録パルス幅比率」ともいう）Ｔｗｉを求める。
【００７９】
Ｔｗｉ＝０．５＋ｄＴｉ ……（１）
【００８０】
ここで、ｄＴｉは線速度Ｖｉでの書き込み信号におけるハイレベルの増加量であり、次の（２）式から算出される。ここで、Ｒ（ｎＴ）は書き込み信号において、幅がｎＴ（ｎ＝３〜１１）のハイレベルが出現する確率である。
【００８１】
【数１】
【００８２】
そして、次の（３）式から線速度Ｖｉでの平均パワーＰａｖｉを算出する。ここで、Ｐｂは再生パワーである。
【００８３】
Ｐａｖｉ＝Ｐｗｉ×Ｔｗｉ＋Ｐｂ×（１−Ｔｗｉ） ……（３）
【００８４】
次のステップ４１９では、外周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｏでの平均パワーを算出する。ここでは、先ず、次の（４）式から線速度Ｖｏでの記録パルス幅比率Ｔｗｏを求める。
【００８５】
Ｔｗｏ＝０．５＋ｄＴｏ ……（４）
【００８６】
ここで、ｄＴｏは線速度Ｖｏでの書き込み信号におけるハイレベルの増加量であり、次の（５）式から算出される。
【００８７】
【数２】
【００８８】
そして、次の（６）式から線速度Ｖｏでの平均パワーＰａｖｏを算出する。
【００８９】
Ｐａｖｏ＝Ｐｗｏ×Ｔｗｏ＋Ｐｂ×（１−Ｔｗｏ） ……（６）
【００９０】
次のステップ４２１では、記録線速度Ｖｒにおける平均パワー（ここではＰａｖｒとする）を次の（７）式に基づいて算出する（図８（Ａ）参照）。
【００９１】
Ｐａｖｒ＝（Ｐａｖｏ−Ｐａｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ）×Ｖｒ＋（Ｐａｖｉ×Ｖｏ−Ｐａｖｏ×Ｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ） ……（７）
【００９２】
次のステップ４２３では、先ず、次の（８）式に基づいて、記録線速度Ｖｒにおけるパルス幅補正値θｖｒを求める（図８（Ｂ）参照）。
【００９３】
θｖｒ＝（θｖｏ−θｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ）×Ｖｒ＋（θｖｉ×Ｖｏ−θｖｏ×Ｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ） ……（８）
【００９４】
次に、次の（９）式に基づいて、パルス幅補正値θｖｒから記録線速度Ｖｒにおける記録パルス幅比率Ｔｗｒを求める。
【００９５】
【数３】
【００９６】
そして、次の（１０）式に基づいて、記録線速度Ｖｒにおける最適な記録パワーＰｗｒを算出する。
【００９７】
Ｐｗｒ＝（Ｐａｖｒ−Ｐｂ×（１−Ｔｗｒ））／Ｔｗｒ ……（１０）
【００９８】
次のステップ４２５では、記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。
【００９９】
次のステップ４２７では、算出された最適な記録パワーＰｗｒが所定の値未満であるか否かを判断する。ここで最適な記録パワーＰｗｒが所定の値未満であれば、ステップ４２５での判断は肯定され、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１００】
一方、ステップ４２７において、最適な記録パワーＰｗｒが所定の値以上であれば、ステップ４２７での判断は否定され、ステップ４２９に移行する。
【０１０１】
このステップ４２９では、以降の記録方式をＣＬＶ方式に設定する。すなわち、以降の記録は線速度Ｖｒで行われることとなる。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１０２】
なお、ステップ４０７において、内周ＯＰＣが正常に終了しなければ、ステップ４０７での判断は否定され、ステップ４３５に移行する。
【０１０３】
このステップ４３５では、内周ＯＰＣの線速度Ｖｉを１段階減速し、新たな内周ＯＰＣの線速度Ｖｉとする。そして、前述したステップ４０３に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１０４】
また、ステップ４１５において、外周ＯＰＣが正常に終了しなければ、ステップ４１５での判断は否定され、ステップ４３７に移行する。
【０１０５】
ステップ４３７では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｏを１段階減速し、新たな外周ＯＰＣの線速度Ｖｏとする。そして、前述したステップ４１１に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１０６】
上記の如くして、記録条件を設定する処理が終了すると、ホスト４９からの記録データを指定された記録領域に記録するための記録処理に移行する。ここで、記録処理について簡単に説明する。
【０１０７】
ＣＰＵ４０は、記録速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をモータドライバ２７に出力する。また、ＣＰＵ４０は、ホスト４９から受信した記録データをバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に蓄積する。
【０１０８】
そして、ＣＰＵ４０は、再生信号処理回路２８からのＡＴＩＰ情報に基づいて、指定された書き込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するように光ピックアップ装置２３のシークモータを制御する信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１０９】
ＣＰＵ４０は、バッファマネージャ３７からバッファＲＡＭ３４に蓄積されたデータ量が所定量を超えたとの通知を受けると、エンコーダ２５に書き込み信号の生成を指示する。これにより、ホスト４９からの記録データに対応する書き込み信号が生成される。
【０１１０】
そして、ＣＰＵ４０はＡＴＩＰ情報に基づいて光ピックアップ装置２３の位置が書き込み開始地点であると判断すると、エンコーダ２５に書き込み開始を指示する。これにより、エンコーダ２５、レーザコントロール回路２４及び光ピックアップ装置２３を介して、ホスト４９からの記録データは、前述の如くして設定された最適な記録条件に基づいて、指定された記録領域に記録されることとなる。
【０１１１】
次に、ホスト４９からの再生要求コマンドを受信した際の、光ディスク装置２０の処理動作について簡単に説明する。
【０１１２】
ＣＰＵ４０はホスト４９から再生要求のコマンドを受信すると、再生速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をモータドライバ２７に出力する。ＣＰＵ４０は、再生信号処理回路２８からのＡＴＩＰ情報に基づいて、指定された読み込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御する信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１１３】
ＣＰＵ４０はＡＴＩＰ情報に基づいて、光ピックアップ装置２３の位置が読み込み開始地点であると判断すると、再生信号処理回路２８に通知する。これにより、再生信号処理回路２８は、受光器５９の出力信号に基づいてＲＦ信号を検出し、誤り訂正処理等を行った後、バッファＲＡＭ３４に蓄積する。バッファマネージャ３７は、バッファＲＡＭ３４に蓄積された再生データがセクタデータとして揃ったときに、インターフェース３８を介してホスト４９に転送する。
【０１１４】
以上の説明から明らかなように、本第１の実施形態では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、試し書き手段、第１の平均値算出手段、第２の平均値算出手段、記録条件設定手段、及び記録手段が実現されている。すなわち、図６のステップ４０１〜４０５及びステップ４０９〜４１３の処理によって試し書き手段が、ステップ４１７及び４１９の処理によって第１の平均値算出手段が、ステップ４２１の処理によって第２の平均値算出手段が、ステップ４２３及び４２５の処理によって記録条件設定手段が、それぞれ実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記第１の実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１１５】
また、本第１の実施形態では、ＲＯＭ３９にインストールされているプログラムのうち、図６のフローチャートで示される処理に対応するプログラムによって前記第１の記録条件設定プログラムが構成されている。
【０１１６】
そして、図６のステップ４０１〜４０５及びステップ４０９〜４１３の処理によって請求項１に記載の発明に係る記録条件設定方法の第１工程が実施され、ステップ４１７及び４１９の処理によって第２工程が実施され、ステップ４２１の処理によって第３工程が実施され、ステップ４２３及び４２５の処理によって第４工程が実施されている。
【０１１７】
以上説明したように、本第１の実施形態に係る光ディスク装置及び記録条件設定方法によると、線速度Ｖｉで内周ＯＰＣが行われ、線速度Ｖｏ（＞Ｖｉ）で外周ＯＰＣが行われる。次に、内周ＯＰＣの結果に基づいて線速度Ｖｉにおける平均パワーが算出され、外周ＯＰＣの結果に基づいて線速度Ｖｏにおける平均パワーが算出される。そして、線速度Ｖｉにおける平均パワーと線速度Ｖｏにおける平均パワーとに基づいて、記録線速度Ｖｒにおける平均パワーが算出される。続いて、その算出結果に基づいて記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーが求められ、さらにその記録パワーに基づいて記録線速度Ｖｒでの記録条件が決定される。すなわち、平均パワーには記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【０１１８】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉと外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏとは、互いに異なっているために、任意の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１１９】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉよりも外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏのほうが大きくなるように設定されているために、線速度と記録条件との関係を精度良く求めることができる。
【０１２０】
また、本第１の実施形態によると、外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏが記録線速度Ｖｒ以上となるように設定されているために、記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２１】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合には、線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを行っている。これにより、内周ＯＰＣによって得られた情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２２】
また、本第１の実施形態によると、外周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合には、線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを行っている。これにより、外周ＯＰＣによって得られた情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２３】
また、本第１の実施形態によると、算出された記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーＰｗｒが所定の値以上となる場合には、それ以降の記録をＣＬＶ方式に設定している。これにより、記録感度の低い光ディスクに対しても良好な品質の記録を安定して行うことができる。また、最大出力の低い半導体レーザが用いられても良好な品質の記録を安定して行うことができる。さらに、例えば所定の値を半導体レーザの定格パワーの最大値近傍の値とすることにより、記録パワーが定格パワーの最大値以上となることを防止できるため、半導体レーザの劣化を抑制することが可能となる。
【０１２４】
また、本第１の実施形態に係る光ディスク装置によると、光ディスクへの高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるため、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【０１２５】
なお、上記第１の実施形態では、内周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合に、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行する場合について説明したが、これに限らず、例えば内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行しても良い。また、内周ＯＰＣが正常に終了しても、内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合には、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行しても良い。なお、減速は必ずしも１段階でなくても良い。例えば内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーと所定の値との差に応じて減速量を変更しても良い。
【０１２６】
また、上記第１の実施形態では、外周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合に、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行する場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行しても良い。また、外周ＯＰＣが正常に終了しても、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合には、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行しても良い。なお、減速は必ずしも１段階でなくても良い。例えば外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーと所定の値との差に応じて減速量を変更しても良い。
【０１２７】
また、上記第１の実施形態において、例えば内周ＯＰＣが正常に終了することが確実な場合には、内周ＯＰＣが正常に終了したか否かの判断（図６のステップ４０７）を省略しても良い。すなわち、ステップ４０７での処理をスキップし、ステップ４０５から直ちにステップ４０９に移行しても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。
【０１２８】
同様に、上記第１の実施形態において、外周ＯＰＣが正常に終了することが確実な場合には、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かの判断（図６のステップ４１５）を省略しても良い。すなわち、ステップ４１５での処理をスキップし、ステップ４１３から直ちにステップ４１７に移行しても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。
【０１２９】
また、上記第１の実施形態では、２ヶ所でのＯＰＣの結果に基づいて、記録線速度での最適な記録パワーを求める場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。例えば内周ＯＰＣの結果のみに基づいて、記録線速度での最適な記録パワーを求めても良い。この場合には、平均パワーＰａｖｒは上記（７）式の代わりに次の（１１）式に基づいて算出される。また、パルス幅補正値θｖｒは上記（８）式の代わりに次の（１２）式に基づいて算出される。ここで、ｋは過去の経験、実験及び理論計算などから決定される定数である。
【０１３０】
Ｐａｖｒ＝（Ｖｒ／Ｖｉ）×Ｐａｖｉ ……（１１）
【０１３１】
θｖｒ＝（Ｖｒ−Ｖｉ）×ｋ＋θｖｉ ……（１２）
【０１３２】
そこで、内周ＯＰＣの結果のみに基づいて、記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを求める場合について、図９のフローチャートを用いて以下に説明する。図９のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【０１３３】
図９のステップ５０１から５０５では、前述したステップ４０１〜４０５と同じ処理を行う。
【０１３４】
次のステップ５０７では、前述したステップ４０７と同様にして内周ＯＰＣが正常終了したか否かを判断し、正常終了していれば、ステップ５０７での判断は肯定され、ステップ５０９に移行する。
【０１３５】
このステップ５０９では、前述したステップ４１７と同様にして内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｉでの平均パワーを算出する。
【０１３６】
次のステップ５１１では、上記（１１）式に基づいて、記録線速度Ｖｒでの平均パワーＰａｖｒを算出する。
【０１３７】
次のステップ５１３では、先ず上記（１２）式に基づいて、記録線速度Ｖｒでのパルス幅補正値θｖｒを求める。そして、前述したステップ４２３と同様にして記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを算出する。
【０１３８】
なお、ステップ５１５、５１７、５１９及び５２１では、それぞれ前述したステップ４２５、４２７、４２９、４３５と同じ処理を行う。
【０１３９】
これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。さらに、試し書き領域を節約することができる。そこで、例えば記録するデータ量に応じて外周ＯＰＣを行うか否かを判断しても良い。あるいは、内周ＯＰＣでの線速度と記録線速度との差が所定の値よりも小さい場合に外周ＯＰＣを省略しても良い。
【０１４０】
また、例えば外周ＯＰＣで有効な結果を得ることができなかったときに、上記（１１）式及び（１２）式を用いて、内周ＯＰＣの結果にみに基づいて記録線速度での最適な記録パワーを求めても良い。
【０１４１】
また、上記第１の実施形態では、算出された記録線速度での最適な記録パワーが所定の値未満か否かを判断（図６のステップ４２７）し、所定の値未満でないときは、記録方式をＣＬＶ方式に設定する（図６のステップ４２９）場合について説明したが、例えば算出される最適な記録パワーが所定の値未満であることが確実な場合には、図６のステップ４２７及び４２９の処理を省略しても良い。
【０１４２】
また、上記第１の実施形態では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｏを記録線速度Ｖｒ以上となるように設定する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０１４３】
また、上記第１の実施形態では、記録速度に応じて外周ＯＰＣの線速度が設定される場合について説明したが、これに限らず、例えばホスト４９から指定された線速度で外周ＯＰＣを行っても良い。これにより、例えばユーザは、情報記録媒体の種類毎に、安定した外周ＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となり、最適な記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができる。
【０１４４】
また、上記第１の実施形態では、前記第１の記録条件決定プログラムは、ＲＯＭ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、各ドライブ装置から第１の記録条件設定プログラムをインストールすることとなる。要するに、第１の記録条件設定プログラムがＣＰＵ４０のメインメモリにロードされれば良い。
【０１４５】
《第２の実施形態》
以下、本発明の第２の実施形態を図１０に基づいて説明する。
【０１４６】
この第２の実施形態は、最適な記録条件を設定する処理が上記第１の実施形態と異なる点に特徴を有する。なお、その他、光ピックアップ装置、光ディスク装置の構成などは、前述した第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、第１の実施形態との相違点を中心に説明するとともに、前述した第１の実施形態と同一若しくは同等の構成部分については同一の符号を用いるとともに、その説明を簡略化し若しくは省略するものとする。また、前提条件は上記第１の実施形態と同様であるものとする。
【０１４７】
そこで、ＲＯＭ３９には、上記第１の記録条件設定プログラムの代わりに、第２の記録条件設定プログラムが格納されている。
【０１４８】
ここで、最適な記録条件を設定する処理について図１０を用いて説明する。図１０のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図１０のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最適な記録条件を設定する処理がスタートする。
【０１４９】
最初のステップ６０１では、内周ＰＣＡ領域内で試し書き（第１の試し書き）を行う際の線速度（第１の線速度）として、所定の線速度Ｖｉを設定する。また、その線速度Ｖｉに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値Ｐｓｉも設定する。
【０１５０】
次のステップ６０３では、内周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第１の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｉでの内周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｉに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。ここでは、一例として発光パワーの変動幅を基準値の±２５％とする。
【０１５１】
次のステップ６０５では、従来と同様に、例えば試し書きされたデータを再生し、その再生信号における上下対称性や振幅に基づいて、線速度Ｖｉにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、内周ＯＰＣの結果から最適な記録パワーＰｗｉが得られたものとする。
【０１５２】
次のステップ６０７では、外周ＰＣＡ領域内で試し書き（第２の試し書き）を行う際の線速度（第２の線速度）として、本実施形態では記録線速度と同じ線速度Ｖｒ（＞Ｖｉ）を設定する。
【０１５３】
次のステップ６０９では、内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒにおける半導体レーザの発光パワーの基準値（以下「基準パワー」ともいう）を設定する。ここでは、次の（１３）式を用いて基準パワーＰｏｐを求める。同時に、次の（１４）式を用いてパルス幅補正値θｖｒを算出する。ここで、ｋ’は過去の経験、実験及び理論計算などにより決定される定数である。
【０１５４】
Ｐｏｐ＝（Ｖｒ／Ｖｉ）×Ｐｗｉ ……（１３）
【０１５５】
θｖｒ＝（Ｖｒ−Ｖｉ）×ｋ’＋θｖｉ ……（１４）
【０１５６】
なお、上記（１３）式及び（１４）式は一例であり、これらに限定されるものではなく、例えば、種々の実験結果に統計処理を施して得られた多項式を用いても良い。
【０１５７】
次のステップ６１１では、リトライカウンタｍに１をセットし初期化する。
【０１５８】
次のステップ６１３では、外周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第２の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｒでの外周ＯＰＣ（第２の試し書き）を実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを基準パワーＰｏｐに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。ここでは、一例として発光パワーの変動幅を基準パワーの±５％とする。すなわち、外周ＯＰＣでの発光パワーの変動ステップは内周ＯＰＣでの発光パワーの変動ステップよりも小さく設定されることとなる。
【０１５９】
次のステップ６１５では、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして、線速度Ｖｒにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、外周ＯＰＣの結果から、最適な記録パワーＰｗｒが得られたものとする。
【０１６０】
次のステップ６１７では、得られた最適な記録パワーＰｗｒと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下であるか否かを判断する。ここで、最適な記録パワーＰｗｏと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下でなければ、ステップ６１７での判断は否定されステップ６１９に移行する。
【０１６１】
このステップ６１９では、リトライカウンタｍをインクリメント（＋１）する。
【０１６２】
次のステップ６２１では、リトライカウンタｍが予め設定されている所定回数以下であるか否かを判断する。ここで、リトライカウンタｍが所定回数以下であれば、ステップ６２１での判断は肯定されステップ６２３に移行する。
【０１６３】
このステップ６２３では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｒを１段階減速し、新たな外周ＯＰＣの線速度Ｖｒとする。そして、前述したステップ６１３に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１６４】
なお、ステップ６２１において、リトライカウンタｍが所定回数以下でなければ、ステップ６２１での判断は否定されステップ６０３に戻る。すなわち、内周ＯＰＣでの結果に異常があるとして、再度内周ＯＰＣを行う。
【０１６５】
また、ステップ６１７において、最適な記録パワーＰｗｒと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下であれば、ステップ６１７での判断は肯定されステップ６３１に移行する。
【０１６６】
このステップ６３１では、最適な記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。
【０１６７】
以上の説明から明らかなように、本第２の実施形態では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、第１の試し書き手段、基準値取得手段、第２の試し書き手段、記録条件設定手段、及び記録手段が実現されている。すなわち、図１０のステップ６０１〜６０５の処理によって第１の試し書き手段が、ステップ６０７及び６０９の処理によって基準値取得手段が、ステップ６１３の処理によって第２の試し書き手段が、ステップ６１５及び６３１の処理によって記録条件設定手段が、それぞれ実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記第２の実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１６８】
また、本第２の実施形態では、ＲＯＭ３９にインストールされているプログラムのうち、図１０のフローチャートで示される処理に対応するプログラムによって前記第２の記録条件設定プログラムが構成されている。
【０１６９】
そして、図１０のステップ６０１〜６０５の処理によって請求項７に記載の発明に係る記録条件設定方法の第１工程が実施され、ステップ６０７及び６０９の処理によって第２工程が実施され、ステップ６１３の処理によって第３工程が実施され、ステップ６１５及び６３１の処理によって第４工程が実施されている。
【０１７０】
以上説明したように、本第２の実施形態に係る光ディスク装置及び記録条件設定方法によると、線速度Ｖｉで内周ＯＰＣが行われ、その内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒ（＞Ｖｉ）での外周ＯＰＣにおける基準パワーＰｏｐが求められる。次に、基準パワーＰｏｐに基づいて線速度Ｖｒでの外周ＯＰＣが行われる。そして、外周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒでの最適な記録パワーが求められ、その記録パワーに基づいて記録条件が決定される。すなわち、線速度Ｖｉでの試し書きの結果に基づいて線速度Ｖｒでの基準パワーＰｏｐを求めているために、その基準パワーＰｏｐと線速度Ｖｒでの最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、外周ＯＰＣの結果から求められる線速度Ｖｒでの最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【０１７１】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーＰｗｏと外周ＯＰＣでの基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以上の場合に、リトライカウンタｍの値が所定の値以下であれば、同じ条件で再度外周ＯＰＣを実行している。これにより、例えば突発的なノイズの影響を除去することができる。
【０１７２】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーＰｗｏと外周ＯＰＣでの基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以上の場合に、リトライカウンタｍの値が所定の値を超えると、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行している。これにより、外周ＯＰＣによって得られる情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録条件を精度良く求めることが可能となる。
【０１７３】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲は、内周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲よりも小さく設定されている。これにより、外周ＯＰＣでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。すなわち、測定精度を向上させることができる。
【０１７４】
また、本第２の実施形態に係る光ディスク装置によると、光ディスクへの高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるため、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【０１７５】
なお、上記第２の実施形態では、前記第２の記録条件設定プログラムは、ＲＯＭ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、各ドライブ装置から第２の記録条件設定プログラムをインストールすることとなる。要するに、第２の記録条件設定プログラムがＣＰＵ４０のメインメモリにロードされれば良い。
【０１７６】
なお、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣでの線速度と記録線速度とが一致する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。そして、この場合には、内周ＯＰＣの結果と外周ＯＰＣの結果に基づいて、記録線速度での最適な記録条件が設定されることとなる。
【０１７７】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲が、内周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲よりも小さい場合について説明したが、これに限らず、例えば同じであっても良い。
【０１７８】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣで使用されるフレーム数と内周ＯＰＣで使用されるフレーム数とが互いに等しい場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣで使用されるフレーム数を内周ＯＰＣで使用されるフレーム数よりも少なくしても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができるとともに、試し書き領域を有効に利用することが可能となる。
【０１７９】
また、上記第２の実施形態において、外周ＯＰＣの線速度が所定の線速度以上の場合には、外周ＯＰＣ領域における２フレーム毎に半導体レーザの発光パワーを変化させても良い。これにより、外周ＯＰＣでは更に精度良く最適な記録パワーを求めることができる。
【０１８０】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣによって得られた最適な記録パワーとそのときの基準パワーとの差が所定の値以下のときに、記録条件を設定する場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣが正常に終了したときに記録条件を設定しても良い。この場合について図１１のフローチャートを用いて以下に説明する。図１１のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図１１のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理がスタートする。
【０１８１】
最初のステップ７０１では、光ディスク１５におけるリードイン開始時間をＡＴＩＰ情報から抽出する。
【０１８２】
次のステップ７０３では、予めＲＯＭ３９に格納されているリードイン開始時間とベンダコードとの対応テーブルを参照し、光ディスク１５のベンダコードを取得する。
【０１８３】
次のステップ７０５〜７１３では、前述したステップ６０１〜６０９と同様な処理を行う。
【０１８４】
次のステップ７１５及び７１７では、前述したステップ６１３及び６１５と同様な処理を行う。
【０１８５】
次のステップ７１９では、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。外周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、再生信号の上下対称性や振幅などによって判断される。また、最適な記録パワーが得られたか否かによって判断しても良い。ここで、外周ＯＰＣが正常に終了していれば、ステップ７１９での判断は肯定され、ステップ７２１に移行する。
【０１８６】
このステップ７２１では、最適な記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１８７】
一方、ステップ７１９において、外周ＯＰＣが正常に終了していなければ、ステップ７１９での判断は否定され、ステップ７２３に移行する
【０１８８】
このステップ７２３では、基準パワーＰｏｐをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１８９】
以上の説明から明らかなように、この場合では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって識別情報取得手段が実現されている。
【０１９０】
なお、基準パワーＰｏｐをパワー設定回路２４ｃに出力した場合には、記録終了後に、記録されたデータ（以下、便宜上「直前記録データ」という）の記録品質を監視することが望ましい。なお、このときには、図１２に示されるように、再生信号処理回路２８の代わりに、ＲＦ信号のピークレベルを検出するためのピークレベル検出回路２８ｉと、ＲＦ信号のボトムレベルを検出するためのボトムレベル検出回路２８ｊとが付加された再生信号処理回路２８’が用いられることとなる。この記録品質監視処理について図１３のフローチャートを用いて以下に説明する。図１３のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えば記録が終了すると、図１３のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録品質監視処理がスタートする。
【０１９１】
最初のステップ８０１では、光ディスク１５が所定の再生速度で回転するようにモータドライバ２７に指示するとともに、直前記録データが記録された領域の先頭に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御する制御信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１９２】
次のステップ８０３では、再生信号処理回路２８に記録品質のチェックを指示する。これにより、光ディスク１５の線速度が安定すると、再生信号処理回路２８では、ＲＦ信号検出回路２８ｄにて光ピックアップ装置２３からの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出し、ピークレベル検出回路２８ｅ及びボトムレベル検出回路２８ｆにてＲＦ信号のピークレベル（Ｌｐ１とする）及びボトムレベル（Ｌｂ１とする）をそれぞれ取得する。そして、そのピークレベルＬｐ１とボトムレベルＬｂ１は再生信号処理回路２８からＣＰＵ４０に出力される。
【０１９３】
次のステップ８０５では、ピークレベルＬｐ１とボトムレベルＬｂ１とをＡ／Ｄ変換し、次の（１５）式に基づいて、再生信号の品質の指標となるいわゆるβ値を算出する。なお、（１５）式におけるｄＬｐ１及びｄＬｂ１は、それぞれピークレベルＬｐ１及びボトムレベルＬｂ１をＡ／Ｄ変換した値である。
【０１９４】
β＝（ｄＬｐ１＋ｄＬｂ１）／（ｄＬｐ１−ｄＬｂ１） ……（１５）
【０１９５】
次のステップ８０７では、算出したβ値が所定の基準を満たすか否かを判断する。ここで、算出したβ値が所定の基準を満たさなければ、ステップ８０７での判断は否定され、ステップ８０９に移行する。
【０１９６】
このステップ８０９では、光ディスク１５に対して、直前記録データが記録されたときの記録速度（以下、便宜上「直前記録速度」という）での記録を以後、禁止するために、光ディスク１５のベンダコードと直前記録速度とを含む記録禁止情報を不図示の不揮発メモリに記録する。
【０１９７】
次のステップ８１１では、直前記録速度では良好な記録は不可能であることを示すエラー情報及び記録可能な最大記録速度情報をホスト４９に通知する。そして、記録品質監視処理を終了する。これにより、ユーザは、その速度では所定の記録品質を得ることができないことを認識でき、以降は記録速度を遅くして記録を要求することができる。従って、光ディスクを有効に利用することが可能となる。また、ユーザはそのベンダの光ディスクにおける最大記録速度を知ることができるため、以降の記録処理が順調に行われることとなる。
【０１９８】
一方、ステップ８０７において、算出したβ値が所定の基準を満たせば、ステップ８０７での判断は肯定され、記録品質監視処理を終了する。
【０１９９】
ここでは、再生信号から算出されたβ値を用いて、再生信号の品質を判断しているために、精度良く記録品質を判断することができる。また、記録品質を判断するための新たな装置などを必要としないため、高コスト化を防止することが可能となる。
【０２００】
なお、再生信号の品質の指標としては、β値に限定されるものではなく、例えば、ＣＤデコーダ２８ｆでのＣ１復号時のエラー（Ｃ１エラー）及びＣ２復号時のエラー（Ｃ２エラー）の数を求め、そのエラーの数を再生信号の品質の指標としても良い。また、そのエラーの数と再生したセクタ数とから算出されるエラーの発生率（エラーレート）を再生信号の品質の指標としても良い。勿論、Ｃ１エラー及びＣ２エラーの数が多ければ、再生信号の品質が悪いと判断される。すなわち、再生データそのものから記録品質を判断しているため、精度良く記録品質を判断することができる。また、この場合でも記録品質を判断するための新たな装置などを必要としないため、高コスト化を防止することが可能となる。
【０２０１】
以上の説明から明らかなように、この場合には、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、品質取得手段、判別手段、記録禁止手段、及び出力手段が実現されている。
【０２０２】
また、記録禁止情報を不図示の不揮発メモリに格納することにより、ホスト４９から書き込み要求コマンドを受信したときに、指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断することができる。この場合の処理（以下、便宜上「記録可否判断処理」という）について図１４のフローチャートを用いて以下に説明する。なお、光ディスク１５のベンダコードはすでに前述の如くして取得されているものとする。図１４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から書き込み要求コマンドを受信したときに、記録条件の設定処理に先だって、図１４のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録可否判断処理がスタートする。
【０２０３】
最初のステップ９０１では、ホスト４９から指定された記録速度を抽出する。なお、記録速度は通常では、書き込み要求コマンドに先だってホスト４９から送信される。
【０２０４】
次のステップ９０３では、不図示の不揮発メモリに格納されている記録禁止情報を参照して、光ディスク１５に対して指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断する。すなわち、光ディスク１５のベンダコードをキーとして記録禁止情報を検索し、光ディスク１５における記録が禁止されている記録速度（禁止記録速度）を抽出する。そして、抽出された禁止記録速度と指定された記録速度とを比較して指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断する。ここで、記録が不可能であれば、ステップ９０３での判断は否定され、ステップ９０５に移行する。
【０２０５】
このステップ９０５では、指定された記録速度での記録を禁止する。そして、指定された記録速度での記録が不可能であることを示すエラーコードを設定し、記録可能な最大記録速度とともにホスト４９に通知する。
【０２０６】
次のステップ９０７では、記録可能な最大記録速度を記録速度に設定し、記録可否判断処理を終了する。なお、この場合には、ホスト４９からの指示待ちとなる。
【０２０７】
一方、ステップ９０５において、指定された記録速度での記録が可能であれば、記録可否判断処理を終了し、記録処理に移行する。
【０２０８】
このように、ベンダコードと禁止記録速度とを含む記録禁止情報が不揮発メモリ（不図示）に記録されていることにより、記録要求コマンドを受信した際に記録禁止情報を参照し、即座に記録可能であるか否かを判断することができる。すなわち、過去の経験から記録品質が悪いと予想される記録速度での記録を禁止することにより、光ディスクを無駄にすることを防止できる。
【０２０９】
また、上記各実施形態では、リードアウト領域の外周側に試し書き領域を設定し、その領域を利用して外周ＯＰＣを行う場合について説明したが、これに限らず、例えば内周ＰＣＡ領域内の外周側、すなわち、リードイン領域に近い領域を利用して外周ＯＰＣを行っても良い。
【０２１０】
また、上記各実施形態では、光ディスクがＣＤ−Ｒの場合について説明したが、これに限定されるものではなく、光源をパルス発光して情報を記録する情報記録媒体であれば良い。
【０２１１】
また、上記各実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の記録が可能な光ディスク装置であれば良い。
【０２１２】
また、上各実施形態では、光源が１つの場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。
【０２１３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る記録条件設定方法によれば、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるという効果がある。
【０２１４】
また、本発明に係るプログラム及び記録媒体によれば、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるという効果がある。
【０２１５】
また、本発明に係る光ディスク装置によれば、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図３】図１における再生信号処理回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図４】図１におけるレーザコントロール回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図５】パルス幅補正値を説明するための図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る記録条件設定処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】内周側ＯＰＣ領域及び外周側ＯＰＣ領域を説明するための図である。
【図８】図８（Ａ）及び図８（Ｂ）は、それぞれ内周ＯＰＣの結果と外周ＯＰＣの結果とから記録速度Ｖｒでの平均パワー及びパルス幅補正値を算出する方法を説明するための図である。
【図９】内周ＯＰＣの結果のみから記録速度Ｖｒでの最適な記録パワー及びパルス幅補正値を算出する場合を説明するためのフローチャートである。
【図１０】本発明の第２の実施形態に係る記録条件設定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１１】本発明の第２の実施形態に係る記録条件設定処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【図１２】記録品質を監視する場合に用いられる再生信号処理回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図１３】記録品質を監視する処理を説明するためのフローチャートである。
【図１４】記録禁止情報に基づいて記録の可否判断を行う処理を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１５…光ディスク（情報記録媒体）、２０…光ディスク装置（光ディスク装置）、３９…ＲＯＭ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（試し書き手段、第１の平均値算出手段、第２の平均値算出手段、記録条件設定手段、記録手段、第１の試し書き手段、第２の試し書き手段、識別情報取得手段、品質取得手段、判別手段、記録禁止手段、出力手段）。
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録条件設定方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、スパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定方法、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、並びに情報記録媒体に情報を記録する光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータは、その機能が向上するに伴い、音楽や映像といったＡＶ（Ａｕｄｉｏ−Ｖｉｓｕａｌ）情報を取り扱うことが可能となってきた。これらＡＶ情報の情報量は非常に大きいために、情報記録媒体としてＣＤ（ｃｏｍｐａｃｔ ｄｉｓｃ）やＤＶＤ（ｄｉｇｉｔａｌ ｖｅｒｓａｔｉｌｅ ｄｉｓｃ）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスク装置がパーソナルコンピュータの周辺機器の一つとして普及するようになった。光ディスク装置では、光ディスクのスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光の微小スポットを照射することにより情報の記録及び消去を行い、記録面からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。そして、光ディスク装置には、情報記録媒体の記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するために、光ピックアップ装置が設けられている。
【０００３】
通常、光ピックアップ装置は、レーザ光を所定の発光パワー（出力）で出射する光源、その光源から出射されるレーザ光を情報記録媒体の記録面に導くとともに、記録面で反射されたレーザ光を所定の受光位置まで導く光学系、及びその受光位置に配置された受光素子などを備えている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク（ピット）領域及びスペース領域と呼ばれる２つの領域のそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。そこで、光ディスクに情報を記録する際には所定の位置にマーク領域及びスペース領域がそれぞれ形成されるように光源の発光パワーが制御される。
【０００５】
例えば、記録層に有機色素を含むＣＤ−Ｒ（ＣＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）及びＤＶＤ＋Ｒ（ＤＶＤ＋ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）などの追記型の光ディスクでは、マーク領域を形成するときには発光パワーを高くして色素を加熱及び溶解し、そこに接している基板部分を変質・変形させている。一方、スペース領域を形成するときには基板が変質・変形しないように発光パワーを再生時と同程度に小さくしている。これにより、マーク領域ではスペース領域よりも反射率が低くなる。なお、以下では、マーク領域を形成する時の発光パワーを記録パワーともいう。
【０００６】
しかしながら、同じように記録層に有機色素を含む光ディスクであっても、メーカ（ベンダ）によって、有機色素の種類、記録層の厚さ及びトラックピッチの幅などが若干異なっている。このことは、記録パワーが同じであっても、光ディスクによっては必ずしも予定した形状のマーク領域が形成されるとは限らないことを意味している。情報の記録時に予定した形状のマーク領域が形成されないと、その情報を正確に再生することが困難となり、いわゆる記録品質が低下することとなる。
【０００７】
そこで、追記型の光ディスクには、その光ディスクに最適な記録パワーを検出するための試し書き領域が設けられている。この領域はパワーキャリブレーションエリア（Ｐｏｗｅｒ Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ Ａｒｅａ：以下「ＰＣＡ」という）と呼ばれている。例えばＣＤ−Ｒでは、ＰＣＡ領域は１００個のパーティションに分割されたテストエリアを有している。そして、テストエリアの各パーティションは１５個のフレームで構成されている。通常、光ディスク装置では、追記型の光ディスクに情報を記録する際に、１つのパーティションを用いて、一定の線速度でフレーム毎に記録パワーを所定の基準値（基準パワー）を中心として所定のステップで段階的に変化させて所定のデータを試し書きし、その中で最も高い記録品質を示した記録パワーを最適な記録パワーと決定する、いわゆるＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）処理が行われている。
【０００８】
線密度一定で情報が記録される光ディスクの場合には、通常、一定の線速度（ＣＬＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ｌｉｎｅａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）で光ディスクを回転させながら記録するため、記録面とレーザ光との相対速度はいつも一定である。そこで、ＯＰＣによって決定された記録パワーを用いて、記録面の全面に情報を記録しても記録品質の低下を生じることはない。
【０００９】
しかしながら、記録速度の高速化に伴い、上記ＣＬＶ方式では内周側に行くほど回転数を高くする必要があるので、モータコストが高くなったり、騒音、振動が増えたり、その他のサーボシステムの設計も困難になってくる。そこで、内周側での回転数をあまり上げないかわりに、外周側でもあまり回転数を下げないようにする方式がとられる場合がある。特に回転数が一定の場合はＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ Ａｎｇｕｌａｒ Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式と呼ばれている。このＣＡＶ方式では、線速度は回転中心からの距離に比例して大きくなる。
【００１０】
また、記録領域を適当な位置で複数のゾーンに分割し、各ゾーン内ではＣＬＶ方式とし、外周側のゾーンほど大きい線速度とする、いわゆるゾーンＣＬＶ（ＺＣＬＶ：Ｚｏｎｅ ＣＬＶ）方式もある。ＣＡＶ方式及びＺＣＬＶ方式のいずれにしても、試し書きを行う際の線速度と、実際に情報を記録する際の線速度とは異なる場合が生じる。従って、ＯＰＣによって決定された記録パワーが、必ずしも最適な記録パワーとならない場合があるという不都合があった。
【００１１】
この不都合を改善するために、例えば特開２０００−２００４１６号公報（以下「第１の公知例」という）には、ＣＡＶ方式で光ディスクの記録領域にデータの追記又は書き換えを行なう際に、データの書き込み位置での線速度と同一の線速度でＯＰＣを行う光ディスク装置が開示されている。
【００１２】
また、例えば特開平９−２８８８２５号公報（以下「第２の公知例」という）には、ＺＣＬＶ方式で光ディスクの記録領域にデータを記録する際に、データが記録されるゾーンにおける記録パワー分布を補正する光ディスク装置が開示されている。この光ディスク装置では、ゾーン毎に少なくとも２ヶ所の試し書き領域を設定し、これらの試し書き領域での試し書きにより得られるそれぞれの最適な記録パワーを用いて、各ゾーン内での記録パワー分布を補正している。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、光ディスクの内周部では、試し書きが可能な線速度に制限があるために、上述した第１の公知例に開示されている光ディスク装置では、記録時の線速度（以下「記録線速度」という）が大きくなると、記録線速度での最適な記録パワーを求めることができないおそれがあった。また、記録線速度が記録途中で変わる場合には、複数の線速度で試し書きを行なうため、記録処理に要する時間が長くなるいう不都合があった。
【００１４】
また、最適な記録パワーは、記録時における光源の駆動信号（「記録パルス」ともいう）のパルス幅によって大きく異なる。この記録パルスの形状は記録ストラテジとも呼ばれ、記録品質に大きな影響を与える。一般的に、この記録ストラテジは線速度によって異なっている。しかしながら、上述した第２の公知例に開示されている光ディスク装置では、線速度による記録ストラテジの違いを考慮せずに、異なる線速度での試し書きによって得られたそれぞれの最適な記録パワーのみに基づいて記録パワー分布を補正しているために、補正後の記録パワー分布が必ずしも最適な記録パワー分布ではない場合があるという不都合があった。
【００１５】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができる記録条件設定方法を提供することにある。
【００１６】
また、本発明の第２の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるプログラム及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【００１７】
また、本発明の第３の目的は、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができる光ディスク装置を提供することにある。
【００１８】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１工程と；前記第１工程における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２工程と；前記第２工程で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３工程と；前記第３工程で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記任意の線速度での記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法である。
【００１９】
これによれば、記録条件の設定に際して、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（第１工程）、そこでの処理結果に基づいて、所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される（第２工程）。そして、第２工程で算出された所定の線速度における光源の発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出され（第３工程）、その算出結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められ、さらにその記録パワーに基づいて任意の線速度での記録条件が設定される（第４工程）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、例えば記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２０】
この場合において、請求項２に記載の記録条件設定方法の如く、前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５工程を更に含むこととすることができる。かかる場合には、最適な記録パワーが、例えば光源の最大出力に達した後は、ＣＬＶ方式で記録が行われることとなり、記録感度の低い情報記録媒体を有効に使用することができる。また、最大出力の低い光源を用いることが可能となる。
【００２１】
上記請求項１及び２に記載の各記録条件設定方法において、請求項３に記載の記録条件設定方法の如く、前記試し書き領域が第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含む場合には、前記第１工程では、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行うこととすることができる。かかる場合には、互いに線速度が異なる複数の試し書きの結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーを求めることができるため、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２２】
この場合において、請求項４に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２工程では、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、前記第３工程では、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出することとすることができる。
【００２３】
上記請求項３及び４に記載の各記録条件設定方法において、請求項５に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることとすることができる。かかる場合には、例えばユーザの判断により情報記録媒体の種類毎に、安定したＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となるため、短時間で最適な記録条件を設定することができる。
【００２４】
上記請求項３〜５に記載の各記録条件設定方法において、請求項６に記載の記録条件設定方法の如く、前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることとすることができる。かかる場合には、記録線速度での記録パワーを精度良く求めることができる。
【００２５】
請求項７に記載の発明は、光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１工程と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２工程と；前記光源の発光パワーを前記第２工程で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３工程と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法である。
【００２６】
これによれば、記録条件の設定に際して、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われ（第１工程）、その結果に基づいて、第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる（第２工程）。次に、光源の発光パワーを第２工程で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きが行われる（第３工程）。そして、第２の試し書きの結果に基づいて、第２の線速度での最適な記録パワーが求められ、その記録パワーに基づいて情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件が設定される（第４工程）。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での光源の発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００２７】
この場合において、請求項８に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいこととすることができる。かかる場合には、第２の試し書きでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、第２の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。
【００２８】
上記請求項７及び８に記載の各記録条件設定方法において、請求項９に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないこととすることができる。かかる場合には、記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができるとともに、第２の試し書き領域を有効に使用することが可能となる。
【００２９】
上記請求項３〜９に記載の各記録条件設定方法において、請求項１０に記載の記録条件設定方法の如く、前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいこととすることができる。
【００３０】
上記請求項３〜１０に記載の各記録条件設定方法において、請求項１１に記載の記録条件設定方法の如く、前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することとすることができる。
【００３１】
請求項１２に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１の手順と；前記第１の手順における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の手順と；前記第２の手順で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３の手順と；前記第３の手順で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３２】
これによれば、記録条件の設定に際して、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きが行われ（第１の手順）、第１の手順における処理結果に基づいて、所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される（第２の手順）。そして、第２の手順で算出された所定の線速度における光源の発光パワーの平均値に基づいて、任意の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出され（第３の手順）、この第３の手順で算出された平均値に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーが求められる（第４の手順）。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、例えば記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００３３】
この場合において、請求項１３に記載のプログラムの如く、前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５の手順を更に前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。かかる場合には、最適な記録パワーが、例えば光源の最大出力に達した後は、ＣＬＶ方式で記録が行われることとなり、記録感度の低い情報記録媒体を有効に使用することができる。また、最大出力の低い光源を用いることが可能となる。
【００３４】
上記請求項１２及び１３に記載の各プログラムにおいて、請求項１４に記載のプログラムの如く、前記試し書き領域が第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含む場合には、前記第１の手順として、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行う手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。かかる場合には、互いに線速度が異なる複数の試し書きの結果に基づいて、任意の線速度での最適な記録パワーを求めることができるため、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００３５】
この場合において、請求項１５に記載のプログラムの如く、前記第２の手順として、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、前記第３の手順として、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出する手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３６】
上記請求項１４及び１５に記載の各プログラムにおいて、請求項１６に記載のプログラムの如く、前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることとすることができる。かかる場合には、例えばユーザの判断により情報記録媒体の種類毎に、安定したＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となり、短時間で最適な記録条件を取得することができる。
【００３７】
上記請求項１４〜１６に記載の各プログラムにおいて、請求項１７に記載のプログラムの如く、前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることとすることができる。かかる場合には、記録線速度での記録パワーを精度良く求めることができる。
【００３８】
請求項１８に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の手順と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２の手順と；前記光源の発光パワーを前記第２の手順で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３の手順と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００３９】
これによれば、記録条件の設定に際して、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われ（第１の手順）、その結果に基づいて、第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる（第２の手順）。そして、光源の発光パワーを第２の手順で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に第２の線速度で第２の試し書きが行われ（第３の手順）、その結果に基づいて、第２の線速度での最適な記録パワーが求められる（第４の手順）。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００４０】
この場合において、請求項１９に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいこととすることができる。かかる場合には、第２の試し書きでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、第２の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。
【００４１】
上記請求項１８及び１９に記載の各プログラムにおいて、請求項２０に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないこととすることができる。かかる場合には、記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができるとともに、第２の試し書き領域を有効に使用することが可能となる。
【００４２】
上記請求項１４〜２０に記載の各プログラムにおいて、請求項２１に記載のプログラムの如く、前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいこととすることができる。
【００４３】
上記請求項１４〜２１に記載の各プログラムにおいて、請求項２２に記載のプログラムの如く、前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することとすることができる。
【００４４】
請求項２３に記載の発明は、請求項１２〜２２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００４５】
これによれば、請求項１２〜２２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【００４６】
請求項２４に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う試し書き手段と；前記試し書き手段での結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第１の平均値算出手段と；前記第１の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の平均値算出手段と；前記第２の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記記録速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録速度での記録条件を設定する記録条件設定手段と；前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置である。
【００４７】
これによれば、情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に試し書き手段により所定の線速度で試し書きが行われ、その結果に基づいて、第１の平均値算出手段により所定の線速度における光源の発光パワーの平均値が算出される。次に、第１の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、第２の平均値算出手段により、情報記録媒体に情報を記録する際の記録速度における光源の発光パワーの平均値が算出される。そして、その算出結果に基づいて、記録条件設定手段により記録速度での最適な記録パワーが求められるとともに、その記録パワーに基づいて記録速度での記録条件が設定される。さらに、その設定された記録条件に基づいて、記録手段により情報記録媒体に情報が記録される。発光パワーの平均値には記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００４８】
請求項２５に記載の発明は、光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の試し書き手段と；前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める基準値取得手段と；前記光源の発光パワーを前記基準値取得手段で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第２の試し書き手段と；前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定手段と；前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置である。
【００４９】
これによれば、第１の試し書き手段により、光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きが行われる。次に、基準値取得手段により、第１の試し書きの結果に基づいて、第２の線速度での試し書きにおける光源の発光パワーの基準値が求められる。続いて、第２の試し書き手段により、光源の発光パワーを基準値取得手段で求められた基準値に対して変動させつつ、情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に第２の線速度で第２の試し書きが行われる。そして、記録条件設定手段により、第２の試し書きの結果に基づいて第２の線速度での最適な記録パワーが求められるとともに、その記録パワーに基づいて情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件が設定される。さらに、その設定された記録条件に基づいて、記録手段により情報記録媒体に情報が記録される。すなわち、第１の線速度での試し書きの結果に基づいて第２の線速度での発光パワーの基準値を求めているために、その基準値と第２の線速度での最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、第２の線速度での試し書きの結果から求められる最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【００５０】
この場合において、請求項２６に記載の光ディスク装置の如く、前記情報記録媒体の識別情報を取得する識別情報取得手段と；前記記録手段での記録終了後に、前記情報が記録された記録領域の少なくとも一部を再生し、その再生信号の品質を示す指標を取得する品質取得手段と；前記品質取得手段で取得された前記指標に基づいて前記再生信号の品質が所定の基準を満足するか否かを判別する判別手段と；その判別結果として前記再生信号の品質が所定の基準を満足しない場合に、前記識別情報を有する情報記録媒体に対して前記記録速度での記録を禁止する記録禁止手段と；を更に備えることとすることができる。かかる場合には、記録品質が悪いと判断された記録速度での記録が、その後禁止されるために、結果的に情報の再生が不安定となる記録条件での情報記録媒体への記録を防止することが可能となる。
【００５１】
この場合において、請求項２７に記載の光ディスク装置の如く、前記指標は、前記再生信号のピークレベルｄＬｐとボトムレベルｄＬｂを用いて、（ｄＬｐ＋ｄＬｂ）／（ｄＬｐ−ｄＬｂ）で算出される値を含むこととすることができる。あるいは、請求項２８に記載の光ディスク装置の如く、前記指標は、前記再生信号を復号する際に検出されるエラーの発生数及びエラーの発生率の少なくとも一方を含むこととすることができる。かかる場合には、新たな回路などを必要とせずに再生信号の品質を判断することが可能となる。
【００５２】
上記請求項２６〜２８に記載の光ディスク装置において、請求項２９に記載の光ディスク装置の如く、前記記録禁止手段にて記録が禁止された場合に、指定された記録速度での記録は不可能であることを示す記録不可情報及び記録可能な最大速度の少なくとも一方を外部装置に出力する出力手段を更に備えることとすることができる。かかる場合には、外部装置あるいはユーザは記録速度を変更する必要があることを認識できるため、記録感度が低い情報記録媒体であっても記録速度を変更して記録品質に優れた記録を行うことが可能となる。
【００５３】
【発明の実施の形態】
《第１の実施形態》
以下、本発明の第１の実施形態を図１〜図８に基づいて説明する。
【００５４】
図１には、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の概略構成を示すブロック図が示されている。
【００５５】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、レーザコントロール回路２４、エンコーダ２５、モータドライバ２７、再生信号処理回路２８、サーボコントローラ３３、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、ＲＯＭ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。なお、本実施形態では、一例としてＣＤ−Ｒ規格に準拠した情報記録媒体が光ディスク１５として用いられるものとする。
【００５６】
前記光ピックアップ装置２３は、光ディスク１５のスパイラル状又は同心円状のトラックが形成された記録面にレーザ光を照射するとともに、記録面からの反射光を受光するための装置である。光ピックアップ装置２３は、一例として図２に示されるように、光源ユニット５１、コリメートレンズ５２、ビームスプリッタ５４、対物レンズ６０、検出レンズ５８、受光器５９、及び駆動系（フォーカシングアクチュエータ、トラッキングアクチュエータ及びシークモータ（いずれも図示省略））などを備えている。
【００５７】
前記光源ユニット５１は、波長が７８０ｎｍの光束を発光する光源としての半導体レーザ（図示省略）を含んで構成されている。なお、本実施形態では、光源ユニット５１から出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｘ方向とする。この光源ユニット５１の＋Ｘ側には、前記コリメートレンズ５２が配置され、光源ユニット５１から出射された光束を略平行光とする。
【００５８】
コリメートレンズ５２の＋Ｘ側には、光ディスク１５からの戻り光束を−Ｚ方向に分岐するための前記ビームスプリッタ５４が配置されている。このビームスプリッタ５４の＋Ｘ側には、ビームスプリッタ５４を透過した光束を集光し、光ディスク１５の記録面に光スポットを形成するための前記対物レンズ６０が配置されている。
【００５９】
また、ビームスプリッタ５４の−Ｚ側には、ビームスプリッタ５４で分岐された戻り光束を集光する前記検出レンズ５８が配置されている。この検出レンズ５８の−Ｚ側には、前記受光器５９が配置されている。受光器５９としては、通常の光ディスク装置と同様に、４分割受光素子が用いられている。この受光器５９は、光ディスク１５の記録面からの反射光を受光し、通常の光ピックアップ装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報及びトラックエラー情報などを含む信号を出力する。
【００６０】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明すると、光源ユニット５１から出射された光束は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４を透過した光束は、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録面に微小スポットとして集光される。光ディスク１５の記録面にて反射した反射光は、戻り光束として対物レンズ６０で略平行光とされ、ビームスプリッタ５４に入射する。ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８を介して受光器５９で受光される。受光器５９からは、受光量に応じた信号が再生信号処理回路２８に出力される。
【００６１】
前記再生信号処理回路２８は、図３に示されるように、Ｉ／Ｖアンプ２８ａ、サーボ信号検出回路２８ｂ、ウォブル信号検出回路２８ｃ、ＲＦ信号検出回路２８ｄ、ＡＴＩＰデコーダ２８ｅ、ＣＤデコーダ２８ｆ、ＣＤ−ＲＯＭデコーダ２８ｇ及びＤ／Ａコンバータ２８ｈなどから構成されている。Ｉ／Ｖアンプ２８ａは受光器５９の出力信号である電流信号を電圧信号に変換するとともに、所定のゲインで増幅する。サーボ信号検出回路２８ｂはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてサーボ信号（フォーカスエラー信号やトラックエラー信号）を検出する。検出されたサーボ信号は、再生信号処理回路２８からサーボコントローラ３３に出力される。ウォブル信号検出回路２８ｃはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてウォブル信号を検出する。ＡＴＩＰデコーダ２８ｅはウォブル信号からＡＴＩＰ（Ａｂｓｏｌｕｔｅ Ｔｉｍｅ Ｉｎ Ｐｒｅｇｒｏｏｖｅ）情報及び同期信号などを抽出する。ここで抽出されたＡＴＩＰ情報はＣＰＵ４０に出力され、同期信号はエンコーダ２５に出力される。ＲＦ信号検出回路２８ｄはＩ／Ｖアンプ２８ａの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出する。ＣＤデコーダ２８ｆはＲＦ信号に対して誤り訂正処理等を行う。ＣＤ−ＲＯＭデコーダ２８ｇはＣＤデコーダ２８ｆからの信号に対して更に誤り訂正処理等を行った後、バッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に格納する。なお、音楽データの場合にはＣＤデコーダ２８ｆからの信号はＤ／Ａコンバータ２８ｈを介して外部のオーディオ機器などに出力される。
【００６２】
図１に戻り、前記サーボコントローラ３３は、フォーカスエラー信号に基づいて光ピックアップ装置２３のフォーカシングアクチュエータを制御する制御信号を生成し、トラックエラー信号に基づいて光ピックアップ装置２３のトラッキングアクチュエータを制御する制御信号を生成する。各制御信号はサーボコントローラ３３からそれぞれモータドライバ２７に出力される。
【００６３】
前記モータドライバ２７は、サーボコントローラ３３からの制御信号に基づいて、光ピックアップ装置２３のトラッキングアクチュエータ及びフォーカシングアクチュエータを制御する。すなわち、トラッキング制御及びフォーカス制御が行われる。なお、記録処理や再生処理などで光ディスク１５をアクセスしているときには、トラッキング制御及びフォーカス制御は随時行われる。また、モータドライバ２７は、ＣＰＵ４０の指示に基づいてスピンドルモータ２２及び光ピックアップ装置２３のシークモータを制御する。
【００６４】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されているデータをバッファマネージャ３７を介して取り出し、エラー訂正コードの付加等を行なうとともに、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。この書き込み信号は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、再生信号処理回路２８からの同期信号に同期してレーザコントロール回路２４に出力される。
【００６５】
前記レーザコントロール回路２４は、図４に示されるように、ＬＤドライバ２４ａ、パルス設定回路２４ｂ及びパワー設定回路２４ｃなどから構成されている。パルス設定回路２４ｂは、ＣＰＵ４０からの指示に基づいて、例えば図５に示されるように、エンコーダ２５からの書き込み信号（ＷＤＡＴＡ）に対して立ち上がりエッジをθだけ前側にずらしてパルス幅を変更する。パワー設定回路２４ｃは、ＣＰＵ４０からの指示に基づいて記録パワーを設定する。ＬＤドライバ２４ａでは、パルス設定回路２４ｂにてパルス調整された書き込み信号（ＷＤ１）及びパワー設定回路２４ｃにて設定された記録パワーに基づいて、光ピックアップ装置２３の半導体レーザの出力を制御する。
【００６６】
図１に戻り、前記インターフェース３８は、ホスト（例えばパーソナルコンピュータ）４９との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（ＡＴ Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ Ｐａｃｋｅｔ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）及びＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等の標準インターフェースに準拠している。
【００６７】
前記ＲＯＭ３９には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された後述する記録条件を設定するプログラム（以下「第１の記録条件設定プログラム」という）を含むプログラムが格納されている。
【００６８】
前記ＣＰＵ４０は、ＲＯＭ３９に格納されているプログラムに従って上記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータ等を一時的にＲＡＭ４１に保存する。なお、光ディスク装置２０に電源が投入されると、ＲＯＭ３９に格納されているプログラムは、ＣＰＵ４０のメインメモリ（図示省略）にロードされる。
【００６９】
次に、前述のように構成される光ディスク装置２０において、光ディスク１５に情報を記録する際の最適な記録条件を設定する処理について図６を用いて説明する。図６のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図６のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最適な記録条件を設定する処理がスタートする。なお、本実施形態では、図７に示されるように、光ディスク１５のリードイン領域の内周側とリードアウト領域の外周側にＯＰＣ動作の際に利用できるＰＣＡ領域が設けられているものとする。そして、各ＰＣＡ領域は複数のパーティションを含んで構成されているものとする。
【００７０】
最初のステップ４０１では、リードイン領域の内周側に設けられたＰＣＡ領域（以下「内周ＰＣＡ領域」ともいう）内で試し書き（第１の試し書き：以下「内周ＯＰＣ」ともいう）を行う際の線速度（第１の線速度）として、所定の線速度Ｖｉを設定する。また、その線速度Ｖｉに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値（ここではＰｓｉとする）も設定する。
【００７１】
次のステップ４０３では、内周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第１の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｉでの内周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｉに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。
【００７２】
次のステップ４０５では、従来と同様に、例えば試し書きされたデータを再生し、その再生信号における上下対称性や振幅に基づいて、線速度Ｖｉにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、内周ＯＰＣの結果から最適な記録パワーＰｗｉが得られたものとする。また、このときのパルス幅補正値はθｖｉであるものとする。すなわち、線速度Ｖｉにおける記録ストラテジは（ｎ＋θｖｉ）Ｔとなる。Ｔは記録チャネルクロックの周期であり、例えば１倍速（１５０ｋバイト／秒）の場合には２３１ナノ秒である。また、ｎは３〜１１の整数である。
【００７３】
次のステップ４０７では、内周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。内周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、再生信号の上下対称性や振幅などによって判断される。また、最適な記録パワーが得られたか否かによって判断しても良い。ここでは、最適な記録パワーＰｗｉが得られているので、内周ＯＰＣは正常に終了し、ステップ４０７での判断は肯定され、ステップ４０９に移行する。
【００７４】
このステップ４０９では、リードアウト領域の外周側に設けられたＰＣＡ領域（以下「外周ＰＣＡ領域」ともいう）内で試し書き（第２の試し書き：以下「外周ＯＰＣ」ともいう）を行う際の線速度（第２の線速度）として、所定の線速度Ｖｏを設定する。なお、線速度Ｖｏとしては、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉを超えた値であるとともに、記録線速度（ここではＶｒとする）以上の値に設定される。すなわち、Ｖｉ＜Ｖｒ＜Ｖｏの関係となる。また、その線速度Ｖｏに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値（ここではＰｓｏとする）も設定する。
【００７５】
次のステップ４１１では、外周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第２の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｏでの外周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｏに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。
【００７６】
次のステップ４１３では、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして、線速度Ｖｏにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、外周ＯＰＣの結果から、最適な記録パワーＰｗｏが得られたものとする。また、このときのパルス幅補正値はθｖｏであるものとする。すなわち、線速度Ｖｏにおける記録ストラテジは（ｎ＋θｖｏ）Ｔとなる。
【００７７】
次のステップ４１５では、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。外周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして判断される。ここでは、最適な記録パワーＰｗｏが得られているので、外周ＯＰＣは正常に終了し、ステップ４１５での判断は肯定され、ステップ４１７に移行する。
【００７８】
このステップ４１７では、内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｉでの半導体レーザの発光パワーの平均値（以下、便宜上「平均パワー」ともいう）を算出する。ここでは、先ず、次の（１）式に基づいて、線速度Ｖｉでの書き込み信号におけるハイレベルとローレベルの比率（以下「記録パルス幅比率」ともいう）Ｔｗｉを求める。
【００７９】
Ｔｗｉ＝０．５＋ｄＴｉ ……（１）
【００８０】
ここで、ｄＴｉは線速度Ｖｉでの書き込み信号におけるハイレベルの増加量であり、次の（２）式から算出される。ここで、Ｒ（ｎＴ）は書き込み信号において、幅がｎＴ（ｎ＝３〜１１）のハイレベルが出現する確率である。
【００８１】
【数１】
そして、次の（３）式から線速度Ｖｉでの平均パワーＰａｖｉを算出する。ここで、Ｐｂは再生パワーである。
【００８３】
Ｐａｖｉ＝Ｐｗｉ×Ｔｗｉ＋Ｐｂ×（１−Ｔｗｉ） ……（３）
【００８４】
次のステップ４１９では、外周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｏでの平均パワーを算出する。ここでは、先ず、次の（４）式から線速度Ｖｏでの記録パルス幅比率Ｔｗｏを求める。
【００８５】
Ｔｗｏ＝０．５＋ｄＴｏ ……（４）
【００８６】
ここで、ｄＴｏは線速度Ｖｏでの書き込み信号におけるハイレベルの増加量であり、次の（５）式から算出される。
【００８７】
【数２】
そして、次の（６）式から線速度Ｖｏでの平均パワーＰａｖｏを算出する。
【００８９】
Ｐａｖｏ＝Ｐｗｏ×Ｔｗｏ＋Ｐｂ×（１−Ｔｗｏ） ……（６）
【００９０】
次のステップ４２１では、記録線速度Ｖｒにおける平均パワー（ここではＰａｖｒとする）を次の（７）式に基づいて算出する（図８（Ａ）参照）。
【００９１】
Ｐａｖｒ＝（Ｐａｖｏ−Ｐａｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ）×Ｖｒ＋（Ｐａｖｉ×Ｖｏ−Ｐａｖｏ×Ｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ） ……（７）
【００９２】
次のステップ４２３では、先ず、次の（８）式に基づいて、記録線速度Ｖｒにおけるパルス幅補正値θｖｒを求める（図８（Ｂ）参照）。
【００９３】
θｖｒ＝（θｖｏ−θｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ）×Ｖｒ＋（θｖｉ×Ｖｏ−θｖｏ×Ｖｉ）／（Ｖｏ−Ｖｉ） ……（８）
【００９４】
次に、次の（９）式に基づいて、パルス幅補正値θｖｒから記録線速度Ｖｒにおける記録パルス幅比率Ｔｗｒを求める。
【００９５】
【数３】
そして、次の（１０）式に基づいて、記録線速度Ｖｒにおける最適な記録パワーＰｗｒを算出する。
【００９７】
Ｐｗｒ＝（Ｐａｖｒ−Ｐｂ×（１−Ｔｗｒ））／Ｔｗｒ ……（１０）
【００９８】
次のステップ４２５では、記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。
【００９９】
次のステップ４２７では、算出された最適な記録パワーＰｗｒが所定の値未満であるか否かを判断する。ここで最適な記録パワーＰｗｒが所定の値未満であれば、ステップ４２５での判断は肯定され、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１００】
一方、ステップ４２７において、最適な記録パワーＰｗｒが所定の値以上であれば、ステップ４２７での判断は否定され、ステップ４２９に移行する。
【０１０１】
このステップ４２９では、以降の記録方式をＣＬＶ方式に設定する。すなわち、以降の記録は線速度Ｖｒで行われることとなる。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１０２】
なお、ステップ４０７において、内周ＯＰＣが正常に終了しなければ、ステップ４０７での判断は否定され、ステップ４３５に移行する。
【０１０３】
このステップ４３５では、内周ＯＰＣの線速度Ｖｉを１段階減速し、新たな内周ＯＰＣの線速度Ｖｉとする。そして、前述したステップ４０３に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１０４】
また、ステップ４１５において、外周ＯＰＣが正常に終了しなければ、ステップ４１５での判断は否定され、ステップ４３７に移行する。
【０１０５】
ステップ４３７では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｏを１段階減速し、新たな外周ＯＰＣの線速度Ｖｏとする。そして、前述したステップ４１１に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１０６】
上記の如くして、記録条件を設定する処理が終了すると、ホスト４９からの記録データを指定された記録領域に記録するための記録処理に移行する。ここで、記録処理について簡単に説明する。
【０１０７】
ＣＰＵ４０は、記録速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をモータドライバ２７に出力する。また、ＣＰＵ４０は、ホスト４９から受信した記録データをバッファマネージャ３７を介してバッファＲＡＭ３４に蓄積する。
【０１０８】
そして、ＣＰＵ４０は、再生信号処理回路２８からのＡＴＩＰ情報に基づいて、指定された書き込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するように光ピックアップ装置２３のシークモータを制御する信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１０９】
ＣＰＵ４０は、バッファマネージャ３７からバッファＲＡＭ３４に蓄積されたデータ量が所定量を超えたとの通知を受けると、エンコーダ２５に書き込み信号の生成を指示する。これにより、ホスト４９からの記録データに対応する書き込み信号が生成される。
【０１１０】
そして、ＣＰＵ４０はＡＴＩＰ情報に基づいて光ピックアップ装置２３の位置が書き込み開始地点であると判断すると、エンコーダ２５に書き込み開始を指示する。これにより、エンコーダ２５、レーザコントロール回路２４及び光ピックアップ装置２３を介して、ホスト４９からの記録データは、前述の如くして設定された最適な記録条件に基づいて、指定された記録領域に記録されることとなる。
【０１１１】
次に、ホスト４９からの再生要求コマンドを受信した際の、光ディスク装置２０の処理動作について簡単に説明する。
【０１１２】
ＣＰＵ４０はホスト４９から再生要求のコマンドを受信すると、再生速度に基づいてスピンドルモータ２２の回転を制御するための制御信号をモータドライバ２７に出力する。ＣＰＵ４０は、再生信号処理回路２８からのＡＴＩＰ情報に基づいて、指定された読み込み開始地点に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御する信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１１３】
ＣＰＵ４０はＡＴＩＰ情報に基づいて、光ピックアップ装置２３の位置が読み込み開始地点であると判断すると、再生信号処理回路２８に通知する。これにより、再生信号処理回路２８は、受光器５９の出力信号に基づいてＲＦ信号を検出し、誤り訂正処理等を行った後、バッファＲＡＭ３４に蓄積する。バッファマネージャ３７は、バッファＲＡＭ３４に蓄積された再生データがセクタデータとして揃ったときに、インターフェース３８を介してホスト４９に転送する。
【０１１４】
以上の説明から明らかなように、本第１の実施形態では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、試し書き手段、第１の平均値算出手段、第２の平均値算出手段、記録条件設定手段、及び記録手段が実現されている。すなわち、図６のステップ４０１〜４０５及びステップ４０９〜４１３の処理によって試し書き手段が、ステップ４１７及び４１９の処理によって第１の平均値算出手段が、ステップ４２１の処理によって第２の平均値算出手段が、ステップ４２３及び４２５の処理によって記録条件設定手段が、それぞれ実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記第１の実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１１５】
また、本第１の実施形態では、ＲＯＭ３９にインストールされているプログラムのうち、図６のフローチャートで示される処理に対応するプログラムによって前記第１の記録条件設定プログラムが構成されている。
【０１１６】
そして、図６のステップ４０１〜４０５及びステップ４０９〜４１３の処理によって請求項１に記載の発明に係る記録条件設定方法の第１工程が実施され、ステップ４１７及び４１９の処理によって第２工程が実施され、ステップ４２１の処理によって第３工程が実施され、ステップ４２３及び４２５の処理によって第４工程が実施されている。
【０１１７】
以上説明したように、本第１の実施形態に係る光ディスク装置及び記録条件設定方法によると、線速度Ｖｉで内周ＯＰＣが行われ、線速度Ｖｏ（＞Ｖｉ）で外周ＯＰＣが行われる。次に、内周ＯＰＣの結果に基づいて線速度Ｖｉにおける平均パワーが算出され、外周ＯＰＣの結果に基づいて線速度Ｖｏにおける平均パワーが算出される。そして、線速度Ｖｉにおける平均パワーと線速度Ｖｏにおける平均パワーとに基づいて、記録線速度Ｖｒにおける平均パワーが算出される。続いて、その算出結果に基づいて記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーが求められ、さらにその記録パワーに基づいて記録線速度Ｖｒでの記録条件が決定される。すなわち、平均パワーには記録ストラテジに関する情報が含まれているため、記録線速度と試し書きでの線速度とが異なる場合であっても、記録線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。従って、結果として情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【０１１８】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉと外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏとは、互いに異なっているために、任意の線速度での最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１１９】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣでの線速度Ｖｉよりも外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏのほうが大きくなるように設定されているために、線速度と記録条件との関係を精度良く求めることができる。
【０１２０】
また、本第１の実施形態によると、外周ＯＰＣでの線速度Ｖｏが記録線速度Ｖｒ以上となるように設定されているために、記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２１】
また、本第１の実施形態によると、内周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合には、線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを行っている。これにより、内周ＯＰＣによって得られた情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２２】
また、本第１の実施形態によると、外周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合には、線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを行っている。これにより、外周ＯＰＣによって得られた情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることができる。
【０１２３】
また、本第１の実施形態によると、算出された記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーＰｗｒが所定の値以上となる場合には、それ以降の記録をＣＬＶ方式に設定している。これにより、記録感度の低い光ディスクに対しても良好な品質の記録を安定して行うことができる。また、最大出力の低い半導体レーザが用いられても良好な品質の記録を安定して行うことができる。さらに、例えば所定の値を半導体レーザの定格パワーの最大値近傍の値とすることにより、記録パワーが定格パワーの最大値以上となることを防止できるため、半導体レーザの劣化を抑制することが可能となる。
【０１２４】
また、本第１の実施形態に係る光ディスク装置によると、光ディスクへの高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるため、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【０１２５】
なお、上記第１の実施形態では、内周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合に、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行する場合について説明したが、これに限らず、例えば内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行しても良い。また、内周ＯＰＣが正常に終了しても、内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合には、内周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度内周ＯＰＣを実行しても良い。なお、減速は必ずしも１段階でなくても良い。例えば内周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーと所定の値との差に応じて減速量を変更しても良い。
【０１２６】
また、上記第１の実施形態では、外周ＯＰＣが正常に終了しなかった場合に、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行する場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行しても良い。また、外周ＯＰＣが正常に終了しても、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーが所定の値以上の場合には、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行しても良い。なお、減速は必ずしも１段階でなくても良い。例えば外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーと所定の値との差に応じて減速量を変更しても良い。
【０１２７】
また、上記第１の実施形態において、例えば内周ＯＰＣが正常に終了することが確実な場合には、内周ＯＰＣが正常に終了したか否かの判断（図６のステップ４０７）を省略しても良い。すなわち、ステップ４０７での処理をスキップし、ステップ４０５から直ちにステップ４０９に移行しても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。
【０１２８】
同様に、上記第１の実施形態において、外周ＯＰＣが正常に終了することが確実な場合には、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かの判断（図６のステップ４１５）を省略しても良い。すなわち、ステップ４１５での処理をスキップし、ステップ４１３から直ちにステップ４１７に移行しても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。
【０１２９】
また、上記第１の実施形態では、２ヶ所でのＯＰＣの結果に基づいて、記録線速度での最適な記録パワーを求める場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。例えば内周ＯＰＣの結果のみに基づいて、記録線速度での最適な記録パワーを求めても良い。この場合には、平均パワーＰａｖｒは上記（７）式の代わりに次の（１１）式に基づいて算出される。また、パルス幅補正値θｖｒは上記（８）式の代わりに次の（１２）式に基づいて算出される。ここで、ｋは過去の経験、実験及び理論計算などから決定される定数である。
【０１３０】
Ｐａｖｒ＝（Ｖｒ／Ｖｉ）×Ｐａｖｉ ……（１１）
【０１３１】
θｖｒ＝（Ｖｒ−Ｖｉ）×ｋ＋θｖｉ ……（１２）
【０１３２】
そこで、内周ＯＰＣの結果のみに基づいて、記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを求める場合について、図９のフローチャートを用いて以下に説明する。図９のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【０１３３】
図９のステップ５０１から５０５では、前述したステップ４０１〜４０５と同じ処理を行う。
【０１３４】
次のステップ５０７では、前述したステップ４０７と同様にして内周ＯＰＣが正常終了したか否かを判断し、正常終了していれば、ステップ５０７での判断は肯定され、ステップ５０９に移行する。
【０１３５】
このステップ５０９では、前述したステップ４１７と同様にして内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｉでの平均パワーを算出する。
【０１３６】
次のステップ５１１では、上記（１１）式に基づいて、記録線速度Ｖｒでの平均パワーＰａｖｒを算出する。
【０１３７】
次のステップ５１３では、先ず上記（１２）式に基づいて、記録線速度Ｖｒでのパルス幅補正値θｖｒを求める。そして、前述したステップ４２３と同様にして記録線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを算出する。
【０１３８】
なお、ステップ５１５、５１７、５１９及び５２１では、それぞれ前述したステップ４２５、４２７、４２９、４３５と同じ処理を行う。
【０１３９】
これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができる。さらに、試し書き領域を節約することができる。そこで、例えば記録するデータ量に応じて外周ＯＰＣを行うか否かを判断しても良い。あるいは、内周ＯＰＣでの線速度と記録線速度との差が所定の値よりも小さい場合に外周ＯＰＣを省略しても良い。
【０１４０】
また、例えば外周ＯＰＣで有効な結果を得ることができなかったときに、上記（１１）式及び（１２）式を用いて、内周ＯＰＣの結果にみに基づいて記録線速度での最適な記録パワーを求めても良い。
【０１４１】
また、上記第１の実施形態では、算出された記録線速度での最適な記録パワーが所定の値未満か否かを判断（図６のステップ４２７）し、所定の値未満でないときは、記録方式をＣＬＶ方式に設定する（図６のステップ４２９）場合について説明したが、例えば算出される最適な記録パワーが所定の値未満であることが確実な場合には、図６のステップ４２７及び４２９の処理を省略しても良い。
【０１４２】
また、上記第１の実施形態では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｏを記録線速度Ｖｒ以上となるように設定する場合について説明したが、これに限定されるものではない。
【０１４３】
また、上記第１の実施形態では、記録速度に応じて外周ＯＰＣの線速度が設定される場合について説明したが、これに限らず、例えばホスト４９から指定された線速度で外周ＯＰＣを行っても良い。これにより、例えばユーザは、情報記録媒体の種類毎に、安定した外周ＯＰＣが可能な線速度を選択することが可能となり、最適な記録条件を設定するのに要する時間を短縮することができる。
【０１４４】
また、上記第１の実施形態では、前記第１の記録条件決定プログラムは、ＲＯＭ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、各ドライブ装置から第１の記録条件設定プログラムをインストールすることとなる。要するに、第１の記録条件設定プログラムがＣＰＵ４０のメインメモリにロードされれば良い。
【０１４５】
《第２の実施形態》
以下、本発明の第２の実施形態を図１０に基づいて説明する。
【０１４６】
この第２の実施形態は、最適な記録条件を設定する処理が上記第１の実施形態と異なる点に特徴を有する。なお、その他、光ピックアップ装置、光ディスク装置の構成などは、前述した第１の実施形態と同様である。従って、以下においては、第１の実施形態との相違点を中心に説明するとともに、前述した第１の実施形態と同一若しくは同等の構成部分については同一の符号を用いるとともに、その説明を簡略化し若しくは省略するものとする。また、前提条件は上記第１の実施形態と同様であるものとする。
【０１４７】
そこで、ＲＯＭ３９には、上記第１の記録条件設定プログラムの代わりに、第２の記録条件設定プログラムが格納されている。
【０１４８】
ここで、最適な記録条件を設定する処理について図１０を用いて説明する。図１０のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図１０のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、最適な記録条件を設定する処理がスタートする。
【０１４９】
最初のステップ６０１では、内周ＰＣＡ領域内で試し書き（第１の試し書き）を行う際の線速度（第１の線速度）として、所定の線速度Ｖｉを設定する。また、その線速度Ｖｉに対応した半導体レーザの発光パワーの基準値Ｐｓｉも設定する。
【０１５０】
次のステップ６０３では、内周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第１の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｉでの内周ＯＰＣを実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを上記基準値Ｐｓｉに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。ここでは、一例として発光パワーの変動幅を基準値の±２５％とする。
【０１５１】
次のステップ６０５では、従来と同様に、例えば試し書きされたデータを再生し、その再生信号における上下対称性や振幅に基づいて、線速度Ｖｉにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、内周ＯＰＣの結果から最適な記録パワーＰｗｉが得られたものとする。
【０１５２】
次のステップ６０７では、外周ＰＣＡ領域内で試し書き（第２の試し書き）を行う際の線速度（第２の線速度）として、本実施形態では記録線速度と同じ線速度Ｖｒ（＞Ｖｉ）を設定する。
【０１５３】
次のステップ６０９では、内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒにおける半導体レーザの発光パワーの基準値（以下「基準パワー」ともいう）を設定する。ここでは、次の（１３）式を用いて基準パワーＰｏｐを求める。同時に、次の（１４）式を用いてパルス幅補正値θｖｒを算出する。ここで、ｋ’は過去の経験、実験及び理論計算などにより決定される定数である。
【０１５４】
Ｐｏｐ＝（Ｖｒ／Ｖｉ）×Ｐｗｉ ……（１３）
【０１５５】
θｖｒ＝（Ｖｒ−Ｖｉ）×ｋ’＋θｖｉ ……（１４）
【０１５６】
なお、上記（１３）式及び（１４）式は一例であり、これらに限定されるものではなく、例えば、種々の実験結果に統計処理を施して得られた多項式を用いても良い。
【０１５７】
次のステップ６１１では、リトライカウンタｍに１をセットし初期化する。
【０１５８】
次のステップ６１３では、外周ＰＣＡ領域内の所定のパーティション（第２の試し書き領域）を利用して、線速度Ｖｒでの外周ＯＰＣ（第２の試し書き）を実行する。すなわち、半導体レーザの発光パワーを基準パワーＰｏｐに対して所定のステップで変動させつつ、前記パーティションの各フレームに所定のテストデータを記録する。ここでは、一例として発光パワーの変動幅を基準パワーの±５％とする。すなわち、外周ＯＰＣでの発光パワーの変動ステップは内周ＯＰＣでの発光パワーの変動ステップよりも小さく設定されることとなる。
【０１５９】
次のステップ６１５では、上記内周ＯＰＣの場合と同様にして、線速度Ｖｒにおける最適な記録パワーを求める。なお、本実施形態では、外周ＯＰＣの結果から、最適な記録パワーＰｗｒが得られたものとする。
【０１６０】
次のステップ６１７では、得られた最適な記録パワーＰｗｒと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下であるか否かを判断する。ここで、最適な記録パワーＰｗｏと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下でなければ、ステップ６１７での判断は否定されステップ６１９に移行する。
【０１６１】
このステップ６１９では、リトライカウンタｍをインクリメント（＋１）する。
【０１６２】
次のステップ６２１では、リトライカウンタｍが予め設定されている所定回数以下であるか否かを判断する。ここで、リトライカウンタｍが所定回数以下であれば、ステップ６２１での判断は肯定されステップ６２３に移行する。
【０１６３】
このステップ６２３では、外周ＯＰＣの線速度Ｖｒを１段階減速し、新たな外周ＯＰＣの線速度Ｖｒとする。そして、前述したステップ６１３に戻る。なお、試し書きを行うパーティションは前回試し書きを行ったパーティションの近傍に設定される。
【０１６４】
なお、ステップ６２１において、リトライカウンタｍが所定回数以下でなければ、ステップ６２１での判断は否定されステップ６０３に戻る。すなわち、内周ＯＰＣでの結果に異常があるとして、再度内周ＯＰＣを行う。
【０１６５】
また、ステップ６１７において、最適な記録パワーＰｗｒと基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以下であれば、ステップ６１７での判断は肯定されステップ６３１に移行する。
【０１６６】
このステップ６３１では、最適な記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。
【０１６７】
以上の説明から明らかなように、本第２の実施形態では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、第１の試し書き手段、基準値取得手段、第２の試し書き手段、記録条件設定手段、及び記録手段が実現されている。すなわち、図１０のステップ６０１〜６０５の処理によって第１の試し書き手段が、ステップ６０７及び６０９の処理によって基準値取得手段が、ステップ６１３の処理によって第２の試し書き手段が、ステップ６１５及び６３１の処理によって記録条件設定手段が、それぞれ実現されている。しかしながら、本発明がこれに限定されるものではないことは勿論である。すなわち、上記第２の実施形態は一例に過ぎず、上記のＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した構成各部の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全ての構成部分をハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１６８】
また、本第２の実施形態では、ＲＯＭ３９にインストールされているプログラムのうち、図１０のフローチャートで示される処理に対応するプログラムによって前記第２の記録条件設定プログラムが構成されている。
【０１６９】
そして、図１０のステップ６０１〜６０５の処理によって請求項７に記載の発明に係る記録条件設定方法の第１工程が実施され、ステップ６０７及び６０９の処理によって第２工程が実施され、ステップ６１３の処理によって第３工程が実施され、ステップ６１５及び６３１の処理によって第４工程が実施されている。
【０１７０】
以上説明したように、本第２の実施形態に係る光ディスク装置及び記録条件設定方法によると、線速度Ｖｉで内周ＯＰＣが行われ、その内周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒ（＞Ｖｉ）での外周ＯＰＣにおける基準パワーＰｏｐが求められる。次に、基準パワーＰｏｐに基づいて線速度Ｖｒでの外周ＯＰＣが行われる。そして、外周ＯＰＣの結果に基づいて、線速度Ｖｒでの最適な記録パワーが求められ、その記録パワーに基づいて記録条件が決定される。すなわち、線速度Ｖｉでの試し書きの結果に基づいて線速度Ｖｒでの基準パワーＰｏｐを求めているために、その基準パワーＰｏｐと線速度Ｖｒでの最適な記録パワーとは、非常に近い値となる。従って、外周ＯＰＣの結果から求められる線速度Ｖｒでの最適な記録パワーの精度が向上し、その結果として高速度での記録に最適な記録条件を設定することが可能となる。
【０１７１】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーＰｗｏと外周ＯＰＣでの基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以上の場合に、リトライカウンタｍの値が所定の値以下であれば、同じ条件で再度外周ＯＰＣを実行している。これにより、例えば突発的なノイズの影響を除去することができる。
【０１７２】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣで得られた最適な記録パワーＰｗｏと外周ＯＰＣでの基準パワーＰｏｐとの差が所定の値以上の場合に、リトライカウンタｍの値が所定の値を超えると、外周ＯＰＣでの線速度を１段階減速して再度外周ＯＰＣを実行している。これにより、外周ＯＰＣによって得られる情報の信頼性を向上させることができ、その結果として記録条件を精度良く求めることが可能となる。
【０１７３】
また、本第２の実施形態によると、外周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲は、内周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲よりも小さく設定されている。これにより、外周ＯＰＣでの発光パワーの変動量を小さくすることができるため、線速度Ｖｒでの最適な記録パワーを精度良く求めることが可能となる。すなわち、測定精度を向上させることができる。
【０１７４】
また、本第２の実施形態に係る光ディスク装置によると、光ディスクへの高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるため、その結果として記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことが可能となる。
【０１７５】
なお、上記第２の実施形態では、前記第２の記録条件設定プログラムは、ＲＯＭ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、光磁気ディスク、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応するドライブ装置を付加し、各ドライブ装置から第２の記録条件設定プログラムをインストールすることとなる。要するに、第２の記録条件設定プログラムがＣＰＵ４０のメインメモリにロードされれば良い。
【０１７６】
なお、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣでの線速度と記録線速度とが一致する場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。そして、この場合には、内周ＯＰＣの結果と外周ＯＰＣの結果に基づいて、記録線速度での最適な記録条件が設定されることとなる。
【０１７７】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲が、内周ＯＰＣでの半導体レーザの発光パワーの変動範囲よりも小さい場合について説明したが、これに限らず、例えば同じであっても良い。
【０１７８】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣで使用されるフレーム数と内周ＯＰＣで使用されるフレーム数とが互いに等しい場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣで使用されるフレーム数を内周ＯＰＣで使用されるフレーム数よりも少なくしても良い。これにより、記録条件を設定する処理に要する時間を短縮することができるとともに、試し書き領域を有効に利用することが可能となる。
【０１７９】
また、上記第２の実施形態において、外周ＯＰＣの線速度が所定の線速度以上の場合には、外周ＯＰＣ領域における２フレーム毎に半導体レーザの発光パワーを変化させても良い。これにより、外周ＯＰＣでは更に精度良く最適な記録パワーを求めることができる。
【０１８０】
また、上記第２の実施形態では、外周ＯＰＣによって得られた最適な記録パワーとそのときの基準パワーとの差が所定の値以下のときに、記録条件を設定する場合について説明したが、これに限らず、例えば外周ＯＰＣが正常に終了したときに記録条件を設定しても良い。この場合について図１１のフローチャートを用いて以下に説明する。図１１のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から記録要求コマンドを受信すると、図１１のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、処理がスタートする。
【０１８１】
最初のステップ７０１では、光ディスク１５におけるリードイン開始時間をＡＴＩＰ情報から抽出する。
【０１８２】
次のステップ７０３では、予めＲＯＭ３９に格納されているリードイン開始時間とベンダコードとの対応テーブルを参照し、光ディスク１５のベンダコードを取得する。
【０１８３】
次のステップ７０５〜７１３では、前述したステップ６０１〜６０９と同様な処理を行う。
【０１８４】
次のステップ７１５及び７１７では、前述したステップ６１３及び６１５と同様な処理を行う。
【０１８５】
次のステップ７１９では、外周ＯＰＣが正常に終了したか否かを判断する。外周ＯＰＣが正常に終了したか否かは、再生信号の上下対称性や振幅などによって判断される。また、最適な記録パワーが得られたか否かによって判断しても良い。ここで、外周ＯＰＣが正常に終了していれば、ステップ７１９での判断は肯定され、ステップ７２１に移行する。
【０１８６】
このステップ７２１では、最適な記録パワーＰｗｒをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１８７】
一方、ステップ７１９において、外周ＯＰＣが正常に終了していなければ、ステップ７１９での判断は否定され、ステップ７２３に移行する
【０１８８】
このステップ７２３では、基準パワーＰｏｐをパワー設定回路２４ｃに出力するとともに、パルス幅補正値θｖｒをパルス設定回路２４ｂに出力する。これによって、光ディスク１５に線速度Ｖｒで情報を記録する際の記録条件が設定される。そして、記録条件を設定する処理を終了する。
【０１８９】
以上の説明から明らかなように、この場合では、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって識別情報取得手段が実現されている。
【０１９０】
なお、基準パワーＰｏｐをパワー設定回路２４ｃに出力した場合には、記録終了後に、記録されたデータ（以下、便宜上「直前記録データ」という）の記録品質を監視することが望ましい。なお、このときには、図１２に示されるように、再生信号処理回路２８の代わりに、ＲＦ信号のピークレベルを検出するためのピークレベル検出回路２８ｉと、ＲＦ信号のボトムレベルを検出するためのボトムレベル検出回路２８ｊとが付加された再生信号処理回路２８’が用いられることとなる。この記録品質監視処理について図１３のフローチャートを用いて以下に説明する。図１３のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えば記録が終了すると、図１３のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録品質監視処理がスタートする。
【０１９１】
最初のステップ８０１では、光ディスク１５が所定の再生速度で回転するようにモータドライバ２７に指示するとともに、直前記録データが記録された領域の先頭に光ピックアップ装置２３が位置するようにシークモータを制御する制御信号をモータドライバ２７に出力する。
【０１９２】
次のステップ８０３では、再生信号処理回路２８に記録品質のチェックを指示する。これにより、光ディスク１５の線速度が安定すると、再生信号処理回路２８では、ＲＦ信号検出回路２８ｄにて光ピックアップ装置２３からの出力信号に基づいてＲＦ信号を検出し、ピークレベル検出回路２８ｅ及びボトムレベル検出回路２８ｆにてＲＦ信号のピークレベル（Ｌｐ１とする）及びボトムレベル（Ｌｂ１とする）をそれぞれ取得する。そして、そのピークレベルＬｐ１とボトムレベルＬｂ１は再生信号処理回路２８からＣＰＵ４０に出力される。
【０１９３】
次のステップ８０５では、ピークレベルＬｐ１とボトムレベルＬｂ１とをＡ／Ｄ変換し、次の（１５）式に基づいて、再生信号の品質の指標となるいわゆるβ値を算出する。なお、（１５）式におけるｄＬｐ１及びｄＬｂ１は、それぞれピークレベルＬｐ１及びボトムレベルＬｂ１をＡ／Ｄ変換した値である。
【０１９４】
β＝（ｄＬｐ１＋ｄＬｂ１）／（ｄＬｐ１−ｄＬｂ１） ……（１５）
【０１９５】
次のステップ８０７では、算出したβ値が所定の基準を満たすか否かを判断する。ここで、算出したβ値が所定の基準を満たさなければ、ステップ８０７での判断は否定され、ステップ８０９に移行する。
【０１９６】
このステップ８０９では、光ディスク１５に対して、直前記録データが記録されたときの記録速度（以下、便宜上「直前記録速度」という）での記録を以後、禁止するために、光ディスク１５のベンダコードと直前記録速度とを含む記録禁止情報を不図示の不揮発メモリに記録する。
【０１９７】
次のステップ８１１では、直前記録速度では良好な記録は不可能であることを示すエラー情報及び記録可能な最大記録速度情報をホスト４９に通知する。そして、記録品質監視処理を終了する。これにより、ユーザは、その速度では所定の記録品質を得ることができないことを認識でき、以降は記録速度を遅くして記録を要求することができる。従って、光ディスクを有効に利用することが可能となる。また、ユーザはそのベンダの光ディスクにおける最大記録速度を知ることができるため、以降の記録処理が順調に行われることとなる。
【０１９８】
一方、ステップ８０７において、算出したβ値が所定の基準を満たせば、ステップ８０７での判断は肯定され、記録品質監視処理を終了する。
【０１９９】
ここでは、再生信号から算出されたβ値を用いて、再生信号の品質を判断しているために、精度良く記録品質を判断することができる。また、記録品質を判断するための新たな装置などを必要としないため、高コスト化を防止することが可能となる。
【０２００】
なお、再生信号の品質の指標としては、β値に限定されるものではなく、例えば、ＣＤデコーダ２８ｆでのＣ１復号時のエラー（Ｃ１エラー）及びＣ２復号時のエラー（Ｃ２エラー）の数を求め、そのエラーの数を再生信号の品質の指標としても良い。また、そのエラーの数と再生したセクタ数とから算出されるエラーの発生率（エラーレート）を再生信号の品質の指標としても良い。勿論、Ｃ１エラー及びＣ２エラーの数が多ければ、再生信号の品質が悪いと判断される。すなわち、再生データそのものから記録品質を判断しているため、精度良く記録品質を判断することができる。また、この場合でも記録品質を判断するための新たな装置などを必要としないため、高コスト化を防止することが可能となる。
【０２０１】
以上の説明から明らかなように、この場合には、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、品質取得手段、判別手段、記録禁止手段、及び出力手段が実現されている。
【０２０２】
また、記録禁止情報を不図示の不揮発メモリに格納することにより、ホスト４９から書き込み要求コマンドを受信したときに、指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断することができる。この場合の処理（以下、便宜上「記録可否判断処理」という）について図１４のフローチャートを用いて以下に説明する。なお、光ディスク１５のベンダコードはすでに前述の如くして取得されているものとする。図１４のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。例えばホスト４９から書き込み要求コマンドを受信したときに、記録条件の設定処理に先だって、図１４のフローチャートに対応するプログラムの先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録可否判断処理がスタートする。
【０２０３】
最初のステップ９０１では、ホスト４９から指定された記録速度を抽出する。なお、記録速度は通常では、書き込み要求コマンドに先だってホスト４９から送信される。
【０２０４】
次のステップ９０３では、不図示の不揮発メモリに格納されている記録禁止情報を参照して、光ディスク１５に対して指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断する。すなわち、光ディスク１５のベンダコードをキーとして記録禁止情報を検索し、光ディスク１５における記録が禁止されている記録速度（禁止記録速度）を抽出する。そして、抽出された禁止記録速度と指定された記録速度とを比較して指定された記録速度での記録が可能であるか否かを判断する。ここで、記録が不可能であれば、ステップ９０３での判断は否定され、ステップ９０５に移行する。
【０２０５】
このステップ９０５では、指定された記録速度での記録を禁止する。そして、指定された記録速度での記録が不可能であることを示すエラーコードを設定し、記録可能な最大記録速度とともにホスト４９に通知する。
【０２０６】
次のステップ９０７では、記録可能な最大記録速度を記録速度に設定し、記録可否判断処理を終了する。なお、この場合には、ホスト４９からの指示待ちとなる。
【０２０７】
一方、ステップ９０５において、指定された記録速度での記録が可能であれば、記録可否判断処理を終了し、記録処理に移行する。
【０２０８】
このように、ベンダコードと禁止記録速度とを含む記録禁止情報が不揮発メモリ（不図示）に記録されていることにより、記録要求コマンドを受信した際に記録禁止情報を参照し、即座に記録可能であるか否かを判断することができる。すなわち、過去の経験から記録品質が悪いと予想される記録速度での記録を禁止することにより、光ディスクを無駄にすることを防止できる。
【０２０９】
また、上記各実施形態では、リードアウト領域の外周側に試し書き領域を設定し、その領域を利用して外周ＯＰＣを行う場合について説明したが、これに限らず、例えば内周ＰＣＡ領域内の外周側、すなわち、リードイン領域に近い領域を利用して外周ＯＰＣを行っても良い。
【０２１０】
また、上記各実施形態では、光ディスクがＣＤ−Ｒの場合について説明したが、これに限定されるものではなく、光源をパルス発光して情報を記録する情報記録媒体であれば良い。
【０２１１】
また、上記各実施形態では、情報の記録及び再生が可能な光ディスク装置について説明したが、これに限らず、情報の記録、再生及び消去のうち、少なくとも情報の記録が可能な光ディスク装置であれば良い。
【０２１２】
また、上各実施形態では、光源が１つの場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではない。
【０２１３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る記録条件設定方法によれば、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるという効果がある。
【０２１４】
また、本発明に係るプログラム及び記録媒体によれば、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、情報記録媒体への高速度での記録に最適な記録条件を設定することができるという効果がある。
【０２１５】
また、本発明に係る光ディスク装置によれば、記録品質に優れた記録を高速度で安定して行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図３】図１における再生信号処理回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図４】図１におけるレーザコントロール回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図５】パルス幅補正値を説明するための図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係る記録条件設定処理を説明するためのフローチャートである。
【図７】内周側ＯＰＣ領域及び外周側ＯＰＣ領域を説明するための図である。
【図８】図８（Ａ）及び図８（Ｂ）は、それぞれ内周ＯＰＣの結果と外周ＯＰＣの結果とから記録速度Ｖｒでの平均パワー及びパルス幅補正値を算出する方法を説明するための図である。
【図９】内周ＯＰＣの結果のみから記録速度Ｖｒでの最適な記録パワー及びパルス幅補正値を算出する場合を説明するためのフローチャートである。
【図１０】本発明の第２の実施形態に係る記録条件設定処理を説明するためのフローチャートである。
【図１１】本発明の第２の実施形態に係る記録条件設定処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【図１２】記録品質を監視する場合に用いられる再生信号処理回路の詳細構成を説明するためのブロック図である。
【図１３】記録品質を監視する処理を説明するためのフローチャートである。
【図１４】記録禁止情報に基づいて記録の可否判断を行う処理を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
１５…光ディスク（情報記録媒体）、２０…光ディスク装置（光ディスク装置）、３９…ＲＯＭ（記録媒体）、４０…ＣＰＵ（試し書き手段、第１の平均値算出手段、第２の平均値算出手段、記録条件設定手段、記録手段、第１の試し書き手段、第２の試し書き手段、識別情報取得手段、品質取得手段、判別手段、記録禁止手段、出力手段）。
Claims (29)
- 光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、
前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１工程と；
前記第１工程における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２工程と；
前記第２工程で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３工程と；
前記第３工程で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記任意の線速度での記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法。 - 前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５工程を更に含むことを特徴とする請求項１に記載の記録条件設定方法。
- 前記試し書き領域は、第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含み、
前記第１工程では、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の記録条件設定方法。 - 前記第２工程では、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、
前記第３工程では、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出することを特徴とする請求項３に記載の記録条件設定方法。 - 前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることを特徴とする請求項３又は４に記載の記録条件設定方法。
- 前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることを特徴とする請求項３〜５のいずれか一項に記載の記録条件設定方法。
- 光源をパルス発光してスパイラル状又は同心円状の記録領域を有する情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定するための記録条件設定方法であって、
前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１工程と；
前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２工程と；
前記光源の発光パワーを前記第２工程で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３工程と；
前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録条件を設定する第４工程と；を含む記録条件設定方法。 - 前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいことを特徴とする請求項７に記載の記録条件設定方法。
- 前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないことを特徴とする請求項７又は８に記載の記録条件設定方法。
- 前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいことを特徴とする請求項３〜９のいずれか一項に記載の記録条件設定方法。
- 前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することを特徴とする請求項３〜１０のいずれか一項に記載の記録条件設定方法。
- 光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う第１の手順と；
前記第１の手順における処理結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の手順と；
前記第２の手順で算出された平均値に基づいて、任意の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第３の手順と；
前記第３の手順で算出された平均値に基づいて、前記任意の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。 - 前記任意の線速度での最適な記録パワーが所定の値以上の場合に、前記任意の線速度で記録される記録領域よりも外周側の記録領域では、記録速度を前記任意の線速度とほぼ同一に設定する第５の手順を更に前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２に記載のプログラム。
- 前記試し書き領域は、第１の試し書き領域と第２の試し書き領域とを含み、
前記第１の手順として、前記第１の試し書き領域に第１の線速度で第１の試し書きを行い、前記第２の試し書き領域に前記第１の線速度と異なる第２の線速度で第２の試し書きを行う手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２又は１３に記載のプログラム。 - 前記第２の手順として、前記第１の試し書きの結果に基づいて前記第１の線速度における前記光源の発光パワーの第１の平均値を算出し、前記第２の試し書きの結果に基づいて前記第２の線速度における前記光源の発光パワーの第２の平均値を算出し、
前記第３の手順として、前記第１の平均値と前記第２の平均値とに基づいて、前記任意の線速度における発光パワーの平均値を算出する手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１４に記載のプログラム。 - 前記第２の線速度は、外部から指定された線速度であることを特徴とする請求項１４又は１５に記載のプログラム。
- 前記第１の線速度及び前記第２の線速度のいずれかは、前記情報記録媒体に情報を記録する際の線速度以上であることを特徴とする請求項１４〜１６のいずれか一項に記載のプログラム。
- 光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の手順と；
前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める第２の手順と；前記光源の発光パワーを前記第２の手順で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第３の手順と；
前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求める第４の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。 - 前記第２の試し書きでの発光パワーの変動幅は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動幅よりも小さいことを特徴とする請求項１８に記載のプログラム。
- 前記第２の試し書きでの発光パワーの変動回数は、前記第１の試し書きでの発光パワーの変動回数よりも少ないことを特徴とする請求項１８又は１９に記載のプログラム。
- 前記第２の試し書き領域は、前記第１の試し書き領域よりも外周側に位置し、前記第２の線速度が前記第１の線速度よりも大きいことを特徴とする請求項１４〜２０のいずれか一項に記載のプログラム。
- 前記第１の試し書き領域は、前記情報記録媒体において情報が記録されるデータ領域よりも内周側に位置し、前記第２の試し書き領域は、前記データ領域よりも外周側に位置することを特徴とする請求項１４〜２１のいずれか一項に記載のプログラム。
- 請求項１２〜２２のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
- 光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、
前記情報記録媒体に設けられた少なくとも１つの試し書き領域に所定の線速度で試し書きを行う試し書き手段と；
前記試し書き手段での結果に基づいて、前記所定の線速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第１の平均値算出手段と；
前記第１の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録速度における前記光源の発光パワーの平均値を算出する第２の平均値算出手段と；
前記第２の平均値算出手段で算出された平均値に基づいて、前記記録速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記記録速度での記録条件を設定する記録条件設定手段と；
前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置。 - 光源をパルス発光して情報記録媒体のスパイラル状又は同心円状の記録領域に情報を記録する光ディスク装置であって、
前記光源の発光パワーを所定の基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第１の試し書き領域内の複数位置に第１の線速度で第１の試し書きを行う第１の試し書き手段と；
前記第１の試し書きの結果に基づいて、前記第１の線速度と異なる第２の線速度での試し書きにおける前記光源の発光パワーの基準値を求める基準値取得手段と；
前記光源の発光パワーを前記基準値取得手段で求められた基準値に対して変動させつつ、前記情報記録媒体に設けられた第２の試し書き領域内の複数位置に前記第２の線速度で第２の試し書きを行う第２の試し書き手段と；
前記第２の試し書きの結果に基づいて、前記第２の線速度での最適な記録パワーを求め、その記録パワーに基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する際の記録条件を設定する記録条件設定手段と；
前記記録条件に基づいて前記情報記録媒体に情報を記録する記録手段と；を備える光ディスク装置。 - 前記情報記録媒体の識別情報を取得する識別情報取得手段と；
前記記録手段での記録終了後に、前記情報が記録された記録領域の少なくとも一部を再生し、その再生信号の品質を示す指標を取得する品質取得手段と；
前記品質取得手段で取得された前記指標に基づいて前記再生信号の品質が所定の基準を満足するか否かを判別する判別手段と；
その判別結果として前記再生信号の品質が所定の基準を満足しない場合に、前記識別情報を有する情報記録媒体に対して前記記録速度での記録を禁止する記録禁止手段と；を更に備えることを特徴とする請求項２５に記載の光ディスク装置。 - 前記指標は、前記再生信号のピークレベルｄＬｐとボトムレベルｄＬｂを用いて、（ｄＬｐ＋ｄＬｂ）／（ｄＬｐ−ｄＬｂ）で算出される値を含むことを特徴とする請求項２６に記載の光ディスク装置。
- 前記指標は、前記再生信号を復号する際に検出されるエラーの発生数及びエラーの発生率の少なくとも一方を含むことを特徴とする請求項２６に記載の光ディスク装置。
- 前記記録禁止手段にて記録が禁止された場合に、指定された記録速度での記録は不可能であることを示す記録不可情報及び記録可能な最大速度の少なくとも一方を外部装置に出力する出力手段を更に備えることを特徴とする請求項２６〜２８のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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2002
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