JP2003520427A - 3次収差を除く電子光学補正器 - Google Patents
3次収差を除く電子光学補正器Info
- Publication number
- JP2003520427A JP2003520427A JP2001552424A JP2001552424A JP2003520427A JP 2003520427 A JP2003520427 A JP 2003520427A JP 2001552424 A JP2001552424 A JP 2001552424A JP 2001552424 A JP2001552424 A JP 2001552424A JP 2003520427 A JP2003520427 A JP 2003520427A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hexapole
- lens
- circular
- corrector
- lenses
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/153—Electron-optical or ion-optical arrangements for the correction of image defects, e.g. stigmators
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
Description
収差を除去する電子光学補正器に関する。この補正器は3次オフ・アクシス・コ
マ、3次歪曲および1度の1次色収差を除くものである。この補正器の構造は直
線光軸の方向の中央面について対称をなしている。長さl1のヘキサポールS1
が最初に配置してあり、これにつづいて円形レンズR1、長さl2のヘキサポー
ルS2が配置してある。
であって、その効率はその映像収差によって制約を受ける。この映像収差は、そ
れまでに実行した特別の補正に左右されるもので、特別の映像収差はその性能を
制約するものであり、この映像収差を除去することは電子光学システムの改善に
極めて重要な進歩をもたらすものといえる。映像収差は、これを軸方向映像収差
に系統的に小分けして分類することができ、物体面に光軸の2つのセクションに
おいて生ずる基本通路によって決定され、オフ・アクシス映像収差は物体面につ
いての光軸の外側に生ずる基本通路に依存し、色収差は、撮像電子の異なる速度
によって生ずるのである。電子顕微鏡に用いる等、電子光学システムを拡張する
には、その効率を高めるために軸方向映像収差を除くことが大切である。電子ビ
ームによって物体上に書き込みを行うリソグラフィに利用する等のサイズを小さ
くする電子光学システムについては、オフ・アクシス映像収差を除くことが肝要
である。
を阻止する補正器とから成っていて、その補正器によってシステム全体の効率を
低下させる映像収差を除くか、あるいはこれを殆んど皆無にし、一方においては
、陰画像収差係数により、他方においては不利益となる映像収差係数が高まるこ
とのない補正機能を具備する装置を得ることにある。
における電子映像収差の補正に2個のヘキサポールを用いることを開示している
。これらの補正要素はまた1次球面収差を除くのにも用いられる(オプチック6
0第3号(1982)271−281)。
差だけでなく、球面収差、界磁曲率、オフ・アクシス非点収差、オフ・アクシス
・コマおよび歪曲などのすべての3次映像収差を除き、さらにオフ・アクシス映
像収差が生ずることのない電子光学補正器を提供することにある。
構造は次に示す通りである。
配設してあり、それに続いて、円形レンズR1、次に焦点の長さl2のヘキサポ
ールS2、次で円形レンズR2、その次に第1のヘキサポールS1と同一の強度
で長さl3=2l1のヘキサポールS3が、焦点の長さが同一の2fの2個の円
形レンズR1,R2の主焦点に配してあり、第1のヘキサポールS1の内面が、
その下流側にある円形レンズの前方主焦点に一致するようにしてあって、ヘキサ
ポールS2とS3の中心が焦点面になっており、その後に補正器の要素が続いて
いる。その要素はヘキサポールS3の中央面Zmについて対称にしてある。
の距離は、2fである。ここでfは円形レンズの焦点の長さを示す。ヘキサポー
ルS2,S4およびS3は円形レンズの主焦点の位置に配置してある。ヘキサポ
ールS1とS5とは、それぞれの内面が円形レンズの焦点になるようにしてある
。2次収差の発生を防ぐために、ヘキサポール・レンズS1,S3およびS5の
強さは同じ大きさにしてある。さらにS2=S4を調整されるが、その強さはS
1,S3およびS5について完全に各自独立して選択することができる。
ために、ヘキサポールS1とS2の強さは各個自由に独自に選択することができ
る。適正に選択設定することによって、システム全体についての前述した誤差中
の2つの誤差を消去することができる。リソグラフィのためには、界磁曲率と同
様にオフ・アクシス非点収差をなくすことが重要である。補正器の3次球面収差
は、あらゆる収差を削減することはできない。なお多くの場合、それをゼロにす
ることは不可能である。全体のシステムを適切な位置に配設し、隣接するレンズ
の間隔を正しく選定することによって、全システムの3次球面収差を広範囲に補
正することができる。
よび1次第1度オフ・アクシス色収差がない。したがって補正器を該当する収差
の無い電子光学システムに取付けたときに、その装置全体もこれらの収差を生じ
ない。倍率を1に等しくしないために、オフ・アクシス・コマ及び歪曲のないシ
ステムは少くとも4個のレンズから構成するという理論的な考慮を払う必要があ
る。
決めし、界磁曲率とオフ・アクシス色収差(すべて3次)を調節して、システム
全体が収差のない状態とすることにあるもので、さらに補正器それ自体に収差が
ないため、システム全体の映像収差、つまり3次歪曲、オフ・アクシス・コマお
よび1次第1度色収差が補正器によって増加することがないということにある。
整列されている。磁気レンズを用いている場合には、磁界が非等方性(方位成分
)に導き、映像を回転する。収差を除くために、ヘキサポールS2のセクション
(S4は同じセクションにある)の回転はヘキサポールS1,S3およびS5に
ついて生じ、また共通のセクションに整列する。回転角は磁界によって決まる非
等方性の成分の大きさにより決定される。
ポールの回動は静電装置により機械的配向を維持することができる。これにより
電極をリポーリングして所望の角度セクションを回転する。これは複数個の12
−ポールを配設した後に、ポーリングを変更することによって所望の角度だけヘ
キサポールのフィールドを回動することができる。
の好ましい実施態様においては、これらの補正器を連続して次々と配列し、円形
レンズ二重極で相互に光学的に接続してある。2個の円形レンズ2fの間隔と第
1の補正器の最後のヘキサポールと第1の円形レンズとの間隔、および第2の円
形レンズと隣接するヘキサポールとの間隔とは焦点距離fに等しくしてある。こ
のように連合することによって、両補正器について反対称ビーム通路が得られ、
2個の補正手段の4次収差を相互に補償することになる。残余の円形レンズは4
次収差がないので、5次および高次収差が残存する。この光学の特性を2重非点
収差と名付ける。
システムに応用するのに適しており、電子光学システムによってマスクによって
定められた寸法が小さくされていて、入射電極により映像面に配置された結晶(
ウェハ)に刻印し記入する特定の構造物に用いるのに最も適している。この発明
の基本的概念は極めて寸法が小さな電子装置および集積回路を製造するために、
光−光学映像と比較して、はるかに小さな波長のために極めて繊細な構造体を再
生することができるという利点のある電子光学システムを提供することにある。
ここにおいて、補正器は物体の面の背後で、外側に配置した投影レンズのビーム
通路の下流側に−できれば、トランスファー・レンズを挿入して−取付け、作動
部(ウェハ)に映像面の対物レンズを介して書き込む。ここで対物レンズとは広
義のものであって、複数個のレンズによって構成されるシステムから成る場合も
ある。この発明の補正器は極めて寸法を小さくした電子光学結像システムの効率
を低下させる映像収差を除くことができるという利点を備えている。それにより
撮像の質を頗る高めることが期待されるのである。
ルをS1で、その長さをl1で、円形レンズをR1で示す。補正器の構成は次の
通りである。
2個の円形レンズR1とR2から成る円形レンズの1組が配設してある。2個の
円形レンズR1とR2の焦点距離fは同一で、その間隔は焦点距離の2倍の2f
と等しくしてあり、それによって2個の円形レンズでテレスコープ・ビーム通路
を生成する。2個の円形レンズR1とR2との間の焦点面に、長さl2のヘキサ
ポールS2が配置してある。したがって最初のヘキサポールS1は、その下流に
ある円形レンズの焦点の位置にあることになる。ビーム通路の方向で次のヘキサ
ポールS3は、その強度がヘキサポールS1と同一のものであるが、それを2重
にしたものであって、長さl3=2l1となっている。したがって、ヘキサポー
ルS3の中心面は円形レンズの焦点面Zmに一致する。
。それゆえ、前述のヘキサポールと円形レンズの配列と同一で、その詳細を繰返
して述べることを省略する。
すなわちヘキサポールS1の強度(またはヘキサポールS3とS5の強度)およ
びヘキサポールS2の強度(またはヘキサポールS4の強度)を備えている。こ
れら2つの助変数で、次の3種の映像収差のうちの2つを自由に設定できる。す
なわち3次界磁曲率、オフ・アクシス非点収差と球面収差とをこれら映像収差の
発生を相殺するようにする。前述したように、3次収差(3次球面収差について
述べた)は幾何助変数を適切に選択すること、とくに間隔を適当にすることによ
って補正され、3次映像収差に余分の補正を考慮する必要は全く不要である。
Claims (7)
- 【請求項1】 直線光軸の方向の中央面について対称をなし、長さl1のヘキサポール(S1
)を最初に配置し、つづいて円形レンズ(R1)長さl2のヘキサポール(S2
)を配して成る補正器であって、この補正器に円形レンズ(R2)を設け、前記
円形レンズ(R2)に続いて、前記ヘキサポール(S1)と同一強度であって、
その長さが2倍(l3=2l1)の第3のヘキサポール(S3)を配して、焦点
距離が同一(2f)で、同一強度の2個の円形レンズ(R1,R2)を分離し、
2個の円形レンズ(R1,R2)の間の主焦点に前記ヘキサポール(S2)を配
置し、前記第一のヘキサポール(S1)から円形レンズに至る距離を前記ヘキサ
ポール(S1)の面が下流側に配置される円形レンズの前方主焦点に一致するよ
うにし、ヘキサポール(S2)と(S3)の中心を円形レンズ(R1,R2)の
焦点面に一致するようにし、さらに2個の円形レンズ(R3,R4)とヘキサポ
ール(S4,S5)を前記ヘキサポール(S3)の中心面(Zm)について対称
になるように配置したことを特徴とする3次オフ・アクシス・コマ、3次歪曲お
よび第1度の1次色収差の存在することのない球面収差、界磁曲率およびオフ・
アクシス非点収差のような3次収差を除く電子光学補正器。 - 【請求項2】 ヘキサポールの強度(S1,S2)を全システムの界磁曲率と同様にオフ・ア
クシス非点収差を除くように選択し、全システムの隣接するレンズからの距離を
3次球面収差を補正の度合いに影響を及ぼすことができるように選択することを
特徴とする請求項1に記載の補正器。 - 【請求項3】 ヘキサポール(S1[sic],S4)を他のヘキサポール(S1,S3,S
5)によって形成されるセクションに関して光軸を中心として方位的に回動する
ようにしたことを特徴とする請求項1と2とのいずれか1項に記載の補正器。 - 【請求項4】 ヘキサポールを12個の電極または極片から成る12−ポール要素によって生
成することを特徴とする請求項3に記載の補正器。 - 【請求項5】 前記補正器のうち2個を円形レンズ2組によって直列に配列し、2倍の焦点距
離に該当する2個の円形レンズの間隔をその焦点距離の2倍にし、第一の補正器
の最後のヘキサポールと第一の円形レンズとの間隔と円形レンズの2組の第二の
円形レンズと第一のヘキサポールとの間隔を同様にすることとを特徴とする前記
請求項のいずれかの1項に記載の電子光学補正器。 - 【請求項6】 撮像されるマスクを物体面に配置し、ウェハを映像面に配置し、投影レンズを
ビーム通路において物体面の下流側に配置し、対物レンズを映像面の上流面側に
配置するようにした特にリソグラフィーに関する寸法縮小電子光学システムにお
いて、補正器を前記投影レンズの下流側のビーム通路に挿入したことを特徴とす
る前記各項のいずれか1項に記載の電子光学補正器の使用法。 - 【請求項7】 前記撮像されるマスクを物体面に配置し、ウェハを映像面に配置した特にリソ
グラフィーに関する寸法縮小電子光学システムにおいて、前記ビーム通路の方向
の物体面の下流側に投影レンズを配したことと、前記映像面の上流側に対物レン
ズを配し、伝達レンズを補正器と対物レンズとの間に配置することを特徴とする
前記各項に記載のいずれか1項の電子光学補正器の使用法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10001277.9 | 2000-01-14 | ||
DE10001277A DE10001277A1 (de) | 2000-01-14 | 2000-01-14 | Elektronenoptischer Korrektor zur Beseitigung der Bildfehler dritter Ordnung |
PCT/DE2001/000102 WO2001052301A1 (de) | 2000-01-14 | 2001-01-12 | Elektronenoptischer korrektor zur beseitigung der bildfehler dritter ordnung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003520427A true JP2003520427A (ja) | 2003-07-02 |
JP4745582B2 JP4745582B2 (ja) | 2011-08-10 |
Family
ID=7627472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001552424A Expired - Fee Related JP4745582B2 (ja) | 2000-01-14 | 2001-01-12 | 3次収差を除く電子光学補正器 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6861651B2 (ja) |
EP (1) | EP1249031B1 (ja) |
JP (1) | JP4745582B2 (ja) |
DE (2) | DE10001277A1 (ja) |
WO (1) | WO2001052301A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007027017A (ja) * | 2005-07-21 | 2007-02-01 | Jeol Ltd | 電子線装置 |
JP2009054565A (ja) * | 2007-08-02 | 2009-03-12 | Jeol Ltd | 収差補正装置 |
JP2009512989A (ja) * | 2005-10-24 | 2009-03-26 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | アプラナティック結像系用の電気光学補正器 |
JP2009518784A (ja) * | 2005-12-06 | 2009-05-07 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | 3次の開口誤差及び1次1グレード(Grade)の軸上色誤差を除去するための補正装置 |
JP2011108650A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Fei Co | 粒子光学レンズの軸収差用の補正装置 |
JP2018022703A (ja) * | 2013-09-30 | 2018-02-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子ビーム装置 |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10159308A1 (de) * | 2001-12-04 | 2003-06-12 | Ceos Gmbh | Teilchenoptischer Korrektor |
GB2413397A (en) * | 2004-04-24 | 2005-10-26 | Camdeor Technology Co Ltd | Focussing means for a video camera |
US7405402B1 (en) | 2006-02-21 | 2008-07-29 | Kla-Tencor Technologies Corporation | Method and apparatus for aberration-insensitive electron beam imaging |
DE102006017686A1 (de) * | 2006-04-15 | 2007-10-18 | Ceos Corrected Electron Optical Systems Gmbh | Elektronenoptischer Korrektor für aplanatische Abbildungssysteme |
US7224135B1 (en) * | 2006-09-07 | 2007-05-29 | Acutechnology Semiconductor Inc. | Imposed current motor drive |
KR100767599B1 (ko) * | 2006-11-13 | 2007-10-17 | (주)제이브이엠 | 약제 자동 포장기의 정전보상 운전방법 및 장치 |
JP5623719B2 (ja) * | 2008-10-06 | 2014-11-12 | 日本電子株式会社 | 荷電粒子線装置の色収差補正装置及びその補正方法 |
EP2339608B1 (en) | 2009-12-22 | 2014-05-07 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Electrostatic corrector |
JP5545869B2 (ja) * | 2010-11-16 | 2014-07-09 | 日本電子株式会社 | 荷電粒子線の軸合わせ方法及び荷電粒子線装置 |
JP6843794B2 (ja) * | 2018-03-30 | 2021-03-17 | 日本電子株式会社 | 収差補正装置および荷電粒子線装置 |
DE102019122013B3 (de) * | 2019-08-15 | 2021-01-14 | Ceos Corrected Electron Optical Systems Gmbh | Teilchenoptischer Korrektor frei von axialen Fehlern sechster Ordnung und Elektronenmikroskop mit Korrektor |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57176659A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-30 | Us Government | High order aberration correcting device in electron beam apparatus |
JPH03289035A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-19 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡における収差及び開き角補正装置 |
JPH05129192A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-05-25 | Fujitsu Ltd | 電子ビーム露光装置 |
JPH10188870A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-07-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | シフトした双極子による曲線可変軸レンズ補正 |
JPH10302693A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-11-13 | Nikon Corp | 中心に双極子を有する曲線軸移動型レンズ補正 |
JP2001511303A (ja) * | 1997-12-11 | 2001-08-07 | フィリップス エレクトロン オプティクス ビー ヴィ | 粒子−光学装置における球面収差補正用の補正デバイス |
JP2001516139A (ja) * | 1997-09-08 | 2001-09-25 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | 電子光学系の三次球面収差の補正時に一次、二次および三次光軸の像の変形を除去する方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2919381A (en) * | 1956-07-25 | 1959-12-29 | Farrand Optical Co Inc | Electron lens |
DE4310559A1 (de) * | 1993-03-26 | 1994-09-29 | Zeiss Carl Fa | Abbildendes Elektronenenergiefilter |
DE19828741A1 (de) * | 1998-06-27 | 1999-12-30 | Leo Elektronenmikroskopie Gmbh | Elektronenmikroskop mit einem abbildenden magnetischen Energiefilter |
-
2000
- 2000-01-14 DE DE10001277A patent/DE10001277A1/de not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-01-12 DE DE50103315T patent/DE50103315D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2001-01-12 US US10/169,995 patent/US6861651B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-01-12 WO PCT/DE2001/000102 patent/WO2001052301A1/de active IP Right Grant
- 2001-01-12 JP JP2001552424A patent/JP4745582B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2001-01-12 EP EP01913504A patent/EP1249031B1/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57176659A (en) * | 1981-04-01 | 1982-10-30 | Us Government | High order aberration correcting device in electron beam apparatus |
JPH03289035A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-19 | Jeol Ltd | 電子顕微鏡における収差及び開き角補正装置 |
JPH05129192A (ja) * | 1991-11-06 | 1993-05-25 | Fujitsu Ltd | 電子ビーム露光装置 |
JPH10188870A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-07-21 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | シフトした双極子による曲線可変軸レンズ補正 |
JPH10302693A (ja) * | 1996-12-18 | 1998-11-13 | Nikon Corp | 中心に双極子を有する曲線軸移動型レンズ補正 |
JP2001516139A (ja) * | 1997-09-08 | 2001-09-25 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | 電子光学系の三次球面収差の補正時に一次、二次および三次光軸の像の変形を除去する方法 |
JP2001511303A (ja) * | 1997-12-11 | 2001-08-07 | フィリップス エレクトロン オプティクス ビー ヴィ | 粒子−光学装置における球面収差補正用の補正デバイス |
JP2002516026A (ja) * | 1997-12-11 | 2002-05-28 | フィリップス エレクトロン オプティクス ビー ヴィ | 粒子−光学装置におけるレンズ欠陥補正用の補正デバイス |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007027017A (ja) * | 2005-07-21 | 2007-02-01 | Jeol Ltd | 電子線装置 |
JP4721798B2 (ja) * | 2005-07-21 | 2011-07-13 | 日本電子株式会社 | 電子線装置 |
JP2009512989A (ja) * | 2005-10-24 | 2009-03-26 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | アプラナティック結像系用の電気光学補正器 |
JP4801165B2 (ja) * | 2005-10-24 | 2011-10-26 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | アプラナティック結像系用の電気光学補正器 |
JP2009518784A (ja) * | 2005-12-06 | 2009-05-07 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | 3次の開口誤差及び1次1グレード(Grade)の軸上色誤差を除去するための補正装置 |
JP4848017B2 (ja) * | 2005-12-06 | 2011-12-28 | ツェーエーオーエス コレクテッド エレクトロン オプチカル システムズ ゲーエムベーハー | 3次の開口収差及び1次1グレード(Grade)の軸上色収差を除去するための補正装置 |
JP2009054565A (ja) * | 2007-08-02 | 2009-03-12 | Jeol Ltd | 収差補正装置 |
JP2011108650A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Fei Co | 粒子光学レンズの軸収差用の補正装置 |
JP2018022703A (ja) * | 2013-09-30 | 2018-02-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 荷電粒子ビーム装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030034457A1 (en) | 2003-02-20 |
JP4745582B2 (ja) | 2011-08-10 |
WO2001052301A1 (de) | 2001-07-19 |
EP1249031B1 (de) | 2004-08-18 |
DE50103315D1 (de) | 2004-09-23 |
US6861651B2 (en) | 2005-03-01 |
EP1249031A1 (de) | 2002-10-16 |
DE10001277A1 (de) | 2001-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4745582B2 (ja) | 3次収差を除く電子光学補正器 | |
JP4299533B2 (ja) | 1階、1次の色収差を補正する補正装置 | |
JP2007266008A (ja) | 電子光学系の像収差の補正方法 | |
JP5226367B2 (ja) | 収差補正装置 | |
US7420179B2 (en) | Electron microscope | |
JP2009518784A (ja) | 3次の開口誤差及び1次1グレード(Grade)の軸上色誤差を除去するための補正装置 | |
EP3518269B1 (en) | Aberration corrector and electron microscope with such corrector | |
JP2002510431A (ja) | レンズ、特に電子顕微鏡の対物レンズの3次の開口収差を補正する装置 | |
US8785880B2 (en) | Chromatic aberration corrector and electron microscope | |
US20230076618A1 (en) | Low Distortion Lens Using Double Plane Symmetric Element | |
JP2009516338A (ja) | 粒子光学補正器 | |
JP3471039B2 (ja) | 電子ビーム装置 | |
JP5502595B2 (ja) | 球面収差補正装置および球面収差補正方法 | |
JP4801165B2 (ja) | アプラナティック結像系用の電気光学補正器 | |
JP4886231B2 (ja) | 変倍結像光学系及びそれを有する撮像装置 | |
JP4271037B2 (ja) | 粒子光学補正器 | |
US20080093563A1 (en) | Aberration Corrector and Method of Aberration Correction | |
WO1996002935A1 (fr) | Filtre a energie electronique | |
JPH0328015B2 (ja) | ||
JP2003502802A (ja) | 粒子レンズの色収差を除去する静電修正器 | |
JPH05129192A (ja) | 電子ビーム露光装置 | |
JPS5945171B2 (ja) | 電子レンズ | |
Rose | Correction of aberrations—past, present and future | |
JPS6336108B2 (ja) | ||
JP4365721B2 (ja) | 電子顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071221 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20090423 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20090508 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100817 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20101117 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20101125 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110412 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110512 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140520 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4745582 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |