JP2003294809A - 電子部品検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】電子部品の取り出し・運び込みのミスを確実に
検知できる電子部品検査装置を提供する。 【構成】載置台10は、経路に沿って駆動手段で往復移動
可能であり、供給部から検査部を経て回収部まで電子部
品を搬送する。載置台10に電子部品を運び込んで載置
し、載置台10から電子部品を取り出すには、供給手段又
は回収手段としての保持部９を用いる。載置台10の上面
には開口した凹部11と、凹部11内の部品１を挟む二位置
に対向して一対の溝12,13 が形成される。両溝の入口と
出口には投光素子14と受光素子15が設けられる。部品検
知用の光は溝12から出て凹部11内に入り、溝13を経て受
光素子15に至るので、投光素子14からの光が電子部品１
を回り込んで誤作動する現象は発生しにくい。電子部品
１の存在によって光の経路は確実に遮断され、電子部品
１の有無を正確に検出できる。保持部９による部品１の
取り出し・運び込みを行なう際のミスを確実に検知でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、供給手段で電子部
品を搬送手段に運び込み、該搬送手段で該電子部品を搬
送して検査手段で検査し、さらに該搬送手段で該電子部
品を搬送した後に回収手段で該搬送手段から該電子部品
を運び出す電子部品検査装置に関する。特に、本発明
は、かかる電子部品検査装置において、供給手段で電子
部品を搬送手段に運び込む時や、回収手段で電子部品を
搬送手段から取り出す時に、電子部品の有無を正確に検
出することができ、電子部品の取り扱いにミスがあった
か否かを確実に検知できるため、電子部品の検査作業の
安定化と作業効率の向上を図ることができる発明に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】電子部品の検査・校正等のために部品の
搬送と検査を自動化した検査装置が用いられている。一
般的な電子部品検査装置は、未検査の電子部品をストッ
クする電子部品の供給部と、電子部品の検査を行なう検
査部と、測定済みの電子部品をストックする電子部品の
回収部を有している。これら各部間には搬送手段が設け
られており、この搬送部には移動可能な載置台があっ
て、該載置台の上に電子部品を載せて上記各部間を移送
することができる。また、回収部から電子部品を取り出
して搬送手段の載置台に電子部品を供給する供給手段
と、搬送手段の載置台から電子部品を取り出して前記回
収部に回収する回収手段とが設けられている。

【０００３】かかる検査装置によれば、供給手段が供給
部から未検査の電子部品を取り出して搬送手段の載置台
に載せ、搬送手段は載置台を移動させて該電子部品を検
査部に送る。検査部はこの電子部品を検査する。検査済
みの電子部品は搬送手段によって回収部まで搬送された
後、回収手段に取り出されて回収部に回収される。

【０００４】上記従来の電子部品検査装置によれば、電
子部品を取り出し又は運び込む操作が、少なくとも搬送
手段の両端で行なわれる。即ち、供給部と搬送手段の一
端との間及び搬送手段の他端と回収部との間において電
子部品の取り出し及び運び込みが行なわれる。このよう
な電子部品の操作は、電子部品が微小であるためミスが
発生しやすく、ミスを見逃して工程が進行すると後でこ
のミスを回復するために他の工程の処理を待たねばなら
なくなる等、効率的な処理ができないという問題が生じ
る。

【０００５】そこで、搬送手段から電子部品を取り出す
操作又は搬送手段に電子部品を運び込む操作、つまり電
子部品の搬送手段に対する受け渡し操作がミスなく行な
われたか否かを検出するためのセンサが設けられてい
る。図４は、前記搬送手段において、電子部品１が載置
されて移動する搬送台４００を示している。搬送台４０
０は、搬送手段の図示しない駆動手段に連結されたブロ
ック体であり、その上面の平坦な載置部に電子部品１を
載置して、所定の経路に沿って往復動することができ
る。この搬送台４００の載置部上に電子部品１が載置さ
れたこと (又は載置された電子部品１が取り出されてな
くなったこと）を検知するため、投光素子４０１と受光
素子４０２が用いられていた。投光素子４０１と受光素
子４０２は、搬送台４００の載置部上の電子部品１を挟
む２つの位置に対向して配置され、その光の経路が電子
部品１によって遮断されることを検出して電子部品１の
有無を検知するものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このように、
電子部品１を挟む２つの位置に投光素子４０１と受光素
子４０２を対向して配置しただけでは、必ずしも電子部
品１によって光の経路が確実に遮断されるとは限らず、
投光素子４０１からの光が拡散して電子部品１を迂回す
るようにして回り込み、受光素子４０２に到達してしま
うこともあり、電子部品１の有無を正確に検出すること
ができない場合があった。

【０００７】かかる不都合を回避するため、投光素子４
０１と受光素子４０２の双方又は一方にスリットを設
け、投射される光の幅を絞って拡散を防ぐこともでき
る。しかし、スリットを設けた投光素子と受光素子で検
出可能なように両素子の光軸を正確に合わせて位置決め
することは困難である。さらに、投光、受光素子にスリ
ットを設けた場合、スリットを素子の発光面より細くし
なければ効果があらわれない。素子の発光面は非常に小
さく、スリットはそれ以上に細くしなければならないた
め光量の減少が無視出来なくなり、投光素子自体の発光
輝度を上げる必要がある。

【０００８】本発明は、電子部品検査装置において、搬
送手段について供給手段又は回収手段で電子部品の取り
出し・運び込みを行なう際にミスがあったか否かを確実
に検知できる電子部品検査装置を提供することを目的と
している。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載された電
子部品検査装置は、電子部品１を供給部２から供給する
供給手段６と、前記電子部品１を回収部３へ回収する回
収手段８と、前記電子部品１を検査する検査手段７と、
前記電子部品１を前記検査手段７を経由して前記供給部
２と前記回収部３との間を搬送する搬送手段４とを備え
た電子部品検査装置であり、次の特徴を有している。即
ち、前記搬送手段は、前記電子部品１を載置する載置部
１１を有する載置台１０と、前記載置台１０の一端側に
設けられた投光素子１４と、前記載置台１０の他端側に
設けられた受光素子１５と、前記載置部１１を横断する
ように設けられ且つ前記投光素子１４と前記受光素子１
５の光軸を通過させる光通過経路１２，１３とを備えて
おり、前記載置台１０に載置された電子部品１の有無を
正確に検知することができることを特徴としている。

【００１０】請求項２に記載された電子部品検査装置
は、請求項１記載の電子部品検査装置において、前記載
置部が凹部１１であり、前記光通過経路が前記載置台１
０に形成された貫通溝１２，１３であることを特徴とし
ている。

【００１１】請求項３に記載された電子部品検査装置
は、請求項２記載の電子部品検査装置において、前記貫
通溝１２，１３の溝幅寸法が、前記電子部品１の全長よ
りも小さいことを特徴としている。

【００１２】請求項４に記載された電子部品検査装置
は、請求項１記載の電子部品検査装置において、前記載
置部が凹部１１であり、前記光通過経路が前記載置台に
形成された貫通孔であることを特徴としている。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態の一例につい
て、その全体構成を模式的に示す平面図である図１と、
その要部を拡大して示す図２を参照して説明する。図１
に示すように、供給部２と回収部３の間には搬送手段４
があり、搬送手段４の略中間には検査手段７があり、こ
の検査手段７の略中央の近傍には検査部５がある。ま
た、供給部２と搬送手段４の一端との間には電子部品を
供給する供給手段６が設けられ、搬送手段４の他端と回
収部３との間には電子部品の回収手段８が設けられてい
る。

【００１４】本例の搬送手段４は、詳細は図示しない
が、図２に示すような載置台１０を有している。この載
置台１０は上面に開口した載置部としての凹部１１を有
している。凹部１１には電子部品１が載置される。載置
台１０は、図示しない駆動手段により所定の搬送経路に
沿って往復して移動できる。載置台１０の上面には、凹
部１１内に載置された電子部品１を挟む二つの位置に、
対向するように一対の光通過経路としての溝１２，１３
が設けられている。そして、一方の溝１２の入口側には
投光素子１４が設けられ、他方の溝１３の出口側には受
光素子１５が設けられている。

【００１５】電子部品１が凹部１１内にある時には、投
光素子１４から出た光は、一方の溝１２を通過した後に
凹部１１内の電子部品１に遮断されるので、受光素子１
５には届かない。電子部品１が凹部１１内にない時に
は、投光素子１４から出た光は、一方の溝１２と、凹部
１１と、他方の溝１３を通過して受光素子１５に到達す
る。従って、受光素子１５が受光の有無によって出力す
る信号によって、凹部１１内に電子部品１があるか否か
判断することができる。

【００１６】凹部１１の両側に電子部品１を挟んで光通
過経路としての溝１２，１３を設け、この溝１２，１３
を介して投光・受光素子１４，１５を配した本例の構成
によれば、光は溝１２から出て凹部１１内に入り、溝１
３を経て受光素子１５に至るので、投光素子１４からの
光が拡散して電子部品１を迂回するようにして回り込む
現象は発生しにくい。即ち、電子部品１の存在によって
光の経路は確実に遮断され、電子部品１の有無を正確に
検出することができる。従って、前記供給手段６で前記
凹部１１内に電子部品を運び込み、又は前記回収手段８
で前記凹部１１内から電子部品１を取り出す際にミスが
なかったか否かを確実に検知できる。

【００１７】搬送手段４の載置台１０から未検査の電子
部品を取り出して前記検査部５に運び込み、また検査済
みの電子部品を前記検査部５から運び出して搬送手段４
の載置台１０に載置するのが前記検査手段７である。こ
の検査手段７は、図１に示すように、移動手段としての
位置決め装置である円板２０と、該円板２０に設けられ
た複数の保持部９を有している。円板２０は、回転可能
であり、該円板２０には保持部９が下向きに設けられ
て、各保持部９は円板２０に対して垂直方向に移動可能
である。

【００１８】従って、電子部品１を載置した搬送手段４
の載置台１０を搬送手段４の略中間にある所定位置に位
置決めし、当該位置に保持部９を下降させて電子部品１
を保持し、その後上昇させて円板２０を回転させれば、
該電子部品１を取り出し、後述する検査部５に運び込む
ことができる。また、後述する検査部５で検査された電
子部品１を保持部９で保持し、円板２０の回転によって
再び前記所定位置に位置決めし、電子部品１のない載置
台１０の凹部１１内に向けて当該電子部品１を下降さ
せ、載置すれば、検査済みの電子部品１を載置台１０に
運び込むことができる。

【００１９】搬送手段４の他端から、検査済みの電子部
品１を取り出して回収部３に運び込む回収手段８は、供
給手段６と同様の構成である。また、本装置を構成する
各構成部分は、制御手段に接続されており、全体として
統括されて制御される。

【００２０】以上の構成における効果を説明する。供給
手段６が、供給部２から未検査の電子部品１を取り出
し、搬送手段４の始端に設定されている載置台１０の凹
部１１に運び込む。載置台１０が移動し、検査手段７に
よる取り出し位置に位置決めされる。検査手段７の保持
部９が載置台１０の凹部１１から電子部品１を取り出
し、円板２０の回転によって該電子部品１を検査部５に
運び込む。検査部５において該電子部品１の検査が行な
われる。検査後、保持部９が電子部品１を保持した状態
で円板２０が回転し、該電子部品１を前記取り出し位置
の上方に位置決めし、その後下降して該電子部品１を載
置台１０の凹部１１内に運び込む。搬送手段４が作動し
て載置台１０が末端まで移動する。回収手段８が載置台
１０の凹部１１から電子部品１を取り出し、回収部３に
運び込む。

【００２１】以上の動作において、載置台１０の凹部１
１内にある電子部品１を凹部１１外に取り出す作業と、
該電子部品１を該凹部１１内に運び込む作業は、供給手
段６、回収手段８、及び検査手段７の保持部９によって
行なわれるが、この電子部品の取り扱い作業が、正確に
行なわれたか否かの判断は、載置台１０に設けた受光素
子１５からの信号に基づいて制御手段で的確に判断する
ことができる。

【００２２】即ち、電子部品１が凹部１１内にある時に
は、投光素子１４からの光は、一方の溝１２を通過した
後に凹部１１内の電子部品１に遮断されるので、受光素
子１５には届かず、受光素子１５は受光信号を出力しな
い。従って、取り出し時に所定の経過時間後に受光素子
１５が受光信号を出力していなければ、電子部品１は取
り出されておらず、取り出しは失敗したことが分かる。

【００２３】また、電子部品１が凹部１１内にない時
に、投光素子１４から出た光は、一方の溝１２と、凹部
１１と、他方の溝１３を通過して受光素子１５に到達
し、受光素子１５は受光信号を出力する。従って、運び
込み時に所定の経過時間後に受光素子１５が受光信号を
出力していれば、電子部品１は正規の状態では運び込ま
れておらず、運び込みは失敗したことが分かる。

【００２４】このように、受光素子１５の受光信号の有
無によって、凹部１１内に現在電子部品１があるか否か
を的確に判断することができる。本例では、供給手段６
が載置台１０に未検査の電子部品１を運び込む第１段階
と、検査手段７の保持部９が載置台１０から未検査の電
子部品１を取り出す第２段階と、検査手段７の保持部９
が検査済みの電子部品１を載置台１０に運び込む第３段
階と、回収手段８が検査済みの電子部品１を載置台１０
から取り出す第４段階の４つの段階において、載置台１
０と供給手段６，７，８との間での電子部品１の受け渡
しが前記投光素子１４及び受光素子１５によって的確に
判断される。

【００２５】本例では、第１段階と第３段階において、
供給手段６と検査手段７の保持部９が電子部品１を凹部
１１内に運びこんだ後、供給手段６と検査手段７の保持
部９が上昇した後の所定の短時間後に受光素子１５の受
光信号を確認し、受光信号の出力がなければ電子部品１
が運び込まれた正規の状態と判断する。なお、投光素子
１４は上記所定の時間後にのみ発光させてもよいし、連
続して発光させておいてもよい。

【００２６】また、第２段階と第４段階では、検査手段
７の保持部９と回収手段８が電子部品１を凹部１１内か
ら取り出した後、検査手段７の保持部９と回収手段８が
上昇した後の所定の短時間後に受光素子１５の受光信号
を確認し、受光信号の出力があれば電子部品１が取り出
された正規の状態と判断する。投光素子１４の発光タイ
ミングは第１及び第３段階の場合と同様である。

【００２７】また、本例において前記凹部１１の両側に
設けた溝１２，１３は、光軸方向に長さを持っているの
で、電子部品１の近傍まで光の拡散を防ぐ効果がある。
このため、前記スリットの幅に比べて前記溝の幅は広く
することができるので、光量の減少を少なくでき、スリ
ットを用いる場合に比べて発光素子の輝度を上げなくて
すむ。従って、輝度の高い発光素子を採用する必要がな
い。

【００２８】以上説明した例では、載置台１０に形成し
た光通過経路は、載置台１０の上面に開口した溝１２，
１３であったが、凹部１１の内部と外部を連通させるよ
うに前記載置台１０の壁体に貫通して形成した貫通孔で
あってもよい。

【００２９】以上説明したように、本例の装置では、円
板２０に設けた複数の保持部９に電子部品１を保持し、
該円板２０の回転によって検査部５に電子部品１を順次
供給しながら、その間は検査部５側から独立して搬送手
段４を自由に稼動させることにより、検査部５が部品待
ちの状態になることなく、検査部５の能力が最大限に発
揮された状態となるようにしている。かかる運転状態で
は、搬送手段４との間で部品の受け渡しが失敗し、それ
に気がつかないと、部品を保持していない保持部９が検
査部５にまで到達して始めて不具合に気づく場合があ
る。その場合、装置全体を初期の状態に戻して検査部５
の能力を最大限に発揮された運転状態とするのには一定
の時間がかかり、能率が悪かった。しかし、本例によれ
ば、かかる不都合の原因となる供給手段６、検査手段７
の保持部９、回収手段８による部品受け渡しの失敗を迅
速・確実に検知することができ、かかる不都合に対する
処置を速やかに採ることが出来るので、ロスタイムが短
くなり検査作業全体の能率を低下させることが少ないと
いう効果がある。

【００３０】次に、本発明の実施の形態の第２の例につ
いて、図３を参照して説明する。本例では、搬送手段４
の載置台１０’に複数の壁部材３０によって構成された
光通過経路としての区画光路３１が形成されている。即
ち、載置台１０’の上面略中央の平坦部を電子部品の載
置部とし、投光素子１４と受光素子１５の各側に各一対
の壁部材３０を設けて区画光路３１を形成した。

【００３１】第２の例によれば、投光素子１４から出た
光は、一方の区画光路３１から出て載置部内に入り、他
方の区画光路３１を経て受光素子１５に至るので、投光
素子１４からの光が拡散して電子部品１を迂回するよう
にして回り込む現象は発生しにくく、電子部品１がある
のに光が受光素子１５に到達することは起こりにくい。
従って、第１の例と同様に電子部品１の有無を正確に検
出することができ、載置部から電子部品１を取り出す際
にミスがあったか否かを確実に検知できる。

【００３２】

【発明の効果】本発明によれば、前記供給部と前記回収
部との間を前記検査手段を経由して搬送手段で電子部品
を搬送する電子部品検査装置において、搬送手段の載置
台に電子部品を収納するための載置部を形成し、該載置
部をを横断する光通過経路に投光・受光素子の光軸を通
過させて設けたので、次のような効果が得られる。即
ち、光は光通過経路から出て載置部に入り、光通過経路
を経て受光素子に至るので、投光素子からの光が拡散し
て電子部品を回り込む現象は発生しにくい。従って、電
子部品があるのに光が受光素子に到達することは起こり
にくく、電子部品の存在によって光の経路は確実に遮断
される。よって、電子部品の有無を正確に検出すること
ができ、取り出し手段で電子部品の取り出し・運び込み
を行なう際にミスがなかったか否かを確実に検知でき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の一例である電子部品検査
装置の模式的な平面図である。

【図２】本発明の実施の形態の第１の例である電子部品
検査装置の要部を拡大して示す斜視図である。

【図３】本発明の実施の形態の第２の例である電子部品
検査装置の要部を拡大して示す斜視図である。

【図４】従来の電子部品測定装置における載置台の構成
を模式的に示す平面図である。

【符号の説明】

１…電子部品、２…供給部、３…回収部、４…搬送手
段、５…検査部、６…供給手段、７…検査手段、８…回
収手段、９…保持部、１０…載置台、１１…載置部とし
ての凹部、１２，１３…光通過経路としての溝、１４…
投光素子、１５…受光素子、２０…位置決め装置として
の円板、３０…壁部材、３１…光通過経路としての区画
光路。

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１４年１０月２４日（２００２．１０．
２４）

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３２

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３２】

【発明の効果】本発明によれば、前記供給部と前記回収
部との間を前記検査手段を経由して搬送手段で電子部品
を搬送する電子部品検査装置において、搬送手段の載置
台に電子部品を収納するための載置部を形成し、該載置
部を横断する光通過経路に投光・受光素子の光軸を通過
させて設けたので、次のような効果が得られる。即ち、
光は光通過経路から出て載置部に入り、光通過経路を経
て受光素子に至るので、投光素子からの光が拡散して電
子部品を回り込む現象は発生しにくい。従って、電子部
品があるのに光が受光素子に到達することは起こりにく
く、電子部品の存在によって光の経路は確実に遮断され
る。よって、電子部品の有無を正確に検出することがで
き、取り出し手段で電子部品の取り出し・運び込みを行
なう際にミスがなかったか否かを確実に検知できる。

フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G003 AA00 AA07 AG11 AG18 2G036 AA28 BB00 BB09 CA03 CA06 2G132 AA00 AE01 AE02 AL01

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電子部品を供給部から供給する供給手段
   （６）と、 前記電子部品を回収部へ回収する回収手段（８）と、 前記電子部品を検査する検査手段（７）と、 前記電子部品を前記検査手段を経由して前記供給部と前
   記回収部との間を搬送する搬送手段（４）とを備えた電
   子部品検査装置において、 前記搬送手段は、 前記電子部品を載置する載置部（１１）を有する載置台
   （１０）と、 前記載置台の一端側に設けられた投光素子（１４）と、 前記載置台の他端側に設けられた受光素子（１５）と、 前記載置部を横断するように設けられ且つ前記投光素子
   と前記受光素子の光軸を通過させる光通過経路（１２，
   １３）とを備え、 前記載置台に載置された電子部品の有無を正確に検知す
   ることができることを特徴とする電子部品検査装置。
2. 【請求項２】 前記載置部（１１）が凹部であり、前記
   光通過経路（１２，１３）が前記載置台に形成された貫
   通溝である請求項１記載の電子部品検査装置。
3. 【請求項３】 前記貫通溝の溝幅寸法が、前記電子部品
   （１）の全長よりも小さいことを特徴とする請求項２記
   載の電子部品検査装置。
4. 【請求項４】 前記載置部（１１）が凹部であり、前記
   光通過経路（１２，１３）が前記載置台に形成された貫
   通孔である請求項１記載の電子部品検査装置。